CN101095036A - 有集成染料滤波器的三原色比色计 - Google Patents

有集成染料滤波器的三原色比色计 Download PDF

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Abstract

在单个半导体芯片上制成一种三原色比色计，该芯片至少有三个检测器，在每个检测器上被涂敷染料滤波器，每个滤波器至少有一层，而至少一个滤波器有双层。根据滤波器和检测器的输入，比色计确定入射光的CIE三原色值。在包含全部检测器和电子元件的单个硅芯片上，可以制成有集成染料滤波器的比色计，而在每个检测器上涂敷被沉积的滤波器层。着色剂可以被直接地沉积到滤波器上，而不是利用滤波器的塑料基片。

Description

有集成染料滤波器的三原色比色计
技术领域
[0002]本发明一般涉及光学和比色法，具体涉及有集成染料滤波器的三原色比色计，该比色计测量光的彩色含量，其响应模仿人眼对彩色的响应，它可以用国际照明委员会(CIE)的彩色匹配函数表示。
背景技术
[0003]光学滤波器可用在许多彩色相关的装置中，其中包括各种彩色测量系统，例如，比色计。有许多类型的滤波器，包括吸收型滤波器，干涉滤波器，等等。光电三原色比色计可用于测量从光源发射的光的彩色，例如，计算机显示屏。这是发射型彩色测量装置，但是还有反射型彩色测量装置。发射型光电比色计引导被测量的光源的光通过光学系统到达三个或多个光电检测装置。在每个光电检测装置之前放置基色滤波器。每个基色滤波器尽可能使光电检测装置的光谱灵敏度符合各自的彩色匹配函数。为了响应入射光，连接到光电检测装置的测量装置读出或测量各个基色值或三原色(tristimulus)值。
[0004]虽然理论上可以设计出准确对应于理想值的基色滤波器，但是实际上不可能制造其传输因数与理想值准确对应的基色滤波器。这是因为在测量彩色样本的基色值或三原色值中存在固有的误差。这种误差是由基色滤波器的实际传输因数与理论传输因数之差造成的。
[0005]用于校正这种误差的以往尝试涉及改变基色滤波器的传输因数特性，其中利用多个重叠的彩色板制成基色滤波器。然而，因为彩色板的光谱特性取决于彩色板所用的材料成分，它通常是玻璃，一般不可能准确地匹配理论的传输因数。特别困难的是在基色值或三原色值的整个波长范围内准确地复制理论的传输值。这些以往的尝试可以增加彩色板的数目，不可避免地减小通过基色滤波器被接收或传输的光量。此外，制造基色滤波器的以往尝试需要仔细地重叠多个彩色板，为的是匹配理论的传输因数，这种制作方法是耗费时间和昂贵的。
发明内容
[0006]本发明包括有集成染料滤波器的各个比色计实施例。
[0007]一个实施例是包含光检测器和着色剂的固态彩色测量装置。着色剂被永久地沉积到固态测量装置上。着色剂包括光滤波器，因此，光传输通过滤波器并使光检测器产生输出。该输出有光谱响应，这些光谱响应的线性组合用于逼近一组类似CIE(CIE-like)彩色匹配函数。
[0008]另一个实施例是包含半导体基片的比色计，半导体基片上有三个或多个光电检测器以及被永久沉积到光电检测器上的三个或多个滤波器。每个滤波器有一个或多个单层，而一个或多个滤波器有一个双层。集成滤波器和光电检测器的响应逼近一组类似CIE目标彩色匹配函数。通道包含光电检测器和滤波器，因此，这些通道光谱响应的线性组合可以逼近一组类似CIE目标彩色匹配函数。
[0009]其他的实施例包括以下有这种比色计的系统：计算机监测器定标系统，家庭影院显示定标系统，投影仪定标系统，环境光测量系统，以及LED测量和控制装置。
附图说明
[0010]通过研究以下结合附图的详细描述，可以容易地理解本发明的内容，其中：
[0011]图1是在有光电检测器的半导体芯片上的染料滤波器层的典型实施例配置顶视图；
[0012]图2A是在有光电检测器的半导体芯片上的染料滤波器层的另一个典型实施例配置顶视图；
[0013]图2B是图2A的侧视图；
[0014]图3A是在有光电检测器的半导体芯片上的染料滤波器层的另一个典型实施例配置顶视图；
[0015]图3B是图3A的侧视图；
[0016]图4是在图2A和2B的典型实施例中典型滤波器传输值的曲线图；
