KR101420331B1 - Brightness ununiformity measuring method for display panel - Google Patents
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- G09G2360/16—Calculation or use of calculated indices related to luminance levels in display data
Abstract
휘도의 불균일도를 수치로 표현할 수 있도록 개선된 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법이 개시된다. 개시된 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법은 패널의 측정 대상 영역에 대한 전체 계조 범위에 대해 1계조 변화율을 산출하는 설정단계와, 패널의 특정 계조에 대해 모든 픽셀의 휘도를 측정하고 그로부터 특정 계조에 대한 패널 전체의 휘도 평균값을 구하는 측정단계 및, 그 평균값으로부터 1계조 변화율을 초과하는 휘도를 나타내는 픽셀의 개수를 세고 그 개수로 휘도의 불균일도를 표현하는 수치화단계를 포함한다. 이러한 방식에 의하면 패널의 휘도 불균일도를 수치적으로 정확히 측정하고 표현할 수 있게 되므로, 불균일도의 정도를 객관적으로 평가하여 그에 상응하는 적절한 처리 기준을 세울 수 있게 된다. Disclosed is a non-uniformity measuring method of an improved display panel luminance so as to be able to express a degree of non-uniformity of luminance by numerical values. A method for measuring a non-uniformity of a display panel luminance includes a setting step of calculating a 1-gradation change rate with respect to a whole gradation range of a measurement target area of a panel, a measurement step of measuring brightness of all pixels with respect to a specific gradation of the panel, A measuring step of obtaining a luminance average value of the entire panel, and a quantifying step of counting the number of pixels showing luminance exceeding a gradation change rate from the average value and expressing the luminance non-uniformity in the number of pixels. According to this method, the luminance non-uniformity of the panel can be measured and expressed numerically, so that the degree of the non-uniformity can be objectively evaluated and the appropriate processing standard corresponding thereto can be established.
Description
본 발명은 디스플레이 패널의 휘도가 어느 정도 불균일한지를 측정하는 방법에 관한 것으로서, 더 상세하게는 휘도의 불균일도를 수치로 표현할 수 있도록 개선된 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a method for measuring how uneven the brightness of a display panel is, and more particularly to a method for measuring unevenness of a brightness of a display panel so as to express a degree of brightness unevenness by numerical values.
일반적으로 유기 발광 표시 장치와 같은 디스플레이 패널은 여러 가지 원인에 의해 휘도가 불균일해지는 현상이 생길 수 있다. In general, a display panel such as an organic light emitting display device may have uneven brightness due to various causes.
휘도가 불균일하다는 것은 패널의 모든 픽셀에 대해 동일한 패턴을 구동했을 때 그 모든 픽셀들이 동일한 휘도를 나타내지 않고 각 픽셀마다 다른 휘도가 발생되는 것을 의미한다. 즉, 모든 픽셀이 동일한 휘도를 나타내도록 구동시켜도 소재나 회로의 문제 또는 온도와 같은 주변 환경 요인 등에 의해 다른 휘도를 나타내는 픽셀들이 나오게 된다. When the same pattern is driven for all the pixels of the panel, it means that all the pixels do not show the same luminance and different brightness is generated for each pixel. That is, even if all of the pixels are driven to exhibit the same luminance, pixels showing different luminance are produced due to problems of materials and circuits, environmental factors such as temperature, and the like.
그러면, 사용자의 눈에는 패널의 휘도가 불균일하다고 느껴지게 되며, 이것이 심해지면 제품의 신뢰도가 떨어지는 원인이 된다. Then, the brightness of the panel is felt to be uneven in the eyes of the user, and if it becomes worse, the reliability of the product becomes poor.
