CH180307A - Wave screen made up of two or more sub-filters. - Google Patents

Wave screen made up of two or more sub-filters.

Info

Publication number
CH180307A
CH180307A CH180307DA CH180307A CH 180307 A CH180307 A CH 180307A CH 180307D A CH180307D A CH 180307DA CH 180307 A CH180307 A CH 180307A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
sep
sub
filter
wave
filters
Prior art date
Application number
Other languages
German (de)
Inventor
Aktiengesellschaft Siem Halske
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DES93683D external-priority patent/DE615967C/en
Priority claimed from DES94375D external-priority patent/DE617084C/en
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Publication of CH180307A publication Critical patent/CH180307A/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/01Frequency selective two-port networks
    • H03H7/17Structural details of sub-circuits of frequency selective networks
    • H03H7/1741Comprising typical LC combinations, irrespective of presence and location of additional resistors
    • H03H7/1758Series LC in shunt or branch path
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/01Frequency selective two-port networks
    • H03H7/0115Frequency selective two-port networks comprising only inductors and capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Filters And Equalizers (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)

Description

  

  Wellensieb aus zwei oder mehr Teilfiltern.    Im Hauptpatent sind Wellensiebe be  schrieben, die aus zwei oder mehr Teilfiltern  bestehen; wobei die einzelnen Teilfilter prak  tisch gleiche Lochmitte und mehrwellige  Resonanzkurven und die Eingangs- und Aus  gangsklemmenpaare der Teilfilter je unmittel  bar, jedoch mit mindestens teilweise entgegen  gesetzter     Polung    der     glemmenpaare    auf einer  Seite der Teilfilter untereinander verbunden  sind. Die vorliegende Erfindung soll nun  Bemessungen angeben, nach denen die Wellen  siebe mit besonders günstigem     Dämpfungs-          verlauf    und     Scheinwiderstandsverlauf    zu  bauen sind.  



  Bei schmalen Lochbreiten genügt häufig  die reine Änderung der Steilheit, um den  praktischen Bedürfnissen entsprechende       Dämpfungskurven    zu erzielen. Es gibt je  doch auch Fälle, in denen man den Grad  der Symmetrie der     Dämpfungskurve    beein  flussen möchte, das heisst die     Dämpfungs-          kurve    mehr oder weniger abweichend von der    Symmetrie gegenüber der Lochmitte gestal  ten möchte.

   Beispielsweise kann eine gege  bene     Amplitudenverteilung    eines Signal  stromes, aus dem ein     Frequenzgebiet    heraus  geschnitten werden soll, eine unsymmetrische  sein, so dass an einer Grenze des Übertra  gungsbereiches des Wellensiebes eine höhere  Dämpfung erwünscht oder gar erforderlich  ist. Solche Fälle treten besonders häufig bei  relativ grossen Lochbreiten auf.  



  Nach der vorliegenden Erfindung werden  Wellensiebe nach dem Patentanspruch des  Hauptpatentes geschaffen, die gekennzeichnet  sind durch einen derartigen Aufbau des  Wellensiebes, dass der Symmetriegrad seiner       Dämpfungskurve    im wesentlichen allein eine  Funktion eines Parameters     (d)    ist, der nur  von den Impedanzen des Teilfilters grösster  Lochbreite, nicht aber von den Grenzfrequen  zen dieses Teilfilters abhängt.  



  Ausser der Steilheit des     Dämpfungsan-          stieges    wird also der Symmetriegrad der           Dämpfungskurven    durch Bemessung der Teil  filterelemente festgelegt und vorzugsweise  der     Wellenwiderstandsverlauf        derWellensiebe     durch bestimmte     Polung    und Bemessung  eines bestimmten der im Wellensieb vereinig  ten Teilfilter geebnet.

   Zweckmässig werden  bei solchen Wellensieben nach dem Haupt  patent, bei denen die Teilfilter aus parallelen  Zweigen aufgebaut sind, von denen jeder  aus einer Serienschaltung eines     Kondensators     mit einer Spule besteht, die Resonanzfrequen  zen der einzelnen Zweige der Teilfilter bei  etwa gleicher Lochmitte der Teilfilter, nach  einem Bildungsgesetz verteilt, das als Ab  bildung einer arithmetischen Verteilung durch  eine Funktion mit monotoner Steigung und  Krümmung darstellbar ist, wobei der Grad  der Symmetrie der     Dämpfungskurve    im  wesentlichen nur durch einen Parameter     (d),     die Steilheit der     Dämpfungskurve    durch       m2-1    Parameter     (Iti   <I>. .

   .</I>     Itm,_i)    bestimmt ist,  wenn m die Anzahl der Teilfilter angibt.  



  Es kann ferner ein Teilfilter des Wellen  siebes zur Ebnung des Wellenwiderstandes  benutzt und mit gleicher Lochbreite wie  dasjenige der übrigen Teilfilter, das die  grösste Lochbreite besitzt, jedoch mit einem       abweichenden        Wellenwiderstandsverlauf    be  messen werden und mit einseitig entgegen  gesetzter     Polung    zu diesem Teilfilter ange  schlossen werden.

     Während sich bei engeren Lochbreiten  aus der     Forderung    der gleichen Lochmitte  der Teilfilter ohne weiteres eine arithmetische  Verteilung der Resonanzfrequenzen, das heisst  also gleiche Abstände der beiden Resonanz  frequenzen jedes Teilfilters von der Loch  mitte ergibt, muss bei grösseren relativen  Lochbreiten erst eine Wahl der Resonanz  frequenzen getroffen werden, die die rech  nerische Vorherbestimmung der     Teilfilterele-          mente    nach Massgabe der gewünschten       Dämpfungskurve    erleichtert. Durch ein ent  sprechendes Verteilungsgesetz erreicht man  trotzdem praktisch gleiche     Locbmitte    der  einzelnen Teilfilter.

      Im folgenden werden einige Beispiele    solcher zweckmässiger Verteilungen der Re  sonanzfrequenzen angegeben, für die alle  charakteristisch ist, dass sie im Grenzfall  schmaler Lochbreiten ineinander und in eine  arithmetische Verteilung übergeben. Dies  setzt voraus, dass die Verteilung nach einem  Bildungsgesetz vorgenommen wird, das als  Abbildung einer arithmetischen Verteilung  durch eine Funktion mit monotoner Steigung  und Krümmung darstellbar ist, das heisst  eine Funktion, deren konvergente Reihendar  stellung mit den Gliedern     a        -i-    b     #    x+. . . be  ginnt, wenn die Lochmitte als Ursprung des  Koordinatensystems gewählt wird.

   Durch ein  solches Verteilungsgesetz wird die annähernd  gleiche Lochmitte der Teilfilter auch bei  grossen relativen Lochbreiten erfüllt.    Solche Verteilungen sind zum Beispiel:    1.) Die geometrische Verteilung der  Resonanzfrequenzen (nach der Funktion       (o   <I>=</I>     fl        e-),     2.) Die arithmetische Verteilung der Qua  drate der Resonanzfrequenzen (nach der       Funktion   
EMI0002.0027  
    3.) Die arithmetische Verteilung der rezi  proken Quadrate der Resonanzfrequenzen  
EMI0002.0028     
  
    nach <SEP> der <SEP> Funktion <SEP> co <SEP> <I>= <SEP> 9 <SEP> <U>1</U></I>       Bei allen diesen Verteilungen ist man in  der Lage, der) Grad der Symmetrie der       Dämpfungskurven,

      mit Bezug auf x als un  abhängige Veränderliche, im wesentlichen  durch einen Parameter     .i    und die Steilheit  der     Dämpfungskurve    durch m-1 Parameter       (ki   <B>...</B>     k._i)    willkürlich festzulegen, wobei       m    die Anzahl der Teilfilter angibt. Der durch       .i        bestimmte@Symmetriegrad    bezieht sich auf       Dämpfungskurven,    die mit x als unabhängige  Veränderliche dargestellt sind. Für 2 = 1  zum Beispiel ist die     Dämpfungskurve    sym  metrisch.

   Der Einfluss des Parameters     .1    er  streckt sich auf die Bemessung der Spulen  und Kondensatoren, der der Parameter k       (1t1   <I>. . .</I>     k._1)    auf die spezielle Verteilung  der Resonanzfrequenzen im Rahmen des je-           weils    gewählten allgemeinen Verteilungsge  setzes.  



  Nachstehend soll zunächst als erläutern  des Beispiel die Anwendung dieser Be  messungsregeln, und zwar in den drei ge  nannten Fällen der Verteilung der Resonanz  frequenzen, für ein Wellensieb nach     Fig.    24  des Hauptpatentes gezeigt werden. Auf eine  Verallgemeinerung der Bemessungsregeln auf  andere Wellensiebe wird später noch zurück  gekommen.  



       Ausführungsbeispiel   <I>Z:</I>  Die geometrische Verteilung der Resonanz  frequenzen ist durch folgende Gleichung ver  wirklicht       mi   <I>=</I>     .12        e-bh          (v2   <I>=</I>     Q        e-lcbl-          cas   <I>=</I>     S@        e-f-r@bh          0U4   <I>=</I>     .i2   <I>8</I>     +        bla     woraus folgt:

    
EMI0003.0017     
    dabei bedeuten     wi   <I>. . .</I>     m4    die Resonanz  frequenzen der einzelnen Zweige nach ihrer  Grösse geordnet.     dl    wird als Lochmitte,<I>b</I> als  relative Lochbreite des Wellensiebes definiert.  Die absolute Lochbreite des Wellensiebes ist  durch die Differenz     cu4    -     wi    gegeben. Loch  initte, relative und absolute Lochbreite fallen  mit den entsprechenden Grössen des Teil  filters mit den Frequenzen     wi    und     m4    zu  sammen.

   Durch den Faktor k wird die rela  tive Lochbreite des zweiten Teilfilters mit  den Resonanzfrequenzen     w2    und     ms    bei an  nähernd gleicher     Locbmitte    variiert. Man  erreicht dadurch eine Verlagerung der Un  endlichkeitspunkte und damit eine Änderung  der Steilheit.

   Bei der     getroffenen    Annahme  der     Frequenzverteilung    steht ausser dem     1c     noch ein weiterer Parameter zur Variation  des     Dämpfungsverlaufes    zur Verfügung, näm  lich die Grösse.

