JPH0992933A - 波長可変半導体レーザ - Google Patents

波長可変半導体レーザ

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JPH0992933A
JPH0992933A JP7266106A JP26610695A JPH0992933A JP H0992933 A JPH0992933 A JP H0992933A JP 7266106 A JP7266106 A JP 7266106A JP 26610695 A JP26610695 A JP 26610695A JP H0992933 A JPH0992933 A JP H0992933A
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active stripe
beam sweeper
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昌幸 山口
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 単一の制御電流(電圧)により波長を可変す
ることができるようにする。大きな波長変化が得られる
ようにする。 【構成】 電流注入によって光学的利得が発生する活性
ストライプ2と、その一端に設けられたレーザビームの
出射角を調整する光ビーム掃引器3と、光をコリメート
するための機構としてのレンズ4と、回折格子5とが半
導体基板1a上に集積化される。レーザ共振器は活性ス
トライプ2の一方の端部(半導体のへき開面など)と回
折格子5との間で構成される。活性ストライプ2からの
レーザ光が回折格子5に入射する角度は、光ビーム掃引
器3によりビーム角を変えることにより調整がなされ
る。ここで、光ビーム掃引器3によりビーム角度を変え
ると、活性ストライプ2に戻る光の波長が変化するた
め、発振波長を可変することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、波長可変半導体レ
ーザに関し、特に回折格子を用いて波長チューニングを
行うようにした集積化波長可変半導体レーザに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】光ファイバ通信の高速化は近年急速に進
展している。現在、その伝送速度は光の送・受信器を構
成する電気回路の帯域によって制限されてしまうほどに
なってきている。そこで、伝送速度に対する電気的速度
制約を受けることなくトータルの伝送容量を簡単に増大
でき、かつ光の持つ広帯域性を有効に活用できる手段と
して、波長多重(WDM)光伝送方式が注目されるよう
になってきている。
【0003】また、これに関連するものとして波長分割
多重光交換システムや波長クロスコネクトシステムなど
が注目されるようになってきている。これらのシステム
では広い波長範囲で発振波長が可変の半導体レーザがキ
ーデバイスとして重要視される。要求される波長可変幅
は光ファイバ増幅器の帯域をフルに活用することを考え
て、約30nm程度が望まれる。また、波長可変レーザ
はそれを使用する側からすれば、単一の電流または電圧
によって波長制御が可能であることが望ましい。制御電
流が二つ以上あると所望の発振波長を得るのに複雑な制
御が必要になるからである。
【0004】広帯域な波長可変半導体レーザの代表的な
ものとしてSSG(Super Structure Grating )半導体
レーザがある(例えば、Y. Tohmori他、1993年発行
の IEEE Photonics Technology Letters誌、第5巻、第
2号、126頁〜129頁)。この従来例の断面図を図
7に示す。図7に示されるように、半導体基板31上に
は、二つの回折格子33が刻まれその上に光ガイド層3
2が形成されている。光ガイド層32上には、活性層3
4が形成され、その上にはクラッド層35が形成されて
いる。回折格子33は周期的な変調を受けており、これ
により活性領域の両側にSSG領域が形成される。活性
層34上には電極36が、また回折格子33上には電極
37が形成され、基板裏面には電極38が形成されてい
る。これらの電極により活性領域に主電流Iaを注入す
るとともに、SSG領域に制御電流It1 、It2 を注
入することにより発振波長を制御している。
【0005】これ以外にも、Y−分岐半導体レーザ(M.
