CH239777A - Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande précision. - Google Patents

Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande précision.

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CH239777A
CH239777A CH239777DA CH239777A CH 239777 A CH239777 A CH 239777A CH 239777D A CH239777D A CH 239777DA CH 239777 A CH239777 A CH 239777A
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CH
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capacitor
measuring
measured
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thickness
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Inventor
Jacot Georges
Monti Jean
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Jacot Georges
Monti Jean
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description


  



  Appareil pour la mesure des épaisseurs avee grande précision.



   L'invention a pour objet un appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande   préci-    sion.



   Le dessin   ci-joint    montre, schématiquement et à titre d'exemple, une forme   d'exécu-    tion de cet appareil.



   A est la tige d'un comparateur   Fau cen-    tième de millimètre action. né mécaniquement   comme it est connu.   



     E    représente une pièce d'épaisseur étalon reposant sur un support   M.    La tige A est solidaire de l'armature C   d'un    condensateur électrique'de mesure à variation linéaire,   la-    quelle'est susceptible de monter ou descendre par rapport à l'autre   armature S de ce con-      densateur    ; les deux armatures sont tubulaires.



  En D est une couche isolante.



   La montÚe ou la descente de l'armature C produit une variation de capacité qui est   mesu. rable avec    une très grande précision en utilisant un circuit tel que celui indiqué au   behéma, lequel eomprend un, e lampe R pilotée    par un quartz Q ; le circuit anodique de la lampe forme un circuit oscillant comprenant une bobine L, un condensateur linéaire de compensation Ci dont les armatures sont   tabulaires et'le condensateur de'mesure.   



   Chaque variation de capacité du condensa  beur Zi,    C produit un désaccord dans le circuit oscillant et, pour rétablir   l'équilibre élec-    trique, on doit faire varier la capacité de Ci afin de compenser la variation de B, C.



   Chaque différence d'épaisseur de E produit une variation linéaire de la capacité de
B, C. Le désaccord, est contrôlé par un   milli-    ampèremètre   1.   



   B, C et C, étant absolument linéaires, on peut étalonner Ci directement en fractions de millième de millimètre.



   Un condensateur Cn est réglé, au montage, pour obtenir le degré voulu de précision des mesures.



   L'oscillateur ainsi constitué est placé dans une cuve à température constante.



   Le comparateur F permet de comparer l'étalon E avec une pièce à mesurer, en réglant la profondeur d'engagement entre elles des armatures C, B pour travailler dans les meilleures   conditions, e1 ce comparateur reud    l'appareil utilisable à deux fin.



   Les condensateurs linéaires utilises peu  ventcomprendrede-s    armatures tubulaires formées chacune de   plusieurscouronnescon-      centriques.   


Claims (1)

  1. REVENDICATION : Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande p, recision, caractérisé en ce qu'iil comporte un condensateur électrique de mesure à variation linéaire (B, C) dont une des armatures est soulevée plus ou moins suivant l'épaisseur à mesurer et formant avec un con densateurélectriquedecompensation(Ci) et une bobine d'inductance (L) un circuit oscil- lant eonneete à une lampe (R) pilotee par un quartz (Q !, le tout de façon que chaque variation de capacité du condensateur de mesure produise dans Le circuit oscillantundésaccord et que, pour rétablir l'équilibre électrique, on doive faire varierlacapacitéducondensateur de compensation,
    d'unequantitéfonctionde l'épaisseur à mesurer.
    SOUS-REVENDICATIONS : 1. Appareil suivant la revendication, caractérisé en ce qu'il comporte un condensateur (C,,) régie, au montage, pour obtenir le degré voulu de précision des mesures.
    2. Appareil suivantlarevendication,ca- ractérise en ce que le condensateur de com- sensation est étalonné directement en frac- fions de millième de millimètre.
    3. Appareil suivant la revendication, ca- ractérisé enee qu'il comporte un milli-ampere- métre 7 contrôlant le désaccord.
    4. Appareil suivant la revendication, ca- ractériseenceque les armatures de chaque condensateur sont tubulaires et s'engagent l'une dans l'autre.
    5. Appareil suivant la revendication, com prenantuncomparateurusuel(F)mûméca- uniquement par le mouvement d'une tige (A) solidaire de l'une des armatures du condensateur de mesure.
CH239777D 1945-10-24 1945-05-15 Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande précision. CH239777A (fr)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE960861C (de) * 1952-07-10 1957-03-28 Mario Possati Geraet zur UEberwachung der Abmessungen von Werkstuecken
DE1141464B (de) * 1956-02-07 1962-12-20 Wayne Kerr Lab Ltd Kapazitive Messvorrichtung zum Messen kleiner Strecken

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE960861C (de) * 1952-07-10 1957-03-28 Mario Possati Geraet zur UEberwachung der Abmessungen von Werkstuecken
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