WO2021100185A1 - 部品実装システム、部品供給装置および部品実装方法 - Google Patents

部品実装システム、部品供給装置および部品実装方法 Download PDF

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WO2021100185A1
WO2021100185A1 PCT/JP2019/045704 JP2019045704W WO2021100185A1 WO 2021100185 A1 WO2021100185 A1 WO 2021100185A1 JP 2019045704 W JP2019045704 W JP 2019045704W WO 2021100185 A1 WO2021100185 A1 WO 2021100185A1
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chip
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山内 朗
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ボンドテック株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a component mounting system, a component supply device, and a component mounting method.
  • a method has been proposed in which a stage for holding a substrate and a bonding portion arranged above the stage are provided, and the bonding portion is lowered while the chip is held by the head of the bonding portion to bond the chip to the substrate. (See, for example, Patent Document 1). Further, a method has also been proposed in which the joint surfaces of the two objects to be joined are subjected to plasma treatment and then the joint surfaces of the two objects to be joined are brought into contact with each other for joining (see, for example, Patent Document 2).
  • a method is being provided in which a method is being provided in which a bonding surface of a chip to be bonded to a substrate is subjected to plasma treatment, and then the bonding surface of the chip is brought into contact with the substrate to bond the chip to the substrate.
  • the present invention has been made in view of the above reasons, and provides a component mounting system, a component supply device, and a component mounting method in which foreign matter adheres to the joint surface of a component and damage to the joint surface of the component is suppressed. With the goal.
  • the component mounting system is It is a component mounting system that mounts components on a board.
  • the parts supply unit that supplies the parts and
  • a head that holds a side opposite to the joint surface side that is joined to the mounting surface of the substrate of the component at the tip portion.
  • the head has a first component holding portion that holds the joint surface side of the component supplied from the component supply unit in a non-contact manner, and the component is held in the head while the first component holding portion holds the component.
  • the first part transport section that transports to the transfer position to be transferred, and A substrate holding portion that holds the substrate and In a state where the component transferred from the first component conveying portion is held by the tip end portion of the head, the head is relatively moved in the first direction from the head toward the substrate holding portion to the substrate.
  • a head drive unit for mounting the component on the mounting surface by bringing the joint surface of the component into contact with the mounting surface of the above is provided.
  • the component mounting method according to the present invention from another viewpoint is a component mounting method for mounting components on a board.
  • the step of transporting to the transfer position In a state where the component transferred to the head is held by the tip end portion of the head, the head is relatively moved from the head toward the substrate holding portion holding the substrate to move the substrate relatively.
  • the component is transferred to the head while the component is held by the first component holding portion that holds the joint surface side of the supplied component in a non-contact manner.
  • Parts are transported to the position.
  • the part can be transported without touching the joint surface of the surface-activated part, and foreign matter adheres to the joint surface of the part and damage to the joint surface of the part due to touching the joint surface of the part are suppressed. Therefore, the occurrence of poor bonding between the component and the substrate is suppressed.
  • FIG. (A) is a schematic front view of the head according to the first embodiment
  • (B) is a schematic plan view of the head according to the first embodiment.
  • (A) is a diagram showing how chips are supplied from the chip supply unit in the chip mounting system according to the first embodiment
  • (B) is a diagram in which the chip transport unit supplies chips in the chip mounting system according to the first embodiment. It is a figure which shows the state which received the chip from the part.
  • (A) is a diagram showing how the chip transfer unit transfers the chip to the transfer position in the chip mounting system according to the first embodiment
  • (B) is a diagram showing a chip from the chip transfer unit according to the first embodiment to the head. It is a figure which shows the state which is reprinted.
  • (A) is a diagram showing a state in which the chip is transferred from the chip transport portion according to the first embodiment to the head
  • (B) is a diagram showing a state in which the chip is held by the head according to the first embodiment. Is. It is a figure which shows the state of the chip mounting process in the bonding apparatus which concerns on Embodiment 1.
  • FIG. It is a schematic block diagram of the chip mounting system which concerns on Embodiment 2 of this invention.
  • FIG. (A) is a diagram showing a state in which the second chip transfer unit receives chips in the chip supply unit according to the second embodiment
  • (B) is a diagram in which the second chip transfer unit receives the chips in the chip supply unit according to the second embodiment. It is a figure which shows the state of transporting a chip.
  • (A) is a diagram showing how the chip is inverted by the reversing unit in the chip mounting system according to the second embodiment
  • (B) is the first chip from the chip supply unit in the chip mounting system according to the second embodiment. It is a figure which shows the state which the chip is transferred to the transport part.
  • (A) is a diagram showing a state in which the first chip transfer unit holds a chip in the chip mounting system according to the second embodiment
  • (B) is a diagram showing a state in which the first chip transfer unit holds a chip in the chip mounting system according to the second embodiment
  • (B) is a first chip transfer unit in the chip mounting system according to the second embodiment. Is a diagram showing how the chip is transported to the transfer position. It is a schematic block diagram of the chip mounting system which concerns on Embodiment 3 of this invention. It is the schematic of the 2nd chip transport part which concerns on Embodiment 3.
  • (A) is a diagram showing a state in which the second chip transfer unit receives chips in the chip supply unit according to the third embodiment
  • (B) is a diagram in which the second chip transfer unit receives the chips in the chip supply unit according to the third embodiment. It is a figure which shows the state of transporting a chip.
  • (A) is a diagram showing a state in which a chip is transferred from a chip supply unit to a first chip transport unit in the chip mounting system according to the third embodiment
  • (B) is a diagram showing a state in which a chip is transferred from the chip supply unit to the first chip transport unit
  • (B) is a chip mounting system according to the third embodiment. It is a figure which shows the state which the chip was transferred to the 2nd chip transport part in the above.
  • FIG. It is a figure which shows the mode that the 1st chip transfer part conveys a chip in the chip mounting system which concerns on Embodiment 3.
  • FIG. It is a schematic block diagram of the chip mounting system which concerns on a modification. It is the schematic of the head which concerns on the modification.
  • (A) is a schematic front view showing a part of the chip supply unit according to the modified example
  • (B) is a diagram showing a state in which the chip is held by the adhesive sheet in the chip supply unit according to the modified example.
  • FIG. C) is a diagram showing how the chip is separated from the adhesive sheet in the chip supply unit according to the modified example.
  • (A) is a schematic front view showing a part of the chip supply unit according to the modified example
  • (B) is a diagram showing how the chip is separated from the adhesive sheet in the chip supply unit according to the modified example.
  • (A) is a schematic front view showing a part of the head of the bonding apparatus according to the modified example
  • (B) is a diagram for explaining the operation of the head of the bonding apparatus according to the modified example.
  • (A) is a perspective view of the sheet according to the modified example, and (B) is a diagram for explaining the operation of the chip mounting system when the sheet according to the modified example is used.
  • (A) is a schematic cross-sectional view showing a part of the tray according to the modified example
  • (B) is a diagram showing how the chip is detached from the tray according to the modified example
  • (A) is a schematic cross-sectional view showing a part of the tray according to the modified example
  • (B) is a diagram showing how the chip is detached from the tray according to the modified example.
  • It is a schematic plan view of the chip mounting system which concerns on a modification. It is sectional drawing of a part of the 1st chip transport part which concerns on a modification. It is a schematic side view of the chip mounting system which concerns on the modification.
  • FIG. 1 It is a figure which shows the state which the chip is supplied from the chip supply part in the chip mounting system which concerns on the modification, (A) is a schematic plan view, (B) is a schematic side view. (A) is a schematic plan view showing a state in which the chip holding portion is moved vertically upward of the cleaning portion in the chip mounting system according to the modified example, and (B) is a schematic plan view showing how the chip stage is cleaned in the chip mounting system according to the modified example. It is a schematic plan view which shows the state of moving the head vertically downward. It is a figure which shows the state which the chip is delivered from the chip transport part to the head in the chip mounting system which concerns on the modification, (A) is a schematic plan view, (B) is a schematic side view.
  • FIG. 1 It is a schematic plan view which shows the state in which a chip is delivered from a chip transport part to a chip collection part in a chip mounting system which concerns on a modification. It is a schematic block diagram of a part of a chip supply part which concerns on a modification.
  • (A) is a schematic perspective view of a part of the chip supply unit according to the modified example
  • (B) is a schematic perspective view of a part of the chip supply unit according to another modified example
  • (C) is (B). It is a schematic plan view of a part of the chip supply part shown in.
  • a part of the chip supply portion according to the modified example is shown, (A) is a schematic cross-sectional view showing a state in which the tip portion of the chip support plate of the pickup mechanism is pressed against the sheet to which the chip is attached, and (B) is a schematic cross-sectional view. It is the schematic cross-sectional view which shows the state of rubbing the sheet to which a chip is attached by the tip of the chip support plate of a pickup mechanism.
  • a part of the chip supply unit according to the modified example is shown, (A) is a schematic cross-sectional view showing how the pickup mechanism sucks the sheet to which the chip is attached, and (B) is a schematic cross-sectional view showing how the pickup mechanism sucks the chip attached to the Bernoulli chuck.
  • FIG. 1 It is a schematic cross-sectional view which shows the state of reprinting.
  • a part of the chip supply portion according to the modified example is shown
  • (A) is a schematic cross-sectional view showing a state in which the tip portion of the chip support pin of the pickup mechanism is pressed against the sheet to which the chip is attached
  • (B) is a schematic cross-sectional view. It is the schematic cross-sectional view which shows the state that the pickup mechanism pressed the tip of the peeling pin against the sheet to which the tip was attached.
  • a part of the chip supply unit according to the modified example is shown, (A) is a schematic cross-sectional view showing how the pickup mechanism sucks the sheet to which the chip is attached, and (B) is a schematic cross-sectional view showing how the pickup mechanism sucks the chip attached to the Bernoulli chuck. It is a schematic cross-sectional view which shows the state of reprinting.
  • (A) is a schematic perspective view of a part of the chip supply portion according to the modified example
  • (B) is a schematic plan view of the head portion of the chip support plate according to the modified example
  • (C) is a schematic plan view of the head portion of the chip support plate according to the modified example. It is the schematic plan view of the head part with the support plates approaching each other.
  • (A) is a schematic cross-sectional view showing how the tip of the chip support plate of the pickup mechanism according to the modified example rubs the sheet to which the chip is attached
  • (B) is a schematic cross-sectional view of the tip of the chip support plate in (A). It is an enlarged view. A part of the chip supply portion according to the modified example is shown, (A) is a schematic cross-sectional view showing how the tip portion of the peeling member of the pickup mechanism is brought close to the sheet to which the chip is attached, and (B) is a schematic cross-sectional view showing the state where the chip is attached. It is the schematic cross-sectional view which shows the state of rubbing the sheet to which the chip is attached by the peeling member of.
  • a part of the chip supply unit according to the modified example is shown, (A) is a schematic cross-sectional view showing how the peeling member of the pickup mechanism is moved away from the sheet to which the chip is attached, and (B) is a schematic cross-sectional view showing how the pickup mechanism is separated from the Bernoulli chuck. It is a schematic cross-sectional view which shows the state of transferring a chip to.
  • (A) is a plan view showing a Bernoulli chuck and a guide portion according to a modified example
  • (B) is a plan view showing a Bernoulli chuck and a guide portion according to another modified example.
  • It is the schematic sectional drawing which shows a part of the Bernoulli chuck and the chip supply part which concerns on the modification. It is the schematic side view which partially broke the non-contact chuck which concerns on the modification.
  • the chip mounting system is a system for mounting components on a board.
  • the component is, for example, a semiconductor chip (hereinafter, simply referred to as “chip”) supplied from a dicing substrate.
  • chip semiconductor chip
  • solder bumps there is a limit to reducing the size of the solder bumps, and it is necessary to set the electrode pitch formed on the substrate to about 50 ⁇ m.
  • a method of surface-bonding an electrode formed on a bonding surface and an insulator layer on the same surface without using bumps is preferable because the above-mentioned electrode pitch can be reduced to several ⁇ m.
  • the chip mounting system according to the present embodiment is particularly effective. is there.
  • the bonding surface of the chip cannot be touched, and since the method is a method of bonding in a solid phase, voids are generated when particles are placed on the bonding surface. Can be the cause.
  • the bonding surface of the chip is made hydrophilic by applying plasma treatment, and then the mounting surface of the substrate and the bonding surface of the chip are brought into contact with each other to temporarily bond them, and then heat treatment is performed. Change to a tight covalent bond and join. For example, when an insulator and a Cu electrode are present on the joint surface of the chip, the joint surface is flattened by CMP polishing and then surface-bonded.
  • the chip can be conveyed to the head of the bonding apparatus without touching the bonding surface of the chip, and particles are prevented from adhering to the bonding surface of the chip and the mounting surface of the substrate.
  • the “board mounting surface” indicates a surface on which a chip is mounted.
  • the chip mounting system 1 includes a chip supply device 10, a bonding device 30, and a control unit 90.
  • the ⁇ Z direction of FIG. 1 will be described as the vertical direction and the XY direction will be described as the horizontal direction.
  • the chip supply device 10 is a component supply device that acquires one chip CP from a plurality of chip CPs attached to the sheet TE held by the sheet holding frame 112 and supplies the chip CP to the bonding device 30.
  • the sheet TE for example, an adhesive sheet that holds a plurality of chip CPs on one side having adhesiveness can be adopted.
  • the chip supply device 10 includes a chip supply unit 11 and a first chip transfer unit 51 that conveys the chip CP supplied from the chip supply unit 11 to the head 33H of the bonding device 30, which will be described later.
  • the chip supply unit 11 is a component supply unit having a frame holding unit 119 for holding the seat holding frame 112, a pickup mechanism 111 for picking up one chip CP from a plurality of chip CPs, and a cover 114. Further, the chip supply unit 11 has a holding frame driving unit 113 that drives the seat holding frame 112 in the XY direction or the direction of rotation around the Z axis.
  • the frame holding portion 119 holds the seat holding frame 112 in a posture in which the surface of the sheet TE to which the plurality of chip CPs are attached is vertically upward (+ Z direction).
  • the sheet holding portion to be held by is configured.
  • the pickup mechanism 111 cuts out (protrudes) one chip CP out of the plurality of chip CPs from the side opposite to the side of the plurality of chip CPs in the sheet TE, so that one chip CP is separated from the sheet TE. ..
  • the pickup mechanism 111 holds a peripheral portion which is a third portion different from the central portion which is a first portion held by the head 33H described later on the side opposite to the joint surface CPf side of the chip CP. Cut out the chip CP.
  • the third part may be the same as the first part.
  • the pickup mechanism 111 has a needle 111a and can move in the vertical direction as shown by the arrow AR15 in FIG.
  • the cover 114 is arranged so as to cover vertically above the plurality of chip CPs, and a hole 114a is provided in a portion facing the pickup mechanism 111.
  • the pickup mechanism 111 supplies the tip CP by piercing the sheet TE with the needle 111a from vertically below ( ⁇ Z direction) in the sheet TE and lifting the tip CP vertically upward (+ Z direction). Then, each chip CP attached to the sheet TE is projected one by one through the hole 114a of the cover 114 to the upper side of the cover 114 by the needle 111a, and is delivered to the first chip conveying unit 51.
  • the holding frame driving unit 113 changes the position of the tip CP located vertically below the needle 111a by driving the seat holding frame 112 in the XY direction or in the direction of rotating around the Z axis.
  • the first chip transport unit 51 is a first component transport unit that transports the chip CP supplied from the chip supply unit 11 to the transfer position Pos1 for transferring the chip CP to the head 33H.
  • the first chip transport unit 51 includes a main body unit 511, a first chip holding unit 512 which is a first component holding unit, and a chip cover 513. As shown by the arrow AR14 in FIG. 1, the main body portion 511 moves the first chip holding portion 512 between the preset standby position and the transfer position Pos1.
  • the first chip holding portion 512 has, for example, as shown in FIG. 2, a main piece 512b and two leg pieces 512a extending in the same direction from the main piece 512b.
  • the distance between the two leg pieces 512a is set to be shorter than the minimum width in the plan view of the chip CP. Then, the first chip holding portion 512 holds the peripheral portion which is the second portion of the chip CP in a state where the chip CP is suspended between the two leg pieces 512a.
  • the chip cover 513 is a component cover provided on the first chip holding portion 512 and covering the joint surface CPf side of the chip CP with the first chip holding portion 512 holding the chip CP.
  • the bonding device 30 includes a stage 31, a bonding unit 33 having a head 33H, and a head driving unit 36 for driving the head 33H.
  • the head 33H has, for example, a tip tool 411, a head main body portion 413, a chip support portion 432a, and a support portion drive portion 432b, as shown in FIG. 3A.
  • the chip tool 411 is made of, for example, silicon (Si).
  • the head body portion 413 has a holding mechanism 440 having a suction portion for sucking and holding the chip CP on the chip tool 411, and a pressing mechanism 431 for pressing the central portion of the chip CP.
  • the holding mechanism 440 holds the peripheral portion of the chip CP via the chip tool 411.
  • the pressing mechanism 431 is movable in the vertical direction at the central portion of the tip surface of the head main body portion 413, and presses the pressing portion 431a that presses the central portion of the chip CP vertically upward and the pressing drive that drives the pressing portion 431a. It has a part 431b and. Further, the head main body portion 413 also has a suction portion (not shown) for fixing the chip tool 411 to the head main body portion 413 by vacuum suction.
  • the pressing drive unit 431b moves the pressing unit 431a vertically upward while the peripheral portion of the chip CP is held by the chip tool 411, the central portion of the chip CP is pressed vertically upward (+ Z direction) and the chip is inserted.
  • the central part of the CP is bent vertically upward with respect to the peripheral part.
  • a through hole 411a formed at a position corresponding to the holding mechanism 440 of the head body portion 413, a through hole 411b into which the pressing portion 431a is inserted inside, and a tip support portion 432a are inserted inside. It has a through hole 411c.
  • the chip support portion 432a has, for example, a pin-shaped shape, and is a component support portion provided at the tip of the head 33H and movable in the vertical direction.
  • the chip support portion 432a supports the central portion, which is the first portion on the side opposite to the joint surface CPf side of the chip CP. As shown in FIG. 3B, for example, four chip support portions 432a are provided so as to surround the pressing portion 431a.
  • the support unit drive unit 432b drives the chip support unit 432a in the vertical direction.
  • the support unit drive unit 432b uses the chip support unit 432a as the first chip support unit 432b in a state where the first chip holding unit 512 holding the chip CP is located at the transfer position Pos1 and the chip support unit 432a supports the central portion of the chip CP. It is moved vertically above the chip holding portion 512. As a result, the chip CP is transferred from the first chip holding unit 512 of the first chip transport unit 51 to the head 33H.
  • the head driving unit 36 drives the bonding unit 33 in the Z-axis direction (see arrow AR11 in FIG. 1) and rotationally drives the bonding unit 33 around the rotation axis along the Z-axis direction (see the arrow AR11 in FIG. 1). See arrow AR12 in FIG. 1).
  • the head drive unit 36 moves the head 33H holding the chip CP received from the first chip transport unit 51 vertically upward (+ Z direction) to bring the head 33H closer to the stage 31 and chip the chip on the mounting surface WTf of the substrate WT.
  • Implement CP the mounting surface WTf of the substrate WT and the bonding surface CPf of the chip CP are hydrophilized by being subjected to plasma treatment as described above. As a result, the chip CP is so-called hydrophilically bonded to the substrate WT by bringing the bonding surface CPf of the chip CP into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT.
  • the stage 31 is a substrate holding portion that holds the substrate WT in a posture in which the mounting surface WTf on which the chip CP is mounted on the substrate WT faces vertically downward ( ⁇ Z direction).
  • the stage 31 is driven in the X direction and the Y direction by the stage drive unit 32 (see arrow AR13 in FIG. 1). Thereby, the relative positional relationship between the bonding portion 33 and the stage 31 can be changed, and the mounting position of each chip CP on the substrate WT can be adjusted.
  • the control unit 90 has, for example, an MPU (Micro Processing Unit), a main storage unit, an auxiliary storage unit, an interface, and a bus connecting each unit, and has a head drive unit 36, a stage drive unit 32, and a holding mechanism 440 of the bonding device 30. And the pressing mechanism 431, and the chip supply unit 11 and the first chip transfer unit 51 of the chip supply device 10 are controlled.
  • the MPU of the control unit 90 reads the program stored in the auxiliary storage unit into the main storage unit and executes it, so that the head drive unit 36, the stage drive unit 32, the holding mechanism 440, the pressing mechanism 431, and the chip are executed via the interface.
  • a control signal is output to each of the supply unit 11 and the first chip transfer unit 51.
  • the pickup mechanism 111 moves vertically upward to move one chip CP to the side opposite to the plurality of chip CP sides in the sheet TE.
  • One chip CP is separated from the sheet TE.
  • the first chip transport unit 51 approaches the chip CP from the side of the chip CP projected in the vertical direction by the pickup mechanism 111.
  • the needle 111a of the pickup mechanism 111 is arranged between the two leg pieces 512a (see FIG. 2) of the first chip holding portion 512.
  • the chip CP is attached to the first chip holding portion 512 as shown in FIG. 4B. Is held.
  • the first chip transport unit 51 moves the first chip holding unit 512 to the transfer position Pos1 at which the chip CP is transferred to the head 33H, as shown by the arrow AR34 in FIG. 5 (A).
  • the head driving portion 36 moves the bonding portion 33 vertically upward as shown by the arrow AR35 in FIG. 5A, and the head 33H Is brought closer to the first chip holding portion 512.
  • the support unit drive unit 432b moves the chip support unit 432a vertically upward as shown by the arrow AR36 in FIG. 5 (B).
  • the chip CP held by the first chip holding portion 512 is arranged vertically above the first chip holding portion 512 in a state of being supported by the upper end portion of the chip supporting portion 432a.
  • the first chip transport unit 51 moves the first chip holding unit 512 to the side of the chip CP as shown by the arrow AR37 in FIG. 6 (A).
  • the support unit drive unit 432b moves the chip support unit 432a vertically downward as shown by the arrow AR38 in FIG. 6 (B).
  • the holding mechanism 440 attracts the peripheral portion of the chip CP to the chip tool 411.
  • the chip CP is held at the tip of the head 33H. After the chip CP is transferred to the tip end portion of the head 33H in this way, the chip CP is held by the head 33H even at a portion other than the central portion, which is the first portion on the side opposite to the joint surface CPf side. It will be in a state of being.
  • the chip mounting system 1 drives the stage 31 and rotates the bonding portion 33 to perform an alignment that corrects the relative misalignment between the chip CP and the substrate WT. Subsequently, the chip mounting system 1 mounts the chip CP on the substrate WT by raising the head 33H. At this time, as shown by the arrow AR41 in FIG. 7, the bonding device 30 is held by attracting the peripheral portion of the chip CP to the chip tool 411 by the holding mechanism 440, as shown by the arrow AR42 in FIG. By driving the pressing portion 431a vertically upward, the central portion of the chip CP is pressed. As a result, as shown by the arrow AR43 in FIG.
  • the chip CP is in a state of being bent so that the central portion thereof protrudes toward the mounting surface WTf side of the substrate WT as compared with the peripheral portion thereof.
  • the head drive unit 36 brings the head 33H closer to the substrate WT in a state where the chip CP is bent, so that the central portion of the chip CP is brought into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT.
  • the bonding device 30 expands the contact area between the substrate WT and the chip CP by bringing the head 33H closer to the substrate WT while immersing the pressing portion 431a vertically downward.
  • the head drive unit 36 brings the head 33H closer to the mounting surface WTf of the substrate WT to bring the peripheral portion of the chip CP into contact with the mounting surface of the substrate WT, and then presses the head 33H toward the substrate WT side.
  • the entire bonding surface CPf of the chip CP is bonded to the mounting surface WTf of the substrate WT.
  • the bonding device 30 moves the head 33H in the vertical direction to bring it closer to the substrate WT to a preset distance, and then bends the chip CP to bring the central portion of the chip CP into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT. You may let me.
  • the bonding device 30 immerses the pressing portion 431a vertically downward and brings the head 33H closer to the substrate WT, thereby expanding the contact area between the substrate WT and the chip CP and increasing the circumference of the chip CP.
  • the entire joint surface CPf of the chip CP may be joined to the mounting surface WTf of the substrate WT by pressing the head 33H toward the substrate WT side after the portion is brought into contact with the mounting surface of the substrate WT.
  • the chip CP is formed by the first chip holding portion 512 that holds the peripheral portion on the side opposite to the joint surface CPf side of the supplied chip CP.
  • the chip CP is conveyed to the transfer position Pos1 in the held state.
  • the chip CP can be conveyed without touching the joint surface CPf of the chip CP, so that foreign matter adheres to the joint surface CPf of the chip CP and damage to the joint surface CPf of the chip CP is suppressed.
  • the first chip transport unit 51 transports the chip CP with the joint surface CPf of the chip CP directed vertically downward, foreign matter (for example, particles) may be placed on the joint surface CPf of the chip CP. It is suppressed. Therefore, the occurrence of poor bonding between the chip CP and the substrate WT is suppressed.
  • so-called bump bonding in which the chip CP is bonded to the substrate WT via the bump, it is possible to handle the portion other than the bump on the surface side where the bump of the chip CP is formed.
  • so-called hydrophilic bonding is performed in which the bonding surface CPf of the chip CP is hydrophilized and then the bonding surface CPf of the chip CP is brought into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT to bond the chip CP to the substrate WT. If this is done, the joint surface CPf side of the chip CP cannot be handled.
  • the chip CP can be conveyed without touching the joint surface CPf of the chip CP, so that the chip CP is so-called hydrophilic to the substrate WT. It is advantageous when joining by chemical bonding.
  • the first chip conveying unit 51 has a chip cover 513 that covers the joint surface CPf side of the chip CP held by the first chip holding unit 512.
  • the adhesion of foreign matter on the bonding surface CPf of the chip CP is suppressed during the transfer of the chip CP by the first chip transporting unit 51, so that the occurrence of poor bonding between the chip CP and the substrate WT is suppressed.
  • the cover 114 according to the present embodiment is arranged so as to cover vertically above the plurality of chip CPs. Therefore, the adhesion of particles to the joint surface CPf of each of the plurality of chip CPs held on the sheet TE is suppressed.
  • the sheet holding frame 112 and the frame holding portion 119 are attached to the sheet TE on the side opposite to the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs.
  • the joint surface CPf is held so as to face vertically upward.
  • the chip supply unit 11 does not need a mechanism for reversing the direction of the joint surface CPf of the chip CP, which has an advantage that the configuration of the chip supply unit 11 is simplified accordingly.
  • the central portion of the joint surface CPf of the chip CP is closer to the mounting surface WTf side of the substrate WT than the peripheral portion of the joint surface CPf. It has a pressing mechanism 431 that bends the chip CP so as to protrude. As a result, the entrainment of air between the chip CP and the substrate WT is suppressed, so that the chip CP can be satisfactorily bonded to the substrate WT.
  • an adhesive sheet can be adopted as the sheet TE for holding the chip CP.
  • the chip CP is less likely to move relative to the sheet TE, so that contact between adjacent chip CPs held by the sheet TE is suppressed. Therefore, there is an advantage that damage to the chip CP and generation of particles from the chip CP when an external force is applied to the sheet TE are suppressed.
  • the stage 31 holds the board WT in a posture in which the mounting surface on the board WT on which the chip CP is mounted faces vertically downward. As a result, it is possible to reduce the adhesion of particles to the mounting surface of the substrate WT, so that it is possible to suppress the occurrence of poor bonding between the chip CP and the substrate WT.
  • the chip supply unit attaches the sheet TE to which the side opposite to the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs is attached to the vertically downward side where the joint surface CPf is the second direction. It is different from the first embodiment in that it is held in a posture facing the user.
  • the chip mounting system 2 includes a chip supply device 2010, a bonding device 30, and a control unit 2090.
  • the chip supply device 2010 includes a chip supply unit 2011 and a first chip transfer unit 51.
  • the chip supply unit 2011 includes a frame holding unit 119 that holds the sheet holding frame 112, a pickup mechanism 2111 that picks up one chip CP from a plurality of chip CPs, a second chip conveying unit 2114, and an inversion unit 2115. , Have.
  • the chip supply unit 2011 has a holding frame driving unit 113 that drives the seat holding frame 112 in the XY direction or the direction of rotation around the Z axis.
  • the frame holding portion 119 holds the seat holding frame 112 in a posture in which the surface of the sheet TE to which the plurality of chip CPs are attached is on the vertically downward ( ⁇ Z direction) side.
