CH404721A - Verfahren zur Prüfung von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen während des Betriebes - Google Patents
Verfahren zur Prüfung von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen während des BetriebesInfo
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- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/38—Response verification devices
Applications Claiming Priority (1)
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DEL43923A DE1198857B (de) | 1963-01-18 | 1963-01-18 | Verfahren zur gleichzeitigen Pruefung einer Mehrzahl von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen waehrend des Betriebes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH404721A true CH404721A (de) | 1965-12-31 |
Family
ID=7270472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH13964A CH404721A (de) | 1963-01-18 | 1964-01-07 | Verfahren zur Prüfung von taktgesteuerten elektronischen Speicherelementen während des Betriebes |
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