CH191267A - Instrument pour effectuer des mesures de précision. - Google Patents
Instrument pour effectuer des mesures de précision.Info
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- CH191267A CH191267A CH191267DA CH191267A CH 191267 A CH191267 A CH 191267A CH 191267D A CH191267D A CH 191267DA CH 191267 A CH191267 A CH 191267A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/002—Details
- G01B3/008—Arrangements for controlling the measuring force
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
Instrument pour effectuer des mesures de précision. L'invention a pour objet un instrument tel que, par exemple, un micromètre pour ef fectuer des mesures de précision sur des pièces en métal, par exemple des fournitures d'horlogerie. Cet instrument comporte un support servant d'appui à la pièce à mesurer et une vis micrométrique à commande ma nuelle destinée à être amenée en contact avec cette pièce. Lorsqu'on se sert d'un tel instrument, par exemple d'un micromètre comparateur pour mesurer ou contrôler de menues pièces, il im- porte que l'opérateur procède avec beaucoup d'attention et de sensibilité pour arrêter la vis micrométrique au moment précis où elle tou che la pièce à mesurer, car sans cela, s'il force la vis, le résultat de l'opération est inexact et peut être entaché d'une erreur de quelques centièmes de millimètre. Pour éviter cet incon vénient et faciliter le travail de l'opérateur, l'instrument selon l'invention comprend un dispositif avertisseur optique comportant une lampe électrique, de préférence à feu rouge, alimentée par une source de courant, une pile sèche par exemple et dont le circuit est con necté au support de la pièce à mesurer et à la vis micrométrique, de manière- que le circuit de la lampe soit fermé, aussitôt que le bec palpeur de la vis micrométrique entre en con tact avec la pièce à mesurer. Le dessin annexé montre, à titre d'exem ple et vue en élévation, une forme d'exécution de l'objet de l'invention. Le micromètre représenté, du type verti cal, comporte un bâti 1 monté sur un socle creux 2. Le bâti 1 porte une plateforme 3 ajustable en hauteur, sur laquelle 'est posée une plaque en matière électriquement iso lante 3', par exemple du verre. Sur cette pla que repose une plaque 4 en métal ou en une autre matière électriquement conductrice et qui sert de support à la pièce à mesurer 5. À la plaque 4 est connecté, par une borne à fi che 6, un fil conducteur de courant 7, relié à l'un des pôles d'une pile sèche 8 logée dans le socle creux 2. L'autre pôle de la pile 8 est connecté par un fil conducteur 9, à une petite lampe électrique 10 à feu rouge et par celle-ci au bâti 1. L'ampoule de cette lampe à. incandescence est logée dans un tube protec teur 11 fixé à la partie en col de cygne du bâti 1. Sur cette partie en col de cygne est. montée la vis micrométrique 12 avec son tam bour gradué 13 qui se déplace en regard du cylindre gradué 14. si l'on fait tourner la vis 12 à l'aide de son bouton 15. Le circuit de la pile 8 comprend ainsi la lampe à incandes cence 10, le bâti 1, la vis micrométrique 12 et le support 4 de la pièce à mesurer: il est coupé. normalement, entre le support 4. res pectivement la pièce à mesurer 5 en métal et le bec palpeur de la vis micrométrique. Mais aussitôt que le bec de la vis micrométrique 12 entre en contact avec la pièce à mesurer 5, le circuit de la lampe 10 est fermé et cette der nière s'allume. Le feu rouge de la lampe avertit alors l'opérateur que le bec palpeur de la vis micrométrique touche la pièce à. mesurer et qu'il doit cesser d'agir sur le bou ton 15. Le circuit. de la lampe 1.0 est de nou veau coupé dès que la vis micrométrique est écartée de la pièce 5. L'invention est applicable aux micromè tres de tous genres, y compris micromètres comparateurs et autres instruments de mesure verticaux ou horizontaux assimilables aux mi cromètres. Il est à remarquer que la source de cou rant et la lampe électrique ne seront pas né cessairement adaptées au bâti du micromètre: ces éléments pourraient être disposés à proxi mité de l'instrument de mesure et être connec tés électriquement à ce dernier.
Claims (1)
- REVENDICATION Instrument pour effectuer des mesures de précision sur des pièces en métal, comportant un support servant d'appui à la pièce à me surer et une vis micrométrique à commande manuelle destinée à être amenée en contact avec cette pièce, caractérisé en ce qu'il com prend un dispositif avertisseur optique com- portant une lampe électrique alimentée par une source de courant et dont le circuit est connecté au support de la pièce à mesurer et à, la vis micrométrique, de manière que le cir cuit de la lampe soit fermé, aussitôt que le bec palpeur de la vis micrométrique entre en contact avec la pièce à mesurer.SOUS-REVENDICATIONS 1 Micromètre selon la revendication, carac térisé en ce que la source de courant élec trique est formée par une pile sèche logée dans le socle du micromètre, la lampe élec trique étant constituée par une lampe à incandescence à feu rouge montée sur le bâti du micromètre. 2 Micromètre selon la revendication et la sous-revendication 1, caractérisé en ce que l'un des pôles de la pile est connecté à la lampe à incandescence et par celle-ci au bâti du micromètre, tandis que l'autre pôle est connecté au support de la pièce à me surer, lequel support est électriquement isolé du bâti du micromètre.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH191267T | 1936-09-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH191267A true CH191267A (fr) | 1937-06-15 |
Family
ID=4437517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH191267D CH191267A (fr) | 1936-09-23 | 1936-09-23 | Instrument pour effectuer des mesures de précision. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH191267A (fr) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2545782A (en) * | 1948-01-12 | 1951-03-20 | Adolph C Hugin | Micrometric insulation tester |
FR2408813A1 (fr) * | 1977-11-10 | 1979-06-08 | Sagem | Perfectionnements aux procedes et dispositifs de palpage a contact, notamment pour machines a mesurer |
WO1979000348A1 (fr) * | 1977-12-06 | 1979-06-28 | Meseltron Sa | Procede de mesure a l'aide de cales-etalons et cale-etalon de mesure |
-
1936
- 1936-09-23 CH CH191267D patent/CH191267A/fr unknown
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2545782A (en) * | 1948-01-12 | 1951-03-20 | Adolph C Hugin | Micrometric insulation tester |
FR2408813A1 (fr) * | 1977-11-10 | 1979-06-08 | Sagem | Perfectionnements aux procedes et dispositifs de palpage a contact, notamment pour machines a mesurer |
WO1979000348A1 (fr) * | 1977-12-06 | 1979-06-28 | Meseltron Sa | Procede de mesure a l'aide de cales-etalons et cale-etalon de mesure |
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