BR112015023962A2 - disposição de retículo para filtração espectral de um feixe de raios x, sistema de raios x, método para filtração espectral de um feixe de raios x, programa de computador e meio legível por computador - Google Patents

disposição de retículo para filtração espectral de um feixe de raios x, sistema de raios x, método para filtração espectral de um feixe de raios x, programa de computador e meio legível por computador

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Abstract

resumo disposição de retículo para filtração espectral de um feixe de raios x, sistema de raios x, método para filtração espectral de um feixe de raios x, programa de computador e meio legível por computador a invenção se refere a uma disposição de retículo e um método para filtração espectral de um feixe de raios x (b), sendo que a disposição de retículo compreende: um elemento dispersante (10) que compreende um prisma configurado para difratar o feixe de raios x (b) em um primeiro componente de feixe (bc1) que compreende uma primeira direção (d1) e um segundo componente de feixe que compreende (bc2) uma segunda direção (d2), inclinada em relação à primeira direção; um primeiro retículo (20) configurado para gerar um primeiro padrão de difração (dp1) do primeiro componente de feixe (bc1) e um segundo padrão de difração (dp2) do segundo componente de feixe (bc2), sendo que o segundo padrão de difração (dp2) é deslocado em relação ao primeiro padrão de difração (dp1); e um segundo retículo (30) que compreende pelo menos uma abertura (31) que é alinhada ao longo de uma linha (d) a partir de um máximo (ma) até um mínimo (mi) de intensidade do primeiro padrão de difração (dp1) ou do segundo padrão de difração (dp2). 1/1
BR112015023962A 2013-11-28 2014-11-12 disposição de retículo para filtração espectral de um feixe de raios x, sistema de raios x, método para filtração espectral de um feixe de raios x, programa de computador e meio legível por computador BR112015023962A2 (pt)

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108599870B (zh) * 2018-07-25 2020-06-19 中国科学院半导体研究所 基于时域泰伯效应的加密、解密通信装置和保密通信系统
US11813102B2 (en) * 2021-10-06 2023-11-14 Houxun Miao Interferometer for x-ray phase contrast imaging

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4578803A (en) 1981-12-07 1986-03-25 Albert Macovski Energy-selective x-ray recording and readout system
US5812629A (en) 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
DE102006015358B4 (de) 2006-02-01 2019-08-22 Paul Scherer Institut Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen
DE102006037256B4 (de) 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
DE102006037255A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-02 Siemens Ag Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006017290B4 (de) * 2006-02-01 2017-06-22 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur, Röntgen-System und Verfahren zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
WO2007125833A1 (ja) 2006-04-24 2007-11-08 The University Of Tokyo Ｘ線撮像装置及びｘ線撮像方法
JP5095422B2 (ja) 2008-01-16 2012-12-12 株式会社日立製作所 薄膜積層体の膜厚計測方法
JP5158699B2 (ja) 2008-02-20 2013-03-06 国立大学法人 東京大学 Ｘ線撮像装置、及び、これに用いるｘ線源
JP5586899B2 (ja) * 2009-08-26 2014-09-10 キヤノン株式会社 Ｘ線用位相格子及びその製造方法
RU2452141C2 (ru) * 2010-05-19 2012-05-27 Закрытое Акционерное Общество "Рентгенпром" (Зао "Рентгенпром") Однопроекционный сканирующий рентгеновский аппарат с осциллирующим по энергии пучком пирамидальной формы (варианты)
JP2012187288A (ja) 2011-03-11 2012-10-04 Canon Inc Ｘ線撮像装置
CA2843311C (en) * 2011-07-29 2016-06-07 The Johns Hopkins University Differential phase contrast x-ray imaging system and components
US20130259194A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 Kwok L. Yip Hybrid slot-scanning grating-based differential phase contrast imaging system for medical radiographic imaging
CN105228524A (zh) * 2013-05-22 2016-01-06 西门子股份公司 相位对比x射线成像设备

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