CN101067561A - 用于有选择地将测试数据记入日志的系统和方法 - Google Patents

用于有选择地将测试数据记入日志的系统和方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了用于有选择地将测试数据102记入日志的系统和方法。在一个实施例中，系统100包括用于对由多个器件106产生的测试数据102进行监控并且用于产生与测试数据102相关的统计量114的代码110；以及用于响应于与测试数据102相关的统计量114而有选择地调整产生测试数据102的测试仪104，以修改多个器件106的由测试仪104记入日志的测试数据102的代码114。在一个实施例中，方法500包括：监控504由多个器件产生的测试数据并且产生与测试数据相关的统计量；以及响应于与测试数据相关的统计量，有选择地调整506产生测试数据的测试仪，以修改从所述器件获得的测试数据。还公开了其他实施例。

Description

用于有选择地将测试数据记入日志的系统和方法
技术领域
本发明涉及用于有选择地将测试数据记入日志的系统和方法。
背景技术
对于对片上系统(SOC)器件进行测试，可以将大量的信息记入日志。单次测试可以获得许多参数式测量数据。所有这些测量数据都可能要与相应的测试限制一起被记入日志。这可能要花费大量的时间、系统存储器和文件空间。
在生产和测试过程稳定时，用户可能仅需要获得概况信息。一般而言，当在生产或者利用测试仪进行测试时发生问题时，可能需要更详细的信息来确定该问题。
一般来说，用户仅将对测试仪获得的详细信息的采样记入日志。例如，用户可能将每第五个被测器件的详细信息记入日志，该详细信息可能包括测量值和限制。对于其他被测器件，可以将诸如通过/失败信息之类的初步信息记入日志。在Agilent 93000测试仪中，用户可以选择捕获详细测试数据的频度。
一个缺点是对于特定器件，一般要么所有细节结果都必须被记入日志，或者所有细节结果都不被记入日志。不必要的细节数据通常必需被记入日志，以获得需要的数据。
当前，用户不能预测是否将发生问题并且改变数据捕获速率。用户必须在存在问题时手动通知改变用于数据捕获的设置。许多器件可能必须被重新测试以获得所需要的细节数据。用户不可能轻易地检测出何时测试结果正飘动并且需要更详细的数据。
发明内容
在一个实施例中，提供了一种用于有选择地将测试数据记入日志的系统，该系统包括：用来监视由多个器件产生的测试数据和用来产生与该测试数据相关的统计量的代码；以及用来响应于与所述测试数据相关的统计量，有选择地调整产生该测试数据的测试仪以修改针对所述多个器件由测试仪记入日志的测试数据的代码。
在另一个实施例中，提供了用于有选择地将测试数据记入日志的方法，该方法包括：监控由多个器件产生的测试数据并且产生与该测试数据相关的统计量；并且响应于与所述测试数据相关的统计量，有选择地调整产生该测试数据的测试仪以修改从所述器件获得的测试数据。
还公开了其他实施例。
附图说明
附图中示出了本发明的说明性实施例，在附图中：
图1示出了用于有选择地将测试数据记入日志的系统；
图2示出了由用于对图1所示系统的测试仪进行有选择地调整的代码所产生的反馈信号；
图3示出了可选地结合到图1所示系统中的测试仪，该测试仪包含用于监控测试数据的代码和用于有选择地调整测试仪的代码；
图4示出了可选地结合到图1所示系统中的控制器，该控制器具有用于监控由测试仪获得的测试数据的代码和用于有选择地调整该测试仪的代码；以及
图5示出了用于有选择地将测试数据记入日志的方法。
具体实施方式
参见图1，并且在一个实施例中，该图示出了一种用于有选择地将测试数据102记入日志的系统100。系统100可以包括测试仪104，用于对器件108执行测试106，并且用于将从器件108获得的测试数据102记入日志。系统100可以包括用于对由测试仪104获得的测试数据102进行监控来产生与测试数据102相关的统计量112。系统100可以包括用于响应于与测试数据102相关的统计量112，有选择地调整测试仪104以修改从器件108记入到日志中的测试数据102。
参考图2，并且在一个实施例中，系统100可以包括由用于有选择地调整测试仪104的代码114产生的对应于与测试数据102相关的统计量112的反馈信号200。反馈信号200可以被用来调整由测试仪104从器件108记入到日志中的测试数据102。
现在参考图3，并且在一个实施例中，测试仪104可以包含用于监控测试数据102的代码110。测试仪104还可以包含用于有选择地调整测试仪104的代码114。
参考图4，并且在一个实施例中，系统100还可以包括控制器400，控制器400具有用于对由测试仪104获得的测试数据102进行监控的代码110。控制器400可以包括用于有选择地调整测试仪104的代码114。控制器400可以是与测试仪104相分离的。
在一个实施例中，测试仪104可以包括自动测试装备(ATE)，测试仪104在下文中也被称作自动测试装备104。自动测试装备104以包含用于监控测试数据102的代码104。自动测试装备104可以包含用于有选择地调整测试仪104的代码114。
