KR100519957B1 - Sagitta Gauging Apparatus of Glass Panel for Cathode-ray Tube - Google Patents
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Abstract
본 발명은 음극선관용 유리 패널(Panel)의 내면 센터 페이스(Center Face) 측정값인 사지타(Sagitta) 값을 용이하게 측정할 수 있는 음극선관용 사지타 측정장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 음극선관용 사지타 측정장치는, 유리 패널(Panel;P)을 성형하는 성형부(10)와 성형된 유리 패널(P)에 고정핀(21)을 융착하는 고정핀 융착부(20) 사이에 설치되는 컨베이어(Conveyor;30)와, 상기 컨베이어(30)에 의해 이송되는 유리 패널(P)을 감지하는 센서(Sensor;40)와, 상기 센서(40)의 신호에 의해 작동되어 상기 유리 패널(P)을 정지시키는 스토퍼(Stopper;50)와, 상기 스토퍼(50)에 의해 정지된 유리 패널(P)을 상부로 들어올리는 리프터(Lifter;60)와, 상기 리프터(60)에 의해 들어올려진 유리 패널(P)의 두께를 측정하는 탐침(71)이 구비된 측정부(70)를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an apparatus for measuring a sagittal for a cathode ray tube that can easily measure a Sagitta value, which is an inner center face measurement of a glass panel for a cathode ray tube. According to the present invention, a sagitta measuring device for a cathode ray tube includes a molding part 10 for molding a glass panel (P) and a fixing pin fusion part (20) for fusion welding the fixing pin (21) to the molded glass panel (P). ) Is installed between the conveyor (Conveyor) 30, the sensor (40) for detecting the glass panel (P) transported by the conveyor 30, and is operated by the signal of the sensor 40 A stopper 50 for stopping the glass panel P, a lifter 60 for lifting the glass panel P stopped by the stopper 50 upward, and the lifter 60 It characterized in that it comprises a measuring unit 70 is provided with a probe 71 for measuring the thickness of the lifted glass panel (P).
Description
본 발명은 음극선관용 유리 패널(Panel)의 내면 센터 페이스(Center Face) 측정값인 사지타(Sagitta) 값을 용이하게 측정할 수 있는 음극선관용 사지타 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring a sagittal for a cathode ray tube that can easily measure a Sagitta value, which is an inner center face measurement of a glass panel for a cathode ray tube.
일반적으로 음극선관은 화상이 투사되는 패널과, 패널의 배후에 결합되는 깔때기 형상의 펀넬(Funnel)을 구비하고 있다. 이들은 용융된 글라스(Glass)를 각각의 성형장치에 공급하여 이를 플런저(Plunger)로 가압함으로써 성형된다. In general, a cathode ray tube includes a panel on which an image is projected, and a funnel-shaped funnel coupled to the rear of the panel. They are molded by feeding molten glass to each forming apparatus and pressing it with a plunger.
패널은 화상이 투사되는 페이스(Face)와 페이스의 연부로부터 절곡되어 둘레방향을 따라 연장된 스커트(Skirt)로 구성된다. 상기 패널의 페이스는 장축 및 단축, 대각축 등의 곡률이 상호 다르게 형성된 복합곡면으로 이루어져 있다.The panel is composed of a face on which an image is projected and a skirt bent from the edge of the face and extending along the circumferential direction. The face of the panel is composed of a compound curved surface formed with different curvatures such as long axis and short axis, diagonal axis.
패널을 제조하는 일반적인 설비는 유리 고브(Gob)를 공급받아 패널을 성형하는 성형부(10)와, 상기 성형부에서 성형된 패널의 스커트에 새도우 마스크(Shadow Mask)를 고정시키기 위한 고정핀을 융착하는 고정핀 융착부(20)로 구성된다.The general apparatus for manufacturing a panel is fused with a molding part 10 for molding a panel by receiving a glass gob and a fixing pin for fixing a shadow mask to a skirt of the panel molded in the molding part. It consists of a fixing pin fusion unit 20.
성형부(10)는 도1에서 도시한 바와 같이, 컬럼(11)과, 컬럼(11)을 중심으로 회전 가능하도록 배치되는 턴테이블(Turn Table)(12)과, 상기 턴테이블(2) 상에 원주방향으로 패널의 성형 및 냉각을 위한 일련의 공정을 수행할 수 있도록 #1~#11 스테이션(Station)별로 배치되어 있는 몰드(Mold)(13)들로 구성된다As shown in FIG. 1, the molding part 10 includes a column 11, a turn table 12 disposed to be rotatable about the column 11, and a circumference on the turn table 2. It consists of molds 13 arranged by # 1 ~ # 11 stations so as to perform a series of processes for forming and cooling the panel in the directions.