       .l,    welche definiert wird durch  
EMI0003.0033     
    Dabei bedeuten die Grössen L und C .die       Induktivitäts-    und Kapazitätswerte der       Zweige    mit den Resonanzfrequenzen     wi    und       (o4.    Die Grösse     .l    bestimmt dann den Grad  der Symmetrie der     Dämpfungskurve.        Fig.    1  veranschaulicht,

   in welcher Weise durch  verschiedene Wahl der Grössen k und     .l    bei  gleicher Lage des Durchlässigkeitsbereiches  des Wellensiebes der     Dämpfungsverlauf    im  Falle der geometrischen Verteilung der Re  sonanzfrequenzen nach     Wunsch    beeinflusst  werden kann. Die     Dämpfungskurven    sind in       Neper    in Abhängigkeit von<I>x</I> oder     77    ge  zeichnet, wobei     -9    dem Verhältniswert       wIQ    entspricht. Für die Lochmitte ist der'  Wert von     i    = 1 eingezeichnet.

   Die     Dämp-          fungskurve    1 entspricht einem Wellensieb  mit einem k = 0,5 und einem     .i    = 1,00.  Durch Vergrösserung von k auf 0,56 bei  gleichbleibendem     .?    wird der Anstieg der       Dämpfungskurven    an den Lochgrenzen (Kur  ve 2) durch Verschiebung der Unendlichkeits  punkte erhöht. Wenn     .1    von 1 abweichend  genommen wird, so kann die Symmetrie der  Dämpf     ungskurven    verändert werden. So zeigt  Kurve 3 die     Dämpfungskurve    eines Wellen  siebes gleicher Lochbreite, das die Werte  k = 0,56 und     d    = 1,034 besitzt.

   Die Ver  schiebung von     d    = 1,00 auf 1,034 bewirkt  bereits, dass die Dämpfung ausserhalb des  Durchlässigkeitsbereiches im untern Teil  etwa 3,3     Neper,    im obern Teil des Frequenz  bereiches jedoch über 6     Neper    beträgt. Eine  solche Verlagerung der Symmetrie kann  zum Beispiel dann von Vorteil sein, wenn  das zu     begrenzepde    Frequenzband im obern       Frequenzgebiet    eine wesentlich grössere Am  plitude besitzt als im untern. Die Lochbreite  des Wellensiebes selbst wird bei Änderung  von k und     .i    nicht geändert.

   Günstige       Dämpfungskurven    werden für die genannten  Wellensiebe etwa bei den Werten       d    - 0,9 = 1,1 und k = 0,5     :-    0,6  erzielt. .      <I>Ausführungsbeispiel 2:</I>  Die     ärithmetische    Verteilung der Qua  drate der Resonanzfrequenzen ist durch fol  gende Gleichung verwirklicht:  
EMI0004.0002     
    woraus folgt:  
EMI0004.0003     
         cvi   <I>. . .</I>     w4    stellen dabei wieder die Resonanz  frequenzen der einzelnen Zweige nach ihrer  Grösse geordnet dar.     f2    ist wieder als Lochmitte  und b     als"relative    Lochbreite definiert.

   Die ab  solute Lochbreite des Wellensiebes ist auch  hier durch die Differenz 094<I>-</I>     cvi    gegeben.  Durch den Faktor k wird die Lochbreite des  zweiten Teilfilters mit den Resonanzfrequenzen       cv2    und     m3    bei annähernd gleicher Lochmitte  variiert und dadurch eine Verlagerung des  Unendlichkeitspunktes und damit eine Än  derung der Steilheit erreicht.

   Der zur Varia  tion der Symmetrieverhältnisse des     Dämp-          fungsverlaufes    ausserhalb des Durchlässig  keitsbereiches zur Verfügung stehende Para  meter     .i    ist definiert durch:  
EMI0004.0014     
    wobei     Li    und     L4    die     Induktivitäten    der  Spulen in den Zweigen mit den Resonanz  frequenzen     co,    und     c)4    bedeuten. Besonders  günstige Bemessungen werden innerhalb der  Werte k =     0,5@-:-    0,6 und     d    - 0,9     .;    1,1  erhalten.

   Für den Wert     n    = 1 sind die  Spulen jedes Teilfilters für sich gleich. Die  zu dieser Gruppe gehörigen Wellensiebe  eignen sich besonders als     Tiefpassfilter.    Dieser  Fall ergibt sich für den Wert b = 1.  



       .Ausführungsbeispiel   <I>3:</I>  Die arithmetische Verteilung der Quadrate  der reziproken     Resonanzfrequenzen    ist durch  folgende Gleichungen verwirklicht:  
EMI0004.0027     
    woraus folgt  
EMI0004.0028     
         coi    . . .     m4    stellen dabei wieder die Resonanz  frequenzen der einzelnen Zweige beider Teil  filter nach der Grösse geordnet dar.  



       dl    ist wieder als Lochmitte und<I>b</I> als  relative Lochbreite definiert. Die absolute  Lochbreite ist wie im früher genannten  Beispiel durch die Differenz     w4-ooi    gegeben.       Durch    den Faktor k wird die Lochbreite des  zweiten     Teilfilters    mit den Resonanzfrequen  zen     cvz    und     cvs    bei annähernd gleicher Loch  mitte variiert und dadurch eine Verlagerung  des Unendlichkeitspunktes und damit eine  Änderung der Steilheit erreicht.

   Der zur  Variation des Symmetriegrades des     Dämp-          fungsverlaufes    ausserhalb     desDurchlässigkeits-          bereiches    zur Verfügung stehende Parameter  ist definiert durch  
EMI0004.0041     
    wobei     Cl    und     C4    die Kapazitäten der Kon  densatoren in den Zweigen mit den Re  sonanzfrequenzen     cui    und     cu4    bedeutet. Inner  halb der Werte  k = 0,5     ;-    0,6 und     .i    = 0,9 = 1,1  ergeben sieh besonders günstige Bemessungen.

    Die zu dieser Gruppe gehörigen Wellensiebe  eignen sich besonders als     Hochpassfilter    für  den Fall<I>b = 1.</I> Für den Wert<I>1, = 1</I> sind  die Kondensatoren in jedem Teilfilter für  sich gleich.  



  Soll das Wellensieb aus mehr als zwei.  Teilfiltern (z. B. aus Teilfiltern nach     Fig.    5b  oder 11 des Hauptpatentes) bestehen, so  können zur Berechnung und Bemessung der  Wellensiebe mit gewünschter Dämpfungs-      kurve in     ähnlicher    Weise wie bei den oben  angeführten Wellensieben mit zwei Teil  filtern bestimmte Parameter herangezogen  werden. Der Grad der Symmetrie wird im  wesentlichen, wie bereits ausgeführt, nur  durch einen Parameter     (.l),    die Steilheit der       Dämpfungskurve    durch m-1 Parameter       (ki   <I>. . .</I>     km_1)    bestimmt, wenn<I>m</I> die Zahl  der Teilfilter angibt. In allgemeiner Form  ergibt sich somit für die obigen Ausführungs  beispiele  1.

   Für den Fall der geometrischen Ver  teilung der Resonanzfrequenz sind die Para  meter bestimmt durch:  
EMI0005.0006     
    Dabei bedeuten     mi   <I>. . . .</I>     o)2",    die Reso  nanzfrequenzen der     Teilfilterzweige    in ihren  Indizes nach Frequenzen geordnet und       Li,   <I>C i.</I> L2., 02. die Elemente des  Teilfilters mit grösster Lochbreite     (m1,    m2     "@).     



  2. Für den Fall der arithmetischen Ver  teilung der Quadrate der Resonanzfrequenzen  sind die Parameter bestimmt durch  
EMI0005.0013     
    wobei die Bedeutung der Zeichen den unter  1. angegebenen entspricht.  



  3. Für den Fall der arithmetischen Ver  teilung der Quadrate der reziproken Werte  der     Resonanzfrequenzen    sind die Parameter  bestimmt durch  
EMI0005.0015     
    wobei die Bezeichnungen wie unter -1. gelten.  Die Bemessung der Schaltelemente der  Wellenfilter kann so vorgeschlagen werden,    dass die Wertigkeit und damit     die    Steilheit  des     Dämpfungsanstieges    des entstehenden  Wellensiebes möglichst gross wird. (Bekannt  lich versteht     rnan    unter Wertigkeit einer  Siebkette oder eines Filters die Zahl der  Wurzeln, die der     hyperbolische.Cosinus    des  Fortpflanzungsmasses innerhalb des Durch-.

         lässigkeitsbereiches    aufweist.) Der Wellen  widerstand kann dann nicht mehr variiert  werden und hat zum Beispiel bei Wellen  sieben aus Teilfiltern nach den     Fig.    5 b oder  11 des Hauptpatentes einen mit dem Wellen  widerstand des Teilfilters mit der grössten  Lochbreite übereinstimmenden Verlauf, wie  in     Fig.    23 des Hauptpatentes gezeigt ist. In  gewissen Anwendungsfällen ist es aber er  wünscht, den     Wellenwiderstandsverlauf    zu  beeinflussen, um eine exakte Anpassung des  Wellensiebes an den Verbraucher im ganzen  Durchlässigkeitsbereich, insbesondere bei  grossen Lochbreiten zu erzielen.

   Im folgenden  wird nun eine Regel zur Bemessung der  Schaltelemente von Wellensieben nach  dem Hauptpatent gegeben, durch die neben  einer grösseren Steilheit des     Dämpfungsan-          stieges    eine Umbildung, insbesondere     Ebenung          des-Wellenwiderstandes    im Durchlässigkeits  bereich erreicht wird. Die Wellensiebe mit  umgebildetem Wellenwiderstand sind dadurch  charakterisiert, dass zwei     ihrer.Teilfilter    über- .  einstimmende Lochbreite und analogen Auf  bau und daher proportionalen Wellenwider  standsverlauf aufweisen, wobei diese Loch  breite zweckmässig mit der grössten Lochbreite  sämtlicher Teilfilter übereinstimmt.

   Die beiden  Teilfilter gleicher     Locbbreite    werden dabei  mit einseitig entgegengesetzter     Polung    ge  schaltet. Bei dieser Umbildung des Wellen  widerstandes     verringert    sich die Wertigkeit  des Wellensiebes, so dass die Steilheit der  jenigen eines Wellensiebes mit. einer um 1  verringerten     Teilfilterzahl    entspricht. Anders  ausgedrückt lässt sich die     Ebenung    dadurch  erreichen, dass man zu einem gegebenen  Wellensieb aus     in    Teilfiltern ein weiteres  Teilfilter mit einer Lochbreite hinzufügt, die  der des Teilfilters mit grösster Lochbreite  entspricht.

