CN100540157C - 分选装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了分选装置，其中颗粒产品流(25)通过一集中器(26)以将产品供给至一圆锥形分散板(27)上，所述圆锥分散板(27)在一环形单层均匀地将所述产品输送至一准直器，所述准直器包括内部产品引导部分(30)和外面产品引导部分(31)，以形成环形的、被垂直引导的产品流(32)。位于产品流(32)的环内的是一检测器装置，其包括一上部的检测器和光学器件箱(33)，其下方安装有旋转的由电动机(35)驱动的分束反射镜(34)，并且其扫描在环形检测区(36)的产品。通过检测区(36)的产品被一源撞击，然后反射的或透射的强度信号(37)由检测器和光学器件箱(33)内的检测器测量。经过分类的产品通过一排除器(40)从产品流中去除，排除器(40)可操作以响应控制装置，所述控制装置由位于检测器和光学器件箱(33)内的检测器控制。经过分类的产品(41)进入一斜槽(42)，到达一分离板(43)的一侧。剩余的产品继续无阻碍地进入斜槽(44)。

Description

分选装置及方法

本发明涉及分选装置及方法。在用于分选诸如煤和产物的块状材料的分选装置及方法上，本发明具有特别的但不是排它的应用，并且为了便于说明，本申请将引用参考文献。然而，应当理解，本发明可用于其它的应用场合，比如一般的颗粒流的阻断。

现有技术

存在一种分选流中的材料的充分发展的技术，方式是将流引入结实的单层，并使其通过所述单层，其经过传感器阵列以识别流中的颗粒，并且基于所述识别处理该流。所述处理可涉及从该流中提取或抽出所识别出的颗粒，或者主动地改变所识别出的颗粒。

通常，如图1的比较例所示，根据现有技术的分选装置包括平面的单层产品流。此产品流10可以是水平、垂直的或具有在之间的任何角度。当产品流通过检测区11时，由源光束12对产品进行轰击。然后，反射或透射的强度信号13由检测器14检测。

单点源的使用或至少用于若干色度的每一个的单点源的使用具有优点。然而，基本定律存在不足之处，其结果还没有被完全意识到。沿与流的前进方向交叉的流的宽度存在固有的限制，对于接近检测器的流，限制首先由流与源的距离其次由流的宽度确定。

对于整个检测区的每一个被检测的点来说，光投射在产品上然后由产品反射的角度是不同的。由于存在平方反比定律I＝I°/d²，其中I为最终的强度，I°为最初的强度，d是距离。如果在与点源(此处为产品)相距一定距离处测量反射光或任何其它的反射信号，测量得到的强度为X。则再在两倍所述距离处测量，不考虑媒介损失，信号是1/4X，或为信号强度X的1/4。

因此从图1可以看出，产品进一步地远离检测区中心，反射信号经过的距离增加。因此，在所述检测区，所测量的信号强度不同。如果两个相同的产品放检测区内，一个处于中心位置，而另一个处于检测区的边缘，那么对返回的强度信号进行比较，可以发现，中心处的强度大于位于检测区边缘处的相同产品的强度。因此，取决于产品在检测区的位置，其的反射信号或特性将会不同。

为了能使用此技术检查产品，并判定出合格和非合格的产品，对于进行判定的电子设备来说，产品特性必须被看成是一样的。为对此进行补偿，一些系统采用了复杂前处理对信号进行处理，使得不管产品的位置如何，产品看起来具有同样的特性。其他的使用膜(参见专利说明书WO98/443350)以尝试补偿平方反比定律的影响，这样减少了总的信号返回量，以尝试形成线性的返回信号。这将从任意位置返回的信号减弱成与检测区信号端部的最弱信号相等。

随着检测区宽度的增加，信号强度减弱，因此，存在对检测区可能宽度的固有限制。该限制为，当该宽度增加到一位置，检测区的端部处的产品的返回的信号强度变得不可用。

另外，较大的物品也可形成阴影。这对流的中心位置不会造成显著的问题，但是进一步远离中心，较大的入射角可导致各颗粒部分地遮蔽离检测区的中心较远的其它颗粒。因此，流的外部不仅遭受信号强度减弱，而且由于遮蔽，遭受信号的损失的增加。