  • the sheet holding portion to be held by is configured.
  • the pickup mechanism 2111 has a needle 2111a and can move in the vertical direction as shown by the arrow AR15 in FIG. There are, for example, four needles 2111a. However, the number of needles 2111a may be three or five or more.
  • the pickup mechanism 2111 supplies the tip CP by piercing the sheet TE with the needle 2111a from vertically above (+ Z direction) in the sheet TE and cutting out (protruding) the tip CP vertically below ( ⁇ Z direction). Then, each chip CP attached to the sheet TE is pushed vertically downward by the needle 2111a and delivered to the second chip transport unit 2114.
  • the second chip transport unit 2114 is a second component transport unit having a second chip holding portion 2114a, a guide rail 2114c, and a slide body 2114b to which the second chip holding portion 2114a is fixed and slides on the guide rail 2114c.
  • the second chip holding portion 2114a is a Bernoulli check second component holding portion that holds one chip CP projected by the pickup mechanism 2111 in a non-contact state with the joint surface CPf.
  • the Bernoulli chuck holds the chip CP in a non-contact manner in a state where a gas layer is formed between the chip CP and the chip CP by generating a negative pressure inside and causing the gas to flow out to the outside.
  • the second chip transport unit 2114 has a slide body drive unit (not shown) for moving the slide body 2114b along the guide rail 2114c, as shown by the arrow AR2016 in FIG.
  • the second chip transport unit 2114 transports the second chip holding unit 2114a to the receiving position Pos2 of the first chip transport unit 51 in a state where the second chip holding unit 2114a holds the chip CP.
  • the reversing portion 2115 holds the side opposite to the joint surface CPf side of the chip CP held by the second chip holding portion 2114a, and inverts the joint surface CPf so as to face vertically upward.
  • the reversing portion 2115 includes a suction head 2115a, an arm 2115b to which the suction head 2115a is fixed to the tip portion, and an arm drive unit 2115c for rotating or moving the arm 2115b in the vertical direction. Further, the reversing portion 2115 includes, for example, as shown in FIG. 9, a chip supporting portion 2115g, a supporting portion driving portion 2115i, and a suction portion 2115e for sucking and holding the chip CP.
  • a through hole 2115f through which the chip support portion 2115g is inserted is provided in a portion of the suction head 2115a corresponding to each chip support portion 2115g.
  • Each chip support portion 2115 g has, for example, a pin-like shape and is movable in the vertical direction. There are, for example, four chip support portions 2115 g. However, the number of chip support portions 2115 g may be three or five or more.
  • the support unit drive unit 2115i drives the chip support unit 2115 g in the vertical direction.
  • the first chip transport unit 51 transports the chip CP supplied from the chip supply unit 2011 at the receiving position Pos 2 to the transfer position Pos 1 at which the chip CP is transferred to the head 33H.
  • the control unit 2090 is the same as the control unit 90 described in the first embodiment, and controls the chip supply unit 2011 and the first chip transfer unit 51 of the chip supply device 2010.
  • the pickup mechanism 2111 moves vertically downward to move one chip CP to the side opposite to the plurality of chip CP sides in the sheet TE.
  • One chip CP is separated from the sheet TE and delivered to the second chip transport unit 2114.
  • the second chip transport unit 2114 holds the chip CP delivered by the second chip holding unit 2114a in a non-contact state with the joint surface CPf.
  • the second chip transport unit 2114 transports the second chip holding unit 2114a holding the chip CP to a position facing the reversing unit 2115 in the vertical direction. .. Subsequently, when the second chip holding portion 2114a is conveyed to a position facing the reversing portion 2115, the arm driving portion 2115c of the reversing portion 2115 vertically moves the arm 2115b as shown by the arrow AR53 in FIG. 10 (B). Move down. Then, the suction head 2115a sucks and holds the side opposite to the joint surface CPf side of the chip CP held by the second chip holding portion 2114a.
  • the arm drive unit 2115c moves the arm 2115b vertically upward while the chip CP is sucked and held by the suction head 2115a.
  • the arm drive unit 2115c turns the arm 2115b as shown by the arrow AR54 in FIG. 11 (A).
  • the reversing portion 2115 is in a state of holding the chip CP in a posture in which the joint surface CPf faces vertically upward.
  • the reversing section 2115 stops the suction of the chip CP by the suction head 2115a. After that, as shown by the arrow AR55 in FIG.
  • the support portion driving unit 2115i moves the chip support portion 2115g vertically upward, so that the chip CP protrudes vertically upward from the suction head 2115a.
  • the first chip transporting unit 51 approaches the chip CP from the side of the chip CP protruding vertically upward by the chip supporting portion 2115g.
  • the chip support portion 2115 g is arranged between the two leg pieces 512a (see FIG. 2) of the first chip holding portion 512.
  • the support unit drive unit 2115i moves the chip support unit 2115 g vertically downward to the standby position
  • the chip CP is held by the first chip holding unit 512 as shown in FIG. 12 (A). It becomes.
  • the first chip transport unit 51 moves the first chip holding unit 512 to the transfer position Pos1 at which the chip CP is transferred to the head 33H, as shown by the arrow AR57 in FIG. 12 (B).
  • Subsequent operations of the chip mounting system 2 are the same as those of the first embodiment.
  • the chip CP is conveyed without touching the joint surface CPf of the chip CP, as in the chip mounting system 1 according to the first embodiment. Therefore, adhesion of foreign matter to the joint surface CPf of the chip CP and damage to the joint surface CPf of the chip CP are suppressed. Further, since the first chip transport unit 51 transports the chip CP with the joint surface CPf of the chip CP directed vertically downward, it is possible to prevent foreign matter from being placed on the joint surface CPf of the chip CP. Therefore, the occurrence of poor bonding between the chip CP and the substrate WT is suppressed.
  • the sheet holding frame 112 and the frame holding portion 119 are attached to the sheet TE on the side opposite to the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs.
  • the joint surface CPf is held so as to face vertically downward.
  • the chip supply unit holds the sheet TE to which the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs is attached in a posture in which the joint surface CPf of the chip CP faces vertically upward. The point is different from the first embodiment.
  • the chip mounting system 3 includes a chip supply device 3010, a bonding device 3030, and a control unit 3090.
  • the chip supply device 3010 includes a chip supply unit 3011 and a first chip transfer unit 51.
  • the chip supply unit 3011 includes a frame holding unit 119 that holds the seat holding frame 112, a pickup mechanism 3111 that picks up one chip CP from a plurality of chip CPs, and a third chip conveying unit 3114.
  • the chip supply unit 3011 has a holding frame driving unit 113 that drives the seat holding frame 112 in the XY direction or the direction of rotation around the Z axis.
  • the frame holding portion 119 holds the seat holding frame 112 in a posture in which the surface of the sheet TE to which the plurality of chip CPs are attached is on the vertically downward ( ⁇ Z direction) side. From the sheet holding frame 112 and the frame holding portion 119, the sheet TE to which the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs is attached is held in a posture in which the joint surface CPf of the chip CP faces the vertically upward side, which is the first direction side.
  • a sheet holding portion is configured.
  • the adhesive sheet is preferably an adhesive sheet in which impurities do not remain in the portion of the chip CP that is attached to the adhesive sheet when the chip CP is peeled off from the adhesive sheet.
  • the pickup mechanism 3111 has a needle 3111a and can move in the vertical direction as shown by the arrow AR3015 in FIG.
  • the pickup mechanism 3111 supplies the insert by projecting the needle 3111a vertically downward ( ⁇ Z direction) from vertically upward (+ Z direction) in the sheet TE and pushing the chip CP vertically downward ( ⁇ Z direction). Then, each chip CP attached to the sheet TE is projected downward one by one by the needle 3111a and delivered to the third chip transport unit 3114.
  • the third chip transport portion 3114 has a third chip holding portion 3114a, an arm 3114b, a guide rail 3114d, and a slide body 3114c that rotatably supports the arm 3114b and slides on the guide rail 3114d. It is a parts transport unit.
  • the third chip holding portion 3114a is a third component holding portion provided at one end of the arm 3114b and sucking and holding one chip CP projected by the pickup mechanism 3111 on the side opposite to the joint surface CPf side. ..
  • the third chip holding portion 3114a and the arm 3114b have a chip supporting portion 3114g, a supporting portion driving unit 3114i, and a suction portion 3114e for sucking and holding the chip CP.
  • the third chip holding portion 3114a is provided with a through hole 3114f through which the chip supporting portion 3114g is inserted inside.
  • the chip support portion 3114g has, for example, a pin-like shape and is movable in the vertical direction. There are, for example, four chip support portions 3114 g. However, the number of chip support portions 3114g may be three or five or more.
  • the support unit drive unit 3114i drives the chip support unit 3114 g in the vertical direction.
  • the slide body 3114c has an arm drive unit (not shown) that rotates one end of the arm 3114b provided with the third chip holding portion 3114a with the other end of the arm 3114b as a base point.
  • the third chip transport unit 3114 has a slide body drive unit (not shown) for moving the slide body 3114c along the guide rail 3114d, as shown by the arrow AR3016 in FIG.
  • the third chip transport unit 3114 moves the third chip holding unit 3114a to the receiving position Pos2 of the first chip transport unit 51 in a state where the third chip holding unit 3114a holds the chip CP.
  • the first chip transport unit 51 transports the chip CP supplied from the chip supply unit 3011 at the receiving position Pos 2 to the transfer position Pos 1 at which the chip CP is transferred to the head 33H.
  • the control unit 3090 is the same as the control unit 90 described in the first embodiment, and controls the chip supply unit 3011 and the first chip transfer unit 51 of the chip supply device 3010.
  • the pickup mechanism 3111 moves vertically downward to move one chip CP to the side opposite to the plurality of chip CP sides in the sheet TE. Cut out (protrude) from.
  • the third chip holding portion 3114a of the third chip conveying portion 3114 sucks and holds the chip CP in a state where the side opposite to the joint surface CPf side of the protruding chip CP is sucked.
  • the arm 3114b turns while the chip CP is sucked and held by the third chip holding portion 3114a as shown by the arrow AR62 in FIG. 15 (A).
  • the third chip transport unit 3114 moves the third chip holding unit 3114a holding the chip CP to the receiving position Pos2 as shown by the arrow AR63 in FIG. 15 (B). Subsequently, when the third chip holding portion 3114a is conveyed to the receiving position Pos2, the arm 3114b turns as shown by the arrow AR64 in FIG. 15B.
  • the third chip transport unit 3114 stops the adsorption of the chip CP by the third chip holding unit 3114a.
  • the support unit drive unit 3114i projects the chip CP vertically upward of the third chip holding unit 3114a by moving the chip support unit 3114g vertically upward. ..
  • the first chip transporting unit 51 approaches the chip CP from the side of the chip CP protruding vertically upward by the chip supporting portion 3114g.
  • the chip support portion 2115 g is arranged between the two leg pieces 512a (see FIG. 2) of the first chip holding portion 512.
  • the support unit drive unit 3114i moves the chip support unit 2115 g vertically downward to the standby position, as shown in FIG. 16B
  • the chip CP is held by the first chip holding unit 512.
  • the first chip conveying unit 51 moves the first chip holding unit 512 to the transfer position Pos1 at which the chip CP is transferred to the head 33H, as shown by the arrow AR67 in FIG.
  • Subsequent operations of the chip mounting system 3 are the same as those in the first embodiment.
  • the chip CP is conveyed without touching the joint surface CPf of the chip CP, as in the chip mounting system 1 according to the first embodiment. Therefore, adhesion of foreign matter to the joint surface CPf of the chip CP and damage to the joint surface CPf of the chip CP are suppressed. Further, since the first chip transport unit 51 transports the chip CP with the joint surface CPf of the chip CP directed vertically downward, it is possible to prevent foreign matter from being placed on the joint surface CPf of the chip CP. Therefore, the occurrence of poor bonding between the chip CP and the substrate WT is suppressed.
  • the sheet holding frame 112 and the frame holding portion 119 have the joint surface CPf vertically above the sheet to which the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs is attached. Hold in a side-facing position.
  • the sheet holding frame 112 and the frame holding portion 119 have the joint surface CPf vertically above the sheet to which the joint surface CPf side of each of the plurality of chip CPs is attached. Hold in a side-facing position.
  • the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment.
  • the first chip transport unit 4051 of the chip supply device 4010 holds the joint surface CPf side of the chip CP supplied from the chip supply unit 3011 in a non-contact manner. It may have the first chip holding part 4512 which is.
  • the first chip transport unit 4051 has a main body unit 4511 and a first chip holding unit 4512.
  • the first chip holding portion 4512 holds the chip CP on the vertically lower side thereof.
  • the main body portion 4511 moves the first chip holding portion 4512 between the preset standby position and the transfer position Pos1.
  • the bonding device 4030 includes a stage 31, a bonding unit 4033 having a head 4033H, and a head driving unit 36 for driving the head 4033H.
  • the head 4033H has, for example, a chip tool 4411 and a head body portion 4413 as shown in FIG.
  • the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals as those in FIG. 3 (A).
  • the control unit 4090 is the same as the control unit 90 described in the first embodiment, and includes the head drive unit 36, the stage drive unit 32, the holding mechanism 440, and the pressing mechanism 431 of the bonding device 4030, and the chip. It controls the chip supply unit 11 and the first chip transfer unit 4051 of the supply device 4010.
  • the first chip conveying unit 4051 moves the first chip holding unit 4512 holding the chip CP to the transfer position Pos1 for transferring the chip CP to the head 33H.
  • the head drive unit 36 moves the bonding unit 4033 vertically upward to bring the head 4033H closer to the chip CP held by the first chip holding unit 4512.
  • the head drive unit 36 moves the head 4033H vertically upward to a position where the tip end portion of the head 4033H contacts the side opposite to the joint surface CPf side of the chip CP.
  • the holding mechanism 440 attracts the peripheral portion of the chip CP to the chip tool 411. As a result, the chip CP is held at the tip of the head 33H.
  • Subsequent operations of the chip mounting system 4 are the same as those of the first embodiment.
  • the posture of the chip CP held by the first chip holding portion 4512 which is a Bernoulli chuck, is not determined. Therefore, in the chip mounting system 4 according to the present modification, it is preferable to provide an alignment mechanism (not shown) for aligning the posture of the chip CP before passing the chip CP to the head 4033H.
  • the chip CP is transferred to the head 4033H while the chip CP is held by the first chip holding portion 4512, which is a Bernoulli chuck that holds the joint surface CPf side of the supplied chip CP in a non-contact manner.
  • the chip CP is conveyed to the mounting position Pos1.
  • the chip CP can be conveyed without touching the joint surface CPf of the chip CP, so that foreign matter adheres to the joint surface CPf of the chip CP and damage to the joint surface CPf of the chip CP is suppressed.
  • the first chip transport unit 51 transports the chip CP with the joint surface CPf of the chip CP directed vertically downward, it is possible to prevent foreign matter from being placed on the joint surface CPf of the chip CP. Therefore, the occurrence of poor bonding between the chip CP and the substrate WT is suppressed.
  • the head 4033H it is possible to adopt a configuration that does not have the chip support portion 432a and the support portion drive unit 432b that the head 33H according to the first embodiment has, so that there is an advantage that the configuration of the head 4033H is simplified. is there.
  • the chip supply unit may have, for example, a tray 6116 and a suction unit 6117 as shown in FIG. 20 (A).
  • the tray 6116 includes a tray body 6116a provided with a plurality of recesses 6116b in which the chip CP is arranged inside, a support portion 6116c having a pin-like shape projecting from the bottom of the recess 6116b, and a recess. It has an adhesive sheet ATE1 stretched at a position separated from the bottom of the 6116b.
  • the adhesive sheet ATE1 holds the chip CP on the adhesive surface of the tray body 6116a opposite to the bottom side of the recess 6116b.
  • the chip CP may be attached to the adhesive sheet ATE1 on the side opposite to the joint surface CPf, or may be attached to the adhesive sheet ATE1 on the joint surface CPf side.
  • a communication hole 6116d communicating with the region S1 between the bottom of the recess 6116b and the adhesive sheet ATE1 is formed in the bottom of the recess 6116b of the tray body 6116a.
  • the suction unit 6117 has a vacuum pump (not shown) and exists in the above-mentioned region S1 through the communication hole 6116d of the tray 6116 when the chip CP is supplied while the chip CP is held by the adhesive sheet ATE1. Inhale air.
  • the chip supply unit according to this modification is in the above-mentioned region S1 through the communication hole 6116d of the tray 6116 by the suction unit 6117 in a state where the chip CP is held by the adhesive sheet ATE1. Inhale the existing air. As a result, the contact area, which is the area of the contact portion P61 between the adhesive sheet ATE1 and the chip CP, decreases. Then, when the chip supply unit according to this modification further sucks the air existing in the above-mentioned region S1 by the suction unit 6117, as shown in FIG. 20C, the contact portion between the adhesive sheet ATE and the chip CP. The area of P62 is further reduced, and the chip is separated from the adhesive sheet ATE1.
  • the chip CP can be supplied to the bonding devices 30 and 4030 even when the chip CP is not attached to the sheet TE.
  • the tray 6116 is attached to the adhesive sheet ATE1 at a position inside the recess 6116b where the peripheral portion of the chip CP does not come into contact with the inner wall of the recess 6116b.
  • the chip CP does not contact the inner wall of the recess 6116b, so that the generation of particles from the chip CP due to the contact of the chip CP with the inner wall of the recess 6116b is suppressed.
  • the chip supply unit may include, for example, a chip supply head 7116 and a suction unit 7117 as shown in FIG. 21 (A).
  • the chip supply head 7116 has a head main body 7116a provided with a recess 7116b, and a support portion 7116c having a pin-shaped shape, for example, projecting from the bottom of the recess 7116b.
  • the number of support portions 7116c may be three or five or more.
  • a suction hole 7116d for sucking the gas existing inside the recess 7116b is provided at the bottom of the recess 7116b of the head body 7116a.
  • the suction unit 7117 has a vacuum pump (not shown) and sucks the gas existing inside the recess 7116b through the suction hole 7116d.
  • the chip supply unit When supplying the chip CP, the chip supply unit according to this modification attaches the chip supply head 7116 to the adhesive sheet ATE2, for example, as shown by the arrow AR91 in FIG. 21 (A).
  • the adhesive sheet ATE2 is brought into contact with the portion corresponding to one of the chip CPs.
  • the adhesive sheet ATE2 holds a plurality of chip CPs on the adhesive surface.
  • the chip CP may be attached to the adhesive sheet ATE2 on the side opposite to the joint surface CPf, or may be attached to the adhesive sheet ATE2 on the joint surface CPf side. Then, the chip supply unit brings the chip supply head 7116 closer to the surface of the adhesive sheet ATE2 opposite to the surface holding the plurality of chip CPs.
  • the chip supply unit sucks the air existing in the inner region S2 of the recess 7116b through the suction hole 7116d in a state where the chip supply head 7116 is in contact with the adhesive sheet ATE2. To do. As a result, the area of the contact portion P72 between the adhesive sheet ATE2 and the chip CP is reduced, and the chip CP is separated from the adhesive sheet ATE2.
  • a plurality of chip CPs may be held on an adhesive sheet whose adhesive strength is reduced by, for example, irradiation with ultraviolet rays.
  • the chip supply unit has a chip supply head having an ultraviolet irradiation unit (not shown), and when supplying the chip CP, the chip CP to be supplied in the adhesive sheet is attached by the ultraviolet irradiation unit. The portion may be irradiated with ultraviolet rays.
  • the chip supply unit may be configured to suck the adhesive sheets ATE1 and ATE2 by the suction units 6117 and 7117 and irradiate the ultraviolet rays when supplying the chip CP.
  • the stage 31 holds the substrate WT in a posture in which the mounting surface WTf of the substrate WT faces vertically downward in the bonding apparatus 30
  • the posture of the held substrate WT is limited to this.
  • the stage may hold the substrate WT in a posture in which the mounting surface WTf of the substrate WT faces vertically upward.
  • the bonding device 30 may include a head having a suction post.
  • the head 8033H may have a chip tool 8411, a head main body portion 8413, a suction post 8432a, and a suction post drive portion 8432b.
  • the same reference numerals as those in FIG. 3 (A) are attached to the same configurations as those in each embodiment.
  • the head main body 8413 has a pressing mechanism 431 that presses the central portion of the chip CP, similarly to the head main body 413 according to each embodiment.
  • the pressing mechanism 431 has a pressing portion 431a and a pressing driving portion 431b for driving the pressing portion 431a.
  • the tip tool 8411 has a through hole 8411c formed at a position corresponding to the suction post 8432a of the head main body portion 8413, and a through hole 8411b into which the pressing portion 431a is inserted inside.
  • the suction post 8432a is, for example, a component support portion having a long tubular shape provided with a suction hole 8440 inside, and provided at the tip end portion of the head 4033H so as to be movable in the vertical direction.
  • the number of adsorption posts 8432a may be three or five or more.
  • the suction post 8432a supports the chip CP in a state where the side opposite to the bonding surface CPf side of the chip CP is sucked.
  • the suction post drive unit 8432b drives the suction post 8432a in the vertical direction as shown by the arrow AR8036 in FIG. 22 (B).
  • the suction post drive unit 8432b has a vacuum pump (not shown) and sucks the chip CP by depressurizing the inside of the suction hole 8440 while the chip CP is placed on the tip of the suction post 8432a. ..
  • the first chip holding unit 512 holding the chip CP is located at the transfer position (for example, Pos 1 in FIG. 1), and the tip portion of the suction post 8432a supports the central portion of the chip CP.
  • the suction post 8432a is moved vertically upward from the first chip holding portion 512.
  • the chip CP is transferred from the first chip holding unit 512 of the first chip conveying unit 51 to the head 8033H.
  • the suction post is not limited to a pin shape, and may have a cylindrical shape arranged so as to surround the pressing mechanism 431.
  • the chip supporting portion 432a supporting the central portion of the chip CP is more than the first chip holding portion 512.
  • An example in which the chip CP is transferred from the first chip holding portion 512 to the head 33H by moving it vertically upward has been described.
  • the present invention is not limited to this, for example, the first chip holding portion 512 holding the chip CP is located at the transfer position Pos1 and the central portion of the chip CP is supported by the chip supporting portion 432a.
  • the chip CP may be transferred from the first chip holding portion 512 to the head 33H by moving the 512 vertically downward.
  • the bonding devices 30 and 4030 mount the chip CP on the substrate WT by moving the head 33H in the direction toward the stage 31 .
  • the present invention is not limited to this, and the bonding devices 30 and 4030 may mount the chip CP on the substrate WT by, for example, moving the stage 31 in a direction closer to the head 33H.
  • the sheet holding frame 112 is, for example, as shown in FIG. 23A, an adhesive sheet that holds a plurality of chip CPs on a surface having adhesiveness, and the plurality of chip CPs are attached to the sheet holding frame 112. It may hold the sheet TE10 in which the holes HA10 are formed in each region.
  • the pickup mechanism 8111 may have a suction post 8111a and a suction post drive unit 8111b.
  • the suction post 8111a is, for example, a chip support pin (part support pin) having a long tubular shape provided with a suction hole (not shown) inside. There are, for example, four suction posts 8111a.
  • the number of suction posts 8111a may be three or five or more.
  • the suction post 8111a is a chip support pin that supports the chip CP in a state where the side opposite to the bonding surface CPf side of the chip CP is sucked.
  • the suction post drive unit 8111b has a vacuum pump (not shown), and sucks the chip CP by depressurizing the inside of the suction hole while the chip CP is placed on the tip of the suction post 8111a. As shown by the arrow AR10 in FIG. 23B, the pickup mechanism 8111 inserts the chip CP through the hole HA10 by inserting one chip CP through the hole HA10 from vertically below ( ⁇ Z direction) in the sheet TE10.
  • the suction post 8111a is inserted into the hole HA10.
  • the tip support pin included in the pickup mechanism 8111 is not limited to the suction post 8111a, and may be the needle 111a described in the first embodiment.
  • the chip supply unit may have a tray 8516, for example, as shown in FIG. 24 (A).
  • the tray 8516 has a tray body 8516a provided with a recess 8516b in which the chip CP is arranged inside, and an adhesive member 8517 provided at the bottom of the recess 8516b.
  • the adhesive member 8517 is, for example, a gel-like adhesive sheet.
  • a through hole 8516c that penetrates the tray body 8516b in the thickness direction is formed at the bottom of the recess 8516b of the tray body 8516a.
  • the through hole 8516c has, for example, a cross-sectional area into which the suction post 8111a of the pickup mechanism 8111 described above can be inserted.
  • the tray 8516 is arranged so that, for example, the recess 8516b side of the tray body 8516a faces vertically upward. Then, as shown in FIG. 24B, the pickup mechanism 8111 inserts the suction post 8111a into the through hole 8516c from vertically below the tray 8516 and lifts the chip CP vertically above to lift the chip CP to the tray 8516. (See arrow AR85 in FIG. 24 (B)).
  • the chip supply unit may have, for example, a tray 8616 and a suction unit (not shown) having a vacuum pump (not shown), as shown in FIG. 25 (A).
  • the tray 8616 has a tray body 8616a provided with a recess 8616b in which the chip CP is arranged inside, a partition wall 8618 projecting from the bottom of the recess 8616b, and an adhesive stretched over the tip of the partition wall 8618. It has a sheet 8617 and.
  • a through hole 8616c that penetrates the tray body 8616b in the thickness direction is formed at the bottom of the recess 8616b of the tray body 8616a.
  • the through hole 8616c also has a cross-sectional area into which the suction post 8111a of the pickup mechanism 8111 described above can be inserted, for example.
  • the partition wall 8618 is provided so as to surround the through hole 8616c at the bottom of the recess 8616b.
  • the adhesive sheet 8617 holds the chip CP on the adhesive surface of the tray body 8616a on the side opposite to the bottom side of the recess 8616b.
  • the chip CP may be attached to the adhesive sheet 8617 on the side opposite to the joint surface CPf, or may be attached to the adhesive sheet 8617 on the joint surface CPf side.
  • a communication hole 8616d communicating with the region S86 between the bottom of the recess 8616b and the adhesive sheet 8617 is formed in the bottom of the recess 8616b of the tray body 8616a.
  • the tray 8616 is arranged so that, for example, the recess 8616b side of the tray body 8616a faces vertically upward.
  • the pickup mechanism 8111 inserts the suction post 8111a into the through hole 8616c from vertically below the tray 8616 and lifts the chip CP vertically above, thereby lifting the chip CP vertically above the tray 8616. (See arrow AR861 in FIG. 25 (B)).
  • the suction unit sucks the air existing in the above-mentioned region S86 through the communication hole 8616d of the tray 8616 (FIG. 25 (B).
  • the first chip transport unit that transports the chip CP may be, for example, the first chip transport unit (also referred to as a turret) 5039 as shown in FIG. 26.
  • the first chip transport unit 5039 transports the chip CP supplied from the chip supply unit 11 to the transfer position Pos1 where the chip CP is delivered to the head 33H of the bonding unit 33.
  • the first chip conveying unit 5039 includes, for example, two plates 5391, an arm 5394, a first chip holding unit 5393 provided at the tip of the arm 5394, and a plate driving unit 5392 that rotationally drives the plates 5391 all at once. , Have.
  • the plate 5391 has a long rectangular box shape, and one end of the plate 5391 swings around the other end (axis AX) located between the chip supply portion 5011 and the head 33H.
  • the number of plates 5391 is not limited to two, and may be three or more.
  • the arm 5394 is elongated and protrudes or sinks along the longitudinal direction of the plate 5391.
  • the first tip holding portion 5393 is provided at the tip end portion of the arm 5394 and has two leg pieces 5393a for holding the tip CP.
  • the plate 5391 can accommodate the first chip holding portion 5393 at the tip of the arm 5394 inside.
  • the first chip transport unit 5039 stores the first chip holding unit 5393 inside the plate 5391 by immersing the arm 5394 in the plate 5391 as shown by the arrow AR508 in FIG. 27. To do. As a result, the adhesion of particles to the chip CP during transportation is suppressed.
  • the two leg pieces 5393a may be provided with suction grooves (not shown). In this case, since the chip CP is attracted and held by the leg piece 5392a, the chip CP can be conveyed without misalignment. Further, in order to prevent the tip CP from popping out due to the centrifugal force generated when the plate 5391 turns, a protrusion (not shown) may be provided at the tip of the leg piece 5393a.
  • the pickup mechanism 8111 and the head 33H of the bonding portion 33 are arranged at positions that overlap with the locus OB1 drawn by the tip end portion of the arm 5394 when the odor sheet rate 391 rotates in the Z-axis direction.
