CH404721A - Verfahren zur Prüfung von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen während des Betriebes - Google Patents
Verfahren zur Prüfung von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen während des BetriebesInfo
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- CH404721A CH404721A CH13964A CH13964A CH404721A CH 404721 A CH404721 A CH 404721A CH 13964 A CH13964 A CH 13964A CH 13964 A CH13964 A CH 13964A CH 404721 A CH404721 A CH 404721A
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/38—Response verification devices
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEL43923A DE1198857B (de) | 1963-01-18 | 1963-01-18 | Verfahren zur gleichzeitigen Pruefung einer Mehrzahl von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen waehrend des Betriebes |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH404721A true CH404721A (de) | 1965-12-31 |
Family
ID=7270472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH13964A CH404721A (de) | 1963-01-18 | 1964-01-07 | Verfahren zur Prüfung von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen während des Betriebes |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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| DE (1) | DE1198857B (de) |
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Families Citing this family (7)
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| DE1280926B (de) * | 1966-09-28 | 1968-10-24 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur UEberwachung der Funktionsfaehigkeit eines Umcodierers |
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| US4686456A (en) * | 1985-06-18 | 1987-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory test circuit |
| US4782486A (en) * | 1987-05-14 | 1988-11-01 | Digital Equipment Corporation | Self-testing memory |
| US4833677A (en) * | 1987-06-12 | 1989-05-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Easily testable high speed architecture for large RAMS |
| US5414713A (en) * | 1990-02-05 | 1995-05-09 | Synthesis Research, Inc. | Apparatus for testing digital electronic channels |
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- 1964-01-15 GB GB1793/64A patent/GB1043642A/en not_active Expired
- 1964-01-20 US US338723A patent/US3351905A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US3351905A (en) | 1967-11-07 |
| DE1198857B (de) | 1965-08-19 |
| GB1043642A (en) | 1966-09-21 |
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