本发明宽泛的描述

概括地，在一方面，本发明涉及一种分选方法，所述方法包括如下步骤：

通过使颗粒材料在一主体构件上沿轴向流动通，形成所述颗粒材料至少部分环形流，所述主体构件具有大致的锥形流面，所述材料可可经过其；

操作一检测器，所述检测器基本上位于所述主体构件的所述环形流下游内的中心，并且被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

操作响应所述检测器的分选装置，以根据所述标准分选所述流中的颗粒。概括地，在另一方面，本发明的涉及分选装置，所述装置包括：

一主体构件，其具有由边缘划界的大致的锥形表面；

一使颗粒材料至所述流面的供给装置，所述颗粒材料轴向形成至少部分环形流的所述边缘选择所述供给装置，使得所述颗粒材料沿轴向经过所述边缘，形成至少部分环形流；

一检测器，其基本上位于所述主体构件的所述环形流下游内的中心，并且被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

响应所述检测器的分选装置，其根据所述标准分选所述流中的颗粒。概括地，在又一方面，本发明涉及一种分选方法，所述方法包括如下步骤：

形成颗粒材料的流；

操作一在所述流上方的光学检测器装置，所述光学传感器装置包括一辐射源和一检测器，所述检测器具有至少一个基于衍射光栅的单色仪，并被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

操作响应所述光学检测器装置的分选装置，以根据所述标准分选所述流中的颗粒。概括地，在又一方面，本发明的涉及一种分选方法，所述方法包括如下步骤：

形成颗粒材料的流；

操作一在所述流上方的的检测器装置，所述检测器装置被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

操作响应所述检测器装置的多个流体喷射分选装置的阵列，以根据所述标准通过撞击分选所述流中的颗粒，所述阵列一致或顺序地操作以分选所述颗粒。

概括地，在另一个方面，本发明涉及一种分选装置，所述装置包括：

一连续的供给装置，其形成颗粒材料的流；

一在所述流上方的的光学检测器装置，所述光学传感器装置包括一辐射源和一检测器，所述检测器具有至少一个基于衍射光栅的单色仪，并被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

响应所述光学检测器装置的分选装置，其根据所述标准分选所述流中的颗粒。概括地，本发明的另一个方面涉及一种分选设备，所述设备包括：

用于形成颗粒材料流的装置；

一在所述流上方的检测器装置，所述检测器装置被选择成对所述所述流中的颗粒施加一分选标准；和

响应所述检测器装置的多个流体喷射分选装置的阵列，其根据所述标准通过撞击来分选所述流中的颗粒，所述阵列可一致或顺序地操作以分选所述颗粒。

本发明详细的描述

在本发明的上下文中，″大致的锥形流面″是指这种类型的固体表面，即，从主体的上游部分至周边边缘逐渐变细，或是指此类固体的一部分。就本发明而言，在主体上颗粒流的示例为，在重力的作用下通过锥体的顶部的颗粒，例如，在重力作用下离开主体，进入锥体基座周边处的环形流动。因而，本领域的技术人员应该认识到，主体主体构件可以部分的或截头的圆锥体，并且也可具有非圆的基座，比如椭圆或多边形。同样，术语″环形流″表示包括所有的这样的流，其通过上述过程促进而成，以及在基本部分由主体部分的周边形状决定。

检测器装置可以被选择成执行用于分选的任何适当的辨别。例如，检测器可被选择成提供一种用于在颗粒流中检测不需要的物品的方法。可选地，传感器可被选择成标识或转换所述流中所选择的颗粒。

颗粒可形成为环形的基本上单层的流。可选地，颗粒可布置成较厚的流，其中可以使用多于一个传感器装置，以及局部湍流将所述颗粒带到传感器装置中一个或其它以进行检测。所述流可沿任意选择的方向。例如，颗粒材料可以被气流带走或运送，所述气流可以沿任意选择的方向前进。然而，可想象到，本发明最有用于这样的装置，其中主体具有基本上水平的周边边缘。

当微粒流通过主体的边缘，其可进入检测区，所述检测区位于主体构件的下游并且包含检测器装置。检测器装置可以包括源，以和一检测器一起主动地扫描所述颗粒流。可选地，检测可以是被动的扫描。

