AT518377B1

AT518377B1 - Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage

Info

Publication number: AT518377B1
Application number: ATA7/2017A
Authority: AT
Original assignee: Hegla Gmbh & Co Kg
Priority date: 2016-03-09
Filing date: 2017-01-10
Publication date: 2018-03-15
Also published as: DE102016104273A1; AT518377A3; DE102016104273B4; AT518377A2; ES2632211B1; ES2632211A1

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Behandlung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage (100), wobei die Flachglaseinheiten (200; T; 201, 202, 203) mindestens eine mit einer Beschichtung versehe Glasfläche aufweisen, und wobei die Beschichtung mindestens eine Entschichtungskontur entlang einer Grenze zwischen beschichteter und entschichteter Glasfläche aufweist. Insbesondere wird zur Vorbereitung von Schneidvorgängen in einer Schneidevorrichtung (120) die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') mittels einer Sensorik (S) für eine qualitative und/oder quantitative Prüfung erfasst, um beispielsweise eine optimale Schnittlinie zu bestimmen und einen nachfolgenden Schneidvorgang entsprechend zu steuern. Die Sensorik weist vorzugsweise ein optisches Sensormittel (S) auf, der insbesondere einen Kontrast-, Reflexions- und/oder Bildsensor verwendet wird, wobei das Sensormittel insbesondere als Kamera ausgebildet ist.

Description

Beschreibung [0001] Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Behandlung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage. Insbesondere betrifft die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung, die in einer Anlage zum Schneiden von beschichtetem Flachglas jeder Art, wie z.B. Flachglas- oder Verbundglasscheiben, eingesetzt werden.

[0002] Glasverarbeitende Anlage, die z.B. flachglasverarbeitende Maschinen zum Schneiden für Flachgläser für die Bauindustrie aufweisen, produzieren in der Regel einzelne Glaseinheiten, welche später zu Fenstern, Türen, Fassaden o.ä. weiterverarbeitet werden. Oft sind diese Glaseinheiten aus verschiedenen Gründen, beispielsweise zum Schutz gegen Sonneneinstrahlung, mit einer Beschichtung versehen. Wird eine solche Glaseinheit weiterverarbeitet, muss diese Beschichtung im Randbereich der jeweiligen Glaseinheit entfernt werden, und zwar in einem dem Schneiden vorgelagerten Prozess. Dies geschieht üblicherweise mit Hilfe einer Entschichtungsvorrichtung, wie sie beispielsweise aus EP 517176 A1 bekannt ist. Als Ent-schichtungswerkzeug wird z.B. einer Schleifscheibe verwendet. Demnach ist ein Verfahren zur Behandlung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage bekannt, bei dem die Flachglaseinheiten mindestens eine mit einer Beschichtung versehe Glasfläche aufweisen, wobei die Beschichtung in vorgebbaren Entschichtungsbereichen mittels einer Entschichtungsvorrichtung entfernt wird, so dass sich mindestens eine Entschichtungskontur entlang einer Grenze zwischen beschichteter und entschichteter Glasfläche ausbildet.

[0003] Befindet sich der entschichtete Bereich (Streifen) am Rand einer vereinzelten Glaseinheit, dann liegt nur eine Entschichtungskontur vor. In der Regel ergeben sich aber zwei gegenüberliegende Entschichtungskonturen, weil das Entfernen der Beschichtung vorzugsweise an dem Glasrohling geschieht, bevor er in Einzelscheiben geschnitten wird. Dabei muss entlang der für den späteren Schneidvorgang vorgesehenen Aufteilungskontur beidseitig der zu erzeugenden Schnittlinien die Beschichtung entfernt werden. Durch das dem Schneiden vorgelagerte Entschichten wird u.a. auch die Haftfähigkeit von Klebstoffen, die für die Herstellung nötig sein können, gewährleistet. In beiden Fällen ist es erforderlich, die Qualität der Entschichtungskon-tur(en) zu prüfen. Auch unabhängig von einer weiteren Behandlung der Flachglaseinheiten kann es sinnvoll sein, die vorhandenen Entschichtungskonturen qualitativ und/oder quantitativ genau zu erfassen, um beispielsweise die Güte der Erfassungskonturen zu prüfen und zu beurteilen. Gegebenenfalls können schlechte Konturen nachbearbeitet werden. Die Erfassung von Entschichtungskonturen kann im Zusammenhang mit vielen Arten von Behandlung von Flachglaseinheiten von Nutzen sein, wie z.B. für Positionierungsvorgänge, Schneid- und/oder Trennvorgänge.