  • the chip transport unit 5039 receives the chip CP from the chip supply unit 5011 in the chip supply device 5010, the chip CP is bonded to the head in the chip supply device 5030 by the rotational operation around the central axis AX as shown by the arrow AR501 in FIG. It is conveyed to the delivery position Pos1 which overlaps with 33H.
  • the chip supply unit 5011 has a frame holding unit 119 for holding the seat holding frame 112, a pickup mechanism 111, and a cover 114.
  • the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals as those in FIG.
  • the bonding device 5030 includes a stage 31, a bonding unit 33 having a head 33H, and a head driving unit 36 for driving the head 33H.
  • the head 33H has a chip support portion 432a and a support portion drive unit 432b.
  • the chip mounting system 5 includes, in addition to the chip supply unit 11 and the bonding unit 33, a cleaning unit 5037 for cleaning the chip CP and a chip recovery unit 5038.
  • the cleaning unit 5037 includes a chip stage 5036 that supports the chip CP, an XY direction driving unit (not shown) that drives the chip stage 5036 in two directions (XY directions) that are orthogonal to each other in the vertical direction and ultrasonic waves.
  • it has a cleaning head 5037a that discharges water that has been subjected to megasonic vibration or a cleaning liquid that reduces the electrode surface.
  • the cleaning unit 5037 has a rotation driving unit (not shown) that rotates the chip stage 5036 in a plane orthogonal to the vertical direction.
  • the cleaning unit 5037 first scans the chip stage 5036 supporting the chip CP in the XY direction while spraying water to which ultrasonic waves are applied by the cleaning head 5037a onto the chip CP to cover the entire surface CPf of the joint surface of the chip CP. To wash. Then, the cleaning unit 5037 stops the discharge of water by the cleaning head 5037a, and then spin-drys the chip CP by rotating the chip stage 5036.
  • the cleaning unit 5037 reciprocates the chip stage supporting the chip CP in the XY direction while spraying water to which ultrasonic waves are applied to the chip CP by the water discharge unit. As a result, damage to the edge portion of the chip CP is suppressed.
  • the cleaning unit 5037 may remove particles adhering to the chip CP by blowing an inert gas such as N2 instead of water onto the chip CP.
  • the chip stage 5036 adjusts the posture of the chip CP held by the chip holding unit 5393 after the chip CP is cleaned by the cleaning unit 5037. As a result, even if the chip CP is misaligned when the chip CP is cut out by the chip supply unit 11, the chip stage 5036 can be aligned. Therefore, the chip CP can be transferred to the head 33H of the bonding portion 33 without misalignment. In particular, when the sheet TE is pushed through by the needle 111a to cut out the chip CP, misalignment is likely to occur, which is effective.
  • the chip supply unit for transporting the chip CP by the Bernoulli chuck is provided instead of the chip supply unit 11, the chip CP is held by the Bernoulli chuck in a non-contact manner, so that the chip CP is likely to be displaced. Therefore, it is effective to provide a mechanism for adjusting the posture of the chip CP immediately before delivering it to the head 33H, such as the chip stage 5036.
  • the chip recovery unit 5038 is a component collection unit arranged at a position next to the head 33H in the turning direction of the seat rate 5391 as viewed from the axis AX (base point) of the plate 5391.
  • the control unit 5090 has, for example, an MPU (Micro Processing Unit), a main storage unit, an auxiliary storage unit, an interface, and a bus connecting each unit, and has a head drive unit 36, a stage drive unit 32, and a holding mechanism 440 of the bonding device 30. And the pressing mechanism 431, and the chip supply unit 11 and the chip transfer unit 5039 of the chip supply device 10 are controlled.
  • the MPU of the control unit 90 reads the program stored in the auxiliary storage unit into the main storage unit and executes it, so that the head drive unit 36, the stage drive unit 32, the holding mechanism 440, the pressing mechanism 431, and the chip are executed via the interface.
  • a control signal is output to each of the supply unit 11 and the chip transfer unit 5039.
  • one plate 5391 is oriented toward the chip supply unit 11.
  • the pickup mechanism 111 vertically upward, one chip CP is projected from the side opposite to the plurality of chip CP sides in the sheet TE, and one chip CP is separated from the sheet TE.
  • the chip transport unit 5039 projects the arm 5394 from the plate 5391.
  • the needle 111a of the pickup mechanism 111 is arranged between the two leg pieces 5393a of the first chip holding portion 5393. In this way, as shown in FIGS. 29A and 29B, the chip CP can be delivered to the first chip holding unit 5393.
  • the pickup mechanism 111 is moved vertically downward from this state, the chip CP is delivered to the first chip holding unit 5393.
  • the plate 5391 is arranged at the cleaning unit delivery position Pos 10 shown in FIG. 30 (A). .. That is, the first chip transport unit 5039 conveys the first chip holding unit 5393 that holds the chip CP supplied from the chip supply unit 11 to the cleaning unit delivery position Pos 10 that delivers the chip CP to the cleaning unit 5037. In this state, the first chip transport unit 5039 transfers the chip CP from the first chip holding unit 5393 to the chip stage 5036 of the cleaning unit 5037.
  • the cleaning unit 5037 moves the chip stage 5036 supporting the chip CP below the cleaning head 5037a of the cleaning unit 5037 as shown by the arrow AR502 in FIG. 30 (B). Then, the cleaning unit 5037 cleans the chip CP with the water discharged from the cleaning head 5037. After that, the cleaning unit 5037 moves the chip stage 5036 supporting the chip CP to the cleaning unit delivery position Pos10 again. Next, the chip stage 5036 adjusts the posture of the chip CP. Then, it is handed over from the chip stage 5036 to the first chip holding unit 5393 again.
  • the plate 5391 is arranged at the position shown in FIG. 31 (A).
  • the first chip holding portion 5393 at the tip of the arm 5394 of the first chip conveying portion 5039 is arranged at the transfer position Pos 1 vertically above the head 33H of the bonding portion 33. That is, the first chip transfer unit 5039 conveys the first chip holding unit 5393 that holds the chip CP received at the cleaning unit transfer position Pos 10 to the transfer position Pos 1 that transfers the chip CP to the head 33H.
  • the head drive unit 36 moves the bonding unit 33 vertically upward to bring the head 33H closer to the first chip holding unit 5393.
  • the support unit drive unit 432b moves the chip support unit 432a vertically upward.
  • the chip CP held by the first chip holding portion 5393 is more vertical than the first chip holding portion 5393 in a state of being supported by the upper end portion of the chip supporting portion 432a. It is placed on the upper side.
  • the first chip transport unit 5039 immerses the arm 5394 in the plate 5391.
  • the support unit drive unit 432b moves the chip support unit 432a vertically downward. As a result, the chip CP is held at the tip of the head 33H.
  • the chip mounting system 5 drives the stage 31 and rotates the bonding portion 33 to perform an alignment that corrects the relative misalignment between the chip CP and the substrate WT. Subsequently, the chip mounting system 5 mounts the chip CP on the substrate WT by raising the head 33H.
  • the first chip holding portion 5393 at the tip of the arm 5394 of the first chip conveying portion 5039 again. Holds the chip CP.
  • the chip mounting system 5 turns the plate 5391 in the direction of the arrow AR501 of FIG. 31 (A) by 90 degrees, the plate 5391 is arranged at the position shown in FIG. 32.
  • the first chip holding portion 5393 at the tip of the arm 5394 of the first chip conveying portion 5039 is arranged vertically above the chip collecting portion 5038.
  • the chip CP held by the first chip holding unit 5393 is delivered to the chip collecting unit 5038.
  • whether or not the chip CP could be bonded to the substrate WT depends on whether or not the chip CP is present when measuring the positional deviation of the chip CP with an infrared transmissive camera (not shown) on the substrate WT side. It can be determined. Further, whether or not the chip CP remains on the head 33H side can be determined by whether or not the chip CP can be recognized by the infrared transmissive camera (not shown) on the bonding portion 33 side. Then, when the chip CP remains in the head 33H, the chip CP may be discharged to a collection box (not shown) provided in the bonding device 30.
  • the present invention is not limited to this, and for example, the Bernoulli chuck at the tip portion. May be provided.
  • the chip CP can be cleaned by the cleaning unit 5037 while the chip CP is being conveyed from the chip supply unit 11 to the bonding unit 33, so that the joint surface CPf of the chip CP is maintained in a clean state. It will be easier. Therefore, poor bonding of the chip CP to the substrate WT is suppressed.
  • the first chip transport unit 5039 has two first chip holding units 5393. As a result, cleaning of the chip CP and joining of the chip CP to the substrate WT can be performed in parallel, so that there is an advantage that the loss of tact is reduced.
  • the first chip holding unit 5393 may have a Bernoulli chuck.
  • the above-mentioned chip mounting system 5 includes a second chip holding unit that is a Bernoulli chuck, and a second chip conveying unit that delivers the chip CP supplied from the chip supplying unit 11 to the first chip conveying unit 5039. It may be a thing.
  • the first chip transport unit 5039 receives the chip CP to the alignment unit (not shown) that executes the alignment of the chip CP before delivering the chip CP received from the second chip transport unit to the head 33H. hand off. Then, the first chip transport unit 5039 receives the chip CP aligned by the alignment unit and transports the chip CP to the head 33H. As a result, the first chip transport unit 5039 can deliver the chip CP to the head 33H in an aligned state.
  • the head 33H may receive the chip CP after aligning its position before receiving the chip CP from the first chip conveying unit 5039.
  • the first chip transport unit 5039 when the first chip holding unit 5393 is a Bernoulli chuck, this configuration is preferable.
  • a cleaning unit for cleaning the chip CP may be provided.
  • the first chip transport units 51, 4051 deliver the chip CP to the cleaning unit, and the first chip holding units 512, 4512 holding the chip CP supplied from the chip supply units 11, 2011, 3011 are delivered to the cleaning unit. It may be transported to a position. Then, the first chip transfer units 51 and 4051 convey the first chip holding units 512 and 4512 that hold the chip CP received at the above-mentioned cleaning unit transfer position to the transfer position where the chip CP is transferred to the head 33H. It may be a thing. Further, the chip cleaning unit may be provided in the bonding devices 30 and 4030 to clean the chip CP with the chip CP mounted on the head 33H.
  • an activation treatment for activating the joint surface CPf of the chip CP by irradiating the joint surface CPf of the chip CP with a sheet razor treatment or a particle beam may be provided with a part (not shown).
  • the metal electrode and the insulator layer are formed on the joint surface CPf of the chip CP, all the ions contained in the plasma collide with the joint surface CPf when the plasma treatment is performed, so that the metal electrode has an insulator. There is a risk that the particles will adhere. Therefore, it is preferable to activate the junction surface CPf by irradiating the junction surface CPf with a particle beam using FAB (atomic beam) or IG (ion gun) because reattachment of particles is suppressed.
  • FAB atomic beam
  • IG ion gun
  • the joint surface CPf of the chip CP is activated by sheet razuma treatment or irradiation of a particle beam, and water molecules adhere to the joint surface CPf to easily generate OH groups. Therefore, the chip CP and the substrate WT are easily generated.
  • the chip supply unit moves in synchronization with the vertical movement of the pickup mechanism 111, and the Bernoulli chuck 8711 is arranged vertically above the chip CP pushed up by the needle 111a. It may be provided with. Alternatively, in the above-described modification, the Bernoulli chuck 8711 may be provided, which moves in synchronization with the vertical movement of the pickup mechanism 8111 and is arranged vertically above the chip CP pushed up by the suction post 8111a. According to this configuration, it is possible to prevent the chip CP from being scattered or displaced when the chip CP is pushed up by the pickup mechanism 111. Further, when there is no hole in the sheet TE, it is necessary to push the sheet TE upward with the needle 111a, which is particularly effective in preventing the tip from scattering.
  • the chip supply unit has a pickup mechanism that separates the chip CP attached to the sheet TE from the sheet TE by using the suction force of the Bernoulli chuck and delivers it to the first chip transport unit 51. It may be a thing.
  • the pickup mechanism when the chip supply unit has a Bernoulli chuck arranged vertically above the chip CP, the pickup mechanism has the tip portion in contact with the chip CP and the joint surface of the chip CP. It may have a plurality of long plate-shaped chip support plates (part support plates) that support the CPf in a horizontal posture on a plane orthogonal to the vertical direction.
  • the pickup mechanism 9111 may have two long chip support plates 9111a1 and 9111a2.
  • the pickup mechanism 9111 includes a support plate driving unit 9111g that brings the two chip support plates 9111a1 and 9111a2 closer to each other by moving the two chip support plates 9111a1 and 9111a2 in a direction orthogonal to their extending direction. Further, the pickup mechanism 9111 has a suction portion (not shown) that sucks a portion between the chip support plates 9111a1 and 9111a2 while the sheet is stretched on the tip portions of the chip support plates 9111a1 and 9111a2.
  • the chip supply unit is a suction unit that adsorbs a portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 and the chip CP adjacent to the chip CP are attached. It has a suction unit 9115 having 9115a.
  • the Bernoulli chuck 9711 is provided by, for example, a first chip conveying unit that conveys the chip CP to a transfer position at which the chip CP is transferred to the head 33H.
  • the Bernoulli chuck 9711 may be included in the second chip transport unit that transports the chip CP to the receiving position of the first chip transport unit.
  • the Bernoulli chuck 9711 is provided with a guide portion 9711a for preventing the chip CP from being displaced.
  • the guide portion 9711a has a rectangular frame shape provided at a portion surrounding the chip CP in the Bernoulli chuck 9711 in a state where the chip CP is held by the Bernoulli chuck 9711, for example.
  • the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 corresponds to the chip CP cut out by the pickup mechanism 9111. Further, the chip CP adjacent to the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 corresponds to a chip CP other than the chip CP cut out by the pickup mechanism 9111.
  • the suction unit 9115 guides the portion of the sheet TE1 on which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 and the chip CP adjacent to the chip CP are attached from the side opposite to the side on which the chip CP is attached.
  • the chip CP can be lifted to a position where the suction force of the Bernouy chuck 9711 works without the portion 9711a coming into contact with the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 and the chip CP adjacent to the chip CP.
  • the operation of the chip supply unit according to this modification will be described with reference to FIGS. 35 and 36.
  • the chip supply unit delivers the chip CP to the Bernouy chuck 9711 by the pickup mechanism 9111
  • the chip CP adjacent to the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached as shown by the arrow AR901 in FIG. 35 (A).
  • the attached portion is adsorbed by the adsorption unit 9115.
  • the pickup mechanism 9111 presses the tip portions of the chip support plates 9111a1 and 9111a2 against the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached.
  • the pickup mechanism 9111 presses the tip portions of the chip support plates 9111a1 and 9111a2 against the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached.
  • the support unit drive unit 9111g moves the chip support plates 9111a1 and 9111a2 in the direction of bringing them closer to each other, so that the Bernoulli chuck in the sheet TE1 at their tip portions. Rub the portion to which the chip CP facing the 9711 is attached. At this time, the sheet TE1 is slightly lifted and an angle is formed between the sheet TE1 and the contact surface of the chip CP with the sheet TE1, so that the tips of the chip support plates 9111a1 and 9111a2 are moved from the outside to the inside of the chip CP. By moving it, the sheet TE1 is peeled off from the chip CP accordingly.
  • the pickup mechanism 9111 returns the positions of the chip support plates 9111a1 and 9111a2 to their original positions as shown by the arrow AR904 in FIG. 36 (A). After that, the suction unit sucks the portion of the sheet TE1 between the chip support plates 9111a1 and 9111a2 as shown by the arrow AR905 in FIG. 36 (A).
  • the pickup mechanism 9111 may return the positions of the chip support plates 9111a1 and 9111a2 to their original positions while the suction unit sucks the portion between the chip support plates 9111a1 and 9111a2 in the sheet TE1.
  • the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is easily peeled off from the sheet TE1.
  • the pickup mechanism 9111 moves the chip support plates 9111a1 and 9111a2 vertically upward, so that the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 in the sheet TE1 is attached. Push up the sewn part vertically upward. At this time, since the portion where the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 and the chip CP adjacent to the chip CP are attached is attracted by the suction unit 9115, the chip CP adjacent to the pushed-up chip CP comes into contact with the Bernoulli chuck 9711. Is prevented.
  • the Bernoulli chuck 9711 cannot generate a suction force for sucking the chip CP unless the chip CP is in a horizontal position and approaches the vicinity of the Bernoulli chuck 9711 to some extent.
  • the Bernoulli chuck 9711 requires a guide 9711a to define the horizontal position of the chip CP.
  • this modification only the tip CP to be sucked by the Bernoulli chuck 9711 can be brought close to the Bernoulli chuck 9711 from the inside of the guide 9711a in a horizontal posture. Therefore, even if the guide portion 9711a is provided, the tip CP can be sucked by the Bernoulli chuck 9711.
  • the pushed-up chip CP is delivered to Bernoulli Chuck 9711. That is, the pickup mechanism 9111 does not support the chip CP from vertically above the chip CP, and the portion of the sheet TE1 to which the chip CP is attached is formed on the joint surface of the chip CP only by the chip support plates 9111a1 and 9111a2. Push up the CPf so that it is in a horizontal position on the plane orthogonal to the vertical direction. As a result, when pushing up the portion of the sheet TE1 to which the chip CP is attached, the contact of the chip CP with the guide portion 9711a of the Bernoulli chuck 9711 is suppressed.
  • the timing of sucking the sheet TE1 by the suction portion may be after the chip support plates 9111a1 and 9111a2 push up the portion of the sheet TE1 to which the chip CP is attached, or the chip support plates 9111a1 and 9111a2 may be sucked. It may be before or during the movement in the direction of approaching each other.
  • the pickup mechanism is composed of three or more chip support pins for supporting the chip CP in a horizontal posture on a surface whose joint surface CPf is orthogonal to the vertical direction, and a release member for peeling the chip CP from the sheet. It may have a certain peeling pin.
  • the pickup mechanism 10111 has four chip support pins 10111a and four peeling pins 10111b.
  • the pickup mechanism 10111 includes a pin drive unit 10111g by independently moving the four chip support pins 10111a and the four peeling pins 10111b in the extending direction thereof.
  • the pickup mechanism 9111 has a suction portion (not shown) that sucks a portion surrounded by the chip support pin 10111a while the seat is stretched on the tip end portion of the chip support pin 10111a.
  • the operation of the chip supply unit according to this modification will be described with reference to FIGS. 37 and 38.
  • the same reference numerals as those in FIGS. 35 and 36 are attached to the same configurations as those of the above-described modification.
  • the chip supply unit attaches the chip CP adjacent to the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 as shown by the arrow AR1001 in FIG. 37 (A).
  • the attached portion is adsorbed by the adsorption unit 9115.
  • the pickup mechanism 9111 presses the tip of the chip support pin 10111a against the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached.
  • the support portion driving unit 10111g attaches the tip end portion of the peeling pin 10111b to the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached. Press.
  • the support portion driving unit 10111g separates the tip portion of the chip support pin 10111a from the sheet TE1 as shown by the arrow AR1003 in FIG. 37 (B).
  • the pickup mechanism 10111 again attaches the tip of the chip support pin 10111a to the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached, as shown by the arrow AR1004 in FIG. 38 (A). Press.
  • the support portion driving unit 10111g separates the tip portion of the peeling pin 10111b from the sheet TE1 as shown by the arrow AR1005 in FIG. 38 (A).
  • the suction unit sucks the portion of the sheet TE1 between the chip support plates 9111a1 and 9111a2 as shown by the arrow AR1006 in FIG. 38 (A).
  • the pickup mechanism 10111 moves the chip support pin 10111a vertically upward, so that the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 in the sheet TE1 is attached. Push the part vertically upward. Then, the pushed-up chip CP is delivered to Bernoulli Chuck 9711.
  • the pickup mechanism 10111 does not support the chip CP from vertically above the chip CP, and the joint surface CPf of the chip CP attaches the portion of the sheet TE1 to which the chip CP is attached only by the chip support pin 10111a. Push up so that the posture is horizontal to the plane orthogonal to the vertical direction. As a result, when pushing up the portion of the sheet TE1 to which the chip CP is attached, the contact of the chip CP with the guide portion 9711a of the Bernoulli chuck 9711 is suppressed.
  • the timing of sucking the sheet TE1 by the suction portion may be after the chip support pin 10111a pushes up the portion of the sheet TE1 to which the chip CP is attached.
  • the pickup mechanism 12111 may have two chip support plates 12111a1 and 12111a2 having hook-shaped heads 12111c and 12111d at the tip. ..
  • the chip support plates 12111a1 and 12111a2 have a long plate-shaped main body portion 12111b and head portions 12111c and 12111d, respectively.
  • the pickup mechanism 12111 includes a support plate driving unit 12111g that brings the two chip support plates 12111a1 and 12111a2 closer to each other by moving the two chip support plates 12111a1 and 12111a2 in a direction orthogonal to the extending direction thereof.
  • the head portions 12111c and 12111d have elongated protruding portions 12111e and 12111f protruding toward the opposite sides, respectively.
  • the support plate driving unit 12111g moves the chip support plates 12111a1 and 12111a2 in a direction approaching each other, one of the protruding portions 12111e and 12111f is the other. It will be in a state of being fitted in between.
  • the shapes of the head portions 12111c and 12111d are not limited to the shapes shown in FIGS. 39 (A) to 39 (C), and one part of the head portions 12111c and 12111d fits into the other part. As long as it has a shape, it may have another shape.
  • the head portions 12111c and 12111d at the tips of the chip support plates 12111a1 and 12111a2 are attached with the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 in the sheet TE1. Press it against the worn part.
  • the support unit drive unit 12111g moves the chip support plates 12111a1 and 12111a2 in the direction of bringing them closer to each other, so that the head portions 12111c and 12111d use the Bernoulli chuck on the sheet TE1. Rub the portion to which the chip CP facing the 9711 is attached.
  • the support unit drive unit 12111g moves the chip support plates 12111a1 and 12111a2 until the head units 12111c and 12111d overlap each other when viewed from the Y-axis direction. ..
  • the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is easily peeled off from the sheet TE1.
  • the pickup mechanism 12111 returns the positions of the chip support plates 12111a1 and 12111a2 to their original positions, and then moves the chip support plates 12111a1 and 12111a2 vertically upward.
  • the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached is pushed up vertically, and the pushed-up chip CP is delivered to the Bernoulli chuck 9711.
  • the chip supply unit rubs the chip CP attached to the portion of the sheet TE1 facing the Bernoulli chuck 9711 together with the chip support pin 13111h to remove the chip CP from the sheet TE1.
  • It may be provided with a pickup mechanism 13111 having a peeling member 13111a1 and 13111a2 for peeling and a peeling member driving unit 13111g.
  • a pickup mechanism 13111 having a peeling member 13111a1 and 13111a2 for peeling and a peeling member driving unit 13111g.
  • four chip support pins 13111h are provided.
  • the number of chip support pins 13111h may be three or five or more.
  • the chip support pin 13111h supports the chip CP in a horizontal posture on a surface whose joint surface CPf is orthogonal to the vertical direction.
  • the peeling members 13111a1 and 13111a2 have the same configuration as the chip support plates 12111a1 and 12111a2 described above, and have a long plate-shaped main body portion 13111b and head portions 13111c and 13111d at the tip portions.
  • the shapes of the head portions 13111c and 13111d are not limited to the shapes shown in FIG. 41 (A), as long as one part of the head portions 13111c and 13111d fits into the other part. It may have other shapes.
  • the pickup mechanism 13111 attaches the head portions 13111c and 13111d of the peeling members 13111a1 and 13111a2 to the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 in the sheet TE1 from the standby position. Bring it closer to the part that was done.
  • the pickup mechanism 13111 moves the peeling members 13111a1 and 13111a2 in the direction of bringing them closer to each other as shown by the arrow AR1303 in FIG. 41 (B).
  • the head portions 13111c and 13111d rub the portions of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached.
  • the tip end portion of the chip support pin 13111h may be arranged in the vicinity of the sheet TE1.
  • the pickup mechanism 13111 returns the positions of the peeling members 13111a1 and 13111a2 to the standby positions.
  • the chip supply unit moves the chip support pin 13111h vertically upward to bring the tip end portion of the chip support pin 13111h into contact with the sheet TE1.
  • the chip supply unit pushes up the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached vertically upward by the chip support pin 13111h. Then, the pushed-up chip CP is transferred to Bernoulli Chuck 9711. At this time, as shown by the arrow AR1306 in FIG. 42B, the chip supply unit returns the peeling members 13111a1 and 13111a2 to the standby position by moving them vertically downward.
  • the pickup mechanisms 9111 and 12111 support the chip CP by the chip support plates 9111a1, 9111a2, 12111a1 and 12111a2 in a horizontal posture with the surface where the joint surface CPf is orthogonal to the vertical direction. Further, the pickup mechanisms 10111 and 13111 support the chip CP by the chip support pins 10111a and 13111h in a horizontal posture on a surface whose joint surface CPf is orthogonal to the vertical direction. As a result, the pickup mechanisms 9111, 10111, 12111, and 13111 can transfer the chip CP to the Bernoulli chuck 9711 while maintaining a horizontal posture on the plane whose joint surface CPf is orthogonal to the vertical direction.
  • the pickup mechanisms 9111, 10111, 12111, and 13111 transfer the chip CP to the Bernoulli chuck 9711, it is possible to prevent a handling error of the Bernoulli chuck 9711 due to the inclination of the posture of the chip CP.
  • the pickup mechanism 9111 transfers the chip CP to the Bernoulli chuck 9711
  • the chip CP at the tip of the chip support plates 9111a1, 9111a2, 12111a1 and 12111a2 faces the Bernoulli chuck 9711 in the sheet TE1. Rub the part where is pasted.
  • the pickup mechanism 10111 presses the tip of the peeling pin 10111b against the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached.
  • the pickup mechanism 13111 rubs the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is attached with the head portions 13111c and 13111d of the peeling members 13111a1 and 13111a2. ..
  • the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 is easily peeled off from the sheet TE1, so that there is an advantage that the chip CP is smoothly transferred from the sheet TE1 to the Bernoulli chuck 9711.
  • the shape of the guide portion is not limited to this.
  • the guide portion 12711a is provided in a portion of the Bernoulli chuck 9711 that surrounds the two corners of the chip CP in a state where the chip CP is held by the Bernoulli chuck 9711. It may be in the form of a shape.
  • the guide portion 13711a is provided in a pin shape at a plurality of locations surrounding the chip CP in the Bernoulli chuck 9711 with the chip CP held by the Bernoulli chuck 9711. It may be.
  • the chip CP supplied from the chip supply unit 5011 together with the first chip transfer unit 5039 is transferred to the first chip supply unit 5039. It may be provided with a second chip transport unit (not shown) that transports the chip CP to a position where the chip CP is transferred to the first chip holding unit 5393. In this case, since the lengths of the plate 5391 and the arm 5394 of the first chip transport unit 5039 can be shortened, the size of the first chip transport unit 5039 can be reduced.
  • the chip supply unit may include the above-mentioned pickup mechanisms 9111, 10111, 12111, and 13111.
  • the pickup mechanisms 9111, 10111, 12111, 13111 have the tip portions of the chip support pins 10111a, 13111h or the chip support plates 9111a1, 9111a2, 12111a1, 12111a2.
  • the chip support pins 10111a, 13111h or the chip support plates 9111a1, 9111a2, 12111a1, 12111a2 may be moved until the tip portion is arranged vertically above the first chip holding portion 512.
  • the portion of the chip CP from which the outer sheet TE1 of the chip support pins 10111a and 13111h has been peeled off may be held by the first chip holding portion 512.
  • the chip supply unit of each embodiment may have a configuration in which the chip CP is cut out upward or a configuration in which the chip CP is cut out downward.
  • the second chip transport unit holds one chip CP cut out by the pickup mechanism by the second chip holding unit, which is a Bernoulli chuck, in a non-contact state with the joint surface CPf without inversion. It may be delivered to the first chip conveying unit as it is.
  • the first chip transport unit may be, for example, the first chip transport unit 5039, which is a turret according to the modification described with reference to FIGS. 26 and 27.
  • a plurality of hooks capable of being hooked on the peripheral portion of the chip CP from the vertically lower side and detached from the chip CP are provided. It may be provided with a first chip conveying unit having the same.
  • the first chip transport unit according to this modification includes, for example, a transport unit main body 16511, a Bernoulli chuck 16711 fixed to the transport unit main body 16511, and a transport unit main body 16511 as shown by an arrow AR1604. It has a main body drive unit (not shown) that drives in the vertical direction.