   Das (m     -f-        1)-te    Teilfilter muss      dabei einseitig entgegengesetzt zu dem Teil  filter gleicher Lochbreite gepolt Werden.  



  Im folgenden soll an einem Ausführungs  beispiel die     Wellenwiderstandsumbildung    bei  Verwendung eines Wellensiebes aus drei  Teilfiltern, und zwar solche nach     Fig.    5 c des  Hauptpatentes,. erläutert werden.  



       Ausführungsbeispiel   <I>4:</I>  Das Wellensieb ist in     Fig.    2 dargestellt.  Die drei Transformatoren der drei Teilfilter  mit     Mittelabgxiff    sind durch einen einzigen  ersetzt. Die Resonanzfrequenzen wo,     coi   <B>...</B>     wr,     der Zweige mit den Gliedern<I>Co,</I>     Lo,        01,          L,   <I>. .

   .</I>     Cr,        Lr    mögen eine geometrische  Verteilung besitzen, nämlich nach dem Ge  setz<I>w = 2</I>     e',    so dass die Resonanzfrequenzen  die Werte annehmen       cuo    =     wi   <I>=</I>     62        e-1        tvs   <I>=</I>     SZ        e+k   <I>a</I>       w2   <I>=</I>     fl        e-k   <I>a</I>     wr   <I>-</I>     w4   <I>=</I>     P        e+a     b = 2a sei als relative Lochbreite 

  des Teil  filters mit den Frequenzen wo,     ws    definiert.  Die Parameter, die den     Dämpfungsverlauf     bestimmen, sind dann gegeben durch  
EMI0006.0030     
         tuo    und     m5    können als     Frequenzen    des ersten       Teilfilteis        mi    und     (u4    als Frequenzen des  zweiten Teilfilters und w2 und     ais    als die  des dritten Teilfilters gelten.

   Beim hier be  trachteten Wellensieb, von dem ein Teilfilter  zur Umgestaltung des     Wellenwiderstands-          verlaufes    vorgesehen ist, ist die Breite des       Durchlässigkeitsbereiches    (a sei die relative  Lochbreite des Wellensiebes) nicht mehr wie  in den früher genannten Fällen durch die  grösste Lochbreite des Teilfilters bestimmt,  sondern wird etwas kleiner und ergibt sich  aus der     r'aleichung     
EMI0006.0042     
    wenn     9,    eine     $ilfsgrösse    ist, die von     t,        ct     und k abhängt in der Form  
EMI0006.0047     
    Eine genauere Berechnung zeigt, dass drei  typische Grössen<I>k', 2, n</I> vorhanden sind,

    durch die die Steilheit und der Grad an  Symmetrie der     Dämpfungskurve    und die       Ebenung    des Wellenwiderstandes bestimmt  sind. Während     h,    das den Grad der Symme  trie festlegt, in gleicher Weise wie bei dem  früher beschriebenen Beispiel zweier Teilfilter  bei geometrischer Verteilung der Eigenfre  quenzen gebildet ist, hängt die Grösse k',  welche die Lage der Unendlichkeitspunkte  und dadurch die Steilheit der     Dämpfungs-          kurve    festlegt, von der obengenannten Grösse  k, der halben relativen Lochbreite a und  der relativen Lochbreite des Wellensiebes a  ab in der Form  
EMI0006.0053     
    Die Grösse n,

   welche den Grad der     Ebenung     des     Wellenwiderstandsverlaufes    im Durch  lässigkeitsbereich festlegt, ist definiert     durch:    .  
EMI0006.0057     
    und lässt sich berechnen aus:  
EMI0006.0058     
    Die Abhängigkeit des     Verlaufes    der       Dämpfungskurve    von den Grössen A und k'  ist analog der im vorher erwähnten Aus  führungsbeispiel 1 genannten.

   Die Abhängig  keit des Verlaufes des Wellenwiderstandes  von der Grösse     n;    die mit den Bemessungen der  Elemente des Wellensiebes in der     obengenann-          ten    Weise zusammenhängt, soll durch     dieFig.    3  näher erläutert werden.

   In der Figur sind  die     Wellenwiderstandswerte    in Abhängigkeit      von der     (grüsse    x, die     reit    den     Xr#eisfr-equen-          zen    irr der Form       0)-Qec          zusammenhängt,    für verschiedene Werte des       Parameters        n2    dargestellt. Dabei wurde die  relative Lochbreite des Wellensiebes b = 2     a     mit 0,5 gewählt.

   Zwischen den Ordinaten  und     13    ist der Wellenwiderstand reell, ausser  halb davon     imaginär.    Wie aus den Kurven  ersichtlich, ist man     durch    Wahl des     Para-          rneters        7t    in der Lage, den Wellenwiderstand  umzubilden und. im     Durchlässigkeitsbereich     zu ebnen. Für die     Vierte    n      =    0,5     =-    0,7  ist eine gute     Ebenung    zu erreichen.

   Unter  Umständen kann es auch wünschenswert  sein, mit     n2    = 0,8 zu arbeiten, um die       Eberrung    in     eurem    weiteren Bereich, wenn  auch nicht so vollständig, zu erzielen. Der  ausserhalb des     Durchlässigkeitsbereiches    ge  zeichnete     Wellenwiderstandsverlauf    zeigt,  dass der Wellenwiderstand zwei Nullstellen  besitzt.

   Diesen Nullstellen entsprechen Un  endlichkeitsstellen des     Betriebsdämpfungsver-          laufes.    Bei Parallelschaltung mehrerer solcher  Wellensiebe ist, wenn sie verschiedenen Durch  lässigkeitsbereich besitzen, auf diese     Unend-          lichkeitsstelleri    zu achten, da sie nicht in  den     Durchlässigkeitsbereich    eines benach  barten Wellensiebes fallen dürfen.  



  Für die Steilheit und Symmetrie des       Dämpfungsverlaufes    ergeben sich besonders  günstige Bemessungen innerhalb der Werte  /c' = 0,5 =<B>0,6</B> und     d    = 0,9 = 1,1.  



  Ähnlich dein in     Fig.    2 gezeigten Wellen  sieb lassen sich auch Wellensiebe aus mehr  als drei Teilfiltern zusammensetzen. Eines  der Teilfilter wird dabei mir     Ebenung    des  Wellenwiderstandes durch bestimmte Be  messung der Resonanzfrequenzen der Zweige  und     Polung    in der früher geschilderten Art  herangezogen.  



  Es hat sich gezeigt, dass auch bereits für  zwei Teilfilter der in     Fig.    5b     bezw.    5c oder 11  des Hauptpatentes gezeigten Art eine     Ebenung     des Wellenwiderstandes durch bestimmte       Bemessung    der Teilfilter zu erzielen ist.  Die     Wertigkeit        bezw.    Steilheit dieser Wellen-         sielte    ist dabei allerdings nur die eines ein  zelnen Teilfilters.  



       Ausführungsbeispiel   <I>5:</I>  Das Wellensieb besteht aus zwei Teil  filtern     rnit    je zwei Zweigen aus     hinterein-          andergeschalteten    Spulen und     Kondensatoren.     Die vier Zweige sollen Resonanzfrequenzen  besitzen, die geometrisch zur Lochmitte ver  teilt sind und 'in der Form gegeben sind:

         (,0   <I>=</I>     U)1   <I>=</I>     'G        e-          (bi   <I>-</I>     ca:,   <I>_</I>     .Q   <I>e</I>     +        \t       wobei     2a    als relative Lochbreite eines Teil  filters     definiert    sei.

   Der die Symmetrie der       Dämpfungskurve    bestimmende     Parameter        .i     ist wie früher gegeben durch:  
EMI0007.0062     
    Da dein Wellensieb die Steilheit des     Dämp-          fungsverlaufes    für ein Teilfilter zukommt,  treten keine     Unendlichkeitsstellen    der     Vier--          poldämpfung.    auf.

   Die relative Lochbreite  des     Wellensiebes    ist aus der Gleichung ge  geben:  
EMI0007.0069     
    wobei bedeutet:  
EMI0007.0070     
    oder eingesetzt:  
EMI0007.0071     
    Der Grad der     Ebenung    des Wellenwider  standes, der wie im früheren Fall durch:  
EMI0007.0073     
    definiert ist, lässt sich berechnen aus der  Gleichung:

    
EMI0007.0074     
    wobei der Grösse     d    die oben angegebene Be  deutung     zukommt.         Besteht ein Wellensieb aus einer     gi@ö73eren     Anzahl (m     -i-    1) von Teilfiltern, von denen  eines zur     Wellenwiderstandsumbildung    heran  gezogen wird, dann wird allgemein die       Dämpfungskurve    in ihrer Steilheit durch  <I>m - 1</I> Parameter     (Jc'i   <I>. .

   .</I>     k'",,_,)    der Grad  von Symmetrie der     Dämpfungskurve    durch  einen Parameter     2,    und die     Eberrung    des  Wellenwiderstandes durch einen     Parameter    n  bestimmt. Dabei sind die     Parameter    gegeben  durch  
EMI0008.0012     
    Darin bedeutet     a    die halbe relative Loch  breite des Teilfilters mit grösster Lochbreite       (m2m,        o)i),    a die halbe relative Lochbreite des       Wellehsiebes    selbst.

   Die Resonanzfrequenzen       mi   <B>...</B>     aoz.    sind nach ihrer Grösse geordnet,  die Resonanzfrequenzen des Teilfilters, das  zur     Wellenwiderstandsebenung    herangezogen  wird, betragen:<B>wo</B>     ---        coi    und     avm+i   <I>=</I>     co,n.     Die Grössen     Ci,        Li,        C...1   <I>L2.</I> bedeuten die  Kapazitäten und     Induktivitäten    der durch  die Indizes bezeichneten Resonanzzweige.  



  Bei der bisher besprochenen Umbildung  des Wellenwiderstandes der Wellensiebe  wurde ein Teilfilter des Wellensiebes mit  seinen Resonanzfrequenzen auf die Rand  frequenzen des Teilfilters grösster Lochbreite  abgestimmt und entgegengesetzt zu diesem  Teilfilter gepolt. Anders ausgedrückt wurde  zu einem Wellensieb ein Teilfilter mit  entsprechender     Polung    und Bemessung, der  Resonanzfrequenzen zugeschaltet. Dieses  Mittel der     Wellenwiderstandsebenung    lässt  sich nun auch dann anwenden, wenn  das Wellensieb, dem ein Teilfilter zur       Ebenung    zugeordnet ist, durch irgend ein  anderes Wellensieb ersetzt wird, das den  gleichen     Dämpfungsverlauf    und Wellenwider  standsverlauf besitzt..