[0004] So ist beispielsweise zu beachten, dass für einen Schneidprozess die zu schneidenden Glasrohlinge oder Teilrohlinge bzw. Traveren üblicherweise mittels verfahrbarer Halteklammern, Haltesaugern, Anschlagklötzen o.ä. auf das zu schneidende Maß positioniert werden. Hierbei wird die tatsächliche Position der vorgenannten Vorrichtungen gewöhnlich über ein. elektronisches Messsystem, auch Geber genannt, an der Vorrichtung bzw. Anlage selbst erfasst. Hierdurch wird aber nur versucht, ein möglichst genaues Scheibenmaß zu erreichen, was letztlich auch zu der Annahme führt, dass das Schneiden mittig der Entschichtungskonturen erfolgt. In der Praxis zeigt sich jedoch, dass durch mechanische Toleranzen, Verschleiß o.ä., es nur sehr schwer zu gewährleisten ist, gegebene Toleranzen (typischerweise < 1mm) zwischen der Schnittkante und der entschichteten Kontur(en) einzuhalten.

[0005] Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren zur Behandlung von Flachglaseinheiten so zu verbessern, dass die oben genannten Nachteile des Standes der Technik überwunden werden und eine effizient arbeitende Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens in einer glasverarbeitenden Anlage realisiert werden kann. Die vorliegende Erfindung soll insbesondere geeignet sein, vorhandene Entschichtungskonturen qualitativ und/oder quantitativ genau zu erfassen, um beispielsweise die Güte der Erfassungskonturen zu prüfen und zu beurteilen. Des Weiteren soll im Zusammenhang mit Schneidprozessen ermöglicht werden, die zuvor entschichteten Einheiten mittels direkter Erkennung der Entschichtungskontur(en) optimal zu positionieren, so dass der durchzuführende Schnitt möglichst exakt mittig zwischen zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen verläuft.

[0006] Gelöst wird die Aufgabe durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1.

[0007] Demnach wird Verfahren zur Behandlung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage vorgeschlagen, bei dem mittels einer Sensorik die mindestens eine Entschich-tungskontur erfasst wird. Dafür wird vorzugsweise als Sensorik ein optisches Sensormittel, insbesondere ein Kontrast-, Reflexions- und/oder Bildsensor verwendet, wobei das Sensormittel insbesondere als Kamera ausgebildet sein kann.

[0008] Die Erfindung stellt auch eine das Verfahren anwendende glasverarbeitende Anlage zur Behandlung von Flachglaseinheiten bereit, wobei die Anlage oder eine daran installierte Vorrichtung eine erfindungsgemäße Sensorik aufweist, welche die mindestens eine Entschich-tungskontur erfasst. Vorzugsweise geschieht dies in einem dem Schneiden vorgelagerten Prozess, d.h. für eine Vorbereitung zum Schneiden der Flachglaseinheiten. Die erfindungsgemäße Anlage ist für jede Art von beschichtetem Flachglas verwendbar, wie z.B. für ein- oder zweiseitig beschichtetes Flachglas, Verbundglas und dergleichen. Insbesondere eignet sich die Erfindung zur Vorbereitung und Steuerung eines optimalen Schneidvorganges an den jeweils entschichteten Bereichen des (Teil-) Rohlings.

[0009] Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

[0010] Demnach wird das Verfahren zur Positionierung der Flachglaseinheiten für ein in der Anlage durchgeführtes Schneiden der Flachglaseinheiten verwendet, wobei mittels der Sensorik die Position und/oder der Verlauf der mindestens einen Entschichtungskontur erfasst wird, um abhängig davon die Positionierung der Flachglaseinheiten beim Schneiden zu steuern. In diesem Zusammenhang wird die Beschichtung in den Entschichtungsbereichen so entfernt, dass sich diese jeweils entlang einer vorgebbaren Schnittlinie erstrecken, wobei das Schneiden der Flachglaseinheiten so gesteuert wird, dass die Schnittlinie, insbesondere mittig, zwischen jeweils zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen verläuft.

[0011] Die Sensorik kann z.B. an einem oberhalb der Flachglaseinheiten befindlichen Teil der Anlage, insbesondere an einem Schlitten eines Schneidwerkzeuges, montiert werden. Die Sensorik kann auch „nur" für eine automatisierte Qualitätsprüfung der vorgebbaren Entschich-tungsbereiche der Flachglaseinheiten eingesetzt werden. Alternativ oder ergänzend zu optischen Sensormitteln, kann die Sensorik z.B. auch kapazitive und/oder resistive Sensormittel aufweisen. Des Weiteren kann es vorteilhaft sein, wenn zur Erfassung der Entschichtungskontur die Flachglaseinheiten mittels einer Beleuchtungsvorrichtung beleuchtet und/oder durchleuchtet werden.