  • FIG. 44 the same reference numerals as those in FIG. 1 are attached to the same configurations as those in the first embodiment.
  • the Bernoulli chuck 16711 is provided with a guide portion 16711a for preventing the chip CP from being displaced.
  • the first chip transport portion has two arms 16514 provided with hooks 16514a at the tip portions, and a support portion 16515 fixed to the transport portion main body 16511 and rotatably supporting the two arms 16514, respectively.
  • the first chip transport portion has two arms 16514 provided with hooks 16514a at the tip portions, and a support portion 16515 fixed to the transport portion main body 16511 and rotatably supporting the two arms 16514, respectively.
  • the first chip transporting portion has a moving member 16517 having a pin 16516 inserted into an elongated hole 16514b formed in the base end portion of each of the two arms 16514 at the tip portion, and a moving member 16517 in the vertical direction. It has a hook drive unit 16518 that drives the plumb bob.
  • the chip supply unit has a suction unit 16115 having a suction unit 16115a for sucking a portion of the sheet TE1 to which a chip CP facing the Bernoulli chuck 16711 and a chip CP adjacent to the chip CP are attached.
  • the chip CP facing the Bernoulli chuck 9711 corresponds to the chip CP cut out by the pickup mechanism 111.
  • the chip CP adjacent to the chip CP facing the Bernoulli chuck 16711 corresponds to a chip CP other than the chip CP cut out by the pickup mechanism 111.
  • the suction unit 16115 has the portion of the sheet TE1 to which the chip CP facing the Bernoulli chuck 16711 and the adjacent chip CP are attached opposite to the side of the sheet TE1 to which the chip CP is attached. Adsorb from the side.
  • the hook drive unit 16158 moves the moving member 16517 in the vertical direction as shown by the arrow AR1602, and moves the hook 16514a by rotating the arm 16514 with the pin 16516 as the base point as shown by the arrow AR1603.
  • the pickup mechanism 111 cuts out one chip CP from a plurality of chip CPs as shown by the arrow AR1601
  • the hook drive unit 16158 rotates the arm 16514 to move the hook 16514a to the peripheral portion on the vertically lower side of the chip CP. Stop from the vertically lower side.
  • the hook 16514a of the arm 16514 is inserted between the surface of the chip CP on the sheet TE1 side and the sheet TE1.
  • the hook drive unit 16158 rotates the arm 16514 to separate the hook 16514a from the tip CP.
  • the sheet TE1 can be peeled off from the peripheral portion of the chip CP, so that the occurrence of chuck mistakes of the chip CP by the Bernoulli chuck 16711 is suppressed. .. Further, according to this configuration, with the Bernoulli chuck 16711 arranged vertically above the chip CP, the hook 16514a is hooked to the peripheral portion on the vertically lower side of the chip CP from the vertically lower side.
  • the present invention is not limited to this, and the second chip transporting portion having the same configuration as described above and transporting the chip CP to the first chip transporting unit is described. It may be a part. Further, in this modification, the configuration may be such that the Bernoulli chuck 16711 is not provided. In this case, the first chip transporting unit may transport the chip CP while holding the chip CP by a plurality of hooks 16514a.
  • the pickup mechanism 111 cuts out the chip to be cut out when the Bernoulli chuck 16711 is brought close to the sheet TE1 to which the chip CP is attached. It is necessary to lift the chip CP to a height such that the guide portion 16711a does not come into contact with the chip CP adjacent to the CP. At this time, since the sheet TE1 is projected and extended in the direction approaching the Bernoulli chuck 16711, the distance between the adjacent chip CPs is such that the chip CP to be cut out when the sheet TE1 is projected and the adjacent chip CP are adjacent to each other.
  • the length is set so as not to approach Bernoulli chuck 16711. Further, when the hook 16514a is inserted into the peripheral portion on the vertically lower side of the chip CP, it is advantageous that the distance between the adjacent chip CPs is wide.
  • the sheet TE1 it is preferable to use a sheet TE1 in which the distance between adjacent chip CPs is easily widened when extended.
  • the chip CPs may be rearranged on the sheet TE1 so that the distance between the adjacent chip CPs is widened.
  • the chip supply unit may be provided with a heating unit that heats the sheet TE1 from vertically below the sheet TE1 to facilitate the elongation of the sheet TE1 when the chip CP is lifted vertically upward by the pickup mechanism 111 and cut out. .
  • the heating unit may have, for example, a heater or a mechanism for discharging hot air.
  • the chip supply unit may have a light source that makes the sheet TE1 easy to stretch by irradiating the sheet TE1 with infrared light or ultraviolet light.
  • the second chip holding portion 2114a of the second chip conveying portion 2114 may be a non-contact check 17711 as shown in FIG. 45, for example.
  • the non-contact chuck 17711 includes a chuck main body 17712, a negative pressure generating unit 17713, an ultrasonic wave generating unit 17714, and a support member 17715 that supports the ultrasonic wave generating unit 17714.
  • the chuck body 17712 is formed with a flow path 17712a that communicates with the chip CP side ( ⁇ Z direction side) held inside the chuck body 17712.
  • the negative pressure generating unit 17713 sucks the chip CP by generating a negative pressure of 8 kPa to 40 kPa in the flow path 17712a of the chuck main body 17712.
  • the ultrasonic wave generating unit 17714 vibrates the chuck main body 17112 at a high frequency of several MHz to generate ultrasonic waves between the chuck main body 17712 and the chip CP, and compresses and diffuses the gas existing there. As a result, a thin gas film, that is, a squeezed film is formed on the ⁇ Z direction side of the chuck body 17112. Then, the chip CP is maintained in a state of floating on the squeezed film on the ⁇ Z direction side of the chuck body 17712.
  • the non-contact chuck 17711 holds the chip CP in a non-contact manner by using a combination of the attractive force of the chip CP generated by the negative pressure generator 17713 and the repulsive force generated by the ultrasonic wave generated by the ultrasonic generating unit 17714. To do.
  • the present invention is not limited to this, and for example, FIG. 18 is used.
  • the first chip holding portion 4512 of the first chip conveying portion 4051 described may be the non-contact chuck shown in FIG. 45.
  • the exhaust flow rate from the Bernoulli chuck is relatively large. Therefore, for example, when an air flow is generated in the bonding devices 30 and 4030 or in the chip supply devices 2010 and 4010 in order to remove particles adhering to the substrate WT or the chip CP, the flow of the air flow is affected. There is a risk that it will end up. In addition, the particles on the chip CP are scattered.
  • the non-contact chuck 17111 according to this configuration has an advantage that the suction force is higher than that of the Bernoulli chuck.
  • the method of cutting out the chip CP from the sheet is a method of lifting with a needle, a method of adsorbing an uneven surface to reduce the contact area, and a plate-like surface on the side opposite to the joint surface CPf of the chip CP. It may be peeled off by rubbing with a member, a method of irradiating ultraviolet light to reduce the adhesive force of the sheet, a method of heating the sheet to reduce the adhesive force of the sheet, or any other method. Further, the above-mentioned methods are effective not only in the method of cutting out the chip CP from the sheet but also in the method of cutting out the chip placed on the tray.
  • the sheet even if a sheet is used in which an adhesive material that foams and reduces the adhesive force when irradiated with ultraviolet rays is applied to the adhesive surface of the sheet on the side to which the chip CP is attached. Good. Further, when the sheet is irradiated with ultraviolet rays to reduce the adhesive strength of the sheet, the ultraviolet irradiation unit that irradiates the sheet with ultraviolet rays when the pickup mechanism cuts out at least one part from the plurality of parts attached to the sheet. It may have.
  • the pickup mechanism has a glass tool (not shown) that is transparent to ultraviolet rays, and the ultraviolet irradiation part uses the ultraviolet rays as a glass tool while the glass tool pushes up the portion of the sheet to which the chip CP is attached. It may be incident inside.
  • the sheet is irradiated with ultraviolet rays that propagate in the glass tool and are radiated from the sheet side of the glass tool, and the adhesive strength of the sheet is reduced.
  • the pickup mechanism cuts out the chip CP by irradiating the portion of the sheet TE to which the chip CP is attached with ultraviolet rays and then pushing up the portion with a needle or rubbing the portion with a peeling member. You may do so.
  • the first chip conveying portion or the second chip conveying portion attaches the chip CP attached to the portion to the first chip. It may be held by the holding part or the second chip holding part and picked up.
  • the chip CP can be easily peeled off from the sheet TE, and then the sheet TE is pushed up by the needle of the pickup mechanism or rubbed by the peeling member.
  • the chip CP may be cut out accordingly.
  • the portion of the sheet TE to which the chip CP is attached may be irradiated with ultraviolet rays to make the chip CP easily peeled off from the sheet TE, and then picked up by the first chip conveying unit or the second chip conveying unit as it is. ..
  • the portion of the sheet TE to which the chip CP is attached may be pushed up by a glass tool transparent to ultraviolet rays, and the portion may be irradiated with ultraviolet rays through the glass tool to peel off the chip CP.
  • the side to which the chip CP of the sheet TE is attached is coated with a material that fires when ultraviolet rays are irradiated, and the sheet TE is irradiated with ultraviolet rays so that the chip CP can be easily peeled off from the sheet TE. Then, it may be picked up by the first chip transport unit or the second chip transport unit as it is.
  • the timing of making a hole in the sheet TE1 does not have to be before the sheet TE1 is put into the chip mounting system.
  • 13111h may be contacted with a hole.
  • a hole may be formed in the sheet TE1 while peeling off the outer peripheral portion of the chip CP in the sheet TE1 in the same manner at a position different from the pickup mechanism or a device different from the chip supply device 10.
  • the adhesive material contained in the sheet TE1 adheres to the tip of the needle, which causes it. It may adhere to the chip CP.
  • the adhesive material adheres to the head 33H, the first chip holding portion, or the like, or falls in the chip mounting system and becomes dust, which is a problem. Therefore, in the first embodiment, the head 33H, the first tip holding portion, and the like are provided with a recess in the portion corresponding to the contact position of the needle 111a, so that the head 33H is in contact with the tip portion of the needle 111a in the tip CP. , It is preferable that the first chip holding portion, each stage, and the like do not come into contact with each other.
  • the cleaning unit 5037 has a configuration in which a discharge hole (not shown) for discharging gas such as water, nitrogen, or air is provided in a portion of the chip stage 5036 on which the chip CP is placed. You may. In this case, the cleaning unit may clean the back surface of the chip CP conveyed to the cleaning unit with a gas such as water, nitrogen, or air discharged from the discharge hole.
  • the head 33H has a configuration in which the suction post protrudes from the central portion thereof and the chip CP is transferred to the head 33H, and when the chip CP is joined to the substrate WT inside the suction post. It may have a built-in pressing mechanism for pressing the central portion of the chip CP. By doing so, both the post pin and the center push mechanism are established, which is preferable.
  • cutting out means supplying the chip CP by protruding with a needle, supplying the chip CP by sucking the adhesive sheet, and irradiating with ultraviolet rays. Includes supplying chip CP.
  • the present invention is suitable for manufacturing, for example, CMOS image sensors, memories, arithmetic elements, and MEMS.

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Abstract

チップ実装システム(1)は、チップ(CP)を供給するチップ供給部(11)と、先端部にチップ支持部(432a)が設けられたヘッド(33H)と、第1チップ保持部(512)がチップ(CP)を保持した状態で移載位置(Pos1)まで搬送する第1チップ搬送部(51)と、チップ(CP)を保持した第1チップ保持部(512)が移載位置(Pos1)に位置し且つチップ支持部(432a)によりチップ(CP)の中央部を支持した状態で、チップ支持部(432a)を第1チップ保持部(512)よりも鉛直上方側へ移動させることによりチップ(CP)を第1チップ保持部(512)からヘッド(33H)へ移載する支持部駆動部(432b)と、を備える。

Description

部品実装システム、部品供給装置および部品実装方法
 本発明は、部品実装システム、部品供給装置および部品実装方法に関する。
 基板を保持するステージと、ステージの上方に配置されたボンディング部と、を備え、ボンディング部のヘッドにチップを保持した状態でボンディング部を下降させてチップを基板に接合する方法が提案されている(例えば特許文献1参照)。また、2つの被接合物の接合面に対しプラズマ処理を施した後、2つの被接合物の接合面同士を接触させて接合する方法も提案されている(例えば特許文献2参照)。そして、チップにおける基板に接合される接合面にプラズマ処理を施した後、チップの接合面を基板に接触させてチップを基板に接合する方法が提供されつつある。
特開2012-238775号公報 特表2003-523627号公報
 前述の方法では、チップを基板に接合する際におけるチップの接合面に異物が付着していたり傷があったりするとチップと基板との接合不良が発生してしまう。従って、接合面にプラズマ処理が施されたチップをボンディング部のヘッドへ搬送する際、チップの接合面への異物の付着および例えば搬送治具の接触に起因したチップの接合面の損傷を抑制すること或いはチップ接合面のパーティクル洗浄が要請されている。また、チップの活性化した接合面は、触れることができないので接合面を触らずに搬送する手法が求められている。
 本発明は、上記事由に鑑みてなされたものであり、部品の接合面への異物の付着および部品の接合面の損傷が抑制される部品実装システム、部品供給装置および部品実装方法を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するため、本発明に係る部品実装システムは、
 基板に部品を実装する部品実装システムであって、
 前記部品を供給する部品供給部と、
 先端部で前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を保持するヘッドと、
 前記部品供給部から供給される前記部品の前記接合面側を非接触で保持する第1部品保持部を有し、前記第1部品保持部が前記部品を保持した状態で前記ヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送する第1部品搬送部と、
 前記基板を保持する基板保持部と、
 前記第1部品搬送部から移載された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させて前記実装面に前記部品を実装するヘッド駆動部と、を備える。
 他の観点から見た本発明に係る部品実装方法は、
 基板に部品を実装する部品実装方法であって、
 前記部品を供給するステップと、
 供給される前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側を非接触で保持する第1部品保持部により前記部品が保持された状態で、前記第1部品保持部をヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送するステップと、
 前記ヘッドに移載された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板を保持する基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させることにより前記実装面に前記部品を実装するステップと、を含む。
 本発明に係る部品実装システムおよび部品実装方法によれば、供給された部品の接合面側を非接触で保持する第1部品保持部により部品を保持した状態でヘッドに部品を移載する移載位置まで部品が搬送される。これにより、表面活性化された部品の接合面を触らずに部品を搬送することができ且つ部品の接合面を触ることによる部品の接合面への異物の付着および部品の接合面の損傷が抑制されるので、部品と基板との接合不良の発生が抑制される。
本発明の実施の形態1に係るチップ実装システムの概略構成図である。 実施の形態1に係るチップ搬送部の第1チップ保持部の概略平面図である。 (A)は実施の形態1に係るヘッドの概略正面図であり、(B)は実施の形態1に係るヘッドの概略平面図である。 (A)は実施の形態1に係るチップ実装システムにおいてチップ供給部からチップが供給される様子を示す図であり、(B)は実施の形態1に係るチップ実装システムにおいてチップ搬送部がチップ供給部からチップを受け取った様子を示す図である。 (A)は実施の形態1に係るチップ実装システムにおいてチップ搬送部がチップを移載位置まで搬送する様子を示す図であり、(B)は実施の形態1に係るチップ搬送部からヘッドへチップが移載される様子を示す図である。 (A)は実施の形態1に係るチップ搬送部からヘッドへチップが移載される様子を示す図であり、(B)は実施の形態1に係るヘッドにチップが保持された様子を示す図である。 実施の形態1に係るボンディング装置におけるチップ実装処理の様子を示す図である。 本発明の実施の形態2に係るチップ実装システムの概略構成図である。 実施の形態2に係る反転部の概略図である。 (A)は実施の形態2に係るチップ供給部において第2チップ搬送部がチップを受け取る様子を示す図であり、(B)は実施の形態2に係るチップ供給部において第2チップ搬送部がチップを搬送する様子を示す図である。 (A)は実施の形態2に係るチップ実装システムにおいて反転部によりチップが反転される様子を示す図であり、(B)は実施の形態2に係るチップ実装システムにおいてチップ供給部から第1チップ搬送部へチップが移載される様子を示す図である。 (A)は実施の形態2に係るチップ実装システムにおいて第1チップ搬送部がチップを保持した様子を示す図であり、(B)は実施の形態2に係るチップ実装システムにおいて第1チップ搬送部がチップを移載位置まで搬送する様子を示す図である。 本発明の実施の形態3に係るチップ実装システムの概略構成図である。 実施の形態3に係る第2チップ搬送部の概略図である。 (A)は実施の形態3に係るチップ供給部において第2チップ搬送部がチップを受け取る様子を示す図であり、(B)は実施の形態3に係るチップ供給部において第2チップ搬送部がチップを搬送する様子を示す図である。 (A)は実施の形態3に係るチップ実装システムにおいてチップ供給部から第1チップ搬送部へチップが移載される様子を示す図であり、(B)は実施の形態3に係るチップ実装システムにおいて第2チップ搬送部へチップが移載された様子を示す図である。 実施の形態3に係るチップ実装システムにおいて第1チップ搬送部がチップを搬送する様子を示す図である。 変形例に係るチップ実装システムの概略構成図である。 変形例に係るヘッドの概略図である。 (A)は変形例に係るチップ供給部の一部を示す概略正面図であり、(B)は変形例に係るチップ供給部においてチップが粘着シートに保持された状態を示す図であり、(C)は変形例に係るチップ供給部においてチップが粘着シートから離脱する様子を示す図である。 (A)は変形例に係るチップ供給部の一部を示す概略正面図であり、(B)は変形例に係るチップ供給部においてチップが粘着シートから離脱する様子を示す図である。 (A)は変形例に係るボンディング装置のヘッドの一部を示す概略正面図であり、(B)は変形例に係るボンディング装置のヘッドの動作を説明するための図である。 (A)は変形例に係るシートの斜視図であり、(B)は変形例に係るシートを使用した場合のチップ実装システムの動作を説明するための図である。 (A)は変形例に係るトレイの一部を示す概略断面図であり、(B)は変形例に係るトレイからチップを離脱させる様子を示す図である。 (A)は変形例に係るトレイの一部を示す概略断面図であり、(B)は変形例に係るトレイからチップを離脱させる様子を示す図である。 変形例に係るチップ実装システムの概略平面図である。 変形例に係る第1チップ搬送部の一部の断面図である。 変形例に係るチップ実装システムの概略側面図である。 変形例に係るチップ実装システムにおいてチップ供給部からチップが供給される様子を示す図であり、(A)は概略平面図であり、(B)は概略側面図である。 (A)は変形例に係るチップ実装システムにおいてチップ保持部を洗浄部の鉛直上方へ移動させた様子を示す概略平面図であり、(B)は変形例に係るチップ実装システムにおいてチップステージを洗浄ヘッドの鉛直下方へ移動させる様子を示す概略平面図である。 変形例に係るチップ実装システムにおいてチップ搬送部からヘッドへチップが受け渡される様子を示す図であり、(A)は概略平面図であり、(B)は概略側面図である。 変形例に係るチップ実装システムにおいてチップ搬送部からチップ回収部へチップが受け渡される様子を示す概略平面図である。 変形例に係るチップ供給部の一部の概略構成図である。 (A)変形例に係るチップ供給部の一部の概略斜視図であり、(B)は他の変形例に係るチップ供給部の一部の概略斜視図であり、(C)は(B)に示すチップ供給部の一部の概略平面図である。 変形例に係るチップ供給部の一部を示し、(A)はピックアップ機構のチップ支持板の先端部をチップが貼着されたシートに押し付けた状態を示す概略断面図であり、(B)はピックアップ機構のチップ支持板の先端部によりチップが貼着されたシートを擦る様子を示す概略断面図である。 変形例に係るチップ供給部の一部を示し、(A)はピックアップ機構がチップが貼着されたシートを吸引する様子を示す概略断面図であり、(B)はピックアップ機構がベルヌーイチャックへチップを移載する様子を示す概略断面図である。 変形例に係るチップ供給部の一部を示し、(A)はピックアップ機構のチップ支持ピンの先端部をチップが貼着されたシートに押し付けた状態を示す概略断面図であり、(B)はピックアップ機構が剥離用ピンの先端部をチップが貼着されたシートに押し付けた様子を示す概略断面図である。 変形例に係るチップ供給部の一部を示し、(A)はピックアップ機構がチップが貼着されたシートを吸引する様子を示す概略断面図であり、(B)はピックアップ機構がベルヌーイチャックへチップを移載する様子を示す概略断面図である。 (A)変形例に係るチップ供給部の一部の概略斜視図であり、(B)は変形例に係るチップ支持板のヘッド部の概略平面図であり、(C)は変形例に係るチップ支持板が互いに近づいた状態でのヘッド部の概略平面図である。 (A)変形例に係るピックアップ機構のチップ支持板の先端部によりチップが貼着されたシートを擦る様子を示す概略断面図であり、(B)は(A)におけるチップ支持板の先端部の拡大図である。 変形例に係るチップ供給部の一部を示し、(A)はピックアップ機構の剥離部材の先端部をチップが貼着されたシートに近づける様子を示す概略断面図であり、(B)はピックアップ機構の剥離部材によりチップが貼着されたシートを擦る様子を示す概略断面図である。 変形例に係るチップ供給部の一部を示し、(A)はピックアップ機構の剥離部材をチップが貼着されたシートから遠ざける様子を示す概略断面図であり、(B)はピックアップ機構がベルヌーイチャックへチップを移載する様子を示す概略断面図である。 (A)は変形例に係るベルヌーイチャックおよびガイド部を示す平面図であり、(B)は他の変形例に係るベルヌーイチャックおよびガイド部を示す平面図である。 変形例に係るベルヌーイチャックおよびチップ供給部の一部を示す概略断面図である。 変形例に係る非接触チャックの一部破断した概略側面図である。
