BR112020025990A2

BR112020025990A2 - método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica

Info

Publication number: BR112020025990A2
Application number: BR112020025990-0A
Authority: BR
Inventors: Cédric Lemaire
Original assignee: Essilor International
Priority date: 2018-06-21
Filing date: 2019-06-21
Publication date: 2021-03-23
Also published as: WO2019243568A1; EP3588048A1; CN112262306B; US20210164864A1; CN112262306A; US11709110B2; EP3811047B1; EP3811047A1

Abstract

"MÉTODO PARA DETECÇÃO DE UM DEFEITO EM UMA ZONA DE INTERESSE DE UMA LENTE ÓPTICA". Método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica, o método compreendendo: - uma etapa de recepção de imagens (S6), durante a qual é recebida uma pluralidade de imagens, cada imagem compreende uma vista da zona de interesse em frente de uma pluralidade de padrões específicos, cada padrão específico compreendendo uma área clara e uma área escura, e pelo menos uma imagem recebida é saturada em intensidade de luz, - uma etapa de amostragem (S7), durante a qual cada imagem da pluralidade de imagens é amostrada com base em um padrão de amostragem comum, - uma etapa de recombinação (S10), durante a qual é determinada uma imagem recombinada da zona de interesse com base no padrão de amostragem comum, e - uma etapa de detecção de defeitos (S12), durante a qual é detectado um defeito na zona de interesse da lente óptica com base em uma análise da imagem recombinada.

Description

Relatório Descritivo da Patente de Invenção para "MÉTODO

PARA DETECÇÃO DE UM DEFEITO EM UMA ZONA DE INTERESSE DE UMA LENTE ÓPTICA". CAMPO DO INVENTO

[0001] A presente invenção refere-se a um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica.

[0002] A invenção refere-se ainda a um método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas, um método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica, um método para controle de um processo de fabricação de lente óptica e um aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica.

ANTECEDENTES DA INVENÇÃO

[0003] Durante as diferentes etapas de um processo de fabricação de uma lente óptica, podem surgir vários tipos de defeitos.

[0004] Atualmente, o controle cosmético de lentes ópticas é efetuado manualmente por um operador usando, por exemplo, um aparelho "referencial 17" ou uma lâmpada de arco voltaico.

[0005] Por consequência, é necessário um método permitindo um controle cosmético automatizado de lentes ópticas, com maior fiabilidade e possibilidade de armazenamento de dados de controle.

[0006] Um objetivo da presente invenção é fornecer esse método.

[0007] Outro objetivo da invenção é fornecer um método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas, um método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica, um método para controle de um processo de fabricação de lente óptica e um aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica.

SUMÁRIO DA INVENÇÃO

[0008] Para essa finalidade, a invenção propõe um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica, o método compreendendo: - uma etapa de recepção de imagens, durante a qual é recebida uma pluralidade de imagens, cada imagem compreende uma vista da zona de interesse em frente de uma pluralidade de padrões específicos, cada padrão específico compreendendo uma área clara e uma área escura, e pelo menos uma imagem recebida é saturada em intensidade de luz, - uma etapa de amostragem, durante a qual cada imagem da pluralidade de imagens é amostrada com base em um padrão de amostragem comum, - uma etapa de recombinação, durante a qual é determinada uma imagem recombinada da zona de interesse com base no padrão de amostragem comum, e - uma etapa de detecção de defeitos, durante a qual é detectado um defeito na zona de interesse da lente óptica com base em uma análise da imagem recombinada.

[0009] Vantajosamente, o método da invenção permite efetuar um controle cosmético de lentes ópticas adaptado para detectar um defeito com uma maior fiabilidade e exibindo o defeito detectado com uma maior visibilidade, devido à determinação de uma imagem recombinada da zona de interesse com base em pelo menos uma imagem saturada em intensidade de luz. A invenção é assim particularmente adaptada para conseguir exibir até defeitos de difusão.

[0010] De acordo com as modalidades, o método de acordo com a invenção pode compreender ainda uma ou diversas das seguintes particularidades de acordo com qualquer combinação possível:

- cada imagem recebida durante a etapa de recepção de imagens é saturada em intensidade de luz; e/ou - o método compreende ainda uma etapa de recepção de parâmetros definidos, durante a qual pelo menos um parâmetro definido é recebido para cada amostra de acordo com um dado critério com base na intensidade de luz da amostra em cada imagem; e/ou - durante a etapa de recombinação, é determinada a imagem recombinada da zona de interesse com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde a pluralidade de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a intensidade de luz mais baixa; e/ou - o defeito é um defeito de difusão; e/ou - a vista da zona de interesse em frente de um padrão específico compreende um padrão secundário que é relacionado com o padrão específico acima mencionado, e a pluralidade de padrões específicos é arranjada de modo que a sobreposição das áreas escuras de todos os padrões secundários corresponda a uma área escura que ocupe todo o espaço da imagem recombinada da zona de interesse; e/ou - o método compreende ainda: o uma etapa de fornecimento de sistema, durante a qual é fornecido um sistema compreendendo um dispositivo de exibição, um suporte para uma lente óptica e um dispositivo de aquisição de imagens, o sistema é configurado de modo que, quando uma lente óptica é posicionada no suporte, o dispositivo de exibição fique voltado para um primeiro lado da lente óptica e o dispositivo de aquisição de imagens fique voltado para um segundo lado da lente óptica, o uma etapa de posicionamento da lente óptica, durante a qual a lente óptica é posicionada no suporte, o uma etapa de exibição de padrão específico, durante a qual o dispositivo de exibição exibe um padrão específico, o uma etapa de aquisição de imagens, durante a qual o dispositivo de aquisição de imagens adquire uma imagem compreendendo uma vista da zona de interesse em frente do referido padrão específico, e o a etapa de exibição de padrão específico e a etapa de aquisição de imagens são repetidas até ser adquirida cada imagem; e/ou - pelo menos um padrão específico compreende listras claras e escuras alternadas; e/ou - um primeiro padrão específico compreende listras claras e escuras alternadas, cada listra se estendendo ao longo de uma primeira direção, e um segundo padrão específico é uma tradução do primeiro padrão específico em uma segunda direção sensivelmente perpendicular à primeira direção; e/ou - diferentes padrões específicos compreendem tanto listras claras como escuras alternadas, as listras no primeiro padrão específico são orientadas em uma primeira direção, e as listras no segundo padrão específico são orientadas em uma segunda direção; e/ou - o método compreende ainda uma etapa de agrupamento de imagens, durante a qual a pluralidade de imagens compreende um primeiro grupo de imagens e um segundo grupo de imagens diferente do primeiro grupo de imagens; e/ou - durante a etapa de recombinação, é determinada uma primeira imagem recombinada do primeiro grupo de imagens com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde o primeiro grupo de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a intensidade de luz mais baixa; e/ou - é determinada uma segunda imagem recombinada do segundo grupo de imagens com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde o segundo grupo de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais baixa; e/ou - é determinada uma terceira imagem recombinada com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra da primeira e da segunda imagens recombinadas a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais elevada; e/ou - a área escura de pelo menos um padrão específico tem uma superfície maior que a área clara do referido padrão específico; e/ou - durante a etapa de aquisição de imagens, o sistema é configurado de modo que a luminosidade do padrão secundário nas imagens seja ajustado para ter um valor local máximo e um mínimo, e o valor local mínimo seja inferior a