   So kann zum Beispiel  ein Teilfilter, das nach     Fig.    5 b     bezw.    5 c         o$er        h'ig.'fl    des     fIi'irptp'ä>;erites    aufgebaut  ist, zur     Wellenwiderstandsebenung    eines       Campbellfilters    benutzt werden. Durch diese  Parallelschaltung wird der Wellenwiderstand  des Wellensiebes geebnet, ohne dass sich  dabei die     Charakteristik    des     Dämpfungsver-          laufes    ändern würde. Allerdings ändert sich  dabei die Lochbreite des Wellensiebes.  



  Die Umbildung des Wellenwiderstandes  durch Hinzufügen eines neuen Elementes  weist eine     gewisse    Verwandtschaft mit der       Wirkung    der Endnetzwerke auf. Während     aber     die Endnetzwerke am Ein- und     Ausgang    der  Siebkette in Kette geschaltet werden, handelt  es sich hier um eine Parallelschaltung zweier  Vierpole.  



       Projektierung   <I>der</I>     Wellensiebe:     Bei der Projektierung der Wellensiebe  nach der Erfindung wird man zweckmässig  so verfahren, dass     inan    für eine bestimmte  Gruppe von Wellensieben (zum Beispiel mit       geometrischer    Verteilung der Resonanzfre  quenzen) sich die     Dämpfungskurven    in Ab  hängigkeit von den Parametern, die die       Steillreit        und    die     Symmetrie    bestimmen,

   und  die     Wellenwiderstände-soweit        eineEbenung     des Wellenwiderstandes vorgenommen werden  soll - in     Abhängigkeit    des Parameters     y     zeichnet. In praktischen Aufgaben sind die  Grössen des Durchlässigkeitsbereiches     bezw,     des Wellenwiderstandes gegeben..     Mein    wählt  sich aus gezeichneten     Dämpfungs-        bezw,          Wellenwiderstandskurven    die     Grössen    k',     J,,        n     entsprechend dem     gewünschten    Verlauf.

   Die       Bemessung    der einzelnen Elemente der  Wellensiebe erfolgt dann durch Umrechner  'aus den genannten Grössen. Im folgender  wird eine Zusammenstellung der     Formelr     gegeben,     nach    denen für die fünf früher     be.     handelten     Ausführungsbeispiele    die Bemessung  der Wellensiebe vorgenommen werden kann         Aus        führungsbeispiel   <I>1:

  </I>    (Geometrische Verteilung der     Resonanzfre.          quenzen,    zwei Teilfilter.)  Die     Dämpfungskurven    und Wellenwider       standskurven    werden unter Definition von  durch     w=P    ex berechnet nach den Gleichungen           dos        (@    -     ein'   <I><U>(x</U></I>     -f-   <I><U>k</U></I>     a)        \G'        lil   <I><U>(x - a)</U></I>     -f-        21   <U>ein'<I>(x - k a)</I> ein<I>(r</I></U>     --f-   <U>a)

  .</U>  ein'<I>(x</I>     --@-   <I>k a)</I>     .ein   <I>(x - a)</I> -     d2    ein'<I>(x - k a)</I> ein<I>(x</I>     +   <I>a)'</I>  -  &      2in,   <U>x</U>       ein,        a       wobei durch     ,$o    der Wellenwiderstand der  Lochmitte gegeben ist.  



  Da sich der Wellenwiderstand bei Vari  ation von A und     7c    in seinem Verlauf nicht  ändert, genügt es in diesem Falle, die       Dämpfungskurve    zu zeichnen, um eine Über  sicht über die für praktische Verhältnisse  günstigen Werte von k und     d    zu erhalten.

    Durch die gestellte Aufgabe sind bestimmt:  die Grenzen des Durchlässigkeitsbereiches       coi,        co4,    die Grösse des Wellenwiderstandes       s8o.    Der Wert     ,sso    steht mit dem mittleren  Wellenwiderstand     ,3,    der bei Anpassung mit  den     Abschlusswiderständen    (zum Beispiel der       angeschlos'senen    Leitung) übereinstimmen  muss, im Verhältnis  
EMI0009.0029     
    bei dem annähernd elliptischen Verlauf des  Wellenwiderstandes im Durchlässigkeitsbe  reich.

   Zur Erzielung eines gewünschten     Ver-          laufes    der     Dämpfungskurve    werden die Para  meter 7c und     d    nach Einsicht in die vorher  gezeichnete     Dämpfungskurvenschar        (vergl.          Fig.    1) gewählt, vorteilhaft in den Grenzen:  k = 0,5 =     0,6,d    = 0,9 = 1,1.  



  Nach Festlegung dieser Konstanten wer  den die Grössen der mittleren Lochfrequenz  
EMI0009.0038     
    und der relativen Lochbreite  
EMI0009.0039     
    und die Eigenfrequenzen       (o2   <I>=</I>     Sl        E-cos   <I>=</I>     SZe+x2     berechnet und die Hilfegrössen  
EMI0009.0044     
    ermittelt.

   Die Bemessung der Elemente des  Wellensiebes ergibt sich dann daraus zu-  
EMI0009.0045     
    <I>Ausführungsbeispiel 2:</I>  (Arithmetische Verteilung der Quadrate der  Resonanzfrequenzen, zwei     Teilfilter.)     Die     .Dämpfungskurven    und Wellenwider  standskurven werden unter Definition der  Werte x durch:  
EMI0009.0048     
    berechnet nach den Gleichungen  
EMI0009.0049     
    Aus den im früheren Ausführungsbeispiel  genannten Gründen bezüglich des Wellen  widerstandes kann man sich zur Ermittlung    günstiger k- und     .l-Werte    mit der Zeichnung  der     Dämpfungskurven    in Abhängigkeit von  den     Paeametern    k und     .1    begnügen.

   Die: Be-           echnung    der Elemente des Wellensiebes er  folgt ähnlich wie im Beispiel 1 angegeben  nach dem Schema:  gegeben: die Lochgrenzen :     0)i,        c04     die Grösse des     Wellenwiderstandes:     
EMI0010.0005     
    gewählt sind: der     Steilheitafaktor    k z.

   Beispiel  zwischen 0,6 und 0,6, der Symmetriefaktor       .i    zum Beispiel zwischen 0,9 und 1,1;  berechnet werden der Reihe nach die Loch  frequenz:  
EMI0010.0008     
    die relative Lochbreite:  
EMI0010.0009     
    die Eigenfrequenzen der Schwingungskreise:  
EMI0010.0010     
    als Hilfsgrössen die     Faktoren:     
EMI0010.0012     
    und schliesslich die Grösse der     Selbstinduk-          tivitäten    und Kapazitäten:  
EMI0010.0015     
    Für den Sonderfall (b = 1) ergibt sich ein       Tiefpässfilter.     



  <I>Ausführungsbeispiel 3:</I>  (Arithmetische Verteilung der reziproken  Quadrate der     Resonanzfrequenzen        zweier     Teilfilter.)  Die     Dämpfungskurven    und Wellenwider  standskurven werden unter Definition der  Werte x durch  
EMI0010.0020     
    berechnet nach den Gleichungen  
EMI0010.0021     
    Auch hier genügt es, die     Dämpfungs-          kurven    zu ermitteln, und zwar in Abhängig  keit von den Parametern k     und.l.    Die Be  rechnung der Elemente des Wellensiebes  erfolgt ähnlich wie in Beispiel 1 angegeben  nach dem Schema  gegeben: die Lochfrequenzen:     c)1,        ao4     die Grösse des Wellenwiderstandes:

    
EMI0010.0027     
    gewählt sind     Steilheitsfaktor    k zum Beispiel  zwischen 0,5 und 0,6,. Symmetriefaktor     .i     zum Beispiel zwischen 0,9 und 1,1,  berechnet werden der Reihe nach die Loch  frequenzen  
EMI0010.0030     
    und die relative Lochbreite  
EMI0010.0031     
    die Eigenfrequenzen der Schwingungskreise:  
EMI0010.0032     
    die Hilfsgrössen  
EMI0010.0033     
    und schliesslich die Grösse der     Selbstinduk-          tivitäten    und Kapazitäten:-    
EMI0011.0001     
    Für den Sonderfall b = 1 liefert die  Siebkette ein     Hochpassfilter.     



  <I>.Ausführungsbeispiel 4:</I>  (Geometrische Verteilung der Resonanzfre  quenzen, drei Teilfilter, eines davon zur       Wellenwiderstandebenung.)     Der     Dämpfungs-    und Wellenwiderstands  verlauf sind unter Definition von x durch       c)    =     n    ex bestimmt durch  
EMI0011.0007     
         ,3o    ist von x unabhängig und gibt den  Wellenwiderstand der Lochmitte an. Der  Verlauf des Wellenwiderstandes als Funk  tion von x ist symmetrisch und lässt sich  durch Wahl des Faktors n beeinflussen.

   Man  zeichnet sich     Dämpfungskurven    in Abhängig  keit der Parameter     d    und k' und Wellenwider  standskurven in Abhängigkeit vom Parameter       .t.    Nach Wahl der Faktoren k',     .l    und<I>n</I> aus die  sen Kurven erfolgt dann die Berechnung der  Elemente des Wellensiebes nach dem Schema:

    gegeben: die Grenzen des Durchlässigkeits  bereiches      )z,        oll,     die Grösse des annähernd konstanten Wellen  widerstandes     ,Bo,     gewählt ist:     Steilheitsfaktor    k' zum Beispiel  zwischen 0,5 und 0,6, Symmetriefaktor     d     zum Beispiel zwischen 0,9 und 1,1,     Ebenungs-          faktor        n2    zum Beispiel zwischen 0,5 und 0,6.  



  daraus wird der Reihe nach berechnet:  die Lochfrequenz:
EMI0011.0021  
    die relative Lochbreite:
EMI0011.0022  
    die Konstanten     ct    und<I>k</I> aus den Gleichungen:  
EMI0011.0024     
    Die Eigenfrequenzen der Schwingungskreise:    wo<I>=</I>     Col   <I>=</I>     .i2   <I>e a j</I>     0U2   <I>=</I>     .i2        e-7e    a       oJS   <I>=</I>     ,Qe+lca;

          o)4   <I>=</I>     00b   <I>=</I>     .@e+a     die Hilfsfaktoren  
EMI0011.0035     
    und schliesslich die Grösse der     Selbstindukti-          vitäten    und Kapazitäten  
EMI0011.0038     
      <I>Ausführungsbeispiel</I>     .5.:     (Geometrische Verteilung der Resonanzfre  quenzen, zwei Teilfilter.     Wellenwiderstands-          ebenung.)     Der     Dämpfungs-    und Wellenwiderstands  verlauf sind unter     Defihition    von x durch:       m   <I>=</I>     2e"    bestimmt durch:

    
EMI0012.0008     
         ,sgo    ist von x unabhängig und gibt den  Wellenwiderstand der 'Lochmitte an. Nach  Wahl der Faktoren     d    und n aus den ge  zeichneten     Kurven    erfolgt die Berechnung  der Elemente des Wellensiebes nach dem  Schema  gegeben-. die Grenzen des Durchlässigkeits  bereiches     _col,        coIl,     Grösse des Wellenwiderstandes     ,73-o,     gewählt: Symmetriefaktor     d,    zum Beispiel  zwischen 0;9 und 1,1,     Ebenungsfaktor        n2,     zum Beispiel zwischen 0,5 und 0,7.  