现在参考图1，并且在一个实施例中，与测试数据102相关的统计量112可以被与预定阈值116相比较。用于有选择地调整测试仪104的代码114可以在统计量112在预定阈值之外时对测试仪104进行调整来获得额外的测试数据118。如果统计量112返回到预定阈值116内，则用于有选择地调整测试仪104的代码114可以对测试仪进行重新调整来获得较少的测试数据120。较少的测试数据120可以是与测试仪104最初记入日志中的测试数据102相同的或者类似的。或者，较少的测试数据120可以比测试仪104最初记入日志的测试数据102少或者与该测试数据不同。
额外的测试数据118可以包括从额外的器件112获得的测试结果。额外的测试数据118可以包括从对器件108中的每个执行的额外的测试124获得的测试结果。额外的测试数据118可以包括其中各个管脚的结果都被记入日志的测试结果。
较少的测试数据120可以包括从较少的器件126获得的测试结果。较少的测试数据120可以包括从对每个器件108执行的较少的测试128获得的测试结果。较少的测试数据120可以包括其中各个管脚的结果未被记入日志的测试结果。
预定阈值116可以包括器件108的最大故障比率130。预定阈值116可以包括来自器件108的测试数据的最大范围。在一个实施例中，预定阈值116可以由用户有选择地配置。
在一个实施例中，与测试数据102相关的统计量112可以被与预定趋势134相比较。当统计量112指示出比预定趋势134更多的故障时，用于有选择地调整测试仪104的代码114可以对测试仪104重新进行调整来获得较少的测试数据112。
在另一个实施例中，当统计量112在预定趋势134的给定范围之外时，用于有选择地调整测试仪104的代码114可以对测试仪104进行重新调整来获得额外的测试数据118。当统计量112返回到预定趋势134的给定范围内时，用于有选择地调整测试仪104的代码114可以对测试仪104进行重新调整来获得较少的测试数据120。
在一个实施例中，系统100可以对诸如产量之类的高层数据的统计量112进行跟踪，并且系统100还可以对诸如标准偏差、Cp、Cpk等的各个测量值的统计量112进行跟踪。当一个统计量112例如器件产量超出阈值116之外，则系统100可以自动改变对测试仪104的设置来适当地增加被记入日志的测试数据102的量。如果计算出的统计量112从阈值116外返回到阈值116内，则系统100可以自动改变对测试仪104的设置来降低被记入日志的测试数据102的量。
现在参考图5，并且在一个实施例中，该图示出了用于有选择地将测试数据记入日志的方法500。方法500可以包括利用测试仪对器件执行502测试，并且将从器件获得的测试数据记入日志。方法500可以包括对由测试仪获得的测试数据进行监控来产生与该测试数据相关的统计量。方法500可以包括响应于与测试数据相关的统计量，有选择地对测试仪进行调整来修改从器件获得的测试数据。
在另一个实施例中，方法500可以可选地包括产生对应于与测试数据相关的统计量的用于对测试仪进行调整的反馈信号。该反馈信号可以有选择地对测试仪从器件获得的测试数据进行调整。
在一个实施例中，对测试数据进行监控504来产生与测试数据相关的统计量的步骤可由测试仪执行。在另一个实施例中，对测试数据进行监控504来产生与测试数据相关的统计量的步骤可由控制器执行。
在一个实施例中，利用测试仪对器件执行502测试的步骤可由自动测试装备执行。
在一个实施例中，方法500可以可选地包括将与测试数据相关的统计量与预定阈值相比较510，并且在统计量在预定阈值之外时获得512额外的测试数据。方法500还可以包括在统计量返回到预定阈值内时对测试仪重新进行调整514来获得较少的测试数据。
获得512额外的测试数据的步骤可以包括从额外的器件获得测试结果。在另一个实施例中，获得512额外测试数据的步骤包括从对每个器件执行的额外测试获得测试结果。
对测试仪重新进行调整514来获得较少的测试数据的步骤可以包括从较少的器件获得测试结果。在另一个实施例中，对测试仪重新进行调整514来获得较少的测试数据的步骤可以包括通过对每个器件执行较少的测试获得测试结果。
在一个实施例中，在记入日志过程中应当对测试数据进行监控以确定那些测试数据应当被记入日志。将高层信息记入日志可以涉及跟踪数据趋势。如果对于整个测试流、或者对于独立的测试组或测试标识出了失败趋势，则可以增加针对整个测试流、或者针对独立的测试组或测试记入日志的数据的量。
在另一个实施例中，单个测试或者整个测试流的细节结果可以被记入日志。如果结果通过范围或者接近范围，则可以减少针对整个测试流，或者针对单个测试组或测试正被记入日志的细节数据的量。
在一个实施例中，用户不必严密监控测试结果来确定何时增大或减小数据流。类似地，测试仪的将数据记入日志的设置不必由用户手动改变。
此外，被记入日志的数据的量可被定制来仅覆盖有问题的测试。这可以减少在将需要的测试数据记入日志的同时被记入日志的数据的量。

Claims (10)