일반적으로, 고정핀 융착부(20)는 도2에서와 같이, 고정핀(21)(도3참조)을 융착하는 융착기(22)들이 1~6호기로 구성되어 2줄로 배치되어 있으며, 이중 3호기(#Ⅲ)에는 패널의 내면 사지타를 측정할 수 있는 사지타 측정기(70a)가 구비되어 있다.In general, as shown in Figure 2, the fixing pin fusion unit 20, the fusion machine 22 for fusion of the fixing pin 21 (see Fig. 3) is composed of the first to six units are arranged in two lines, three of the The exhalation #III is equipped with the sagitator measuring device 70a which can measure the inner surface sagitator of a panel.
이와 같은 구성의 성형부(10)와 고정핀 융착부(20)로 이루어진 패널 제조설비에서는, 성형부 각각의 몰드(13)에서 플런저의 가압에 의해 성형된 유리 패널을 컨베이어(Conveyor)를 이용하여 고정핀 융착부(20)로 이송하게 된다. 고정핀 융착부(20)에 이송된 패널(P)은 각 융착기(22)에 안내되어 패널(P) 장축의 양 스커트에 고정핀(21)을 융착하게 된다. 그리고, 융착기(22)들 중 3호기(#Ⅲ))에 안내된 패널은 고정핀(21)이 융착됨과 동시에, 사지타 측정기(70a)에 의해 그 패널의 사지타를 측정하게 된다.In the panel manufacturing equipment consisting of the molded part 10 and the fixing pin fusion part 20 having such a configuration, a glass panel molded by pressing the plunger in each mold 13 of the molded part is formed using a conveyor. It is transferred to the fixing pin fusion unit 20. The panel P transferred to the fixing pin fusion unit 20 is guided to each fusion machine 22 to fuse the fixing pin 21 to both skirts of the long axis of the panel P. In addition, the panel guided to the third unit (#III) of the fusion splicer 22 is the fixing pin 21 is fused, and the sagitator of the panel is measured by the sagitator measuring device 70a.
패널의 사지타를 측정하는 이유는, 제조되는 패널이 설계치수의 규격에 맞게 생산되고 있는지 검사를 함으로써 불량 제품을 방지하고 양질의 제품을 생산하기 위한 것이다.The reason for measuring the sagita of the panel is to prevent the defective product and to produce a good product by inspecting whether the manufactured panel is produced to the specification of the design dimensions.
즉, 치수가 다른 패널을 제조하기 위하여 몰드와 플런저를 교체한 경우, 또는 설비의 고장으로 가동을 일시 중단한 등의 경우에는 설비를 새로이 가동해야 하는데, 이 때 몰드와 플런저의 조건들, 이를테면 가열온도, 치수, 및 압력 등의 여러 조건들이 이전과 달라지기 때문에 규격에 맞는 양질의 제품이 생산되기 어렵다. 따라서, 설계치수의 규격에 맞는 패널이 생산될 때까지 패널의 사지타의 값을 조절하여 제품의 신뢰성을 높이는 것이 필요하다.In other words, when the mold and plunger are replaced to manufacture a panel having a different dimension, or when the operation is suspended due to a failure of the equipment, the equipment must be restarted. The conditions of the mold and plunger, such as heating Many conditions, such as temperature, dimensions, and pressure, are different from before, making it difficult to produce quality products that meet specifications. Therefore, it is necessary to increase the reliability of the product by adjusting the sagitator value of the panel until the panel is produced in accordance with the specification of the design dimensions.
도2를 참고하여 종래의 사지타 값을 측정하는 일례를 설명하면, 각 번호대로 측정할 몰드가 #1∼#11 스테이션이고 융착기가 #1∼#6호기(#3호기에는 사지타 측정기가 설치되어 있음)로 구성되어 있으므로, 각 몰드에서 성형되는 패널의 사지타를 측정하기 위한 1주기는 최소한 66(11 x 6)회를 넘어야 한다. 즉, 최소한 패널을 66개 성형하여야 각 몰드에서 성형된 패널의 사지타를 모두 측정할 수 있다.Referring to Fig. 2, an example of measuring a conventional sagitta value will be described. The molds to be measured according to the respective numbers are # 1 to # 11 stations, and the fusion machine is # 1 to # 6. In order to measure the sagita of the panel being molded in each mold, one cycle should be at least 66 (11 x 6) times. That is, at least 66 panels must be molded to measure all the sagitators of the panels formed in each mold.
