BR112016001920A2 - elemento computacional integrado variável, sistema de medição óptica para medir uma propriedade de uma amostra e método para medir propriedades de amostra - Google Patents

elemento computacional integrado variável, sistema de medição óptica para medir uma propriedade de uma amostra e método para medir propriedades de amostra

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Abstract

resumo “elemento computacional integrado variável, sistema de medição óptica e método para medir propriedades de amostra” um sistema e método para medir propriedades de uma amostra utilizando um elemento de computação integrado (ice) variável formado por uma ou mais camadas de filme que é fisicamente sensível a um campo elétrico ou um campo magnético aplicado através do material. a espessura de uma camada e, daí, as propriedades ópticas do ice, pode ser eletricamente ou magneticamente alterada para ajustar o ice para uma análise de uma propriedade particular da amostra, ou para calibrar o ice ou para ajustar o ice para compensar alterações no ice resultantes das condições ambientais. o filme pode ser formado de materiais eletrorrestritivos, materiais piezelétricos, materiais magnetorrestritivos e/ou materiais piezomagnéticos.
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