[0017]图5是在图2A和2B的典型实施例中典型紫外(UV)和红外(IR)滤波器传输值以及归一化硅光电监测器响应的曲线图；
[0018]图6是在图2A和2B的典型实施例中典型归一化滤波器检测器响应的曲线图；
[0019]图7是图2A和2B的典型实施例中响应函数的最佳拟合与目标CIE 19312度彩色匹配函数的比较；
[0020]图8A是利用图2A和2B的典型实施例用于计算三原色值的一组典型公式；
[0021]图8B是利用图8A的公式计算图7中最佳拟合的典型系数表；
[0022]图9A是一个典型实施例的计算机监测定标系统的方框图；
[0023]图9B是另一个典型实施例的图9A中计算机监测定标系统的方框图，其中比色计芯片及其控制微处理器被嵌入在测试中的计算机监测器内；
[0024]图10A是一个典型实施例的家庭影院定标系统的方框图；
[0025]图10B是另一个典型实施例的图10A中家庭影院定标系统的方框图，其中比色计芯片及其控制微处理器被嵌入在测试中的家庭影院显示器内；
[0026]图11A是一个典型实施例的投影仪定标系统的方框图，其中比色计芯片直接观看从投影仪发射的光；
[0027]图11B是另一个典型实施例的图11A中投影仪定标系统的方框图，其中比色计芯片是在从显示屏反射之后观看从投影仪发射的光；
[0028]图12是一个典型实施例的环境光测量系统的方框图；和
[0029]图13是一个典型实施例的发光二极管(LED)测量和控制装置的方框图。
[0030]为了便于理解，尽可能使用相同的参考数字标记这些附图中共有的相同元件。
具体实施方式
[0031]本发明包括各个实施例的比色计，它有嵌入在半导体基片上的集成染料滤波器。染料滤波器包含着色剂颜料，染料等。我们所描述的一些实施例包括：计算机监测器定标系统，家庭影院显示定标系统，投影仪定标系统，环境光测量系统，以及发光二极管(LED)测量和控制装置，和它们的组合，每个实施例包括比色计，它有嵌入在半导体基片上的集成染料滤波器。然而，除此以外，本发明的实施例在比色术方面还有许多的应用。比色术是一种通过彩色比较用于确定和描述彩色以及定量分析的科学和实践。在比色术中，可以用数字描述彩色并可以利用各种测量仪器匹配实际的彩色，例如，比色计，分光光度计，密度计，和分光辐射度计。比色术可用在许多工业中，其中包括摄影术，软防护，数字彩色通信，室内设计，建筑，用户电子设备，化学，彩色打印，纺织制造和涂料制造。专业人员应当明白，本发明在许多工业中可应用于各种比色术装置和各种测量仪器。
[0032]一个实施例是一种彩色测量装置，例如，比色计。比色计是包含光检测器和滤波器的固态装置。利用专业人员熟知的制造固态光检测器的方法，着色剂被永久地沉积到固态装置上。该装置有光谱响应的输出，它们的线性组合可以逼近CIE或类似CIE彩色匹配函数。一些类似CIE彩色匹配函数的例子包括CIE 1931 2度彩色匹配函数，CIE 1964 10度彩色匹配函数，或CIE函数的变型，例如，D.Judd(1951)或J.J.Vos(1978)所导出的CIE函数。在一个实施例中，着色剂是染料或颜料的形式。在一个实施例中，滤波器包含各种厚度和各种组合的多种着色剂。着色剂被永久地沉积到该装置的单个检测器或多个检测器上。
[0033]一个实施例是一种设计这种彩色测量装置的方法。导出一个着色剂组合的方案，其中该方案可以使所用着色剂组合的数目最大化和着色剂组合的最小化。在一个实施例中，这个方法是计算方法，并可以在处理器上运行。在一个实施例中，按照预定的准则，这个方法导致选取最佳的着色剂组合。着色剂的组合被用在光检测器上，它们对光子有已知的响应。从较大一组着色剂中通过计算选取着色剂。这种计算考虑到着色剂和检测器的组合响应，用于选取最佳的方案，因此，该装置的输出有接近或近似CIE或类似CIE彩色匹配函数的光谱响应，所以，该装置的性能满足预定的准则。