[0012] Das erfindungsgemäße Verfahren dient insbesondere zur Erkennung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage und setzt mindestens eine Sensorik ein, um die mindestens eine Entschichtungskontur genau zu erfassen, wobei als Sensorik ein optisches Sensormittel, insbesondere einen Kontrast-, Reflexions- und/oder Bildsensor verwendet wird, und/oder wobei das Sensormittel insbesondere als Kamera oder als Laser mit Detektoreinheit ausgebildet ist.

[0013] Zusätzlich kann das Verfahren so ausgestaltet sein, dass die Beschichtung im Ent-schichtungsbereich mittels einer Entschichtungsvorrichtung entfernt wird, um die mindestens eine Entschichtungskontur auszubilden. Somit kann das Verfahren genutzt werden, um mittels der Sensorik die mindestens eine Entschichtungskontur für eine Vorbereitung eines weiteren Prozessschritts zu erfassen, insbesondere für einen weiteren Prozessschritt, der einen Positioniervorgang, einen Prüfvorgang, Schneidvorgang und/oder Trennvorgang umfasst.

[0014] Das Verfahren kann zur Positionierung eines Werkzeugs und/oder der Flachglaseinheiten für ein in der Anlage mittels einer Glasbehandlungsvorrichtung durchgeführte Behandlung der Flachglaseinheiten verwendet werden, wobei mittels der Sensorik die Position und/oder der Verlauf der mindestens einen Entschichtungskontur erfasst wird, um abhängig davon die Positionierung der Flachglaseinheiten und/oder des Werkzeugs vor oder beim Behandeln zu steuern, und/oder um das Ergebnis nachträglich zu kontrollieren, insbesondere wenn die Behandlung einen Schneide- oder Trennprozess umfasst.

[0015] Für die Vorbereitung zum Behandeln der Flachglaseinheiten kann die Beschichtung in den Entschichtungsbereichen so entfernt werden, dass sich diese jeweils entlang einer vorgeb-baren Behandlungslinie, insbesondere Schnittlinie, erstrecken, wobei das Behandeln der Flachglaseinheiten mittels der Sensorik so gesteuert wird, dass die Behandlungslinie, in definiertem Abstand zu der Entschichtungskontur verläuft, insbesondere mittig, zwischen jeweils zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen oder in einem definierten Abstand zu mindestens einer Entschichtungskontur.

[0016] Die Sensorik kann an einem, ganz oder teilweise, oberhalb und/oder unterhalb der Flachglaseinheiten befindlichen Teil der Anlage, insbesondere an einem Maschinenkörper oder an einer Glasbehandlungsvorrichtung, insbesondere an einem Schlitten eines Behandlungswerkzeugs, montiert werden. Auch kann die Sensorik zur Erkennung mindestens einer Entschichtungskontur separat montiert und nicht mit einem Maschinenkörper verbunden sein. Mittels der Sensorik kann die mindestens eine Entschichtungskontur für eine Qualitätsprüfung der vorgebbaren Entschichtungsbereiche der Flachglaseinheiten zuverlässig erfasst werden. Auch kann mittels der Sensorik die Güte der Entschichtung im Entschichtungsbereich der Flachglaseinheit qualitativ und/oder quantitativ erfasst werden. Als Sensorik können z.B. kapazitive, resistive und/oder induktive Sensormittel verwendet werden.

[0017] Des Weiteren können zur Erfassung und/oder Vermessung der mindestens einen Entschichtungskontur die Flachglaseinheiten mittels mindestens einer Beleuchtungs-Vorrichtung beleuchtet und/oder durchleuchtet werden.

[0018] Die Sensorik kann auch verwendet werden, um Informationen über den Entschichtungsbereich und/oder die Entschichtungskontur darzustellen oder weiter zu verarbeiten, wobei die Weiterverarbeitung insbesondere automatisch, teilautomatisch oder manuell erfolget und steuernden oder regelnden Charakter besitzt.

[0019] Die Erfindung betrifft auch eine glasverarbeitende Anlage zur Behandlung von Flachglaseinheiten, welche mindestens eine mit einer Beschichtung versehe Glasfläche aufweisen, auf der mindestens ein Entschichtungsbereich mit mindestens einer Entschichtungkontur ausbildet ist, wobei die Anlage selbst oder eine daran direkt oder davon entfernt installierte Vorrichtung eine Sensorik aufweist, welche die mindestens eine Entschichtungskontur erfasst. Vorzugsweise kann die Sensorik ein optisches Sensormittel, insbesondere einen Kontrast-, Reflexions-und/oder Bildsensor, aufweisen, wobei das Sensormittel insbesondere als Kamera oder als Laser mit Detektoreinheit ausgebildet ist.