可以想象，检测器装置在大多数情况下包括一主动的扫描装置，其中所述颗粒流被实际或有效的旋转的源照射或轰击，然后由检测器测量反射或透射强度信号。

点源检测器装置的优点在于，相等的距离意味着，对于所有颗粒来说，光束从源到颗粒到检测器的路径长度是相等的，其中所述源位于粒径的中心，同样地检测器作为点检测器或内部的(用于反射率或放射或散射)或外部的(用于透射、放射或散射)而定位。当然，可以构想出所有等同的构造，例如，所述源包括由多个源的环形阵列，其与使用位于环流的轴线处的单个点光源一样，达到相同的目的。

环形流的思想可被实施于适合用于比如煤或类似物的材料的装置，所述材料可在重力的作用下通过所述装置。可以提供一大致的圆锥形分散板，其可以通过任意合适的装置，比如进料斜槽(in-feed chute)提供。分散板可以用来将均匀地在单层的产品输送至检测区。产品引导板可以用来确保正确的产品流动。圆锥形分散板的角和表面取决于产品，被设计成与产品特征相适应。进料斜槽可以调整以最大化在所述分散板上的均匀分布。通过检测区的产品可以用源轰击。然后，反射或透射强度信号由检测器进行检测。作出决定，如果认为产品不合格，则可通过一排除器(rejector)装置将其从产品流中去除。

去除的产品的轨道或其它的特征已经被排除器改变，它们可以输送至一废料槽或类似装置，其布置在一分离板或类似装置的分离侧，以进行处理。剩余的合格产品可继续无阻碍地进入合格品斜槽(accept-chute)或类似装置以被收集起来。

在操作中，无论位于检测区的何处的相同产品导致了自所述产品的返回信号或特性相同。在本发明的优选实施例中，没有平方反比定律的影响，这是因为从源和/或检测器到产品的距离始终一样。在圆形或环形的产品流中，从产品至检测器的半径或距离保持恒定。由于没有来自产品的角反射，遮蔽影响也最小化。

传感器装置可是光基的，并且可以采取传统的单色点源光束的形式，其沿垂直于颗粒流向的方向上对颗粒流进行扫描。与使用点光源辐射产品的传统的光学分选系统一样，，此点源可以是激光或任何其它的点源。可过滤最终的反射光以去除所需波长以外的其它波段，以获得信号的单色。通常，这可采用带通滤光器实现，该带通滤光器只传递所需的波长，并测量强度；反射强度的其余部分被反射和消耗。取决于光学装置，用带阻滤光器可以实现相反的的情况，其中所需的波长被反射和测量，所透射的强度基本上被消耗。

在一些情况下，来自颗粒流的反射信号需要分成不同的波段(多色)，并随后由检测器测量，其中用于选择的标准可使用此方法。这些不同的波长强度的组合构成产品的典型的特点或特性，分选装置可对其起作用。

利用带通或带阻滤光器存在少许限制。第一，只能分离滤光器计划要分离的波长。第二，带通和带阻滤光器存在透射和抑制损失。如果许多滤光器串联布置，且第一带阻滤光器滤除期望的波长。那么剩余波长通过或透过滤光器传递，存在强度损失。这种现象此后在各滤光器重复。每次光透射或反射，都出现强度损失。可仅增加滤光器，直到维持剩余波长的组合的透射损失变得不可用。因此，对于滤光器的数量以及可测的离散波长的数量，存在物理限制。

在分选机光学器件中使用衍射光栅，可以降低带通和带阻滤光器限制效应，并且特别适合于本发明的圆形扫描配置，其固有的避免存在于现有系统中的由平方反比定律引起的不足。

基于衍射光栅的系统被用作传感器装置的核心的装置中，当颗粒流由点源扫描时且通过检测区，来自其的最终反射光(多色)可以投射在衍射光栅的表面上。所设计的衍射光栅将光线衍射成光谱。通过利用许多光电倍增器、CCD阵列或其它的光电敏感测量装置，可在离散的位置测量此光谱。这允许在任何期望波长或带有仅在衍射光栅有单强度损的波长处，测量强度。衍射光栅的实际尺寸、每毫米的凹槽数及闪耀角可改变以符合应用要求。

分选装置可以采取任何适当的形式。可使用现有的分选设备，比如，通过使用来自岐管产生的空气鼓风(air blast)从单层流中去除不需要的对象的装置，该岐管包含单排空气阀。各阀与颗粒流呈约90°。所述阀排一般平行于产品流，并偏移一隙距。当其相应的光反射或特性存在基本的差别时，在合格品的流中检测出不需要的物品。