10% do valor máximo; e/ou - a etapa de aquisição de imagens compreende uma etapa de sobre-exposição de câmera, durante a qual a câmera é sobre-exposta de modo que a imagem adquirida durante a etapa de aquisição de imagens fique saturada; e/ou - o método compreende ainda, antes da etapa de aquisição de imagens, uma etapa de focalização, durante a qual o dispositivo de aquisição de imagens é focalizado na lente óptica, e a profundidade do campo é ajustada de modo que a zona de interesse da lente óptica se encontre em foco; e/ou - durante a etapa de focalização de imagens o padrão específico se encontra fora de foco; e/ou - a zona de interesse da lente óptica corresponde a toda a lente óptica; e/ou - todos os padrões específicos são traduções periódicas uns dos outros; e/ou - pelo menos um padrão específico é um padrão quadriculado compreendendo elementos claros e escuros alternados; e/ou - a segunda direção é sensivelmente perpendicular à primeira direção; e/ou - durante a etapa de agrupamento de imagens, a pluralidade de imagens é agrupada em um primeiro e um segundo grupos de imagens com base em um parâmetro relacionado com os padrões secundários em cada imagem; e/ou - o parâmetro relacionado com os padrões específicos é relacionado com uma diferença no formato, na orientação e/ou na cor entre os padrões secundários em cada imagem; e/ou - a área escura de pelo menos um padrão específico tem uma superfície pelo menos 1,5 vezes maior que a área clara do referido padrão específico; e/ou - a relação de superfície clara-escura de pelo menos um padrão específico, preferencialmente de cada padrão específico, é pelo menos igual a 1/10, preferencialmente pelo menos igual a 1/6, e no máximo igual a 1, preferencialmente no máximo igual a 1/2; e/ou - em pelo menos uma imagem, preferencialmente em cada imagem, a relação de superfície clara-escura da imagem é pelo menos igual a 30%, preferencialmente pelo menos igual a 70%, mais preferencialmente pelo menos igual a 80% e no máximo igual a 1000%, preferencialmente no máximo igual a 130%, mais preferencialmente pelo menos igual a 120%; em outras palavras, a relação de superfície clara-escura da imagem é compreendida na gama [30% a 1000%], preferencialmente compreendida na gama [70% a 130%], mais preferencialmente compreendida na gama [70% a 130%]; e/ou - uma superfície da lente óptica compreende uma ou mais marcações definindo uma dimensão ou distância evidente conhecida e, durante a etapa de recepção de imagens, a única ou mais marcações são visíveis em pelo menos uma imagem; e/ou - durante a etapa de recepção de imagens, pelo menos uma listra escura como visto através da lente óptica tem uma largura evidente, quando comparada com as dimensões da lente óptica, igual ou superior a 2 mm e igual ou inferior a 3 cm, e mais preferencialmente a, pelo menos uma, listra escura tem uma largura evidente, quando comparada com as dimensões da lente óptica, compreendida entre 5 mm e 2 cm incluídos, por exemplo, de cerca de 5 mm a 1 cm incluído e/ou - a lente óptica é uma lente oftálmica.

[0011] Convém notar que, na invenção, a expressão "é detectado um defeito" pode igualmente significar que é detectada uma ausência de defeito em uma zona de interesse particular. Em particular, isso se insere no significado da invenção quando a expressão "é detectado um defeito" se aplica a uma zona de interesse particular onde foi detectado um primeiro defeito em uma anterior etapa de detecção de defeitos.

[0012] Além do mais, a invenção propõe um método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas, o método compreendendo: - uma etapa de detecção de defeitos durante a qual é detectado pelo menos um defeito na zona de interesse de pelo menos uma lente óptica de acordo com um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica da invenção, e - uma etapa de classificação, durante a qual a pluralidade de lentes ópticas é classificada com base pelo menos no, pelo menos um, defeito detectado durante a etapa de detecção de defeitos.

[0013] Outro objetivo da invenção é um método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica, o método compreendendo: - uma primeira etapa de detecção de defeitos durante a qual é detectado um defeito na zona de interesse da lente óptica de acordo com um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica da invenção, - uma etapa de modificação, durante a qual a lente óptica é modificada,

- uma segunda etapa de detecção de defeitos durante a qual é detectado um segundo defeito na zona de interesse da lente óptica transformada, e - uma etapa de comparação, durante a qual o primeiro defeito e o segundo defeito são comparados.

[0014] O método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica pode compreender ainda uma ou diversas das seguintes particularidades de acordo com qualquer combinação possível: - a etapa de modificação compreende uma etapa de polimento; e/ou - a etapa de modificação compreende uma etapa de fabricação; e/ou - a etapa de modificação compreende uma etapa de revestimento; e/ou - a etapa de modificação compreende uma etapa de laminação de bordas.

[0015] A invenção propõe ainda um método para controle de um processo de fabricação de lente óptica compreendendo as etapas de: a) fabricação de uma lente óptica de acordo com um processo de fabricação usando um dispositivo de fabricação, b) detecção pelo menos de um defeito em uma zona de interesse da lente óptica da etapa a) de acordo com um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica da invenção, c) registro do, pelo menos um, defeito detectado na etapa b), d) repetição regular das etapas a) a c) e checagem da evolução do, pelo menos um, defeito detectado ao longo do tempo, em que a evolução de pelo menos um parâmetro do dispositivo de fabricação usado durante o processo de fabricação de lente óptica é checada ao longo do tempo, e a evolução ao longo do tempo de pelo menos um parâmetro da lente óptica é relacionada com a evolução ao longo do tempo do, pelo menos um, parâmetro do dispositivo de fabricação.

[0016] A invenção propõe ainda um aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica da invenção, o aparelho compreendendo: - uma memória adaptada para armazenar pelo menos duas imagens, cada imagem compreendendo uma vista da zona de interesse em frente de um padrão específico, o padrão específico correspondendo à primeira imagem sendo diferente do padrão específico correspondendo à segunda imagem, cada padrão específico compreendendo uma área clara e uma área escura, para cada amostra da zona de interesse, pelo menos uma imagem compreendendo uma vista da referida amostra em frente de uma área escura de um padrão específico, e pelo menos uma imagem sendo saturada em intensidade de luz, - uma unidade de tratamento de imagens comunicando com a memória, a unidade de tratamento de imagens sendo configurada para gerar uma imagem recombinada com base nas, pelo menos duas, imagens, e - meios de detecção para detectar um defeito na zona de interesse da lente óptica com base na imagem recombinada.

[0017] O aparelho de acordo com a invenção pode compreender ainda: - um dispositivo de exibição voltado para um primeiro lado da lente óptica e configurado para iluminar a zona de interesse da lente óptica de acordo com uma pluralidade de padrões específicos sucessivos compreendendo uma área clara e uma área escura; e/ou - um dispositivo de aquisição de imagens configurado para adquirir pelo menos duas imagens, cada imagem compreende uma vista de um segundo lado da lente óptica da zona de interesse em frente de um padrão específico.

[0018] De acordo com um outro aspecto, a invenção se relaciona com um produto de programa de computador compreendendo uma ou mais sequências armazenadas de instruções que são acessíveis a um processador e que, quando executadas pelo processador, fazem com que o processador realize pelo menos uma das etapas de um método de acordo com a invenção.

[0019] A invenção se relaciona ainda com um meio legível por computador realizando uma ou mais sequências de instruções do produto de programa de computador de acordo com a invenção.

[0020] Ademais, a invenção refere-se a um programa que faz com que um computador execute pelo menos uma das etapas de um método da invenção.

[0021] A invenção refere-se igualmente a um meio de armazenamento legível por computador tendo um programa aí gravado; onde o programa faz com que o computador execute pelo menos uma das etapas de um método da invenção.

[0022] A invenção refere-se ainda a um dispositivo compreendendo um processador adaptado para armazenar uma ou mais sequências de instruções e para realizar pelo menos uma das etapas do método de acordo com a invenção.