Kuznetsov他、1992年発行の IEEE Photonics Tech
nology Letters誌、第4巻、第10、1093頁〜10
95頁)やサンプルドグレ−テイング・レーザ(V. Jay
araman他、1992年発行のApplied Phisics Letters
誌、第60巻、第19号、2321頁〜2323頁)な
どが広帯域な波長可変半導体レーザとして知られてい
る。さらに、半導体レーザの外部に設けた回折格子にレ
ーザ光を入射し、その戻り光(回折光)を受けるように
構成し、回折格子の角度を機械的に変えることによって
発振波長を変化させることも知られている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したSSGレーザ
では、所望の波長のレーザを得るために、二つの制御電
流It1 、It2 を調整しなければならない。そのた
め、制御回路が複雑になるという問題点があった。この
点は他の広帯域な集積化波長可変半導体レーザにも共通
であって、これらの従来例ではいずれも2ないしそれ以
上の制御電流を供給することが必要で制御が複雑になる
という問題があった。
【0007】また、半導体レーザの外部に回折格子を設
けこれによりチューニングを行う波長可変方式では、半
導体レーザと外部素子(回折格子)との位置合わせに多
大の時間がかかる外、装置の小型化が困難になるという
欠点があった。よって、本発明の目的とするところは、
集積化が可能で、所望の波長を得るための制御電流また
は制御電圧が一つで済み、簡単な制御回路により広帯域
に波長を可変することのできる波長可変半導体レーザを
提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明による波長可変半導体レーザは、電流注入に
より光学的利得が発生する活性ストライプ(2)と、該
活性ストライプの一方の端部に設けられた反射鏡と、該
活性ストライプの他方の端部に設けられた、水平面内で
の光の進行方向を電気的に変えることができる光ビーム
掃引器(3)と、該光ビーム掃引器の出射光を伝搬させ
るスラブ光導波路(14)と、該スラブ光導波路の先端
部に設けられた回折格子(5)と、が半導体基板(1)
上に集積化され、前記反射鏡と前記回折格子との間に共
振器が形成されていることを特徴とするのである。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て説明する。図1は、本発明による波長可変半導体レー
ザの概略の構成を示す概念図である。同図に示されるよ
うに、本発明による波長可変半導体レーザは、電流注入
によって光学的利得が発生する活性ストライプ2と、そ
の一端に設けられたレーザビームの出射角を調整する光
ビーム掃引器3と、光をコリメートするための機構とし
てのレンズ4と、回折格子5とが半導体基板1a上に集
積化された構成を有している。レーザ共振器は活性スト
ライプ2の一方の端部(半導体のへき開面などで構成さ
れる)と回折格子5との間で構成される。そして、活性
ストライプ2からのレーザ光が回折格子5に入射する角
度は、光ビーム掃引器3によりビーム角を変えることに
より調整がなされる。
【0010】ここで、回折格子5のピッチをΛ、回折格
子5の形成面に垂直な軸が活性ストライプ2の延長軸と
なす角をφ、光ビーム掃引器3からの出射ビームが活性
ストライプ2の延長線となす角度をθ、スラブ導波路
(レンズ4−回折格子間の板状導波路)の等価屈折率を
e とすると、次の(1)式を満足する波長λの光のみ
が回折格子5によって選択的に活性ストライプ2に戻さ
れ、その結果波長λでレーザ発振する。 λ=(2/m)ne Λ sin(φーθ) (1) (mは整数) ここでビーム角θを変えると、(1)式よりレーザ発振
波長を変化させることができる。回折格子5の角度をφ
=53度、ピッチを0.3μmとすると(等価屈折率n
e =3.2、m=1)、中心波長1.53μmに対し、
ビーム角1度の変化で約20nmの波長制御を実現でき
る。
【0011】ビーム掃引器3は、光導波路に光伝搬方向
と垂直方向に非対称に電流を注入するかあるいは電界印
加を行うことによってビーム方向を変化させる。若しく
は、レーザ出射光を並行な複数本の光導波路に導き、こ
れら複数本の光導波路に光伝搬方向と垂直方向に非対称
に電流を注入するかあるいは電界印加を行うようにして
もよい。光をコリメートする機構としては、レンズの
外、凹面鏡と平面鏡(または凹面鏡)を組み合わせたも
のを用いることができる。あるいは、回折格子5を直線
状に形成するのに代え、凹状に形成してこれにコリメー
ト機能を持たせるようにしてもよい。また、回折格子に