그런데, 지금까지는 이와 같이 휘도가 불균일 정도를 육안으로 감지해서 심하고 경함을 표현하는 정도에 불과했고, 이를 수치적으로 나타내서 어느 정도로 불균일한 상태인지를 정확하게 표현하는 방법이 없었다. 즉, 제품의 신뢰도를 평가하는 기준이 될 수 있는 한 척도임에도 불구하고, 이 휘도의 불균일도를 정확히 측정하고 표현하는 방법이 없어서, 해당 제품의 휘도 불균일도에 상응하는 적절한 처리 기준을 세우기도 어려운 상황이다. However, until now, the degree of luminance unevenness was visually detected only by the naked eye to express severity and lightness, and there was no way to accurately express the degree of unevenness by expressing it numerically. That is, even though it is a scale that can be a criterion for evaluating the reliability of a product, there is no method of accurately measuring and expressing the unevenness of the luminance, so that it is difficult to set appropriate processing standards corresponding to luminance unevenness of the product It is a situation.
따라서, 휘도 불균일도의 정도에 따라 적절한 처리 대책을 세우기 위해서는 우선 휘도 불균일도를 수치적으로 정확히 측정하고 표현할 수 있는 방법이 요구되고 있다.
Therefore, in order to establish an appropriate processing countermeasure according to the degree of luminance non-uniformity, a method of accurately measuring and expressing the luminance non-uniformity numerically is required.
본 발명의 실시예는 디스플레이 패널의 휘도 불균일도를 수치적으로 정확히 측정하고 표현할 수 있는 방법을 제공한다.
Embodiments of the present invention provide a method for numerically accurately measuring and expressing luminance unevenness of a display panel.
본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법은, 패널의 측정 대상 영역에 대한 전체 계조 범위에 대해 1계조 변화율을 산출하는 설정단계; 상기 패널의 특정 계조에 대해 모든 픽셀의 휘도를 측정하고 그로부터 상기 특정 계조에 대한 패널 전체의 휘도 평균값을 구하는 측정단계; 및, 상기 평균값으로부터 상기 1계조 변화율을 초과하는 휘도를 나타내는 픽셀의 개수를 세고 그 개수로 휘도의 불균일도를 표현하는 수치화단계;를 포함한다.A method of measuring a luminance unevenness of a display panel according to an embodiment of the present invention includes: a setting step of calculating a 1-tone variation rate with respect to a whole tone range of a measurement target area of a panel; A measurement step of measuring the luminance of all the pixels with respect to the specific gradation of the panel and obtaining the average luminance value of the entire panel with respect to the specific gradation; And a quantization step of counting the number of pixels representing the luminance exceeding the 1 gradation change rate from the average value and expressing the nonuniformity of luminance by the number of pixels.
상기 설정단계는, 패널의 전체 계조 범위에 대한 휘도값을 측정하는 단계 및, 상기 전체 계조 범위에 대해 측정된 휘도값으로부터 1계조 변화율을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.The setting step may include a step of measuring a luminance value for the entire gradation range of the panel and a step of calculating a gradation change rate from the luminance value measured for the entire gradation range.
상기 1계조 변화율은 (각 계조에서의 1계조 차이에 따른 휘도값 변화량 / 각 계조) × 100 (%)로 산출할 수 있다.The 1 gradation change rate can be calculated as (a change in brightness value in accordance with the difference of one gradation in each gradation / each gradation) x 100 (%).
상기 측정단계에서 상기 픽셀의 휘도는 조도계와 카메라 중 어느 하나를 이용하여 측정할 수 있다. In the measuring step, the luminance of the pixel may be measured using either an illuminometer or a camera.
상기 측정 대상 영역은 상기 패널에 전체 픽셀들의 영역일 수도 있고, 또는 상기 패널의 일부 픽셀들의 영역일 수도 있다.
The measurement target area may be an area of all the pixels in the panel or an area of some pixels of the panel.