[0023] Salvo referência específica em contrário, como é evidente desde as seguintes discussões, é reconhecido que em todo o relatório descritivo as discussões utilizando termos como "computando", "calculando" ou afins se referem à ação e/ou aos processos de um computador ou sistema de computação, ou dispositivo de computação eletrônico similar, que manipulam e/ou transformam dados representados como quantidades físicas, como por exemplo eletrônicas, nos registros e/ou nas memórias do sistema de computação em outros dados similarmente representados como quantidades físicas nas memórias, nos registros ou em outros desses dispositivos de armazenamento, transmissão ou exibição de informações do sistema de computação.

[0024] As modalidades da presente invenção podem incluir aparelhos para efetuar as operações aqui referidas. Esses aparelhos podem ser especialmente construídos para os propósitos desejados, ou podem compreender um computador universal ou Processador de Sinais Digitais (DSP - Digital Signal Processor) seletivamente ativado ou reconfigurado por um programa de computador armazenado no computador. Esse programa de computador pode ser armazenado em um meio de armazenamento legível por computador, como, mas não se limitando a, qualquer tipo de disco incluindo disquetes, discos ópticos, CD-ROMs, discos magnéticos-ópticos, memória somente de leitura (ROMs - Read-Only Memories), memórias de acesso aleatório (RAMs - Random Access Memories), memórias somente de leitura eletricamente programáveis (EPROMs - Electrically Programmable Read-Only Memories), memórias somente de leitura eletricamente apagáveis e programáveis (EEPROMs - Electrically Erasable and Programmable Read Only Memories), cartões magnéticos ou ópticos, ou qualquer outro tipo de meios adequados para armazenamento de instruções eletrônicas, e com capacidade para serem acoplados em um barramento de sistema informático.

[0025] Os processos e displays não se relacionam inerentemente com qualquer computador particular ou outro aparelho. Vários sistemas universais podem ser usados com programas de acordo com os ensinamentos aqui referidos, ou pode ser demonstrado ser conveniente a construção de um aparelho mais especializado para efetuar o método desejado. A estrutura desejada para uma variedade desses sistemas surgirá a partir da descrição abaixo. Além disso, as modalidades da presente invenção não são descritas com referência a qualquer linguagem de programação particular. Será reconhecido que pode ser usada uma variedade de linguagens de programação para implementar os ensinamentos das invenções como aqui descrito.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS

[0026] As modalidades da invenção serão descritas em seguida, somente a título de exemplo, e com referência aos seguintes desenhos, nos quais:

[0027] - a Figura 1 é um fluxograma de etapas diferentes de um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com a invenção;

[0028] - a Figura 2 é um fluxograma de etapas diferentes de um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com uma modalidade da invenção;

[0029] - a Figura 3 é um fluxograma de etapas diferentes de um método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas de acordo com a invenção;

[0030] - a Figura 4 é um fluxograma de etapas diferentes de um método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica de acordo com a invenção;

[0031] - a Figura 5 é um fluxograma de etapas diferentes de um método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica de acordo com uma modalidade da invenção;

[0032] - a Figura 6 é um fluxograma de etapas diferentes de um método para controle de um processo de fabricação de lente óptica de acordo com a invenção;

[0033] - a Figura 7 é uma representação esquemática de um aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com a invenção; e

[0034] - a Figura 8 é uma representação esquemática de um aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com uma modalidade da invenção.

[0035] Os elementos nas Figuras são ilustrados por motivos de simplicidade e clareza e não foram necessariamente desenhados em tamanho real. Por exemplo, as dimensões de alguns dos elementos nas Figuras podem ser exageradas em relação a outros elementos para ajudar a melhorar o entendimento das modalidades da presente invenção.

DESCRIÇÃO DETALHADA DE MODALIDADES PREFERIDAS

[0036] A invenção refere-se a um método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica. A lente óptica pode ser uma lente de óculos, uma lente de visão única, uma lente bifocal, uma lente multifocal, uma lente de adição progressiva, uma lente oftálmica, uma lente semiacabada, uma lente acabada, uma lente de bordas laminadas, uma lente não cortada ou uma lente padrão.

[0037] A zona de interesse de uma lente óptica pode ser toda a lente óptica.

[0038] Vantajosamente, o controle cosmético é efetuado em toda a lente óptica.

[0039] Se a lente óptica for uma lente não cortada que tem de ser cortada durante uma etapa de laminação de bordas consoante o tamanho e o formato de uma armação de óculos, a zona de interesse pode compreender a, ou consistir na, parte da lente óptica destinada a permanecer após a laminação de bordas.

[0040] Se a lente óptica for uma lente de adição progressiva, a zona de interesse da lente óptica pode compreender pelo menos: - um ponto de controle de visão de longe (VL), - um ponto de controle de visão de perto (VP), - uma linha principal (P) começando desde uma extremidade da zona de interesse óptico, terminando na extremidade oposta da zona de interesse óptico e passando pelos pontos de controle de visão de longe e de perto.

[0041] Como ilustrado na Figura 1, o método de acordo com a invenção compreende pelo menos: - uma etapa de recepção de imagens S6, - uma etapa de amostragem S7, - uma etapa de recombinação S10, e - uma etapa de detecção de defeitos S11.

[0042] A zona de interesse óptico da lente óptica pode ser determinada com base na lente óptica quer antes da etapa de recepção de imagens S6, como por exemplo durante a aquisição das imagens, quer durante o tratamento das imagens, ou seja, durante a etapa de amostragem S7, quer durante a etapa de recombinação S10, quer durante a etapa de detecção de defeitos S11.

[0043] Durante a etapa de recepção de imagens S6, é recebida uma pluralidade de imagens. Cada imagem compreende uma vista da zona de interesse em frente de um padrão específico.

[0044] A vista da zona de interesse em frente de um padrão específico compreende um padrão secundário que é relacionado com o padrão específico acima mencionado. O padrão secundário pode ser modulado pela saturação possível de intensidade de luz, pela presença de um defeito na, ou sobre a, lente óptica, pela potência óptica da lente óptica e/ou por quaisquer fatores ópticos associados ao aparelho usado para recolher a imagem e a representar.

[0045] Pelo menos duas imagens correspondem a padrões específicos diferentes. De acordo com o método da invenção, pelo menos uma imagem recebida é saturada em intensidade de luz e, preferencialmente, pelo menos duas das imagens recebidas são saturadas em intensidade de luz.

[0046] A luminosidade varia em cada padrão específico com a posição e tem um valor local máximo (Máx.) e um mínimo (Mín.). O contraste de cada padrão específico é de modo que o valor local mínimo seja inferior a 10% do valor máximo.

[0047] Cada padrão específico compreende uma área clara e uma área escura. No sentido da invenção, uma "área escura" de um padrão específico é uma área cujos valores de luminosidade local não excedem 20% do valor máximo, e uma "área clara" de um padrão específico é uma área cujos valores de luminosidade local excedem 80% do valor máximo.

[0048] No sentido da invenção, uma imagem saturada em intensidade de luz tem uma relação de superfície clara-escura mais elevada que o padrão específico correspondente.

[0049] Vantajosamente, uma imagem saturada compreende uma zona "cinza" menos alargada, intermédia entre clara e escura, em comparação com uma imagem não saturada, que facilita a identificação subsequente de um defeito com base na referida imagem.

[0050] Em uma modalidade, cada imagem recebida é saturada em intensidade de luz.

[0051] Nas modalidades, a pluralidade de padrões específicos é arranjada de modo que a sobreposição das áreas escuras de todos os padrões secundários seja uma área escura que ocupa todo o espaço da imagem recombinada da zona de interesse.