当不需要的产品被检测时，传感器的输入可以用来产生信号，此信号用于引起相应的发射器发射。可定时此信号进行，使得当发射时，不需要的产品位于发射器的前方。来自一个或多个发射器(较大的产品)的集中的空气喷射施加力至产品的表面，并使其偏斜。使较重产品的轨迹偏斜，需要更大施加力的力需要更大的力或或更长的施力时间。由于发射器固定，而产品移动，存在仅有限的时间使发射器可发射并将力施加到不需要的产品上。如果当产品位于发射器前方时，施加至产品上的力不够，则唯一办法是采用更高的空气压力和/或更大的发射器。此附加压力可产生大量的灰尘、水滴及类似物，它们可能进入检查区域，并减少所反射或透射的信号。附加的空气压力还可能损坏产品。因此，对于较大和/或较重的产品，可包括大致沿着流的方向成排布置的额外的发射器排，布置各发射器以顺序地冲击所选择的颗粒。因此，当各块产品通过各发射器时，其可不但有一个发射器而且有许多发射器连续地喷射空气流。这样，需要较小的力由各发射器输送，但是附加的影响产生的偏转力与单个更有力的鼓风机产生的偏转力相同。这样具有更小的气压和较少的灰尘、水及产品退化。附加的阀排的数量取决于产品和应用。

附图简述

为便于更好地理解以及实现本发明，现在参考示出了本发明的优选实施例的附图，其中：

图1为根据现有技术的扫描装置的视图；

图2是用于根据本发明的方法的扫描的概念图；

图3为根据本发明的装置的侧视图；

图4为用于根据本发明的方法的多通带检测的概念图；

图5A为用于根据本发明的方法的基于衍射光栅的检测的概念透视图；

图5B为从侧部观看时图5A中的基于衍射光栅的检测的概念图；

图6是现有技术的发射器的操作的顺序图，所述发射器可以用于根据本发明的装置；和

图7是一种新的发射器阵列的操作的顺序图，所述发射器阵列可用于根据本发明的装置。

具体实施方式

图1表示的是现有技术，其在该说明书中前面论述过。

图2示出了本发明的理论基础，其中，产品流在环21内被引导通过基本上轴向定位的检测器22，实箭头20表示该产品流的方向。单个的颗粒23将入射辐射反射至检测器22，反射束24具有表征颗粒23的特征或特性(比如强度或等同物)。

在图3中，示出了环形流概念的实施例，其中由集中器26将颗粒产品流25集中，以将产品供给至圆锥形分散板27的顶部上。分散板27在环形单层均匀地将产品输送至一准直器，所述准直器包括内产品引导部分30和外产品引导部分31，它们是嵌套、同轴、相对以及截头圆锥体的，以形成一环形的、被垂直引导的产品流32。

位于环形产品流32内的是检测器装置，该检测器装置包括上部的检测器和光学器件箱(optics box)33，其下方安装有旋转的由电动机35驱动的分束反射镜(beam splitting mirror)34，其扫描在环形检测区36的产品。通过检测区36的产品被一源轰击，然后反射的或透射的强度信号37由检测器和光学器件箱33内的检测器测量。

作出决定，如果认为该产品不合格，则通过多个排除器(rejector)40中相应的一个将其从产品流中去除，该排除器40可操作以响应控制装置，所述控制装置由检测器和光学器件箱33内的检测器指导。

除去的产品41的轨道已经被排除器40改变，其进入废料槽42，到达分离板43的一侧。剩余的合格产品继续无阻碍地进入合格品斜槽44以被收集起来。

那些光学分选系统使用点光源照射产品，此点源可以是激光或任何其它的点源。最后的反射光可以过滤以去除所需的波长(单色)以外的所有其它波长。这通常采用带通滤光器来实现，该带通滤光器只透过所需的波长，并测量强度；其余部分被反射和损耗。取决于光学装置，用带阻滤光器可以实现相反的情况，其中所需的波长被反射和测量，所透射的被损耗。

在图4中，来自产品的合成的反射信号45由顺序的捕获过滤器(capture filter)47被分成不同的波段(多色)，随后由检测器46对单色光束50进行测量。这将判定不同波长的光强。这些不同的波长强度的组合构成产品的典型的特点或特性，分选电子设备以此为基础作出决定。