상기한 바와 같은 본 발명의 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법에 따르면, 패널의 휘도 불균일도를 수치적으로 정확히 측정하고 표현할 수 있게 되므로, 불균일도의 정도를 객관적으로 평가하여 그에 상응하는 적절한 처리 기준을 세울 수 있게 된다. 따라서 이 방법을 사용하면 휘도 불균일도가 심한 제품을 객관적 기준에 따라 분류해낼 수 있으므로, 결과적으로 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있다. According to the method of measuring the luminance unevenness of the display panel of the present invention as described above, since the luminance non-uniformity of the panel can be measured and expressed numerically, the degree of the non-uniformity is objectively evaluated, . Therefore, when this method is used, products with severe luminance unevenness can be classified according to objective criteria, and as a result, the reliability of the product can be improved.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법을 나타낸 플로우 챠트이다.
도 2는 휘도 불균일도 측정을 위해 패널의 측정 대상 영역을 선택하는 예를 보인 도면이다.
도 3a은 패널의 전체 계조 범위에 대한 휘도값을 측정하여 나타낸 그래프이다.
도 3b는 패널의 전체 계조 범위에 대해 측정된 휘도값으로부터 1계조 변화율을 산출한 결과를 나타낸 그래프이다.
도 4는 5개 계조 레벨에 대한 휘도 불균일도의 측정 결과를 도시한 그래프이다.1 is a flow chart showing a method of measuring the unevenness of luminance of a display panel according to an embodiment of the present invention.
2 is a diagram showing an example of selecting a measurement target area of a panel for measurement of luminance unevenness.
3A is a graph showing a luminance value measured for the entire gradation range of the panel.
FIG. 3B is a graph showing the result of calculating the 1-gradation change rate from the luminance value measured for the entire gradation range of the panel.
4 is a graph showing the measurement results of luminance unevenness for five gradation levels.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도면상의 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다. 하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. Like reference numbers in the drawings denote like elements. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법을 나타낸 플로우 챠트이고, 도 2는 휘도 불균일도 측정을 위해 패널의 측정 대상 영역을 선택하는 예를 보인 도면이다. FIG. 1 is a flow chart illustrating a method of measuring a luminance unevenness of a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating an example of selecting a measurement target region of a panel for luminance unevenness measurement.
먼저 도 1을 참조하면, 본 발명의 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법은, 1계조 변화율을 산출하여 설정단계(S1~S3)와, 특정 계조에 대한 패널 전체의 휘도 평균값을 구하는 측정단계(S4) 및, 상기 평균값으로부터 상기 1계조 변화율을 초과하는 휘도를 나타내는 픽셀의 개수를 세고 그 개수로 휘도의 불균일도를 표현하는 수치화단계(S5~S6)로 진행된다. First, referring to FIG. 1, the method for measuring the unevenness of the brightness of the display panel according to the present invention comprises a setting step S1 to S3 of calculating a 1 gradation change rate and a measurement step S4 (S5 to S6) for counting the number of pixels representing the luminance exceeding the 1 gradation change rate from the average value and expressing the unevenness of the luminance by the number of pixels.
상기 설정단계(S1~S3)에서는 우선 측정 대상 영역을 설정한다(S1). 즉, 패널의 전체 픽셀 영역에 대해 계조를 측정할 것인지, 아니면 일부 픽셀 영역에 대해서만 계조를 측정할 것인지를 선택하는 것으로, 예를 들어 도 2에 도시된 바와 같이 패널(10)의 전체 픽셀 영역(A1)에 대해 계조를 측정할지, 일부 픽셀 영역(A2)만 계조를 측정할지를 결정하며, 이후의 측정은 그 선택된 영역에 대해서 수행하게 된다. In the setting steps S1 to S3, a measurement target area is first set (S1). That is, by selecting whether to measure the gradation for the entire pixel area of the panel or the gradation for only some pixel areas, it is possible to select, for example, the entire pixel area of the panel 10 A1, or only the pixel area A2 is to be measured, and the subsequent measurement is performed on the selected area.