[0052] Vantajosamente, na recombinação subsequente de uma imagem, o método permite detectar um defeito com uma elevada fiabilidade em toda a zona de interesse, devido à sobreposição das áreas escuras de todos os padrões secundários ocupando todo o espaço da zona de interesse.

[0053] Nas modalidades, pelo menos um padrão específico compreende listras claras e escuras alternadas, e/ou pelo menos um padrão específico é um padrão quadriculado compreendendo elementos claros e escuros alternados.

[0054] Nas modalidades, um primeiro padrão específico compreende listras claras e escuras alternadas, cada listra se estendendo ao longo de uma primeira direção, e um segundo padrão específico é uma tradução do primeiro padrão específico em uma segunda direção sensivelmente perpendicular à primeira direção. Nas modalidades, todos os padrões específicos são padrões listrados e traduções periódicas uns dos outros em uma direção perpendicular à direção ao longo da qual as listras se estendem.

[0055] Nas modalidades, a largura das listras é igual nas duas imagens correspondendo respectivamente ao primeiro e ao segundo padrões específicos.

[0056] Nas modalidades, as zonas escuras originárias das duas imagens correspondendo respectivamente ao primeiro e ao segundo padrões específicos correspondem a intensidade de luz similar na imagem subsequentemente recombinada. Vantajosamente, um defeito é detectado mais facilmente e mais bem visualizado devido às zonas escuras tendo homogeneidade similar, uma vez que o defeito surge claro em um fundo homogêneo escuro.

[0057] Nas modalidades, diferentes padrões específicos compreendem tanto listras claras como escuras alternadas, as listras no primeiro padrão específico são orientadas em uma primeira direção, e as listras no segundo padrão específico são orientadas em uma segunda direção. A segunda direção pode ser perpendicular à primeira direção. Vantajosamente, o método permite detectar nitidamente defeitos tendo qualquer orientação, devido às listras se estendendo em duas direções diferentes. Na verdade, os defeitos que são mais bem detectados são aqueles que se estendem em uma direção correspondendo ao gradiente mais elevado de intensidade de luz em uma imagem. Vantajosamente, esses tipos diferentes de padrões são aplicados usando pelo menos dois conjuntos de padrões, cada conjunto de padrões compreendendo pelo menos dois padrões específicos que são uma tradução uns dos outros, e cada conjunto de padrões é usado para fornecer pelo menos dois padrões secundários com base em pelo menos dois padrões específicos diferentes do mesmo conjunto de padrões.

[0058] Nas modalidades, a área escura de pelo menos um padrão específico tem uma superfície maior que a área clara do referido padrão específico. Preferencialmente, a área escura de pelo menos um padrão específico pode ter uma superfície pelo menos 1,5 vezes maior que a área clara do referido padrão específico.

[0059] Cada padrão específico tem uma relação de superfície clara- escura correspondendo à superfície da área clara dividida pela superfície da área escura. Nas modalidades, a relação de superfície clara-escura de pelo menos um padrão específico, preferencialmente de cada padrão específico, é pelo menos igual a 1/10, preferencialmente pelo menos igual a 1/6, e no máximo igual a 1, preferencialmente no máximo igual a 1/2.

[0060] Vantajosamente, a maximização da superfície da área escura com respeito à área clara de um padrão específico, mantendo ao mesmo tempo uma superfície suficiente da área clara para uma intensidade de luz global suficiente, permite detectar um defeito com base em um número mínimo de imagens.

[0061] Cada imagem tem igualmente uma relação de superfície clara-escura correspondendo à superfície da área clara do padrão específico correspondente como visto através da zona de interesse da lente na imagem dividida pela superfície da área escura do padrão específico correspondente como visto através da zona de interesse da lente na imagem.

[0062] A relação de superfície clara-escura da imagem pode ser diferente da relação clara-escura do padrão específico correspondente. Por exemplo, se for adquirida uma imagem durante a subexposição dos meios de aquisição de imagens, então a relação de superfície clara- escura da imagem é inferior à do padrão específico correspondente. Pelo contrário, se for adquirida uma imagem durante a sobre-exposição dos meios de aquisição de imagens, então a relação de superfície clara- escura da imagem é superior à do padrão específico correspondente.

[0063] Nas modalidades, em pelo menos uma imagem, preferencialmente em cada imagem, a relação de superfície clara- escura da imagem é pelo menos igual a 30%, preferencialmente pelo menos igual a 70%, mais preferencialmente pelo menos igual a 80% e no máximo igual a 1000%, preferencialmente no máximo igual a 130%, mais preferencialmente pelo menos igual a 120%. Em outras palavras, a relação de superfície clara-escura da imagem é compreendida na gama [30% a 1000%], preferencialmente compreendida na gama [70% a 130%], mais preferencialmente compreendida na gama [70% a 130%].

[0064] Para cada padrão específico, pode ser determinada uma dimensão característica relacionada com a relação de superfície clara- escura do padrão específico.

[0065] Por exemplo, se o padrão específico for uma repetição periódica de um padrão elementar consistindo em uma listra escura e uma listra clara, a relação de superfície escura-clara pode ser calculada dividindo a largura de uma listra escura pela largura de uma listra clara.

[0066] De acordo com esse exemplo, a largura de uma listra escura é uma dimensão característica do padrão específico relacionada com a relação de superfície escura-clara do padrão específico.

[0067] Similarmente, para cada imagem, pode ser determinada uma dimensão característica relacionada com a relação de superfície clara- escura da imagem.

[0068] De acordo com esse exemplo, se a imagem for saturada, então a largura de uma listra escura na imagem com relação a uma dimensão conhecida evidente da zona de interesse da lente é inferior à largura da mesma listra escura no padrão específico com relação a uma dimensão conhecida do padrão específico.

[0069] Nas modalidades, pelo menos uma listra escura como visto através da lente óptica tem uma largura evidente igual ou superior a 2 mm e igual ou inferior a 3 cm, em particular, compreendida entre 5 mm e 2 cm incluídos, por exemplo, de cerca de 5 mm a cerca de 1 cm incluído. No sentido da invenção, uma dimensão evidente ou uma distância evidente em uma imagem corresponde a uma dimensão ou distância na imagem escalada relativamente a uma dimensão ou distância conhecida em uma superfície da lente óptica visível na imagem, como por exemplo uma distância conhecida entre marcações em uma superfície da lente óptica, ou como por exemplo um diâmetro de lente conhecido.

[0070] Os inventores descobriram que são obtidos os melhores resultados com as relações de superfície clara-escura fornecidas, que correspondem igualmente à largura evidente fornecida das listras escuras no caso de padrões específicos listrados, uma vez que os defeitos, particularmente defeitos de difusão, em toda a lente são nitidamente visíveis em uma imagem recombinada com base em um número mínimo de imagens. Inversamente, em alguns casos, se as zonas escuras forem mais largas, alguns defeitos podem não ser detectados, e se as zonas escuras forem demasiado finas, ou a relação clara-escura for demasiado grande na imagem, podem ser artificialmente observados alguns defeitos que não existem na realidade.

[0071] Durante a etapa de amostragem S7, cada imagem da pluralidade de imagens é amostrada com base em um padrão de amostragem comum. Nas modalidades, o padrão de amostragem comum forma para cada imagem uma grade de amostras, ou uma grade de pixels.

[0072] Durante a etapa de recombinação S10, é determinada uma imagem recombinada da zona de interesse óptico com base no padrão de amostragem comum. Em outras palavras, a imagem recombinada da zona de interesse óptico é determinada selecionando uma amostra entre a pluralidade de imagens amostradas durante a etapa de amostragem S7 para cada posição no padrão de amostragem comum. A seleção se baseia em um critério adaptado à visualização de um defeito na imagem recombinada.