(実施の形態1)
 以下、本発明の実施の形態に係る部品実装システムであるチップ実装システムについて、図面を参照しながら説明する。
 本実施の形態に係るチップ実装システムは、基板上に部品を実装するシステムである。部品は、例えばダイシングされた基板から供給される半導体チップ(以下、単に「チップ」と称する。)である。従来は、チップと基板との接合時における接合界面へのパーティクル混入を防ぐことは難しかった。そのためチップの全面での基板との接合は難しく、ハンダバンプを用いて隙間を作ったり、パーティクルをハンダ内に取り込んだりすることにより、接合へのパーティクルの影響を低減していた。しかし、ハンダバンプを用いた方法では、ハンダバンプの大きさを小さくするのに限界があり、基板に形成された電極ピッチを50μm程度にする必要があった。これに対して、バンプを用いずに例えば接合面に形成された電極と絶縁体層とを同一面上で面接合する方法では、前述の電極ピッチを数μmまで削減できるので好ましい。このように、チップの接合される側にバンプが設けられておらず且つ接合面を基板の実装面に面接触させて接合する場合には、本実施の形態に係るチップ実装システムは特に有効である。ところで、少なくともチップの接合面を表面活性化して接合する方法においては、チップの接合面に触れることができず、また、固相で接合する方法であるため接合面にパーティクルが載るとボイドの発生原因になり得る。表面活性化接合方法では、例えばチップの接合面に存在するAuまたはCuへAr照射により活性化してから大気中で常温乃至低温で接合する。また、親水化接合方法では、チップの接合面にプラズマ処理を施すことにより親水化してから基板の実装面とチップの接合面とを互いに接触させることにより仮結合させてから加熱処理を行うことにより堅固な共有結合に変化させて接合する。例えばチップの接合面に絶縁物とCu電極とが存在する場合に、接合面をCMP研磨することにより平坦化してから面接合する場合にも好適である。そして、本実施の形態に係るチップ実装システムでは、チップの接合面に触れることなくチップをボンディング装置のヘッドまで搬送することができ且つチップの接合面および基板の実装面へのパーティクルの付着を防止できる。ここで、「基板の実装面」とは、チップが実装される面を示す。
 図1に示すように、本実施の形態に係るチップ実装システム1は、チップ供給装置10とボンディング装置30と制御部90とを備える。なお、以下の説明において、適宜図1の±Z方向を上下方向、XY方向を水平方向として説明する。チップ供給装置10は、シート保持枠112に保持されたシートTEに貼着された複数のチップCPの中から1つのチップCPを取得してボンディング装置30へ供給する部品供給装置である。ここで、シートTEとしては、例えば複数のチップCPを粘着性を有する一面側で保持する粘着シートを採用することができる。チップ供給装置10は、チップ供給部11と、チップ供給部11から供給されるチップCPを後述するボンディング装置30のヘッド33Hまで搬送する第1チップ搬送部51と、を有する。
 チップ供給部11は、シート保持枠112を保持する枠保持部119と、複数のチップCPの中から1つのチップCPをピックアップするピックアップ機構111と、カバー114と、を有する部品供給部である。また、チップ供給部11は、シート保持枠112をXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ駆動する保持枠駆動部113を有する。枠保持部119は、シートTEにおける複数のチップCPが貼着された面が鉛直上方(+Z方向)側となる姿勢でシート保持枠112を保持する。シート保持枠112と枠保持部119とから、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側とは反対側に貼着されたシートTEを接合面CPfが第1方向側である鉛直上方側を向く姿勢で保持するシート保持部が構成されている。
 ピックアップ機構111は、複数のチップCPのうちの1つのチップCPを、シートTEにおける複数のチップCP側とは反対側から切り出す(突き出す)ことにより1つのチップCPをシートTEから離脱した状態にする。ここで、ピックアップ機構111は、チップCPの接合面CPf側とは反対側における後述のヘッド33Hにより保持される第1部位である中央部とは異なる第3部位である周部を保持して、チップCPを切り出す。なお、第3部位は、第1部位と同じであってもよい。ピックアップ機構111は、ニードル111aを有し、図1の矢印AR15に示すように鉛直方向へ移動可能となっている。カバー114は、複数のチップCPの鉛直上方を覆うように配置され、ピックアップ機構111に対向する部分に孔114aが設けられている。ニードル111aは、例えば4つ存在する。但し、ニードル111aの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。ピックアップ機構111は、シートTEにおける鉛直下方(-Z方向)からニードル111aをシートTEに突き刺してチップCPを鉛直上方(+Z方向)へ持ち上げることによりチップCPを供給する。そして、シートTEに貼着された各チップCPは、ニードル111aによりカバー114の孔114aを通じて1個ずつカバー114の上方へ突き出され、第1チップ搬送部51に受け渡される。保持枠駆動部113は、シート保持枠112をXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ駆動することにより、ニードル111aの鉛直下方に位置するチップCPの位置を変化させる。
 第1チップ搬送部51は、チップ供給部11から供給されるチップCPを、ヘッド33HにチップCPを移載する移載位置Pos1まで搬送する第1部品搬送部である。第1チップ搬送部51は、本体部511と、第1部品保持部である第1チップ保持部512と、チップカバー513と、を有する。本体部511は、図1の矢印AR14に示すように、第1チップ保持部512を、予め設定された待機位置と移載位置Pos1との間で移動させる。第1チップ保持部512は、例えば図2に示すように、主片512bと、主片512bから同一方向へ延在する2つの脚片512aと、を有する。ここで、2つの脚片512aの間隔は、チップCPの平面視における最小幅よりも短くなるように設定されている。そして、第1チップ保持部512は、2つの脚片512aの間にチップCPが懸架された状態で、チップCPの第2部位である周部を保持する。図1に戻って、チップカバー513は、第1チップ保持部512に設けられ、第1チップ保持部512がチップCPを保持した状態でチップCPの接合面CPf側を覆う部品カバーである。
 ボンディング装置30は、ステージ31と、ヘッド33Hを有するボンディング部33と、ヘッド33Hを駆動するヘッド駆動部36と、を有する。ヘッド33Hは、例えば図3(A)に示すようにチップツール411と、ヘッド本体部413と、チップ支持部432aと、支持部駆動部432bと、を有する。チップツール411は、例えばシリコン(Si)から形成されている。ヘッド本体部413は、チップCPをチップツール411に吸着保持させるための吸着部を有する保持機構440と、チップCPの中央部を押圧する押圧機構431と、を有する。保持機構440は、チップツール411を介してチップCPの周部を保持する。押圧機構431は、ヘッド本体部413の先端面の中央部において鉛直方向に移動可能であり、チップCPの中央部を鉛直上方へ向かって押圧する押圧部431aと、押圧部431aを駆動する押圧駆動部431bと、を有する。また、ヘッド本体部413は、チップツール411を真空吸着によりヘッド本体部413に固定するための吸着部(図示せず)も有する。押圧駆動部431bが、チップツール411にチップCPの周部が保持された状態で、押圧部431aを鉛直上方へ移動させると、チップCPの中央部が鉛直上方(+Z方向)へ押圧され、チップCPの中央部がその周部に比べて鉛直上方へ撓んだ状態となる。チップツール411は、ヘッド本体部413の保持機構440に対応する位置に形成された貫通孔411aと、押圧部431aが内側に挿入される貫通孔411bと、チップ支持部432aが内側に挿通される貫通孔411cと、を有する。
 チップ支持部432aは、例えばピン状の形状を有し、ヘッド33Hの先端部に設けられ鉛直方向へ移動自在の部品支持部である。チップ支持部432aは、チップCPの接合面CPf側とは反対側における第1部位である中央部を支持する。チップ支持部432aは、例えば図3(B)に示すように、押圧部431aを囲繞するように4つ設けられている。
 支持部駆動部432bは、チップ支持部432aを鉛直方向へ駆動する。支持部駆動部432bは、チップCPを保持した第1チップ保持部512が移載位置Pos1に位置し、チップ支持部432aによりチップCPの中央部を支持した状態で、チップ支持部432aを第1チップ保持部512よりも鉛直上方側へ移動させる。これにより、チップCPが、第1チップ搬送部51の第1チップ保持部512からヘッド33Hへ移載される。
 図1に戻って、ヘッド駆動部36は、ボンディング部33をZ軸方向(図1の矢印AR11参照)へ駆動するとともに、ボンディング部33をZ軸方向に沿った回転軸回りに回転駆動させる(図1の矢印AR12参照)。ヘッド駆動部36は、第1チップ搬送部51から受け取ったチップCPを保持するヘッド33Hを鉛直上方(+Z方向)へ移動させることによりヘッド33Hをステージ31に近づけて基板WTの実装面WTfにチップCPを実装する。ここで、基板WTの実装面WTfとチップCPの接合面CPfとは、前述のように、プラズマ処理が施されることにより親水化されている。これにより、基板WTの実装面WTfにチップCPの接合面CPfを接触させることで、基板WTにチップCPがいわゆる親水化接合される。
 ステージ31は、基板WTにおけるチップCPが実装される実装面WTfが鉛直下方(-Z方向)を向く姿勢で基板WTを保持する基板保持部である。ステージ31は、ステージ駆動部32によりX方向およびY方向へ駆動される(図1の矢印AR13参照)。これにより、ボンディング部33とステージ31との相対位置関係を変更することができ、基板WT上における各チップCPの実装位置を調整することができる。
 制御部90は、例えばMPU(Micro Processing Unit)と主記憶部と補助記憶部とインタフェースと各部を接続するバスとを有し、ボンディング装置30のヘッド駆動部36、ステージ駆動部32、保持機構440および押圧機構431と、チップ供給装置10のチップ供給部11および第1チップ搬送部51を制御する。制御部90のMPUは、補助記憶部が記憶するプログラムを主記憶部に読み込んで実行することにより、インタフェースを介して、ヘッド駆動部36、ステージ駆動部32、保持機構440、押圧機構431、チップ供給部11、第1チップ搬送部51それぞれへ制御信号を出力する。
 次に、本実施の形態に係るチップ実装システム1の動作について図4乃至図7を参照しながら説明する。まず、チップ実装システム1では、図4(A)の矢印AR31に示すように、ピックアップ機構111が鉛直上方へ移動することにより、1つのチップCPをシートTEにおける複数のチップCP側とは反対側から突き出し、1つのチップCPをシートTEから離脱した状態にする。次に、第1チップ搬送部51が、図4(A)の矢印AR32に示すように、ピックアップ機構111により鉛直方向へ突き出されたチップCPの側方からチップCPに近づいていく。そして、第1チップ保持部512の2つの脚片512a(図2参照)の間にピックアップ機構111のニードル111aが配置された状態となる。
 続いて、図4(B)の矢印AR33に示すように、ピックアップ機構111が鉛直下方に向かって待機位置まで移動すると、図4(B)に示すように、第1チップ保持部512にチップCPが保持された状態となる。その後、第1チップ搬送部51が、図5(A)の矢印AR34に示すように、第1チップ保持部512を、チップCPをヘッド33Hへ移載する移載位置Pos1まで移動させる。そして、第1チップ保持部512が移載位置Pos1に移動された後、ヘッド駆動部36は、図5(A)の矢印AR35に示すように、ボンディング部33を鉛直上方へ移動させてヘッド33Hを第1チップ保持部512へ近づける。
 次に、支持部駆動部432bは、図5(B)の矢印AR36に示すように、チップ支持部432aを鉛直上方へ移動させる。これにより、第1チップ保持部512に保持されたチップCPは、チップ支持部432aの上端部で支持された状態で、第1チップ保持部512よりも鉛直上方側に配置される。続いて、第1チップ搬送部51は、図6(A)の矢印AR37に示すように、第1チップ保持部512をチップCPの側方へ移動させる。その後、支持部駆動部432bは、図6(B)の矢印AR38に示すように、チップ支持部432aを鉛直下方へ移動させる。そして、保持機構440が、チップCPの周部をチップツール411に吸着させる。これにより、ヘッド33Hの先端部にチップCPが保持された状態となる。このようにチップCPがヘッド33Hの先端部に移載された後は、チップCPは、その接合面CPf側とは反対側における第1部位である中央部以外の部位においてもヘッド33Hに保持された状態となる。
 次に、チップ実装システム1は、ステージ31を駆動するとともにボンディング部33を回転させることにより、チップCPと基板WTとの相対的な位置ずれを補正するアライメントを実行する。続いて、チップ実装システム1は、ヘッド33Hを上昇させることにより、チップCPを基板WTに実装する。このとき、ボンディング装置30は、図7の矢印AR41参照に示すように、保持機構440によりチップCPの周部をチップツール411に吸着させて保持した状態で、図7の矢印AR42に示すように押圧部431aを鉛直上方へ駆動することにより、チップCPの中央部を押圧する。これにより、チップCPは、図7の矢印AR43に示すように、その中央部がその周部に比べて基板WTの実装面WTf側へ突出するように撓んだ状態となる。そして、ヘッド駆動部36は、図7に示すようにチップCPを撓ませた状態でヘッド33Hを基板WTに近づけることにより、チップCPの中央部を基板WTの実装面WTfに接触させる。その後、ボンディング装置30は、押圧部431aを鉛直下方へ没入させつつ、ヘッド33Hを更に基板WTへ近づけることにより、基板WTとチップCPとの接触面積を広げる。そして、ヘッド駆動部36は、ヘッド33Hを基板WTの実装面WTfに近づけることにより、チップCPの周部を基板WTの実装面に接触させた後、ヘッド33Hを基板WT側に向けて押圧することにより、チップCPの接合面CPf全体を基板WTの実装面WTfに接合する。なお、ボンディング装置30は、ヘッド33Hを鉛直方向へ移動させて基板WTに予め設定された距離まで近づけた後、チップCPを撓ませることによりチップCPの中央部を基板WTの実装面WTfに接触させてもよい。この場合も、その後、ボンディング装置30が、押圧部431aを鉛直下方へ没入させつつ、ヘッド33Hを更に基板WTへ近づけることにより、基板WTとチップCPとの接触面積を広げつつ、チップCPの周部を基板WTの実装面に接触させた後、ヘッド33Hを基板WT側に向けて押圧することにより、チップCPの接合面CPf全体を基板WTの実装面WTfに接合するようにしてもよい。これにより、チップCPの接合面CPfの中央部から接合を進めることで、大気中での基板WTとチップCPとの間への空気の巻き込みに起因したボイドの発生を抑制することができる。
 以上説明したように、本実施の形態に係るチップ実装システム1によれば、供給されたチップCPの接合面CPf側とは反対側における周部を保持する第1チップ保持部512によりチップCPが保持された状態で移載位置Pos1までチップCPが搬送される。これにより、チップCPの接合面CPfを触らずにチップCPを搬送することができるので、チップCPの接合面CPfへの異物の付着およびチップCPの接合面CPfの損傷が抑制される。また、第1チップ搬送部51が、チップCPの接合面CPfを鉛直下方に向けた状態でチップCPを搬送するので、チップCPの接合面CPfに異物(例えば、パーティクル)が載ってしまうことが抑制される。従って、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。
 ところで、チップCPをバンプを介して基板WTに接合するいわゆるバンプ接合を行う場合、チップCPのバップが形成された面側におけるバンプ以外の部分をハンドリングすることが可能である。これに対して、チップCPの接合面CPfに親水化処理を施してからチップCPの接合面CPfを基板WTの実装面WTfに接触させることによりチップCPを基板WTに接合するいわゆる親水化接合を行う場合、チップCPの接合面CPf側をハンドリングすることができない。これに対して、本実施の形態に係るチップ実装システム1では、前述のように、チップCPの接合面CPfを触らずにチップCPを搬送することができるので、チップCPを基板WTへいわゆる親水化接合により接合する場合に有利である。
 また、本実施の形態に係る第1チップ搬送部51は、第1チップ保持部512に保持されたチップCPの接合面CPf側を覆うチップカバー513を有する。これにより、第1チップ搬送部51によるチップCPの搬送中にチップCPの接合面CPfの異物の付着が抑制されるので、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。本実施の形態に係るカバー114は、複数のチップCPの鉛直上方を覆うように配置されている。従って、シートTEに保持された複数のチップCPそれぞれの接合面CPfへのパーティクルの付着が抑制される。
 更に、本実施の形態に係るチップ実装システム1によれば、シート保持枠112と枠保持部119とが、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側とは反対側に貼着されたシートTEを接合面CPfが鉛直上方側を向く姿勢で保持する。これにより、チップ供給部11は、チップCPの接合面CPfの向きを反転させる機構が不要となるので、その分、チップ供給部11の構成が簡素化されるという利点がある。
 また、本実施の形態に係るヘッド33Hは、チップCPの中央部を押圧することにより、チップCPの接合面CPfの中央部が接合面CPfの周部に比べて基板WTの実装面WTf側に突出するようにチップCPを撓ませる押圧機構431を有する。これにより、チップCPと基板WTとの間への空気の巻き込みが抑制されるので、チップCPを基板WTに良好に接合できる。
 更に、本実施の形態に係るチップ供給部11では、チップCPを保持するシートTEとして粘着シートを採用することができる。この場合、シートTEに外力が加わった場合でもチップCPがシートTEに対して相対的に移動しにくくなるので、シートTEに保持された隣接するチップCP同士の接触が抑制される。従って、シートTEに外力が加わった場合におけるチップCPの損傷並びにチップCPからのパーティクルの発生が抑制されるという利点がある。
 また、本実施の形態に係るチップ実装システム1によれば、ステージ31が、基板WTにおけるチップCPが実装される実装面が鉛直下方を向く姿勢で基板WTを保持する。これにより、基板WTの実装面へのパーティクルの付着を低減することができるので、チップCPと基板WTとの接合不良の発生を抑制できる。
(実施の形態2)
 本実施の形態に係るチップ実装システム2は、チップ供給部が、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側とは反対側が貼着されたシートTEを接合面CPfが第2方向である鉛直下方側を向く姿勢で保持する点が実施の形態1と相違する。
 図8に示すように、本実施の形態に係るチップ実装システム2は、チップ供給装置2010とボンディング装置30と制御部2090とを備える。なお、図8において、実施の形態1と同様の構成については図1と同一の符号を付している。チップ供給装置2010は、チップ供給部2011と、第1チップ搬送部51と、を有する。チップ供給部2011は、シート保持枠112を保持する枠保持部119と、複数のチップCPの中から1つのチップCPをピックアップするピックアップ機構2111と、第2チップ搬送部2114と、反転部2115と、を有する。また、チップ供給部2011は、シート保持枠112をXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ駆動する保持枠駆動部113を有する。枠保持部119は、シートTEにおける複数のチップCPが貼着された面が鉛直下方(-Z方向)側となる姿勢でシート保持枠112を保持する。シート保持枠112と枠保持部119とから、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側とは反対側に貼着されたシートTEを接合面CPfが第2方向側である鉛直下方側を向く姿勢で保持するシート保持部が構成されている。
 ピックアップ機構2111は、ニードル2111aを有し、図8の矢印AR15に示すように鉛直方向へ移動可能となっている。ニードル2111aは、例えば4つ存在する。但し、ニードル2111aの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。ピックアップ機構2111は、シートTEにおける鉛直上方(+Z方向)からニードル2111aをシートTEに突き刺してチップCPを鉛直下方(-Z方向)へ切り出す(突き出す)ことによりチップCPを供給する。そして、シートTEに貼着された各チップCPは、ニードル2111aにより鉛直下方へ押し出され、第2チップ搬送部2114に受け渡される。
 第2チップ搬送部2114は、第2チップ保持部2114aと、ガイドレール2114cと、第2チップ保持部2114aが固定されガイドレール2114c上を摺動するスライド体2114bと、を有する第2部品搬送部である。第2チップ保持部2114aは、ピックアップ機構2111により突き出された1つのチップCPを、その接合面CPfに非接触な状態で保持するベルヌーイチェックである第2部品保持部である。ベルヌーイチャックは、内部に負圧を発生させるとともに気体を外部へ流出させることによりチップCPとの間に気体の層が形成された状態でチップCPを非接触で保持するものである。また、第2チップ搬送部2114は、図8の矢印AR2016に示すように、スライド体2114bをガイドレール2114cに沿って移動させるためのスライド体駆動部(図示せず)を有する。第2チップ搬送部2114は、第2チップ保持部2114aがチップCPを保持した状態で、第2チップ保持部2114aを第1チップ搬送部51の受け取り位置Pos2まで搬送する。
 反転部2115は、第2チップ保持部2114aに保持されたチップCPの接合面CPf側とは反対側を保持して、接合面CPfが鉛直上方を向く姿勢となるように反転させる。反転部2115は、吸着ヘッド2115aと、吸着ヘッド2115aが先端部に固定されたアーム2115bと、アーム2115bを旋回させたりまたは鉛直方向へ移動させたりするアーム駆動部2115cと、を有する。また、反転部2115は、例えば図9に示すように、チップ支持部2115gと、支持部駆動部2115iと、チップCPを吸着保持させるための吸着部2115eと、を有する。吸着ヘッド2115aにおける各チップ支持部2115gに対応する部分には、チップ支持部2115gが内側に挿通される貫通孔2115fが設けられている。各チップ支持部2115gは、例えばピン状の形状を有し鉛直方向へ移動自在である。チップ支持部2115gは、例えば4つ存在する。但し、チップ支持部2115gの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。支持部駆動部2115iは、チップ支持部2115gを鉛直方向へ駆動する。
 第1チップ搬送部51は、チップ供給部2011から受け取り位置Pos2において供給されるチップCPを、ヘッド33HにチップCPを移載する移載位置Pos1まで搬送する。制御部2090は、実施の形態1で説明した制御部90と同様であり、チップ供給装置2010のチップ供給部2011および第1チップ搬送部51を制御する。
 次に、本実施の形態に係るチップ実装システム2の動作について図10乃至図12を参照しながら説明する。まず、チップ実装システム2では、図10(A)の矢印AR51に示すように、ピックアップ機構2111が鉛直下方へ移動することにより、1つのチップCPをシートTEにおける複数のチップCP側とは反対側から突き出し、1つのチップCPをシートTEから離脱させて第2チップ搬送部2114へ受け渡す。このとき、第2チップ搬送部2114は、第2チップ保持部2114aにより受け渡されたチップCPを接合面CPfに非接触の状態で保持する。
 次に、第2チップ搬送部2114が、図10(B)の矢印AR52に示すように、チップCPを保持した第2チップ保持部2114aを、鉛直方向において反転部2115に対向する位置まで搬送する。続いて、第2チップ保持部2114aが反転部2115に対向する位置まで搬送されると、反転部2115のアーム駆動部2115cが、図10(B)の矢印AR53に示すように、アーム2115bを鉛直下方へ移動させる。そして、吸着ヘッド2115aが、第2チップ保持部2114aに保持されたチップCPの接合面CPf側とは反対側を吸着保持する。
 その後、吸着ヘッド2115aによりチップCPが吸着保持された状態で、アーム駆動部2115cが、アーム2115bを鉛直上方へ移動させる。次に、アーム駆動部2115cは、図11(A)の矢印AR54に示すように、アーム2115bを旋回させる。これにより、反転部2115は、チップCPをその接合面CPfが鉛直上方を向く姿勢で保持した状態となる。続いて、反転部2115は、吸着ヘッド2115aによるチップCPの吸着を停止させる。その後、図11(B)の矢印AR55に示すように、支持部駆動部2115iは、チップ支持部2115gを鉛直上方へ移動させることにより、チップCPが吸着ヘッド2115aから鉛直上方へ突き出す。次に、第1チップ搬送部51が、図11(B)の矢印AR56に示すように、チップ支持部2115gにより鉛直上方へ突き出されたチップCPの側方からチップCPに近づいていく。そして、第1チップ保持部512の2つの脚片512a(図2参照)の間にチップ支持部2115gが配置された状態となる。
 続いて、支持部駆動部2115iがチップ支持部2115gを鉛直下方に向かって待機位置まで移動させると、図12(A)に示すように、第1チップ保持部512にチップCPが保持された状態となる。その後、第1チップ搬送部51が、図12(B)の矢印AR57に示すように、第1チップ保持部512を、チップCPをヘッド33Hへ移載する移載位置Pos1まで移動させる。以降のチップ実装システム2の動作は、実施の形態1と同様である。
 以上説明したように、本実施の形態に係るチップ実装システム2によれば、実施の形態1に係るチップ実装システム1と同様に、チップCPの接合面CPfを触らずにチップCPを搬送することができるので、チップCPの接合面CPfへの異物の付着およびチップCPの接合面CPfの損傷が抑制される。また、第1チップ搬送部51が、チップCPの接合面CPfを鉛直下方に向けた状態でチップCPを搬送するので、チップCPの接合面CPfに異物が載ってしまうことが抑制される。従って、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。また、本実施の形態に係るチップ実装システム2によれば、シート保持枠112と枠保持部119とが、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側とは反対側に貼着されたシートTEを接合面CPfが鉛直下方側を向く姿勢で保持する。これにより、複数のチップCPがシートTEに保持された状態において、チップCPの接合面CPfへの異物の付着が抑制されるので、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。
(実施の形態3)
 本実施の形態に係るチップ実装システム3は、チップ供給部が、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側が貼着されたシートTEをチップCPの接合面CPfが鉛直上方側を向く姿勢で保持する点が実施の形態1と相違する。
 図13に示すように、本実施の形態に係るチップ実装システム3は、チップ供給装置3010とボンディング装置3030と制御部3090とを備える。なお、図13において、実施の形態1および実施の形態2と同様の構成については図1および図8と同一の符号を付している。チップ供給装置3010は、チップ供給部3011と、第1チップ搬送部51と、を有する。チップ供給部3011は、シート保持枠112を保持する枠保持部119と、複数のチップCPの中から1つのチップCPをピックアップするピックアップ機構3111と、第3チップ搬送部3114と、を有する。また、チップ供給部3011は、シート保持枠112をXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ駆動する保持枠駆動部113を有する。枠保持部119は、シートTEにおける複数のチップCPが貼着された面が鉛直下方(-Z方向)側となる姿勢でシート保持枠112を保持する。シート保持枠112と枠保持部119とから、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側が貼着されたシートTEをチップCPの接合面CPfが第1方向側である鉛直上方側を向く姿勢で保持するシート保持部が構成されている。また、シートTEが粘着シートである場合、粘着シートとしては、チップCPを粘着シートから剥がした際、チップCPにおける粘着シートに貼着されていた部分に不純物が残らないような粘着シートが好ましい。
 ピックアップ機構3111は、ニードル3111aを有し、図13の矢印AR3015に示すように鉛直方向へ移動可能となっている。ピックアップ機構3111は、シートTEにおける鉛直上方(+Z方向)からニードル3111aを鉛直下方(-Z方向)へ突き出してチップCPを鉛直下方(-Z方向)へ押し出すことによりチップを供給する。そして、シートTEに貼り付けられた各チップCPは、ニードル3111aにより1個ずつ下方へ突き出され、第3チップ搬送部3114に受け渡される。
 第3チップ搬送部3114は、第3チップ保持部3114aと、アーム3114bと、ガイドレール3114dと、アーム3114bを旋回自在に支持しガイドレール3114d上を摺動するスライド体3114cと、を有する第3部品搬送部である。第3チップ保持部3114aは、アーム3114bの一端部に設けられ、ピックアップ機構3111により突き出された1つのチップCPを、その接合面CPf側とは反対側を吸着保持する第3部品保持部である。第3チップ保持部3114aおよびアーム3114bは、図14に示すように、チップ支持部3114gと、支持部駆動部3114iと、チップCPを吸着保持させるための吸着部3114eと、を有する。第3チップ保持部3114aには、チップ支持部3114gが内側に挿通される貫通孔3114fが設けられている。チップ支持部3114gは、例えばピン状の形状を有し鉛直方向へ移動自在である。チップ支持部3114gは、例えば4つ存在する。但し、チップ支持部3114gの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。支持部駆動部3114iは、チップ支持部3114gを鉛直方向へ駆動する。スライド体3114cは、アーム3114bにおける第3チップ保持部3114aが設けられた一端部を、アーム3114bの他端部を基点として旋回させるアーム駆動部(図示せず)を有する。また、第3チップ搬送部3114は、図13の矢印AR3016に示すように、スライド体3114cをガイドレール3114dに沿って移動させるためのスライド体駆動部(図示せず)を有する。第3チップ搬送部3114は、第3チップ保持部3114aがチップCPを保持した状態で、第3チップ保持部3114aを第1チップ搬送部51の受け取り位置Pos2まで移動させる。
 第1チップ搬送部51は、チップ供給部3011から受け取り位置Pos2において供給されるチップCPを、ヘッド33HにチップCPを移載する移載位置Pos1まで搬送する。制御部3090は、実施の形態1で説明した制御部90と同様であり、チップ供給装置3010のチップ供給部3011および第1チップ搬送部51を制御する。
 次に、本実施の形態に係るチップ実装システム3の動作について図15乃至図18を参照しながら説明する。まず、チップ実装システム3では、図15(A)の矢印AR61に示すように、ピックアップ機構3111が鉛直下方へ移動することにより、1つのチップCPをシートTEにおける複数のチップCP側とは反対側から切り出す(突き出す)。このとき、第3チップ搬送部3114の第3チップ保持部3114aは、突き出されたチップCPの接合面CPf側とは反対側を吸着した状態でチップCPを吸着保持する。次に、ピックアップ機構3111が待機位置へ移動した後、アーム3114bが、図15(A)の矢印AR62に示すように、第3チップ保持部3114aによりチップCPが吸着保持された状態で旋回する。
 次に、第3チップ搬送部3114が、図15(B)の矢印AR63に示すように、チップCPを保持した第3チップ保持部3114aを、受け取り位置Pos2まで移動させる。続いて、第3チップ保持部3114aが受け取り位置Pos2まで搬送されると、アーム3114bが、図15(B)の矢印AR64に示すように旋回する。
 その後、第3チップ搬送部3114は、第3チップ保持部3114aによるチップCPの吸着を停止させる。次に、図16(A)の矢印AR65に示すように、支持部駆動部3114iは、チップ支持部3114gを鉛直上方へ移動させることにより、チップCPを第3チップ保持部3114aの鉛直上方へ突き出す。続いて、第1チップ搬送部51が、図16(A)の矢印AR66に示すように、チップ支持部3114gにより鉛直上方へ突き出されたチップCPの側方からチップCPに近づいていく。そして、第1チップ保持部512の2つの脚片512a(図2参照)の間にチップ支持部2115gが配置された状態となる。
 その後、支持部駆動部3114iがチップ支持部2115gを鉛直下方に向かって待機位置まで移動させると、図16(B)に示すように、第1チップ保持部512にチップCPが保持された状態となる。その後、第1チップ搬送部51が、図17の矢印AR67に示すように、第1チップ保持部512を、チップCPをヘッド33Hへ移載する移載位置Pos1まで移動させる。以降のチップ実装システム3の動作は、実施の形態1と同様である。
