CH520920A - Procédé de mesure de la position d'une paroi conductrice et dispositif de mise en oeuvre de ce procédé - Google Patents

Procédé de mesure de la position d'une paroi conductrice et dispositif de mise en oeuvre de ce procédé

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CH520920A
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Commissariat Energie Atomique
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    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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    • G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

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