KR100609859B1 - Method for formating of optical recording medium - Google Patents
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Abstract
재기록 가능한 광 기록매체의 포맷팅 방법에 관한 것으로서, 특히 포맷팅이 선택되면 SDL에 등록된 각 결함 블록들의 리니어 대체 소요 시간을 계산하는 단계와, 상기 단계의 계산 결과를 이용하여 리니어 대체 소요 시간이 긴 순서대로 상기 SDL 엔트리들을 정렬하는 단계와, 상기 정렬된 순서대로 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 정보를 PDL로 옮기는 단계로 이루어져, 재포맷팅에 의해 SDL에 등록된 결함 블록들을 PDL로 옮길 때 리니어 대체 소요 시간이 긴 블록들부터 먼저 PDL로 옮김으로써, 이후 기록/재생시의 리니어 대체 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 포맷팅 과정에서 PDL에 오버플로우가 발생하여 SDL에 등록된 결함 블록들을 모두 PDL로 못 옮기더라도 시스템의 성능을 높일 수 있다.A method of formatting a rewritable optical recording medium, and in particular, if formatting is selected, calculating the linear replacement time for each defective block registered in the SDL, and the linear replacement time using the calculation result of the step is a long order. Aligning the SDL entries as described above, and transferring information of the defect blocks registered in the SDL to the PDL in the sorted order, so that linear replacement is required when moving the defective blocks registered in the SDL to the PDL by reformatting. By moving the long blocks first to the PDL, the linear replacement time for subsequent recording / reproducing can be reduced. Therefore, even if the overflow occurs in the PDL during the formatting process, even if all the defective blocks registered in the SDL cannot be moved to the PDL, the performance of the system can be improved.
Description
본 발명은 재기록 가능한 광 기록매체의 포맷팅 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of formatting a rewritable optical record carrier.
일반적으로, 광기록매체는 반복 기록의 가능여부에 따라 읽기 전용의 롬(ROM)형과, 1회 기록가능한 웜(WORM)형 및 반복적으로 기록할 수 있는 재기록 가능형 등으로 크게 3종류로 나뉘어 진다.In general, optical recording media are classified into three types, such as read-only ROM, write-once worm type, and rewritable rewritable type. Lose.
이 중 자유롭게 반복적으로 재기록 가능한 디스크로는 재기록 가능한 컴펙트 디스크(Rewritable Compact Disc ; CD-RW)와 재기록 가능한 디지털 다기능 디스크(Rewritable Digital Versatile Disc ; DVD-RAM, DVD-RW) 등이 있다.Among them, freely and repeatedly rewritable discs include a rewritable compact disc (CD-RW) and a rewritable digital versatile disc (DVD-RAM, DVD-RW).
그러나, 상기와 같은 재기록 가능형 광기록 매체의 경우, 그 사용특성상 정보의 기록/재생 작업이 반복적으로 수행되는데, 이로인해 광기록매체에 정보 기록을 위해 형성된 기록층을 구성하는 혼합물의 혼합 비율이 초기의 혼합 비율과 달라지게 되어 그 특성을 잃어 버림으로써 정보의 기록/재생시 오류가 발생된다.However, in the case of the rewritable optical recording medium as described above, the recording / reproducing operation of the information is repeatedly performed due to the use characteristics thereof, so that the mixing ratio of the mixture constituting the recording layer formed for recording the information on the optical recording medium is reduced. It is different from the initial mixing ratio and loses its characteristics, resulting in an error in recording / reproducing information.
이러한 현상을 열화라고 하는데, 이 열화된 영역은 광 기록매체의 포맷, 기록, 재생 명령 수행시 결함 영역(Defect Area)으로 나타나게 된다.This phenomenon is called deterioration, and this deteriorated area appears as a defect area when the format, recording, and reproducing command of the optical recording medium is executed.
또한, 재기록 가능형 광기록매체의 결함 영역은 상기의 열화 현상 이외에도 표면의 긁힘, 먼지 등의 미진, 제작시의 오류 등에 의해 발생되기도 한다.In addition to the deterioration phenomenon, defect areas of the rewritable optical recording medium may be generated due to scratches on the surface, dust such as dust, errors in production, and the like.
