JPH0979946A - Inspection device for display device - Google Patents

Inspection device for display device

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Publication number
JPH0979946A
JPH0979946A JP23808095A JP23808095A JPH0979946A JP H0979946 A JPH0979946 A JP H0979946A JP 23808095 A JP23808095 A JP 23808095A JP 23808095 A JP23808095 A JP 23808095A JP H0979946 A JPH0979946 A JP H0979946A
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JP
Japan
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pixel
image
display device
picture
inspected
Prior art date
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Pending
Application number
JP23808095A
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Japanese (ja)
Inventor
Masakazu Asano
昌和 浅野
Atsuo Saijo
淳夫 西條
Ryuji Suzuki
龍司 鈴木
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0979946A publication Critical patent/JPH0979946A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To inspect a display device to be inspected for defect with high accuracy by storing the picture elements of an image pickup device on an index table by correlating the picture elements to the picture element positions of the display device and converting the picture of the display device into a picture of the resolution corresponding to the number of picture elements of the display device based on the table and inspecting the display device based on the picture. SOLUTION: A CCD camera 4 takes the picture of an LCD panel to be inspected and a picture input board 11 displays the CCD picture of the panel on a monitor 6 by sending the picture signal of the panel and sends the signal to a picture element converting board 12 after A/D conversion for storing the signal in a CCD picture memory 21. The board 12 converts the CCD picture into an LCD picture from an index table storing the correlation between the picture elements of the LCD panel and camera 4 by performing shading correction on the sensitivity variation, etc., of each picture element of the camera 4 and sends the LCD picture to a picture processing board 13 for storing the picture in an LCD picture memory 22. The board 13 extracts the positions, number, sizes, etc., of defects by binarizing and labeling the LCD picture and a CPU board 14 examines the extracted positions, number, sizes, etc., in detail.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、LCDパネル等
の被検査表示装置の表示画面を、CCDカメラ等の撮像
装置で撮像して、被検査表示装置の欠陥を検査する表示
装置の検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display device inspection device for inspecting a defect of a display device to be inspected by imaging a display screen of the display device to be inspected such as an LCD panel with an image pickup device such as a CCD camera. .

【0002】[0002]

【従来の技術】LCD(liquid crystal display)パネル
等の被検査表示装置の検査は、人間の目視による検査が
主流である。しかし、近年、検査基準の定量化、生産性
の向上のために自動検査が試みられている。
2. Description of the Related Art The inspection of display devices to be inspected, such as LCD (liquid crystal display) panels, is mainly conducted by human eyes. However, in recent years, automatic inspection has been attempted in order to quantify inspection standards and improve productivity.

【0003】LCDパネルの自動検査では、CCD(cha
rge coupled device) カメラ等の撮像装置でLCDパネ
ルが撮像され、その撮像画像に基づいてLCDパネルの
欠陥部分が抽出される。このような自動検査では、撮像
装置であるCCDカメラの解像度によって処理方法、性
能が異なる。
In the automatic inspection of the LCD panel, the CCD (cha
rge coupled device) The LCD panel is imaged by an imaging device such as a camera, and the defective portion of the LCD panel is extracted based on the captured image. In such an automatic inspection, the processing method and performance differ depending on the resolution of the CCD camera which is the image pickup device.

【0004】低解像度のCCDカメラを用いた場合に
は、画素数が少ないので、処理時間は短いが、モアレが
発生する、細かい欠陥が検出できないという問題があ
る。一方、高解像度のCCDカメラを用いた場合には、
モアレの発生がなく、細かい欠陥を検出できるが、処理
時間が長いという問題がある。したがって、処理速度と
検査精度(信頼性)とは、トレードオフの関係にあると
いえる。
When a low-resolution CCD camera is used, the processing time is short because the number of pixels is small, but there are problems that moire occurs and fine defects cannot be detected. On the other hand, when using a high resolution CCD camera,
Although moire can be generated and fine defects can be detected, there is a problem that the processing time is long. Therefore, it can be said that the processing speed and the inspection accuracy (reliability) have a trade-off relationship.

【0005】このようなことから、LCDパネルの自動
検査装置の課題は、高解像度のCCDカメラを用いて高
い検査精度を維持し、しかも処理速度を向上させること
にあるといえる。
From the above, it can be said that the problem of the automatic inspection device of the LCD panel is to maintain high inspection accuracy by using a high resolution CCD camera and to improve the processing speed.

