CH239777A - Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande précision. - Google Patents
Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande précision.Info
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- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
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Description
Appareil pour la mesure des épaisseurs avee grande précision. L'invention a pour objet un appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande préci- sion. Le dessin ci-joint montre, schématiquement et à titre d'exemple, une forme d'exécu- tion de cet appareil. A est la tige d'un comparateur Fau cen- tième de millimètre action. né mécaniquement comme it est connu. E représente une pièce d'épaisseur étalon reposant sur un support M. La tige A est solidaire de l'armature C d'un condensateur électrique'de mesure à variation linéaire, la- quelle'est susceptible de monter ou descendre par rapport à l'autre armature S de ce con- densateur ; les deux armatures sont tubulaires. En D est une couche isolante. La montÚe ou la descente de l'armature C produit une variation de capacité qui est mesu. rable avec une très grande précision en utilisant un circuit tel que celui indiqué au behéma, lequel eomprend un, e lampe R pilotée par un quartz Q ; le circuit anodique de la lampe forme un circuit oscillant comprenant une bobine L, un condensateur linéaire de compensation Ci dont les armatures sont tabulaires et'le condensateur de'mesure. Chaque variation de capacité du condensa beur Zi, C produit un désaccord dans le circuit oscillant et, pour rétablir l'équilibre élec- trique, on doit faire varier la capacité de Ci afin de compenser la variation de B, C. Chaque différence d'épaisseur de E produit une variation linéaire de la capacité de B, C. Le désaccord, est contrôlé par un milli- ampèremètre 1. B, C et C, étant absolument linéaires, on peut étalonner Ci directement en fractions de millième de millimètre. Un condensateur Cn est réglé, au montage, pour obtenir le degré voulu de précision des mesures. L'oscillateur ainsi constitué est placé dans une cuve à température constante. Le comparateur F permet de comparer l'étalon E avec une pièce à mesurer, en réglant la profondeur d'engagement entre elles des armatures C, B pour travailler dans les meilleures conditions, e1 ce comparateur reud l'appareil utilisable à deux fin. Les condensateurs linéaires utilises peu ventcomprendrede-s armatures tubulaires formées chacune de plusieurscouronnescon- centriques.
Claims (1)
- REVENDICATION : Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande p, recision, caractérisé en ce qu'iil comporte un condensateur électrique de mesure à variation linéaire (B, C) dont une des armatures est soulevée plus ou moins suivant l'épaisseur à mesurer et formant avec un con densateurélectriquedecompensation(Ci) et une bobine d'inductance (L) un circuit oscil- lant eonneete à une lampe (R) pilotee par un quartz (Q !, le tout de façon que chaque variation de capacité du condensateur de mesure produise dans Le circuit oscillantundésaccord et que, pour rétablir l'équilibre électrique, on doive faire varierlacapacitéducondensateur de compensation,d'unequantitéfonctionde l'épaisseur à mesurer.SOUS-REVENDICATIONS : 1. Appareil suivant la revendication, caractérisé en ce qu'il comporte un condensateur (C,,) régie, au montage, pour obtenir le degré voulu de précision des mesures.2. Appareil suivantlarevendication,ca- ractérise en ce que le condensateur de com- sensation est étalonné directement en frac- fions de millième de millimètre.3. Appareil suivant la revendication, ca- ractérisé enee qu'il comporte un milli-ampere- métre 7 contrôlant le désaccord.4. Appareil suivant la revendication, ca- ractériseenceque les armatures de chaque condensateur sont tubulaires et s'engagent l'une dans l'autre.5. Appareil suivant la revendication, com prenantuncomparateurusuel(F)mûméca- uniquement par le mouvement d'une tige (A) solidaire de l'une des armatures du condensateur de mesure.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH239777T | 1945-10-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH239777A true CH239777A (fr) | 1945-11-15 |
Family
ID=4461420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH239777D CH239777A (fr) | 1945-10-24 | 1945-05-15 | Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande précision. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH239777A (fr) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE960861C (de) * | 1952-07-10 | 1957-03-28 | Mario Possati | Geraet zur UEberwachung der Abmessungen von Werkstuecken |
DE1141464B (de) * | 1956-02-07 | 1962-12-20 | Wayne Kerr Lab Ltd | Kapazitive Messvorrichtung zum Messen kleiner Strecken |
-
1945
- 1945-05-15 CH CH239777D patent/CH239777A/fr unknown
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE960861C (de) * | 1952-07-10 | 1957-03-28 | Mario Possati | Geraet zur UEberwachung der Abmessungen von Werkstuecken |
DE1141464B (de) * | 1956-02-07 | 1962-12-20 | Wayne Kerr Lab Ltd | Kapazitive Messvorrichtung zum Messen kleiner Strecken |
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