KR100717271B1 - Aligning apparatus and method of the same - Google Patents
Aligning apparatus and method of the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR100717271B1 KR100717271B1 KR1020050105886A KR20050105886A KR100717271B1 KR 100717271 B1 KR100717271 B1 KR 100717271B1 KR 1020050105886 A KR1020050105886 A KR 1020050105886A KR 20050105886 A KR20050105886 A KR 20050105886A KR 100717271 B1 KR100717271 B1 KR 100717271B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- camera
- substrate
- specimen
- transparent
- printhead
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/544—Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2209/00—Apparatus and processes for manufacture of discharge tubes
- H01J2209/01—Generalised techniques
- H01J2209/012—Coating
- H01J2209/015—Machines therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54426—Marks applied to semiconductor devices or parts for alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54453—Marks applied to semiconductor devices or parts for use prior to dicing
- H01L2223/5446—Located in scribe lines
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
- H01L2223/5448—Located on chip prior to dicing and remaining on chip after dicing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/975—Substrate or mask aligning feature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Ink Jet (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Abstract
본 발명은, 프린트작업을 수행하는 복수의 노즐을 갖는 프린트헤드를 정렬하기 위한 얼라인장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 얼라인장치는 상기 프린트헤드를 이송가능하게 지지하는 헤드이송부와; 상기 프린트헤드 하부에 투명하게 마련되며, 촬상가능한 소정의 시편마크를 갖는 투명시편과; 상기 투명시편의 하부에 마련되어 상기 투명시편의 시편마크를 촬영하는 제1카메라와; 상기 프린트헤드에 결합되어 상기 투명시편의 시편마크를 촬영하는 제2카메라와; 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라가 촬영한 영상을 비교하여 상기 제2카메라를 제1카메라에 정렬하도록 상기 헤드이송부를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 기판과 프린트헤드의 정렬이 비교적 정확하며, 간편하게 될 수 있는 얼라인장치 및 그 방법이 제공될 수 있다. The present invention relates to an alignment apparatus and a method for aligning a printhead having a plurality of nozzles for performing a print job, the alignment apparatus according to the present invention includes a head transfer unit for transportably supporting the printhead; ; A transparent specimen provided below the print head and having a predetermined specimen mark that can be picked up; A first camera provided below the transparent specimen and photographing a specimen mark of the transparent specimen; A second camera coupled to the print head to photograph a specimen mark of the transparent specimen; And a controller configured to control the head transfer unit to align the second camera with the first camera by comparing the images photographed by the first camera and the second camera. Thereby, there can be provided an alignment apparatus and method thereof in which the alignment of the substrate and the printhead is relatively accurate and can be simplified.
Description
도 1은 본 발명에 따른 얼라인장치의 얼라인과정을 나타낸 개략적인 사시도,1 is a schematic perspective view showing an alignment process of an alignment apparatus according to the present invention;
도 2는 시편마크를 제1 및 제2카메라가 정렬 전, 후 촬영한 영상을 나타낸 비교도,2 is a comparison diagram showing an image of the specimen marks taken before and after the first and second cameras are aligned;
도 3은 기준노즐까지 거리를 구하는 과정을 나타낸 측면도,3 is a side view showing a process of obtaining a distance to a reference nozzle;
도 4는 얼라인장치의 제어블록도,4 is a control block diagram of an alignment device;
도 5는 카메라가 촬영한 노즐 및 기판의 영상과 이를 조합한 조합도,5 is a combination diagram combining the image of the nozzle and the substrate photographed by the camera,
도 6은 얼라인과정을 나타낸 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating an alignment process.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10 : 얼라인장치 20 : 프린트헤드10: alignment device 20: printhead
21 : 노즐 23 : 기준노즐21: nozzle 23: reference nozzle
25 : 헤드이송부 30 : 투명시편25: head transfer unit 30: transparent specimen
31 : 시편마크 40 : 제1카메라31: Psalm Mark 40: First Camera
50 : 제2카메라 60 : 기판50: second camera 60: substrate
61 : 기판식별마크 63 : 픽셀61
65 : 기준픽셀 67 : 픽셀그리드65: reference pixel 67: pixel grid
70 : 스테이지 80 : 제어부70: stage 80: control unit
81 : 입력부 90 : 디스플레이부81: input unit 90: display unit
본 발명은 얼라인장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 기판과 기판에 프린트작업을 수행하는 프린트헤드를 정렬하기 위한 얼라인장치 및 그 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an alignment apparatus and a method thereof, and more particularly, to an alignment apparatus and method for aligning a substrate and a printhead for performing a print operation on the substrate.
일반적으로, TFT-LCD(Thin Film Transistor - Liquid Crystal Display) 및 유기ELD(Electro Luminescence Display)를 갖는 평면디스플레이장치에는 화상을 형성하는 디스플레이패널이 장착된다.In general, a flat panel display device having a TFT-LCD (Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display) and an organic ELD (Electro Luminescence Display) is equipped with a display panel for forming an image.
