CN101122543A

CN101122543A - 投影机亮度测量装置

Info

Publication number: CN101122543A
Application number: CNA2006101101005A
Authority: CN
Inventors: 林政儒
Original assignee: BenQ Corp
Current assignee: BenQ Corp
Priority date: 2006-08-08
Filing date: 2006-08-08
Publication date: 2008-02-13

Abstract

一种投影机亮度测量装置。投影机亮度测量装置包括一光信道器具、一承载器具及一测光器。光通道器具是以数个遮光材相互隔开以形成数个光通道。各光通道具有一第一开口及一第二开口。承载器具设置在光通道器具的一第一侧外，用以承载数个投影机。各投影机对应于各第一开口。各投影机具有一投影光线，各投影光线由对应的第一开口进入对应的光通道，并由对应的第二开口射出至外界。测光器以可移动的方式设置在光信道器具的一第二侧，用以在各第二开口处测量各投影光线的亮度。

Description

投影机亮度测量装置

技术领域

本发明是有关于一种投影机亮度测量装置，且特别是有关于一种可以自动测量数个投影机的亮度的亮度测量装置。

背景技术

影像显示装置的发展迅速，其中投影机可提供一大尺寸的影像。且投影机具有携带方便、寿命长、高象素及高色彩饱和度等优点，越来越多的企业采用投影机进行简报及教育训练，许多的家庭亦采用投影机享受视听娱乐的效果。

投影机是以一灯泡投射出一投影光线，投影光线经过一影像屏后投射于一成像屏幕上。投影光线的亮度大大地影响投影机成像的质量，因此在投影机制造过程中，亮度测试为质量管理的重要项目之一。质量优良的投影机必须在使用时具有一定范围内的亮度，且随着使用时间增加，亮度衰减仍须维持在一定范围内。至于作业人员如何测量投影机的亮度衰减情况的过程在此简单说明如下。

在传统的测量投影机的亮度的过程中，作业人员必须将多台投影机逐一拿至符合国际标准的大间暗房中，以测量投影机所射出的投影光线的9点亮度。并且，作业人员一次只能测量一台投影机。每隔一段时间，作业人员即重复所有投影机拿至暗房再测量一次的动作。直到每台投影机运作一预设时间(如2000小时)后，作业人员可以汇整每台投影机所有的亮度值而知道每台投影机的亮度衰减情况。

然而，当作业人员轮流测量数台投影机时，其数台投影机总测量时间为每一投影机个别测量时间的总和，相当耗费测量时间。此外，作业人员也无法在晚上睡觉时间做固定间隔时间的测量，除非作业人员轮班测量，但这样将会相当浪费人工。另外，作业人员必须在暗房内测量投影机的亮度，因此暗房将会占据空间，相当不符合经济效益。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的就是在提供一种投影机亮度测量装置。其利用光通道器具与承载器具的搭配设计，并提供一可自动移动的测光器。使用者可在一小空间中以自动控制的方式同时测量数台投影机。不仅节省测量亮度所需要的空间，且大幅减少测量数台投影机所需要的总测量时间，更省去操作仪器所需的人力成本。

根据本发明的目的，提出一种投影机亮度测量装置，包括一光信道器具、一承载器具及一测光器。光通道器具是以数个遮光材相互隔开以形成数个光通道。各光通道具有一第一开口及一第二开口。承载器具设置在光通道器具的一第一侧外，用以承载数个投影机。各投影机对应于各第一开口。各投影机具有一投影光线，各投影光线由对应的第一开口进入对应的光通道，并由对应的第二开口射出至外界。测光器以可移动的方式设置在光信道器具的一第二侧，用以在各第二开口处测量各投影光线的亮度。