  Daraus lässt sich der Reihe nach be  rechnen  die Lochfrequenz
EMI0012.0018  
    die relative Lochbreite
EMI0012.0019  
    die     Konstante        a    durch die Gleichung  
EMI0012.0022     
    die Eigenfrequenzen der Schwingungskreise  wo =     wi   <I>=</I>     SZ   <I>e</I>     -a;

          a)4    =     coe   <I>=</I>     SZ   <I>e</I>     +     die Hilfsfaktoren  
EMI0012.0030     
    und schliesslich die Grösse der     Selbstindukti-          vitäten    und Kapazitäten  
EMI0012.0033     
    In ähnlicher Weise wie in den Aus  führungsbeispielen 1-5 gezeigt, ist auch für  Wellensiebe mit grösserer     Teilfilterzahl    mit  oder ohne     Wellenwiders'tandsebenung    die  Berechnung der einzelnen Elemente durch  zuführen.



  Wave screen made up of two or more sub-filters. In the main patent, wave screens are be written that consist of two or more sub-filters; whereby the individual sub-filters are practically the same hole center and multi-wave resonance curves and the input and output terminal pairs of the sub-filter are connected to each other directly, but with at least partially opposite polarity of the terminal pairs on one side of the sub-filter. The present invention is now intended to specify dimensions according to which the wave screens are to be built with a particularly favorable damping curve and impedance curve.



  In the case of narrow hole widths, simply changing the slope is often sufficient to achieve damping curves that meet practical requirements. However, there are also cases in which one would like to influence the degree of symmetry of the damping curve, that is to say that the damping curve would be more or less deviating from the symmetry with respect to the center of the hole.

   For example, a given amplitude distribution of a signal stream from which a frequency range is to be cut out can be asymmetrical, so that higher attenuation is desired or even required at a boundary of the transmission range of the wave screen. Such cases occur particularly frequently with relatively large hole widths.



  According to the present invention, wave screens are created according to the patent claim of the main patent, which are characterized by such a structure of the wave screen that the degree of symmetry of its damping curve is essentially a function of a parameter (d) that depends only on the impedances of the partial filter with the largest hole width, but does not depend on the Grenzfrequen zen of this sub-filter.



  In addition to the steepness of the damping increase, the degree of symmetry of the damping curves is determined by dimensioning the sub-filter elements and preferably the wave resistance curve of the wave filters is leveled by certain polarity and dimensioning of a certain of the sub-filters combined in the wave screen.

   In such wave screens according to the main patent, in which the sub-filters are made up of parallel branches, each of which consists of a series connection of a capacitor with a coil, the resonance frequencies of the individual branches of the sub-filters with approximately the same hole center of the sub-filters are expedient after one Formation law distributed, which can be represented as a mapping of an arithmetic distribution by a function with monotonous slope and curvature, the degree of symmetry of the damping curve essentially only by one parameter (d), the steepness of the damping curve by m2-1 parameters (Iti < I>..

   . </I> Itm, _i) is determined if m specifies the number of partial filters.



  A sub-filter of the wave screen can also be used to level the wave impedance and be measured with the same hole width as that of the other sub-filters, which has the largest hole width, but with a different wave impedance curve and are connected to this sub-filter with one-sided opposite polarity.

     While with narrower hole widths the requirement of the same hole center of the sub-filters results in an arithmetic distribution of the resonance frequencies, i.e. the same distances between the two resonance frequencies of each sub-filter from the hole center, with larger relative hole widths the resonance frequencies must first be selected which facilitates the computational predetermination of the partial filter elements according to the desired damping curve. With a corresponding distribution law, you can still achieve practically the same center of the individual sub-filters.

      In the following, some examples of such useful distributions of the resonance frequencies are given, all of which are characterized by the fact that, in the limiting case of narrow hole widths, they pass into one another and into an arithmetic distribution. This presupposes that the distribution is carried out according to a formation law that can be represented as a mapping of an arithmetic distribution by a function with monotonous slope and curvature, i.e. a function whose convergent series representation with the terms a -ib # x +. . . starts when the hole center is selected as the origin of the coordinate system.

   Such a distribution law ensures that the hole center of the sub-filters is approximately the same even with large relative hole widths. Such distributions are for example: 1.) The geometric distribution of the resonance frequencies (according to the function (o <I> = </I> fl e-), 2.) The arithmetic distribution of the square of the resonance frequencies (according to the function
EMI0002.0027
    3.) The arithmetic distribution of the reci proken squares of the resonance frequencies
EMI0002.0028
  
    according to <SEP> the <SEP> function <SEP> co <SEP> <I> = <SEP> 9 <SEP> <U>1</U> </I> With all these distributions you are able to use the ) Degree of symmetry of the damping curves,

      with reference to x as an independent variable, essentially determined by a parameter .i and the steepness of the damping curve by m-1 parameters (ki <B> ... </B> k._i), where m is the number of Sub-filter indicates. The @ degree of symmetry determined by .i relates to damping curves, which are represented with x as independent variables. For example, for 2 = 1, the damping curve is symmetrical.

   The influence of the parameter .1 extends to the dimensioning of the coils and capacitors, that of the parameter k (1t1 <I>... </I> k._1) to the special distribution of the resonance frequencies within the scope of the selected general distribution law.



  The following is to be used as an example of the application of these Be measurement rules, namely in the three cases mentioned ge the distribution of the resonance frequencies are shown for a wave screen according to FIG. 24 of the main patent. A generalization of the design rules to other wave screens will be returned later.



       Embodiment <I> Z: </I> The geometric distribution of the resonance frequencies is realized by the following equation mi <I> = </I> .12 e-bh (v2 <I> = </I> Q e-lcbl - cas <I> = </I> S @ efr @ bh 0U4 <I> = </I> .i2 <I> 8 </I> + bla from which follows:

    
EMI0003.0017
    where wi mean <I>. . . </I> m4 the resonance frequencies of the individual branches sorted according to their size. dl is defined as the center of the hole, <I> b </I> as the relative hole width of the corrugated screen. The absolute hole width of the wave screen is given by the difference cu4 - wi. Hole center, relative and absolute hole width coincide with the corresponding sizes of the partial filter with frequencies wi and m4.

   By the factor k, the relative hole width of the second sub-filter with the resonance frequencies w2 and ms is varied at approximately the same Locbmitte. This results in a shift in the infinity points and thus a change in the slope.

   With the assumption of the frequency distribution, a further parameter is available in addition to 1c for varying the attenuation curve, namely the size.

       .l, which is defined by
EMI0003.0033
    The quantities L and C mean the inductance and capacitance values of the branches with the resonance frequencies wi and (o4. The quantity .l then determines the degree of symmetry of the damping curve.

   In which way the attenuation curve in the case of the geometrical distribution of the resonance frequencies can be influenced as desired by different choices of the variables k and .l with the same position of the permeability area of the wave screen. The damping curves are drawn in Neper as a function of <I> x </I> or 77, where -9 corresponds to the ratio value wIQ. The value of i = 1 is shown for the center of the hole.

   The damping curve 1 corresponds to a wave filter with a k = 0.5 and an .i = 1.00. By increasing k to 0.56 while keeping the same.? the rise in the damping curves at the hole boundaries (curve 2) is increased by shifting the infinity points. If .1 is taken differently from 1, the symmetry of the damping curves can be changed. Curve 3 shows the attenuation curve of a corrugated screen of the same hole width, which has the values k = 0.56 and d = 1.034.

   The shift from d = 1.00 to 1.034 already has the effect that the attenuation outside the permeability range is around 3.3 neper in the lower part, but over 6 neper in the upper part of the frequency range. Such a shift in symmetry can be advantageous, for example, if the frequency band to be limited has a significantly larger amplitude in the upper frequency range than in the lower. The hole width of the wave screen itself is not changed when k and .i are changed.

   Favorable damping curves are achieved for the named wave screens with values d - 0.9 = 1.1 and k = 0.5: - 0.6. . <I> Embodiment 2: </I> The arithmetic distribution of the squares of the resonance frequencies is realized by the following equation:
EMI0004.0002
    From which follows:
EMI0004.0003
         cvi <I>. . . </I> w4 again represent the resonance frequencies of the individual branches sorted according to their size. F2 is again defined as the hole center and b as the "relative hole width.

   The absolute hole width of the corrugated screen is also given here by the difference 094 <I> - </I> cvi. The factor k varies the hole width of the second sub-filter with the resonance frequencies cv2 and m3 with approximately the same hole center, thereby shifting the infinity point and thereby changing the slope.

   The parameter .i available for varying the symmetry relationships of the attenuation curve outside the permeability range is defined by:
EMI0004.0014
    where Li and L4 are the inductances of the coils in the branches with the resonance frequencies co, and c) 4 mean. Particularly favorable dimensions are within the values k = 0.5 @ -: - 0.6 and d - 0.9.; 1.1 obtained.

   For the value n = 1, the coils of each sub-filter are the same. The wave screens belonging to this group are particularly suitable as low-pass filters. This case results for the value b = 1.