이러한 디스플레이패널의 제조과정은 디스플레이패널용 기판에 칼라필터(Color Filter), 소정의 패턴 등을 형성하는 프린트공정을 포함한다. 이러한 프린트공정에는 스퀴즈로 잉크 등의 매체를 스텐실 스크린을 통과시켜 패널표면 상에 패턴을 전사하는 스크린 프린트법(Screen Printing)과, 어떤 특정한 화학약품(Photo Resist)이 빛을 받으면 화학반응을 일으켜 성질이 변하는 원리를 이용하여 얻고자 하는 패턴의 마스크(Mask)를 사용하여 빛을 선택적으로 포토레지스트에 조사하여 마스크와 동일한 패턴을 형성시키는 포토리소그래피(Photolithography)방식이 있다. 그러나, 최근에는 프린트공정에 장치가 집약적이며, 비교적 저비용이 소요되는 잉크젯(Ink Jet)방식을 사용하고 있다. 잉크젯방식은 디스플레이패널용 기판에 형성된 다수의 픽셀(Pixel)에 오리피스(Orifice)를 갖는 프린트헤드(Print Head)를 이용하여 잉크를 분사한 후 이를 경화시킨다. The manufacturing process of such a display panel includes a printing process of forming a color filter, a predetermined pattern, and the like on a display panel substrate. This printing process involves screen printing, which transfers a pattern on the panel surface by passing a medium such as ink through a stencil screen with a squeeze, and a chemical reaction occurs when a specific chemical (Photo Resist) receives light. There is a photolithography method in which light is selectively irradiated to a photoresist using a mask of a pattern to be obtained using this changing principle to form the same pattern as the mask. However, in recent years, an apparatus is intensive in a printing process, and an ink jet method which uses a relatively low cost is used. The inkjet method sprays ink using a print head having an orifice on a plurality of pixels formed on a substrate for a display panel, and then cures the ink.
이러한 잉크젯방식을 이용한 프린트공정에는 잉크가 기판의 픽셀(Pixel)에 정위치하도록 프린트헤드를 기판에 대해 정렬하는 얼라인장치나, 잉크가 기판의 픽셀(Pixel)에 정위치 했는지를 검사하는 검사장치 등이 포함된다. 프린트헤드와 기판을 정렬 및 정렬을 검사하는 과정에서는 프린트헤드와 기판의 픽셀의 정렬이 잘 되었는지를 확인하기 위하여 소정의 시험용 기판에 잉크를 분사하는 젯팅(Jetting)을 하여 프린트헤드와 기판의 정렬이 잘 되었는지가 판단된다. In the printing process using the inkjet method, an alignment apparatus for aligning the printhead with respect to the substrate such that the ink is positioned at the pixel of the substrate, or an inspection apparatus for inspecting whether the ink is positioned at the pixel of the substrate. Etc. are included. In the process of aligning and aligning the printhead and the substrate, jetting of ink to a predetermined test substrate is performed to confirm the alignment of the pixel of the printhead and the substrate. It is judged that it went well.
이러한 디스플레이패널 제작을 위한 잉크젯 얼라인장치가 한국 공개특허공보 제2003-0080380(2003.10.17)호에 개시되어 있다. 종래기술은 다수의 오리피스 얼라인(Orifice Align)이 가능한 헤드와, 상기 헤드를 통해 인쇄하고자 하는 기판의 패턴의 픽셀피치(Pitch)에 맞게 그려진 그리드(Grid)에 각각의 오리피스가 위치할 수 있도록 조정하는 다수의 CCD(Character Coupled Device)카메라로 구성된다.An inkjet alignment apparatus for manufacturing such a display panel is disclosed in Korean Laid-Open Patent Publication No. 2003-0080380 (2003.10.17). The prior art adjusts each orifice to be positioned in a grid capable of orifice alignment and through a grid drawn to the pixel pitch of the pattern of the substrate to be printed through the head. It consists of a plurality of CCD (Character Coupled Device) cameras.
이러한 구성에 의해 종래기술에서는 CCD카메라가 투명한 기판을 지지하는 스테이지의 하측에 마련되어 상측으로 촬영함으로서 투명한 기판을 투과하여 오리피스의 위치를 촬영할 수 있다. 이에, 이러한 CCD카메라에 의해 촬영된 영상을 통해 오리피스를 기판의 패턴의 픽셀피치(Pitch)에 맞게 그려진 그리드(Grid)에 정렬할 수 있다.With this configuration, in the prior art, a CCD camera is provided below the stage supporting the transparent substrate and photographed upward, so that the position of the orifice can be imaged through the transparent substrate. Thus, the orifice may be aligned with a grid drawn according to the pixel pitch of the pattern of the substrate through the image photographed by the CCD camera.
그런데, 이러한 종래기술은 젯팅(Jetting)을 하는 과정에 젯팅에 따른 잉크와 유리 등의 비용 및 시간이 많이 소요되어 경제적인 비용이 증가할 우려가 있다. 또한, CCD카메라를 많이 사용하여 구조가 복잡하며 검출, 제어 등에도 시간이 대 체로 많이 소요될 우려가 있다. By the way, such a prior art has a high cost and time, such as ink and glass due to jetting in the process of jetting (Jetting) there is a fear that the economic cost increases. In addition, the structure is complicated by using a lot of CCD camera, there is a fear that a large amount of time is also required for detection, control and the like.
또한, 이러한 종래기술은 기판을 지지하는 스테이지의 하측에 마련되어 스테이지에 형성된 구멍을 통해 기판 및 오리피스를 촬영하도록 되어있어 카메라장착이 용이하지 않으며 구성이 복잡하다. 또한, 종래기술은 투명한 기판에만 사용가능하므로 불투명한 기판의 경우에는 사용이 불가능하다.In addition, the prior art is provided to the lower side of the stage for supporting the substrate to shoot the substrate and the orifice through the hole formed in the stage is not easy to mount the camera and complicated configuration. In addition, the prior art can only be used for transparent substrates, so in the case of an opaque substrate it is impossible to use.
또한, 이러한 종래의 디스플레이패널 제작용 얼라인장치는 투명한 기판을 투과하여 오리피스를 촬영하게 되는데, 기판을 투과하여 촬영하는 과정에서 노이즈나 굴절 등에 의해 오리피스의 영상이 왜곡될 수 있으며, 이러한 왜곡된 영상으로는 정밀 제어가 어려울 수 있다.In addition, the conventional alignment device for manufacturing a display panel is to shoot the orifice through the transparent substrate, the image of the orifice may be distorted by noise or refraction in the process of shooting through the substrate, such a distorted image Precise control can be difficult.
