AT172008B - Verfahren und Einrichtung zur schnellen Messung einer Induktivität, Kapazität und Resonanzfrequenz von Resonanzkreisen, besonders mit kleinem Gütefaktor - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur schnellen Messung einer Induktivität, Kapazität und Resonanzfrequenz von Resonanzkreisen, besonders mit kleinem Gütefaktor

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