CH239777A - Device for measuring thicknesses with great precision. - Google Patents

Device for measuring thicknesses with great precision.

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CH239777A
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CH
Switzerland
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capacitor
measuring
measured
oscillating circuit
thickness
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French (fr)
Inventor
Jacot Georges
Monti Jean
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Jacot Georges
Monti Jean
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

  

  



  Appareil pour la mesure des épaisseurs avee grande précision.



   L'invention a pour objet un appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande   préci-    sion.



   Le dessin   ci-joint    montre, schématiquement et à titre d'exemple, une forme   d'exécu-    tion de cet appareil.



   A est la tige d'un comparateur   Fau cen-    tième de millimètre action. né mécaniquement   comme it est connu.   



     E    représente une pièce d'épaisseur étalon reposant sur un support   M.    La tige A est solidaire de l'armature C   d'un    condensateur électrique'de mesure à variation linéaire,   la-    quelle'est susceptible de monter ou descendre par rapport à l'autre   armature S de ce con-      densateur    ; les deux armatures sont tubulaires.



  En D est une couche isolante.



   La montÚe ou la descente de l'armature C produit une variation de capacité qui est   mesu. rable avec    une très grande précision en utilisant un circuit tel que celui indiqué au   behéma, lequel eomprend un, e lampe R pilotée    par un quartz Q ; le circuit anodique de la lampe forme un circuit oscillant comprenant une bobine L, un condensateur linéaire de compensation Ci dont les armatures sont   tabulaires et'le condensateur de'mesure.   



   Chaque variation de capacité du condensa  beur Zi,    C produit un désaccord dans le circuit oscillant et, pour rétablir   l'équilibre élec-    trique, on doit faire varier la capacité de Ci afin de compenser la variation de B, C.



   Chaque différence d'épaisseur de E produit une variation linéaire de la capacité de
B, C. Le désaccord, est contrôlé par un   milli-    ampèremètre   1.   



   B, C et C, étant absolument linéaires, on peut étalonner Ci directement en fractions de millième de millimètre.



   Un condensateur Cn est réglé, au montage, pour obtenir le degré voulu de précision des mesures.



   L'oscillateur ainsi constitué est placé dans une cuve à température constante.



   Le comparateur F permet de comparer l'étalon E avec une pièce à mesurer, en réglant la profondeur d'engagement entre elles des armatures C, B pour travailler dans les meilleures   conditions, e1 ce comparateur reud    l'appareil utilisable à deux fin.



   Les condensateurs linéaires utilises peu  ventcomprendrede-s    armatures tubulaires formées chacune de   plusieurscouronnescon-      centriques.   




  



  Apparatus for measuring thicknesses with great precision.



   The invention relates to an apparatus for measuring thicknesses with great precision.



   The accompanying drawing shows, schematically and by way of example, one embodiment of this apparatus.



   A is the rod of a comparator Fau hundredth of a millimeter action. born mechanically as it is known.



     E represents a part of standard thickness resting on a support M. The rod A is integral with the armature C of an electric capacitor of measurement with linear variation, which is capable of rising or falling with respect to the other reinforcement S of this capacitor; the two frames are tubular.



  In D is an insulating layer.



   The rise or fall of the reinforcement C produces a variation in capacitance which is measured. rable with very high precision by using a circuit such as that shown in the behéma, which includes a lamp R controlled by a quartz Q; the anode circuit of the lamp forms an oscillating circuit comprising a coil L, a linear compensation capacitor Ci whose plates are tabular and the capacitor of measurement.



   Each change in capacitance of the capacitor Zi, C produces a mismatch in the oscillating circuit and, to re-establish the electric equilibrium, the capacitance of Ci must be varied in order to compensate for the change in B, C.



   Each difference in thickness of E produces a linear change in the capacitance of
B, C. The mismatch is checked by a milliammeter 1.



   B, C and C, being absolutely linear, we can calibrate Ci directly in fractions of a thousandth of a millimeter.