그래서 측정 대상 영역이 결정되면, 그 선택된 측정 대상 영역에 대해 전체 계조 범위에 걸쳐서 휘도값을 측정한다. 예컨대, 측정 대상 영역의 모든 픽셀들의 계조 범위가 0~255 레벨까지라면, 측정 대상 영역 전체 픽셀들을 같은 계조로 발광시키면서 전체적인 패널의 휘도값의 측정한다. 여기서 설명하는 모든 휘도값의 측정에는 조도계가 사용될 수도 있고 카메라가 사용될 수도 있다. Thus, when the measurement object region is determined, the luminance value is measured over the entire gradation range with respect to the selected measurement object region. For example, if the gradation range of all the pixels in the measurement target area is from 0 to 255, the brightness of the entire panel is measured while emitting all pixels of the measurement target area at the same gradation level. For the measurement of all luminance values described here, an illuminometer may be used or a camera may be used.
그러면, 도 3a의 그래프에 도시된 바와 같이 전체 계조 범위에 걸친 측정 대상 영역의 휘도값이 구해질 수 있다. Then, as shown in the graph of Fig. 3A, the luminance value of the measurement object region over the entire gradation range can be obtained.
그리고, 이렇게 전체 계조 범위의 휘도값이 구해지면, 그로부터 1계조 변화율을 산출할 수 있다. 1계조 변화율은 어느 한 계조에서 1계조를 증감시킬 때 휘도값이 변화하는 비율을 의미하는 것으로, 수식으로 표현하면 (각 계조에서의 1계조 차이에 따른 휘도값 변화량 / 각 계조) × 100 (%)가 된다. 이것을 그래프로 표현하면 도 3b에 도시된 바와 같이 나타낼 수 있으며, 상기 전체 계조 범위의 휘도값으로부터 바로 산출해낼 수 있다(S3). When the luminance value of the entire gradation range is obtained in this manner, the 1-gradation change rate can be calculated therefrom. The 1 gradation change rate means a rate at which the brightness value changes when one gradation is increased or decreased in a certain gradation. Expressing it as a formula (brightness value change amount / each gradation according to one gradation difference in each gradation) x 100 (% ). This can be expressed as a graph as shown in FIG. 3B, and it can be calculated directly from the luminance value of the entire gradation range (S3).
이렇게 각 계조에 해당하는 1계조 변화율이 산출되면, 그 값들을 휘도 불균일도를 수치화하는데 사용할 수 있도록 컨트롤러(미도시)에 설정해둔다. Once the 1 gradation change rate corresponding to each gradation is calculated, the values are set in a controller (not shown) so as to be used for digitizing the brightness non-uniformity.
이와 같은 과정을 통해 1계조 변화율이 설정되면, 그 다음에는 실제로 패널의 측정 대상 영역에 대한 휘도 불균일도를 수치화하여 나타내는 작업을 진행한다. After the 1 gradation change rate is set through the above process, the luminance unevenness degree of the panel actually measured in the panel is numerically expressed and then the operation is performed.
먼저, 어느 한 계조를 정해서 그 특정 계조로 패널을 발광시켰을 때 측정 대상 영역의 휘도 평균값을 측정한다(S4). 이때에도 전술한 바와 마찬가지로 조도계나 카메라로 휘도를 측정할 수 있으며, 측정 대상 영역 내의 모든 픽셀들에서 나오는 휘도를 측정하여 그 평균값을 계산한다. First, when a certain gradation is set and the panel is illuminated with the specified gradation, the average luminance value of the measurement target region is measured (S4). At this time as well, the luminance can be measured by an illuminometer or a camera, and the luminance of all the pixels in the measurement area is measured and the average value is calculated.