[0073] Vantajosamente, a imagem recombinada compreende toda a zona de interesse da lente óptica.

[0074] Durante a etapa de detecção de defeitos S11, é detectado um defeito na zona de interesse da lente óptica com base em uma análise da imagem recombinada.

[0075] Em uma modalidade, pode ser detectado um defeito comparando na imagem recombinada um valor local de um parâmetro com o valor médio do parâmetro em toda a zona de interesse, em que o parâmetro pode compreender luminância e/ou gradiente de luminância.

[0076] Se essa comparação equivaler a uma diferença acima de um valor de limiar predefinido, então é considerado que é detectado um defeito.

[0077] Se essa comparação equivaler a uma diferença abaixo de um valor de limiar predefinido, então é considerado que nenhum defeito é detectado.

[0078] A natureza de um defeito detectado pode ser identificada desde o formato do referido defeito, na verdade, se o referido defeito tiver um formato de linha, então o defeito é identificado como um risco, ao passo que se a referida área for substancialmente pontual, então o defeito é identificado como uma inclusão ou uma marca.

[0079] Nas modalidades, o defeito é um defeito de difusão, como por exemplo uma mancha de poeira ou um risco.

[0080] A imagem recombinada pode ser sujeita a tratamentos de imagem, como filtragem, inversão de cores, escalas de cinza, afinação e/ou alteração do brilho, do contraste, da saturação, da vibração, da exposição e/ou dos raios gama da imagem recombinada, de modo a detectar e/ou exibir melhor um defeito.

[0081] Como ilustrado na Figura 2, o método de acordo com a invenção pode compreender ainda: - uma etapa de fornecimento de sistema S1, - uma etapa de posicionamento da lente óptica S2, - uma etapa de exibição de padrão específico S3, e - uma etapa de aquisição de imagens S5.

[0082] Durante a etapa de fornecimento de sistema S1, é fornecido um sistema compreendendo um dispositivo de exibição, um suporte para uma lente óptica e um dispositivo de aquisição de imagens. Um exemplo desse sistema é ilustrado na Figura 8.

[0083] Os exemplos de dispositivos de exibição incluem projetores, écrans planos, monitores, displays LCD, e afins.

[0084] Os exemplos de dispositivos de aquisição de imagens incluem qualquer instrumento óptico para registro ou captura de uma imagem, como uma câmera.

[0085] Além do mais, o sistema é configurado de modo que, quando uma lente óptica é posicionada no suporte, o dispositivo de exibição fique voltado para um primeiro lado da lente óptica e o dispositivo de aquisição de imagens fique voltado para um segundo lado da lente óptica oposto ao primeiro lado. Desse modo, o sistema é configurado de modo que, quando uma lente óptica é posicionada no suporte, o dispositivo de aquisição de imagens possa adquirir uma vista de conteúdo exibido pelo dispositivo de exibição visto através da lente óptica.

[0086] Durante a etapa de posicionamento da lente óptica S2, a lente óptica é posicionada no suporte.

[0087] Durante a etapa de exibição de padrão específico S3, o dispositivo de exibição exibe um padrão específico.

[0088] Durante a etapa de aquisição de imagens S5, o dispositivo de aquisição de imagens adquire uma imagem compreendendo uma vista da zona de interesse em frente do referido padrão específico.

[0089] Além disso, a etapa de exibição de padrão específico S3 e a etapa de aquisição de imagens S5 são repetidas até ser adquirida cada imagem.

[0090] Nas modalidades, o sistema é configurado de modo que a luminosidade das imagens dos padrões específicos em cada imagem seja ajustada para ter um valor local máximo e um mínimo, e o valor local mínimo seja inferior a 10% do valor máximo.

[0091] Vantajosamente, o aumento do contraste das imagens melhora a detecção de um defeito, uma vez que o defeito surge claro em frente de uma zona escura de um padrão específico.

[0092] Nas modalidades, a etapa de aquisição de imagens S5 compreende uma etapa de sobre-exposição de câmera S5A, durante a qual a câmera é sobre-exposta de modo que a imagem adquirida durante a etapa de aquisição de imagens fique saturada.

[0093] Vantajosamente, a sobre-exposição de imagens contribui para o aumento do contraste das imagens e, mais particularmente,

contribui para o aumento da detecção de defeitos de difusão que são de outro modo difíceis de detectar.

[0094] O dispositivo de aquisição de imagens ou a câmera tem uma dinâmica restrita, mas configurável, por exemplo, pode ser configurada para gerar uma imagem de nível de cinza (pixels oscilando de 0 a 255) para um brilho variando de X a Y. Os valores X e Y dependem da câmera e sua configuração.

[0095] O que significa que: - qualquer brilho capturado pela câmera abaixo de X será transformado pela câmera em pixels definidos em 0 assim saturados/subexpostos, - qualquer brilho capturado pela câmera acima de Y será transformado pela câmera em pixels definidos em 255 assim saturados/sobre-expostos.

[0096] Os invençãores testaram uma configuração que assegura que as zonas claras do padrão específico são transformadas pela câmera em pixels definidos em 255.

[0097] Além disso, as zonas escuras do padrão específico são transformadas pela câmera com pixels "bem expostos" definidos em cerca de 128, o que corresponde ao meio da gama de renderização da câmera.

[0098] Os valores acima mencionados são somente exemplos e podem ser adaptados pelo perito na técnica de acordo com as necessidades.

[0099] "Sobre-exposição de uma imagem" tem de ser entendido como tendo o tempo de exposição da imagem de modo que a parte da imagem correspondendo às zonas claras da referida imagem seja sobre-exposta considerando as definições da câmera; significando que atinge ou excede um valor de brilho correspondendo ao valor de brilho máximo que é possível capturar usando a referida câmera.

[0100] O método pode compreender ainda, antes da etapa de aquisição de imagens, uma etapa de focalização S4, durante a qual o dispositivo de aquisição de imagens é focalizado na lente óptica, e a profundidade do campo é ajustada de modo que a zona de interesse da lente óptica se encontre em foco. Além disso, o próprio padrão específico pode se encontrar desfocado.

[0101] Vantajosamente, é obtida uma imagem nítida da zona de interesse da lente óptica, e os defeitos detectados são nitidamente visíveis.

[0102] Como ilustrado na Figura 2, o método de acordo com a invenção pode compreender ainda uma etapa de recepção de parâmetros definidos S8.

[0103] Durante a etapa de recepção de parâmetros definidos S8, é recebido pelo menos um parâmetro definido para cada amostra de acordo com um dado critério com base na intensidade de luz da amostra em cada imagem.

[0104] Durante a etapa de recombinação 10, a imagem recombinada da zona de interesse pode ser determinada com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra da imagem recombinada uma das amostras correspondentes desde a pluralidade de imagens escolhidas com base no, pelo menos um, parâmetro definido. Amostra correspondente significa uma amostra do padrão de amostragem comum correspondendo às mesmas coordenadas do padrão de amostragem comum e à mesma posição em relação à lente óptica.

[0105] Por exemplo, consideremos imagens X, cada imagem sendo amostrada de acordo com um padrão de amostragem comum correspondendo a uma grade de pixels de pixels Y vezes Z. Cada pixel pode ser referido como um identificador YZX exclusivo com base em sua posição e na imagem da qual é originário.