【0006】高解像度のCCDカメラを用いた検査装置
として、特開平5−27704号公報に記載されたもの
がある。この公報に記載された検査装置では、注目LC
D画素とそれに対応するCCD画素との関係付けを行な
うために、CCDカメラの画素数に応じたインデックス
テーブルが設けられている。このため、インデックステ
ーブルの容量が大きいという問題がある。また、CCD
カメラの画素数に応じた高解像度の画像に基づいてLC
Dパネルの欠陥の検査が行なわれているため、処理時間
が長いという問題がある。
An inspection device using a high resolution CCD camera is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 27704/1993. In the inspection device described in this publication, the LC of interest
An index table corresponding to the number of pixels of the CCD camera is provided in order to associate the D pixel with the corresponding CCD pixel. Therefore, there is a problem that the capacity of the index table is large. Also CCD
LC based on a high resolution image according to the number of pixels of the camera
Since the D panel is inspected for defects, there is a problem that the processing time is long.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】この発明は、高い検査
精度を維持しかつ処理速度を向上させることができ、し
かもインデックステーブルの容量が少なくてすむ表示装
置の検査装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an inspection device for a display device which can maintain high inspection accuracy and improve processing speed, and which requires a small index table capacity. To do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明による表示装置
の検査装置は、被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、被検査表示装置の各画素
位置に対して、撮像装置の1つの画素を対応させて記憶
しているインデックステーブル、撮像装置によって撮像
された被検査表示装置の画像であってかつ撮像装置の画
素数に応じた解像度の第1画像と、インデックステーブ
ルとに基づいて、第1画像を被検査表示装置の画素数に
対応した解像度の第2画像に変換する変換手段、および
第2画像に基づいて、被検査表示装置の欠陥を検査する
検査手段を備えていることを特徴とする。
An inspection device for a display device according to the present invention is a device for inspecting a display device, in which an image of the display device to be inspected is picked up by an image pickup device and defects of the display device to be inspected are inspected based on the picked-up image. In an index table in which one pixel of the image pickup device is stored in association with each pixel position of the display device under test, an image of the display device under test taken by the image pickup device and Based on the first image having a resolution corresponding to the number of pixels and the index table, a conversion unit for converting the first image into a second image having a resolution corresponding to the number of pixels of the display device under inspection, and based on the second image In addition, an inspection means for inspecting a defect of the display device to be inspected is provided.

【0009】インデックステーブルとして、被検査表示
装置の各画素位置に対して、撮像装置の1つの画素を対
応させて記憶しているものが用いられているので、高解
像度の撮像装置を用いた場合にも、インデックステーブ
ルの情報量は被検査表示装置の画像数に応じたものとな
る。このため、インデックステーブルの容量を少なくで
きる。
Since an index table is used in which one pixel of the image pickup device is stored in association with each pixel position of the display device to be inspected, a high resolution image pickup device is used. Also, the amount of information in the index table depends on the number of images on the display device under inspection. Therefore, the capacity of the index table can be reduced.

【0010】また、被検査表示装置の画素数に対応した
解像度の第2画像に基づいて、欠陥を検出しているの
で、高解像度の撮像装置を用いた場合にも、処理時間が
短くなる。
Further, since the defect is detected on the basis of the second image having the resolution corresponding to the number of pixels of the display device to be inspected, the processing time is shortened even when the high resolution image pickup device is used.

【0011】高解像度の撮像装置を用いた場合におい
て、低解像度の第2画像に基づいて欠陥を検出した後、
その欠陥部のみについては高解像度の第1画像に基づい
て詳細な欠陥検査を行なうことにより、高精度の検査を
短い時間で行なうことができるようになる。
In the case of using the high resolution image pickup device, after detecting the defect based on the second image of the low resolution,
By performing a detailed defect inspection on only the defective portion based on the high-resolution first image, it becomes possible to perform a highly accurate inspection in a short time.

【0012】インデックステーブルとしては、たとえ
ば、被検査表示装置の各画素の中心位置に対応する撮像
装置の1つの画素が、被検査表示装置の各画素に関連し
て記憶されているものが用いられる。
As the index table, for example, one in which one pixel of the image pickup device corresponding to the central position of each pixel of the inspected display device is stored in association with each pixel of the inspected display device is used. .

【0013】変換手段は、被検査表示装置の注目画素の
輝度値を、たとえば、次の(1)(2)(3)(4)
(5)または(6)の値に決定することにより、第1画
像を第2画像に変換する。
The converting means converts the luminance value of the pixel of interest of the display device under inspection into the following (1) (2) (3) (4), for example.
The first image is converted into the second image by determining the value of (5) or (6).

【0014】(1)被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の1画素の輝度値。
(1) The brightness value of one pixel of the image pickup device corresponding to the target pixel of the display device under inspection.

【0015】(2)被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の1画素を中心とする所定領域内の各画素の
輝度値のうちの最も高い輝度値。
(2) The highest luminance value among the luminance values of each pixel in a predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the target pixel of the display device to be inspected.

【0016】(3)被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の1画素を中心とする所定領域内の輝度値の
加算値または平均値。
(3) An added value or an average value of luminance values in a predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the pixel of interest of the display device to be inspected.

【0017】(4)被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の1画素を中心とする所定領域内の各画素の
輝度値に、位置に応じた重みを付けた後の加算値または
そ平均値。
(4) The brightness value of each pixel in a predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the pixel of interest of the display device to be inspected is added with a value obtained by weighting it according to the position or its value. Average value.