그러므로, 상기와 같은 원인으로 형성된 결함 영역에 데이터를 기록/재생하는 것을 방지하기 위하여 이 결함 영역의 관리가 필요하게 되었다.Therefore, in order to prevent data from being recorded / reproduced in the defect area formed due to the above reasons, it is necessary to manage the defect area.
이를 위해 도 1에 도시된 바와 같이 광기록매체의 리드-인 영역(lead-in area)과 리드-아웃 영역(lead-out area)에 결함 관리 영역(Defect Management Area ; 이하 DMA라 함)을 두어 광기록매체의 결함 영역을 관리하고 있다. 또한, 데이터 영역은 그룹별로 나누어 관리하는데, 각 그룹은 실제 데이터가 기록되는 유저 영역과 상기 유저 영역에 결함이 발생하였을 때 이용하기 위한 스페어(Spare) 영역으로 나뉘어진다.To this end, as shown in FIG. 1, a defect management area (hereinafter referred to as a DMA) is provided in a lead-in area and a lead-out area of the optical recording medium. The defect area of the optical recording medium is managed. The data area is divided and managed by groups, and each group is divided into a user area in which actual data is recorded and a spare area for use when a defect occurs in the user area.
그리고, 일반적으로 하나의 디스크(즉, DVD-RAM)에는 4개의 DMA가 존재하는데, 2개의 DMA는 리드-인 영역에 존재하고 나머지 2개의 DMA는 리드-아웃 영역에 존재한다. 각 DMA는 2개의 블록(block)으로 이루어지고, 총 32섹터들(sectors)로 이루어진다.In general, four DMAs exist in one disk (ie, DVD-RAM), two DMAs exist in the lead-in area, and the other two DMAs exist in the lead-out area. Each DMA consists of two blocks, totaling 32 sectors.
여기서, 각 DMA의 제 1 블록(DDS/PDL 블록이라 함)은 DDS(Disc Definition Structure)와 PDL(Primary Defect List)을 포함하고, 각 DMA의 제 2 블록(SDL 블록이라 함)은 SDL(Secondary Defect List)을 포함한다.Here, the first block of each DMA (called a DDS / PDL block) includes a Disc Definition Structure (DDS) and a Primary Defect List (PDL), and the second block of each DMA (called an SDL block) is an SDL (Secondary). Defect List).
이때, PDL은 주결함 데이터 저장부를 의미하며, SDL은 부결함 데이터 저장부를 의미한다.In this case, PDL means main defect data storage, and SDL means defect data storage.
일반적으로 PDL은 디스크 제작 과정에서 생긴 결함 그리고, 디스크를 포맷 즉, 최초 포맷팅(Initialize)과 재포맷팅(Re-initialize)시 확인되는 모든 결함 섹터들의 엔트리들(Entries)을 저장한다. 여기서, 각 엔트리는 엔트리 타입과 결함 섹터에 대응하는 섹터 번호로 구성된다. 상기 엔트리 타입은 결함 섹터의 발생 원인(Origin)을 열거하는데, 일 예로 P-리스트, G1-리스트, G2-리스트로 분류된다.In general, the PDL stores entries created during the disc creation process and entries of all defective sectors that are identified during formatting, ie, initializing and re-initializing the disc. Here, each entry is composed of an entry type and a sector number corresponding to a defective sector. The entry type enumerates the origin of the defective sector (Origin), for example, classified into P-list, G 1 -list, G 2 -list.
즉, 디스크 제조업자가 정의한 결함 섹터 예컨대, 디스크 제작 과정에서 생긴 결함 섹터들은 P-리스트로 저장하고, 디스크를 포맷할 때 검증 과정(Certification process) 동안 발견되는 결함 섹터들은 G1-리스트로 저장하며, 검증 과정없이 SDL로부터 이전되는 결함 섹터들은 G2-리스트에 저장한다.That is, defective sectors defined by the disc manufacturer, for example, defective sectors created during the disc creation process, are stored in the P-list, and defective sectors found during the certification process when the disc is formatted are stored in the G 1 -list, Defective sectors transferred from the SDL without verification are stored in the G 2 -list.
