BR112013030122B1 - método para simular uma resposta de um instrumento de perfilagem de poço de nêutrons, meio legível por computador não transitório, e método para perfilagem de poço - Google Patents

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Abstract

MÉTODO PARA SIMULAR UMA RESPOSTA DE UM INSTRUMENTO DE PERFILAGEM DE POCO DE NÊUTRONS, MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIO, E MÉTODO PARA PERFILAGEM DE POÇO. Um método para simular uma resposta de um instrumento de perfilagem de poco de nêutrons inclui, em um computador, definir uma função de comprimento de migração de nêutrons com respeito a taxa de contagem de detector de radiação esperada. A função é definida para valores selecionados de porosidade de formação. A função esta relacionada com comprimento de desaceleração de nêutrons e comprimento de difusão de nêutrons. A função é ponderada para densidade de formação. Uma taxa de contagem de detector de radiação esperada é calculada no computador usando a função definida com base em uma estimativa inicial de porosidade e densidade de formação.

Description

Antecedentes
Esta divulgação se refere a sistemas e métodos para análise de medição de nêutrons de formações subterrâneas. Mais particularmente, a divulgação se refere a modelos de nêutronsdiretos rápidos para a interpretação de medições feitas em poços subterrâneos.
Em perfilagem de poço de nêutrons, são preferidos métodos de Monte Carlo para simulação de resposta de instrumento de perfilagem de poçode nêutrons por causa de sua precisão. No entanto, os métodos de Monte Carlo não têm sido adequados para análise de instrumento de perfilagem de poço de nêutrons em tempo real devido à velocidade computacional limitada dos computadores atuais.
Um exemplo de uma técnica de modelagem direta de Monte Carlo debase linear para instrumentos de perfilagem de poço nuclear é descrito em Charles C. Watson, Monte Carlo Computation of Differential Sensitivity Functions, Trans. Am. Nucl. Soc., vol. 46, página 655, 1984, e Charles C. Watson, A Spatial Sensitivity Analysis Technique for Neutron and Gamma-Ray Measurements, Trans. Am. Nucl. Soc. vol. 65 (Suppl. l), pp.3-4, de 1992, a seguir designados como ''the Watson Papers". Ao linearmente modelar as interações de raios gama dominantes de espalhamento de Compton e absorção fotoelétrica, a técnica descrita em theWatson papers pode ser utilizada para predizer a resposta do detector de um instrumento de perfilagem de poço de densidade de raios gama de espalhamento de Compton. A principal vantagem do método anterior, tal como aplicado a instrumentos de densidade é a sua velocidade de computação muito rápida, em que ele pode proporcionar resultados calculados em uma subsegunda escala. A premissa básica do modelo assume uma relação linear entre a resposta do detector do instrumento e mudanças na densidade da formação e nas propriedades fotoelétricas da formação sendo examinada. O espaço em torno do instrumento dispostoem um furo do poço é dividido em uma grade de células, a cada uma das quais é atribuída uma sensibilidade. A contribuição de cada célula para a estimativa de resposta global do instrumento pode ser obtida a partir de mapas de sensibilidade espacial pré-calculada. Mais detalhes da técnica da função de sensibilidade de densidade são revelados na Patente Norte-Americana US 5.334.833, expedida para Case et al. O desempenho da técnica linear anterior pode incluir precisões relativas de uns poucos por cento em espaço de contagem que devem, em seguida, ser convertidas para o espaço de densidade. Por exemplo, quando se aplica o método de modelagem linear a uminstrumento de medição de densidade de formação de perfilagem durante a perfuração (na sigla em inglês para logging while drilling, "LWD"), por exemplo, um operado sob a marca VISION 475, que é uma marca da Schlumberger Technology Corporation, Sugar Land, Texas, USA, o erro de modelagem em comparação com dados experimentais foi contemplado como sendo tanto quanto 0,1 g/cm3 dentro de afastamento de água de 1” quando cobrindo variações espaciais típicas em densidade de 1 a 3 g/cm3. O desempenho limitado do método linear também é aparente em que as funções de sensibilidade de densidade não são idênticas quando calculadas utilizando diferentes formações de referência.
Alguma melhoria na precisão do método anterior pode ser obtida modificando as funções de sensibilidade numa base caso-a-caso, mas tais ajustes não são totalmente gerais. A. Mendoza, C. Torres-Verdin, e W. Preeg, Rapid Simulation of Borehole Nuclear Measurements With Approximate Spatial Flux-Scattering Functions (SPWLA 48 AnnualLoggingSymposium, June 3-6, 2007) revela umatécnica de funções de espalhamento de fluxo (FSF) espaciais para simular rapidamente porosidade de nêutrons e perfilagens de poços de densidade gama-gama (espalhamento de Compton).