ついては通常用いられている型のものを適宜使用するこ
とができる。
【0012】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。 [第1の実施例]図2は、本発明の第1の実施例の波長
可変半導体レーザを上から見た構造図である。n−In
P基板1上に、活性ストライプ2と、それに接続するビ
ーム掃引器3と、ビーム掃引器3からのレーザ光をコリ
メートするレンズ部4aと、回折格子5とが集積化され
ている。活性ストライプ2およびビーム掃引器3は、電
流注入のための電極16、17を有している。
【0013】ビーム掃引器3と回折格子5との距離は1
mm、回折格子5のピッチは0.3μm、回折格子5の
形成面に垂直な軸が活性ストライプ2の延長軸となす角
度を53度に設定した。活性ストライプ2の長さは40
0μmである。ビーム掃引器3の長さは100μmであ
る。活性ストライプ2のビーム掃引器3とは反対側の端
部は、半導体結晶のへき開面によって終端されている。
【0014】図3(a)は、図2のA−A′線での断面
図である。図3(a)に示されるように、n−InP基
板1の上に全ての領域に共通して波長組成1.2μmの
n−InGaAsP光ガイド層11(厚さ0.1μm)
が形成されている。さらにその上に、活性ストライプ2
に相当する領域に波長組成1.55μmのInGaAs
P/InGaAsP多重量子井戸(MQW)からなるI
nGaAsP活性層12が、ビーム掃引器3の領域には
波長組成1.45μmのInGaAsPチューニング層
13(厚さ0.2μm)が、またレンズ部4aから回折
格子5までの間の領域には波長組成1.2μmのInG
aAsPスラブ導波路層14(厚さ0.2μm)がそれ
ぞれ形成されている。
【0015】そして、それらの領域を全て覆うようにp
−InPクラッド層15(厚さ1.5μm)が形成され
ている。レンズ部4aでは、スラブ導波路層14を形成
した部分とそうでない部分との間の屈折率差と、凸曲線
をなしているレンズ部4aの境界の形状によりレンズ効
果がもたらされている。活性ストライプ2およびビーム
掃引器3の上には電極16、17が設けられている。n
−InP基板1の裏面には電極18が形成されている。
回折格子5は、p−InPクラッド層15からスラブ導
波路層14、光ガイド層11を垂直に切るように形成さ
れた面に設けられている。
【0016】図3(b)は、図2のB−B′線での断面
図である。n−InP基板1上に光ガイド層11が設け
られ、その上に幅1.5μmの活性層12と、それを囲
むクラッド層15が形成されている。半導体層上にはS
iO2 膜19が形成され、このSiO2 膜19には、活
性層の直上部に相当する位置に窓が設けられており、こ
の部分でその上に形成された電極16とのオーミックコ
ンタクトが形成されている。
【0017】図3(c)は、図2のC−C′線での断面
図である。n−InP基板1の上に光ガイド層11が形
成され、さらにその上に幅5.0μmのチューニング層
13と、これを囲むクラッド層15が形成されている。
クラッド層の中央部には溝が設けられている。半導体層
上に形成されたSiO2 膜19には、チューニング層1
3の中心の位置から少しずらして窓が設けられており、
その部分でその上に形成された電極17とのオーミック
コンタクトが形成されている。その結果、電極17から
チューニング層13に非対称に電流注入できるようにな
っている。
【0018】チューニング層13への非対称な電流注入
により、チューニング層13の内部において横方向に非
対称な屈折率分布が形成される。その結果、ビーム掃引
器3からの出射ビームは活性ストライプ2の軸とある角
度θをなして出射されることになる。
【0019】次に、本実施例素子の製造方法について簡
単に説明する。n−InP基板1の上に光ガイド層11
を全面に結晶成長させる。続いて、選択MOVPE(有
機金属気相成長)法により活性層12、チューニング層
13、スラブ導波路層14を形成する。すなわち、ま
ず、光ガイド層11の上にSiO2 膜を形成し、その後
活性ストライプ2に相当する部分のSiO2 膜に窓を開
け、この窓部分にのみ選択的に活性層12を結晶成長さ
せる。
【0020】同様に、チューニング層13を形成すべき
領域のSiO2 膜に窓を開け、チューニング層を選択成
長させ、続いて、スラブ導波路層14を形成すべき領域
のSiO2 膜の窓開けを行い、スラブ導波路層を成長さ
せる。その後、各領域のSiO2 膜の窓を広げ、活性層
12、チューニング層13、スラブ導波路層14を囲む
ようにクラッド層15を選択成長させる。最後に、通常