따라서 본 발명의 목적은, 기판과 프린트헤드의 정렬이 비교적 정확하며, 간편하게 될 수 있는 얼라인장치 및 그 방법을 제공하는 것이다.It is therefore an object of the present invention to provide an aligning apparatus and method, in which the alignment of the substrate with the printhead is relatively accurate and can be simplified.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 프린트작업을 수행하는 복수의 노즐을 갖는 프린트헤드를 정렬하기 위한 얼라인장치에 있어서, 상기 프린트헤드를 이송가능하게 지지하는 헤드이송부와; 상기 프린트헤드 하부에 투명하게 마련되며, 촬상가능한 소정의 시편마크를 갖는 투명시편과; 상기 투명시편의 하부에 마련되어 상기 투명시편의 시편마크를 촬영하는 제1카메라와; 상기 프린트헤드에 결합되어 상기 투명시편의 시편마크를 촬영하는 제2카메라와; 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라가 촬영한 영상을 비교하여 상기 제2카메라를 제1카메라에 정렬하도록 상기 헤드이송 부를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼라인장치에 의해 달성된다.According to the present invention, there is provided an alignment apparatus for aligning a print head having a plurality of nozzles for performing a print job, the alignment device comprising: a head conveying portion for transportably supporting the print head; A transparent specimen provided below the print head and having a predetermined specimen mark that can be picked up; A first camera provided below the transparent specimen and photographing a specimen mark of the transparent specimen; A second camera coupled to the print head to photograph a specimen mark of the transparent specimen; And a control unit for controlling the head transfer unit to align the second camera with the first camera by comparing the images photographed by the first camera and the second camera.
여기서, 상기 제어부는 제2카메라가 제1카메라와 정렬된 상태에서 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라가 촬영한 상기 투명시편의 시편마크 영상을 비교하여 제1카메라에 대하여 제2카메라의 정렬여부를 다시 판단하는 것을 더 포함하여 보다 정확하게 제1 및 제2카메라를 정렬시킬 수 있다.Here, the controller compares the specimen mark images of the transparent specimen photographed by the first camera and the second camera while the second camera is aligned with the first camera, and whether the second camera is aligned with respect to the first camera. The method may further include judging again to align the first and second cameras more accurately.
또한, 상기 제어부는 상기 제1카메라가 상기 제2카메라로부터 가까운 상기 프린트헤드의 기준노즐을 촬영한 영상에 기초하여 상기 제2카메라로부터 상기 프린트헤드의 기준노즐까지의 거리를 산출하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하여 기준노즐의 위치를 간편하게 산출할 수 있다.The control unit may further include calculating a distance from the second camera to the reference nozzle of the printhead based on an image of the first camera photographing the reference nozzle of the printhead close to the second camera. It is possible to easily calculate the position of the reference nozzle, characterized in that.
또한, 기판식별마크 및 등간격으로 형성된 다수의 픽셀을 갖는 기판을 이송가능하게 지지하는 스테이지와; 상기 제어부는 상기 투명기판에서 상기 기판으로 이송된 상기 제2카메라가 촬영한 상기 기판의 기판식별마크에 기초하여 상기 기판의 기준픽셀을 찾는 것을 더 포함하여 기판의 기준픽셀을 간편하게 찾을 수 있다. In addition, a stage for transportably supporting a substrate having a plurality of pixels formed with a substrate identification mark and equal intervals; The controller may further find a reference pixel of the substrate, further comprising finding a reference pixel of the substrate based on the substrate identification mark of the substrate photographed by the second camera transferred from the transparent substrate to the substrate.
또한, 상기 제어부는 상기 제2카메라로부터 상기 기준노즐까지 산출된 거리에 기초하여 상기 기판의 기준픽셀에 상기 프린트헤드의 기준노즐이 대응되도록 상기 헤드이송부 및 상기 스테이지 중 적어도 하나를 제어하는 것을 더 포함하여 간편하게 프린트헤드와 픽셀을 정위치에 정렬시킬 수 있다.The control unit may further include controlling at least one of the head transfer unit and the stage such that a reference nozzle of the print head corresponds to a reference pixel of the substrate based on a distance calculated from the second camera to the reference nozzle. You can easily align the printheads and pixels in place.
한편, 본 발명의 목적은, 프린트작업을 수행하는 복수의 노즐을 갖는 프린트헤드를 정렬하기 위한 얼라인방법에 있어서, 소정의 시편마크를 갖는 투명시편의 하부에 마련되어 상기 투명시편의 시편마크를 제1카메라가 촬영하는 단계와; 상기 투명시편의 상부에 마련된 상기 프린트헤드에 결합되어 상기 투명시편의 시편마크를 제2카메라가 촬영하는 단계와; 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라가 촬영한 영상을 비교하여 상기 제2카메라를 제1카메라에 정렬하도록 상기 프린트헤드를 이송가능하게 지지하는 헤드이송부를 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼라인방법에 의해 달성된다.On the other hand, an object of the present invention, in the alignment method for aligning the printhead having a plurality of nozzles for performing a print operation, provided in the lower portion of the transparent specimen having a predetermined specimen mark to remove the specimen mark of the transparent specimen Photographing by the camera; Photographing, by a second camera, a specimen mark of the transparent specimen coupled to the print head provided on an upper portion of the transparent specimen; And comparing the images photographed by the first camera and the second camera, and controlling a head transfer unit for supporting the printhead to align the second camera with the first camera. It is achieved by the printing method.