[0034]图1是在半导体芯片(例如，光频转换半导体器件)上有光电检测器(未画出，见图2B)的染料滤波器层102的典型实施例配置100的顶视图。光电检测器也称之为光电二极管，光电传感器元件，和光电检测元件。半导体芯片104有标准8针108的集成电路封装。有三个或多个染料滤波器层102的许多可能的配置100，而图1表示一种可能的配置100。在图1中，有64个染料滤波器层，它们与64个光电检测器集成8×8网格图形。每个光电检测器是被四种类型之一的吸收型染料滤波器覆盖，例如，F1 110，F2 112，F3 114，和F4 116。在图1中，16个光电检测器是被红色F1 110滤波器覆盖，16个光电检测器是被绿色F2 112滤波器覆盖，16个光电检测器是被深蓝色F3114滤波器覆盖，和16个光电检测器是被黄色F4 116滤波器覆盖。深蓝色F3 114滤波器是双层滤波器：一个青层和一个品红层。红色F1 110滤波器，绿色F2 112滤波器，和黄色F4 116滤波器是单层滤波器。其他的实施例可以包含或多或少类型的滤波器。每个滤波器可以是单层或多层结构(例如，图2B和3B)。
[0035]图2A是在半导体芯片104上有光电检测器(未画出，见图2B)的染料滤波器层102的另一个典型实施例配置200的顶视图。半导体芯片104有标准8针108的集成电路封装。其他的实施例可以有不同数目的插针。在图2A中，每个光电检测器是被四种类型之一的集成吸收型染料层102覆盖(即，F1 110，F2 112，F3 114，和F4 116)，每个染料层可以是单层或多层结构。着色剂包括颜料，染料等。F1 110是单个红色层，F2 112是单个绿色层，F3 114是深蓝层(从顶部观看)，它是青色和品红色双层(在图2B中从侧面观看)，和F4 116是单个黄色层。
[0036]图2B是图2A的侧视图，它表示染料滤波器层102的剖面。在这个典型的实施例中，半导体芯片104包括由四个光电检测器204和四个染料滤波器层102构成(例如，通过沉积)的半导体基片202。每个染料滤波器层102是与一个光电检测器204集成。在图2B中，F1 110，F2 112，和F4 116是单层结构，而F3 114是双层结构。F1 110是单个红色层，F2 112是单个绿色层，F3 114是青色和品红色双层，和F4 116是单个黄色层。在其他的实施例中，至少有三个光电检测器和对应的染料滤波器102。在其他的实施例中，染料滤波器层102可以有任何数目层的各种层结构，且每个滤波器可以是单层或多层结构(两层或多层)。
[0037]图3A是在半导体芯片104上有染料滤波器层102的另一个典型实施例配置300的顶视图，它是由五个光电检测器204和五个染料滤波器层102构成。每个染料滤波器层102是与一个光电检测器204集成。
[0038]图3B是图3A的侧视图。在这个典型的实施例中，半导体芯片104包括由五个光电检测器204和五个染料滤波器层102构成的半导体基片202。每个染料滤波器层102覆盖一个光电检测器204。在图3B中，F2 112是单层结构，而F1 110，F3 114，F4 116，和F5 300是双层结构。其他的实施例可以有三个或多个染料滤波器层102，每个滤波器层至少是一个单层，且至少一个滤波器层是双层。
[0039]图4-8表示利用图2A和2B的典型实施例计算被测量的X，Y和Z的三原色值的过程。
[0040]图4是图2A和2B的典型实施例的典型滤波器传输值的曲线图。图4表示4个滤波器函数F1，F2，F3，和F4的传输值。在图4中列出的光敏彩色PSC着色剂是一组颜料，它们通常用在半导体器件上制作彩色滤波器层。类似地，包含青，品红，和黄色着色剂的染料(PSDTM)的着色剂是一组染料，它们通常用在半导体器件上制作彩色滤波器层。其他的实施例可以包含任何其他的颜料，染料，和适合于半导体器件结构的着色剂。
[0041]图5是典型的紫外(UV)和红外(IR)滤波器传输值以及图2A和2B的典型实施例中归一化硅光电检测器响应的曲线图。我们还画出典型的硅光电二极管光谱响应函数。图5表示UV和IR滤波器的传输值，需要利用这些滤波器使光到达比色计芯片上的光谱范围变得较窄。
[0042]图6是图2A和2B的典型实施例的典型归一化滤波器检测器响应的曲线图。利用图4所示的滤波器传输值与图5所示的UV和IR和硅光电检测器函数相乘得到这些响应函数。
[0043]图7是用于比较图2A和2B的典型实施例的响应函数的最佳拟合与1931 2度CIE彩色匹配函数的曲线图。利用图6所示的响应函数，通过最小平方拟合CIE函数可以得到这种拟合。
[0044]图8A是利用图2A和2B的典型实施例的一组典型公式计算三原色值。以下的该组公式利用最佳最小平方系数，用于计算X，Y，和Z的三原色值。