の電極形成プロセスを用いてSiO2 膜19および電極
16、17、18を形成すれば、本実施例の波長可変半
導体レーザが得られる。
【0021】本実施例素子の活性ストライプ2に電流注
入することで発振しきい値30mAでレーザ発振が生じ
た。また、ビーム掃引器3に約100mAの電流を注入
することで、モード跳びを伴いながら20nmのレーザ
発振波長の制御が実現できた。すなわち、制御電流無注
入で1.53μmであった発振波長を100mAの電流
注入により1.55μmで発振を行わせることができ
た。本実施例素子では、ビーム掃引器3から回折格子5
側を見ると一種の反射型のフィルタとなっている訳であ
るが、このフィルタの帯域はビーム掃引器3の開口部の
広さとビーム掃引器3と回折格子5との間の距離でほぼ
決定される。ここではそれぞれ5μm、1mmであるた
め、フィルタの半値帯域幅は約3nmである。この帯域
幅は本レーザが単一モード発振するのにほぼ十分なもの
であり、そのため本素子は常に単一モードを維持した状
態で波長制御が可能である。
【0022】[第2の実施例]図4は本発明の第2の実
施例の波長可変半導体レーザを上から見た構造図であ
る。本実施例素子は基本的には第1の実施例の素子と同
じ原理で動作する。しかし第1の実施例の素子ではビー
ム掃引器3と回折格子5との距離が1mmと長いため、
デバイス長が1.5mm以上と非常に長いものになって
いた。本実施例の素子は、そのデバイス長を短くできる
特長を有する。図4において、半導体基板1の上に、活
性ストライプ2とビーム掃引器3が形成されているが、
これらの構造は第1の実施例の場合と同様である。
【0023】本実施例では、レーザビームをコリメート
する手段として、レンズの代わりに凹面ミラー21を用
いている。ミラー21で折り返された光は再び平面型の
ミラー22で折り返され回折格子5に入射する。回折格
子5のピッチおよび形成角度は第1の実施例と同じであ
る。本実施例素子では光の折り返しを利用しているた
め、ビーム掃引器3と回折格子5との間の物理的距離が
短くなり、そのためデバイス長が短くできる。第1の実
施例と同様の波長制御特性を得るためのデバイス長は約
1mmにまで短くできた。
【0024】ミラー21および22は、高い反射率を得
るために光導波路11よりも深くn−InP基板1にま
で届くように垂直エッチングを行って反射面を形成し
た。更にそのエッチング面に金属を形成することで高反
射率を実現した。高反射率を得るためのこの手法は回折
格子5の形成にも有効である。本実施例素子において第
1の実施例の素子とほぼ同等の特性が得られた。即ちレ
ーザ発振しきい値電流は30mA、100mAのチュー
ニング電流で約20nmの波長制御が実現できた。
【0025】なお、第1、第2の実施例では、ビーム掃
引器3において電流注入のための電極を光の進行方向を
中心に一方にのみ形成したが、反対側にも第2の電極を
形成することにより波長可変幅を2倍にすることができ
る。即ち、2つの電極のいずれか一方に電流注入するこ
とで、ビームを2方向に振ることが可能になるためであ
る。また、第1、第2の実施例では、ビームをコリメー
トするためにレンズ部4aおよび凹面ミラー21を用い
たが、これらを用いなくても回折格子5自体に曲線性を
もたせて、回折格子5によって回折された光がビーム掃
引器3に集光されるように設計してもよい。
【0026】[第3の実施例]図5(a)は、本発明の
第3の実施例の波長可変半導体レーザを上から見た図で
ある。n−InP基板1の上に活性ストライプ2、ビー
ム掃引器3および回折格子5が形成されている。第1、
第2の実施例と比べて、本実施例素子ではレーザビーム
をコリメートする機構を必要としない。それはビーム掃
引器3がビームコリメートの機能を有しているからであ
る。活性ストライプ2の構造、回折格子5のピッチおよ
び形成角度は第1の実施例の場合と同様である。
【0027】ビーム掃引器3は、アレイ状に配置された
複数の光導波路(ここでは10本)と、これらの導波路
に活性ストライプ2からのレーザ光を分岐するスターカ
ップラと、それぞれの導波路に電流注入または電界印加
するための電極17とからなる。各導波路上に形成され
ている電極部の長さは異なり、一番端の光導波路から他
方に向けて短くなっている。
【0028】図5(b)は、第3の実施例の活性ストラ
イプ2に沿った断面図(D−D′断面)である。n−I
nP基板1の上の全面に波長組成1.2μmのInGa
AsP光ガイド層11が形成されている。その上の活性
ストライプ2に相当する部分に波長組成1.55μmの
InGaAsP/InGaAsP・MQWからなる活性
層12が、またビーム掃引器3のアレイ状光導波路に相