使用例如参照图4所描述的带通或带阻滤光器存在少许限制。第一，只能分离滤光器计划要分离的波长。第二，带通和带阻滤光器存在透射和抑制损失。透射或反射损失由光学特性决定，可从任意厂商得到。如果许多滤光器串联布置，且第一带阻滤光器滤除期望的波长。那么剩余波长通过或透过滤光器传递，出现强度损失。这种现象此后在各滤光器重复。每次光透射或反射，都出现强度损失。可仅增加滤光器，直到维持剩余波长的组合的透射损失变得不可用。因此，对于滤光器的数量以及可测的离散波长的数量存在物理限制。

使用诸如图5A和5B中所示的分选机光学器件中的衍射光栅，可以降低带通和带阻滤光器的限制效应。来自检测区36的产品的最终的反射光(多色)37通过由电动机48驱动的旋转扫描镜49被反射进入检测器和光学器件箱33。所述光束随后通过固定镜52产生反射光束53，所述反射光束53投射至衍射光栅51的表面。设计的衍射光栅将光线衍射成光谱54。通过利用许多光电倍增器、CCD阵列或其它的光电敏感测量装置55在离散的位置测量此光谱。这允许在任何期望波长或带有仅在衍射光栅有单强度损失的波长，测量强度。此损失由光学特性决定，可从任意厂商处获得。衍射光栅的实际尺寸、每毫米的凹槽数及闪耀角可改变以符合应用要求。

如作为比较的图6所示，现有的分选设备通过使用空气鼓风(air blast)来去除不需要的物品，所述空气鼓风产生于包含单排空气阀60的岐管。各阀60大约与产品呈约90°。所述阀排一般平行于产品流(产品流的角度不相关)，并偏移一隙距。当其相应的光反射或特性存在基本的差别时，在合格品的流中检测出不需要的物品。

当不需要的产品被检测时，电子器件将信号发送至相应的发射器使其发射。此信号被定时，使得当发射时，不需要的产品位于发射器的前方。来自一个或多个发射器(较大的产品时)的空气62的集中喷射施加力至产品的表面，并使其偏斜。为了使较重产品的轨迹偏斜，需要更大的力或更长的施力时间。由于发射器静止，而产品移动，存在仅有限的时间使发射器可发射并将力施加到不需要的产品上。如果当产品位于发射器前方时，施加至产品上的力不够，则唯一办法是采用更高的空气压力和/或更大的发射器。此附加压力可产生大量的灰尘、水滴，其可能进入检查区域，并减少产品的反射光。附加的空气压力还可损坏产品。

对于较大和/或较重的产品，如图7所示，发射器布置包括额外的垂直间隔的发射器排63。因此，当各块产品61通过各发射器时，其经受许多连续喷射的空气流62。需要较小的力由各发射器输送，但是附加的影响产生的偏转力与单个更有力的鼓风机产生的偏转力相同。这样具有更小的气压和较少的灰尘、水及产品退化。附加的阀排的数量取决于产品和应用。

根据上述实施例(不包括比较例)的装置和方法提供了一种技术，其可以检查大量的任意类型的自由流动的块状材料，以及确保在整个检查区域的最佳和统一的灵敏度，允许以非常经济的方式理想检测及分类出不需要或需要的物品。

此外，影响介质(源通过其照射和信号通过其)的透过率的处理条件通常减少与距离成线性的信号。在本实施例中，由于对于扫描流的所有位置，信号所经过的距离相等，所以可消除上述的情况。

应当理解，以上内容只是通过本发明示例性的实施例给出，然而对于所属技术领域的技术人员来说显而易见的对其所有这样的和其它的改进和变型，被认为落在本发明宽广的范围和范畴内，其由于此的所附权利要求限定。

Claims (22)

1、一种分选方法，其包括如下步骤：

通过使颗粒材料轴向地流动通过一主体构件，形成所述颗粒材料的至少部分环形、基本上单层的流，所述主体构件具有大致的锥形流面，所述锥形流面以大致水平的周边边缘为界，从而所述流在重力的作用下从所述边缘被大致垂直地引导；

操作一检测器，所述检测器具有一光学元件，其基本上位于所述主体构件的所述环形流下游内的中心，从而使得从所述流的所有部分至所述检测器的路径长度基本上不变，所述检测器被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

操作响应所述检测器的分选设备，以根据所述标准分选所述流中的颗粒。

2、一种分选装置，其包括：

一主体构件，其具有大致锥形的流面，所述流面以大致水平的周边边缘为界；

一使颗粒材料至所述流面的供给装置，选择所述供给装置，使得颗粒材料流沿轴向经过所述周边边缘，并且在重力作用下从所述边缘被基本垂直地引导，形成至少部分环形的、基本上单层的流；