X＝(F1detector*CX1)+{F2detector*CX2)+(F3detector*CX3)+(F4detector*CX4)；
Y＝(F1detector*CY1)+(F2detector*CY2)+(F3detector*CY3)+(F4detector*CY4)；
Z＝(F1detector*CX1)+(F2detector*CZ2)+(F3detector*CZ3)+(F4detector*CZ4)；
[0045]图8B是利用图8A的公式计算图7中最佳拟合的典型系数列表。以下的表格说明最佳拟合系数Cjk的典型数值。
  X系数   数值     Y系数   数值   Z系数   数值
  Cx1＝   0.020482     Cy1＝   0.006561   Cz1＝   0.003158
  Cx2＝   -0.081360     Cy2＝   0.017303   Cz2＝   0.007581
  Cx3＝   0.077814     Cy3＝   0.001845   Cz3＝   0.503504
  Cx4＝   0.096484     Cy4＝   0.049131   Cz4＝   -0.006500
[0046]利用一种设计有集成CIE彩色匹配滤波器的比色计的方法，可以产生各种典型的实施例。这种方法可用于计算滤波器层结构和各层的厚度。从多个通道中确定一组通道，使该组通道的线性组合可以在容差的范围内匹配一组类似CIE目标彩色函数。每个通道集成至少一个检测器和至少一个滤波器到单个半导体基片上。确定每个通道的一组滤波器。每个滤波器是吸收型滤波器，且每个滤波器至少有一层。至少有这样一个通道，其中该滤波器有双层。确定每层的厚度。从一组着色剂中确定每层的着色剂。在足够高的信噪比(SNR)下，得到至少有三个或四个滤波器的高精确度比色计，其中每个滤波器至少是单层，且一层是双层。这利用最小的成本可以最佳逼近类似CIE目标彩色匹配函数。有良好性能和精确度的其他典型实施例的比色计包括单个双涂敷滤波器层和三个单涂敷滤波器层，两个双涂敷滤波器层和两个单涂敷滤波器层，和三个双涂敷滤波器层和一个单涂敷滤波器层。一些典型实施例的滤波器层厚度是在0.50μm与2.00μm之间。专业人员应当明白，各种层结构和厚度的其他组合也是在本发明的范围内。
[0047]图9A表示一个典型实施例的计算机监测器定标系统900。在这个典型的实施例中，计算机监测器定标系统900包含主计算机系统902。主计算机系统902包含计算机处理单元(CPU)904和测试中的监测器906。CPU 904运行监测器定标装置并控制红，绿，和蓝光输出到测试中的监测器906。测试中的监测器906发射红，绿，和蓝光并传输通过挡光板908，红外光滤波器910，和紫外光滤波器912，然后到达有集成染料滤波器的比色计芯片914。挡光板908限制被检测光的角度，而红外光滤波器910和紫外光滤波器912限制比色计芯片914所检测的光的光谱范围。然而，其他的实施例可以不包含这些滤波器或包含一个或多个这些滤波器或其他滤波器，根据需要，它们可以有不同的顺序和排列。比色计芯片914发送原始计数数据的输入到微处理器916，而微处理器916发送通道选择器输入到比色计芯片914。微处理器916控制比色计芯片914。在微处理器916与CPU 904之间进行双向通信(例如，利用缆线，USB，或无线装置)。为了便于说明，虽然微处理器916安装在外面，但是它可以放置在定标器装置的外壳内。微处理器916发送命令输入和原始数据输出。本发明不局限于计算机监测器定标系统中各个部件的任何特定安排。本发明也不局限于计算机监测器定标系统，而可以包括各种其他的比色术装置。其他的实施例可以包括计算机监测器系统中主要部件的各种其他安排，例如，可以组合CPU 904和监测器906。
[0048]图9B表示另一个典型实施例的图9A中计算机监测器定标系统900，其中比色计芯片及其控制微处理器被嵌入在测试中的计算机监测器内。图9B与图9A中计算机监测器定标系统900的不同是，比色计芯片914及其控制微处理器916被嵌入在测试中的监测器906。换句话说，比色计芯片914是直接地固定到测试中监测器906外壳内的测试中监测器906的屏幕上。