1.一种用于有选择地将测试数据102记入日志的系统100，系统100包括：
用于对由多个器件106产生的测试数据102进行监控并且用于产生与所述测试数据102相关的统计量114的代码110；以及
用于响应于所述与所述测试数据102相关的统计量114而有选择地调整产生所述测试数据102的测试仪104，以修改针对所述多个器件106的由所述测试仪104记入日志的测试数据102的代码114。
2.如权利要求1所述的系统100，还包括对应于所述与测试数据102相关的统计量114的由所述用于有选择地调整测试仪104的代码114产生的反馈信号200，并且其中所述反馈信号200对由所述测试仪104从所述器件106记入日志的所述测试数据102进行调整。
3.如权利要求1所述的系统100，还包括测试仪104，测试仪104用于对所述器件106执行测试，并且用于将从所述器件106获得的测试数据102记入日志，并且其中所述测试仪104包含用于监控所述测试数据102的代码110，并且所述测试仪104包含用于有选择地调整所述测试仪104的代码。
4.如权利要求1所述的系统100，还包括控制器400，控制器400具有用于对由所述测试仪104获得的所述测试数据102进行监控的代码和用于有选择地调整所述测试仪104的代码，并且其中所述控制器400是与所述测试仪104相分离的。
5.如权利要求1所述的系统100，其中所述测试仪104包含用于监控所述测试数据102的代码，并且其中所述测试仪104包含用于有选择地调整所述测试仪104的代码。
6.如权利要求1所述的系统100，其中所述与测试数据102相关的统计量114被与预定阈值116相比较，其中所述用于有选择地调整所述测试仪104的代码在所述统计量114在所述预定阈值116之外时调整所述测试仪104以获得额外的测试数据118。
7.如权利要求6所述的系统100，其中所述用于有选择地调整所述测试仪104的代码在所述统计量114返回到所述预定阈值116内时重新调整所述测试仪104以获得较少的测试数据102。
8.如权利要求1所述的系统100，其中所述与测试数据102相关的统计量114被与预定趋势相比较，并且其中所述用于有选择地调整所述测试仪104的代码在所述统计量114在所述预定趋势的给定范围之外时重新调整所述测试仪104以获得额外的测试数据118。
9.一种用于有选择地将测试数据记入日志的方法500，该方法包括：
对由多个器件产生的所述测试数据进行监控504并且产生与所述测试数据相关的统计量；以及
响应于所述与测试数据相关的统计量，有选择地调整506产生所述测试数据的测试仪，以修改从所述器件获得的所述测试数据。
10.如权利要求9所述的方法，还包括产生506对应于所述与测试数据相关的统计量的用于有选择地调整所述测试仪的反馈信号，其中所述反馈信号有选择地调整由所述测试仪从所述器件获得的所述测试数据。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104808135A (zh) * 2015-05-12 2015-07-29 深圳市共进电子股份有限公司 一种无线芯片抽测方法
CN111065897A (zh) * 2018-02-09 2020-04-24 欧姆龙株式会社 记录装置以及记录方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090013218A1 (en) * 2007-07-02 2009-01-08 Optimal Test Ltd. Datalog management in semiconductor testing
US8112249B2 (en) 2008-12-22 2012-02-07 Optimaltest Ltd. System and methods for parametric test time reduction

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5130936A (en) * 1990-09-14 1992-07-14 Arinc Research Corporation Method and apparatus for diagnostic testing including a neural network for determining testing sufficiency
US5327437A (en) * 1991-11-25 1994-07-05 Hewlett-Packard Company Method for testing electronic assemblies in the presence of noise
US5544308A (en) * 1994-08-02 1996-08-06 Giordano Automation Corp. Method for automating the development and execution of diagnostic reasoning software in products and processes
EP0794495A3 (en) * 1996-03-08 1998-07-22 Hewlett-Packard Company Automated analysis of a model-based diagnostic system
US6078189A (en) * 1996-12-13 2000-06-20 International Business Machines Corporation Dynamic test reordering
US6134674A (en) * 1997-02-28 2000-10-17 Sony Corporation Computer based test operating system
US6304982B1 (en) * 1998-07-14 2001-10-16 Autodesk, Inc. Network distributed automated testing system
US6480808B1 (en) * 1999-12-22 2002-11-12 General Electric Company Method and apparatus for calculating confidence intervals
US6711514B1 (en) * 2000-05-22 2004-03-23 Pintail Technologies, Inc. Method, apparatus and product for evaluating test data
US6618682B2 (en) * 2001-04-20 2003-09-09 International Business Machines Corporation Method for test optimization using historical and actual fabrication test data
US6868299B2 (en) * 2003-04-15 2005-03-15 I2 Technologies Us, Inc. Generating a sampling plan for testing generated content
US7359820B1 (en) * 2007-01-03 2008-04-15 International Business Machines Corporation In-cycle system test adaptation

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104808135A (zh) * 2015-05-12 2015-07-29 深圳市共进电子股份有限公司 一种无线芯片抽测方法
CN111065897A (zh) * 2018-02-09 2020-04-24 欧姆龙株式会社 记录装置以及记录方法
US11451238B2 (en) 2018-02-09 2022-09-20 Omron Corporation Recording device and recording method

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