여기서, 제2카메라가 제1카메라와 정렬된 상태에서 상기 제1카메라 및 상기 제2카메라가 촬영한 상기 투명시편의 시편마크 영상을 비교하여 제1카메라에 대하여 제2카메라의 정렬여부를 다시 판단하는 단계를 포함하여 보다 정확하게 제1 및 제2카메라를 정렬시킬 수 있다.Here, by comparing the specimen mark images of the transparent specimen taken by the first camera and the second camera while the second camera is aligned with the first camera, it is determined whether the second camera is aligned with respect to the first camera. It may include the step of aligning the first and second camera more accurately.
또한, 상기 제1카메라가 상기 제2카메라로부터 가까운 상기 프린트헤드의 기준노즐을 순차적으로 촬영한 영상에 기초하여 상기 제2카메라로부터 상기 프린트헤드의 기준노즐까지의 거리를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하여 기준노즐의 위치를 간편하게 산출할 수 있다.The method may further include calculating, by the first camera, a distance from the second camera to the reference nozzle of the printhead based on an image of sequentially photographing the reference nozzle of the printhead close to the second camera. As a feature, the position of the reference nozzle can be easily calculated.
또한, 기판식별마크 및 등간격으로 형성된 다수의 픽셀을 갖는 기판을 스테이지가 이송가능하게 지지하는 단계와; 상기 투명기판에서 상기 기판으로 이송된 상기 제2카메라가 촬영한 상기 기판의 기판식별마크에 기초하여 상기 기판의 기준픽셀을 찾는 단계를 포함하여 기준픽셀을 간편하게 찾을 수 있다.The method may further include: supporting, by a stage, a substrate having a substrate identification mark and a plurality of pixels formed at equal intervals; The reference pixel may be easily found, including the step of finding the reference pixel of the substrate based on the substrate identification mark of the substrate photographed by the second camera transferred from the transparent substrate to the substrate.
또한, 상기 제2카메라로부터 상기 기준노즐까지 산출된 거리에 기초하여 상기 기판의 기준픽셀에 상기 프린트헤드의 기준노즐이 정렬되도록 상기 헤드이송부 및 상기 스테이지 중 어느 하나를 제어하는 단계를 포함하여 간편하게 프린트헤드와 픽셀을 정위치에 정렬시킬 수 있다.And controlling one of the head transfer unit and the stage so that the reference nozzle of the print head is aligned with the reference pixel of the substrate based on the distance calculated from the second camera to the reference nozzle. Heads and pixels can be aligned in place.
이하에서, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 얼라인장치(10)를 설명한다. 본 발명은 다양한 제조공정의 얼라인장치(10)에 적용될 수 있다. 그러나, 실시예는 설명의 편의를 위하여 디스플레이장치에 사용되는 디스플레이패널의 프린트공정에 사용되는 경우를 예를 들어 설명한다. 이러한 프린트공정은 기판(60)에 칼라필터(Color Filter), 패턴 등을 형성하는 과정으로 잉크젯방식으로 구성된다. Hereinafter, the
얼라인장치(10)는, 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 프린트작업을 수행하는 복수의 노즐(21)을 갖는 프린트헤드(20)와; 프린트헤드(20)를 이송가능하게 지지하는 헤드이송부(25)와; 소정의 시편마크(31)를 갖는 투명시편(30)과; 투명시편(30)의 하부에 마련되어 투명시편(30)의 시편마크(31)를 촬영하는 제1카메라(40)와; 투명시편(30)의 상부에 마련된 프린트헤드(20)에 결합되어 투명시편(30)의 시편마크(31)를 촬영하는 제2카메라(50)와; 제1카메라(40) 및 제2카메라(50)가 촬영한 영상을 비교하여 제2카메라(50)를 제1카메라(40)에 정렬하도록 헤드이송부(25)를 제어하는 제어부(80)를 포함한다. 또한, 얼라인장치(10)는, 기판식별마크(61)와, 등간격으로 형성된 다수의 픽셀(63)을 갖는 기판(60)을 이송가능하게 지지하는 스테이지(70)와; 투명기판(60)에서 기판(60)으로 이송된 상기 제2카메라(50)가 촬영한 기판(60)의 기판식별마크(61)에 기초하여 기판(60)의 기준픽셀(65)을 찾는 제어부(80)를 더 포함할 수 있다.The
프린트헤드(20)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 기판(60)의 픽셀(63)에 잉크를 분사하는 다수의 노즐(13)을 갖는다. 또한, 프린트헤드(20)는 헤드이송부(25)에 의해 지지되어 2축(X,Y)방향으로 이동 및 기판(60)의 판면에 가로방향으로 회동될 수 있다.The
노즐(21)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 프린트헤드(20)에 다수 개로 돌출 형성되어 있다. 이러한 노즐(21)은 예를 들면, TFT-LCD용 디스플레이패널을 제조하는 경우에 R(Red), G(Green), B(Blue)의 색상을 갖는 컬러필터용 잉크를 분사한다. 노즐(21)은 기판(60)의 크기에 따라 다양한 개수를 채용할 수 있다. 또한, 노즐(21)은 제2카메라(50)로부터의 가장 인접된 곳에 위치한 기준노즐(21)을 가지며, 기준노즐(21)은 프린트헤드(20)와 기판(60)을 정렬시키는 기준이 된다. 또한, 기준노즐(21)에서부터 다수의 노즐 간의 거리는 제조메이커 등에서 제공된 정보에 기초하여 입력부(81)를 통해 입력될 수 있다.As illustrated in FIG. 1, a plurality of