   A capacitor Cn is adjusted during assembly to obtain the desired degree of measurement precision.



   The oscillator thus formed is placed in a tank at constant temperature.



   The comparator F makes it possible to compare the standard E with a part to be measured, by adjusting the depth of engagement between them of the reinforcements C, B to work under the best conditions, and this comparator links the device which can be used for two purposes.



   The linear capacitors used may include tubular armatures each formed from several concentric rings.


 

Claims (1)

REVENDICATION : Appareil pour la mesure des épaisseurs avec grande p, recision, caractérisé en ce qu'iil comporte un condensateur électrique de mesure à variation linéaire (B, C) dont une des armatures est soulevée plus ou moins suivant l'épaisseur à mesurer et formant avec un con densateurélectriquedecompensation(Ci) et une bobine d'inductance (L) un circuit oscil- lant eonneete à une lampe (R) pilotee par un quartz (Q !, le tout de façon que chaque variation de capacité du condensateur de mesure produise dans Le circuit oscillantundésaccord et que, pour rétablir l'équilibre électrique, on doive faire varierlacapacitéducondensateur de compensation, CLAIM: Apparatus for measuring thicknesses with large p, recision, characterized in that it comprises an electric measuring capacitor with linear variation (B, C), one of the reinforcements of which is raised more or less according to the thickness to be measured and forming with an electric compensating capacitor (Ci) and an inductance coil (L) an oscillating circuit connected to a lamp (R) piloted by a quartz (Q!), the whole in such a way that each variation of capacitance of the measuring capacitor produces in The oscillating circuit is out of tune and that, in order to re-establish the electrical balance, we must vary the capacity of the compensation capacitor, d'unequantitéfonctionde l'épaisseur à mesurer. a function of the thickness to be measured. SOUS-REVENDICATIONS : 1. Appareil suivant la revendication, caractérisé en ce qu'il comporte un condensateur (C,,) régie, au montage, pour obtenir le degré voulu de précision des mesures. SUB-CLAIMS: 1. Apparatus according to claim, characterized in that it comprises a capacitor (C ,,) governed, in assembly, to obtain the desired degree of precision of the measurements. 2. Appareil suivantlarevendication,ca- ractérise en ce que le condensateur de com- sensation est étalonné directement en frac- fions de millième de millimètre. 2. Apparatus according to the claim, characterized in that the condenser capacitor is directly calibrated in fractions of a thousandth of a millimeter. 3. Appareil suivant la revendication, ca- ractérisé enee qu'il comporte un milli-ampere- métre 7 contrôlant le désaccord. 3. Apparatus according to claim, charac- terized in that it comprises a milli-ampere meter 7 controlling the mismatch. 4. Appareil suivant la revendication, ca- ractériseenceque les armatures de chaque condensateur sont tubulaires et s'engagent l'une dans l'autre. 4. Apparatus according to claim, charac- teriseence that the plates of each capacitor are tubular and engage one in the other. 5. Appareil suivant la revendication, com prenantuncomparateurusuel(F)mûméca- uniquement par le mouvement d'une tige (A) solidaire de l'une des armatures du condensateur de mesure. 5. Apparatus according to claim, including comparateuruncomparateurusuel (F) moved only by the movement of a rod (A) integral with one of the armatures of the measuring capacitor.
CH239777D 1945-10-24 1945-05-15 Device for measuring thicknesses with great precision. CH239777A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE960861C (en) * 1952-07-10 1957-03-28 Mario Possati Device for monitoring the dimensions of workpieces
DE1141464B (en) * 1956-02-07 1962-12-20 Wayne Kerr Lab Ltd Capacitive measuring device for measuring small distances

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE960861C (en) * 1952-07-10 1957-03-28 Mario Possati Device for monitoring the dimensions of workpieces
DE1141464B (en) * 1956-02-07 1962-12-20 Wayne Kerr Lab Ltd Capacitive measuring device for measuring small distances

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