 以上説明したように、本実施の形態に係るチップ実装システム3によれば、実施の形態1に係るチップ実装システム1と同様に、チップCPの接合面CPfを触らずにチップCPを搬送することができるので、チップCPの接合面CPfへの異物の付着およびチップCPの接合面CPfの損傷が抑制される。また、第1チップ搬送部51が、チップCPの接合面CPfを鉛直下方に向けた状態でチップCPを搬送するので、チップCPの接合面CPfに異物が載ってしまうことが抑制される。従って、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。また、本実施の形態に係るチップ実装システム2によれば、シート保持枠112と枠保持部119とが、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側が貼着されたシートを接合面CPfが鉛直上方側を向く姿勢で保持する。これにより、複数のチップCPがシートTEに保持された状態において、チップCPの接合面CPfへの異物の付着が抑制されるので、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。
 以上、本発明の各実施の形態について説明したが、本発明は前述の実施の形態の構成に限定されるものではない。例えば、図18に示すチップ実装システム4のように、チップ供給装置4010の第1チップ搬送部4051が、チップ供給部3011から供給されるチップCPの接合面CPf側を非接触で保持するベルヌーイチャックである第1チップ保持部4512を有するものであってもよい。第1チップ搬送部4051は、本体部4511と、第1チップ保持部4512と、を有する。第1チップ保持部4512は、その鉛直下方側においてチップCPを保持する。また、本体部4511は、図18の矢印AR74に示すように、第1チップ保持部4512を、予め設定された待機位置と移載位置Pos1との間で移動させる。
 本変形例に係るボンディング装置4030は、ステージ31と、ヘッド4033Hを有するボンディング部4033と、ヘッド4033Hを駆動するヘッド駆動部36と、を有する。ヘッド4033Hは、例えば図19に示すようにチップツール4411と、ヘッド本体部4413と、を有する。なお、図19において実施の形態1と同様の構成については図3(A)と同一の符号を付している。図18に戻って、制御部4090は、実施の形態1で説明した制御部90と同様であり、ボンディング装置4030のヘッド駆動部36、ステージ駆動部32、保持機構440および押圧機構431と、チップ供給装置4010のチップ供給部11および第1チップ搬送部4051を制御する。
 本変形例に係るチップ実装システム4では、第1チップ搬送部4051が、チップCPを保持した第1チップ保持部4512を、チップCPをヘッド33Hへ移載する移載位置Pos1まで移動させる。そして、ヘッド駆動部36が、ボンディング部4033を鉛直上方へ移動させてヘッド4033Hを第1チップ保持部4512に保持されたチップCPへ近づける。次に、ヘッド駆動部36がヘッド4033Hの先端部がチップCPの接合面CPf側とは反対側に接触する位置までヘッド4033Hを鉛直上方へ移動させる。そして、保持機構440が、チップCPの周部をチップツール411に吸着させる。これにより、ヘッド33Hの先端部にチップCPが保持された状態となる。以降のチップ実装システム4の動作は、実施の形態1と同様である。なお、本変形例に係るチップ実装システム4では、ベルヌーイチャックである第1チップ保持部4512に保持されたチップCPの姿勢が定まっていない。このため、本変形例に係るチップ実装システム4において、チップCPをヘッド4033Hへ受け渡す前にチップCPの姿勢をアライメントするアライメント機構(図示せず)を備えるものが好ましい。
 本構成によれば、供給されたチップCPの接合面CPf側を非接触で保持するベルヌーイチャックである第1チップ保持部4512によりチップCPを保持した状態でヘッド4033HにチップCPを移載する移載位置Pos1までチップCPが搬送される。これにより、チップCPの接合面CPfを触らずにチップCPを搬送することができるので、チップCPの接合面CPfへの異物の付着およびチップCPの接合面CPfの損傷が抑制される。また、第1チップ搬送部51が、チップCPの接合面CPfを鉛直下方に向けた状態でチップCPを搬送するので、チップCPの接合面CPfに異物が載ってしまうことが抑制される。従って、チップCPと基板WTとの接合不良の発生が抑制される。また、ヘッド4033Hとして、実施の形態1に係るヘッド33Hが有するチップ支持部432aおよび支持部駆動部432bを有しない構成を採用することができるので、ヘッド4033Hの構成が簡素化されるという利点がある。
 各実施の形態において、チップ供給部が、例えば図20(A)に示すような、トレイ6116と、吸引部6117と、を有するものであってもよい。ここで、トレイ6116は、チップCPが内側に配置される複数の凹部6116bが設けられたトレイ本体6116aと、凹部6116bの底部に突設された例えばピン状の形状を有する支持部6116cと、凹部6116bにおける底部から離間した位置に張架された粘着シートATE1と、を有する。支持部6116cは、例えば凹部6116b毎に4つずつ存在する。但し、支持部6116cの数は、凹部6116b毎に3つずつであってもよいし、凹部6116b毎に5つ以上ずつであってもよい。粘着シートATE1は、トレイ本体6116aの凹部6116bの底部側とは反対側の粘着性を有する面でチップCPを保持する。ここで、チップCPは、接合面CPfとは反対側が粘着シートATE1に貼着されていてもよいし、接合面CPf側が粘着シートATE1に貼着されていてもよい。また、トレイ本体6116aの凹部6116bの底部には、凹部6116bの底部と粘着シートATE1との間の領域S1に連通する連通孔6116dが穿設されている。吸引部6117は、真空ポンプ(図示せず)を有し、粘着シートATE1にチップCPが保持された状態で、チップCPを供給する際、トレイ6116の連通孔6116dを通じて前述の領域S1に存在する空気を吸引する。
 本変形例に係るチップ供給部は、例えば図20(B)に示すように、粘着シートATE1にチップCPが保持された状態で、吸引部6117によりトレイ6116の連通孔6116dを通じて前述の領域S1に存在する空気を吸引する。これにより、粘着シートATE1とチップCPとの間の接触部分P61の面積である接触面積が減少していく。そして、本変形例に係るチップ供給部が吸引部6117により前述の領域S1に存在する空気を更に吸引すると、図20(C)に示すように、粘着シートATEとチップCPとの間の接触部分P62の面積が更に減少し、粘着シートATE1からチップが離脱する。
 本構成によれば、チップCPがシートTEに貼着されていない場合であってもボンディング装置30、4030へチップCPを供給することが可能となるという利点がある。また、トレイ6116は、凹部6116bの内側においてチップCPの周部が凹部6116bの内壁に接触しない位置において粘着シートATE1に貼着されている。これにより、トレイ6116に振動が加わった場合でもチップCPが凹部6116bの内壁に接触しないので、チップCPの凹部6116bの内壁への接触に起因したチップCPからのパーティクルの発生が抑制される。
 各実施の形態において、チップ供給部が、例えば図21(A)に示すような、チップ供給ヘッド7116と吸引部7117とを有するものであってもよい。チップ供給ヘッド7116は、凹部7116bが設けられたヘッド本体7116aと、凹部7116bの底部に突設された例えばピン状の形状を有する支持部7116cと、を有する。支持部7116cは、例えば4つ存在する。 但し、支持部7116cの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。また、ヘッド本体7116aの凹部7116bの底部には、凹部7116bの内側に存在する気体を吸引するための吸引孔7116dが設けられている。吸引部7117は、真空ポンプ(図示せず)を有し、吸引孔7116dを通じて凹部7116bの内側に存在する気体を吸引する。
 本変形例に係るチップ供給部は、チップCPを供給する際、例えば図21(A)の矢印AR91に示すように、チップ供給ヘッド7116を、粘着シートATE2に貼着された複数のチップCPのうちの1つのチップCPに対応する部分に近づけて粘着シートATE2に接触させる。ここで、粘着シートATE2は、粘着性を有する面で複数のチップCPを保持する。また、チップCPは、接合面CPfとは反対側が粘着シートATE2に貼着されていてもよいし、接合面CPf側が粘着シートATE2に貼着されていてもよい。そして、チップ供給部は、粘着シートATE2における複数のチップCPを保持する面とは反対側の面へチップ供給ヘッド7116を近づける。
 次に、チップ供給部は、図21(B)に示すように、チップ供給ヘッド7116を粘着シートATE2に接触させた状態で、吸引孔7116dを通じて凹部7116bの内側の領域S2に存在する空気を吸引する。これにより、粘着シートATE2とチップCPとの間の接触部分P72の面積が減少して、粘着シートATE2からチップCPが離脱する。
 本構成によれば、粘着シートATE2を傷付けずにチップCPを供給することができるので、粘着シートATE2から発生した異物のチップCPへの付着が抑制されるという利点がある。
 各実施の形態において、複数のチップCPが、例えば紫外線が照射されることにより粘着力が低下する粘着シートに保持されているものであってもよい。この場合、チップ供給部は、紫外線照射部(図示せず)を有するチップ供給ヘッドを有し、チップCPを供給する際、紫外線照射部により、粘着シートにおける供給対象のチップCPが貼着された部分に紫外線を照射するものとしてもよい。なお、前述の図20および図21を用いて説明した粘着シートATE1、ATE2として、紫外線が照射されることにより粘着力が低下する粘着シートを採用してもよい。この場合、チップ供給部は、チップCPを供給する際、吸引部6117、7117により粘着シートATE1、ATE2を吸引するとともに紫外線を照射する構成とすればよい。
 各実施の形態では、ボンディング装置30において、ステージ31が、基板WTの実装面WTfが鉛直下方を向く姿勢で基板WTを保持する例について説明したが、保持された基板WTの姿勢はこれに限定されない。例えば、ステージが、基板WTの実装面WTfが鉛直上方を向く姿勢で基板WTを保持するものであってもよい。
 各実施の形態において、ボンディング装置30が、吸着ポストを有するヘッドを備えたものであってもよい。例えば図22(A)に示すように、ヘッド8033Hが、チップツール8411と、ヘッド本体部8413と、吸着ポスト8432aと、吸着ポスト駆動部8432bと、を有するものであってもよい。なお、図22(A)において、各実施の形態と同様の構成については、図3(A)と同一の符号を付している。ここで、ヘッド本体部8413は、各実施の形態に係るヘッド本体413と同様に、チップCPの中央部を押圧する押圧機構431を有する。押圧機構431は、押圧部431aと、押圧部431aを駆動する押圧駆動部431bと、を有する。チップツール8411は、ヘッド本体部8413の吸着ポスト8432aに対応する位置に形成された貫通孔8411cと、押圧部431aが内側に挿入される貫通孔8411bと、を有する。
 吸着ポスト8432aは、例えば内側に吸着孔8440が設けられた長尺筒状の形状を有し、ヘッド4033Hの先端部に設けられ鉛直方向へ移動自在となっている部品支持部である。吸着ポスト8432aは、例えば4つ存在する。 但し、吸着ポスト8432aの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。吸着ポスト8432aは、チップCPの接合面CPf側とは反対側を吸着した状態でチップCPを支持する。吸着ポスト駆動部8432bは、図22(B)の矢印AR8036に示すように、吸着ポスト8432aを鉛直方向へ駆動する。また、吸着ポスト駆動部8432bは、真空ポンプ(図示せず)を有し、チップCPが吸着ポスト8432aの先端部に載置された状態で吸着孔8440内を減圧することによりチップCPを吸着する。吸着ポスト駆動部8432bは、チップCPを保持した第1チップ保持部512が移載位置(例えば図1のPos1)に位置し、吸着ポスト8432aの先端部でチップCPの中央部を支持した状態で、吸着ポスト8432aを第1チップ保持部512よりも鉛直上方側へ移動させる。これにより、チップCPが、第1チップ搬送部51の第1チップ保持部512からヘッド8033Hへ移載される。なお。吸着ポストは、ピン状に限定されるものではなく、押圧機構431を囲繞するように配置された円筒状の形状を有するものであってもよい。
 各実施の形態では、チップCPを保持した第1チップ保持部512が移載位置Pos1に位置した状態で、チップCPの中央部を支持するチップ支持部432aを、第1チップ保持部512よりも鉛直上方へ移動させることによりチップCPを第1チップ保持部512からヘッド33Hへ移載する例について説明した。但し、これに限らず、例えば、チップCPを保持した第1チップ保持部512が移載位置Pos1に位置し且つチップ支持部432aによりチップCPの中央部を支持した状態で、第1チップ保持部512を鉛直下方へ移動させることによりチップCPを第1チップ保持部512からヘッド33Hへ移載してもよい。
 各実施の形態では、ボンディング装置30、4030が、ヘッド33Hをステージ31に向かう方向へ移動させることにより、チップCPを基板WTに実装する例について説明した。但し、これに限らず、ボンディング装置30、4030が、例えばステージ31をヘッド33Hに近づける方向へ移動させることにより、チップCPを基板WTに実装するものであってもよい。
 実施の形態1において、シート保持枠112が、例えば図23(A)に示すように、粘着性を有する面で複数のチップCPを保持する粘着シートであり、複数のチップCPが貼着される領域それぞれに孔HA10が形成されたシートTE10を保持するものであってもよい。そして、図23(B)に示すように、ピックアップ機構8111が、吸着ポスト8111aと、吸着ポスト駆動部8111bと、を有するものであってもよい。吸着ポスト8111aは、例えば内側に吸着孔(図示せず)が設けられた長尺筒状の形状を有するチップ支持ピン(部品支持ピン)である。吸着ポスト8111aは、例えば4つ存在する。 但し、吸着ポスト8111aの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。吸着ポスト8111aは、チップCPの接合面CPf側とは反対側を吸着した状態でチップCPを支持するチップ支持ピンである。吸着ポスト駆動部8111bは、真空ポンプ(図示せず)を有し、チップCPが吸着ポスト8111aの先端部に載置された状態で吸着孔内を減圧することによりチップCPを吸着する。ピックアップ機構8111は、図23(B)の矢印AR10に示すように、1つのチップCPを、シートTE10における鉛直下方(-Z方向)から吸着ポスト8111aを孔HA10に挿通させることにより、チップCPをシートTE10から離脱した状態にするものであってもよい。ここで、ピックアップ機構111は、鉛直上方(+Z方向)へ移動する際、吸着ポスト8111aが孔HA10に挿通される。なお、ピックアップ機構8111が有するチップ支持ピンは、吸着ポスト8111aに限定されるものではなく、実施の形態1で説明したニードル111aであってもよい。また、本変形例に係るチップ実装システムにおいて、シート保持枠112に孔が穿孔されていない状態で保持されたシート(図示せず)に孔HA10を穿孔することにより孔HA10が形成されたシートTE10を作製する穿孔部(図示せず)を備えるものであってもよい。
 本構成によれば、例えばニードル111aによりシートTEを突き破る構成に比べて、シートTE10から異物が発生する可能性が低いという利点がある。また、吸着ポスト8111aを有するピックアップ機構8111を備える構成の場合、チップCPが吸着ポスト8111aの先端部に吸着保持されるので、チップCPの位置ずれが抑制されるという利点がある。
 各実施の形態において、チップ供給部が、例えば図24(A)に示すような、トレイ8516を有するものであってもよい。ここで、トレイ8516は、チップCPが内側に配置される凹部8516bが設けられたトレイ本体8516aと、凹部8516bの底部に設けられた粘着部材8517と、を有する。粘着部材8517は、例えばゲル状の粘着シートである。トレイ本体8516aの凹部8516bの底部には、トレイ本体8516bを厚さ方向に貫通する貫通孔8516cが形成されている。この貫通孔8516cは、例えば前述のピックアップ機構8111の吸着ポスト8111aが挿入可能な断面積を有する。ここで、トレイ8516は、例えばトレイ本体8516aの凹部8516b側が鉛直上方を向く姿勢で配置される。そして、ピックアップ機構8111は、図24(B)に示すように、吸着ポスト8111aをトレイ8516の鉛直下方からその貫通孔8516cに挿通してチップCPを鉛直上方へ持ち上げることにより、チップCPをトレイ8516から離脱させる(図24(B)の矢印AR85参照)。
 或いは、チップ供給部が、例えば図25(A)に示すような、トレイ8616と、真空ポンプ(図示せず)を有する吸引部(図示せず)と、を有するものであってもよい。ここで、トレイ8616は、チップCPが内側に配置される凹部8616bが設けられたトレイ本体8616aと、凹部8616bの底部に突設された隔壁8618と、隔壁8618の先端部に張架された粘着シート8617と、を有する。トレイ本体8616aの凹部8616bの底部には、トレイ本体8616bを厚さ方向に貫通する貫通孔8616cが形成されている。この貫通孔8616cも、前述と同様に、例えば前述のピックアップ機構8111の吸着ポスト8111aが挿入可能な断面積を有する。隔壁8618は、凹部8616bの底部における貫通孔8616cを囲繞するように設けられている。粘着シート8617は、トレイ本体8616aの凹部8616bの底部側とは反対側の粘着性を有する面でチップCPを保持する。ここで、チップCPは、接合面CPfとは反対側が粘着シート8617に貼着されていてもよいし、接合面CPf側が粘着シート8617に貼着されていてもよい。また、トレイ本体8616aの凹部8616bの底部には、凹部8616bの底部と粘着シート8617との間の領域S86に連通する連通孔8616dが穿設されている。
 ここで、トレイ8616は、例えばトレイ本体8616aの凹部8616b側が鉛直上方を向く姿勢で配置される。そして、ピックアップ機構8111は、図25(B)に示すように、吸着ポスト8111aをトレイ8616の鉛直下方からその貫通孔8616cに挿通してチップCPを鉛直上方へ持ち上げることにより、チップCPをトレイ8616から離脱させる(図25(B)の矢印AR861参照)。このとき、吸引部は、粘着シート8617にチップCPが保持された状態で、チップCPを供給する際、トレイ8616の連通孔8616dを通じて前述の領域S86に存在する空気を吸引する(図25(B)の矢印AR862)。これにより、粘着シート8617とチップCPとの間の接触部分の面積が減少するので、ピックアップ機構8111によりチップCPが鉛直上方へ持ち上げられる際、チップCPを粘着シート8617から円滑に離脱させることができる。
 本構成によれば、チップCPがシートTEに貼着されていない場合であってもボンディング装置30、4030へチップCPを供給することを可能となるという利点がある。
 実施の形態1において、チップCPを搬送する第1チップ搬送部が、例えば図26に示すような第1チップ搬送部(ターレットとも称する)5039であってもよい。なお、図26において、実施の形態1と同様の構成については図1と同一の符号を付している。第1チップ搬送部5039は、チップ供給部11から供給されるチップCPを、ボンディング部33のヘッド33HにチップCPを受け渡す受け渡し位置Pos1まで搬送する。第1チップ搬送部5039は、例えば2枚のプレート5391と、アーム5394と、アーム5394の先端部に設けられた第1チップ保持部5393と、プレート5391を一斉に回転駆動するプレート駆動部5392と、を有する。プレート5391は、長尺の矩形箱状であり、チップ供給部5011とヘッド33Hとの間に位置する他端部(軸AX)を基点として一端部が旋回する。なお、プレート5391の数は、2枚に限定されるものではなく、3枚以上であってもよい。アーム5394は、長尺であり、プレート5391の長手方向に沿って突出または没入する。第1チップ保持部5393は、アーム5394の先端部に設けられ、チップCPを保持する2つの脚片5393aを有する。ここで、プレート5391は、図27に示すように、アーム5394の先端部の第1チップ保持部5393を内側に収容することが可能となっている。第1チップ搬送部5039は、プレート5391を旋回させる際、図27の矢印AR508に示すように、アーム5394をプレート5391内へ没入させることにより、第1チップ保持部5393をプレート5391の内側に収納する。これにより、搬送時におけるチップCPへのパーティクルの付着が抑制される。なお、2つの脚片5393aには、吸着溝(図示せず)が設けられていてもよい。この場合、チップCPが脚片5392aに吸着保持されるので、チップCPを位置ずれなく搬送することができる。また、プレート5391が旋回する際に生じる遠心力によるチップCPの飛び出しを防止するために、脚片5393aの先端部に突起(図示せず)を設けてもよい。
 ここで、ピックアップ機構8111とボンディング部33のヘッド33Hとは、Z軸方向においシートレート391が回転したときにアーム5394の先端部が描く軌跡OB1と重なる位置に配置されている。チップ搬送部5039は、チップ供給装置5010内のチップ供給部5011からチップCPを受け取ると、図1の矢印AR501に示すように、中心軸AX周りの回転動作によってチップCPをボンディング装置5030内のヘッド33Hと重なる受け渡し位置Pos1まで搬送する。
 チップ供給部5011は、図28に示すように、シート保持枠112を保持する枠保持部119と、ピックアップ機構111と、カバー114と、を有する。なお、図28において、実施の形態1と同一の構成については図1と同一の符号を付している。ボンディング装置5030は、ステージ31と、ヘッド33Hを有するボンディング部33と、ヘッド33Hを駆動するヘッド駆動部36と、を有する。ヘッド33Hは、チップ支持部432aと支持部駆動部432bとを有する。
 また、本変形例に係るチップ実装システム5は、図26に示すように、チップ供給部11とボンディング部33との他に、チップCPを洗浄する洗浄部5037と、チップ回収部5038と、を有する。洗浄部5037は、チップCPを支持するチップステージ5036と、チップステージ5036を鉛直方向に直交し且つ互いに直交する2方向(XY方向)へ駆動するXY方向駆動部(図示せず)と、超音波またはメガソニック振動を与えた水または電極表面を還元する洗浄液を吐出する洗浄ヘッド5037aと、を有する。また、洗浄部5037は、チップステージ5036を鉛直方向に直交する面内で回転させる回転駆動部(図示せず)を有する。ここで、洗浄部5037は、まず、洗浄ヘッド5037aにより超音波を印加した水をチップCPに吹き付けながら、チップCPを支持するチップステージ5036をXY方向へスキャンさせてチップCPの接合面CPf全面を洗浄する。そして、洗浄部5037は、洗浄ヘッド5037aによる水の吐出を停止させてから、チップステージ5036を回転させることによりチップCPをスピン乾燥する。
 ところで、チップCPは、矩形板状の形状を有するため、水を吹き付けながらチップCPを回転させるとチップCPのエッジ部分が損傷する虞がある。これに対して、本変形例に係る洗浄部5037は、水吐出部により超音波を印加した水をチップCPに吹き付けながら、チップCPを支持するチップステージをXY方向へ往復移動させる。これにより、チップCPのエッジ部分の損傷が抑制される。なお、洗浄部5037は、例えば水の代わりN2のような不活性ガスをチップCPに吹き付けることにより、チップCPに付着したパーティクルを除去するものであってもよい。
 チップステージ5036は、洗浄部5037によるチップCPの洗浄後においてチップ保持部5393に保持されているチップCPの姿勢を調整する。これにより、チップ供給部11でのチップCPの切り出し時においてチップCPの位置ずれが生じたとしてもチップステージ5036でアライメントすることができる。従って、チップCPを位置ずれなくボンディング部33のヘッド33Hへ移載することができる。特に、ニードル111aでシートTEを押し破ってチップCPを切り出す場合は、位置ずれが生じ易いので有効である。なお、チップ供給部11の代わりにチップCPをベルヌーイチャックで搬送するチップ供給部を備える場合においても、チップCPが非接触でベルヌーイチャックに保持されているので、チップCPの位置ずれが生じやすい。従って、このチップステージ5036のように、ヘッド33Hに受け渡す直前にチップCPの姿勢を調整する機構を備えることが有効である。
 チップ回収部5038は、プレート5391の軸AX(基点)から見シートレート5391の旋回方向におけるヘッド33Hの隣の位置に配置されている部品回収部である。
 制御部5090は、例えばMPU(Micro Processing Unit)と主記憶部と補助記憶部とインタフェースと各部を接続するバスとを有し、ボンディング装置30のヘッド駆動部36、ステージ駆動部32、保持機構440および押圧機構431と、チップ供給装置10のチップ供給部11およびチップ搬送部5039を制御する。制御部90のMPUは、補助記憶部が記憶するプログラムを主記憶部に読み込んで実行することにより、インタフェースを介して、ヘッド駆動部36、ステージ駆動部32、保持機構440、押圧機構431、チップ供給部11、チップ搬送部5039それぞれへ制御信号を出力する。
 次に、本変形例に係るチップ実装システム5の動作について図29乃至図32を参照しながら説明する。まず、チップ実装システム5では、1つのプレート5391をチップ供給部11の方向へ向けた状態になる。次に、ピックアップ機構111が鉛直上方へ移動することにより、1つのチップCPをシートTEにおける複数のチップCP側とは反対側から突き出し、1つのチップCPをシートTEから離脱した状態にする。この状態で、チップ搬送部5039は、プレート5391からアーム5394を突出させる。このとき、第1チップ保持部5393の2つの脚片5393aの間にピックアップ機構111のニードル111aが配置された状態となる。このようにして、図29(A)および(B)に示すように、第1チップ保持部5393にチップCPが受け渡せる状態となる。この状態からピックアップ機構111を鉛直下方へ移動させると、チップCPが第1チップ保持部5393へ受け渡される。
 続いて、チップ実装システム5が、プレート5391を図29(A)の矢印AR501の方向へ90度だけ旋回させると、プレート5391が、図30(A)に示す洗浄部受け渡し位置Pos10に配置される。即ち、第1チップ搬送部5039は、チップ供給部11から供給されるチップCPを保持する第1チップ保持部5393を洗浄部5037にチップCPを受け渡す洗浄部受け渡し位置Pos10まで搬送する。この状態で、第1チップ搬送部5039は、チップCPを、第1チップ保持部5393から洗浄部5037のチップステージ5036へ移載する。そして、洗浄部5037は、チップCPを支持したチップステージ5036を、図30(B)の矢印AR502に示すように、洗浄部5037の洗浄ヘッド5037aの下方へ移動させる。そして、洗浄部5037は、洗浄ヘッド5037から吐出される水によりチップCPを洗浄する。その後、洗浄部5037は、チップCPを支持したチップステージ5036を、再び洗浄部受け渡し位置Pos10まで移動させる。次に、チップステージ5036は、チップCPの姿勢を調整する。続いて、チップステージ5036から再び第1チップ保持部5393へ受け渡される。
 その後、チップ実装システム5が、プレート5391を図30(A)の矢印AR501の方向へ90度だけ旋回させると、プレート5391が図31(A)に示す位置に配置される。このとき、第1チップ搬送部5039のアーム5394の先端部の第1チップ保持部5393がボンディング部33のヘッド33Hの鉛直上方の移載位置Pos1に配置される。即ち、第1チップ搬送部5039は、洗浄部受け渡し位置Pos10において受け取ったチップCPを保持する第1チップ保持部5393をヘッド33HにチップCPを移載する移載位置Pos1まで搬送する。そして、ヘッド駆動部36は、ボンディング部33を鉛直上方へ移動させてヘッド33Hを第1チップ保持部5393へ近づける。次に、支持部駆動部432bは、チップ支持部432aを鉛直上方へ移動させる。これにより、第1チップ保持部5393に保持されたチップCPは、図31(B)に示すように、チップ支持部432aの上端部で支持された状態で、第1チップ保持部5393よりも鉛直上方側に配置される。続いて、第1チップ搬送部5039は、アーム5394をプレート5391内へ没入させる。その後、支持部駆動部432bは、チップ支持部432aを鉛直下方へ移動させる。これにより、ヘッド33Hの先端部にチップCPが保持された状態となる。
 次に、チップ実装システム5は、ステージ31を駆動するとともにボンディング部33を回転させることにより、チップCPと基板WTとの相対的な位置ずれを補正するアライメントを実行する。続いて、チップ実装システム5は、ヘッド33Hを上昇させることにより、チップCPを基板WTに実装する。
 ここで、チップ実装システム5は、チップCPの基板WTへの接合を試みたが基板WTに接合できなかった場合、再び第1チップ搬送部5039のアーム5394の先端部の第1チップ保持部5393にそのチップCPを保持させる。その後、チップ実装システム5が、プレート5391を図31(A)の矢印AR501の方向へ90度だけ旋回させると、プレート5391が図32に示す位置に配置される。このとき、第1チップ搬送部5039のアーム5394の先端部の第1チップ保持部5393がチップ回収部5038の鉛直上方に配置される。そして、第1チップ保持部5393に保持されたチップCPが、チップ回収部5038に受け渡される。ここで、チップCPが基板WTへ接合できなかったか否かは、基板WT側の赤外透過カメラ(図示せず)によりチップCPの位置ずれを測定する際にチップCPが存在するか否かにより判定することができる。また、チップCPがヘッド33H側に残っているか否かは、ボンディング部33側の赤外透過カメラ(図示せず)でチップCPを認識できるか否かにより判定することができる。そして、ヘッド33HにチップCPが残っている場合、ボンディング装置30に設けられた回収箱(図示せず)にチップCPを排出する構成としてもよい。
 なお、本変形例では、第1チップ保持部5393が、先端部にチップCPを保持する2つの脚片5393aを有するものである例について説明したが、これに限らず、たとえば先端部にベルヌーイチャックが設けられたものであってもよい。
 本構成によれば、チップCPをチップ供給部11からボンディング部33へ搬送する途中で洗浄部5037においてチップCPの洗浄を行うことができるので、チップCPの接合面CPfを清浄な状態で維持し易くなる。従って、チップCPの基板WTへの接合不良が抑制される。
 ところで、従来は、チップCPに切り出す前の基板の状態で洗浄するのが一般的であり、この場合、チップCPを基板から切り出す際にシートTEから生じるパーティクルのチップCPへの付着が抑制できなかった。また、チップCPをトレイで搬送する場合、トレイに収納されたチップCPが搬送中にトレイの内壁と接触することにより発生するパーティクルがチップCPに付着することもある。このため、チップCPの接合面CPf全体を基板WTに接合させることが難しく、ハンダバンプを利用してチップCPと基板WTとの間に隙間を作ったり、パーティクルをハンダ内に取り込んだりすることによりチップCPに付着したパーティクルの接合への影響を低減していた。しかしながら、ハンダバンプの大きさを小さくするには限界があるため、チップCPを接合する基板WTの電極ピッチを50μm程度まで広げる必要があった。従って、電極ピッチの挟小化を図るために、チップCPをバンプレスで基板WTに接合することが要請されている。この場合、チップ供給部11からチップCPが供給されてからチップCPを基板WTに接合までの間にパーティクル除去のためにチップCPを洗浄する必要がある。
 これに対して、本構成によれば、1つのチップ実装システム5内において、チップCPの供給、チップCPの洗浄およびチップCPの基板WTへの接合までの一連の処理を行う。これにより、チップCPへのパーティクルの付着が抑制されるので、チップCPを基板WTに良好に接合することができる。
 また、本構成によれば、第1チップ搬送部5039が、2つの第1チップ保持部5393を有する。これにより、チップCPの洗浄とチップCPの基板WTへの接合とを並行して実行することができるので、タクトの損失が低減されるという利点がある。
 なお、前述の第1チップ搬送部5039において、第1チップ保持部5393が、ベルヌーイチャックを有するものであってもよい。
 或いは、前述のチップ実装システム5において、ベルヌーイチャックである第2チップ保持部を有し、チップ供給部11から供給されるチップCPを第1チップ搬送部5039へ受け渡す第2チップ搬送部を備えるものであってもよい。この場合、第1チップ搬送部5039は、第2チップ搬送部から受け取ったチップCPをヘッド33Hを受け渡す前に、チップCPを、チップCPのアライメントを実行するアライメント部(図示せず)へ受け渡す。そして、第1チップ搬送部5039は、アライメント部でアライメントされたチップCPを受け取り、そのチップCPをヘッド33Hへ搬送する。これにより、第1チップ搬送部5039は、チップCPをアライメントされた状態でヘッド33Hへ受け渡すことができる。
 また、前述のチップ実装システム5において、ヘッド33Hが、第1チップ搬送部5039からチップCPを受け取る前に、その位置をアライメントしてからチップCPを受け取るものであってもよい。特に、第1チップ搬送部5039において、第1チップ保持部5393が、ベルヌーイチャックの場合、この構成が好ましい。
 各実施の形態において、チップCPを洗浄する洗浄部を備えるものであってもよい。この場合、第1チップ搬送部51、4051が、チップ供給部11、2011、3011から供給されるチップCPを保持する第1チップ保持部512、4512を洗浄部にチップCPを受け渡す洗浄部受け渡し位置まで搬送するものであってもよい。そして、第1チップ搬送部51、4051は、前述の洗浄部受け渡し位置において受け取ったチップCPを保持する第1チップ保持部512、4512をヘッド33HにチップCPを移載する移載位置まで搬送するものであってもよい。また、チップ洗浄部は、ボンディング装置30,4030内に設けられ、ヘッド33HにチップCPが載置された状態でチップCPを洗浄するものであってもよい。
 各実施の形態において、チップCPがヘッド33Hに移載される前に、チップCPの接合面CPfに対しシートラズマ処理または粒子ビームを照射することによりチップCPの接合面CPfを活性化する活性化処理部(図示せず)を備えるものであってもよい。なお、チップCPの接合面CPfに金属電極と絶縁体層とが形成されている場合、プラズマ処理を行うとプラズマ中に含まれる全てのイオンが接合面CPfに衝突するので、金属電極に絶縁体のパーティクルが付着してしまう虞がある。従って、FAB(原子ビーム)またはIG(イオンガン)を用いて接合面CPfに粒子ビームを照射することにより接合面CPfを活性化するほうが、パーティクルの再付着が抑制されるので好ましい。
 本構成によれば、チップCPの接合面CPfに対しシートラズマ処理または粒子ビームの照射により接合面CPfが活性化され、水分子が付着してOH基が生成され易くなるので、チップCPと基板WTとの接合強度を向上させることができる。
 実施の形態1において、チップ供給部が、図33に示すように、ピックアップ機構111の鉛直方向の移動に同期して移動し、ニードル111aにより突き上げられるチップCPの鉛直上方に配置されたベルヌーイチャック8711を備えるものであってもよい。または、前述の変形例において、ピックアップ機構8111の鉛直方向の移動に同期して移動し、吸着ポスト8111aにより突き上げられるチップCPの鉛直上方に配置されたベルヌーイチャック8711を備えるものであってもよい。本構成によれば、ピックアップ機構111によるチップCPの突き上げ時におけるチップCPの飛散や位置ズレを防止することができる。また、シートTEに穴が空いていない場合、ニードル111aでシートTEを押し破ってチップCPを上方へ押し上げる必要があり、特にチップの飛散を防ぐには効果的である。
 実施の形態1において、チップ供給部が、シートTEに貼着されたチップCPをベルヌーイチャックの吸着力を利用してシートTEから離脱させて、第1チップ搬送部51へ受け渡すピックアップ機構を有するものであってもよい。
 実施の形態1において、チップ供給部が、チップCPの鉛直上方に配置されたベルヌーイチャックを有するものである場合、ピックアップ機構が、先端部をチップCPに当接させた状態でチップCPの接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持する複数の長尺板状のチップ支持板(部品支持板)を有するものであってもよい。例えば図34(A)に示すように、ピックアップ機構9111が、2つの長尺のチップ支持板9111a1、9111a2を有するものであってもよい。ここで、ピックアップ機構9111は、2つのチップ支持板9111a1、9111a2をそれらの延伸方向に直交する方向へ移動させることにより2つのチップ支持板9111a1、9111a2を互いに近づける支持板駆動部9111gを備える。また、ピックアップ機構9111は、シートがチップ支持板9111a1、9111a2の先端部に張架された状態でチップ支持板9111a1、9111a2の間の部分を吸引する吸引部(図示せず)を有する。
