CN101000698A - Cis精密检测设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，包括CIS和传输装置。传输装置具有供薄片类介质通过的传输通道，CIS的透射光源和反射感应部件分别安装在该传输通道的上下两侧。传输装置还包括两组传输轮，其中位于薄片类介质传输方向的后方的第一组传输轮位于CIS的第一侧，位于薄片类介质传输方向的前方的第二组传输轮位于CIS的第二侧，两组传输轮各自相切点的连线距所述CIS的反射感应部件的感应面的距离小于感应距。该精密检测设备保证介质的顺利传输且体积较小，适用于对钞票、支票等薄片类介质的图像信息扫描检测。

Description

CIS精密检测设备
技术领域
本发明涉及一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，尤其涉及一种用于检测薄片类介质的小体积的CIS精密检测设备。
背景技术
CIS(接触式图像传感器)扫描技术通常应用于检测设备，例如应用于检测钞票、支票等薄片类介质的检测设备。装备了CIS的检测设备通过CIS对钞票、支票等薄片类介质进行实时图像扫描可以获得和鉴别其显性及隐性的特征信息。
CIS检测设备除了CIS外，还要有辅助设备。例如辅助介质通过的传输装置。而要想获得高质量的传输扫描结果就必须要精确控制介质的传输速度、介质与CIS感应面的距离等等。这就需要传输装置要设计的精确，特别是介质为薄片类时更需要传输装置的极高精密度。因此，将这种CIS检测设备称之为CIS精密检测设备。
传统的CIS精密检测设备由于体积相对较大，可以通过整体开模的方式制造。这种方式对于控制薄片类介质与CIS感应面的间距较易实现。
小型的CIS精密检测设备设计和制造相对而言困难的多。因为经常需要检测褶皱的钞票等薄片类介质，因此，怎样保证薄片类介质与CIS感应面之间保持合理的间距及如何保证薄片类介质顺利通过检测通道且可以高效和灵敏的被实时检测就成了亟需解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种保障薄片类介质顺利通过检测通道且可保证该介质与感应面之间保持合理的检测间距的CIS精密检测设备。
为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，包括CIS和传输装置，所述传输装置具有供薄片类介质通过的传输通道，所述CIS的透射光源和反射感应部件分别安装在该传输通道的上下两侧，其特征在于：所述传输装置还包括两组传输轮，其中位于薄片类介质传输方向的后方的第一组传输轮位于CIS的第一侧，位于薄片类介质传输方向的前方的第二组传输轮位于CIS的第二侧，所述两组传输轮各自相切点的连线距所述CIS的反射感应部件的感应面的距离小于感应距。
本发明提供的这种CI S精密检测设备，为了达到上述技术目的，采用两组传输轮传输薄片类介质。由于所述两组传输轮各自相切点的连线距所述CIS的反射感应部件的感应面的距离小于感应距。从而保证了所述两组传输轮夹持的薄片类介质的表面与CIS的反射感应部件的感应面的间距更稳定和精确。而且在本发明的一个具体实施例中，还同时在传输通道上设置了导入斜面，并且将两组传输轮的速度设定了一定的速度差，保证了薄片类介质在传输和检测的过程中呈拉直状态，也就保证了该薄片类介质更易于顺利通过传输通道而不会发生卡堵。
本发明其它优点和设计要点将在具体实施方式中结合附图以优选实施例的方式给出。
附图说明
图1为本发明提供的CIS精密检测设备的剖面图；
图2为图1给出的CIS精密检测设备去除了传输轮和CIS的透射光源的剖面图；
图3为图1给出的CIS精密检测设备的局部放大剖面图；
具体实施方式
参考图1，本发明的一个优选实施例提供的一种CIS精密检测设备。该设备包括CIS200和传输设备100。CIS200包括透射光源210和反射感应部件220。传输设备100包括上座110和下座120。在所述上座110和下座120之间是传输通道130。
参考图1和图2。如图所示，所述透射光源210安装在上座110上，所述反射感应部件220安装在下座120上。透射光源210和反射感应部件220相对而设，分别位于传输通道130的上下两侧。如此一来，当薄片类介质300沿箭头60所指的方向通过透射光源210和反射感应部件220之间时就会被实时扫描检测。
参考图1。传输设备100还包括两组传输轮，分别是传输轮150和传输轮140，每组传输轮包括上下两组相对相切的轮。每组传输轮的上轮组件安装在上壁110上，每组传输轮的下轮组件安装在下壁120上。其中，传输轮150位于CIS200的第一侧，即传输方向的后方；传输轮140位于CIS200的第二侧，即传输方向的前方。如此一来，薄片类介质300首先被传输轮150夹持并沿箭头60所指的方向向前传输，该薄片类介质300的头部会越过CIS200的感应区间到达传输轮140处，传输轮140同样夹持并将该薄片类介质300继续向前传输。
参考图1。传输轮140的旋转速度要略大于传输轮150的旋转速度。如此一来，即使薄片类介质300是不平整的，由于传输轮140和传输轮150之间存在着速度差，传输轮140会以较快的速度传输薄片类介质300，就像拉扯该薄片类介质300一样，使其平整。而且，由于薄片类介质300的表面平整，其表面与反射感应部件220的感应面221之间的间距就会更稳定，也就提高了感应精度。
参考图1。传输轮150的上下两轮的相切点和传输轮140的上下两轮的相切点之间的连线即是介质300在传输过程中的平面投影线，这条线与感应面221之间的间距即是介质300的表面和感应面221之间的间距，这个间距要小于感应距，在本优选实施例中，感应距为0.3毫米。
参考图2和图1。在通道130的下侧位于反射感应部件220和传输轮150之间具有一斜面结构121。该斜面结构121防止介质300的头部在经过传输轮150后向下弯曲而卡堵，并精确定位介质的初始传输位置。为了使传输更为顺畅，该斜面结构121的最高处设计成圆滑过渡结构。同时，这个最高处也要低于传输轮150的上下两轮的相切点和传输轮140的上下两轮的相切点之间的连线，以防止其阻碍介质300的传输。
参考图3。在所述反射感应部件220的左侧(第一侧)具有导入斜面122。其作用和斜面结构121的作用类似，是进一步防止介质300在传输过程中发生卡堵现象。
参考图3。感应面221与两侧的距离为b1、b2。b1和b2为装配间隙。图中H即是感应距。这三个参数不同的CIS是不同的，但这些参数的选择不影响本发明的专利性。
参考图2和图1。传输通道130的后面一段，即位于传输轮140的右侧至介质300传输出口处的部分为前高后低结构。图中T1、T2和T3即是这种结构的落差尺寸。不同规格的检测设备具有不同的落差尺寸，但这些尺寸的选择不影响本发明的专利性。这种前高后低的结构是为了使介质300更顺畅的通过传输通道130。
参考图1-3。该CIS精密检测设备工作时，介质300沿箭头60所指方向进入传输通道130。然后被传输轮150夹持住并向前传输。介质300的头部在斜面结构121和导入斜面122的辅助下顺利越过感应面221到达传输轮140处。传输轮140的传输速度要略大于传输轮150的传输速度，因此，介质300会被拉直向前传输。在这个过程中，CIS200对介质300进行扫描检测。然后，介质300会在传输轮140的传输下沿传输通道130后部的前高后低的输出口输出。整个检测过程结束。在这个过程中，介质300即使存在褶皱、柔软、残旧、潮湿等现象，也会被顺利传输。
以上所揭露的仅为本发明的优选实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明申请专利范围所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (8)