O desenvolvimento da técnica FSF (veja também Mendoza, A., C. Torres-Verdin, e W. E. Preeg, 2010, Linear iterative refinement method for the rapid simulation of borehole nuclear measurements, Part I: Vertical wells: Geophysics, 75, no.1, E9-E29) sugeriu que a técnica poderia ser aplicada para a geração de um modelo de porosidade de nêutronsdiretos rápidos. Os testes iniciais com um modelo de ferramenta de perfilagem de poço nuclear genérico usando nêutrons de fonte de isótopos químicos AmBepareciam promissores. No entanto, após análise, os resultados fornecidos por um modelo rápido baseado em FSF para uma ferramenta de perfilagem de nêutrons com uma fonte de nêutrons pulsada (que gera nêutrons de 14 MeV) revelaram-se inadequados na simulação de resultados para invasão de formações saturadas de gás e para tratar os efeitos de variação de salinidade de água de formação.
O que é necessário é uma técnica melhorada para modelagem direta rápida de resposta do instrumento de perfilagem de poço de nêutrons.
Sumário
Um aspecto da presente divulgação é um processo para simular uma resposta de um instrumentode perfilagem de poço de nêutrons. O método inclui, em um computador, a definição de uma função de comprimento de migração de nêutrons em relação à taxa de contagem de detector de radiação esperada. A função é definida para valores selecionados de porosidade da formação. A função está relacionada ao comprimento de desaceleração de nêutrons e ao comprimento de difusão de nêutrons. A função é ponderada para a densidade da formação. Uma taxa de contagem de detector de radiação esperada é calculada no computador utilizando a função definidacom base em uma estimativa inicial da porosidade e densidade da formação.
Outros aspectos e vantagens da invenção se tornarão aparentes a partir da descrição e das reivindicações a seguir.
Breve Descrição dos Desenhos
A Figura 1 mostra um exemplo de instrumento de perfilagem de poço nuclear disposto em um furo de poço perfurado através de formações de subsuperfície.
A Figura 2 representa um sistema de computação de exemplo.
A Figura 3 ilustra um exemplo de como um valor Lm de formações cheias de água doce se correlacionacom o logaritmo da taxa de contagem de detector, ao passo que formações cheias de gás não seguem a mesma correlação.
A Figura 4 ilustra a combinação de Lm e densidade deformação para representar uma descrição da formação que tem uma única correlação com o logaritmo da taxa de contagem.
A Figura 5 ilustra os casos, na porosidade da formação de 5 a 40 p.u., em que a salinidade da água varia entre salinidade de 100, 200, 250 kppm.
A Figura 6 mostra como os dados com formações saturadas de sal podem ser reconciliados com os dados de água doce substituindo um novo parâmetro, Lm*, por Lm.
A Figura 7 mostra a taxa de contagem para casos cheios de água, cheios de gás e cheios de água salgada em função de Lm* e densidade, a qual é chamada de Fp, que tem uma única correlação para a taxa de contagem para todas as propriedades da formação.
Descrição Detalhada
A Figura 1 mostra um instrumento de perfilagem de poço de “porosidade de nêutrons” de exemplo. Os componentes de medição do instrumento 30 podem ser dispostos em um alojamento 111 moldado e vedado para ser movido ao longo do interior de um furo de poço. O instrumento de perfilagem de poço de nêutrons pulsados 30 pode, em uma forma do presente documento, ser de um tipo descrito, por exemplo, na Patente Norte-Americana US 5.699.246.
O instrumento de perfilagem de poço30 pode conter uma fonte de nêutrons química ou pulsada 115, e dois ou mais detectores de nêutrons 116, 117 em diferentes espaçamentos axiais da fonte de nêutrons. A fonte de nêutrons 115 (doravante "fonte"), quando ativada, emite "explosões"de duração controlada de nêutrons de alta energia (cerca de 14 MeV, e que podem ser emitidos de modo isotrópico). Um exemplo de uma fonte de nêutrons é descrito na Patente Norte-Americana US 5.293.410, expedida para Chen et al. e aqui incorporada por referência.