[0106] Em seguida, de acordo com essa modalidade, a imagem recombinada determinada durante a etapa de recombinação S10 compreende pixels Y vezes Z, dispostos de acordo com o padrão de amostragem comum e podem ser referidos como YZR. Além do mais, cada pixel YZR tem pixels YZX correspondentes para cada uma das imagens X e tendo os mesmos valores para Y e Z como o pixel YZR. Ademais, a seleção entre os pixels YZX a serem usados como o YZR na imagem recombinada é efetuada com base no parâmetro definido.

[0107] Em uma modalidade, cada amostra da imagem recombinada selecionada desde a pluralidade de imagens é a amostra correspondente tendo a intensidade de luz mais baixa.

[0108] Em relação ao exemplo acima, a imagem recombinada determinada durante a etapa de recombinação S10 compreende pixels YZR Y vezes Z, dispostos de acordo com o padrão de amostragem comum, cada pixel YZR sendo o pixel YZX entre as imagens X com os mesmos valores Y e Z como o pixel YZR e a luminosidade mais baixa.

[0109] Vantajosamente, a imagem recombinada mostra os defeitos como singularidades claras em um fundo escuro.

[0110] Como ilustrado na Figura 2, o método de acordo com a invenção pode compreender ainda uma etapa de agrupamento de imagens S9.

[0111] Durante a etapa de agrupamento de imagens S9, a pluralidade de imagens compreende pelo menos um primeiro grupo de imagens e um segundo grupo de imagens diferente do primeiro grupo de imagens. A pluralidade de imagens pode compreender qualquer número de diferentes grupos de imagens. Os grupos de imagens podem ser mutuamente exclusivos. Em outras palavras, qualquer imagem compreendida no primeiro grupo de imagens pode não se encontrar igualmente compreendida no segundo grupo de imagens e vice-versa.

[0112] A pluralidade de imagens pode ser agrupada em um primeiro e um segundo grupo de imagens com base em um parâmetro relacionado com os padrões secundários em cada imagem. O parâmetro relacionado com os padrões secundários pode ser relacionado com uma diferença no formato, na orientação e/ou na cor entre os padrões formados pelas zonas escuras e zonas claras em cada imagem.

[0113] Vantajosamente, o método possibilita a análise de subconjuntos de imagens e a geração de uma imagem recombinada para cada subconjunto de imagens, possivelmente de acordo com critérios diferentes.

[0114] Em uma modalidade, o método compreende tanto uma etapa de recepção de parâmetros definidos S8 como uma etapa de agrupamento de imagens S9.

[0115] De acordo com essa modalidade, durante a etapa de recombinação, pode ser determinada uma primeira imagem recombinada do primeiro grupo de imagens com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde o primeiro grupo de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a intensidade de luz mais baixa.

[0116] Além do mais, uma segunda imagem recombinada do segundo grupo de imagens pode ser determinada com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde o segundo grupo de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais baixa.

[0117] Ademais, pode ser determinada uma terceira imagem recombinada com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra da primeira e da segunda imagens recombinadas a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais elevada, ou em alternativa mediante adição da luminosidade de cada amostra desde cada uma das duas imagens recombinadas.

[0118] Vantajosamente, os defeitos que são exibidos de forma diferente dependendo de um parâmetro específico relacionado com os padrões secundários podem ser detectados com êxito somente devido à determinação em primeiro lugar de imagens recombinadas separadas de diferentes subconjuntos de imagens. Em outras palavras, alguns defeitos podem ser difíceis de detectar usando um tipo de padrões específicos enquanto estão sendo detectados usando um segundo tipo de padrões específicos. Conformemente, a formação de uma terceira imagem recombinada com base em uma primeira imagem recombinada com base em imagens formadas usando um primeiro tipo de padrão específico e com base em uma segunda imagem recombinada com base em imagens formadas usando um segundo tipo de padrão específico permite identificar todos os defeitos detectados na primeira imagem recombinada e todos os defeitos detectados na segunda imagem recombinada, até defeitos não detectados ou minimizados usando qualquer um dos padrões específicos.

[0119] Por exemplo, um padrão específico de linhas orientadas ao longo de um eixo X pode ajudar a detectar defeitos pontuais ou orientados para X ao mesmo tempo que é menos adaptado para defeitos orientados na perpendicular ao eixo X, por exemplo, ao longo de um eixo Y e inversamente. Conformemente, a formação de uma terceira imagem recombinada com base em uma primeira imagem recombinada com base em imagens formadas usando um padrão específico de linhas orientadas ao longo de um eixo X e com base em uma segunda imagem recombinada com base em imagens formadas usando um padrão específico de linhas orientadas ao longo de um eixo

Y, perpendicular ao eixo X, permite identificar até defeitos que se encontram puramente ao longo do eixo X ou puramente ao longo do eixo Y.

[0120] Em outros exemplos, alguns defeitos podem ser mais bem detectados usando zonas escuras menores enquanto alguns defeitos podem ser detectados usando zonas escuras maiores. Em alternativa, alguns tipos de defeitos poderão ser mais bem detectados quando as zonas escuras formam linhas ou listras, enquanto alguns outros tipos de defeitos poderão ser mais bem detectados quando as zonas escuras formam círculos ou ondas.

[0121] Outro objetivo da invenção é um método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas.

[0122] Como ilustrado na Figura 3, o método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas de acordo com a invenção compreende pelo menos: - uma etapa de detecção de defeitos S12, e - uma etapa de classificação S13.

[0123] A etapa de detecção de defeitos S12 pode compreender as etapas de um método para detecção de um defeito de acordo com a invenção.

[0124] Durante a etapa de classificação S13, a pluralidade de lentes ópticas é classificada com base pelo menos no, pelo menos um, defeito detectado durante a etapa de detecção de defeitos,

[0125] Vantajosamente, a pluralidade de lentes ópticas é classificada de uma forma automatizada, com base em um método de detecção automatizado de um defeito.

[0126] A pluralidade de lentes ópticas pode ser classificada com base em um parâmetro relacionado com a detecção de um defeito na lente óptica, incluindo qualquer um dos seguintes ou uma combinação possível dos mesmos: a ocorrência de um defeito, o número dos defeitos detectados, a ocorrência de um defeito em uma posição específica, a ocorrência e/ou o número de um tipo específico de defeito, a ocorrência e/ou o número de um defeito tendo uma dimensão excedendo uma dimensão predeterminada, e afins.

[0127] Outro objetivo da invenção é um método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica.

[0128] Como ilustrado na Figura 4, o método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica de acordo com a invenção compreende pelo menos: - uma primeira etapa de detecção de defeitos S12A, - uma etapa de modificação S14, - uma segunda etapa de detecção de defeitos S12B, e - uma etapa de comparação S15.

[0129] Vantajosamente, o processo de fabricação de lentes ópticas é monitorado com base na detecção de defeitos em uma única lente sendo submetida a diferentes etapas do processo de fabricação.

[0130] Cada uma da primeira e da segunda etapas de detecção de defeitos S12A e S12B pode compreender as etapas de um método para detecção de um defeito de acordo com a invenção. Em uma modalidade, ambas as etapas são efetuadas da mesma maneira. Vantajosamente, a fiabilidade do método na detecção de um único defeito produz resultados reproduzíveis.

[0131] A etapa de modificação S14 pode compreender qualquer tipo de modificação da lente óptica, incluindo adição de material à, remoção de material da, e/ou concessão de uma função específica à lente óptica.

[0132] Como ilustrado na Figura 5, a etapa de modificação pode compreender uma etapa de polimento S14A e/ou uma etapa de fabricação S14B e/ou uma etapa de revestimento S14C e/ou uma etapa de laminação de bordas S14D. A etapa de fabricação S14B pode compreender surfaçagem de uma da faces da lente óptica e/ou adição de material à lente óptica mediante fabricação aditiva de modo a mudar a potência óptica da lente óptica.