헤드이송부(25)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 프린트헤드(20)를 이송가능하게 지지한다. 또한, 헤드이송부(25)는 프린트헤드(20)를 2축(X,Y)방향으로 이동 및 기판(60)의 판면에 가로축(Z)으로 회동하도록 지지할 수 있다. 헤드이송부(25)는 LM가이드(Linear Motion Guide)(미도시) 등을 사용할 수 있다. 이에, 헤드이송부(25)는 프린트헤드(20)를 기판(60)에 마련된 픽셀(7)의 배열방향을 따라 이송시킨다. 즉, 도 1에 도시된 바와 같이, 헤드이송부(25)는 프린트헤드(20)를 X 방향으로 이동시켜며 이에, 픽셀(63)에 노즐(21)로부터 분사된 잉크가 충진될 수 있다. 그런 후, 헤드이송부(25)가 프린트헤드(20)를 Y 방향의 다른 열의 픽셀(63)로 이동시킨 후 X 방향의 반대방향으로 프린트헤드(20)를 이동시키면서 픽셀(7)에 잉크를 충진 시킨다. 이 때, 필요에 따라 헤드이송부(25)는 프린트헤드(20)을 기판의 판면에 가로방향으로 회동시켜 기판(60)의 픽셀(63)에 잉크를 충진시킬 수 있다.As shown in FIG. 1, the
투명시편(30)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 촬영 가능한 시편마크(31)를 가지며 스테이지(70)의 일단부에 고정되어 있다. 이에, 투명시편(30)은 제1카메라(40)와 제2카메라(50)의 기준위치를 정렬시키는 기준이 될 수 있다. 또한, 투명시편(30)은 후술할 제1카메라(40)와 함께 기판(60) 상부로 이동가능하게 마련될 수 있음은 물론이다.As shown in FIG. 1, the
제1카메라(40)는, 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 투명시편(30)의 하부에 마련되어 투명시편(30)의 시편마크(31)를 촬영한다. 또한, 제1카메라(40)는 프린트헤드(20)의 기준노즐(21)을 찾기 위하여 기준노즐(21)을 촬영한다. 이 때, 투명시편(30)을 사용하여 기준노즐(21)을 촬영할 수 있으며, 필요에 따라 투명시편(30)을 사용하지 않을 수 있다. 이에, 제1카메라(40)에서 제2카메라(50)까지의 어긋남은 제1카메라(40)와 제2카메라(50)의 촬영영상을 비교하여 제어부(80)에 의해 검출될 수 있으며, 제2카메라(50)에서부터 기준노즐(21)까지 이격된 거리를 제어부(80)가 산출할 수 있다.As shown in FIGS. 1 to 3, the
즉, 도 2를 참조하여 설명하면, 제2카메라(50)가 시편마크(31)를 촬영한 영상인 도 2(a)와 제1카메라(40)가 시편마크(31)를 촬영한 영상인 도 2의(b)를 비교하면, 각 투명시편(30)의 시편마크(31)의 거리가 "d"만큼 이격되어 있다. 이에, 제어부(80)에서는 영상(a)와 영상(b)가 일치하도록 즉, 제2카메라(50)가 제1카메라(40)에 정렬되도록 헤드이송부(25)를 거리 "d"만큼 이동하도록 제어한다. 그런 다 음, 제1 및 제2카메라(40,50)의 정렬상태를 확인하기 위하여 제2카메라(50)가 시편마크(31)를 다시 촬영한 영상 도 2(c)와 제1카메라(40)가 시편마크(31)를 다시 촬영한 영상 도 2(d)를 비교하면, 각 투명시편(30)의 시편마크(31)의 거리가 일치된다. 여기서, 영상 (c)와 영상 (d)가 일치하지 않으면 전술한 과정을 반복한다. 이에, 투명시편(30)을 이용한 제1카메라(40)와 제2카메라(50)의 정렬과정이 완료된 후 다음 과정을 진행시킬 수 있으므로 보다 정확하게 얼라인작업을 수행할 수 있다. 그리고, 도 3에 도시된 바와 같이, 제1카메라(40)가 제2카메라(50)와 기준노즐(21)을 촬영하며, 제어부(80)는 제2카메라(50)에서부터 기준노즐(21)까지 이격된 거리(도 3의 "d1")를 산출한다. 여기서, 제1카메라(40)에서 기준노즐(21) 이외의 다른 노즐에 대해서도 제2카메라(50)로부터의 거리가 각각 촬영 되면, 제어부(80)에서 제2카메라(50)에서부터 다른 노즐까지의 거리(도 3의 "d2","d3","d4")를 각각 산출할 수 있다.That is, referring to FIG. 2, the
제2카메라(50)는, 도 1 및 도 5에 도시된 바와 같이, 투명시편(30)의 상부에 마련된 프린트헤드(20)에 결합되어 투명시편(30)의 시편마크(31)를 촬영한다. 또한, 제2카메라(50)는 기판(60)의 기준픽셀(65)을 찾기 위하여 기판(60)의 기판식별마크(61)를 촬영한다. 이에, 촬영된 영상 신호 또는 입력된 정보와 비교하여 제어부(80)가 제1카메라(40)에서 제2카메라(50)까지의 어긋남 및 기준노즐(21)에 대응되는 기준픽셀(65)까지 이동거리를 산출할 수 있다. 제1 및 제2카메라(40,50)의 정렬과정은 전술하였으므로 여기서는 설명을 생략한다. 도 5를 참조하여 설명하면, 기준픽셀(65)을 찾는 과정을 설명하면, 다음과 같다. 제1카메라(40)에 의해 촬영된 제2카메라(50)와 프린트헤드(20)의 기준노즐(21)에 대한 제1영상(A)과, 제2카메라(50)에 의해 촬영된 기판(60)의 기판식별마크(61)와 기준픽셀(65)에 대한 제2영상(B)을 비교한다. 이에, 제어부(80)는 제2카메라(50)와 기준노즐(21)간의 거리와 기판식별마크(61)와 기준픽셀(65)까지의 거리를 고려하여 제3영상(C)에서와 같이 기준노즐(21)이 기준픽셀(65)에 정위치하도록 소정의 위치로 헤드이송부(25) 및 스테이지(70) 중 어느 하나를 이동시킬 수 있다. As shown in FIGS. 1 and 5, the
이에, 두 대의 제1 및 제2카메라(40,50)가 설치되어 있어 기판(60)과 프린트헤드(20)의 정렬과정이 간단하고 편리하며, 기존의 얼라인장치(10)에도 비교적 제한없이 용이하게 부착하여 사용할 수 있다. 또한, 기판(60)과 프린트헤드(20)의 정렬이 정확하게 이루어져 별도의 시험 프린트를 위한 젯팅(Jetting)을 필요로 하지 않아 비용 및 시간을 절감하여 경제적 비용을 줄일 수 있다. 이러한 카메라는 성능이 우수한 디지털카메라인 CCD카메라를 사용하는 것이 바람직하다. Thus, two first and