为让本发明的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一优选实施例，并配合附图，作详细说明如下：

附图说明

图1所示为依照本发明的优选实施例的投影机亮度测量装置的侧视图。

图2示出图1中的光通道器具、测光器及移动机构的左侧视图。

图3示出依照本发明的优选实施例的测光器及数据处理单元的方块图。

图4所示为依照本发明的优选实施例的投影机亮度测量方法的流程图。

主要组件符号说明

100：投影机亮度测量装置

10：承载器具

20：光通道器具

20a：第一侧

20b：第二侧

21：遮光材

22：光通道

22a：第一开口

22b：第二开口

23：分隔支架

30：移动机构

30a：垂直轴

30b：水平轴

40：测光器

50：数据处理单元

60：投影机

70：屏幕

L：投影光线

L60：投影光线的中心轴

具体实施方式

请同时参照图1及图2，图1所示为依照本发明的优选实施例的投影机亮度测量装置的侧视图。图2示出图1的光通道器具、测光器及移动机构的左侧视图。投影机亮度测量装置100包括一光信道器具20、一承载器具10及一测光器40。光通道器具20是以数个遮光材21相互隔开以形成数个光通道22。各光通道22具有一第一开口22a及一第二开口22b。承载器具10设置在光通道器具10的一第一侧20a外，用以承载数个投影机60。各投影机60对应于各第一开口22a。各投影机60具有一投影光线L，各投影光线L由对应的第一开口22a进入对应的光通道22，并由对应的第二开口22b射出至外界。测光器40以可移动的方式设置在光信道器具20的一第二侧20b，用以在各第二开口22b处测量各投影光线L的亮度。

如图1所示，投影机60承载于承载器具10上。承载器具10区隔成数层容纳空间，每一个容纳空间用以容纳数台投影机60。数台投影机60的投影镜头朝同一方向(如Y方向)射出投影光线L。承载器具10设置在光通道器具20的第一侧20a外，使得各投影机60投射出的投影光线L自第一开口22a进入光通道22，并由第二开口22b射出至外界。

如图2所示，光通道器具20包括一分隔支架23，分隔支架23具有数个高低相间、左右相隔的容置柜。每一个容置柜的内壁可以粘贴遮光材料21，如黑布或魔鬼沾(Velcro)，使粘贴遮光材料21后的容置柜形成数个光通道22。各光通道22之间借由遮光材料21的遮蔽，使得各投影机60的投影光线L不会互相干扰而影响测量的准确性。

如图1及图2所示出，投影机亮度测量装置100还包括一移动机构30，移动机构30设置在光通道器具20的第二侧20b外，用以移动测光器40至各第二开口22b处。在本实施例中，移动机构30包括一垂直轴30a及一水平轴30b。垂直轴30a是以可滑动式耦接于水平轴30b。测光器40可滑动式与垂直轴30a耦接。测光器40可沿着垂直轴30a(如Z方向)垂直来回滑动，并且垂直轴30a的底端可沿着水平轴30b(如X方向)水平来回滑动。借由垂直轴30a及水平轴30b，使得测光器40可移动至预定的第二开口22b处，如图1所示。但本实施例的移动机构30并不局限于上述垂直轴30a及水平轴30b之间的耦接及作动关系，只要是任何可以平面移动测光器40的移动机构30均可以应用在本实施例的投影机亮度测量装置100。

测光器40可以为一光电耦合组件(Charge-Coupled Device，CCD)或互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)传感器。投影机60持续运作的过程中，投影机60持续投射一投影光线L穿越光通道22，并投射至屏幕70上。每隔一预定间隔时间，测光器40借由移动机构30移动至投影光线L的中心轴L60上，用以测量中心轴L60的亮度。

另外，请参照图3，其示出依照本发明的优选实施例的测光器及数据处理单元的方块图。投影机亮度测量装置100还包括一数据处理单元50，数据处理单元50电性连接于测光器40。数据处理单元50用以储存并分析测光器40所测量的数据。数据处理单元50可根据所测量的数据以数学模型仿真绘出亮度衰减趋势图，并预测长时间后亮度衰减情况。例如是根据1000或2000小时的测量资料，来预测未来亮度衰减至原始值的50％的时间点。

请参照图4，其所示为依照本发明的优选实施例的投影机亮度测量方法的流程图。首先，在步骤401中，以数个遮光材料21相互隔开以形成并排列数个光信道22，各光信道22具有一第一开口22a及一第二开口22b。