한편, 상기 SDL은 블록 단위로 리스트되는데, 포맷 후에 발생하는 결함 영역들이나 포맷 동안 PDL에 저장할 수 없는 결함 영역들의 엔트리들을 저장한다. 상기 각 SDL 엔트리는 결함 섹터가 발생한 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호를 저장하는 영역과 그것을 대체할 대체 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호를 저장하는 영역으로 구성된다.On the other hand, the SDL is listed in units of blocks, and stores entries of defective areas that occur after the format or defective areas that cannot be stored in the PDL during the format. Each SDL entry consists of an area storing the sector number of the first sector of the block in which the defective sector has occurred and an area storing the sector number of the first sector of the replacement block to replace it.
그리고, 디스크를 초기화하는 방법으로는 최초 포맷팅(Initialize)과 재포맷팅(Re-initialize)으로 나누어지는데, 상기 재포맷팅은 다시 최초 포맷팅과 같은 풀(full) 포맷팅과, 부분적으로 초기화를 수행하는 부분 포맷팅(partial certification) 그리고, 포맷 시간의 단축을 위해 검증없이 SDL을 PDL의 G2-리스트로 옮기는 포맷팅(conversion of SDL to G2-리스트 ; 이하, 단순 포맷팅이라 칭함.)등이 있다.In addition, a method of initializing a disk is divided into initial formatting and re-initialization. The reformatting is again performed by full formatting, such as initial formatting, and partial formatting. (partial certification) then the SDL without the verifying to the reduction in the time format of the PDL G 2 - formatting move in list (SDL conversion of G to 2 - list; hereinafter referred to as simple formatting) and the like.
여기서, 상기 풀 포맷팅과 부분 포맷팅 방법은 SDL에 등록된 결함 블록들을 PDL로 옮길 때 검증을 거쳐 결함이 있는 섹터에 대해서만 PDL의 G1-리스트로 옮긴다. 그리고, 단순 포맷팅 방법은 SDL의 결함 블록의 모든 섹터들이 그대로 PDL의 G2-리스트로 옮겨진다. 즉, G2-리스트의 경우에는 SDL의 결함 블록이 그대로 결함 섹터로 저장되므로 이중에는 정상 섹터도 포함될 수 있으나 결함 섹터로 간주한다.Here, in the full formatting and partial formatting methods, when the defective blocks registered in the SDL are transferred to the PDL, only the defective sectors are transferred to the G 1 -list of the PDL. In the simple formatting method, all sectors of the defective block of the SDL are transferred to the G 2 -list of the PDL as it is. That is, in the case of the G 2 -list, since a defective block of the SDL is stored as a defective sector as it is, a normal sector may be included in the list, but it is regarded as a defective sector.
이때, 풀 포맷팅과 부분 포맷팅의 경우, G1-리스트에 오버플로우(overflow)가 발생하면 G1-리스트로 옮기지 못한 나머지 SDL 엔트리는 다시 새로운 SDL에 리스트된다. 또한, 검증없이 SDL을 PDL의 G2-리스트로 변환하는 단순 포맷팅의 경우에도 PDL의 G2-리스트에 오버플로우가 발생하면 G2-리스트에 등록되지 않은 SDL의 나머지 엔트리들은 새로운 SDL에 리스트된다.At this time, full formatting and the case of the partial formatting, G 1 - If the overflow (overflow) occurs in the list G 1 - remaining SDL entries not move in the list is the list back to the new SDL. In addition, the SDL PDL of G 2 without verification, even for simple formatting to convert into a list G 2 of the PDL - when an overflow occurs in the list G 2 - remaining entries that are not registered in the list SDL are listed in the new SDL .
여기서, 오버플로우가 발생하는 것은 다음의 수학식 1과 같은 조건에 의해 PDL에 등록될 수 있는 엔트리 수가 한정되기 때문이다.Here, the overflow occurs because the number of entries that can be registered in the PDL is limited by the condition shown in Equation 1 below.
여기서, SPDL은 PDL 엔트리를 유지하기 위해 사용된 섹터의 개수, SSDL은 SDL 엔트리를 유지하기 위해 사용된 섹터의 개수, EPDL은 PDL 엔트리의 개수, ESDL은 SDL 엔트리의 개수이다. 그리고, 는 P보다 크지않은 최대 정수를 표시한다.Here, S PDL is the number of sectors used to hold the PDL entries, S SDL is the number of sectors used to hold the SDL entries, E PDL is the number of PDL entries, and E SDL is the number of SDL entries. And, Denotes the largest integer not greater than P.