[0020] Insbesondere kann die Anlage eine Steuerung (z.B. einen PC) und Mittel zum Behandeln der Flachglaseinheiten aufweisen, wobei die Sensorik die mindestens eine Entschichtungskontur zur Positionierung der Flachglaseinheiten oder des Behandlungswerkzeugs vor oder während dem Behandeln erfasst, und wobei die Sensorik die Position und/oder den Verlauf der mindestens einen Entschichtungskontur erfasst. Die Steuerung kann abhängig davon die Positionierung der Flachglaseinheiten steuern und/oder regeln, oder die Positionierung des Behandlungswerkzeugs beim Behandeln der Flachglaseinheiten anzeigen.

[0021] Die Entschichtungsvorrichtung kann vor dem Behandeln die Beschichtung in den Entschichtungsbereichen so entfernen, dass sich diese jeweils entlang einer vorgebbaren Behandlungslinie erstrecken, wobei die Steuerung das Behandeln der Flachglaseinheiten dann so steuert, dass die Behandlungslinie in definiertem Abstand zur Entschichtungskontur verläuft, insbesondere mittig, zwischen jeweils zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen oder in einem definierten Abstand zu mindestens einer Entschichtungskontur. Dabei kann die Sensorik an einem, ganz oder teilweise, oberhalb und/oder unterhalb der Flachglaseinheiten befindli- chen Teil der Anlage, insbesondere an einem Maschinenkörper oder an einer Glasbehandlungsvorrichtung, insbesondere an einem Schlitten eines Behandlungswerkzeuges, montiert sein.

[0022] Außerdem wird eine Vorrichtung vorgeschlagen, die für eine solche glasverarbeitende Anlage zur Behandlung von Flachglaseinheiten beschaffen ist, welche mindestens eine mit einer Beschichtung versehe Glasfläche aufweisen, die mindestens einen Entschichtungsbereich aufweist, so dass sie mindestens eine Entschichtungskontur entlang einer Grenze zwischen beschichteter und entschichteter Glasfläche aufweist, wobei die Vorrichtung an oder in unmittelbarer Nähe der Anlage installiert ist und eine Sensorik aufweist, welche die mindestens eine Entschichtungskontur erfasst.

[0023] Die Vorrichtung kann eine rechnergestützte Erfassung der mindestens einen Entschichtungskontur oder eine quantitative und/oder qualitative Erfassung des Entschichtungsbereichs mit Hilfe eines Rechenmittels ausführen, insbesondere mit Hilfe einer für die Anlage installierten Steuerung, die abhängig von der Erfassung der mindestens einen Entschichtungskontur eine Positionierung der Flachglaseinheiten oder des Behandlungswerkzeugs beim Behandeln in der Anlage darstellt und/oder steuert und/oder regelt und/oder eine Qualitätsbeurteilung des Entschichtungsbereichs unterstützt.

[0024] Nachfolgend werden die Erfindung und die sich daraus ergebenden Vorteile im Detail anhand von Ausführungsbeispielen und unter Bezugnahme der beiliegenden Zeichnung beschrieben, die folgendes zeigen: [0025] Fig. 1 stellt in schematischer Weise den Aufbau einer Anlage zur Behandlung, ins besondere zum Schneiden von beschichtetem Flachglas, dar, bei der das Verfahren zur Erfassung von Entschichtungskonturen durchgeführt wird, um die zu schneidenden Glasscheiben optimal zu positionieren; [0026] Fig. 2 veranschaulicht die mittels einer optischen Sensorik durchgeführte Erfassung von zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen und eine davon abhängige Positionierung für das Schneiden der Glasscheiben; und [0027] Fig. 3 zeigt ein schematisches Ablaufdiagram für das erfindungsgemäße Verfahren.

[0028] Die Fig. 1 zeigt den Aufbau einer glasverarbeitenden Anlage 100, die beschaffen ist, das erfindungsgemäße Verfahren auszuführen. Die Anlage 100 weist u.a. einen Bereich auf, in dem der Rohling bzw. die ungeschnittene Rohscheibe 200 der Anlage zugeführt wird (s. Pfeil). Für den Rohling ist beispielhaft der Zuschnittsplan 210 für die herzustellenden Flachglaseinheiten eingezeichnet, von denen exemplarisch drei Einheiten mit den Bezugszeichen 201, 202 und 203 versehen sind. Die Anlage 100 umfasst u.a. eine Entschichtungsvorrichtung 110 und eine nachfolgend im Prozess angeordnete Schneidvorrichtung bzw. Schneidbrücke 120, welche entsprechend dem Schnittplan die erforderlichen Schnitte nacheinander ausführen kann. Sofern nach einem Schnitt noch zusammenhängende Stücke, also noch nicht vollständig vereinzelte Scheiben, verbleiben, spricht man von Traversen. Eine solche Traverse ist in der Fig. 1 dargestellt und mit dem Bezugszeichen T versehen.

