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US7019345B2
(en)
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Photodiode CMOS imager with column-feedback soft-reset for imaging under ultra-low illumination and with high dynamic range
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JP2010504518A
(ja)
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直接型ｘ線変換に基づく積分検出器に関する漏れ電流及び残留信号の補償
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TW200425729A
(en)
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Solid-state imaging device
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JP2011252716A
(ja)
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光強度測定方法
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BE564400A
(en:Method)
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JP2004357276A
(ja)
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低ノイズ光受信機
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EP0692907B1
(fr)
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Circuit de suppression de courant d'obscurité de photodétecteur
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EP3715803B1
(en)
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Optical detection circuit
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Kinch et al.
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1/f noise in HgCdTe focal-plane arrays |
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Rehm et al.
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InAs/GaSb superlattice infrared detectors |
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US6268615B1
(en)
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Photodetector
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FR2504753A1
(fr)
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Circuit detecteur de niveau
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JP2010199702A
(ja)
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熱型赤外線検出素子
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FR2921154A1
(fr)
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Dispositif de detection d'un rayonnement electromagnetique a limitation de courant
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JP2009265000A
(ja)
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熱型赤外線検出素子
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FR2806807A1
(fr)
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Detecteur de rayonnement a jonction semi-conductrice pour la mesure de forts debits de dose de rayonnement x ou gamma
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US5739561A
(en)
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Light sensitive semiconductor device and method of operation
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FR2674705A1
(fr)
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Dispositif amplificateur video.
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Park et al.
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Active pixel sensor using a 1× 16 nano-wire photodetector array for complementary metal oxide semiconductor imagers |
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JP7087374B2
(ja)
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半導体装置、撮像装置及び光センサ
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JP5258806B2
(ja)
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光電変換装置
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FR2789532A1
(fr)
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Generateur de rampe de tension et generateur de rampe de courant comprenant un tel generateur
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Halladay et al.
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Field-dependent mobility effects in the excess noise of junction-gate field-effect transistors |
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Le Roch et al.
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WORKSHOP PAPER Leakage Current Non-Uniformity and Random Telegraph Signal in CMOS Image Sensor Floating Diffusions used for In-Pixel Charge Storage |
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FR2781899A1
(fr)
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Generateur de courant constant
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