1.一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，包括CIS和传输装置，所述传输装置具有供薄片类介质通过的传输通道，所述CIS的透射光源和反射感应部件分别安装在该传输通道的上下两侧，其特征在于：所述传输装置还包括两组传输轮，其中位于薄片类介质传输方向的后方的第一组传输轮位于CIS的第一侧，位于薄片类介质传输方向的前方的第二组传输轮位于CIS的第二侧，所述两组传输轮各自相切点的连线距所述CIS的反射感应部件的感应面的距离小于感应距。
2.如权利要求1所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：所述感应距为0.3毫米。
3.如权利要求1所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：在所述第一组传输轮和反射感应部件之间的传输通道上具有斜面结构，该斜面结构的最高处低于所述两组传输轮各自相切点的连线。
4.如权利要求1所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：位于第二组传输轮的第二侧的传输通道为前高后低结构。
5.如权利要求1所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：所述第二组传输轮和第一组传输轮之间具有旋转速度差。
6.如权利要求1所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：所述CIS的反射感应部件的第一侧具有导入斜面。
7.如权利要求3所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：所述斜面结构的最高处为弧面圆滑状。
8.如权利要求6所述的一种CIS(接触式图像传感器)精密检测设备，其特征在于：所述导入斜面的最高处为弧面圆滑状。
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