그 다음에는 앞선 설정단계(S1~S3)에서 설정해둔 1계조 변화율값들 중 상기 S4단계에서 측정한 계조에 대응하는 1계조 변화율을 대입해서, 상기 평균값으로부터 그 1계조 변화율을 초과하는 휘도를 보인 픽셀들의 개수를 카운트한다(S5). 예를 들어, S4 단계에서 30레벨의 계조로 측정 대상 영역을 발광시킨 결과 휘도 평균값이 4cd이고, 그 30레벨에서의 1계조 변화율이 6%라면, S5단계에서는 4cd-3% ~ 4cd + 3% 의 범위를 초과하는 픽셀들의 개수를 카운트하는 것이다. Subsequently, a 1 gradation change rate corresponding to the gradation measured in the step S4 is substituted for the 1 gradation change rate values set in the preceding setting steps S1 through S3, and the brightness exceeding the 1 gradation change rate is shown from the average value The number of pixels is counted (S5). For example, if the luminance average value is 4 cd and the 1 gradation change rate at the 30 level is 6% as a result of emitting the measurement target area at the gradation of 30 levels in step S4, 4 cd-3% to 4 cd + 3% Lt; RTI ID = 0.0 > of < / RTI >
그렇게 해서 카운트된 픽셀의 개수가 400,000개라면, 해당 패널의 휘도 불균일도를 400,000으로 수치화하여 표시한다(S6). 그러니까 수치가 클수록 불균일도가 큰 패널이 되는 것이고, 수치가 작을수록 불균일도가 낮은 우수한 패널이 되는 것이다. If the number of pixels counted is 400,000, the luminance unevenness of the corresponding panel is displayed in numerical value of 400,000 (S6). Thus, the larger the value, the more uneven the panel becomes, and the smaller the value, the better the panel becomes.
이러한 방식을 적용하여 실제로 계조 30레벨에서의 휘도 불균일도를 측정해보았다. By applying this method, the luminance non-uniformity at the gradation 30 level was actually measured.
패널의 전체 픽셀 영역을 측정 대상 영역으로 선택하여 휘도 불균일도를 측정해보았다. 픽셀들의 휘도값은 카메라로 촬상하여 측정하였으며, 이때 측정된 휘도 평균값은 4.14cd였다. 그리고, 계조 30레벨에서 1계조 변화율은 7.19%에 해당하여, 4.14cd±7.19/2(%)의 범위를 초과하는 픽셀의 개수를 카운트하였다. 그 결과 카운트된 픽셀의 개수는 442,755가 나왔고, 따라서 해다 패널은 휘도 불균일도가 442,755인 제품이 된다고 수치화하여 표시할 수 있다. The luminance unevenness was measured by selecting the entire pixel area of the panel as the measurement target area. The luminance values of the pixels were measured by imaging with a camera, and the average value of the measured luminance was 4.14 cd. In the gradation 30 level, the 1 gradation change rate corresponds to 7.19%, and the number of pixels exceeding the range of 4.14 cd ± 7.19 / 2 (%) was counted. As a result, the number of counted pixels is 442,755, and thus the panel can be expressed numerically as a product having luminance unevenness of 442,755.
물론, 전술한 바와 같이 패널의 일부 픽셀 영역만 선택하여 측정을 수행할 수도 있으며, 측정 영역 선택 기준만 표시해주면 모든 평판 표시 장치에 대한 객관적인 휘도 불균일도의 지표로서 충분히 활용될 수 있다. Of course, as described above, it is possible to perform measurement by selecting only a part of the pixel area of the panel, and if only the measurement area selection criterion is displayed, it can be sufficiently utilized as an indicator of objective luminance unevenness for all the flat panel display devices.
그리고, 휘도 불균일도를 어느 한 계조 레벨에 대해서만 측정할 경우 데이터의 신뢰도가 낮아질 수도 있으므로, 도 4에 예시된 바와 같이 10레벨씩의 간격을 두고 5개 정도의 레벨에 대한 측정을 각각 수행하여 그 결과로 휘도 불균일도를 나타내게 할 수도 있다. Since the reliability of the data may be lowered when the luminance unevenness is measured only for a certain gradation level, measurements for about five levels are performed at intervals of 10 levels as illustrated in FIG. 4, As a result, the luminance unevenness may be displayed.