[0049]图10A表示一个典型实施例的家庭影院显示定标系统1000。家庭影院显示器包括：等离子体电视(TV)，液晶显示器(LCD)TV，数字光处理TM(DLP)TV等。在这个典型的实施例中，主计算机CPU 904运行家庭影院定标装置。家庭影院的视频信号源1002是视频源，例如，数字视盘(DVD)播放器或视频信号发生器。主计算机CPU 904发送命令输出以控制视频信号源1002。主计算机CPU904与微处理器916进行双向通信。微处理器916是在定标器装置的外壳内。微处理器916控制比色计芯片914，包括发送通道选择器输入到比色计芯片914。比色计芯片914有集成染料滤波器，并发送原始计数数据到微处理器916。视频信号源1002发送视频信号输出到测试中的家庭影院显示器1004。测试中的家庭影院显示器1004发射光到挡光板908。该光传输通过挡光板908到红外光滤波器910，紫外光滤波器912，然后到达比色计芯片914。专业人员应当知道，其他实施例在其他比色术装置中可以有或多或少部件的不同安排，但是，这些其他实施例仍然是在本发明的范围内。
[0050]图10B表示另一个典型实施例的图10A中家庭影院显示定标系统1000，其中比色计芯片及其控制微处理器被嵌入在测试中的家庭影院显示器内。在这个典型的实施例中，有集成染料滤波器的比色计芯片914以及红外光滤波器910和紫外光滤波器912和包含微处理器控制器916的其他相关部件都放置在被定标的测试中家庭影院显示器1004的外壳内。换句话说，比色计芯片914是直接地固定到测试中家庭影院显示器的显示屏幕上。在这种安排下，就不需要图10A中的挡光板908。同样地，不同和各种部件的其他安排也是在本发明的范围内。
[0051]图11A表示一个典型实施例的投影仪定标系统1100的方框图，其中比色计芯片直接观看从投影仪发射的光。在这个典型的实施例中，比色计芯片914直接观看从投影仪1102发射的光。信号源是投影仪驱动器1104，例如，计算机视频卡，或视频源，例如，DVD播放器或视频信号发生器。主计算机CPU 904发送命令输出以控制投影仪驱动器1104，而投影仪驱动器1104发送信号输出到投影仪1102。被发射的光通过投影仪透镜1106到挡光板908，红外光滤波器910，紫外光滤波器912，和比色计芯片914。主计算机CPU 904与微处理器916之间进行双向通信。微处理器从比色计芯片914接收原始计数数据，并发送信道选择器输入到比色计芯片914。
[0052]图11B表示另一个典型实施例的图11A中投影仪定标系统1100的方框图，其中比色计芯片是在从显示屏反射之后观看从投影仪发射的光。在这个典型的实施例中，在从投影仪1102发射的光通过投影仪透镜1106之后，比色计芯片914观看从显示屏1108反射的光。同样地，不同和各种部件的其他安排也是在本发明的范围内。
[0053]图12表示一个典型实施例的环境光测量系统1200。在这个典型的实施例中，没有被定标的特定光发射器。相反地，环境室内光1202是用它的照度和比色计读数描述。专业人员应当知道，环境光测量系统1200中不同和各种部件的其他安排也是在本发明的范围内。
[0054]图13表示一个典型实施例的发光二极管(LED)测量和控制装置1300。在这个典型的实施例中，主计算机CPU 904发送命令输入到LED功率源和控制单元1302，它提供功率源输出到LED照明阵列1304中的LED。从LED发射的光被引导到挡光板，红外光滤波器910，紫外光滤波器912，和比色计芯片914。专业人员应当知道，LED测量和控制装置1300中的不同和各种部件的其他安排也是在本发明的范围内。
[0055]我们已描述了在单个半导体芯片上各个实施例的三原色比色计，在该半导体芯片上至少有三个检测器，在每个检测器上涂敷染料滤波器，每个滤波器至少有一个单层，和至少一个滤波器有双层。根据滤波器和检测器的输入，比色计确定入射光的CIE三原色值。在单个硅芯片上可以构造有集成染料滤波器的比色计，该芯片包含所有的检测器和电子元件，并利用永久沉积的滤波器层涂敷到每个检测器上。可以直接沉积着色剂到检测器上，而不是利用滤波器的塑料基片。