즉, PDL과 SDL에 사용될 수 있는 전체 섹터의 개수는 16섹터를 넘을 수 없으며, PDL만으로 또는, SDL만으로는 15섹터를 넘어설 수 없다.That is, the total number of sectors that can be used for the PDL and the SDL cannot exceed 16 sectors, and the PDL alone or the SDL alone cannot exceed 15 sectors.
한편, 상기 데이터 영역내의 결함 영역(즉, 결함 섹터 또는 결함 블럭)들은 정상적인 영역으로 대체되어져야 하는데, 대체 방법으로는 슬리핑 대체(slipping replacement)방법과 리니어 대체(linear replacement)방법이 있다.Meanwhile, the defective areas (ie, defective sectors or defective blocks) in the data area should be replaced with normal areas, which include a slipping replacement method and a linear replacement method.
상기 슬리핑 대체방법은 결함 영역이 PDL에 등록되어 있는 경우에 적용되는 방법으로, 도 2a에 도시된 바와 같이 실제 데이터가 기록되는 유저 영역(user area)에 결함 섹터가 존재하면 그 결함 섹터를 건너뛰고 대신에 그 결함 섹터 다음에 오는 정상 섹터(Good sector)로 대체되어 데이터를 기록한다. 그러므로, 데이터가 기록되는 유저 영역은 밀리면서 결국 건너 뛴 결함 섹터 만큼 스페어 영역(spear area)을 차지하게 된다. The sleeping replacement method is applied when a defective area is registered in the PDL. If a defective sector exists in a user area in which actual data is recorded as shown in FIG. 2A, the defective sector is skipped. Instead, it is replaced by a good sector following the defective sector to record data. Therefore, the user area in which data is recorded occupies a spare area as much as the defective sector skipped and eventually skipped.
또한, 리니어 대체 방법은 결함 영역이 SDL에 등록되어 있는 경우에 적용되는 방법으로, 도 2b에 도시된 바와 같이 유저 영역에 결함 블록(defect block)이 존재하면 스페어 영역에 할당된 블록 단위의 대체(replacement) 영역으로 대체되어 데이터를 기록한다. In addition, the linear replacement method is applied when the defective area is registered in the SDL. When a defective block exists in the user area as shown in FIG. 2B, the replacement of the block unit allocated to the spare area ( replacement) field to record the data.
그러나, 상기된 리니어 대체 방법은 SDL에 기록된 결함 블록의 데이터를 스페어 영역에 할당된 대체 블록에 기록하기 위해 광 픽업을 스페어 영역으로 이송시켰다가 다시 유저 영역으로 이송시켜야 하므로, 이러한 과정이 계속 반복되면 시스템의 성능(performance)을 떨어뜨릴 수 있다.However, the above-described linear replacement method has to transfer the optical pickup to the spare area and then back to the user area in order to record the data of the defective block recorded in the SDL in the replacement block assigned to the spare area, and thus this process is repeated repeatedly. This can degrade the performance of the system.
특히, 리니어 대체는 도 3과 같이 해당 존에서만 이루어지지 않기 때문에 리니어 대체에 소요되는 시간이 길어질 수 있다. 즉, 해당 존의 스페어 영역이 다 찼는데 해당 존에서 다시 결함이 발생하면 상기 결함 블록의 대체 블록은 다른 존의 스페어 영역에 할당되기 때문이다. 따라서, 시스템의 성능(performance)을 더욱 떨어뜨리게 된다.In particular, since the linear replacement is not performed only in the corresponding zone as shown in FIG. 3, the time required for the linear replacement may be long. That is, if the spare area of the corresponding zone is full and a defect occurs in the zone again, the replacement block of the defective block is allocated to the spare area of another zone. Thus, the performance of the system is further degraded.