接着，进入步骤402，承载数个投影机60，各个投影机60对应于一光通道22的第一开口22a。每一投影机60的投影镜头均朝向光通道22设置，并适当地调整投影机60投影的角度，使得投影光线L可顺利地穿越光通道22而投射出外界。

然后，进入步骤403，控制各个投影机60发出一投影光线L。投影光线L具有一中心轴L60。各个投影光线L由对应的第一开口22a进入对应的光通道22，并由对应的第二开口22b射出至外界。投影光线L经过光通道22时，借由遮光材料21可遮蔽外界的光线而不被其它光源所干涉，或干涉到其它待测量的投影光线L。

接着，在步骤404中，以一测光器40于各个第二开口22b处测量各个投影光线L的亮度。此外，在步骤404中，更以一移动机构30移动测光器40至各第二开口22b处，并以测光器40测量各投影光线LL的亮度。另外，在步骤404中，更以测光器40在各第二开口22b处测量各投影光线L的中心轴L60的亮度。再者，在步骤404中，更利用测光器40以一预定间隔时间测量此些投影光线LL的亮度。在测量投影机60的亮度时，通常针对同一台投影机60采取定时多次测量的方式。每隔一段预定时间，移动测光器40并停留于欲测量的投影机60所对应的第二开口22b处，例如是每隔五小时或十小时。使得投影光线L的中心轴L60投射于测光器40，并测量中心轴L60亮度。在本实施例中，本方法更于步骤404后包括一步骤，即储存并分析该测光器所测量的数据。

根据以上实施例，虽然本发明的承载器具与光信道器具是以分离式结构为例作说明，然本发明亦可将承载器具及光通道器具整合为同一机构。只要是利用一机构设计，以达到避免欲测量的光源相互干涉，并且同时进行多台投影机的亮度测量的目的，均不脱离本发明的技术范围。

本发明上述实施例所公开的投影机亮度测量装置，其利用光信道器具与承载器具的搭配设计，并提供一可自动控制并可移动的测光器。使用者可在一小空间中以自动控制的方式同时测量数台投影机。不仅大大减少测量亮度所需要的空间，且大幅减少测量数台投影机所需要的总测量时间，更省去操作仪器所需的人力成本。

此外，本实施例的投影机亮度测量装置亦可测量任何需要长时间测试亮度衰减程度的电子装置上。

综上所述，虽然本发明已以一优选实施例公开如上，然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中任何具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims

1.一种投影机亮度测量装置，包括：

一光通道器具，是以多个遮光材相互隔开以形成多个光信道，各该光信道具有一第一开口及一第二开口；

一承载器具，设置在该光通道器具的一第一侧外，用以承载多个投影机，各该投影机对应于各该第一开口，各该投影机具有一投影光线，各该投影光线由对应的该第一开口进入对应的该光通道，并由对应的该第二开口射出至外界；以及

一测光器，以可移动的方式设置在该光信道器具的一第二侧，用以于各该第二开口处测量各该投影光线的亮度。

2.根据权利要求1所述的投影机亮度测量装置，其特征在于，还包括：

一移动机构，设置在该光通道器具的该第二侧外，用以移动该测光器至各该第二开口处。

3.根据权利要求1所述的投影机亮度测量装置，其特征在于，该测光器为一光电耦合组件或互补式金氧化半导体传感器。

4.根据权利要求1所述的投影机亮度测量装置，其特征在于，各该投影光线具有一中心轴，该测光器测量该些中心轴的亮度。

5.根据权利要求1所述的投影机亮度测量装置，其特征在于，还包括一数据处理单元，电性连接于该测光器，该数据处理单元用以储存并分析该测光器所测量的数据。

6.根据权利要求1所述的投影机亮度测量装置，其特征在于，该测光器是以一预定间隔时间测量该些投影光线的亮度。

7.根据权利要求1所述的投影机亮度测量装置，其特征在于，该承载器具及该光通道器具可以整合在同一结构上。