Os detectores de nêutrons 116, 117 podem detectar nêutrons que chegam ao detector em função do tempo. Tais medições podem ser utilizadas para proporcionar medição de índice de hidrogênio (na sigla em inglês para hydrogen index, HI) das formações 119 em torno do instrumento. Em alguns exemplos, os detectores 116, 117 podem ser contadores proporcionais de 3He. Em outros exemplos, a fonte 115 pode ser uma fonte de isótopos químicos, tais como amerício 241, numa "manta" de berílio.
O instrumento de perfilagem de poço 30 pode ser acoplado a um cabo elétrico blindado 33 que pode ser estendido e retirado do furo de furo de poço 32. O furo de poço 32 pode ou não incluir tubo de metal ou revestimento 16 no mesmo. O cabo 33 conduz energia elétrica para operar o instrumento 30 de um sistema de registro 7 implantado da superfície 31 e sinais provenientes dos detectores 116, 117 podem ser processados por um circuito adequado 118 para transmissão ao longo do cabo 33 para o sistema de registro 7. O sistema de registro 7 pode incluir um computador, como será explicado com referência à Figura. 2, bem como dispositivos para gravação em relação à profundidade e/ou ao tempo dos sinais comunicados ao longo do cabo 33 do instrumento 30. Os peritos na técnica reconhecerão que o instrumento mostrado na Figura 1 também pode ser configurado para ser transportado por uma coluna de perfuração usada para perfurar o furo de poço 32 e, portanto, faz parte de um instrumento de perfilagem durante a perfuração ("LWD"). Tais instrumentos LWD podem incluir dispositivos nos mesmos para registrar sinaisdetectados pelos diversos sensores e detectores no instrumento e podem incluir um subsistema de comunicação para transmitir alguns ou todos esses sinais para a unidade de registro 7 na superfície, por exemplo, modulando a pressão de fluido de perfuração bombeado para a coluna de perfuração. O transporte por cabo mostrado na Figura 1 não é para ser, por conseguinte, entendido como um limite ao escopo da presente divulgação.
A Figura 2 representa um sistema de computação de exemplo 100 de acordo com algumas modalidades. O sistema de computador 100 pode ser um sistema de computador pessoal 101A ou um arranjo de sistemas de computadores distribuídos. O sistema de computador 101A inclui um ou mais módulos de análise 102 que são configurados para executar diversas tarefas de acordo com algumas modalidades, tais como as tarefas cujos resultados estão representados nas Figuras 3 a 7. Para realizar estas várias tarefas, um módulo de análise 102 executa de forma independente, ou em coordenação com, um ou mais processadores 104, que é (ou são) ligado(s) a um ou mais meios de armazenamento 106. O(s)processador(es) 104 é (ou são) também conectado(s) a uma interface de rede 108 para permitir que o sistema de computador 101Acomunique através de uma rede de dados 110 com um ou mais sistemas de computador adicionais e/ou sistemas de computação, tais como 101B, 101C e/ou 101D (notem que os sistemas de computador 101B, 101C e/ou 101D podem ou não compartilhar a mesma arquitetura que o sistema de computador 101A, e podem estar localizados em diferentes locais físicos, por exemplo, os sistemas de computador 101A e 101B podemestar em um navio em curso no oceano, em uma unidade de perfilagem de poço disposta próxima a uma perfuração de furo de poço, embora em comunicação com um ou mais sistemas de computador, tais como 101C e/ou 101D que estão localizados em um ou mais centros de dados em terra, outros navios e/ou localizados em países diferentes em diferentes continentes).
Um processador pode incluir um microprocessador, microcontrolador, módulo ou subsistema de processador, circuito integrado programável, arranjo de portas programáveis, ou outro dispositivo de controle ou computação.