기판(60)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 판 형상의 글라스로 마련되며, TFT-LCD(Thin Film Transistor - Liquid Cystal Display) 및 유기ELD(Electro Luminescence Display)와 같은 평면디스플레이장치의 디스플레이패널 등의 제작에 사용된다. 이러한 기판(60)은 다양한 크기를 가질 수 있으며, 이에 대응하여 프린트헤드(20)의 노즐(21)도 다양하게 변경가능하다. 기판(60)에는 다수의 픽셀(63)이 등 간격으로 형성된 픽셀그리드(Pixel Grid)(67)가 마련되며, 각각의 픽셀(63)에는 후술할 프린트헤드(20)의 노즐(21)로부터 분사된 잉크가 충진된다. 또한, 기판(60)에는 프린트헤드(20)의 이송방향과 기판(60)에 형성된 픽셀(63)의 배열방향 등을 정렬하도록 기준점이 되는 복수의 기판식별마크(61)가 형성되어 있다. 기판(60)은 투명하게 마련될 수도 있으며, 반투명이나 불투명하게 마련될 수도 있다. 그러나, 기판(60)은 디스플레이패널용 뿐만 아니라 프린트헤드(20)와 같은 잉크분사장치 등에 의해 정위치에 잉크 등이 분사되도록 마련된 다른 종류의 기판일 수 있다. 또한, 기판(60)의 픽셀(63) 간의 거리, 폭 등과 같은 픽셀정보는 사용자에게 미리 제공되어 입력부(81)을 통해 입력된다. As shown in FIG. 1, the
스테이지(70)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 기판(60)의 하측에 마련되어 기판(60)을 안정적으로 지지하도록 평판 형상으로 마련된다. 또한, 스테이지(70)는 기판(60)을 프린트헤드(20)에 대해 일치시키도록 기판(60)을 이송가능하게 지지한다. 스테이지(70)는 기판(60)의 기판식별마크(61)들을 프린트헤드(20)의 이송방향에 대해 일치시키도록 기판(60)을 기판(60)의 판면방향으로 이송가능하게 지지할 수 있다. 즉, 스테이지(70)는 기판(60)의 판면방향으로 상호 수직을 이루는 2축(X, Y)방향으로 이송가능하게 마련될 수 있으며, 기판(60)의 판면방향에 가로방향 축선(Z)을 중심으로 회전가능하게 마련될 수도 있다. 이에, 스테이지(70)는 기판(60)을 지지하며, 기판(60)의 기판식별마크(61)가 프린트헤드(20)의 이송방향과 일치하도록 기판(60)을 이송할 수 있다. 그리고, 스테이지(70)의 2축(X, Y) 이송방향은 전술한 프린트헤드(20)의 2축(X, Y) 이송방향과 다르게 설정될 수도 있으며, 동일하게 설정될 수도 있다.As shown in FIG. 1, the
얼라인장치(10)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2카메라(40,50)로부터 촬영된 영상들을 표시하기 위한 디스플레이부(90)를 더 포함할 수 있다. 디스플 레이부(90)는 제1 및 제2카메라(40,50)와 연결되어 제1 및 제2카메라(40,50)에 의해 촬영된 영상들을 표시하게 된다. 예를 들면, 디스플레이부(90)는 도 5에 도시된 바와 같이, 제1카메라(40)에 의해 촬영된 제2카메라(50)와 프린트헤드(20)의 기준노즐(21)에 대한 제1영상(A)과, 제2카메라(50)에 의해 촬영된 기판(60)의 기판식별마크(61)와 기준픽셀(65)에 대한 제2영상(B)을 교차하여 제3영상(C)으로 표시하게 된다. 즉, 디스플레이부(90)는 제1영상(A)과 제2영상(B)을 동시에 교차하여 표시한 제3영상(C)으로 프린트헤드(20)의 노즐(21)이 기판(60)의 픽셀(63)에 대해 정위치하는 지를 확인할 수 있다. 이에, 보다 정렬여부를 사용자는 용이하게 확인할 수 있어 기판(60)과 프린트헤드(20)의 정렬상태가 보다 정확해질 수 있다. The
제어부(40)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1카메라(40) 및 제2카메라(50)가 촬영한 투명시편(30)의 시편마크(31) 영상을 비교하여 제2카메라(50)를 제1카메라(40)에 정렬하도록 헤드이송부(25)을 제어한다. 이에, 제1카메라(40)와 제2카메라(50)의 정렬이 간편하게 이루어질 수 있다. 또한, 제어부(80)는 제1 및 제2카메라(40,50)의 정렬상태를 확인하기 위하여 투명시편(30)의 시편마크(31)를 다시 촬영한 영상을 비교할 수 있다. 또한, 제어부(80)는 다양한 기능을 수행할 수 있으며, 이러한 기능들은 후술할 얼라인과정의 설명과 중복되므로 여기서는 설명을 생략한다.As shown in FIG. 4, the
이러한 구성에 의해 본 발명에 따른 얼라인장치(10)의 얼라인과정을 도 1 및 도 6을 참조하여 살펴보면 다음과 같다.With this configuration, the alignment process of the
먼저, 제2카메라 투명시편 이송단계(S110)에서는, 도 1(A) 및 도 6에 도시된 바와 같이, 제2카메라(50)가 헤드이송부(25)에 의해 스테이지(70)의 일측 또는 인접한 영역에 설치된 투명시편(30)의 상부로 이동한다. 이 때, 제1카메라(40)는 투명시편(30)의 하부에 설치되어 있다. First, in the second camera transparent specimen transfer step (S110), as shown in FIGS. 1A and 6, the
투명시편 촬영단계(S115)에서는, 도 1(A) 및 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2카메라(40,50)가 투명시편(30)의 시편마크(31)를 투명시편(30)의 하부 및 상부에서 각각 촬영한다. In the transparent specimen photographing step (S115), as shown in FIGS. 1A and 6, the first and
제1 및 제2카메라 영상 비교단계(S120)에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제어부(80)가 제1 및 제2카메라(40,50)가 촬영한 영상을 상호 비교하여 제1 및 제2카메라(40,50)가 촬영한 영상의 어긋난 거리를 제어부(80)에서 연산한다. 이러한 비교과정은 디스플레이부(90)를 통해서 영상으로 확인가능하다.In the first and second camera image comparison step (S120), as shown in FIG. 6, the