 また、本変形例に係るチップ供給部は、例えば図35(A)に示すように、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分を吸着する吸着部9115aを有する吸着ユニット9115を有する。ここで、ベルヌーイチャック9711は、例えばチップCPをヘッド33HにチップCPを移載する移載位置まで搬送する第1チップ搬送部が有するものである。なお、ベルヌーイチャック9711は、チップCPを第1チップ搬送部の受け取り位置まで搬送する第2チップ搬送部が有するものであってもよい。ベルヌーイチャック9711では、チップCPの水平方向の位置が規定されない。そこで、ベルヌーイチャック9711には、チップCPの位置ずれを防止するためのガイド部9711aが設けられている。ガイド部9711aは、例えばベルヌーイチャック9711にチップCPが保持された状態でベルヌーイチャック9711におけるチップCPを囲繞する部位に設けられた矩形枠状のものである。また、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPは、ピックアップ機構9111により切り出されるチップCPに相当する。更に、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPは、ピックアップ機構9111により切り出されるチップCP以外のチップCPに相当する。吸着ユニット9115は、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分を、シートTE1におけるチップCPが貼着された側とは反対側から吸着することでガイド部9711aがベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPに接触することなく、ベルヌーイチャック9711の吸引力が働く位置までチップCPを持ち上げることができる。
 ここで、本変形例に係るチップ供給部の動作について図35および図36を参照しながら説明する。まず、チップ供給部は、ピックアップ機構9111によりベルヌーイチャック9711へチップCPを受け渡す際、図35(A)の矢印AR901に示すように、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分を吸着ユニット9115により吸着する。そして、ピックアップ機構9111は、チップ支持板9111a1、9111a2の先端部を、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分に押し付ける。次に、支持部駆動部9111gが、図35(B)の矢印AR903に示すように、チップ支持板9111a1、9111a2を互いに近づける方向へ移動させることにより、それらの先端部で、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を擦る。このとき、シートTE1は少し持ち上げられており、シートTE1とチップCPのシートTE1との接触面との間に角度がつくため、チップ支持板9111a1、9111a2の先端部をチップCPの外側から内側へ移動させることによりそれに追従してシートTE1がチップCPから剥がれる。続いて、ピックアップ機構9111が、図36(A)の矢印AR904に示すように、チップ支持板9111a1、9111a2の位置を元の位置に戻す。その後、吸引部が、図36(A)の矢印AR905に示すように、シートTE1におけるチップ支持板9111a1、9111a2の間の部分を吸引する。ここで、吸引部が、シートTE1におけるチップ支持板9111a1、9111a2の間の部分を吸引しつつ、ピックアップ機構9111が、チップ支持板9111a1、9111a2の位置を元の位置に戻してもよい。これにより、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPがシートTE1から剥がれ易い状態になる。次に、ピックアップ機構9111が、図36(B)の矢印AR906に示すように、チップ支持板9111a1、9111a2を鉛直上方へ移動させることにより、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を鉛直上方へ突き上げる。このとき、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分は、吸着ユニット9115により吸着されているため、突き上げられたチップCPと隣り合うチップCPがベルヌーイチャック9711に接触することが防止される。また、ベルヌーイチャック9711は、チップCPが水平な姿勢である程度ベルヌーイチャック9711の近傍まで近づいた状態でなければ、チップCPを吸引する吸引力を発生させることができない。一方、ベルヌーイチャック9711は、チップCPの水平方向の位置を規定するためにガイド9711aが必要である。これに対して、本変形例では、ベルヌーイチャック9711に吸引させるチップCPのみを水平な姿勢でガイド9711aの内側からベルヌーイチャック9711へ近づけることができる。従って、ガイド部9711aが設けられていてもチップCPをベルヌーイチャック9711に吸引させることができる。そして、突き上げられたチップCPは、ベルヌーイチャック9711へ受け渡される。即ち、ピックアップ機構9111は、チップCPの鉛直上方からのチップCPの支持を行うことなく、チップ支持板9111a1、9111a2のみにより、シートTE1におけるチップCPが貼着された部分を、チップCPの接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢となるようにして突き上げる。これにより、シートTE1におけるチップCPが貼着された部分を突き上げる際、ベルヌーイチャック9711のガイド部9711aへのチップCPの接触が抑制される。なお、吸引部によりシートTE1を吸引するタイミングは、チップ支持板9111a1、9111a2により、シートTE1におけるチップCPが貼着された部分を突き上げた後であってもよいし、チップ支持板9111a1、9111a2を互いに近づける方向へ移動させる前または移動中であってもよい。
 また、ピックアップ機構は、チップCPを、その接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持するための3つ以上のチップ支持ピンと、チップCPをシートから剥離させるための剥離部材である剥離用ピンと、を有するものであってもよい。例えば図34(B)に示すように、ピックアップ機構10111は、4つのチップ支持ピン10111aと、4つの剥離用ピン10111bと、を有する。ここで、ピックアップ機構10111は、4つのチップ支持ピン10111aと、4つの剥離用ピン10111bと、をそれらの延伸方向へ独立して移動させることによりピン駆動部10111gを備える。また、ピックアップ機構9111は、シートがチップ支持ピン10111aの先端部に張架された状態でチップ支持ピン10111aにより囲まれた部分を吸引する吸引部(図示せず)を有する。
 ここで、本変形例に係るチップ供給部の動作について図37および図38を参照しながら説明する。なお、図37および図38において、前述の変形例と同様の構成については、図35および図36と同一の符号を付している。まず、チップ供給部は、ピックアップ機構10111によりベルヌーイチャック9711へチップCPを受け渡す際、図37(A)の矢印AR1001に示すように、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分を吸着ユニット9115により吸着する。そして、ピックアップ機構9111は、チップ支持ピン10111aの先端部を、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分に押し付ける。次に、支持部駆動部10111gが、図37(B)の矢印AR1002に示すように、剥離用ピン10111bの先端部を、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分に押し付ける。一方、支持部駆動部10111gは、図37(B)の矢印AR1003に示すように、チップ支持ピン10111aの先端部を、シートTE1から離脱させる。このとき、シートTE1におけるチップCPに貼着された部分のうち、4つの剥離用ピン10111bの先端部が当接する部分よりも外側の部分がチップCPから剥離される。続いて、ピックアップ機構10111が、図38(A)の矢印AR1004に示すように、再び、チップ支持ピン10111aの先端部を、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分に押し付ける。一方、支持部駆動部10111gは、図38(A)の矢印AR1005に示すように、剥離用ピン10111bの先端部を、シートTE1から離脱させる。その後、吸引部が、図38(A)の矢印AR1006に示すように、シートTE1におけるチップ支持板9111a1、9111a2の間の部分を吸引する。次に、ピックアップ機構10111が、図38(B)の矢印AR1007に示すように、チップ支持ピン10111aを鉛直上方へ移動させることにより、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を鉛直上方へ突き上げる。そして、突き上げられたチップCPは、ベルヌーイチャック9711へ受け渡される。即ち、ピックアップ機構10111は、チップCPの鉛直上方からのチップCPの支持を行うことなく、チップ支持ピン10111aのみにより、シートTE1におけるチップCPが貼着された部分を、チップCPの接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢となるようにして突き上げる。これにより、シートTE1におけるチップCPが貼着された部分を突き上げる際、ベルヌーイチャック9711のガイド部9711aへのチップCPの接触が抑制される。なお、吸引部によりシートTE1を吸引するタイミングは、チップ支持ピン10111aにより、シートTE1におけるチップCPが貼着された部分を突き上げた後であってもよい。
 実施の形態1において、例えば図39(A)に示すように、ピックアップ機構12111が、先端部に鉤状のヘッド12111c、12111dを有する2つのチップ支持板12111a1、12111a2を有するものであってもよい。ここで、チップ支持板12111a1、12111a2は、それぞれ、長尺板状の本体部12111bと、ヘッド部12111c、12111dとを有する。また、ピックアップ機構12111は、2つのチップ支持板12111a1、12111a2をそれらの延伸方向に直交する方向へ移動させることにより2つのチップ支持板12111a1、12111a2を互いに近づける支持板駆動部12111gを備える。
 ヘッド部12111c、12111dは、それぞれ、図39(B)に示すように、長尺の互いに対向する側へ突出する突出部12111e、12111fを有する。ここで、図39(C)の矢印AR1201に示すように、支持板駆動部12111gが、チップ支持板12111a1、12111a2を互いに近づく方向へ移動させると、突出部12111e、12111fのうちの一方が他方の間に嵌入した状態となる。なお、ヘッド部12111c、12111dの形状は、図39(A)乃至(C)に示す形状に限定されるものではなく、ヘッド部12111c、12111dの一方の一部が他方の一部に嵌合する形状であれば他の形状であってもよい。
 本変形例に係るピックアップ機構12111は、図40(A)に示すように、チップ支持板12111a1、12111a2の先端部のヘッド部12111c、12111dを、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分に押し付ける。そして、支持部駆動部12111gが、図40(A)の矢印AR1201に示すように、チップ支持板12111a1、12111a2を互いに近づける方向へ移動させることにより、ヘッド部12111c、12111dで、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を擦る。ここで、支持部駆動部12111gは、図40(B)に示すように、Y軸方向から見てヘッド部12111c、12111d同士が互いに重なった状態になるまで、チップ支持板12111a1、12111a2を移動させる。これにより、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPがシートTE1から剥がれ易い状態になる。そして、ピックアップ機構12111は、チップ支持板12111a1、12111a2の位置を元の位置に戻した後、チップ支持板12111a1、12111a2を鉛直上方へ移動させる。これにより、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分が鉛直上方へ突き上げられ、突き上げられたチップCPが、ベルヌーイチャック9711へ受け渡される。
 また、チップ供給部は、例えば図41(A)に示すように、チップ支持ピン13111hとともに、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を擦ってチップCPをシートTE1から剥離させるための剥離部材13111a1、13111a2と、剥離部材駆動部13111gと、を有するピックアップ機構13111を備えるものであってもよい。チップ支持ピン13111hは、例えば4つ設けられている。なお、チップ支持ピン13111hの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。チップ支持ピン13111hは、チップCPをその接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持する。剥離部材13111a1、13111a2は、前述のチップ支持板12111a1、12111a2と同様の構成であり、長尺板状の本体部13111bと先端部のヘッド部13111c、13111dとを有する。なお、ヘッド部13111c、13111dの形状は、図41(A)に示す形状に限定されるものではなく、ヘッド部13111c、13111dの一方の一部が他方の一部に嵌合する形状であれば他の形状であってもよい。
 ここで、本変形例に係るチップ供給部の動作について図41および図42を参照しながら説明する。まず、ピックアップ機構13111が、図41(A)の矢印AR1302に示すように、剥離部材13111a1、13111a2のヘッド部13111c、13111dを、待機位置からシートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分へ近づける。次に、ピックアップ機構13111が、ヘッド部13111c、13111dをシートTE1に押し付けた状態で、図41(B)の矢印AR1303に示すように、剥離部材13111a1、13111a2を互いに近づける方向へ移動させることにより、ヘッド部13111c、13111dで、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を擦る。なお、図41(B)の状態において、チップ支持ピン13111hの先端部がシートTE1の近傍に配置されていてもよい。これにより、チップCPの姿勢を安定させることができる。続いて、ピックアップ機構13111は、図42(A)に示すように、剥離部材13111a1、13111a2の位置を待機位置に戻す。その後、チップ供給部は、図42(A)の矢印AR1304に示すように、チップ支持ピン13111hを鉛直上方へ移動させることにより、チップ支持ピン13111hの先端部をシートTE1に接触させる。その後、チップ供給部は、図42(B)の矢印AR1305に示すように、チップ支持ピン13111hにより、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を鉛直上方へ突き上げる。そして、突き上げられたチップCPは、ベルヌーイチャック9711へ移載される。このとき、チップ供給部は、図42(B)の矢印AR1306に示すように、剥離部材13111a1、13111a2を鉛直下方へ移動させることにより待機位置に戻す。
 本構成によれば、ピックアップ機構9111、12111が、チップ支持板9111a1、9111a2、12111a1、12111a2により、チップCPをその接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持する。また、ピックアップ機構10111、13111が、チップ支持ピン10111a、13111hにより、チップCPをその接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持する。これにより、ピックアップ機構9111、10111、12111、13111は、チップCPを、その接合面CPfが鉛直方向に直交する面に水平な姿勢を維持した状態でベルヌーイチャック9711へ移載することができる。従って、ピックアップ機構9111、10111、12111、13111がチップCPをベルヌーイチャック9711へ移載する際に、チップCPの姿勢の傾きに起因してベルヌーイチャック9711のハンドリングミスが発生することが抑制される。
 また、本構成によれば、ピックアップ機構9111が、ベルヌーイチャック9711へチップCPを移載する際、チップ支持板9111a1、9111a2、12111a1、12111a2の先端部でシートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を擦る。また、ピックアップ機構10111は、ベルヌーイチャック9711へチップCPを移載する際、剥離用ピン10111bの先端部を、シートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分に押し付ける。更に、ピックアップ機構13111は、ベルヌーイチャック9711へチップCPを移載する際、剥離部材13111a1、13111a2のヘッド部13111c、13111dでシートTE1におけるベルヌーイチャック9711に対向するチップCPが貼着された部分を擦る。これにより、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPがシートTE1から剥がれ易い状態になるので、シートTE1からベルヌーイチャック9711へチップCPが円滑に移載されるという利点がある。
 また、前述の変形例において、ベルヌーイチャック9711に矩形枠状のガイド9711aが設けられている例について説明したが、ガイド部の形状はこれに限定されるものではない。例えば図43(A)に示すように、ガイド部12711aが、ベルヌーイチャック9711にチップCPが保持された状態でベルヌーイチャック9711におけるチップCPの2つの角部を囲む部分に設けられた平面視L字状のものであってもよい。或いは、図43(B)に示すように、ガイド部13711aが、ベルヌーイチャック9711にチップCPが保持された状態でベルヌーイチャック9711におけるチップCPを囲繞する部位の複数箇所に設けられたピン状のものであってもよい。
 また、前述の図26乃至図32を用いて説明した変形例に係るチップ実装システム5において、第1チップ搬送部5039とともに、チップ供給部5011から供給されるチップCPを第1チップ供給部5039の第1チップ保持部5393へ移載する位置までチップCPを搬送する第2チップ搬送部(図示せず)を備えるものであってもよい。この場合、第1チップ搬送部5039のプレート5391、アーム5394の長さを短縮できるので、第1チップ搬送部5039を小型化することができる。
 実施の形態1において、チップ供給部が、前述のピックアップ機構9111,10111,12111,13111を備えるものであってもよい。この場合、ピックアップ機構9111,10111,12111,13111は、チップCPを第1チップ保持部512へ移載する際、チップ支持ピン10111a、13111hの先端部またはチップ支持板9111a1、9111a2、12111a1、12111a2の先端部が第1チップ保持部512よりも鉛直上方に配置されるまで、チップ支持ピン10111a、13111hまたはチップ支持板9111a1、9111a2、12111a1、12111a2を移動させるものであってもよい。例えばチップCPにおける、チップ支持ピン10111a、13111hの外側のシートTE1が剥離された部分を、第1チップ保持部512で保持すればよい。
 各実施の形態のチップ供給部において、チップCPを上方へ切り出す構成であってもよいしチップCPを下方へ切り出す構成であってもよい。
 実施の形態2において、チップ供給部が、複数のチップCPそれぞれの接合面CPf側とは反対側が貼着されたシートTEを接合面CPfが鉛直上方側を向く姿勢で保持するものであってもよい。この場合、第2チップ搬送部は、ベルヌーイチャックである第2チップ保持部により、ピックアップ機構により切り出された1つのチップCPを、その接合面CPfに非接触な状態で保持して反転せずにそのまま第1チップ搬送部へ受け渡すものであってもよい。ここで、第1チップ搬送部は、例えば図26および図27を用いて説明した変形例に係るターレットである第1チップ搬送部5039であってもよい。
 各実施の形態並びに図26乃至図43を用いて説明した各変形例において、チップCPの周部に鉛直下方側から掛止された状態とチップCPから離脱した状態とをとりうる複数のフックを有する第1チップ搬送部を備えるものであってもよい。本変形例に係る第1チップ搬送部は、例えば図44に示すように、搬送部本体16511と、搬送部本体16511に固定されたベルヌーイチャック16711と、矢印AR1604に示すように搬送部本体16511を鉛直方向へ駆動する本体駆動部(図示せず)と、を有する。なお、図44において、実施の形態1と同様の構成については図1と同一の符号を付している。ベルヌーイチャック16711には、チップCPの位置ずれを防止するためのガイド部16711aが設けられている。また、第1チップ搬送部は、先端部にフック16514aが設けられた2つのアーム16514と、搬送部本体16511に固定され2つのアーム16514をそれぞれ回転自在に支持する支持部16515と、を有する。更に、第1チップ搬送部は、先端部にフック16514aが設けられた2つのアーム16514と、搬送部本体16511に固定され2つのアーム16514をそれぞれ回転自在に支持する支持部16515と、を有する。また、第1チップ搬送部は、2つのアーム16514それぞれの基端部に穿設された長孔16514bに挿通されたピン16516が先端部に設けられた移動部材16517と、移動部材16517を鉛直方向へ駆動するフック駆動部16518と、を有する。
 また、本変形例に係るチップ供給部は、シートTE1におけるベルヌーイチャック16711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分を吸着する吸着部16115aを有する吸着ユニット16115を有する。また、ベルヌーイチャック9711に対向するチップCPは、ピックアップ機構111により切り出されるチップCPに相当する。更に、ベルヌーイチャック16711に対向するチップCPと隣り合うチップCPは、ピックアップ機構111により切り出されるチップCP以外のチップCPに相当する。吸着ユニット16115は、矢印1605に示すように、シートTE1におけるベルヌーイチャック16711に対向するチップCPと隣り合うチップCPが貼着された部分を、シートTE1におけるチップCPが貼着された側とは反対側から吸着する。
 フック駆動部16158は、矢印AR1602に示すように、移動部材16517を鉛直方向へ移動させて、矢印AR1603に示すように、アーム16514を、ピン16516を基点として回転させることによりフック16514aを移動させる。フック駆動部16158は、ピックアップ機構111が矢印AR1601に示すように複数のチップCPの中から1つのチップCPを切り出す際、アーム16514を回転させてフック16514aをチップCPの鉛直下方側の周部に鉛直下方側から掛止させる。このとき、アーム16514のフック16514aは、チップCPのシートTE1側の面とシートTE1との間に差し込まれる。これにより、チップCPが鉛直上方に持ち上げられた状態で、シートTE1がチップCPの周部に貼り付いている場合でも、フック16514aにより、シートTE1がチップCPの周部から剥離される。そして、フック駆動部16158は、チップCPがベルヌーイチャック16711に保持されるとアーム16514を回転させてフック16514aをチップCPから離脱させる。
 本構成によれば、例えばシートTE1の粘着力が比較的強くても、シートTE1をチップCPの周部から剥離することができるので、ベルヌーイチャック16711によるチップCPのチャックミスの発生が抑制される。また、本構成によれば、チップCPの鉛直上方にベルヌーイチャック16711が配置された状態で、フック16514aをチップCPの鉛直下方側の周部に鉛直下方側から掛止させる。これにより、例えばチップCPを切り出す際、チップCPが鉛直上方へ飛び跳ねた場合であっても、ベルヌーイチャック16711で受け止めることができるので、チップCPの飛散が抑制されるという利点もある。
 本変形例では、第1チップ搬送部である例について説明したが、これに限定されるものではなく、前述と同様の構成を有しチップCPを第1チップ搬送部まで搬送する第2チップ搬送部であってもよい。また、本変形例において、ベルヌーイチャック16711が無い構成であってもよい。この場合、第1チップ搬送部は、複数のフック16514aによりチップCPを保持した状態でチップCPを搬送するようにすればよい。
 ところで、本変形例のようにベルヌーイチャック16711にガイド部16711aが設けられている場合、ピックアップ機構111は、ベルヌーイチャック16711をチップCPが貼着されたシートTE1に近づけたときに、切り出す対象のチップCPと隣り合うチップCPにガイド部16711aが接触しない程度の高さまでチップCPを持ち上げる必要がある。このとき、シートTE1をベルヌーイチャック16711に近づく方向へ突出させて伸ばすことになるので、隣り合うチップCP同士の間隔は、シートTE1を突出させたときに切り出す対象のチップCPと隣り合うチップCPがベルヌーイチャック16711に接近しない程度の長さに設定されていることが好ましい。また、チップCPの鉛直下方側の周部にフック16514aを挿入する場合も、隣り合うチップCP同士の間隔が広いほうが有利である。
 また、シートTE1としては、伸長させたときに隣り合うチップCP同士の間隔が広がり易いものを使用するのが好ましい。また、シートTE1上において、隣り合うチップCP同士の間隔が広がるようにチップCPを再配置するようにしてもよい。或いは、チップ供給部が、ピックアップ機構111によりチップCPを鉛直上方へ持ち上げて切り出す際、シートTE1の鉛直下方からシートTE1を加熱してシートTE1を伸びやすくする加熱部を備えるものであってもよい。ここで、加熱部は、例えばヒータ、熱風を吐出する機構を有するものとすればよい。更に、チップ供給部は、赤外光または紫外光をシートTE1に照射することによりシートTE1を伸び易くする光源を有するものであってもよい。
 実施の形態2において、第2チップ搬送部2114の第2チップ保持部2114aが、例えば図45に示すような、非接触チェック17711であってもよい。非接触チャック17711は、チャック本体17712と、負圧発生部17713と、超音波発生部17714と、超音波発生部17714を支持する支持部材17715と、を備える。チャック本体17712は、その内部に保持するチップCP側(-Z方向側)に連通する流路17712aが形成されている。負圧発生部17713は、チャック本体17712の流路17712a内に8kPa乃至40kPaの負圧を発生させることにより、チップCPを吸引する。超音波発生部17714は、チャック本体17112を数MHzの高周波数で振動させることにより、チャック本体17712とチップCPとの間に超音波を発生させてそこに存在する気体を圧縮拡散させる。これにより、チャック本体17112の-Z方向側に薄い気体の膜、即ち、スクイーズド膜が形成される。そして、チップCPは、チャック本体17712の-Z方向側において、このスクイーズド膜上に浮かんだ状態が維持される。つまり、非接触チャック17711は、負圧発生器17713によるチップCPの吸引力と超音波発生部17714により発生される超音波による反発力とを組み合わせて使用することにより、チップCPを非接触で保持する。
 なお、本変形例では、第2チップ搬送部の第2チップ保持部が、図45に示す非接触チャックである例について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば図18を用いて説明した第1チップ搬送部4051の第1チップ保持部4512が、図45に示す非接触チャックであってもよい。
 ところで、前述のベルヌーイチャックの場合、ベルヌーイチャックからの排気流量が比較的大きい。このため、例えば基板WTまたはチップCPに付着したパーティクルを除去するためにボンディング装置30、4030内またはチップ供給装置2010、4010内に気流を発生させている場合、その気流の流れに影響が生じてしまう虞がある。また、チップCPに載っているパーティクルを飛散させてしまう。
 これに対して、本構成によれば、非接触チャック17711からの排気が無いので、ボンディング装置30、4030内またはチップ供給装置2010、4010内に発生させる気流の流れへの影響を無くすことができる。また、本構成によれば、負圧発生部17713によりチャック本体17712にチップCPを吸引させていることにより、チップCPの位置ずれの発生が抑制される。従って、チップCPをボンディング装置30、4030のヘッド33H、4033Hへ移載する前にチップCPの姿勢を調整する必要が無くなるという利点がある。また、チップCPに付着しているパーティクルが吸引され、チップCPに付着しているパーティクルが除去される。また、本構成に係る非接触チャック17111は、ベルヌーイチャックに比べて吸着力が高いという利点もある。
 各実施の形態において、シートからのチップCPの切り出し方法は、ニードルで付き上げる方法、凹凸面を吸着して接触面積を減らす方法、チップCPの接合面CPfとは反対側の面を板状の部材で擦ることで剥がす方法、紫外光を照射してシートの粘着力を低下させる方法、シートを加熱してシートの粘着力を低下させる方法、またはその他いかなる方法であってもよい。また、シートからチップCPを切り出す方法に限らず、トレイ上に載置されたチップを切り出す方法でも、前述の各方法は有効である。また、シートとしては、シートにおけるチップCPが貼着される側の粘着性を有する面に、紫外線が照射されると発泡して粘着力が低下する粘着材料が塗布されたものを使用してもよい。更に、シートに紫外線を照射してシートの粘着力を低下させる場合、ピックアップ機構が、シートに貼着された複数の部品から、少なくとも1つの部品を切り出す際、シートに紫外線を照射する紫外線照射部を有するものであってもよい。また、ピックアップ機構は、紫外線に対して透明なガラスツール(図示せず)を有し、ガラスツールによりシートにおけるチップCPが貼着された部分を押し上げた状態で、紫外線照射部が紫外線をガラスツール内に入射するものであってもよい。この場合、ガラスツール内を伝播してガラスツールのシート側から放射される紫外線がシートに照射され、シートの粘着力が低下する。なお、ピックアップ機構が、シートTEにおけるチップCPが貼着された部分に紫外線を照射した後に、当該部分をニードルで突き上げたり、或いは、剥離部材により当該部分を擦ったりすることにより、チップCPを切り出すようにしてもよい。また、ピックアップ機構が、シートTEにおけるチップCPが貼着された部分に紫外線を照射した後に、第1チップ搬送部または第2チップ搬送部が、当該部分に貼着されたチップCPを第1チップ保持部または第2チップ保持部で保持してピックアップするようにしてもよい。
 つまり、シートTEにおけるチップCPが貼着された部分に紫外線を照射することにより、チップCPをシートTEから剥がし易くしてから、ピックアップ機構のニードルで突き上げたり剥離部材によりシートTEを擦ったりすることによりチップCPを切り出すようにしてもよい。また、シートTEにおけるチップCPが貼着された部分に紫外線を照射してチップCPがシートTEから剥がれ易い状態にしてから、そのまま第1チップ搬送部または第2チップ搬送部によりピックアップしてもよい。更に、シートTEにおけるチップCPが貼着された部分を、紫外線に対して透明なガラスツールで押し上げながら、当該部分にガラスツールを通して紫外線を照射してチップCPを剥がすようにしてもよい。また、シートTEのチップCPが貼着される側に紫外線が照射されると発砲する材料が塗布されたものを使用し、シートTEに紫外線を照射してチップCPがシートTEから剥がれ易くするようにしてから、そのまま第1チップ搬送部または第2チップ搬送部によりピックアップしてもよい。
 また、前述の変形例において、シートTE1に孔を開けるタイミングは、シートTE1をチップ実装システムに投入する前でなくてもよい。例えば、前述の剥離用ピン10111bをシートTE1に接触させたタイミングまたは剥離部材13111a1、13111a2を内側へ寄せたタイミングで、シートTE1における剥離用ピン10111bまたは剥離部材13111a1、13111a2の外側のチップ支持ピン10111a、13111hが接触する位置に孔を開けてもよい。また、ピックアップ機構とは別の位置またはチップ供給装置10とは別の装置で同様にしてシートTE1におけるチップCPの外周部を剥がしつつシートTE1に孔を開ける構成であってもよい。
 ところで、実施の形態1のように、シートTE1に孔が形成されていない場合において、ニードル111aがシートTE1を貫通する場合、ニードルの先端部にシートTE1に含まれる粘着材料が付着し、それがチップCPに付着する場合がある。この場合、チップCPの搬送時においてその粘着材料が、ヘッド33H、第1チップ保持部等に付着したりチップ実装システム内で落下してゴミになったりするため問題である。そのため、実施の形態1において、ヘッド33H、第1チップ保持部等において、ニードル111aの接触位置に対応する部分に凹部を設けることにより、チップCPにおけるニードル111aの先端部が接触した部分にヘッド33H、第1チップ保持部、各ステージ等が接触しないようにすることが好ましい。
 前述の変形例において、洗浄部5037が、チップステージ5036におけるチップCPが載置される部分に水や窒素、大気などのガスを吐出する吐出孔(図示せず)が設けられている構成であってもよい。この場合、洗浄部が、洗浄部に搬送されてきたチップCPの裏面を吐出孔から吐出される水や窒素、大気などのガスにより洗浄するようにしてもよい。
 各実施の形態において、ヘッド33Hが、その中央部から吸着ポストを突出させてチップCPをヘッド33Hへ移載する構成であって、吸着ポストの内側にチップCPを基板WTに接合時する際にチップCPの中央部を押圧する押圧機構を内蔵するものであってもよい。そうすることでポストピンとセンタープッシュ機構の両方が成立して好ましい。
 なお、前述の実施の形態および変形例において、「切り出し」とは、ニードルにより突き出すことによりチップCPを供給すること、粘着シートを吸引することによりチップCPを供給すること、紫外線を照射することによりチップCPを供給することを含む。
 本発明は、本発明の広義の精神と範囲を逸脱することなく、様々な実施形態及び変形が可能とされるものである。また、上述した実施形態は、この発明を説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。すなわち、本発明の範囲は、実施形態ではなく、特許請求の範囲によって示される。そして、特許請求の範囲内及びそれと同等の発明の意義の範囲内で施される様々な変形が、この発明の範囲内とみなされる。
 本発明は、例えばCMOSイメージセンサやメモリ、演算素子、MEMSの製造に好適である。