[0029] In der Fig. 1 ist exemplarisch die Situation dargestellt, dass bereits ein erster Zuschnitt (X-Schnitt) durchgeführt worden ist und dass die Traverse T sich nun für den zweiten Zuschnitt (Y-Schnitt) um 90 Grad gedreht unterhalb der Schneidbrücke 120 befindet. Aus der Traverse T sollen dann im Weiteren die einzelnen Scheiben geschnitten werden, also hier zunächst die Scheibe 201. Zur Vorbereitung des Schneidens in der Anlage, also bevor das Glasmaterial unter der Schneidbrücke 120 geschnitten wird, wird der zu schneidende Glasrohling 200 bzw. die jeweilige Traverse mit Hilfe der Entschichtungsvorrichtung 120 bearbeitet, um entlang der im Schnittplan 210 vorgegebenen Schnittlinien 211 die Beschichtung B bereichsweise von dem Glas zu entfernen.

[0030] In der Fig. 3 ist schematisch der Ablauf des Verfahrens 10 dargestellt, wobei der Schritt 11 sich auf die bereichsweise Entschichtung des Glasrohling bzw. -teilrohlings bezieht, der

Schritt 12 sich auf des Erkennen bzw. Detektieren von Entschichtungskonturen, und der Schritt 13 auf ein davon abhängig gesteuertes Zuschneiden und vereinzeln zu den gewünschten Glaseinheiten.

[0031] Mit Verweis auf die Figur 2 wird deutlich, dass für geradlinige Schnitte ein streifenförmiger Entschichtungsbereich D ausgebildet wird, wobei dies z.B. durch mechanisches Abtragen der Beschichtung B von der Glasfläche erfolgen kann. Dazu kann z.B. eine Schleifmaschine (in der Entschichtungsvorrichtung 110) verwendet werden, die einen etwa 20 mm breiten Streifen abschleift. Damit bilden sich an den Grenzkanten jeweils Entschichtungskonturen K und K' aus, die hier mit Hilfe einer optischen Sensorik S erkannt werden. Beispielsweise handelt es sich dabei um eine Kamera, die mit einer Recheneinheit PC verbunden ist und zumindest einen Teilbereich des Streifens D erfasst. Die Sensorik S und die Recheneinheit PC bilden eine erfindungsgemäße Vorrichtung 150, die an der Anlage installiert bzw. darin integriert werden kann. Die Recheneinheit wird vorzugsweise durch den für die Steuerung der Anlage 100 bereits vorhanden Rechner (Personal Computer) realisiert. Dieser Rechner PC steuert insbesondere auch die Positionierung des zu schneidenden Glasmaterials während des gesamten Prozesses.

[0032] Um die in Fig. 2 exemplarisch dargestellten Entschichtungskonturen K und K' erkennen bzw. detektieren zu können, wird mittels der Sensorik S mindestens eine Bildaufnahme gemacht und die Bilddaten werden in dem Rechner PC beispielsweise einer Kontrast-und/oder Reflexionsanalyse unterzogen. Im gezeigten Beispiel wird als Sensor eine Kamera eingesetzt, die mit Hilfe des Rechners PC die Grenzen zwischen den beschichteten Flächen und dem entschichteten Bereich D erkennt, um somit Lage und Verlauf der jeweiligen Entschichtungskonturen K bzw. K' zu detektieren. Wenn es sich um einen geradlinigen Verlauf handeln soll, d.h. wenn gerade Schnitte durchgeführt werden sollen, reicht es in vielen Fällen aus, die Detektion exemplarisch an einer Stelle durchzuführen, so wie es in Fig. 2 dargestellt ist. Sobald mit Hilfe der Kamera S und des Rechners PC die Lagen der beiden Entschichtungskonturen K bzw. K' detektiert worden sind, kann die Lage der gewünschten Schnittlinie M bestimmt werden. In vielen Fällen wird hierzu die Mittellinie bestimmt, es kann aber auch prozesstechnisch gewünscht sein, die Schnittlinie etwas versetzt dazu verlaufen zu lassen, also einen gewissen Offset vorzusehen. Es kann ggf. auch ausreichen nur eine der beiden Entschichtungskonturen K zu detektieren und abhängig davon die Position bzw. den Verlauf der Schnittlinie zu bestimmen. Durch die exakte Bestimmung der Position der Entschichtungskontur(en), kann die zu schneidende Glaseinheit, hier die Travere T, mit Hilfe der beschriebenen Vorrichtungen, neu positioniert bzw. nachkorrigiert werden, sodass sich die Schnittlinie optimal zwischen den beiden Entschichtungskonturen befindet.