       .Example <I> 3: </I> The arithmetic distribution of the squares of the reciprocal resonance frequencies is realized by the following equations:
EMI0004.0027
    From which follows
EMI0004.0028
         coi. . . m4 again represent the resonance frequencies of the individual branches of both sub-filters, sorted by size.



       dl is again defined as the hole center and <I> b </I> as the relative hole width. As in the example mentioned earlier, the absolute hole width is given by the difference w4-ooi. By the factor k, the hole width of the second sub-filter with the resonance frequencies cvz and cvs is varied with approximately the same hole center and thereby a shift of the infinity point and thus a change in the slope is achieved.

   The parameter available for varying the degree of symmetry of the attenuation curve outside the permeability range is defined by
EMI0004.0041
    where Cl and C4 are the capacities of the capacitors in the branches with the Re resonance frequencies cui and cu4. Particularly favorable measurements result within the values k = 0.5; - 0.6 and .i = 0.9 = 1.1.

    The wave filters belonging to this group are particularly suitable as high-pass filters for the case <I> b = 1. </I> For the value <I> 1, = 1 </I>, the capacitors in each sub-filter are the same.



  Should the wave screen consist of more than two. If partial filters (e.g. partial filters according to Fig. 5b or 11 of the main patent) exist, certain parameters can be used to calculate and dimension the wave screens with the desired damping curve in a similar way to the above-mentioned wave screens with two part filters. As already stated, the degree of symmetry is essentially only determined by one parameter (.l), the steepness of the damping curve by m-1 parameters (ki <I>... </I> km_1), if <I> m </I> indicates the number of sub-filters. In general terms, this results in examples 1 for the above embodiment.

   In the case of the geometric distribution of the resonance frequency, the parameters are determined by:
EMI0005.0006
    Here mi mean <I>. . . . </I> o) 2 ", the resonance frequencies of the sub-filter branches in their indices arranged according to frequencies and Li, <I> C i. </I> L2., 02. the elements of the sub-filter with the largest hole width (m1, m2 "@).



  2. In the case of the arithmetic distribution of the squares of the resonance frequencies, the parameters are determined by
EMI0005.0013
    where the meaning of the characters corresponds to that given under 1.



  3. In the case of the arithmetic distribution of the squares of the reciprocal values of the resonance frequencies, the parameters are determined by
EMI0005.0015
    where the designations as under -1. be valid. The dimensioning of the switching elements of the wave filter can be proposed in such a way that the value and thus the steepness of the increase in attenuation of the wave filter produced is as great as possible. (As is well known, the value of a sieve chain or a filter means the number of roots that the hyperbolic cosine of the reproductive measure within the

         The wave resistance can then no longer be varied and has, for example, in the case of seven waves made of partial filters according to FIGS. 5 b or 11 of the main patent, a curve that corresponds to the wave resistance of the partial filter with the largest hole width, as shown in Fig. 23 of the main patent is shown. In certain applications, however, he wishes to influence the wave resistance curve in order to achieve an exact adaptation of the wave screen to the consumer in the entire permeability range, especially with large hole widths.

   The following is a rule for dimensioning the switching elements of wave screens according to the main patent, by means of which, in addition to a greater steepness of the attenuation increase, a transformation, in particular a flattening of the wave resistance in the permeability range is achieved. The wave screens with modified wave resistance are characterized by the fact that two of their partial filters over-. matching hole width and analog construction and therefore proportional wave resistance, this hole width appropriately coincides with the largest hole width of all sub-filters.

   The two sub-filters of the same width are switched with opposite polarity on one side. With this reshaping of the wave resistance, the value of the wave screen is reduced, so that the steepness of that of a wave screen is also reduced. corresponds to a partial filter number reduced by 1. In other words, the leveling can be achieved by adding a further sub-filter with a hole width that corresponds to that of the sub-filter with the largest hole width to a given wave screen.

   The (m -f- 1) -th sub-filter must be polarized on one side opposite to the sub-filter of the same hole width.



  In the following, the wave resistance conversion when using a wave screen consisting of three sub-filters, namely those according to FIG. 5 c of the main patent, is to be used in an embodiment. explained.



       Exemplary embodiment <I> 4: </I> The wave screen is shown in FIG. The three transformers of the three sub-filters with central tap have been replaced by a single one. The resonance frequencies wo, coi <B> ... </B> wr, of the branches with the terms <I> Co, </I> Lo, 01, L, <I>. .

   . </I> Cr, Lr may have a geometric distribution, namely according to the law <I> w = 2 </I> e ', so that the resonance frequencies assume the values cuo = wi <I> = </I> 62 e-1 tvs <I> = </I> SZ e + k <I> a </I> w2 <I> = </I> fl ek <I> a </I> wr <I> - < / I> w4 <I> = </I> P e + ab = 2a is the relative hole width

  of the partial filter with the frequencies where, ws defined. The parameters that determine the attenuation curve are then given by
EMI0006.0030
         tuo and m5 can apply as frequencies of the first sub-filter mi and (u4 as frequencies of the second sub-filter and w2 and ais as those of the third sub-filter.

   In the case of the wave screen considered here, of which a partial filter is provided to redesign the wave resistance curve, the width of the permeability area (a is the relative hole width of the wave screen) is no longer determined by the largest hole width of the partial filter, as in the cases mentioned earlier, but becomes somewhat smaller and results from the calibration
EMI0006.0042
    if 9, is an auxiliary quantity that depends on t, ct and k in the form
EMI0006.0047
    A more precise calculation shows that there are three typical quantities <I> k ', 2, n </I>,

    which determine the steepness and the degree of symmetry of the damping curve and the leveling of the wave resistance. While h, which determines the degree of symmetry, is formed in the same way as in the example of two sub-filters described earlier with a geometric distribution of the natural frequencies, the quantity k ', which determines the position of the infinity points and thus the steepness of the attenuation curve, depends defines, from the above-mentioned size k, half the relative hole width a and the relative hole width of the wave screen a from in the form
EMI0006.0053
    The size n,

   which defines the leveling of the wave resistance curve in the permeability range is defined by:.
EMI0006.0057
    and can be calculated from:
EMI0006.0058
    The dependence of the course of the damping curve on the quantities A and k 'is analogous to that mentioned in the aforementioned exemplary embodiment 1.

   The dependence of the characteristic of the wave resistance on the quantity n; which is related to the dimensions of the elements of the wave screen in the above-mentioned manner, should be 3 are explained in more detail.

   The figure shows the characteristic impedance values as a function of the (size x, which is related to the Xr # eisfr-equen- zen irr of the form 0) -Qec for various values of the parameter n2. The relative hole width of the corrugated screen b = 2 a was chosen to be 0.5.

   Between the ordinates and 13 the wave resistance is real, outside of it it is imaginary. As can be seen from the curves, by selecting the parameter 7t, one is able to transform the wave resistance and. to level in the permeability area. For the fourth n = 0.5 = - 0.7, good leveling can be achieved.

   Under certain circumstances it can also be desirable to work with n2 = 0.8 in order to achieve the conquest in your wider area, even if not as completely. The wave resistance curve drawn outside the permeability range shows that the wave resistance has two zero points.

   These zero points correspond to infinity points of the operational damping curve. If several such wave screens are connected in parallel, if they have different permeability ranges, attention must be paid to these infinity regulators, as they must not fall into the permeability range of an adjacent wave screen.



  For the steepness and symmetry of the damping curve, there are particularly favorable measurements within the values / c '= 0.5 = 0.6 and d = 0.9 = 1.1.



  Similar to your wave screen shown in Fig. 2, wave screens can also be composed of more than three sub-filters. One of the sub-filters is used to level the wave impedance by measuring the resonance frequencies of the branches and polarity in the manner described earlier.



  It has been shown that even for two sub-filters the respectively in FIG. 5c or 11 of the main patent, a leveling of the wave impedance can be achieved by specific dimensioning of the sub-filters. The value resp. However, the steepness of this wave is only that of a single sub-filter.



       Embodiment <I> 5: </I> The wave screen consists of two filter parts, each with two branches of coils and capacitors connected in series. The four branches should have resonance frequencies that are geometrically distributed to the center of the hole and are given in the form:

         (, 0 <I> = </I> U) 1 <I> = </I> 'G e- (bi <I> - </I> ca :, <I> _ </I> .Q < I> e </I> + \ t where 2a is defined as the relative hole width of a partial filter.

   The parameter .i, which determines the symmetry of the damping curve, is given by:
EMI0007.0062
    Since your wave filter has the steepness of the damping curve for a partial filter, there are no infinity points of the four-pole damping. on.

   The relative hole width of the corrugated screen is given by the equation:
EMI0007.0069
    where means:
EMI0007.0070
    or inserted:
EMI0007.0071
    The degree of leveling of the wave resistance, which, as in the previous case, is due to:
EMI0007.0073
    can be calculated from the equation:

    
EMI0007.0074
    where the size d has the meaning given above. If a wave filter consists of a large number (m -i 1) of partial filters, one of which is used to convert the wave resistance, then the steepness of the damping curve is generally determined by <I> m - 1 </I> parameters (Jc 'i <i>..

   . </I> k '",, _,) the degree of symmetry of the damping curve is determined by a parameter 2, and the conquering of the characteristic impedance is determined by a parameter n. The parameters are given by
EMI0008.0012
    Here, a means half the relative hole width of the partial filter with the largest hole width (m2m, o) i), a half the relative hole width of the shaft sieve itself.

   The resonance frequencies mi <B> ... </B> aoz. are arranged according to their size, the resonance frequencies of the partial filter, which is used to level the wave resistance, are: <B> wo </B> --- coi and avm + i <I> = </I> co, n. The sizes Ci, Li, C ... 1 <I> L2. </I> mean the capacitances and inductances of the resonance branches indicated by the indices.



  In the previously discussed reshaping of the wave impedance of the wave screens, a sub-filter of the wave screen was matched with its resonance frequencies to the edge frequencies of the sub-filter with the largest hole width and polarized opposite to this sub-filter. In other words, a sub-filter with the appropriate polarity and dimensioning and the resonance frequencies was connected to a wave screen. This means of flattening the wave resistance can now also be used if the wave screen to which a partial filter is assigned for leveling is replaced by any other wave screen that has the same attenuation curve and wave resistance curve.

   For example, a partial filter, which according to FIG. 5 b BEZW. 5 c o $ er h'ig.'fl des fIi'irptp'ä>; erites can be used to level the wave resistance of a Campbell filter. This parallel connection flattens the wave resistance of the wave screen without changing the characteristics of the attenuation curve. However, the width of the holes in the corrugated screen changes.



  The reshaping of the wave resistance by adding a new element shows a certain relationship with the effect of the end networks. But while the end networks at the input and output of the filter chain are connected in a chain, this is a parallel connection of two four-pole connections.