当する部分に波長組成1.3μmのチューニング層13
がそれぞれ選択的に形成されている。そして全面にn−
InPクラッド層15が形成され、更にその上の活性ス
トライプ2およびビーム掃引器3の上に電極16および
17が形成されている。回折格子5は光ガイド層11よ
りも深くn−InP基板1にまで届くエッチングによっ
て形成された垂直面に形成されている。
【0029】図5(c)は、第3の実施例のビーム掃引
器3を横方向に切った断面構造(E−E′断面)図であ
る。n−InP基板1の上に光ガイド層11と、その上
に複数本(10本)の導波路を形成するチューニング層
13と、それらを取り囲むようにクラッド層15が形成
されている。さらに半導体の上に形成されているSiO
2 膜19にはチューニング層13への電流注入のための
窓が設けられており、この窓部においてその上に形成さ
れた電極17とのオーミックコンタクトが形成されてい
る。
【0030】本実施例素子のビーム掃引器3では、活性
ストライプ2からの光がスターカップラによりアレイ状
の光導波路に分岐される。そして、チューニング電流を
注入しない状態において、各光導波路の出射端での光の
位相が揃うように各光導波路の長さおよび構造が最適化
されている。このように構成することにより、レンズな
どの光をコリメートするエレメントを用いなくとも、ビ
ーム掃引器3からの出射光は平行ビームとなる。
【0031】そして、導波路上に形成されている電極部
の長さを、各導波路毎に変えて、一方の端から他方に向
けて短くなるように形成してあるために、チューニング
電流を注入した場合に生じる光の位相変化量が、一方の
端の光導波路から他方の光導波路に向けて少しづつ違っ
てくる。その結果、出射ビームは平行光を維持しつつ、
光の波面だけが傾くために光の出射方向を変化させるこ
とができる。本実施例素子でのビーム掃引器3では最も
端の導波路の電極の長さを最も長い100μmとし、反
対側の端の導波路において電極長がゼロになるようにし
た。
【0032】本実施例素子のビーム掃引器3は長さ30
0μmで、そのうちスターカップラ部がその約半分の1
50μmを占める。また分岐した後の光導波路の幅は
1.5μm、導波路のピッチは5μm、ビーム掃引器3
の出射端の幅は約50μmとなっている。ここで導波路
ピッチをP、波長λ、等価屈折率をne とすると、この
タイプのビーム掃引器の最大ビーム掃引角度は次式で与
えらえる。 θ=sin-1 (λ/ne P) (2) 上式より、本実施例素子では最大約5度の出射角度制御
が可能である。
【0033】本実施例素子では、ビーム掃引器3から出
射し、回折格子5で回折され戻ってきた光の内、ビーム
掃引器3からの出射光と同じ角度で戻ってきた戻り光
(特定の波長の光)のみが再び活性ストライプ2に結合
して戻っていく。それ以外の戻り光は複数本ある光導波
路からスターカップラに光が入射された時点で、各導波
路からの光の位相の不整合が生じ、そのため活性ストラ
イプ2に結合して戻ることはない。その結果、特定の波
長λでレーザ発振することになる。そして、発振波長λ
は、第1、第2の実施例の素子と同様に、ビーム出射角
1度の変化に対して約20nmの波長変化を生じる。
【0034】本実施例素子の場合、ビーム掃引器3から
回折格子5側を見たときのフィルタとしての帯域は、第
1の実施例の素子などとは異なり、ビーム掃引器3と回
折格子5との距離に殆ど依存しない。そのためこの距離
を短くでき、素子の小型化が可能である。本実施例素子
の場合、この距離は約200μmに設定した。フィルタ
としての半値帯域は、ビーム掃引器3の導波路の本数に
強く依存する。発明者らの研究では導波路の本数が10
本のとき約2.5nmが得られ、単一モード発振にほぼ
十分な値であることが判っている。
【0035】本実施例素子の発振しきい値電流は40m
Aであった。また、ビーム掃引器3に約100mAの電
流を注入することで、モード跳びを伴いながら30nm
のレーザ発振波長の制御が実現できた。波長制御時にお
いても単一モード動作を維持しており、副モード抑圧比
として20dBが得られた。尚、本実施例ではビーム掃
引器3の導波路の数を10としたが、基本的には2本以
上であればよい。ただし、フィルタとしての帯域幅を狭
くしてより安定で副モード抑圧比の高いレーザ発振を得
るためには、導波路の数は多いほどよい。
【0036】[第4の実施例]図6(a)は、本発明の
第4の実施例の波長可変半導体レーザを上から見た構造
図である。活性ストライプ2およびビーム掃引器3の構
造および配置は第3の実施例の素子と同じである。異な
る点は、第3の実施例では、回折格子5は垂直な半導体
