AT315929B - Meßeinrichtung zur Bestimmung der örtlichen Abhängigkeit der Intensität und/oder der Verzögerungszeit der Rekombinationsstrahlung über das Strahlungsband einer Halbleiterstrahlungsquelle - Google Patents

Meßeinrichtung zur Bestimmung der örtlichen Abhängigkeit der Intensität und/oder der Verzögerungszeit der Rekombinationsstrahlung über das Strahlungsband einer Halbleiterstrahlungsquelle

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    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices
    • G—PHYSICS
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    • G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F13/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00
    • G04F13/02—Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00 using optical means
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