이때, 결함 블록과 대체 블록의 거리가 가까울 때는 트랙킹 액츄에이터를 이용하여 즉, 광 픽업의 대물 렌즈(32)만을 움직여서 리니어 대체를 수행하고, 결함 블록과 대체 블록 사이의 거리가 멀때는 원하는 대체 블록 근처로 픽업 본체(31)를 직접 이송시켜 리니어 대체를 수행한다. 여기서, 상기 대물렌즈(32)를 이용한 리니어 대체 방법은 시간은 짧게 걸리지만 존 하나를 모두 커버하지 못한다.At this time, when the distance between the defective block and the replacement block is close, linear tracking is performed by using a tracking actuator, that is, only the objective lens 32 of the optical pickup is moved, and when the distance between the defective block and the replacement block is far, the near replacement block is desired. The linear transfer is performed by directly transferring the pickup main body 31. In this case, the linear replacement method using the objective lens 32 takes a short time but does not cover all of the zones.
따라서, 재포맷팅하는 이유중의 하나가 상기 SDL에 등록된 결함 섹터들을 PDL로 옮겨 계속적인 리니어 대체를 줄임으로써, 시스템의 성능을 높이기 위해서이다. Thus, one of the reasons for reformatting is to increase the performance of the system by moving defective sectors registered in the SDL to the PDL and reducing continuous linear replacement.
그러나, 상기된 재포맷팅 방법은 상기 수학식 1과 같은 조건에 의해 G1-리스트나 G2-리스트에 오버플로우가 발생하면 나머지 옛 SDL은 다시 새로운 SDL에 등록되므로 역시 리니어 대체로 인한 문제가 발생할 수 있다.However, in the reformatting method described above, if an overflow occurs in the G 1 -list or the G 2 -list under the condition of Equation 1 above, the remaining old SDL is registered again in the new SDL, which may also cause a problem due to linear replacement. have.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 포맷팅시 리니어 대체에 시간이 오래 걸리는 SDL 엔트리부터 PDL로 옮기는 광 기록매체의 포맷팅 방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a method for formatting an optical recording medium for transferring from an SDL entry, which takes a long time for linear replacement, to a PDL.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법은, 포맷팅이 선택되면 SDL에 등록된 각 결함 블록들의 리니어 대체 소요 시간을 계산하는 단계와, 상기 단계에서 계산된 결과를 이용하여 리니어 대체 소요 시간이 긴 순서대로 상기 SDL 엔트리들을 정렬하는 단계와, 상기 단계에서 정렬된 순서대로 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 정보를 PDL로 옮기는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of formatting an optical recording medium according to the present invention includes calculating a time required for linear replacement of each defective block registered in the SDL when formatting is selected, and using the result calculated in the step. And sorting the SDL entries in the order of the longest linear replacement time, and transferring the information of the defect blocks registered in the SDL to the PDL in the sorted order in the step.
상기 리니어 대체 소요 시간 계산 단계는 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 물리적 인식 번호(PID)와 상기 결함 블록에 대한 대체 블록의 PID의 차값을 구하는 단계와, 상기 차 값에 절대치를 취하는 단계와, 상기 절대값에 존별 상수값을 곱하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The linear replacement time calculation step may include obtaining a difference value between a physical identification number (PID) of a defective block registered in the SDL and a PID of the replacement block for the defective block, taking an absolute value of the difference value, and And multiplying the absolute value by the zone-specific constant value.
상기 존별 상수값은 존 숫자에 반비례하는 것을 특징으로 한다.The zone-specific constant value is inversely proportional to the zone number.
상기 SDL에 등록된 결함 블록의 존과 대체 블록의 존이 같으면 해당 존의 존별 상수값을 곱하는 것을 특징으로 한다.When the zone of the defective block registered in the SDL and the zone of the replacement block are the same, the zone-specific constant value of the corresponding zone is multiplied.
상기 SDL에 등록된 결함 블록의 존과 대체 블록의 존이 다르면 두 존의 존별 상수값중 큰 값을 선택하여 곱하는 것을 특징으로 한다.If the zone of the defective block registered in the SDL and the zone of the replacement block is different, a large value among the zone-specific constant values of the two zones is selected and multiplied.