結晶面に形成したが、本実施例では回折格子5は水平面
内に形成した。回折格子5の方向と活性ストライプ2の
延長線がなす角度をφ1 、ピッチをΛ、ビームの出射角
をθ、等価屈折率をne とすると、本実施例素子のレー
ザ発振波長λは次の式で表される。 λ=2ne Λ/cos(φ1 −θ) (3) 本実施例素子では回折格子のピッチ0.2μm、φ1
34度とすることで、中心波長1.55μmに対し、ビ
ームの出射角の変化1度に対し、18nmの発振波長制
御が実現できる。
【0037】図6(b)は、第4の実施例の素子の活性
ストライプ2およびその延長線に沿った断面構造図(F
−F′断面)である。回折格子はn−InP基板1と光
ガイド層11との間に形成されている。本実施例素子の
発振しきい値電流は40mAであり、100mAのチュ
ーニング電流により約30nmの波長制御が実現でき
た。尚、本実施例の素子においては、回折格子5を形成
する位置は実施例で示した位置でなくともよく、例えば
クラッド層15から光n−InP基板1にまで届く周期
的な深い溝であってもよい。ビーム掃引器3は第1、第
2の実施例で示したような構造のものであってもよい。
【0038】本発明の第1から第4の実施例では、波長
1.55μm帯の波長可変半導体レーザについて説明し
たが、本発明は、勿論他の波長帯のレーザにも適用でき
る。その場合、回折格子5のピッチΛおよび角度φを適
当に調整すればよい。また、最大波長可変幅も回折格子
5のピッチΛおよび角度φによって変わるため、波長
1.55μm帯であっても、所望の波長可変幅が得られ
るようにΛおよびφを適当に設計してよい。また、半導
体材料系もここで示したInP/InGaAsP系に限
らず他の材料系であってもよい。活性層12はMQW構
造でなくてもバルク半導体であってもよい。また、チュ
ーニング層13はMQW構造を有していてもよい。さら
に、本発明の実施例ではビーム掃引器3に制御電流を注
入していたが、電流注入の代わりに電圧(又は電界)を
印加してもよい。
【0039】一般に電圧印加の場合、電流注入に比べ半
導体で生じる屈折率変化が小さいため、十分な波長制御
が得られない場合があるが、第3、第4の実施例で説明
した素子の場合、ビーム掃引器3においてそれほど大き
な屈折率変化を必要としないため電圧印加も有効であ
る。また、本発明の実施例では、活性ストライプ2のビ
ーム掃引器3とは反対側の端部は半導体結晶のへき開面
によって構成したが、この部分にn−InP基板1の水
平面内に回折格子を形成して、分布反射領域を構成して
もよい。この場合、この分布反射領域とビーム掃引器3
の先にある回折格子5との間でレーザ共振器を構成す
る。
【0040】更に、この分布反射領域を挟んで、活性ス
トライプ2とは反対側に変調器や半導体光増幅器などを
集積することもできる。更に、上記実施例で示してきた
波長可変半導体レーザは、活性ストライプ部2の部分を
除けば波長可変光フィルタとしても動作させることがで
きる。また、活性ストライプ2の一方の端部のへき開面
に無反射コーティングを施しても波長可変フィルタとな
る。この場合には、活性ストライプに電流注入すること
で、この部分は光増幅器として機能する。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による波長
可変半導体レーザは、半導体基板上に、活性ストライプ
と、光ビーム掃引器と、回折格子とを集積化したもので
あるので、単一の電流または電圧により30nmもの広
い波長範囲にわたって波長制御が可能である。単一電流
または電圧による波長制御ができるということは、実シ
ステムにおいて波長制御を容易ならしめる効果がある。
したがって、本発明によれば、波長多重光通信システム
や波長スイッチングによる光交換システム、クロスコネ
クトシステムなどに対して極めて有用な小型で制御の容
易な光源を提供することができる。また、30nmもの
広い波長可変幅は光ファイバ増幅器の波長帯域を十分カ
バーする。したがって、本発明によれば、光ファイバ増
幅器の帯域をフルに活用した波長多重通信の実現を可能
ならしめることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を説明するための概念図。
【図2】本発明の第1の実施例を示す平面図。
【図3】図2のA−A′線、B−B′線およびC−C′
線の断面図。
【図4】本発明の第2の実施例の平面図。
【図5】本発明の第3の実施例の平面図と断面図。
【図6】本発明の第4の実施例の平面図と断面図。
【図7】従来例の断面図。
【符号の説明】