一检测器，所述检测器具有一光学元件，其基本上位于所述主体构件的所述环形流下游内的中心，从而使得从所述流的所有部分至所述检测器的路径长度基本上不变，所述检测器被选择成对所述流中的颗粒施加一分选标准；和

响应所述检测器的分选设备，其根据所述标准分选所述流中的颗粒。

3、根据权利要求2所述的分选装置，其中所述颗粒形成环形的流。

4、根据权利要求2所述的分选装置，其中所述颗粒材料流经过所述主体构件的边缘，以进入检测区，所述检测区位于所述主体构件的下游并且包含所述光学元件。

5、根据权利要求4述的分选装置，其中所述颗粒材料流通过实际或有效旋转的一辐射源而被照射，以及所述检测器检测辐射的反射或透射成分的强度。

6、根据权利要求5所述的分选装置，其中所述源是单色点源光束，其沿垂直于所述颗粒材料流方向的方向扫描所述颗粒材料流。

7、根据权利要求6所述的分选装置，其中过滤所反射的光以去除所需波长以外所有其它波长，以获得所检测的信号的单色。

8、根据权利要求7所述的分选装置，其中使用一个或更多带通滤光器执行所述过滤处理，所述带通滤光器只透射所需的波段。

9、根据权利要求7所述的分选装置，其中使用一个或更多带阻滤光器执行所述过滤处理，所述带阻滤光器只反射所需的波段。

10、根据权利要求5所述的分选装置，其中所检测的光是多色的。

11、根据权利要求10所述的分选装置，其中所述多色光由一衍射光栅转变为一光谱，并且其中所述检测器包括多个检测元件，它们被设置解析所述光谱。

12、根据权利要求11所述的分选装置，其中所述检测元件是合适的光电敏感测量装置。

13、根据权利要求2至12中任意一项所述的分选装置，其中所述分选设备包括一个或更多排除器，其响应所述检测器，并且适合于撞击所选择的颗粒，以将所述颗粒从所述流中移去。

14、根据权利要求13所述的分选装置，其中所述一个或更多排除器中的每一个包括用于产生空气鼓风的装置，其响应一由响应所述检测器的检测而产生的信号，将所检测出的颗粒从所述颗粒材料流中去除。

15、根据权利要求14所述的分选装置，其中所述排除器包括一环形岐管，其包含一单排空气阀，各阀以约90°朝向所述颗粒材料流，所述岐管基本上平行于所述颗粒材料流并从其偏移一隙距。

16、根据权利要求14所述的分选装置，其中所述排除器包括多个环形岐管，其每个包含单排空气阀，各阀以约90°朝向所述颗粒材料流，所述岐管基本上平行于所述颗粒材料流并从其偏移一隙距，并且其中所述空气阀沿所述颗粒材料流的方向在各排之间对齐，从而对齐的空气阀顺序操作以从所述颗粒材料流顺序地撞击所选择的颗粒。

17、一种分选方法，其包括：

形成材料的至少部分环形流；

由检测器检测来自所述至少部分环形流中的材料的辐射，来自所述流的基本上所有部分的辐射从所述环形流到所述检测器传播的距离基本上相同；和

操作一分选机构以响应所检测的辐射，来分选所述流中的材料。

18、如权利要求17所述的方法，其中所述辐射由一光学元件接收，所述光学元件相对于所述至少部分环形流基本上在中心定位，并且其中所述光学元件将所述辐射引导至所述检测器。

19、根据权利要求18所述的分选方法，其中所述光学元件包括一可旋转的反射镜。

20、一种分选装置，其包括：

形成材料的至少部分环形流的装置；

一检测器，在来自所述流的基本上所有部分的辐射从所述流到所述检测器传播了基本上相同的距离后，所述检测器检测来自所述至少部分环形流中的材料的辐射；以及

一分选机构，其用于分选所述流中的材料，以响应由所述检测器所检测的辐射。

21、根据权利要求20所述的分选装置，其中当所述环形流形成时，一光学元件相对于所述环形流基本上在中心布置，用于将来自所述环形流中的材料的辐射引导至所述检测器。

22、根据权利要求21所述的分选装置，其中所述光学元件包括一旋转的反射镜。

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