[0133] Durante a etapa de comparação S15, pelo menos um defeito detectado durante a primeira etapa de detecção de defeitos S12A é comparado com pelo menos um defeito detectado durante a segunda etapa de detecção de defeitos S12B. A comparação pode envolver uma comparação em um parâmetro relacionado com pelo menos um defeito. O parâmetro pode incluir qualquer um dos seguintes ou qualquer combinação possível dos mesmos: a ocorrência de um defeito, o número dos defeitos detectados, a ocorrência e/ou o número de um defeito em uma posição específica, a ocorrência e/ou o número de um tipo específico de defeito, a ocorrência de um defeito tendo uma dimensão excedendo uma dimensão predeterminada, e afins. A etapa de comparação S15 pode produzir a observação do surgimento de novos defeitos, o desaparecimento de defeitos, a observação de alguns defeitos que são intocados e/ou uma modificação de alguns defeitos. Esta produção pode ser efetuada geralmente ou para algum tipo específico de defeitos e/ou para alguns defeitos em áreas específicas da lente.

[0134] Outro objetivo da invenção é um método para controle de um processo de fabricação de lente óptica.

[0135] Como ilustrado na Figura 6, o método para controle de um processo de fabricação de lente óptica de acordo com a invenção compreende pelo menos: - uma etapa de fabricação S16, - uma etapa de detecção de defeitos S12, - uma etapa de registro S17, as etapas S16, S12 e S17 sendo regularmente repetidas, e

- uma etapa de checagem de evolução de defeitos S18.

[0136] Vantajosamente, um dispositivo de fabricação executando uma etapa de fabricação de um processo de fabricação de lentes ópticas é monitorado de uma maneira automatizada com base na detecção de defeitos em uma pluralidade de lentes, cada uma tendo sido submetida à etapa de fabricação.

[0137] Durante a etapa de fabricação S16, é efetuado qualquer tipo de modificação da lente óptica, ou qualquer combinação disso, incluindo adição de material à, remoção de material da, e/ou concessão de uma função específica à lente óptica.

[0138] A etapa de detecção de defeitos S12 pode compreender as etapas de um método para detecção de um defeito de acordo com a invenção.

[0139] Durante a etapa de registro S17, é registrado pelo menos um parâmetro da lente óptica. O referido parâmetro é relacionado com pelo menos um defeito detectado durante a etapa de detecção de defeitos S12. O parâmetro pode incluir qualquer um dos seguintes ou qualquer combinação possível dos mesmos: a ocorrência de um defeito, o número dos defeitos detectados, a ocorrência de um defeito em uma posição específica, a ocorrência de um tipo específico de defeito, a ocorrência de um defeito tendo uma dimensão excedendo uma dimensão predeterminada, e afins.

[0140] Durante a etapa de checagem de evolução de defeitos S18, a evolução do, pelo menos um, parâmetro da lente óptica é checada ao longo do tempo.

[0141] As etapas S16, S12 e S17 são repetidas ao longo do tempo.

[0142] Além do mais, a evolução de pelo menos um parâmetro do dispositivo de fabricação usado durante o processo de fabricação de lente óptica é checada ao longo do tempo, e a evolução ao longo do tempo de pelo menos um parâmetro da lente óptica é relacionada com a evolução ao longo do tempo do, pelo menos um, parâmetro do dispositivo de fabricação. Conformemente, é possível monitorar uma evolução ao longo do tempo do impacto do referido parâmetro do dispositivo de fabricação no surgimento do parâmetro da lente óptica. Desse modo, é possível monitorar uma qualidade do dispositivo de fabricação e planejar assim conformemente planos de manutenção ou ações corretivas.

[0143] Outro objetivo da invenção é um aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica.

[0144] Como ilustrado na Figura 7, o aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com a invenção compreende pelo menos: - uma memória 1, - uma unidade de tratamento de imagens 2, e - meios de detecção 3.

[0145] A memória 1 é configurada para armazenar pelo menos duas imagens, cada imagem compreendendo uma vista da zona de interesse em frente de um padrão específico, o padrão secundário visto na primeira imagem sendo diferente do padrão secundário visto na segunda imagem, cada padrão secundário compreendendo uma área clara e uma área escura, para cada amostra da zona de interesse, pelo menos uma imagem compreendendo uma vista da referida amostra em frente de uma área escura de um padrão específico, e pelo menos uma imagem sendo saturada em intensidade de luz.

[0146] A vista da zona de interesse em frente de um padrão específico compreende um padrão secundário que é relacionado com o padrão específico acima mencionado. O padrão secundário pode ser modulado pela saturação possível de intensidade de luz, pela presença de um defeito na, ou sobre a, lente óptica, pela potência óptica da lente óptica e/ou por quaisquer fatores ópticos associados ao aparelho usado para recolher a imagem e a representar. A unidade de tratamento de imagens 2 é configurada para gerar uma imagem recombinada com base nas, pelo menos duas, imagens. A unidade de tratamento de imagens 2 pode ser uma unidade de processamento.

[0147] Os meios de detecção 3 são configurados para detectar um defeito na zona de interesse da lente óptica com base na imagem recombinada.

[0148] A memória 1, a unidade de tratamento de imagens 2 e os meios de detecção 3 comunicam entre si.

[0149] Vantajosamente, o aparelho permite a detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com um processo automatizado.

[0150] Como ilustrado na Figura 8, o aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com a invenção pode compreender ainda: - um dispositivo de exibição 4; e/ou - um dispositivo de aquisição de imagens 5.

[0151] O dispositivo de exibição 4 é posicionado, ou posicionável, de modo a ficar voltado para um primeiro lado da lente óptica e configurado para iluminar a zona de interesse da lente óptica de acordo com uma pluralidade de padrões específicos sucessivos compreendendo uma área clara e uma área escura. O dispositivo de exibição 4 pode ser controlado por uma unidade de processamento comunicando com uma memória.

[0152] O dispositivo de aquisição de imagens 5 é configurado e posicionado, ou posicionável, de modo a adquirir pelo menos duas imagens, cada imagem compreende uma vista de um segundo lado da lente óptica da zona de interesse em frente de um padrão específico. O dispositivo de aquisição de imagens 5 pode ser controlado por uma unidade de processamento comunicando com uma memória, e pode comunicar com a memória 1 de modo a pelo menos armazenar as imagens adquiridas.

[0153] Outro objetivo da invenção é um produto de programa de computador compreendendo uma ou mais sequências armazenadas de instruções que são acessíveis a um processador e que, quando executadas pelo processador, fazem com que o processador realize as etapas de um método de acordo com a invenção.

[0154] Outro objetivo da invenção é um meio legível por computador realizando uma ou mais sequências de instruções do produto de programa de computador de acordo com a invenção.

[0155] Outro objetivo da invenção é um programa que faz com que um computador execute pelo menos um método da invenção.

[0156] Outro objetivo da invenção é um meio de armazenamento legível por computador tendo um programa aí gravado; onde o programa faz com que o computador execute pelo menos um método da invenção.

[0157] Outro objetivo da invenção é um dispositivo compreendendo um processador adaptado para armazenar uma ou mais sequências de instruções e para realizar pelo menos uma das etapas de um método de acordo com a invenção.

[0158] A invenção foi descrita acima com a ajuda de modalidades sem limitação do conceito inventivo geral.

[0159] Muitas modificações e variações suplementares serão evidentes para os peritos na técnica após a consulta das modalidades ilustrativas anteriores, que são fornecidas somente a título de exemplo e que não pretendem limitar o escopo da invenção, sendo esse determinado exclusivamente pelas reivindicações apensas.