그러므로, 이와 같은 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법을 이용하면, 패널의 휘도 불균일도를 수치적으로 정확히 측정하고 표현할 수 있게 되므로, 불균일도의 정도를 객관적으로 평가하여 그에 상응하는 적절한 처리 기준을 세울 수 있게 된다. 따라서 이 방법을 사용하면 휘도 불균일도가 심한 제품을 객관적 기준에 따라 분류해낼 수 있으므로, 결과적으로 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있다. Therefore, by using the method of measuring the unevenness of the brightness of the display panel, it is possible to numerically accurately measure and express the brightness unevenness of the panel, so that the degree of the unevenness can be objectively evaluated, . Therefore, when this method is used, products with severe luminance unevenness can be classified according to objective criteria, and as a result, the reliability of the product can be improved.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.While the present invention has been described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the invention. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.
10...패널 A1,A2...측정 대상 영역10 ... Panel A1, A2 ... Measurement object area
Claims (6)
상기 패널의 측정 대상 영역에서의 특정 계조에 대해 모든 픽셀의 휘도를 측정하고 그로부터 상기 특정 계조에 대한 상기 패널의 측정 대상 영역에서의 휘도 평균값을 구하는 측정단계; 및,
상기 평균값으로부터 상기 1계조 변화율의 범위를 기준으로 삼아 그 범위를 벗어나는 휘도를 나타내는 픽셀의 개수를 세고 그 개수로 휘도의 불균일도를 표현하는 수치화단계;를 포함하는 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법.
A setting step of measuring a luminance value with respect to the entire gradation range for the measurement target area of the panel and calculating a 1 gradation change rate from the measured luminance value;
A measurement step of measuring the luminance of all the pixels with respect to a specific gradation in the measurement target area of the panel and obtaining a luminance average value in the measurement target area of the panel with respect to the specific gradation; And
And a quantization step of counting the number of pixels that exhibit brightness deviating from the range based on the average value and using the range of the 1-gradation change rate as a reference, and expressing the unevenness of brightness by the number of pixels.
상기 1계조 변화율은 ((각 계조보다 1계조 높은 계조의 휘도값) - (각 계조 휘도값)) / 각 계조의 휘도값) × 100 (%) 로 산출하는 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법.
The method according to claim 1,
Wherein the 1 gradation change rate is calculated by ((luminance value of a gradation higher by one gradation than each gradation) - (each gradation luminance value) / luminance value of each gradation) x 100 (%).
상기 측정단계에서 상기 픽셀의 휘도는 조도계와 카메라 중 어느 하나를 이용하여 측정하는 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법.
The method according to claim 1,
Wherein the brightness of the pixel in the measuring step is measured using one of an illuminometer and a camera.
상기 측정 대상 영역은 상기 패널에 전체 픽셀들의 영역인 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법.
5. The method of claim 4,
Wherein the measurement object region is a region of all the pixels on the panel.
상기 측정 대상 영역은 상기 패널의 일부 픽셀들의 영역인 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법.5. The method of claim 4,
Wherein the measurement object region is an area of some pixels of the panel.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020120103611A KR101420331B1 (en) | 2012-09-18 | 2012-09-18 | Brightness ununiformity measuring method for display panel |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020120103611A KR101420331B1 (en) | 2012-09-18 | 2012-09-18 | Brightness ununiformity measuring method for display panel |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20140036907A KR20140036907A (en) | 2014-03-26 |
| KR101420331B1 true KR101420331B1 (en) | 2014-07-16 |
Family
ID=50646061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020120103611A KR101420331B1 (en) | 2012-09-18 | 2012-09-18 | Brightness ununiformity measuring method for display panel |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101420331B1 (en) |
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