1 n−InP基板 1a 半導体基板 2 活性ストライプ 3 ビーム掃引器 4 レンズ 4a レンズ部 5、33 回折格子 11 InGaAsP光ガイド層 12 InGaAsP活性層 13 InGaAsPチューニング層 14 InGaAsPスラブ導波路層 15 p−InPクラッド層 16、17、18、36、37、38 電極 19 SiO2 膜 21 凹面ミラー 22 ミラー 31 半導体基板 32 光ガイド層 34 活性層 35 クラッド層

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電流注入により光学的利得が発生する活
    性ストライプと、該活性ストライプの一方の端部に設け
    られた反射鏡と、該活性ストライプの他方の端部に設け
    られた、水平面内での光の進行方向を電気的に変えるこ
    とができる光ビーム掃引器と、該光ビーム掃引器の出射
    光を伝搬させるスラブ光導波路と、該スラブ光導波路の
    先端部に設けられた回折格子と、が半導体基板上に集積
    化され、前記反射鏡と前記回折格子との間に共振器が形
    成されていることを特徴とする波長可変半導体レーザ。
  2. 【請求項2】 前記光ビーム掃引器が、光導波路層と、
    該光導波路層に横方向に非対称に電流注入または電界印
    加を行う手段と、を有することを特徴とする請求項1記
    載の波長可変半導体レーザ。
  3. 【請求項3】 前記光ビーム掃引器が、並行に配列され
    た複数の光導波路と、前記活性ストライプからの出射光
    を前記複数の光導波路に分配する光分配手段と、前記複
    数の光導波路に光の伝搬方向と垂直方向に非対称に電流
    注入または電界印加を行う手段と、を有することを特徴
    とする請求項1記載の波長可変半導体レーザ。
  4. 【請求項4】 前記光ビーム掃引器と前記回折格子との
    間に、前記光ビーム掃引器の出射光を平行光にするレン
    ズまたは凹型反射鏡が配置されていることを特徴とする
    請求項1、2または3記載の波長可変半導体レーザ。
  5. 【請求項5】 前記回折格子が、前記スラブ光導波路の
    終端に半導体基板面と垂直をなす面に直線的にまたは回
    折光が集光されるように凹面状に形成されていることを
    特徴とする請求項1、2、3または4記載の波長可変半
    導体レーザ。
  6. 【請求項6】 前記回折格子が、前記スラブ光導波路に
    沿って半導体基板面に平行に形成されていることを特徴
    とする請求項1、2、3または4記載の波長可変半導体
    レーザ。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0924821A1 (en) * 1997-12-18 1999-06-23 Nec Corporation External mirror type wavelength tunable laser
JP2006339622A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Korea Electronics Telecommun 放物線導波路型の平行光レンズ及びこれを含む波長可変外部共振レーザダイオード
JP2007027306A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Sun Tec Kk 波長可変レーザ光源
JP2007114809A (ja) * 2004-12-14 2007-05-10 Korea Electronics Telecommun 光偏向器を備えた波長可変逆多重化器および波長可変レーザ
JP2007165890A (ja) * 2005-12-09 2007-06-28 Korea Electronics Telecommun 波長可変光源素子
KR100744548B1 (ko) * 2005-07-02 2007-08-01 한국전자통신연구원 광증폭기, 빔 조종기 및 오목 회절 격자가 집적된 파장가변 광원 소자
JP2007234786A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Sun Tec Kk 波長可変レーザ光源
JP2012150081A (ja) * 2011-01-21 2012-08-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長掃引光源
JP2013257425A (ja) * 2012-06-12 2013-12-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体光フィルタ