제2카메라 정렬단계(S125)에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1카메라(40)에 제2카메라(50)가 정위치 되도록 제1 및 제2카메라 영상 비교단계(S120)에서 촬영한 영상 상호 간의 어긋난 거리만큼 헤드이송부(25)가 이동되도록 한다. 이에, 제1 및 제2카메라(40,50)는 상호 정위치에 정렬될 수 있다. 여기서 필요에 따라 제1카메라(40)가 이동되어 제1 및 제2카메라(40,50) 상호 정위치에 정렬될 수 있음은 물론이다.In the second camera alignment step (S125), as shown in FIG. 6, the first and second camera images are captured in the first and second camera image comparison steps (S120) such that the
재촬영단계(S130)에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2카메라 정렬단계(S125)를 완료한 상태에서 제1 및 제2카메라(40,50)가 전술한 투명시편 촬영단계(S115)를 반복하며, 제어부(80)는 촬영된 영상을 상호 비교한다. 이에, 제어부(80)는 시편마크(31)의 어긋난 정도를 확인하여 어긋난 정도가 소정의 오차범위 이내이 면 다음 과정을 진행하지만 소정의 오차범위를 벗어나면 재촬영단계(S130)를 반복 실시한다. 이에, 제1 및 제2카메라(40,50)의 정렬이 정확하게 이루어질 수 있다.In the rephotographing step (S130), as shown in FIG. 6, the transparent specimen photographing step (S115) described above by the first and
기준노즐거리 측정단계(S135)에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2카메라(50)에서부터 제2카메라(50)에 가장 인접한 노즐인 기준노즐(21)까지의 거리가 제1카메라(40)의 촬영한 영상으로 얻어진다. 즉, 제어부(80)는 제2카메라(50)와 기준노즐(21)을 촬영한 영상에 기초하여 제2카메라(50)에서부터 기준노즐(21) 사이의 거리를 연산할 수 있다. 또한, 필요에 따라 제2카메라(50)에서 다른 노즐 간의 거리를 순차적으로 연산할 수도 있다. In the reference nozzle distance measuring step S135, as shown in FIG. 6, the distance from the
제2카메라 기판 이송단계(S140)에서는, 도 1 및 도 6에 도시된 바와 같이, 제2카메라(50)가 도 1(A)의 투명시편(30)위치에서 도 1(B)의 스테이지(70)에 지지된 기판(60) 상부로 헤드이송부(25)에 의해 이송된다. In the second camera substrate transfer step (S140), as shown in FIGS. 1 and 6, the
기준픽셀 검출 및 이송단계(S145)에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2카메라(50)가 기판(60)의 기판식별마크(61)를 확인한 후에 기준픽셀(65)을 촬영하며, 제어부(80)는 기준픽셀(65) 및 제2카메라(50)의 위치가 일치되도록 헤드이송부(25) 및 스테이지(70) 중 어느 하나를 이송시킨다. 또한, 제어부(80)는 기준노즐 측정단계(S135)에서 검출한 제2카메라(50)에서부터 기준노즐(21)까지의 거리를 이용하여 기준픽셀(65)에 기준노즐(21)이 정위치하도록 헤드이송부(25) 및 스테이지(70) 중 적어도 어느 하나를 이송시킬 수 있다. 픽셀(63) 간의 상호 거리에 대한 정보는 통상적으로 입력부(81)에서 입력된다. 그러나, 필요에 따라 제2카메라(50)가 각각의 픽셀(63)의 상호간 거리를 촬영하며, 제어부(80)는 이들 각각의 픽셀(63) 상호간 거리를 산출할 수 있다. 이에, 간편하게 프린트헤드(20)와 픽셀(63)을 정위치에 정렬시킬 수 있다.In the reference pixel detection and transfer step (S145), as shown in FIG. 6, the
잉크분사단계(S150)에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 노즐(21)의 잉크가 분사되어 소정의 픽셀(63)에 잉크가 충진된다. In the ink injection step S150, as shown in FIG. 6, ink of the
이와 같이, 본 발명에 따른 얼라인장치는 투명시편 및 두 대의 카메라를 갖는 것을 특징으로 하여 기판과 프린트헤드의 정렬과정에서 별도의 젯팅(Jetting)을 하지 않는다. 이에, 젯팅에 따른 잉크와 유리 등의 비용 및 시간을 줄여 비용을 줄일 수 있다. 또한, 대형의 디스플레이패널 등에도 두 대의 카메라를 사용하여 구조가 간단하며 확인과정을 통해 보다 정확성을 향상시킬 수 있으며, 기존의 얼라인장치에도 용이하게 적용할 수 있다. 또한, 기판을 투과하여 촬영하는 과정보다 투과에 따른 노이즈나 굴절 등에 의해 발생되는 오리피스의 영상의 왜곡을 줄일 수 있다.As described above, the alignment device according to the present invention is characterized by having a transparent specimen and two cameras, so that no jetting is performed during the alignment process between the substrate and the printhead. Thus, the cost and time of the ink and glass, such as by jetting can be reduced to reduce the cost. In addition, the use of two cameras for a large display panel, such as the structure is simple, can improve the accuracy through the verification process, it can be easily applied to the existing alignment device. In addition, the distortion of the image of the orifice generated by noise or refraction caused by transmission can be reduced rather than the process of photographing through the substrate.
