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FR2577322A1
(fr)
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Dispositif pour mesurer sans contact la vitesse d'un milieu en mouvement
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EP0147294B1
(fr)
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Appareil et procédé de mesure dynamique et sans contact de faibles distances
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BE442903A
(OSRAM)
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EP0021893B1
(fr)
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Procédé et dispositif d'inspection de produits métalliques par courants de Foucault et application du procédé et du dispositif
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CH630178A5
(fr)
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Circuit de mesure de difference de capacite.
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EP1546742B1
(fr)
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Procede de determination de l'impedance d'un systeme electrochimique
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BE474675A
(OSRAM)
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JP3645757B2
(ja)
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粒径分布解析方法
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BE481388A
(OSRAM)
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BE488123A
(OSRAM)
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EP1579197B1
(fr)
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Procédé de caractérisation optique de materiaux sans utilisation de modèle physique
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JP5167527B2
(ja)
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電気特性測定装置
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BE515389A
(OSRAM)
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EP1210611B1
(fr)
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Procede de mesure et de diagnostic de rayonnements electromagnetiques
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Konieczka et al.
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Comparison of two methods for the measurement of the modulus of elasticity of metallic sheets |
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EP1745267B1
(fr)
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Determination d'une fonction d'autocorrelation
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WO1990015965A1
(fr)
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Procede et dispositif de mesure de la section ou du diametre de produits cylindriques longs en materiaux conducteurs
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BE627164A
(OSRAM)
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BE556840A
(OSRAM)
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EP0469267B1
(fr)
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Procédé et capteur pour la mesure en continu de l'épaisseur d'un revêtement
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BE496799A
(OSRAM)
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BE490319A
(OSRAM)
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WO2023062452A1
(fr)
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Procédé de caractérisation en mode impulsionnel d'un transistor à semi-conducteur iii-v et banc de mesures associé
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BE636107A
(OSRAM)
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BE572000A
(OSRAM)
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