여기서, '최소한'이라 함은 #1∼#11 스테이션으로 된 각 몰드에서 성형된 패널이 사지타 측정기가 설치된 융착기의 #3호기(#Ⅲ))에 순차적으로 공급되었을 경우에 해당된다. 하지만 생산현장에서는 성형된 패널이 융착기에 순차적으로 공급되지 않고 비어있는 융착기에 순서없이 공급되므로, 실제로는 66회 이상이 되는 경우도 발생한다.Here, the term 'minimum' corresponds to a case where panels formed in each mold of # 1 to # 11 stations are sequentially supplied to # 3 (#III) of the fusion machine equipped with the sagitta measuring device. However, in the production site, since the molded panels are not sequentially supplied to the fusion splicer and are sequentially supplied to the empty fusion splicer, there are cases in which more than 66 times actually occur.
이와 같이 각 몰드의 스테이션 별로 성형되는 패널의 사지타를 1주기 모두 측정한 결과 그 패널이 설계치수에 이르지 못하고 오차가 있을 경우에는, 패널이 설계치수에 도달할 때까지, 즉 패널의 사지타 값이 안정화될 때까지 사지타 값을 측정할 필요가 있다. 이 때, 패널의 사지타 값이 설계치수에 도달하고 안정화되기 전까지 성형된 패널은 불량품이 될 가능성이 높으므로 패널의 사지타 값을 최대한 빠른 시간 내에 안정화시킴으로서 패널 및 시간적인 로스(Loss)를 최대한 줄이는 것이 중요하다.As a result of measuring the sagitator of the panel to be molded for each station of each mold as a result, if the panel does not reach the design dimension and there is an error, until the panel reaches the design dimension, that is, the sagitator value of the panel It is necessary to measure the sagita value until it stabilizes. At this time, the molded panel is likely to be a defective product until the sagita value of the panel reaches the design dimension and stabilizes, thereby stabilizing the sagita value of the panel as soon as possible to maximize the panel and temporal loss. It is important to reduce.
이와 같이 종래의 방법으로 몰드를 교체한 후 패널의 사지타 값을 안정화시키는데는 적어도 50 ∼ 60분 정도의 많은 시간이 소요되며, 또한, 플런저 교체 후 온도변화에 따른 안정화 시간도 적어도 20 ∼ 30분 정도의 비교적 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다.As described above, it takes a long time, at least 50 to 60 minutes, to stabilize the sagittal value of the panel after replacing the mold by a conventional method, and at least 20 to 30 minutes to stabilize the temperature according to the temperature change after replacing the plunger. There was a problem that takes a relatively long time.
또한, 고정핀 융착부의 내부에 사지타 측정기를 설치함으로 인하여 융착기의 사용대수가 제한될 뿐만 아니라, 작업자의 작업공간이 좁아 사지타 측정기를 설치하고 조정하는데 불편한 문제점이 있었다.In addition, the number of the use of the fusion machine is not only limited by the installation of the digitizer measuring device inside the fixing pin fusion unit, there is a problem in that it is inconvenient to install and adjust the digitizer measuring machine because the work space is narrow.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 유리 패널을 성형하는 몰드 및 플런저를 교체한 후 고정핀을 융착하는 융착기와는 무관하게 패널의 로스(Loss)를 줄이면서, 교체한 몰드와 플런저를 안정화시키는 시간을 단축할 수 있는 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the mold and the plunger is replaced, while reducing the loss of the panel (Loss) irrespective of the fusion splicer fixing pins after replacing the mold and plunger forming the glass panel It is an object of the present invention to provide a sagitta measuring device for the glass panel for cathode ray tube that can shorten the time to stabilize the.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치는, 유리 패널을 성형하는 성형부와 성형된 유리 패널에 고정핀을 융착하는 고정핀 융착부 사이에 설치되는 컨베이어와, 상기 컨베이어에 의해 이송되는 유리 패널을 감지하는 센서와, 상기 센서의 신호에 의해 작동되어 상기 유리 패널을 정지시키는 스토퍼와, 상기 스토퍼에 의해 정지된 유리 패널을 상부로 들어올리는 리프터와, 상기 리프터에 의해 들어올려진 유리 패널의 두께를 측정하는 탐침이 구비된 측정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The sagittal measuring apparatus of the glass panel for cathode ray tube of the present invention for achieving the above technical problem, and the conveyor is provided between the molded part for molding the glass panel and the fixed pin fusion unit for fusion of the fixed pin to the molded glass panel; A sensor for sensing a glass panel conveyed by the conveyor, a stopper operated by a signal of the sensor to stop the glass panel, a lifter for lifting the glass panel stopped by the stopper upwards, and the lifter And a measuring unit provided with a probe for measuring the thickness of the glass panel lifted by the.