본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법은, 포맷팅이 선택되면 SDL에 등록된 결함 정보를 PDL에 옮겼을 때의 오버플로우를 계산하는 단계와, 상기 단계에서 오버플로우로 판별되면 상기 SDL에 등록된 각 결함 블록들의 리니어 대체 소요 시간을 계산하는 단계와, 리니어 대체 소요 시간이 긴 순서대로 상기 SDL 엔트리들을 정렬하는 단계와, 상기 정렬된 순서대로 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 정보를 PDL로 옮기는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The method of formatting an optical recording medium according to the present invention comprises the steps of: calculating an overflow when the defect information registered in the SDL is transferred to the PDL when formatting is selected; and when the overflow is determined in the step, each registered in the SDL. Calculating linear replacement time of defective blocks, arranging the SDL entries in order of linear replacement time being long, and transferring information of the defect blocks registered in the SDL in the sorted order to the PDL. It is characterized by comprising.
상기 오버플로우 계산 단계의 계산 결과가 오버플로우가 아니라고 판별되면 상기 SDL에 등록된 모든 결함 정보를 PDL로 옮기는 것을 특징으로 한다.If it is determined that the calculation result of the overflow calculation step is not an overflow, all defect information registered in the SDL is transferred to the PDL.
본 발명의 다른 목적, 특징 및 잇점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.Other objects, features and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of embodiments taken in conjunction with the accompanying drawings.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 포맷팅시 리니어 대체에 시간이 오래 걸리는 SDL의 결함 블록 즉, 픽업의 이송 거리가 긴 것부터 PDL로 옮겨 리니어 대체 시간을 줄이는데 있다.The present invention aims to reduce linear replacement time by transferring a defective block of SDL, which takes a long time for linear replacement during formatting, that is, a long transfer distance of pickup to PDL.
도 4는 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법을 나타낸 흐름도로서, 재포맷팅이 선택되면(단계 401), SDL에 등록된 결함 블록들의 리니어 대체 소요 시간을 각 블록마다 모두 계산한다(단계 402). 4 is a flowchart illustrating a method for formatting an optical recording medium according to the present invention. When reformatting is selected (step 401), the linear replacement time required for the defective blocks registered in the SDL is calculated for each block (step 402). .
이를 위해 먼저, 하기의 수학식 2와 같이 SDL 엔트리의 결함 블록의 첫 번째 섹터의 물리적 인식 번호(Physical Identification ; PID)와 대체 블록의 첫 번째 섹터의 PID와의 차를 구한 후 그 차 값에 절대치를 취하여 결함 블록과 대체 블록간의 거리(T1)를 구한다.To do this, first, calculate the difference between the physical identification number (Physical Identification; PID) of the first sector of the defective block of the SDL entry and the PID of the first sector of the replacement block, as shown in Equation 2 below, and then set the absolute value to the difference value. The distance T1 between the defective block and the replacement block is obtained.
여기서, 거리(T1)가 바로 리니어 대체 시간을 의미하지는 않는다. 즉, 존의 숫자가 외주로 갈수록 커진다고 가정할 때, 존의 숫자가 커질수록 두 블록간의 거리가 멀어도 실제적인 거리는 짧아지므로 상기 거리(T1)만으로는 리니어 대체 시간을 알 수 없다. 이는 광 디스크가 외주 방향으로 갈수록 반지름 크기가 커지면서 해당 존의 섹터 개수도 많아지기 때문이며, 동일한 리니어 대체 시간이라면 외주로 갈수록 두 블록간의 PID 차값은 더욱 커진다.Here, the distance T1 does not mean linear replacement time directly. That is, assuming that the number of zones is increased toward the outer periphery, even if the distance is greater, the actual distance is shorter as the number of zones increases, so the linear replacement time cannot be known only by the distance T1. This is because the radius of the optical disk increases in the circumferential direction and the number of sectors in the zone increases, and the PID difference between the two blocks increases as the circumferential direction becomes the same.
따라서, 상기 수학식 2에서 구한 거리(T1)에 존 숫자에 반비례하는 상수값(α)을 곱하면 하기의 수학식 3과 같이 실제 리니어 대체에 걸리는 시간이 구해진다.Therefore, multiplying the distance T1 obtained from Equation 2 by the constant value α inversely proportional to the zone number, the time required for the actual linear replacement is obtained as shown in Equation 3 below.