[0033] In der hier beschriebenen Ausführung der Erfindung wird eine Kamera S an dem Schlitten des Schneidwerkzeugs, welcher in Y- Richtung verfahrbar ist, angebracht (s. Fig. 1), sodass diese entlang der Achse des Schlittens, zusammen mit dem Schneidwerkzeug, verfahrbar ist und somit die Erkennung der Entschichtungskontur an einer beliebigen Position durchgeführt werden kann. Gegenüber dem aktuellen Stand der Technik bietet die genannte Erfindung den entscheidenden Vorteil, dass die eingangs genannten, negativen Einflüsse auf die Maßhaltigkeit, nahezu unerheblich sind, da bei der genannten Erfindung die Entschichtungskontur (en) selbst als Bezugspunkt zur Positionierung dient/dienen.

[0034] In einzelnen Anwendungsfällen kann es sinnvoll sein, dass die Sensorik bzw. Kamera keine Standbildaufnahme an einer Stelle vornimmt, sondern entlang des Enschichtungsberei-ches bewegt wird und somit den gesamten Verlauf der Entschichtungskonturen aufnimmt, um dann eine Schnittlinie zu bestimmen. Dies ist insbesondere bei kurvenförmigen Modellschnitten erforderlich, kann aber auch sinnvoll sein, wenn die Entschichtungskonturen zwar geradlinig verlaufen sollten, die Konturen aber an den Grenzbereichen ausfransen. In diesem Zusammenhang zeigt sich, dass die Vorrichtung 150 auch sehr gut zur automatischen Qualitätsprüfung der Entschichtung eingesetzt werden kann. Wenn die Qualität ggf. nicht ausreicht, kann der Prozess zwecks Wartung der Anlage angehalten werden.

Durch den Einsatz des Rechners PC kann auch eine quantitative Aussage über die Qualität des Entschichtungsprozesses. getroffen werden; hierzu können statistische Daten erhoben und ausgewertet werden. Das Erkennen und Detektieren der Entschichtungskonturen kann auf einem mit dem Rechner PC verbundenen Display in Echtzeit angezeigt werden; ebenso kann die Datenauswertung dort benutzerfreundlich visualisiert werden.

[0035] Das anhand der Figuren gezeigte Beispiel betrifft insbesondere die optimale Vorbereitung einen geradlinigen Schnitts an einer Traverse T zwischen zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen K und K'. Sofern man sich am Anfang oder Ende einer Traverse befindet, wird man nur eine Entschichtungskontur vorfinden und es muss kein Schnitt ausgeführt werden. Jedoch kann die Sensorik dazu genutzt werden, die Lage und den Verlauf der einen Entschichtungskontur im Vergleich zum Scheibenrand zu erfassen und zu überprüfen. Auch kann die Qualität des Scheibenrandes bzw. der Scheibenkante überprüft werden.

[0036] Die hier beschriebene Kamera ist nur ein Beispiel für eine optische Sensorik. Die Sensorik kann auch andere optische Sensormittel aufweisen, die als Kontrast-, Reflexions- und/oder Bildsensor fungieren. Hierfür kann ggf. auch ein Laser mit Detektoreinheit eingesetzt werden. In den meisten Fällen dürfte aber eine kostengünstigere Lösung mit Kamera und PC vollkommen ausreichen.

[0037] Versuche haben auch gezeigt, dass in den meisten Fällen die an der Anlage vorhandenen Lichtverhältnisse für eine ausreichende Detektion und Bestimmung der Schnittlinie ausreichen. Sofern es erforderlich sein sollte, die von der Sensorik bzw. Kamera erfassten Bereiche besser auszuleuchten, kann eine Beleuchtungsvorrichtung vorgesehen werden, welche die Flachglaseinheiten beleuchtet und/oder ggf. sogar durchleuchtet.

[0038] Je nach Anwendungsfall kann es vorteilhaft sein, die Sensorik an einem bewegten Anlagenteil zu montieren, wie z.B. an dem Schlitten des Schneidwerkzeuges, oder die Sensorik statisch am Maschinenkörper der Anlage zu montieren.