여기서, 상기 측정부는 실린더를 이용하여 상하 승강 가능한 구조로 구비되는 것을 특징으로 한다.Here, the measuring unit is characterized in that it is provided with a structure capable of lifting up and down using a cylinder.
또한, 상기 탐침은 5개로 형성되어 유리 패널의 중앙과 4모서리부의 두께를 측정하는 것을 특징으로 한다.In addition, the probe is formed of five to measure the thickness of the center of the glass panel and the four corners.
이하, 첨부도면에 도시하는 대표적인 실시예를 통하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to exemplary embodiments shown in the accompanying drawings.
도4는 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치를 도시한 일측면도이고, 도5 내지 도9는 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치의 작동관계를 도시한 예시도이다.Figure 4 is a side view showing a sitter measuring device of the cathode ray tube glass panel according to the present invention, Figures 5 to 9 is an exemplary view showing the operation relationship of the sitter measuring apparatus of the glass panel for cathode ray tube according to the present invention. to be.
본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치는, 유리 패널(Panel)(P)을 성형하는 성형부(10)와 성형된 유리 패널(P)에 고정핀(21)을 융착하는 고정핀 융착부(20) 사이에 설치되는 컨베이어(Conveyor)(30)와(도1 내지 도3참조),According to the present invention, a sagitta measuring device for a glass panel for a cathode ray tube includes a molding part 10 for molding a glass panel P and a fixing pin for fusion welding the fixing pin 21 to the molded glass panel P. Conveyor 30 is installed between the fusion unit 20 (see Figs. 1 to 3),
상기 컨베이어(30)에 의해 이송되는 유리 패널(P)을 감지하는 센서(Sensor)(40)와,Sensor 40 for detecting the glass panel (P) transported by the conveyor 30,
상기 센서(40)의 신호에 의해 작동되어 상기 유리 패널(P)을 정지시키는 스토퍼(stopper)(50)와,A stopper 50 operated by the signal of the sensor 40 to stop the glass panel P,
상기 스토퍼(50)에 의해 정지된 유리 패널(P)을 상부로 들어 올리는 리프터(Lifter)(60)와,A lifter 60 for lifting the glass panel P stopped by the stopper 50 upwards,
상기 리프터(60)에 의해 들어 올려진 유리 패널(P)의 두께를 측정하는 탐침(71)이 구비된 측정부(70)를 포함하는 것을 특징으로 한다.It characterized in that it comprises a measuring unit 70 is provided with a probe 71 for measuring the thickness of the glass panel (P) lifted by the lifter 60.
여기서, 상기 측정부(70)는 상하로 승강 가능한 구조로 되어 있으며, 또한 상기 탐침(71)은 5개로 형성되어 유리 패널의 중앙과 4모서리부의 두께를 측정하도록 되어 있다.Here, the measuring unit 70 has a structure capable of lifting up and down, and the probes 71 are formed in five to measure the thickness of the center of the glass panel and the four corners.
이와 같이 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치는, 고정핀 융착부(20)와 함께 설치되었던 종래의 것과는 달리, 패널 성형부(10)와 고정핀 융착부(20) 사이에 설치된 컨베이어(30) 상에 독립적으로 설치되는 점에 그 특징이 있다. 따라서, 패널 성형부(10)의 각 몰드(13)에서 순서대로 성형되어 나오는 패널에 대해 사지타 값을 연속적으로 측정할 수 있다.As described above, the sagitator measuring apparatus of the glass panel for the cathode ray tube according to the present invention is installed between the panel forming part 10 and the fixing pin fusion part 20, unlike the conventional one which was installed together with the fixing pin fusion part 20. Its feature is that it is installed independently on the conveyor 30. Therefore, the sageta value can be measured continuously about the panel shape | molded by the each mold 13 of the panel shaping part 10 in order.