1,2,3,4,5:チップ実装システム、10,2010,3010,4010,5010:チップ供給装置、11,2011,3011,5011:チップ供給部、30,4030:ボンディング装置、31:ステージ、32:ステージ駆動部、33,4033:ボンディング部、33H,4033H:ヘッド、36:ヘッド駆動部、51,4051,5039:第1チップ搬送部、114:カバー、114a:孔、90,2090,3090,4090:制御部、111,2111,3111,9111,10111,12111,13111:ピックアップ機構、111a,2111a,3111a:ニードル、112:シート保持枠、113:保持枠駆動部、119:枠保持部、2115:反転部、411,4411,8411:チップツール、411a,411b,411c,2115f,3114f,8411b,8411c:貫通孔、413,4413,8413:ヘッド本体部、431:押圧機構、431a:押圧部、431b:押圧駆動部、432a:チップ支持部、432b:支持部駆動部、440:保持機構、511,4511:本体部、512,4512,5393:第1チップ保持部、513:チップカバー、2114:第2チップ搬送部、2114a:第2チップ保持部、2114b,3114c:スライド体、2114c,3114d:ガイドレール、2115:反転部、2115a:吸着ヘッド、2115b,3114b,16514:アーム、2115c:アーム駆動部、2115e,3114e,9115a:吸着部、2115g,3114g:チップ支持部、2115i,3114i:支持部駆動部、3114:第3チップ搬送部、3114a:第3チップ保持部、5036:チップステージ、5037:洗浄部、5037a:洗浄ヘッド、5038:チップ回収部、5391:プレート、5392:プレート駆動部、5394:アーム、6116:トレイ、6116a:トレイ本体、6116b,7116b:凹部、6116c,7116c:支持部、6116d:連通孔、6117,7117:吸引部、7116:チップ供給ヘッド、7116a:ヘッド本体、7116d:吸引孔、8111a,8432a:吸着ポスト、8111b,8432b:吸着ポスト駆動部、8440:吸着孔、8617,ATE1,ATE2:粘着シート、8711,9711,16711:ベルヌーイチャック、9111a1,9111a2,12111a1,12111a2:チップ支持板、9111b,13111b:本体部、9111c,9111d,10111c,10111d:ヘッド部、9111e、9111f:突出部、9111g,10111g,12111g:支持部駆動部、9115:吸着ユニット、9711a,14711a,15711a:ガイド部、10111b:剥離用ピン、13111a:剥離部材、13111g:剥離部材駆動部、10111a,13111h:チップ支持ピン、16116:吸着ユニット、16115a:吸着部、16511:搬送部本体、16514a:フック、16514b:長孔、16516:ピン、16517:移動部材、16518:フック駆動部、16711a:ガイド部、17711:非接触チャック、17712:チャック本体、17712a:流路、17713:負圧発生部、17714:超音波発生部、17715:支持部材、CP:チップ、CPf:接合面、P61,P62:接触部分、Pos1:移載位置、Pos2:受け取り位置、HA10:孔、TE,TE1,TE10:シート、WT:基板、WTf:実装面

Claims (61)

  1.  基板に部品を実装する部品実装システムであって、
     前記部品を供給する部品供給部と、
     先端部で前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を保持するヘッドと、
     前記部品供給部から供給される前記部品の前記接合面側を非接触で保持する第1部品保持部を有し、前記第1部品保持部が前記部品を保持した状態で前記ヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送する第1部品搬送部と、
     前記基板を保持する基板保持部と、
     前記第1部品搬送部から移載された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させて前記実装面に前記部品を実装するヘッド駆動部と、を備える、
     部品実装システム。
  2.  前記ヘッドは、先端部に前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側における第1部位を支持した状態で鉛直方向へ移動自在の部品支持部が設けられ、
     前記部品を保持した前記第1部品保持部が前記移載位置に位置し且つ前記部品支持部により前記部品の前記第1部位を支持した状態で、前記部品支持部を前記第1部品保持部よりも前記第1方向側へ相対的に移動させることにより前記部品を前記第1部品保持部から前記ヘッドへ移載する支持部駆動部を更に備え、
     前記第1部品搬送部は、前記部品供給部から供給される前記部品の前記接合面側とは反対側における第1部位とは異なる第2部位を保持する第1部品保持部を有し、前記第1部品保持部が前記部品を保持した状態で前記ヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送し、
     前記ヘッド駆動部は、前記第1部品搬送部から移載された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させて前記実装面に前記部品を実装する、
     請求項1に記載の部品実装システム。
  3.  前記第1部品搬送部は、前記第1部品保持部により前記部品が保持された状態で前記部品の前記接合面側を覆う部品カバーを有する、
     請求項2に記載の部品実装システム。
  4.  前記部品供給部は、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品の前記接合面側とは反対側における第1部位とは異なる第3部位を保持して前記部品を切り出すピックアップ機構を有し、
     前記第1部品搬送部は、前記第1部品保持部により前記第2部位を保持した状態で前記少なくとも1つの部品を受け取る、
     請求項2または3に記載の部品実装システム。
  5.  前記部品供給部は、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出すピックアップ機構を有し、
     前記第1部品搬送部は、前記第1部品保持部により前記部品の前記接合面側を非接触で前記少なくとも1つの部品を受け取る、
     請求項1に記載の部品実装システム。
  6.  前記第1部品保持部は、ベルヌーイチャックである、
     請求項1または5に記載の部品実装システム。
  7.  前記第1部品保持部は、保持する前記部品側に連通する流路が形成されたチャック本体と、前記流路内を負圧にする負圧発生部と、前記チャック本体を振動させることにより前記チャック本体と前記部品との間に超音波を発生させる超音波発生部と、を有する非接触チャックである、
     請求項1または5に記載の部品実装システム。
  8.  前記部品供給部は、更に、複数の部品それぞれの前記接合面側とは反対側に貼着されたシートを保持するシート保持部と、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出すピックアップ機構と、を有し、
     前記ピックアップ機構は、前記少なくとも1つの部品それぞれを、前記少なくとも1つの部品それぞれの前記接合面側を支持することなく、前記少なくとも1つの部品それぞれの接合面が鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持するための3つ以上の部品支持ピンまたは複数の長尺の部品支持板を有し、前記部品支持ピンまたは前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出すことにより、前記少なくとも1つの部品を前記第1部品保持部へ移載する、
     請求項1に記載の部品実装システム。
  9.  前記ピックアップ機構は、前記少なくとも1つの部品を前記第1部品保持部へ移載する際、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板の先端部が前記第1部品保持部よりも鉛直上方に配置されるまで、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板を移動させる、
     請求項8に記載の部品実装システム。
  10.  前記部品供給部は、更に、複数の部品それぞれの前記接合面側とは反対側に貼着されたシートを保持するシート保持部を有し、
     前記ピックアップ機構は、前記少なくとも1つの部品それぞれを、前記少なくとも1つの部品それぞれの接合面が鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持するための3つ以上の部品支持ピンまたは複数の長尺の部品支持板を有し、前記部品支持ピンまたは前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出すことにより、前記少なくとも1つの部品を前記第1部品保持部へ移載する、
     請求項8に記載の部品実装システム。
  11.  前記部品供給部は、更に、
     前記シートにおける前記ピックアップ機構により切り出される前記少なくとも1つの部品以外の部品が貼着された部分を、前記シートにおける前記複数の部品側とは反対側から吸着する吸着ユニットを有し、
     前記ピックアップ機構は、前記少なくとも1つの部品以外の部品が貼着された部分が前記吸着ユニットに吸着された状態で、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項8から10のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  12.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記3つ以上の部品支持ピンまたは前記複数の部品支持板を移動させることにより、前記少なくとも1つの部品を前記シートから剥離した後、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項8から11のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  13.  前記ピックアップ機構は、前記複数の部品支持板を有し、前記複数の部品支持板の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の部品支持板を互いに近づく方向へ移動させることにより、前記シートを擦った後、前記複数の部品支持板を互いに離れる方向へ移動させてから、前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項12に記載の部品実装システム。
  14.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンとともに、前記部品を前記シートから剥離し易くするための複数の剥離用ピンを有し、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の剥離用ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた後、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートから離脱させ、その後、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記部品支持ピンにより前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項8から11のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  15.  前記ピックアップ機構は、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す際、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記少なくとも1つの部品側とは反対側から吸引する、
     請求項13または14に記載の部品実装システム。
  16.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンとともに、前記部品を前記シートから剥離し易くするための複数の剥離部材を有し、前記複数の剥離部材の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の剥離部材を互いに近づく方向へ移動させることにより、前記シートを擦った後、前記部品支持ピンにより前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項8から11のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  17.  前記部品供給部または前記第1部品搬送部は、
     前記少なくとも1つの部品の周部に鉛直下方側から掛止された状態と前記少なくとも1つの部品から離脱した状態とをとりうる複数のフックと、
     前記部品供給部が前記部品を供給する際、前記複数のフックを前記少なくとも1つの部品の鉛直下方側の周部に鉛直下方側から掛止させて前記複数のフックに前記少なくとも1つの部品を保持させるフック駆動部と、を有する、
     請求項1から16のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  18.  前記部品供給部は、
     複数の部品それぞれの前記接合面側とは反対側に貼着されたシートを保持するシート保持部と、
     前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を、前記シートにおける前記複数の部品側とは反対側から切り出すことにより前記少なくとも1つの部品を前記シートから離脱した状態にするピックアップ機構と、を有する、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  19.  前記部品供給部は、
     複数の部品それぞれの前記接合面側とは反対側が貼着されたシートを保持するシート保持部と、
     前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を、前記シートにおける前記複数の部品側とは反対側から切り出すことにより前記少なくとも1つの部品を前記シートから離脱した状態にするピックアップ機構と、
     前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持するベルヌーイチェックである第2部品保持部を有し、前記第2部品保持部が前記部品を保持した状態で、前記第2部品保持部を前記第1部品搬送部の受け取り位置まで搬送する第2部品搬送部と、
     前記第2部品保持部に保持された前記部品の前記接合面側とは反対側を保持して、前記接合面が前記第1方向を向く姿勢となるように反転させる反転部と、を有する、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  20.  前記部品供給部は、
     複数の部品それぞれの前記接合面側が貼着されたシートを前記接合面が前記第1方向側を向く姿勢で保持するシート保持部と、
     前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を、前記シートにおける前記複数の部品側から前記部品における前記接合面側とは反対側から保持する第3部品保持部を有し、前記第3部品保持部が前記部品を保持した状態で、前記第3部品保持部を前記第1部品搬送部の受け取り位置まで搬送する第3部品搬送部と、を有する、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  21.  前記シートは、粘着性を有する面で前記部品を保持する粘着シートである、
     請求項8から20のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  22.  前記粘着性を有する面は、紫外線が照射されると粘着力が低下する材料が塗布され、
     前記ピックアップ機構は、前記シートに貼着された前記複数の部品から、少なくとも1つの部品を切り出す際、前記シートに紫外線を照射する紫外線照射部を有する、
     請求項21に記載の部品実装システム。
  23.  前記シートは、粘着性を有する面で前記部品を保持する粘着シートであり、前記複数の部品が貼着される領域それぞれに孔が形成され、
     前記ピックアップ機構は、前記部品を支持する部品支持ピンを有し、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を、前記シートにおける前記複数の部品側とは反対側から前記部品支持ピンを前記孔に挿通させることにより、前記少なくとも1つの部品を前記シートから離脱した状態にする、
     請求項18に記載の部品実装システム。
  24.  前記部品支持ピンは、吸着ポストである、
     請求項23に記載の部品実装システム。
  25.  前記部品供給部は、
     凹部が設けられ且つ前記凹部の底部に前記凹部の内側に存在する気体を吸引するための吸引孔が設けられたヘッド本体および前記凹部の底部に突設された少なくとも1つの支持部を有するチップ供給ヘッドと、前記部品を供給する際、粘着性を有する面で前記部品を保持する粘着シートにおける前記部品に対応する位置に前記チップ供給ヘッドが接触した状態で、前記吸引孔を通じて前記凹部の内側の領域に存在する気体を吸引することにより前記粘着シートと前記部品との間の接触面積を減少させて前記粘着シートから前記部品を離脱させる吸引部と、を有する、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  26.  前記部品供給部は、
     前記部品が内側に配置される凹部が設けられたトレイ本体と、前記凹部の底部に突設された少なくとも1つの支持部と、前記凹部における前記底部から離間した位置に張架され前記底部とは反対側の粘着性を有する面で前記部品を保持する粘着シートと、前記凹部の底部と前記粘着シートとの間の領域に連通する連通孔と、を有するトレイと、
     前記粘着シートに前記部品が保持された状態で、前記部品を供給する際、前記連通孔を通じて前記領域に存在する気体を吸引することにより前記粘着シートと前記部品との間の接触面積を減少させることにより前記粘着シートから前記部品を離脱させる吸引部と、を有する、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  27.  前記部品供給部は、
     前記複数の部品それぞれが内側に配置される凹部が設けられたトレイ本体を有するトレイと、
     前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を、前記トレイにおける前記複数の部品側とは反対側から切り出すことにより前記少なくとも1つの部品を前記トレイから離脱した状態にするピックアップ機構と、を有し、
     前記トレイ本体には、前記凹部の底部から前記トレイ本体を厚さ方向に貫通する貫通孔が形成され、
     前記ピックアップ機構は、前記部品を支持する部品支持ピンを有し、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を、前記トレイにおける前記凹部側とは反対側から前記部品支持ピンを前記貫通孔に挿通させることにより、前記少なくとも1つの部品を前記トレイから離脱した状態にする、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  28.  前記部品供給部は、
     前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出すピックアップ機構と、
     前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持する第2部品保持部を有し、前記第2部品保持部が前記部品を保持した状態で、前記第2部品保持部を前記第1部品搬送部の受け取り位置まで搬送する第2部品搬送部と、を有する、
     請求項1から3のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  29.  前記第2部品保持部は、ベルヌーイチャックである、
     請求項28に記載の部品実装システム。
  30.  前記第2部品保持部は、保持する前記部品側に連通する流路が形成されたチャック本体と、前記流路内を負圧にする負圧発生部と、前記チャック本体を振動させることにより前記チャック本体と前記部品との間に超音波を発生させる超音波発生部と、を有する非接触チャックである、
     請求項28に記載の部品実装システム。
  31.  前記部品供給部は、更に、
     複数の部品それぞれの前記接合面側とは反対側が貼着されたシートを保持するシート保持部を有し、
     前記ピックアップ機構は、前記少なくとも1つの部品それぞれを、前記少なくとも1つの部品それぞれの接合面が鉛直方向に直交する面に水平な姿勢で支持するための3つ以上の部品支持ピンまたは複数の長尺の部品支持板を有し、前記部品支持ピンまたは前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第2部品保持部側へ突き出すことにより、前記少なくとも1つの部品を前記第2部品保持部へ移載する、
     請求項29または30に記載の部品実装システム。
  32.  前記部品供給部は、更に、
     前記シートにおける前記ピックアップ機構により切り出される前記少なくとも1つの部品以外の部品が貼着された部分を、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された側とは反対側から吸着する吸着ユニットを有し、
     前記ピックアップ機構は、前記吸着ユニットにより前記少なくとも1つの部品以外の部品が貼着された部分が吸着された状態で、前記部品支持ピンまたは前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第2部品保持部側へ突き出す、
     請求項31に記載の部品実装システム。
  33.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記3つ以上の部品支持ピンまたは前記複数の部品支持板を移動させることにより、前記少なくとも1つの部品を前記シートから剥離した後、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第2部品保持部側へ突き出す、
     請求項31または32に記載の部品実装システム。
  34.  前記ピックアップ機構は、前記複数の部品支持板を有し、前記複数の部品支持板の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の部品支持板を互いに近づく方向へ移動させることにより、前記シートを擦った後、前記複数の部品支持板を互いに離れる方向へ移動させてから、前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第2部品保持部側へ突き出す、
     請求項33に記載の部品実装システム。
  35.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンとともに、前記部品を前記シートから剥離し易くするための複数の剥離用ピンを有し、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の剥離用ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた後、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートから離脱させ、その後、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記部品支持ピンにより前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項31または32に記載の部品実装システム。
  36.  前記ピックアップ機構は、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す際に、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記少なくとも1つの部品側とは反対側から吸引する、
     請求項34または35に記載の部品実装システム。
  37.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンとともに、前記部品を前記シートから剥離し易くするための複数の剥離部材を有し、前記複数の剥離部材の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の剥離部材を互いに近づく方向へ移動させることにより、前記シートを擦った後、前記部品支持ピンにより前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記第1部品保持部側へ突き出す、
     請求項31または32に記載の部品実装システム。
  38.  前記部品供給部または前記第2部品搬送部は、
     前記少なくとも1つの部品の周部に鉛直下方側から掛止された状態と前記少なくとも1つの部品から離脱した状態とをとりうる複数のフックと、
     前記ピックアップ機構が、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出す際、前記複数のフックを前記少なくとも1つの部品の鉛直下方側の周部に鉛直下方側から掛止させて前記複数のフックに前記少なくとも1つの部品を保持させるフック駆動部と、を有する、
     請求項29から37のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  39.  前記ヘッドは、前記部品の中央部を押圧することにより、前記部品の前記接合面の中央部が前記接合面の周部に比べて前記実装面側に突出するように前記部品を撓ませる押圧機構を更に備える、
     請求項1から38のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  40.  前記基板の前記実装面と前記部品の前記接合面との少なくとも一方は、表面活性化されている、
     請求項1から39のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  41.  前記部品を洗浄する洗浄部を更に備え、
     前記第1部品搬送部は、前記部品供給部から供給される前記部品を保持する前記第1部品保持部を前記洗浄部に前記部品を受け渡す洗浄部受け渡し位置まで搬送するとともに、前記洗浄部受け渡し位置において受け取った前記部品を保持する前記第1部品保持部を前記ヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送する、
     請求項1から40のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  42.  前記第1部品搬送部は、
     長尺であり、前記部品供給部と前記ヘッドとの間に位置する他端部を基点として一端部が旋回するプレートと、
     前記プレートに設けられたアームと、を有し、
     前記第1部品保持部は、前記アームの先端部に設けられている、
     請求項1から40のいずれか1項に記載の部品実装システム。
  43.  前記部品を洗浄する洗浄部を更に備え、
     前記洗浄部は、前記プレートの前記基点から見て前記部品供給部および前記ヘッドとの間に配置されている、
     請求項42に記載の部品実装システム。
  44.  前記実装面へ実装できなかった部品を回収する部品回収部を更に備え、
     前記部品回収部は、前記プレートの前記基点から見て前記プレートの旋回方向における前記ヘッドの隣の位置に配置されている、
     請求項42または43に記載の部品実装システム。
  45.  基板に部品を実装する部品実装システムであって、
     前記部品を供給する部品供給部と、
     前記部品を洗浄する洗浄部と、
     先端部に前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を保持するヘッドと、
     前記基板を保持する基板保持部と、
     前記洗浄部により洗浄された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させて前記実装面に前記部品を実装するヘッド駆動部と、を備える、
     部品実装システム。
  46.  複数の部品それぞれの基板に接合される接合面側とは反対側に貼着されたシートを保持するシート保持部と、
     複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出すピックアップ機構と、を備える部品供給装置であって、
     前記ピックアップ機構は、3つ以上の部品支持ピンまたは複数の長尺の部品支持板を有し、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記3つ以上の部品支持ピンまたは前記複数の部品支持板を移動させることにより、前記少なくとも1つの部品を前記シートから剥離した後、前記3つ以上の部品支持ピンまたは複数の部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を突き出す、
     部品供給装置。
  47.  前記ピックアップ機構は、前記複数の部品支持板を有し、前記複数の部品支持板の先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の部品支持板を互いに近づく方向へ移動させることにより、前記シートを擦った後、前記複数の部品支持板を互いに離れる方向へ移動させてから、前記部品支持板により前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を突き出す、
     請求項46に記載の部品供給装置。
  48.  前記ピックアップ機構は、前記3つ以上の部品支持ピンとともに、前記部品を前記シートから剥離し易くするための複数の剥離用ピンを有し、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記複数の剥離用ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた後、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートから離脱させ、その後、前記3つ以上の部品支持ピンの先端部を前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分に押し付けた状態で、前記部品支持ピンにより前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を突き出す、
     請求項46に記載の部品供給装置。
  49.  前記ピックアップ機構は、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を突き出す際に、前記シートにおける前記少なくとも1つの部品が貼着された部分を前記少なくとも1つの部品側とは反対側から吸引する、
     請求項46から48のいずれか1項に記載の部品供給装置。
  50.  前記シートは、粘着性を有する面で前記部品を保持する粘着シートであり、
     前記粘着性を有する面は、紫外線が照射されると粘着力が低下する材料が塗布され、
     前記ピックアップ機構は、前記シートに貼着された前記複数の部品から、少なくとも1つの部品を切り出す際、前記シートに紫外線を照射する紫外線照射部を有する、
     請求項46から49のいずれか1項に記載の部品供給装置。
  51.  基板に部品を実装する部品実装方法であって、
     前記部品を供給するステップと、
     供給された前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側における第1部位とは異なる第2部位を保持する第1部品保持部により前記部品が保持された状態で、前記第1部品保持部をヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送するステップと、
     前記部品を保持した前記第1部品保持部が前記移載位置に位置した状態で、前記ヘッドの先端部に設けられ且つ前記部品の前記第1部位を支持する部品支持部を、前記第1部品保持部よりも前記ヘッドから前記基板を保持する基板保持部へ向かう第1方向側へ相対的に移動させることにより前記部品を前記第1部品保持部から前記ヘッドへ移載するステップと、
     前記ヘッドに移載された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させることにより前記実装面に前記部品を実装するステップと、を含む、
     部品実装方法。
  52.  前記部品を供給するステップにおいて、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品の前記接合面側とは反対側における第1部位とは異なる第3部位を保持して前記部品を切り出し、
     前記第1部品保持部を前記移載位置まで搬送するステップにおいて、前記第2部位を保持して前記部品を受け取る、
     請求項51に記載の部品実装方法。
  53.  基板に部品を実装する部品実装方法であって、
     前記部品を供給するステップと、
     供給される前記部品の前記基板の実装面に接合される接合面側を非接触で保持する第1部品保持部により前記部品が保持された状態で、前記第1部品保持部をヘッドに前記部品を移載する移載位置まで搬送するステップと、
     前記ヘッドに移載された前記部品が前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板を保持する基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記部品の接合面を接触させることにより前記実装面に前記部品を実装するステップと、を含む、
     部品実装方法。
  54.  前記部品を供給するステップにおいて、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出し、
     前記第1部品保持部とは、前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持するベルヌーイチャックである、
     請求項53に記載の部品実装方法。
  55.  前記部品を供給するステップにおいて、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出し、
     前記第1部品保持部は、保持する前記部品側に連通する流路が形成されたチャック本体と、前記流路内を負圧にする負圧発生部と、前記チャック本体を振動させることにより前記チャック本体と前記部品との間に超音波を発生させる超音波発生部と、を有し、前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持する非接触チャックである、
     請求項53に記載の部品実装方法。
  56.  前記部品を供給するステップにおいて、前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持する第2部品保持部により前記部品が保持された状態で、前記第2部品保持部を前記第1部品保持部により前記部品を受け取る位置まで搬送する、
     請求項53から55のいずれか1項に記載の部品実装方法。
  57.  前記第2部品保持部とは、前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持するベルヌーイチャックである、
     請求項56に記載の部品実装方法。
  58.  前記第2部品保持部は、保持する前記部品側に連通する流路が形成されたチャック本体と、前記流路内を負圧にする負圧発生部と、前記チャック本体を振動させることにより前記チャック本体と前記部品との間に超音波を発生させる超音波発生部と、を有し、前記少なくとも1つの部品を前記接合面に非接触な状態で保持する非接触チャックである、
     請求項56に記載の部品実装方法。
  59.  前記部品を供給するステップにおいて、複数の部品の中から、前記複数の部品のうちの少なくとも1つの部品を切り出し、
     切り出された前記少なくとも1つの部品を前記移載位置まで搬送する前に、前記部品を洗浄する洗浄部において前記部品を洗浄するステップと、
     前記洗浄部による洗浄後の前記部品を前記移載位置まで搬送するステップと、を更に含む、
     請求項51から58のいずれか1項に記載の部品実装方法。
  60.  基板に部品を実装する部品実装方法であって、
     前記部品を供給するステップと、
     前記部品を洗浄する洗浄部において前記部品を洗浄するステップと、
     前記洗浄部により洗浄された前記部品がヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを、前記ヘッドから前記基板を保持する基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の実装面に前記部品の接合面を接触させることにより前記実装面に前記部品を実装するステップと、を含む、
     部品実装方法。
  61.  前記複数の部品は、粘着性を有する面で前記部品を保持するシートに貼着され、
     前記粘着性を有する面は、紫外線が照射されると粘着力が低下する材料が塗布され、
     前記部品を供給するステップにおいて、前記シートに貼着された複数の部品の中から、少なくとも1つの部品を切り出す際、前記シートに紫外線を照射する、
     請求項51から60のいずれか1項に記載の部品実装方法。
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