ATA3392000A - Verfahren und anordnung zum testen eines prüflings - Google Patents

Verfahren und anordnung zum testen eines prüflings

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111258836A (zh) * 2020-03-02 2020-06-09 浙江万里学院 一种多功能车辆总线一致性测试装置及方法

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6961672B2 (en) * 2002-03-05 2005-11-01 Credence Systems Coporation Universal diagnostic platform for specimen analysis
US7002355B2 (en) 2003-01-10 2006-02-21 Panduit Corp. Apparatus and method for communications testing
US7071705B2 (en) * 2004-01-08 2006-07-04 Panduit Corp. Apparatus and method for communications testing
DE10329396B4 (de) * 2003-06-30 2021-12-30 Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft Hochfrequenz-Messsystem mit räumlich getrennten Hochfrequenzmodulen
EP1713239A4 (de) * 2004-01-23 2012-08-08 Japan Novel Corp Geräteuntersuchungseinrichtung, geräteuntersuchungssystem damit und mobiltelefonhalteeinrichtung
US7337376B2 (en) * 2004-06-04 2008-02-26 Inventec Corporation Method and system of self-test for a single infrared machine
DE102005038077A1 (de) * 2005-08-10 2007-02-22 Sennheiser Electronic Gmbh & Co Kg Prüfeinrichtung
CN101105514A (zh) * 2006-07-14 2008-01-16 深圳富泰宏精密工业有限公司 便携式电子装置测试系统及测试方法
ES2426999T3 (es) * 2009-04-20 2013-10-28 Kapsch Trafficcom Ag Componentes y procedimiento para medir la funcionalidad de un sistema de peaje viario
DE102009032197A1 (de) * 2009-07-07 2011-01-13 Vodafone Holding Gmbh System und Verfahren zum Testen eines elektronischen Geräts
US20130200915A1 (en) * 2012-02-06 2013-08-08 Peter G. Panagas Test System with Test Trays and Automated Test Tray Handling
CN103308810B (zh) * 2013-06-26 2016-06-15 国家电网公司 直流输电阀试验控制方法及脉冲转换控制装置
CN103487693B (zh) * 2013-09-25 2015-11-04 烽火通信科技股份有限公司 机框槽位的检测方法
US9600267B2 (en) * 2015-06-15 2017-03-21 International Business Machines Corporation Optimizing provisioning through automated virtual machine template generation
CN105306651B (zh) * 2015-10-23 2018-01-02 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种解决各个平台手机校准问题的方法及设备

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5184312A (en) * 1985-10-13 1993-02-02 The Boeing Company Distributed built-in test equipment system for digital avionics
US5036479A (en) * 1989-04-20 1991-07-30 Trw Inc. Modular automated avionics test system
DE4111181A1 (de) * 1991-04-06 1992-10-08 Rohde & Schwarz Einrichtung zum einstellen einzelner unterschiedlicher elektronischer geraete eines geraetesystems
GB2290206B (en) * 1994-05-14 1999-04-28 Motorola Ltd Transcoder test method
JPH07318614A (ja) * 1994-05-23 1995-12-08 Tescon:Kk ファンクションテスト・システム
US5566088A (en) * 1994-06-13 1996-10-15 Motorola, Inc. Modular radio test system and method
JPH08241185A (ja) * 1994-11-03 1996-09-17 Motorola Inc 統合型試験および測定手段ならびにグラフィカル・ユーザ・インタフェースを採用する方法
US5796721A (en) * 1996-06-21 1998-08-18 National Instruments Corporation Method and system for monitoring fieldbus network with dynamically alterable packet filter
DE19652035C2 (de) * 1996-12-13 1999-07-22 Rohde & Schwarz Prüfplatz und Verfahren für elektronische Baueinheiten, insbesondere Mobilfunktelefone
DE19713932A1 (de) * 1997-04-04 1998-10-08 Omicron Electronics Gmbh Testsystem und Testverfahren
US5832418A (en) * 1997-06-23 1998-11-03 Micron Electronics Apparatus for testing a controller with random contraints
DE19740761A1 (de) * 1997-09-16 1999-03-18 Fredenhagen Gmbh & Co Kg Vorrichtung und Verfahren zur Automatisierung von Fördersystemen
WO1999027376A1 (fr) * 1997-11-20 1999-06-03 Advantest Corporation Procede de test de circuits integres et appareil de test de circuits integres utilisant ce procede
US6229323B1 (en) * 1998-04-23 2001-05-08 Micron Technology, Inc. Automated multi-chip module handler, method of module handling, and module magazine
US6536006B1 (en) * 1999-11-12 2003-03-18 Advantest Corp. Event tester architecture for mixed signal testing

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111258836A (zh) * 2020-03-02 2020-06-09 浙江万里学院 一种多功能车辆总线一致性测试装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
AT412242B (de) 2004-11-25
US6681142B2 (en) 2004-01-20
US20010021899A1 (en) 2001-09-13
EP1130406A2 (de) 2001-09-05
EP1130406A3 (de) 2008-11-05

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