       Project planning <I> the </I> wave screens: When planning the wave screens according to the invention, it is expedient to proceed in such a way that inan for a certain group of wave screens (for example with a geometric distribution of the resonance frequencies) the attenuation curves are dependent on the parameters that determine the steepness and the symmetry,

   and the wave resistances - insofar as the wave impedance is to be flattened - draws as a function of the parameter y. In practical tasks, the sizes of the permeability range or the wave resistance are given. My selects the sizes k ', J ,, n from the drawn attenuation and wave resistance curves according to the desired course.

   The dimensioning of the individual elements of the wave sieve is then carried out by converters based on the parameters mentioned. The following is a compilation of the formulas according to which for the five earlier be. In the case of exemplary embodiments, the dimensioning of the shaft screens can be made from exemplary embodiment <I> 1:

  </I> (Geometric distribution of the resonance frequencies, two sub-filters.) The attenuation curves and wave resistance curves are calculated using the definition of w = P ex according to the equations dos (@ - a '<I> <U> (x </ U> </I> -f- <I><U>k</U> </I> a) \ G 'lil <I> <U> (x - a) </U> </I> - f- 21 <U> a '<I> (x - ka) </I> a <I> (r </I> </U> --f- <U> a)

  . </U> a '<I> (x </I> - @ - <I> ka) </I> .a <I> (x - a) </I> - d2 a' <I> (x - ka) </I> a <I> (x </I> + <I> a) '</I> - & 2in, <U> x </U> a, a where through, $ o the wave resistance of the hole center is given.



  Since the wave resistance does not change in its course when A and 7c vary, it is sufficient in this case to draw the attenuation curve in order to obtain an overview of the values of k and d which are favorable for practical conditions.

    The given task determines: the limits of the permeability range coi, co4, the magnitude of the wave resistance s8o. The value, sso is related to the mean wave impedance, 3, which must match the terminating resistors (for example of the connected line) when adapted
EMI0009.0029
    rich in the approximately elliptical wave resistance in the Durchlaßsbe.

   To achieve a desired course of the damping curve, the parameters 7c and d are selected after looking at the previously drawn family of damping curves (see FIG. 1), advantageously within the limits: k = 0.5 = 0.6, d = 0 , 9 = 1.1.



  After these constants have been determined, the values of the mean hole frequency become
EMI0009.0038
    and the relative hole width
EMI0009.0039
    and the natural frequencies (o2 <I> = </I> Sl E-cos <I> = </I> SZe + x2 calculated and the help quantities
EMI0009.0044
    determined.

   The dimensioning of the elements of the wave screen then results from this
EMI0009.0045
    <I> Embodiment 2: </I> (Arithmetic distribution of the squares of the resonance frequencies, two sub-filters.) The attenuation curves and wave resistance curves are defined by:
EMI0009.0048
    calculated according to the equations
EMI0009.0049
    For the reasons mentioned in the previous embodiment with regard to the wave resistance, one can be satisfied with drawing the attenuation curves as a function of the pairs k and .1 in order to determine favorable k and .l values.

   The: Calculation of the elements of the wave screen is carried out in a similar way to that given in Example 1 according to the scheme: given: the hole boundaries: 0) i, c04 the magnitude of the wave resistance:
EMI0010.0005
    are chosen: the slope factor k z.

   Example between 0.6 and 0.6, the symmetry factor .i for example between 0.9 and 1.1; the hole frequency is calculated in sequence:
EMI0010.0008
    the relative hole width:
EMI0010.0009
    the natural frequencies of the oscillation circles:
EMI0010.0010
    as auxiliary variables the factors:
EMI0010.0012
    and finally the size of the self-induction and capacities:
EMI0010.0015
    For the special case (b = 1) there is a low-pass filter.



  <I> Embodiment 3: </I> (Arithmetic distribution of the reciprocal squares of the resonance frequencies of two sub-filters.) The attenuation curves and wave resistance curves are determined by defining the values x
EMI0010.0020
    calculated according to the equations
EMI0010.0021
    Here, too, it is sufficient to determine the damping curves, depending on the parameters k and.l. The calculation of the elements of the wave screen is similar to that given in Example 1 according to the following scheme: the hole frequencies: c) 1, ao4 the size of the wave resistance:

    
EMI0010.0027
    slope factors k between 0.5 and 0.6 are selected, for example. Symmetry factor .i for example between 0.9 and 1.1, the hole frequencies are calculated in sequence
EMI0010.0030
    and the relative hole width
EMI0010.0031
    the natural frequencies of the oscillation circles:
EMI0010.0032
    the auxiliary variables
EMI0010.0033
    and finally the size of the self-induction and capacities: -
EMI0011.0001
    For the special case b = 1, the sieve chain supplies a high-pass filter.



  <I>. Embodiment 4: </I> (Geometric distribution of the resonance frequencies, three sub-filters, one of them for wave resistance flattening.) The attenuation and wave resistance course are determined by defining x by c) = n ex by
EMI0011.0007
         , 3o is independent of x and indicates the wave resistance of the hole center. The characteristic of the wave resistance as a function of x is symmetrical and can be influenced by choosing the factor n.

   One draws attenuation curves as a function of the parameters d and k 'and wave resistance curves as a function of the parameter .t. After the factors k ', .l and <I> n </I> have been selected from these curves, the elements of the corrugated screen are then calculated as follows:

    given: the limits of the permeability range) z, oll, the size of the approximately constant wave resistance, Bo, is selected: steepness factor k 'for example between 0.5 and 0.6, symmetry factor d for example between 0.9 and 1, 1, leveling factor n2, for example between 0.5 and 0.6.



  from this the following is calculated in sequence: the hole frequency:
EMI0011.0021
    the relative hole width:
EMI0011.0022
    the constants ct and <I> k </I> from the equations:
EMI0011.0024
    The natural frequencies of the oscillation circles: wo <I> = </I> Col <I> = </I> .i2 <I> eaj </I> 0U2 <I> = </I> .i2 e-7e a oJS < I> = </I>, Qe + lca;

          o) 4 <I> = </I> 00b <I> = </I>. @ e + a the auxiliary factors
EMI0011.0035
    and finally the size of the self-inductances and capacities
EMI0011.0038
      <I> Exemplary embodiment </I> .5 .: (Geometric distribution of the resonance frequencies, two sub-filters. Characteristic impedance plane.) The attenuation and wave impedance curves are defined by x by: m <I> = </I> 2e "    determined by:

    
EMI0012.0008
         , sgo is independent of x and gives the wave resistance of the 'hole center. After selecting the factors d and n from the curves drawn, the elements of the wave screen are calculated according to the scheme given. the limits of the permeability range _col, col, size of the wave resistance, 73-o, selected: symmetry factor d, for example between 0; 9 and 1.1, leveling factor n2, for example between 0.5 and 0.7.



  The hole frequency can be calculated from this in sequence
EMI0012.0018
    the relative hole width
EMI0012.0019
    the constant a by the equation
EMI0012.0022
    the natural frequencies of the oscillation circles wo = wi <I> = </I> SZ <I> e </I> -a;

          a) 4 = coe <I> = </I> SZ <I> e </I> + the auxiliary factors
EMI0012.0030
    and finally the size of the self-inductances and capacities
EMI0012.0033
    In a manner similar to that shown in the exemplary embodiments 1-5, the calculation of the individual elements is also to be carried out for wave screens with a larger number of sub-filters with or without wave resistance leveling.

 

Claims (1)