본 발명에 의하면 몰드(13)가 #1∼#11 스테이션일 경우 패널의 사지타 값을 안정화시키는데 대략 20 ∼ 30분 정도의 시간이 소요되고, 또한, 플런저(미도시)를 안정화하는데 대략 10분 정도의 시간이 소요되어, 종래에 비하여 많은 시간을 단축할 수 있다.According to the present invention, when the mold 13 is a # 1 to # 11 station, it takes about 20 to 30 minutes to stabilize the sagita value of the panel, and about 10 minutes to stabilize the plunger (not shown). It takes time, and much time can be shortened compared with the past.
한편, 음극선관용 패널의 사지타를 측정하는 방식을 간단히 설명하면, 패널(P)의 가운데 점(C/F:Center Face)과 대각선상에 위치하는 4모서리부(A,B,C,D)의 높이를 각각 측정하고, 패널(P)의 가운데 점(C/F)의 높이 값에서 대각선상에 위치하는 4모서리부(A,B,C,D)의 높이 값을 모두 더하여 4로 나눈 값을 빼면 패널(P)의 사지타 값이 된다(도3참조). 이를 관계식으로 나타내면 다음과 같다.On the other hand, the method of measuring the sagitator of the cathode ray tube panel briefly described, the four corners (A, B, C, D) located on the diagonal with the center point (C / F: Center Face) of the panel (P) Measure the height of, and add the height value of 4 edges (A, B, C, D) on the diagonal from the height value of center point (C / F) of panel (P) divided by 4 If subtracted, it becomes the digit value of panel P (refer FIG. 3). This is expressed as a relational expression as follows.
SGT = C/F - (A+B+C+D)/4SGT = C / F-(A + B + C + D) / 4
여기서, SGT는 패널의 사지타 측정값이고, C/F는 패널의 가운데 점 높이 값이며, A,B,C,D는 패널의 대각선상의 각 4모서리부의 높이 값이다.Here, SGT is the measured digit of the panel, C / F is the center point height value of the panel, and A, B, C, and D are the height values of each four corners of the panel diagonally.
도5 내지 도9를 통하여 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치의 작동관계를 설명하면 다음과 같다.5 to 9 will be described the operation relationship of the sagitator measuring apparatus of the glass panel for the cathode ray tube according to the present invention.
도5는 패널(P)이 성형부(미도시)에서 배출되어 컨베이어(30)를 통하여 이송되는 과정을 나타낸 것으로, 이 때는 패널(P)이 본 발명의 사지타 측정장치로 진입하기 전이므로 리프터(60)와 스토퍼(50)가 모두 하강된 상태에 있다.5 shows a process in which the panel P is discharged from the forming part (not shown) and transported through the conveyor 30. In this case, the panel P is before entering the sagitator measuring apparatus of the present invention. Both the 60 and the stopper 50 are in the lowered state.
도6은 패널(P)이 본 사지타 측정장치 안으로 진입된 상태로서, 패널(P)의 진입을 센서(40)가 감지하여 스토퍼(50)로 신호를 보내고, 신호를 받은 스토퍼(50)는 실린더의 작동에 의해 컨베이어(30) 위로 상승되어 상기 스토퍼(50)에 의해 패널(P)이 정지된 상태에 있다.6 is a state in which the panel P enters the present sagitator measuring device, and the sensor 40 detects the entry of the panel P and sends a signal to the stopper 50. The stopper 50 receives the signal. The operation of the cylinder raises the conveyor 30 and the panel P is stopped by the stopper 50.
도7 및 도8은 제어부(미도시)의 신호에 의해 리프터(60)가 상승하면서 상기 패널(P)을 측정부(70)의 탐침(71)에 접촉시킨 상태를 나타낸 것이다. 이 때, 측정부(70)는 5개의 탐침(71)으로 구성되어 패널(P)의 내면 5군데에서 패널의 높이를 측정하여 제어부(미도시)로 송신하게 되고, 제어부에서는 각 몰드에서 순차적으로 성형되어 나오는 패널(P)의 사지타 값을 연산하게 된다.7 and 8 illustrate a state in which the panel P is brought into contact with the probe 71 of the measuring unit 70 while the lifter 60 is raised by a signal of a controller (not shown). At this time, the measuring unit 70 is composed of five probes 71 to measure the height of the panel at five places on the inner surface of the panel P to transmit to the control unit (not shown), the control unit in sequence in each mold The digitizer value of the panel P molded is calculated.