Claims

Patentansprüche

1. Verfahren (10) zur Erkennung von Flachglaseinheiten an einer glasverarbeitenden Anlage (100), wobei die Flachglaseinheiten (200; T; 201, 202, 203) mindestens eine mit einer Beschichtung (B) versehe Glasfläche aufweisen, und wobei die Beschichtung (B) mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') entlang einer Grenze zwischen beschichteter und ent-schichteter Glasfläche aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass mittels einer Sensorik (S) mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') erfasst wird (Schritt 12).
2. Verfahren (10) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Sensorik ein optisches Sensormittel (S), insbesondere einen Kontrast-, Reflexions- und/oder Bildsensor verwendet wird, wobei das Sensormittel insbesondere als Kamera oder als Laser mit Detektoreinheit ausgebildet ist.
3. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (B) im Entschichtungsbereich (D) mittels einer Entschichtungsvor-richtung (110) entfernt wird (Schritt 11), um die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') auszubilden.
4. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Sensorik (S) die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') für eine Vorbereitung eines weiteren Prozessschritts erfasst wird (Schritt 12), insbesondere eines weiteren Prozessschrittes, der einen Positioniervorgang, einen Prüfvorgang, Schneidvorgang und/ oder Trennvorgang umfasst.
5. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren zur Positionierung eines Werkzeugs und/oder der Flachglaseinheiten (200; T) für ein in der Anlage (100) mittels einer Glasbehandlungsvorrichtung (120) durchgeführte Behandlung der Flachglaseinheiten verwendet wird, wobei mittels der Sensorik (S) die Position und/oder der Verlauf der mindestens einen Entschichtungskontur (K, K') erfasst wird, um abhängig davon die Positionierung der Flachglaseinheiten (200; T) und/oder des Werkzeugs vor oder beim Behandeln zu steuern (Schritt 13), und/oder um das Ergebnis nachträglich zu kontrollieren, insbesondere wenn die Behandlung einen Schneide- oder Trennprozess umfasst.
6. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass für die Vorbereitung zum Behandeln der Flachglaseinheiten die Beschichtung (B) in den Entschichtungsbereichen (D) entfernt wird (Schritt 11), so dass sich diese jeweils entlang einer vorgebbaren Behandlungslinie (M), insbesondere Schnittlinie, erstrecken, wobei das Behandeln der Flachglaseinheiten (200; T) mittels der Sensorik (S) so gesteuert wird (Schritt 13), dass die Behandlungslinie (M), in definiertem Abstand zu der Entschichtungskontur (K,K') verläuft, insbesondere mittig, zwischen jeweils zwei gegenüberliegenden Ent-schichtungskonturen (K, K') oder in einem definierten Abstand zu mindestens einer Entschichtungskontur (K).
7. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorik (S) an einem, ganz oder teilweise, oberhalb und/oder unterhalb der Flachglaseinheiten befindlichen Teil der Anlage, insbesondere an einem Maschinenkörper oder an einer Glasbehandlungsvorrichtung (120), insbesondere an einem Schlitten eines Behandlungswerkzeugs, montiert wird.
8. Verfahren (10) nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorik (S) zur Erkennung mindestens einer Entschichtungskontur (K) separat montiert und nicht mit einem Maschinenkörper verbunden ist.
9. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Sensorik (S) die mindestens eine Entschichtungskontur (K) für eine Qualitätsprüfung der vorgebbaren Entschichtungsbereiche (D) der Flachglaseinheiten (T) erfasst wird.
10. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Sensorik (S) die Güte der Entschichtung im Entschichtungsbereich (D) der Flachglaseinheit (T) qualitativ und/oder quantitativ erfasst wird.
11. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als Sensorik (S) kapazitive, resistive und/oder induktive Sensormittel verwendet werden.
12. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erfassung und/oder Vermessung der mindestens einen Entschichtungskontur (K, K') die Flachglaseinheiten mittels mindestens einer Beleuchtungsvorrichtung beleuchtet und/ oder durchleuchtet werden.
13. Verfahren (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorik (S) verwendet wird, um Informationen über den Entschichtungsbereich (D) und/oder die Entschichtungskontur (K, K') darzustellen oder weiter zu verarbeiten, wobei die Weiterverarbeitung insbesondere automatisch, teilautomatisch oder manuell erfolget und steuernden oder regelnden Charakter besitzt.
14. Glasverarbeitende Anlage (100) zur Behandlung von Flachglaseinheiten (200; T; 201, 202, 203), welche mindestens eine mit einer Beschichtung (B) versehe Glasfläche aufweisen, auf der mindestens ein Entschichtungsbereich (D) mit mindestens einer Entschichtungkon-tur (K,K') ausbildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage (100) oder eine daran direkt oder davon entfernt installierte Vorrichtung (150) eine Sensorik (S) aufweist, welche die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') erfasst.