상기 수학식 3에서, 상기 SDL 엔트리의 결함 블록의 존과 대체 블록의 존이 같을 때는 해당 존의 존별 상수값(α)을 곱해준다. 한편, 상기 SDL 엔트리의 결함 블록의 존과 대체 블록의 존이 다를 때는 각 존의 존별 상수값(α)을 비교하여 그중 존별 상수값(α)이 큰 값을 선택해 곱해주는 것이 더 유리하다.In Equation 3, when the zone of the defective block of the SDL entry and the zone of the replacement block are the same, the constant value α for each zone of the corresponding zone is multiplied. On the other hand, when the zone of the defective block and the zone of the replacement block of the SDL entry is different, it is more advantageous to compare the constant value (α) for each zone of each zone and select and multiply a value having a large constant value (α) among them.
즉, 결함 블록에 대한 대체 블록이 결함 블록보다 외주쪽에 있는 다른 존의 스페어 영역에 할당되어 있을 수도 있고, 결함 블록에 대한 대체 블록이 결함 블록보다 내주쪽에 있는 다른 존의 스페어 영역에 할당되어 있을 수도 있기 때문이다.That is, the replacement block for the defective block may be allocated to the spare area of another zone that is outer side than the defective block, or the replacement block for the defective block may be allocated to the spare area of the other zone that is inner side than the defective block. Because there is.
이때, 상기 존별 상수값(α)은 내주쪽에 가중치를 주기 위하여 존 숫자에 반비례하므로 내주쪽의 존별 상수값(α)이 외주쪽보다 크다. 그러므로, SDL을 PDL로 옮기는 우선 순위를 높게 가져가기 위해서 두 블록간의 존별 상수값을 비교한 후 더 큰값을 선택해 곱해주는 것이다.At this time, the zone-specific constant value α is inversely proportional to the number of zones in order to weight the inner circumferential side, so the zone-specific constant value α on the inner circumferential side is larger than the outer circumferential side. Therefore, in order to increase the priority of moving the SDL to the PDL, the zone-specific constant values between the two blocks are compared, and then a larger value is selected and multiplied.
이와 같은 과정으로 SDL에 등록된 모든 결함 블록에 대해 리니어 대체 소요 시간을 구한 후 상기 SDL 엔트리 즉, SDL에 등록된 모든 결함 블록들을 리니어 대체 소요 시간이 긴 순서대로 정렬한다(단계 403). In this way, the linear replacement time is calculated for all the defective blocks registered in the SDL, and then all the defective blocks registered in the SDL entry, that is, the SDL, are sorted in the order of the longest linear replacement time (step 403).
그리고, 상기 정렬된 순서대로 SDL에 등록된 결함 블록들을 PDL로 옮기면서(단계 404), PDL의 오버플로우를 검사한다(단계 405).Then, the defective blocks registered in the SDL are transferred to the PDL in the sorted order (step 404), and the overflow of the PDL is checked (step 405).
상기 단계 405에서 오버플로우가 발생하였다고 판별되면 남아있는 SDL 엔트리들은 새로운 SDL 엔트리에 리스트된다(단계 406).If it is determined in step 405 that an overflow has occurred, the remaining SDL entries are listed in a new SDL entry (step 406).
이때, PDL의 오버플로우에 의해 일부가 그대로 SDL에 남게 되더라도 리니어 대체 소요 시간이 짧은 엔트리들만 남게 되므로 이후의 데이터 기록/재생시 리니어 대체 시간을 줄일 수 있다.At this time, even if a portion is left in the SDL due to the overflow of the PDL, only entries having a short time for linear replacement remain, so that the linear replacement time can be reduced during subsequent data recording / reproducing.