[0160] Nas reivindicações, a palavra "compreendendo" não exclui outros elementos ou outras etapas, e o artigo indefinido "um" ou "uma" não exclui uma pluralidade. O mero fato de diferentes particularidades serem citadas em reivindicações dependentes mutuamente diferentes não indica que uma combinação dessas particularidades não possa ser vantajosamente usada.

Quaisquer sinais de referência nas reivindicações não devem ser interpretados como limitativos do escopo da invenção.

Claims

REIVINDICAÇÕES

1. Método para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica, o método caracterizado pelo fato de que compreende: - uma etapa de recepção de imagens, durante a qual é recebida uma pluralidade de imagens, cada imagem compreende uma vista da zona de interesse em frente de uma pluralidade de padrões específicos, cada padrão específico compreendendo uma área clara e uma área escura, e pelo menos uma imagem recebida é saturada em intensidade de luz, - uma etapa de amostragem, durante a qual cada imagem da pluralidade de imagens é amostrada com base em um padrão de amostragem comum, - uma etapa de recombinação, durante a qual é determinada uma imagem recombinada da zona de interesse com base no padrão de amostragem comum, e - uma etapa de detecção de defeitos, durante a qual é detectado um defeito na zona de interesse da lente óptica com base em uma análise da imagem recombinada.

2. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que cada imagem recebida durante a etapa de recepção de imagens é saturada em intensidade de luz.

3. Método, de acordo com a reivindicação 1 ou 2, caracterizado pelo fato de que compreende ainda: - uma etapa de recepção de parâmetros definidos, durante a qual pelo menos um parâmetro definido é recebido para cada amostra de acordo com um dado critério com base na intensidade de luz da amostra em cada imagem, e - em que, durante a etapa de recombinação de imagens, é determinada a imagem recombinada da zona de interesse com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde a pluralidade de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido.

4. Método, de acordo com a reivindicação 3, caracterizado pelo fato de que compreende ainda: - uma etapa de agrupamento de imagens, durante a qual a pluralidade de imagens compreende um primeiro grupo de imagens e um segundo grupo de imagens diferente do primeiro grupo de imagens, - em que, durante a etapa de recombinação, o é determinada uma primeira imagem recombinada do primeiro grupo de imagens com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde o primeiro grupo de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais baixa, o é determinada uma segunda imagem recombinada do segundo grupo de imagens com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra desde o segundo grupo de imagens a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais baixa, e o é determinada uma terceira imagem recombinada com base no padrão de amostragem comum selecionando para cada amostra da primeira e da segunda imagens recombinadas a amostra correspondente com base no, pelo menos um, parâmetro definido, preferencialmente a amostra correspondente tendo a luminosidade mais elevada.

5. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que o defeito é um defeito de difusão.

6. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que a vista da zona de interesse em frente de um padrão específico compreende um padrão secundário que é relacionado com o padrão específico acima mencionado, e a pluralidade de padrões específicos é arranjada de modo que a sobreposição das áreas escuras de todos os padrões secundários corresponda a uma área escura que ocupe todo o espaço da imagem recombinada da zona de interesse.

7. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que compreende ainda: - uma etapa de fornecimento de sistema, durante a qual é fornecido um sistema compreendendo um dispositivo de exibição, um suporte para uma lente óptica e um dispositivo de aquisição de imagens, o sistema é configurado de modo que, quando uma lente óptica é posicionada no suporte, o dispositivo de exibição fique voltado para um primeiro lado da lente óptica e o dispositivo de aquisição de imagens fique voltado para um segundo lado da lente óptica, - uma etapa de posicionamento da lente óptica, durante a qual a lente óptica é posicionada no suporte, - uma etapa de exibição de padrão específico, durante a qual o dispositivo de exibição exibe um padrão específico, - uma etapa de aquisição de imagens, durante a qual o dispositivo de aquisição de imagens adquire uma imagem compreendendo uma vista da zona de interesse em frente do referido padrão específico, a etapa de exibição de padrão específico e a etapa de aquisição de imagens são repetidas até ser adquirida cada imagem.

8. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que pelo menos um padrão específico compreende listras claras e escuras alternadas.

9. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que um primeiro padrão específico compreende listras claras e escuras alternadas, cada listra se estendendo ao longo de uma primeira direção, e um segundo padrão específico é uma tradução do primeiro padrão específico em uma segunda direção sensivelmente perpendicular à primeira direção.

10. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que diferentes padrões específicos compreendem tanto listras claras como escuras alternadas, as listras no primeiro padrão específico são orientadas em uma primeira direção, e as listras no segundo padrão específico são orientadas em uma segunda direção.

11. Método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, caracterizado pelo fato de que a área escura de pelo menos um padrão específico tem uma superfície maior que a área clara do referido padrão específico.

12. Método para classificação de uma pluralidade de lentes ópticas, o método caracterizado pelo fato de que compreende: - uma etapa de detecção de defeitos durante a qual é detectado pelo menos um defeito na zona de interesse de pelo menos uma lente óptica de acordo com o método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, e - uma etapa de classificação, durante a qual a pluralidade de lentes ópticas é classificada com base pelo menos no, pelo menos um, defeito detectado durante a etapa de detecção de defeitos.

13. Método para comparação de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica durante um processo de fabricação de lente óptica, o método caracterizado pelo fato de que compreende: - uma primeira etapa de detecção de defeitos durante a qual é detectado um defeito na zona de interesse da lente óptica de acordo com o método, de acordo com qualquer uma das reivindicações precedentes, - uma etapa de modificação, durante a qual a lente óptica é modificada, - uma segunda etapa de detecção de defeitos durante a qual é detectado um segundo defeito na zona de interesse da lente óptica transformada, e - uma etapa de comparação, durante a qual o primeiro defeito e o segundo defeito são comparados.

14. Método para controle de um processo de fabricação de lente óptica caracterizado pelo fato de que compreende as etapas de: a) fabricar uma lente óptica de acordo com um processo de fabricação usando um dispositivo de fabricação, b) detectar pelo menos um defeito em uma zona de interesse da lente óptica da etapa a) de acordo com o método, como definido em qualquer uma das reivindicações 1 a 11. c) registrar, pelo menos um, defeito detectado na etapa b), d) repetir regularmente as etapas a) a c) e checar a evolução do, pelo menos um, defeito detectado ao longo do tempo, em que a evolução de pelo menos um parâmetro do dispositivo de fabricação usado durante o processo de fabricação de lente óptica é checada ao longo do tempo, e a evolução ao longo do tempo de pelo menos um parâmetro da lente óptica é relacionada com a evolução ao longo do tempo do, pelo menos um, parâmetro do dispositivo de fabricação.

15. Aparelho para detecção de um defeito em uma zona de interesse de uma lente óptica de acordo com o método, como definido em qualquer uma das reivindicações 1 a 11, o aparelho caracterizado pelo fato de que compreende: - uma memória adaptada para armazenar pelo menos duas imagens, cada imagem compreendendo uma vista da zona de interesse em frente de um padrão específico, o padrão específico visto na primeira imagem sendo diferente do padrão específico visto na segunda imagem, cada padrão compreendendo uma área clara e uma área escura, para cada amostra da zona de interesse, pelo menos uma imagem compreendendo uma vista da referida amostra em frente de uma área escura de um padrão, e pelo menos uma imagem sendo saturada em intensidade de luz, - uma unidade de tratamento de imagens comunicando com a memória, a unidade de tratamento de imagens sendo configurada para gerar uma imagem recombinada com base nas, pelo menos duas, imagens, e - meios de detecção para detectar um defeito na zona de interesse da lente óptica com base na imagem recombinada.