A mídia de armazenamento 106 pode ser implementada como um ou mais meios de armazenamento legíveis por computador não transitórios ou legíveis por máquina. Notem que embora na modalidade exemplar da Figura 1 o meio de armazenamento 106 seja representado como dentro do sistema de computador 101A, em algumas modalidades o meio de armazenamento 106 pode ser distribuído dentro e/ou através de vários invólucros internos e/ou externos do sistema de computação 101A e/ou sistemas de computação adicionais. A mídia de armazenamento 106 pode incluir uma ou mais diferentes formas de memória incluindo dispositivos de memória semicondutores, tais como memórias de acesso aleatório dinâmicas ou estáticas (nas siglas em inglês para dynamic or static tandom Access memories, DRAMs ou SRAMs), memórias de leitura somente apagáveis e programáveis (na sigla em inglês para erasable and programable read-only memories, EPROMs), memórias de leitura apenas eletricamente apagáveis e programáveis (na sigla em inglês para electrically erasable and programable read-only memories, EEPROMs) e memórias flash, discos magnéticos, tal como discos fixos, flexíveis e removíveis; outro meio magnético incluindo fita; mídia ótica, tal como discos compactos (na sigla em inglês para Compact Disc, CDs) ou discos de vídeo digital (DVDs); ou outros tipos de dispositivos de armazenamento. Notem que as instruções discutidas acima podem ser fornecidas em um meio de armazenamento legível por computador ou legível em máquina distribuído em um sistema grande tendo possivelmente nós plurais. Esse(s) meio(s) de armazenamento legíveis em computador ou legíveis por máquina é(são) considerado(s) como parte de um artigo (ou artigo de fabricação). Um artigo ou artigo de fabricação pode se referir a qualquer componente único manufaturado ou vários componentes. O meio ou os meios de armazenamento pode(m) estar localizados ou na máquina rodando as instruções legíveis por máquina ou localizados em um local remoto a partir do qual instruções legíveis por máquina podem ser baixadas através de uma rede para execução.
Deve ser apreciado que o sistema de computação 100 é apenas um exemplo de um sistema de computação e que o sistema de computação 100 pode ter mais ou menos componentes que o mostrado, pode combinar componentes adicionais não representados na modalidadeda Figura 2 e/ou o sistema de computação 100 pode ter uma configuração ou arranjo diferentedos componentes representados na Figura. 2. Os vários componentes mostrados na Figura. 2 podem ser implementados em hardware, software ou uma combinação de ambos hardware e software, incluindo um ou mais circuitos integrados de processamento de sinal e/ou específicos de aplicação.
Além disso, as etapas nos métodos descritos acima podem ser implementadasrodando um ou mais módulos funcionais no aparelho de processamento de informação, tal como processadores de uso geral ou chips específicos de aplicação, como ASICs, FPGAs, PLDs, ou outros dispositivos apropriados. Estes módulos, combinações destes módulos e/ou sua combinação com hardware geral estão todos incluídos dentro do escopo de proteção da invenção.
Ao explicar os métodos de exemplo aqui, um exemplo de umatécnica de funções de espalhamento de fluxo espacial (na sigla em inglês para flux-scattering functions, FSF) para um modelo de instrumento de perfilagem de poço de nêutrons é revisado em primeiro lugar. O ponto de partida é computar um conjunto de FSFs para uma geometria da ferramenta de nêutrons particular e configuração defonte.
Veja, por exemplo, a Figura. 1. O instrumento pode ser disposto em uma formação de subsuperfície (119 na Figura 1) tendo um certo conjunto de características físicas (por exemplo, volume fracional de espaço de poros ("porosidade"), tipo de fluido de poro, etc.
As FSFs podem ser geradas a partir do programa Monte Carlo conhecido como "MCNP" e correspondem essencialmente à importância de cada elemento espacial discreto (especificado a frente do tempo na geometria de modelagem). A FSF, então, representa um mapa tridimensional da importância que fornece uma maneira para obter um valor médio da propriedade da formação a partir dos valores especificados em cada elemento espacial da formação. Inicialmente, o comprimento de migração de nêutrons, Lm, definido como a soma quadrática do comprimento de desaceleração,Ls, e o comprimento de difusão,
Figure img0001
foi tomado para representar a descrição completa da formação. Assim, uma saída intermediária do modelo direto rápido pode ser a média ponderada de importância de todos os valores Lm de cada elemento de volume na formação. A quantidade desejada do modelo de nêutronsdiretos rápidos, no entanto, é a taxa de contagem de detector esperada. Para cada detector, um conjunto separado de execuções de programa de simulação de Monte Carlo pode ser realizado para definir, para um dado ambiente de furo de poço, a variação de taxa de contagem em função dos valores Lmda formação em formações uniformes. O procedimento acima funcionará corretamente contanto que Lm, por si só, de forma adequada correlacione com as variações de taxa de contagem medida pelo instrumento em uma montagem experimental ou calculada pela simulação de Monte Carlo.
A Figura 3 mostra um gráfico de um exemplo de como o valor Lm de formações porosas cheias de água doce se correlaciona com o logaritmo da taxa de contagem do detector distante. Os valores de porosidade de formação cheia de água doce são indicados pelos símbolos em 200 a 210 na Figura. 3, com uma curva de melhor ajuste unindo os símbolos. A partir dos resultados mostrados na Figura 3, pode-se concluir que a taxa de contagem de detector pode ser prontamente predita a partir do valor Lmda formação emformações porosascheias de água doce.