CN109669065A (zh) * 2018-12-11 2019-04-23 龙岩学院 基于条形径向偏振光栅实现的电压测量方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63305581A (ja) * 1987-06-05 1988-12-13 Oki Electric Ind Co Ltd 発振波長可変型半導体レ−ザ装置
JPH01293683A (ja) * 1988-05-23 1989-11-27 Hitachi Ltd 波長可変半導体レーザ
JPH04146681A (ja) * 1990-10-08 1992-05-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置
JPH07225359A (ja) * 1994-02-10 1995-08-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体光素子

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63305581A (ja) * 1987-06-05 1988-12-13 Oki Electric Ind Co Ltd 発振波長可変型半導体レ−ザ装置
JPH01293683A (ja) * 1988-05-23 1989-11-27 Hitachi Ltd 波長可変半導体レーザ
JPH04146681A (ja) * 1990-10-08 1992-05-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置
JPH07225359A (ja) * 1994-02-10 1995-08-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体光素子

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0924821A1 (en) * 1997-12-18 1999-06-23 Nec Corporation External mirror type wavelength tunable laser
US6252897B1 (en) 1997-12-18 2001-06-26 Nec Corporation External mirror type wavelength tunable laser
JP2007114809A (ja) * 2004-12-14 2007-05-10 Korea Electronics Telecommun 光偏向器を備えた波長可変逆多重化器および波長可変レーザ
JP4610569B2 (ja) * 2004-12-14 2011-01-12 韓國電子通信研究院 光偏向器を備えた波長可変逆多重化器
JP2006339622A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Korea Electronics Telecommun 放物線導波路型の平行光レンズ及びこれを含む波長可変外部共振レーザダイオード
KR100744548B1 (ko) * 2005-07-02 2007-08-01 한국전자통신연구원 광증폭기, 빔 조종기 및 오목 회절 격자가 집적된 파장가변 광원 소자
JP2007027306A (ja) * 2005-07-14 2007-02-01 Sun Tec Kk 波長可変レーザ光源
JP2007165890A (ja) * 2005-12-09 2007-06-28 Korea Electronics Telecommun 波長可変光源素子
JP2007234786A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Sun Tec Kk 波長可変レーザ光源
JP2012150081A (ja) * 2011-01-21 2012-08-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長掃引光源
JP2013257425A (ja) * 2012-06-12 2013-12-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体光フィルタ
CN109669065A (zh) * 2018-12-11 2019-04-23 龙岩学院 基于条形径向偏振光栅实现的电压测量方法

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