15. Glasverarbeitende Anlage (100) nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorik ein optisches Sensormittel (S), insbesondere einen Kontrast-, Reflexions-und/oder Bildsensor, aufweist, wobei das Sensormittel (S) insbesondere als Kamera oder als Laser mit Detektoreinheit ausgebildet ist.
16. Glasverarbeitende Anlage (100) nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage die Sensorik (S) zur qualitativen und/oder quantitativen Erfassung der Entschichtung im Entschichtungsbereich (D) oder der Entschichtungskontur (K, K') verwendet.
17. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-16, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage eine Entschichtungsvorrichtung (110) aufweist, welche die Beschichtung (B) in vorgebbaren Entschichtungsbereichen (D) entfernt, so dass sich mindestens eine Entschichtungskontur (K,K') entlang einer Grenze zwischen beschichteter und entschichteter Glasfläche ausbildet.
18. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-17, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage mindestens eine Glasbehandlungsvorrichtung (120) mit einem Behandlungswerkzeug aufweist und dass die Sensorik (S) die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') für eine Vorbereitung zur Behandlung der Flachglaseinheiten (200; T) erfasst, insbesondere zu einer Behandlung, die eine Positionierung, einen Schneid-und/oder Trennvorgang umfasst.
19. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-18, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage eine Steuerung (PC) und Mittel zum Behandeln der Flachglaseinheiten aufweist, und dass die Sensorik (S) die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') zur Positionierung der Flachglaseinheiten (200; T) oder des Behandlungswerkzeugs vor oder während dem Behandeln erfasst, wobei die Sensorik (S) die Position und/oder den Verlauf der mindestens einen Entschichtungskontur (K, K') erfasst, und dass die Steuerung (PC) abhängig davon die Positionierung der Flachglaseinheiten (200; T) steuert und/oder regelt, oder die Positionierung des Behandlungswerkzeugs beim Behandeln der Flachglaseinheiten anzeigt.
20. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-19, dadurch gekennzeichnet, dass die Entschichtungsvorrichtung (110) vor dem Behandeln die Beschichtung in den Entschichtungsbereichen (D) so entfernt, dass sich diese jeweils entlang einer vor-gebbaren Behandlungslinie (M) erstrecken, und dass die Steuerung (PC) das Behandeln der. Flachglaseinheiten (200; T) so steuert, dass die Behandlungslinie (M) in definiertem Abstand zur Entschichtungskontur (K, K') verläuft, insbesondere mittig, zwischen jeweils zwei gegenüberliegenden Entschichtungskonturen (K, K') oder in einem definierten Abstand zu mindestens einer Entschichtungskontur (K).
21. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-20, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorik (S) an einem, ganz oder teilweise, oberhalb und/oder unterhalb der Flachglaseinheiten befindlichen Teil der Anlage, insbesondere an einem Maschinenkörper oder an einer Glasbehandlungsvorrichtung (120), insbesondere an einem Schlitten eines Behandlungswerkzeuges, montiert ist.
22. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-21, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage mindestens teilweise der qualitativen und/oder quantitativen Untersuchung des Entschichtungsbereichs (D) und/oder der Entschichtungskontur (K, K') mittels der Sensorik (S) dient.
23. Glasverarbeitende Anlage nach einem der Ansprüche 14-22, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensorik kapazitive und/oder resistive und/oder induktive Sensormittel aufweist.
24. Glasverarbeitende Anlage (100) nach einem der Ansprüche 14-23, dadurch gekennzeichnet, dass die Anlage oder die Vorrichtung (150) zur Erfassung der mindestens einen Entschichtungskontur (K, K') mindestens eine Beleuchtungsvorrichtung aufweist, welche die Flachglaseinheiten (200, T) beleuchtet und/oder durchleuchtet.
25. Vorrichtung (150) für eine glasverarbeitende Anlage (100) zur Behandlung von Flachglaseinheiten (200; T; 201,202, 203), welche mindestens eine mit einer Beschichtung (B) versehe Glasfläche aufweisen, die mindestens einen Entschichtungsbereich (D) aufweist, so dass sie mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') entlang einer Grenze zwischen beschichteter und entschichteter Glasfläche aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (150) an oder in unmittelbarer Nähe der Anlage (100) installiert ist und eine Sensorik (S) aufweist, welche die mindestens eine Entschichtungskontur (K, K') erfasst.
26. Vorrichtung (150) nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung eine rechnergestützte Erfassung der mindestens einen Entschichtungskontur (K, K') oder eine quantitative und/oder qualitative Erfassung des Entschichtungsbereichs (D) mit Hilfe eines Rechenmittels ausführt, insbesondere mit Hilfe einer für die Anlage (100) installierten Steuerung (PC), die abhängig von der Erfassung der mindestens einen Entschichtungskontur (K, K') eine Positionierung der Flachglaseinheiten (200; T) oder des Behandlungswerkzeugs beim Behandeln in der Anlage (100) darstellt und/oder steuert und/oder regelt und/oder eine Qualitätsbeurteilung des Entschichtungsbereichs unterstützt.