Uma limitação para o uso de Lmcomo o único estimador de propriedades de formação se torna imediatamente evidente quando considerando formações porosas cheias de gás. Na Figura. 3, as taxas de contagem de detector de formação porosa cheia de gás não caina curva de melhor ajuste deágua doce. Taxas de contagem de detector simuladas para vários valores de porosidade cheia de gás são mostradas por símbolos em 212 a 220 na Figura. 3. À medida que os valores de porosidade aumentam (valores Lm diminuem), as taxas de contagem de detector simuladas podem ser observadas como sendo consideravelmente mais baixas do que as correspondentes taxas de contagem de detector cheio com água doce. Assim, independentemente da forma das superfícies de FSF, porque elas são normalizadas para a unidade, o uso de FSF em conjunto com Lm não pode não predizer adequadamente a taxa de contagem de detector em formações cheias de gás porque os valores Lmmédios para casos cheios de gás serão geralmente demasiado grandes.
Os pontos de dados cheios de gás e cheios de águadoce mostrados na Figura. 3 podem ser harmonizados incluindo um termo que corresponde à densidade da formação porosa. Uma combinação linear simples de uma função de Lm e densidade da formação para representar uma descrição da formação, para uso com as FSFs, pode produzir boa concordância entre taxas de contagem de detector simuladas para formações cheias de água doce e formações cheiasde gás, como indicado no gráfico de Figura. 4.
A porosidade cheia de água salgada pode ser tratada da mesma forma. A Figura. 5 mostra um gráfico de Lm em relação à taxa de contagem de detector predita para valores de porosidade de formação de 5 a 40 p.u., para valores de água doce e para valores de salinidade de água de 100, 200 e 250 kppm. Mais uma vez os casos cheios de água doce são indicados pelos símbolos em 200 a 210 e as taxas de contagem simuladas com as várias salinidades são indicadas por símbolos indicados em 200C (250 kppm), 200A (100 kppm) até 208C e 208A. A simulações, para esta configuração de detector particular, mostram pouca variação de taxa de contagem, enquanto o valor Lm varia com a mudança na secção transversal de captura de nêutronsda formação. A variação de seção transversal de captura pode ser explicada usando a definição de outro valor Lm (Lm*) como foi feito em, Ellis, D.V., Flaum, C., Galford, J.E., e Scott, H.D., "The Effect of Formation Absorption on the Termal Neutron Porosity Measurement", Paper 16814-MS, 62nd SPE Annual Technical Conference and Exhibition, Dallas, Texas (1987)).
A Figura 6 mostra como taxas de contagem simuladas utilizando água saturada de sal nos espaços de poro de formação podem ser reconciliadas com as taxas de contagemsimuladas de porosidade cheia deágua docesimplesmente mudando a mistura do comprimentode desaceleraçãoLs edo comprimento de difusão, Ld, na definição de Lm
Figure img0002
. Para Lm, a ponderação do comprimento de difusão, Ld, tem um fatorα de 1, asmelhores adequações de curva para taxas de contagem simuladas que utilizam Lm* mostraram ter um α de ~ 0,5 para a contribuição de Ld.
Uma solução proposta consiste em fazer um parâmetro de formação transformado que será correlacionado com a taxa de contagem para todas as condições. Em um exemplo, isto pode ser realizado definindo uma nova função, Fp, que pondera uma função apropriada deLm* com a densidade de formação, pb. Na Figura. 7, um gráfico de taxa de contagem simulada para formaçõescheias de água, cheias de gás e cheias de água saturada de sal em vários valores de porosidade é mostrado em função de Fp. Usando o procedimento FSF com os valores Fp na formação pode, portanto, resultar em predições de taxa de contagem mais precisas.
Também deve ser notado que, embora Fp seja utilizado como um parâmetro para caracterizar a formação no presente exemplo, deve ser entendido que outras formas funcionais Fp podem ser apropriadas para detectores em diferentes espaçamentos fonte-detector e arranjos de blindagem.