PATENTANSPRUCH: Wellensieb nach dem Patentanspruch des Hauptpatentes, dadurch gekennzeichnet, dass das Wellensieb derart aufgebaut ist, dass der Symmetriegrad seiner Dämpfungskurve im wesentlichen allein eine Funktion eines Para meters (.l) ist, der nur von den Impedanzen des Teilfilters grösster Lochbreite, nicht aber von den Grenzfrequenzen dieses Teilfilters abhängt. UNTERANSPRÜCHE: 1. PATENT CLAIM: Shaft strainer according to the patent claim of the main patent, characterized in that the shaft strainer is constructed in such a way that the degree of symmetry of its damping curve is essentially a function of a parameter (.l) that only depends on the impedances of the partial filter, but not the largest hole width depends on the cut-off frequencies of this sub-filter. SUBCLAIMS: 1. Wellensieb nach Patentanspruch, unter Verwendung von Teilfiltern, die aus paral lelen Zweigen aufgebaut sind, von denen jeder aus einer Serienschaltung eines Kon- densätors mit einer Spule besteht, dadurch gekennzeichnet, da.ss die Resonanzfrequen zen der einzelnen Zweige der Teilfilter bei etwa gleicher Lochmitte der Teilfilter nach einem Bildungsgesetz verteilt sind, das als Abbildung einer arithmetischen Verteilung durch eine Funktion mit mono toner Steigung und Krümmung darstellbar ist, wobei der Grad der Symmetrie der Dämpfungskurve im wesentlichen nur durch einen Parameter (.1), Wave screen according to patent claim, using partial filters which are made up of parallel branches, each of which consists of a series connection of a capacitor with a coil, characterized in that the resonance frequencies of the individual branches of the partial filters with approximately the same hole center the sub-filters are distributed according to a formation law that can be represented as a mapping of an arithmetic distribution by a function with mono-toned slope and curvature, the degree of symmetry of the attenuation curve essentially only by one parameter (.1), die Steilheit der Dämpfungskurve durch m- 1 Para- rneter (ki <I>. . .</I> k._1) bestimmt ist, wenn m die Anzahl der. Teilfilter angibt. 2. the steepness of the damping curve is determined by m- 1 parameters (ki <I>... </I> k._1), if m is the number of. Sub-filter indicates. 2. Wellensieb nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Resonanzfrequen zen der einzelnen Zweige der Teilfilter geometrisch verteilt und die Parameter bestimmt sind durch EMI0013.0002 wenn roi <B>...</B> co2. die Resonanzfrequenzen der Teilfilterzweige, in ihren Indizes nach der Grösse geordnet, und L1, C, bezw. L2 m, 02. die Elemente des Teilfilters mit grösster Lochbreite (co., m - coi) bedeuten. 3. Wave screen according to claim, characterized in that the resonance frequencies of the individual branches of the sub-filters are geometrically distributed and the parameters are determined by EMI0013.0002 if roi <B> ... </B> co2. the resonance frequencies of the sub-filter branches, arranged in their indices according to the size, and L1, C, respectively. L2 m, 02. mean the elements of the partial filter with the largest hole width (co., M - coi). 3. Wellensieb nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Quadrate der Resonanzfrequenzen coi . . - co2. der Teil filterzweige und die Parameter bestimmt sind durch EMI0013.0014 wenn L i und L2. die Induktivitäten der Zweige des Teilfilters mit grösster Loch breite mit den Resonanzfrequenzen coi und co2. bedeuten. 4. Wave screen according to claim, characterized in that the squares of the resonance frequencies coi. . - co2. the part filter branches and the parameters are determined by EMI0013.0014 if L i and L2. the inductances of the branches of the partial filter with the largest hole width with the resonance frequencies coi and co2. mean. 4th Wellensieb nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass diereziproken Quadrate der Resonanzfrequenzen cvi . . . . ao2 n, arithmetisch verteilt und die Parameter k und .i bestimmt sind durch EMI0013.0027 wenn C, und 02. die Kapazitäten der Zweige des Teilfilters mit grösster Loch breite mit den Resonanzfrequenzen coi und c92 m bedeuten. 5. Wave screen according to claim, characterized in that the reciprocal squares of the resonance frequencies cvi. . . . ao2 n, arithmetically distributed and the parameters k and .i are determined by EMI0013.0027 if C, and 02. mean the capacities of the branches of the partial filter with the largest hole width with the resonance frequencies coi and c92 m. 5. Wellensieb nach Unteranspruch 2, da durch gekennzeichnet, dass die Werte von k und .1 0,5-0,6 bezw. 0,9-1,1 betragen. 6. Wellensieb nach Unteranspruch 3, da durch gekennzeichnet, dass die Werte von k und .l 0,5-0,6 bezw. 0,9-1,1 betragen. 7. Wellensieb nach Unteranspruch 4,- da durch gekennzeichnet, dass die Werte von k und .i 0,5-0,6 bezw. 0,9.-1,1 be tragen. B. Wave screen according to dependent claim 2, characterized in that the values of k and .1 0.5-0.6 respectively. 0.9-1.1. 6. Wave screen according to dependent claim 3, characterized in that the values of k and .l 0.5-0.6 respectively. 0.9-1.1. 7. Wave screen according to dependent claim 4, - characterized in that the values of k and .i 0.5-0.6 respectively. 0.9-1.1. B. Wellensieb nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass eines der Teilfilter zur Ebenung des Wellenwiderstandes dient und mit gleicher Lochbreite wie dasjenige der übrigen Teilfilter, das die grösste Lochbreite besitzt, jedoch mit einem abweichenden Wellenwiderstandsverlauf bemessen und mit einseitig entgegenge setzter Polung zu diesem Teilfilter ange schlossen ist. 9. Wave screen according to patent claim, characterized in that one of the sub-filters serves to level the wave resistance and is dimensioned with the same hole width as that of the other sub-filters, which has the largest hole width, but with a different wave resistance curve and is connected to this sub-filter with one-sided opposite polarity . 9. Wellensieb nach Unteranspruch 8, da durch gekennzeichnet, dass die Resonanz " frequenzen der einzelnen Zweige der Teil filter bei etwa gleicher Lochmitte der Teilfilter nach einem Bildungsgesetz ver teilt sind, das als Abbildung einer arith metischen Verteilung durch eine Funktion mit monotoner Steigung und Krümmung darstellbar ist, wobei der Grad der Sym metrie der Dämpfungskurven im wesent lichen nur durch einen Parameter 2, die Steilheit der Dämpfungskurve durch in-1 Parameter (k', <I>. . Wave sieve according to dependent claim 8, characterized in that the resonance "frequencies of the individual branches of the sub-filter are distributed with approximately the same hole center of the sub-filter according to a formation law that can be represented as a mapping of an arithmetic distribution by a function with monotonic slope and curvature , whereby the degree of symmetry of the damping curves is essentially only given by one parameter 2, the steepness of the damping curve by in-1 parameters (k ', <I>... .</I> V.-i) und der Grad der Ebenung des Wellenwider- standsverlaufes durch einen Parameter n bestimmt ist, wobei m -f- 1 die Anzahl der Teilfilter ist. 10. . </I> V.-i) and the degree of flattening of the wave resistance curve is determined by a parameter n, where m -f- 1 is the number of sub-filters. 10. Wellensieb nach Unteranspruch 9, da durch gekennzeichnet, dass die Reso nanzfrequenzen der Teilfilterzweige geo metrisch verteilt und die Parameter be stimmt sind durch EMI0013.0054 EMI0014.0001 EMI0014.0002 wenn <SEP> a <SEP> die <SEP> halbe <SEP> relative <SEP> Lochbreite <SEP> des <tb> Teilfilters <SEP> mit <SEP> grösster <SEP> Lochbreite <SEP> (CO-2. <tb> bis <SEP> coi), <SEP> <I>a</I> <SEP> die <SEP> halbe <SEP> relative <SEP> Lochbreite <tb> des <SEP> Wellensiebes <SEP> selbst <SEP> ist <SEP> und <SEP> coo, <SEP> coi, <tb> <I>co,n, <SEP> cum+i</I> <SEP> die <SEP> Resonanzfrequenzen <SEP> der EMI0014.0003 Teilfilterzweige <SEP> mit <SEP> ihren <SEP> Indizes <SEP> nach <tb> ihrer <SEP> Grösse <SEP> geordnet <SEP> bedeuten, <SEP> wobei <SEP> die <tb> Resonanzfrequenzen <SEP> des. Wave screen according to dependent claim 9, characterized in that the resonance frequencies of the sub-filter branches are distributed geometrically and the parameters are determined by EMI0013.0054 EMI0014.0001 EMI0014.0002 if <SEP> a <SEP> the <SEP> half the <SEP> relative <SEP> hole width <SEP> of the <tb> Partial filter <SEP> with <SEP> largest <SEP> hole width <SEP> (CO-2. <tb> to <SEP> coi), <SEP> <I> a </I> <SEP> the <SEP> half the <SEP> relative <SEP> hole width <tb> of the <SEP> shaft sieve <SEP> itself <SEP> is <SEP> and <SEP> coo, <SEP> coi, <tb> <I> co, n, <SEP> cum + i </I> <SEP> the <SEP> resonance frequencies <SEP> of the EMI0014.0003 Sub-filter branches <SEP> with <SEP> according to their <SEP> indices <SEP> <tb> their <SEP> size <SEP> ordered <SEP> mean, <SEP> where <SEP> means the <tb> resonance frequencies <SEP> des. <SEP> die-Wellenwider standsumbildung <SEP> bewirkenden <SEP> Teilfilters <tb> a<B>0</B>0 <SEP> = <SEP> coi <SEP> und <SEP> co.+i <SEP> = <SEP> c). <SEP> sind <SEP> und <SEP> Li, <tb> <B>ei</B> <SEP> bezw. <SEP> L2., <SEP> <I>C2.</I> <SEP> die <SEP> Elemente <SEP> des <tb> Teilfilters <SEP> mit <SEP> grösster <SEP> Lochbreite <SEP> <I>(co2 <SEP> m</I> <tb> bis <SEP> co) <SEP> darstellen. <SEP> <SEP> the <SEP> partial filter causing the wave resistance conversion <tb> a <B> 0 </B> 0 <SEP> = <SEP> coi <SEP> and <SEP> co. + i <SEP> = <SEP> c). <SEP> are <SEP> and <SEP> Li, <tb> <B> ei </B> <SEP> resp. <SEP> L2., <SEP> <I> C2. </I> <SEP> the <SEP> elements <SEP> of the <tb> Partial filter <SEP> with <SEP> largest <SEP> hole width <SEP> <I> (co2 <SEP> m </I> <tb> to <SEP> co) <SEP> represent.
CH180307D 1929-08-31 1931-09-30 Wave screen made up of two or more sub-filters. CH180307A (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES93683D DE615967C (en) 1929-08-31 1929-08-31 Wave screen made up of two or more sub-filters
DES94375D DE617084C (en) 1929-08-31 1929-10-14 Electric switch made of two or more wave filters
DE618339T 1930-10-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH180307A true CH180307A (en) 1935-10-15

Family

ID=27207217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH180307D CH180307A (en) 1929-08-31 1931-09-30 Wave screen made up of two or more sub-filters.

Country Status (6)

Country Link
BE (1) BE383164A (en)
CH (1) CH180307A (en)
DE (1) DE618339C (en)
FR (1) FR40840E (en)
GB (1) GB394697A (en)
NL (1) NL42097C (en)

Also Published As

Publication number Publication date
BE383164A (en)
FR40840E (en) 1932-09-07
NL42097C (en)
GB394697A (en) 1933-07-03
DE618339C (en) 1935-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE742179C (en) Wave filter like a bridged T-circuit
DE678435C (en) Electrical network, in particular filter or phase-delaying network, consisting of a cross member or an equivalent network
CH180307A (en) Wave screen made up of two or more sub-filters.
AT136506B (en) Wave screen made up of two or more sub-filters.
DE1912096C3 (en) Single Coil FM WT Discriminator
DE503747C (en) Simple or chain-like wave filter with series and shunt branches
DE2222783A1 (en) Transformers built up with gyrators in integrated circuit technology
DE647060C (en) Adjustable wave filter with constant absolute bandwidth
DE743934C (en) Wave filter made up of several elements connected in series, which all have the same transmission range and which each contain piezoelectric crystals as impedances
DE2832168C2 (en) Electric frequency filter
DE681530C (en) Crystal filter with adjustable bandwidth, especially for superhet receivers
DE685150C (en) Short wave receiver with at least one regulated amplifier tube
DE977637C (en) Three-circle band filter
DE1302926C2 (en) ELECTRIC WAVE FILTER CONSTRUCTED AS A DIFFERENTIAL BRIDGE FILTER
DE863362C (en) Frequency-dependent network with changeable frequency response
DE634027C (en) Adjustable wave filter with constant absolute bandwidth
DE865922C (en) Ultra short wave filter
DE635961C (en) Wave screen made up of two or more sub-filters
DE908750C (en) Impedance inverting network
EP0044909A2 (en) High-frequency multiple-distribution circuit arrangement
DE842678C (en) Impedance measuring bridge
DE897859C (en) Broadband transmitter for audio and television frequencies
DE691989C (en) Process for tuning and testing of selective means, especially of band filters for carrier frequency systems
AT393571B (en) Transformer combination for bandwidth enlargement for radio-frequency power transistor stages
DE874921C (en) Filter arranged between two amplifier tubes