이상에서 설명한 바와 같이, 기판과 프린트헤드의 정렬이 비교적 정확하며, 간편하게 될 수 있는 얼라인장치 및 그 방법이 제공될 수 있다. As described above, there can be provided an alignment apparatus and a method thereof in which the alignment of the substrate and the printhead is relatively accurate and can be simplified.
Claims (10)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050105886A KR100717271B1 (en) | 2005-11-07 | 2005-11-07 | Aligning apparatus and method of the same |
CNB2006101363332A CN100480802C (en) | 2005-11-07 | 2006-10-16 | Alignment apparatus and method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050105886A KR100717271B1 (en) | 2005-11-07 | 2005-11-07 | Aligning apparatus and method of the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070048862A KR20070048862A (en) | 2007-05-10 |
KR100717271B1 true KR100717271B1 (en) | 2007-05-15 |
Family
ID=38082735
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050105886A KR100717271B1 (en) | 2005-11-07 | 2005-11-07 | Aligning apparatus and method of the same |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100717271B1 (en) |
CN (1) | CN100480802C (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102346777B1 (en) * | 2020-04-06 | 2022-01-04 | (주)에스티아이 | Align apparatus and inkjet printing system having the same, align meothd using the same |
KR102573187B1 (en) * | 2020-06-11 | 2023-08-30 | 세메스 주식회사 | Apparatus for aligning head module and system for treating substrate with the apparatus |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000047405A (en) * | 1998-12-30 | 2000-07-25 | 윤종용 | Alignment Mark, Alignment System and Alignment Method Using the Same |
KR20040069818A (en) * | 2003-01-30 | 2004-08-06 | 아남반도체 주식회사 | Front and backside failure localization tool |
-
2005
- 2005-11-07 KR KR1020050105886A patent/KR100717271B1/en active IP Right Grant
-
2006
- 2006-10-16 CN CNB2006101363332A patent/CN100480802C/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000047405A (en) * | 1998-12-30 | 2000-07-25 | 윤종용 | Alignment Mark, Alignment System and Alignment Method Using the Same |
KR20040069818A (en) * | 2003-01-30 | 2004-08-06 | 아남반도체 주식회사 | Front and backside failure localization tool |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1963617A (en) | 2007-05-16 |
CN100480802C (en) | 2009-04-22 |
KR20070048862A (en) | 2007-05-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4353929B2 (en) | Alignment device | |
JP4145791B2 (en) | Method for depositing soluble material, method for manufacturing display device, and method for manufacturing electronic device, electro-optical device, optical device, or sensor device | |
KR100688266B1 (en) | Inkjet deposition apparatus and method | |
KR101065977B1 (en) | Ink jet printer head array method and device thereof | |
CN101823363A (en) | Methods and apparatus for inkjet printing | |
KR20070095744A (en) | Liquid droplet spraying examination apparatus, liquid droplet spraying apparatus and manufacturing method of coated body | |
KR101020854B1 (en) | Aligning method for inkjet head | |
JP4122352B2 (en) | Substrate inspection apparatus and control method thereof | |
KR100553495B1 (en) | Apparatus for inspecting handling precison of work handling apparatus, apparatus for inspecting lithography precision of liquid droplet discharge apparatus, liquid droplet discharge apparatus and work, electrooptic apparatus, method of manufacturing electrooptic appratus and electronic instrument | |
JP2004141758A (en) | Method of correcting dot position of droplet discharge device, alignment mask, droplet discharge method, electro-optical device and its production method, and an electronic equipment | |
JP2007101568A (en) | Ink-jet printing apparatus and head position adjustment method of ink-jet printing apparatus | |
KR100717271B1 (en) | Aligning apparatus and method of the same | |
KR20180021647A (en) | Droplet ejection apparatus and droplet ejection condition correction method | |
JP2002189115A (en) | Apparatus for manufacturing color filter and method for manufacturing color filter using the same | |
JP4055570B2 (en) | Droplet discharge device | |
JPH0886913A (en) | Forming method for color filter and ink-jet plotting device | |
KR100718465B1 (en) | Head alignment apparatus for ink-jet device | |
JPH09277571A (en) | Device for manufacturing color filter, manufacture of color filter, and color filter | |
JP2021133289A (en) | Ink jet printing method and ink jet printer | |
JP4876598B2 (en) | Manufacturing method of printed matter | |
JP2005014513A (en) | Liquid droplet discharging head, nozzle hole position detection method and liquid droplet discharging device | |
KR20080020094A (en) | Ink-jet application apparatus | |
KR100976702B1 (en) | Method of nozzle substrate alignment in a ink zet type patterning machine and devices for the method | |
KR102661443B1 (en) | Apparatus for treating substrate, inkjet apparatus and maintenance method | |
KR102182378B1 (en) | Roll-to-roll printing unit and method of printing using the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130430 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140430 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150430 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160429 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170427 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180430 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190429 Year of fee payment: 13 |