BR9801715A - Processo para obter medidas lineares de um ou mais parâmetros de um dispositivo - Google Patents

Abstract

"PROCESSO PARA OBTER MEDIDAS LINEARES DE UM OU MAIS PARâMETROS DE UM DISPOSITIVO". A invenção é um processo para obter medidas lineares de um ou mais parâmetros p~ m~ de um dispositivo possuindo uma ou mais portas de entrada i e uma porta de saída, onde m assume valores inteiros de 1 a M, sendo M um inteiro igual ou maior que 1, i assumindo valores inteiros de 1 a I, sendo I um inteiro igual ou maior que 1. O dispositivo faz com que um ou mais sinais de entrada G~ i~(p~ m~)E~ ei~(t) que alimentam uma ou mais portas de entrada sejam transformados em um sinal de saída compreendendo um somatório em i de G~ i~(p~ m~)H~ i~(p~ m~)E~ oi~(t) na porta de saída. A função G~ i~(p~ m~) é uma função de ponderação associada com a i-ésima porta de entrada, E~ ei~(t) sendo um sinal de excitação associado com a i-ésima porta de entrada, E~ oi~(t) sendo a transformação do sinal de excitação E~ ei~(t) que resulta de E~ ei~(t) atravessando o caminho a partir da porta de entrada i para a porta de saída. Os sinais E~ ei~(t) e E~ oi~(t) são ambos independentes do parâmetro p~ m~. A função produto G~ i~(p~ m~) H~ i~(p~ m~) é representável por uma série de potência de ordem N~ im~ em p~ m~, o valor de N~ im~ dependendo de uma precisão especificada de representação. O processo compreendendo as etapas (1) geração de uma ou mais funções de ponderação de linearização G~ il~(p~ m~) para as quais o sinal de saída é uma medida linear do parâmetro p~ m~ para a precisão de representação especificada, (2) alimentação dos sinais de entrada G~ il~(p~ m~)E~ ei~(t) no dispositivo; e (3) uso de uma componente do sinal de saída como medida linear de cada um ou mais parâmetros p~ m~ .