[0056]本发明有许多优点，其中包括较高的光学效率，延长的寿命，增大的机械坚固性，降低的制造成本，和减小的定标成本。因为各个检测器之间可以互相对接，而不需要把它们分隔开，可以实现较高的光学效率。这种接近可以减小对漫射器和透镜的要求，在过去要求它们在复合传感器的大面积上使光均匀化。在该装置的给定有效面积上，去掉光学元件可以提高光的通过量和效率。因为不需要胶粘和机械固定，可以延长它的工作寿命。此外，通过沉积多种材料到检测器上制成集成染料滤波器，可以增大比色计的光谱灵敏度的彩色匹配函数的接近性，从而提高它的准确性。因为提高了不同单元之间的均匀性，就不需要定标每个单元，从而实现定标成本的减小。而且，可以定标一批中的少量代表性单元。此外，比色计芯片的小尺寸及其相关的元件可以使完整的比色计被嵌入在需要测量的发光源中，如图9B和10B所示(而且也可以嵌入在图11A所示的装置中)。
[0057]我们已经描述了各种装置，其中包括计算机监测器定标系统，家庭影院显示定标系统，投影仪定标系统，环境光测量系统，和发光二极管(LED)测量和控制装置。例如，可以在诸如Spyder2TM的装置中实现有按照本发明集成染料滤波器的比色计，它可以从Datacolor，Lawrenceville，NJ购买到，它这是高级业余爱好者，专业人员，和用户的比色计，用于定标监测器和建立国际彩色协会(ICC)或其他工业标准显示规范，它适用于阴极射线管(CRT)，LCD或笔记本和/或投影显示器。专业人员应当知道，可以在许多工业的许多其他比色术装置中实现本发明。
[0058]虽然以上的描述涉及本发明的各个实施例，在不偏离以下权利要求书限定的本发明基本范围内，可以设计出本发明的其他实施例。

Claims (18)

1.一种固态彩色测量装置，包括：
多个光检测器；和
多种着色剂，它们被永久地沉积到固态彩色测量装置上，着色剂包含在多个滤波器中，使传输通过滤波器的光可以使光检测器导致固态彩色测量装置产生有多个光谱响应的输出，每个光谱响应逼近不同的类似CIE彩色匹配函数。
2.按照权利要求1的固态彩色测量装置，其中各个光检测器在固定滤波器之前是完全相同的。
3.按照权利要求1的固态彩色测量装置，其中每种着色剂有这样的厚度，使各种着色剂厚度的组合可以产生有光谱响应的输出，该光谱响应逼近类似CIE彩色匹配函数。
4.按照权利要求1的固态彩色测量装置，其中每种着色剂被永久地沉积到单个检测器上。
5.按照权利要求1的固态彩色测量装置，其中每种着色剂被永久地沉积到至少两个检测器上。
6.固态彩色测量装置，其中确定一组着色剂的组合，每个组合是这样被确定的，该输出具有的光谱响应的线性组合可以逼近一组类似CIE彩色匹配函数；且其中一种组合是从有最佳方案并满足预定性能准则的组中选取的，选取的组合被永久地沉积到固态彩色测量装置上。
7.一种比色计，包括：
至少有三个光电检测器的半导体基片；
至少三个滤波器，它们被永久地沉积到该至少三个光电检测器上，每个滤波器至少有一个单层，且至少一个滤波器有一个双层；和
多个通道，包含光电检测器和滤波器，使该多个通道的多个光谱响应的线性组合逼近一组类似CIE目标彩色匹配函数。
8.按照权利要求7的比色计，其中滤波器是与光电检测器集成整体。
9.按照权利要求7的比色计，其中半导体基片有四个光电检测器。
10.按照权利要求9的比色计，其中滤波器包含所有的单层。
11.按照权利要求7的比色计，其中滤波器包含一个双层和三个单层。
12.按照权利要求11的比色计，其中双层是青和品红，而三个单层是红，绿，和黄。
13.按照权利要求9的比色计，其中滤波器包含两个双层和两个单层。
14.按照权利要求9的比色计，其中滤波器包含三个双层和一个单层。
15.按照权利要求7的比色计，其中每个滤波器的厚度约在0.50μm与2.00μm之间。
16.按照权利要求7的比色计，其中半导体基片上有64个光电检测器。
17.按照权利要求7的比色计，其中滤波器是吸收型滤波器。
18.一种包含权利要求7所述的比色计的系统，其中该系统是从以下一组中选取的：计算机监测器定标系统，家庭影院显示定标系统，投影仪定标系统，环境光测量系统，和LED测量和控制装置。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Open date: 20071226