도9는 패널(P)의 측정이 끝난 후 리프터(60) 및 스토퍼(50)가 하강되고 측정된 패널(P)이 고정핀 융착부(미도시)로 이송되는 상태이다. 이와 같은 동작을 반복함으로써 각 몰드의 스테이션별로 성형되는 패널(P)의 사지타 값을 연속적으로 측정할 수 있다.9 is a state in which the lifter 60 and the stopper 50 are lowered after the measurement of the panel P, and the measured panel P is transferred to the fixing pin fusion unit (not shown). By repeating such an operation, the sagitator value of the panel P molded for each station of each mold can be continuously measured.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치에 의하면, 유리 패널을 성형하는 성형부에 연이은 위치에 사지타 측정장치를 설치하여 각 몰드의 스테이션별로 성형되는 패널의 사지타 값을 연속적으로 측정함으로써, 몰드와 플런저의 안정화 시간을 대폭적으로 단축할 수 있는 효과를 갖는다.As described above, according to the sagitator measuring apparatus of the glass panel for cathode ray tube according to the present invention, the sagitta of the panel to be formed for each station of each mold by installing the sagitta measuring apparatus at a subsequent position in the molding part for forming the glass panel. By continuously measuring the value, the stabilization time of the mold and the plunger can be significantly shortened.
또한, 본 발명의 사지타 측정장치는 고정핀을 융착하는 융착기 내부에 설치한 종래의 것과는 달리, 컨베이어 상에 독립적으로 설치함으로써 고장이 발생할 경우 수리할 수 있는 작업공간을 넓게 확보할 수 있으며, 또한 융착기의 사용대수를 보다 자유롭게 증대시킬 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the sagittal measuring device of the present invention, unlike the conventional installation inside the fusion machine for fusion of the fixing pin, by independently installed on the conveyor can secure a wide work space that can be repaired in the event of a failure, and also It has the effect of increasing the number of uses of the fusion machine more freely.
도1은 일반적인 음극선관용 유리 패널의 성형설비를 개략적으로 도시한 평면도,1 is a plan view schematically showing a molding facility of a glass panel for a typical cathode ray tube;
도2는 일반적인 음극선관용 유리 패널에 고정핀을 융착하는 고정핀 융착설비를 개략적으로 도시한 평면도,FIG. 2 is a plan view schematically illustrating a fixing pin welding device for fusion fixing pins to a glass panel for a typical cathode ray tube;
도3은 일반적인 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정위치를 도시한 평면도,3 is a plan view showing the position of the sagitator of the glass panel for a typical cathode ray tube;
도4는 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치를 도시한 일측면도,Figure 4 is a side view showing a sagitator measuring apparatus of the glass panel for the cathode ray tube according to the present invention,
도5 내지 도9는 본 발명에 따른 음극선관용 유리 패널의 사지타 측정장치의 작동관계를 도시한 예시도.5 to 9 are exemplary views showing the operation relationship of the sagittal measuring device of the glass panel for cathode ray tube according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10:성형부, 11:칼럼(Column), 10: molding, 11: column,
12:턴테이블(Turn Table), 13:몰드(Mold),12: Turn Table, 13: Mold,
20:고정핀 융착부, 21:고정핀,20: fixing pin welding part, 21: fixing pin,
22:융착기, 30:컨베이어(Conveyor),22: fusion machine, 30: conveyor (Conveyor),
40:센서(Sensor), 50:스토퍼(stopper),40: Sensor, 50: Stopper,
60:리프터(Lifter), 70,70a:측정부,60: Lifter, 70, 70a: Measuring unit,
71:탐침, P:유리 패널(Panel).71: probe, P: glass panel.
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2003-0049188A KR100519957B1 (en) | 2003-07-18 | 2003-07-18 | Sagitta Gauging Apparatus of Glass Panel for Cathode-ray Tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2003-0049188A KR100519957B1 (en) | 2003-07-18 | 2003-07-18 | Sagitta Gauging Apparatus of Glass Panel for Cathode-ray Tube |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20050009883A KR20050009883A (en) | 2005-01-26 |
| KR100519957B1 true KR100519957B1 (en) | 2005-10-13 |
Family
ID=37222469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2003-0049188A KR100519957B1 (en) | 2003-07-18 | 2003-07-18 | Sagitta Gauging Apparatus of Glass Panel for Cathode-ray Tube |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100519957B1 (en) |
-
2003
- 2003-07-18 KR KR10-2003-0049188A patent/KR100519957B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20050009883A (en) | 2005-01-26 |
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