도 5는 본 발명의 다른 실시예로서, 포맷팅이 선택되면(단계 501), 먼저 SDL에 등록된 결함 블록들을 PDL로 옮겼을 때 PDL에 오버플로우가 발생할 것인지를 미리 계산한 후 PDL의 오버플로우 유무에 따라 상기된 도 4의 과정을 진행하는 것이다. 여기서, 만일 재포맷팅이 풀 포맷팅이나 부분 포맷팅이라면 SDL에 등록된 결함 블록들 중 결함이 있는 섹터들을 PDL의 G1-리스트로 옮겼을 때의 오버플로우를 계산하고, 단순 포맷팅이라면 SDL에 등록된 모든 결함 블록들을 PDL의 G2-리스트로 옮겼을 경우의 오버플로우를 계산한다(단계 502). 예를 들어, 단순 포맷팅일 경우, 현 PDL 엔트리 개수와 현 SDL 엔트리 개수를 더한 후 그 결과가 상기된 수학식 1의 제한 조건에 해당되면 오버플로우가 발생하는 것이다.5 is another embodiment of the present invention, if formatting is selected (step 501), first calculate whether the overflow occurs in the PDL when the defect blocks registered in the SDL to the PDL, and then whether or not the overflow of the PDL In accordance with the above-described process of FIG. Here, if the reformatting is full or partial formatting, calculate the overflow when the defective sectors among the defective blocks registered in the SDL are moved to the G 1 -list of the PDL, and if the simple formatting is all defects registered in the SDL The overflow is calculated when the blocks have been moved to the G 2 -list of the PDL (step 502). For example, in the case of simple formatting, an overflow occurs when the current PDL entry number and the current SDL entry number are added, and the result corresponds to the above-described constraint of Equation 1 above.
이때, SDL에 등록된 결함 블록을 PDL의 G1-리스트 또는 G2-리스트로 옮길 때 PDL의 오버플로우가 발생하지 않는다면 SDL에 등록된 결함 블록들은 모두 PDL로 변환되므로 도 4와 같은 리니어 대체 소요 시간을 구하여 정렬하는 과정이 필요없어진다(단계 503).At this time, if the PDL overflow does not occur when the defect block registered in the SDL is moved to the G 1 -list or the G 2 -list of the PDL, all the defective blocks registered in the SDL are converted to the PDL. The process of obtaining and sorting time is unnecessary (step 503).
이때는 SDL에 등록된 결함 블록들을 그대로 PDL로 옮기면 된다(단계 504).In this case, the defective blocks registered in the SDL may be transferred directly to the PDL (step 504).
한편, PDL의 오버플로우가 예상된다면 도 4의 과정을 그대로 수행하면 된다(도 5의 단계 505 ∼ 509에 해당).Meanwhile, if an overflow of the PDL is expected, the process of FIG. 4 may be performed as it is (corresponding to steps 505 to 509 of FIG. 5).
이상에서와 같이 본 발명에 따른 광기록매체의 포맷팅 방법에 의하면, 재포맷팅에 의해 SDL에 등록된 결함 블록들을 PDL로 옮길 때 리니어 대체 소요 시간이 긴 블록들부터 먼저 PDL로 옮김으로써, 이후 기록/재생시의 리니어 대체 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 포맷팅 과정에서 PDL에 오버플로우가 발생하여 SDL에 등록된 결함 블록들을 모두 PDL로 못 옮기더라도 시스템의 성능을 높일 수 있다.As described above, according to the method for formatting an optical recording medium according to the present invention, when moving defective blocks registered in the SDL to the PDL by reformatting, the first block having the long linear replacement time is first moved to the PDL, and then the recording / Linear replacement time during playback can be reduced. Therefore, even if the overflow occurs in the PDL during the formatting process, even if all the defective blocks registered in the SDL cannot be moved to the PDL, the performance of the system can be improved.
도 1은 일반적인 광디스크의 구조를 보인 도면1 is a view showing the structure of a typical optical disk
도 2a는 일반적인 슬리핑 대체 방법을 보여주는 도면Figure 2a shows a typical sleeping alternative method
도 2b는 일반적인 리니어 대체 방법을 보여주는 도면2b illustrates a typical linear replacement method
도 3은 광 디스크 상에서 리니어 대체가 수행되는 일반적인 과정을 보인 도면3 is a diagram illustrating a general process in which linear replacement is performed on an optical disc;
도 4는 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법을 실시예를 나타낸 흐름도4 is a flowchart illustrating an embodiment of a method of formatting an optical record carrier according to the present invention.
도 5는 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법을 다른 실시예를 나타낸 흐름도5 is a flowchart illustrating another embodiment of a method of formatting an optical record carrier according to the present invention.
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1998
- 1998-12-18 KR KR1019980056109A patent/KR100609859B1/en not_active IP Right Cessation
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