A resposta do detector de nêutrons simulada pode ser usada, em alguns exemplos, como parte de um processo de inversão, para determinar valores de índice de hidrogênio e/ou outras propriedades relacionadas anêutrons da formação (119 na Figura 1). Ainversão pode incluir fazer medições da formação usando o instrumento conforme mostrado na Figura. 1. Um modelo inicial das formações pode ser gerado, por exemplo, incluindo camadas de formação de várias espessuras, valores de porosidade, salinidade deágua da formação e volumes fracionais de água, gás e/ou óleo. Uma resposta simulada para o modelo inicial pode ser gerada usando técnicas de exemplo, tal como explicado acima com referência à Figura. 7. As taxas de contagem de detector simuladas utilizando a técnica de exemplo podem, então, ser comparadas com as medições reais realizadas na formação como mostrado na Figura. 1. Qualquer um ou mais dos parâmetros do modelo inicial pode ser ajustado e a simulação da resposta do detector pode ser repetida. A descrição precedente pode ser repetida até que diferenças entre a resposta de detector simulada e a resposta medida atinjam um mínimo ou caiam abaixo de um limiar selecionado. O modelo ajustado neste ponto pode ser designado como um modelo final, ou seja, aquele que representa mais intimamente os parâmetros reais das formações de subsuperfície.
Embora a invenção tenha sido descrita com respeito a um número limitado de modalidades, aqueles versados na técnica, tendo o beneficio desta divulgação, apreciarão que outras modalidades podem ser concebidas que não se afastam do escopo da invenção, tal como aqui divulgado. Por conseguinte, o escopo da invenção deve ser limitado apenas pelas reivindicações anexas.

Claims (10)

1. Método para simular uma resposta de um instrumento de perfilagem de poço de nêutrons, caracterizado pelo fato de que compreende: em um computador, calcular um comprimento de migração de nêutron ponderado Lm* usando um comprimento de desaceleração de nêutron Ls e ponderando um comprimento de difusão de nêutron Ld; no computador, determinar uma função Fp com base em uma combinação do comprimento de migração de nêutron ponderado Lm* e uma densidade de formação que é descritiva de uma formação compreendendo um gás; e no computador, calcular uma taxa de contagem de detector de radiação esperada utilizando a função Fp, em que a taxa de contagem de detector de radiação esperada simula a resposta de um instrumento de perfilagem de poço de nêutrons sem execução de uma simulação de Monte Carlo.
2. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o detector de radiação compreende um detector de nêutrons.
3. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que compreende, no computador o cálculo de uma sensibilidade da taxa de contagem de detector esperada a alterações em propriedade de formação com base em espalhamento de fluxo espacial de formação.
4. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que compreende repetir o cálculo de uma taxa de contagem de detector de radiação esperada usando a função Fp até que uma diferença entre a taxa de contagem de detector esperada esteja abaixo de um limite.
5. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o comprimento de difusão de nêutrons Ld é ponderado por um fator de aproximadamente 0,5.
6. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o comprimento de migração de nêutrons ponderado Lm* é calculado de acordo com a relação abaixo:
Figure img0003
, em que α é um peso aplicado ao comprimento de difusão de nêutrons Ld.
7. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que compreende comparar a taxa de contagem de detector esperada com uma taxa de contagem medida.
8. Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o método é realizado em tempo real.
9. Meio legível por computador não transitório, caracterizado pelo fato de que o meio tem armazenada no mesmo lógica operável para fazer com que um computador programável execute atos compreendendo: determinar um comprimento de migração de nêutron Lm; calcular um comprimento de migração de nêutron ponderado Lm* com base em um comprimento de desaceleração Ls e um comprimento de difusão ponderado Ld; determinar uma densidade de formação que é descritiva de uma formação compreendendo um gás; combinar o comprimento de migração de nêutron ponderado Lm* com a densidade de formação para determinar uma função Fp; e calcular uma taxa de contagem de detector de radiação esperada usando a função Fp, em que a taxa de contagem de detector de radiação esperada simula a resposta de um instrumento de perfilagem de poço de nêutrons sem execução de uma simulação de Monte Carlo.
10. Método para perfilagem de poço, caracterizado pelo fato de que compreende: inserir um instrumento de perfilagem de poço de nêutron em um furo de poço penetrando formações de subsuperfície e medir taxa de contagem de pelo menos um detector no instrumento; em um computador, determinar uma função Fp com base em uma combinação do comprimento de migração de nêutron ponderado Lm* e uma densidade de formação que é descritiva de uma formação compreendendo um gás; e no computador, calcular uma taxa de contagem de detector de radiação esperada utilizando a função Fp, comparar a taxa de contagem de detector esperada com a taxa de contagem medida no computador; ajustar pelo menos um parâmetro da função no computador; e repetir, no computador, a taxa de contagem esperada de cálculo e comparar com a taxa de contagem medida até diferenças entre elas chegarem a um mínimo ou caírem abaixo 10 de um limiar selecionado.
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