【0018】(5)注目画素に対応する撮像装置の1画
素を中心とする第1所定領域が設定され、第1所定領域
内の各画素を中心とする第2所定領域ごとの輝度値の加
算値のうち、最も大きな加算値。
(5) A first predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the pixel of interest is set, and the luminance value is added for each second predetermined area centered on each pixel in the first predetermined area. The largest added value among the values.

【0019】(6)注目画素に対応する撮像装置の1画
素を中心とする第1所定領域が設定され、第1所定領域
内の各画素を中心とする第2所定領域ごとの輝度値の平
均値のうち、最も大きな平均値。
(6) A first predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the pixel of interest is set, and an average of brightness values for each second predetermined area centered on each pixel in the first predetermined area. The largest average value.

【0020】第1画像に基づいて、インデックステーブ
ルが適合する基準位置に対する、被検査表示装置のずれ
量を算出するずれ量算出手段、およびずれ量算出手段に
よって求められたずれ量に基づいて、インデックステー
ブルの内容を、被検査表示装置の位置に適合するように
補正する手段を設け、第1画像と、補正後のインデック
ステーブルとに基づいて、第1画像を第2画像に変換す
ることが好ましい。
Based on the first image, a deviation amount calculating means for calculating a deviation amount of the display device to be inspected with respect to a reference position to which the index table conforms, and an index based on the deviation amount calculated by the deviation amount calculating means. It is preferable to provide means for correcting the contents of the table so as to match the position of the display device to be inspected, and convert the first image into the second image based on the first image and the corrected index table. .

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0022】被検査表示装置であるLCDパネルを、C
CDカメラで撮像することにより、LCDパネルの欠陥
を検査するLCDパネル検査装置にこの発明を適用した
場合の実施の形態について説明する。
The LCD panel, which is the display device to be inspected, is
An embodiment in which the present invention is applied to an LCD panel inspection device for inspecting a defect of an LCD panel by capturing an image with a CD camera will be described.

【0023】図1は、LCDパネル検査装置の構成を示
している。
FIG. 1 shows the configuration of an LCD panel inspection device.

【0024】LCDパネル検査装置は、LCDパネル1
に背面から光を当てるバックライト2、LCDパネル1
を駆動するためのLCD駆動部3、LCDパネル1を撮
像するための高解像度CCDカメラ4、カメラ4によっ
て撮像された画像に対して画像処理を行なう画像処理装
置5、カメラ4によって撮像された画像等を表示するた
めのモニタ6、ならびに画像処理装置5およびLCD駆
動部3を制御するパーソナルコンピュータ7を備えてい
る。
The LCD panel inspection device comprises an LCD panel 1
Back light 2, LCD panel 1
An LCD drive unit 3 for driving the LCD panel, a high-resolution CCD camera 4 for capturing an image of the LCD panel 1, an image processing device 5 for performing image processing on the image captured by the camera 4, and an image captured by the camera 4. A monitor 6 for displaying, etc., and a personal computer 7 for controlling the image processing device 5 and the LCD drive unit 3 are provided.

【0025】パーソナルコンピュータ7は、各種条件の
設定、LCDパネル1の検査パターンの発生等を行な
う。LCDパネル1の検査パターンは、LCD駆動部3
に送られる。
The personal computer 7 sets various conditions and generates an inspection pattern for the LCD panel 1. The inspection pattern of the LCD panel 1 is the LCD drive unit 3
Sent to

【0026】図2は、画像処理装置5の詳細な構成を示
している。
FIG. 2 shows the detailed structure of the image processing apparatus 5.

【0027】以下の説明において、CCDカメラ4の画
素数に応じた解像度の画像をCCD画像といい、LCD
パネル1の画素数に応じた解像度の画像をLCD画像と
いうことにする。
In the following description, an image having a resolution corresponding to the number of pixels of the CCD camera 4 is called a CCD image, which is called LCD.
An image having a resolution corresponding to the number of pixels of the panel 1 will be referred to as an LCD image.

【0028】画像処理装置5は、画像入力ボード11、
画素変換ボード12、画像処理ボード13およびCPU
ボード14を備えている。画像入力ボード11に入力さ
れた映像信号は、モニタ6に送られ、モニタ6にCCD
画像が表示される。画像入力ボード11は、CCDカメ
ラ4からの映像信号をディジタル信号に変換して画素変
換ボード12に送る。
The image processing device 5 includes an image input board 11,
Pixel conversion board 12, image processing board 13 and CPU
A board 14 is provided. The video signal input to the image input board 11 is sent to the monitor 6, and the monitor 6 receives the CCD signal.
The image is displayed. The image input board 11 converts the video signal from the CCD camera 4 into a digital signal and sends it to the pixel conversion board 12.

【0029】画素変換ボード12に入力されたディジタ
ル信号は、CCD画像メモリ21に格納される。画素変
換ボード12は、CCD画像メモリ21に格納されたC
CD画像に対して、CCDカメラ4の各画素の感度のば
らつき、バックライト2の光量の位置的なばらつき等の
補正を行なうためにシェイディング補正を行なった後、
CCDカメラ4の画素とLCDパネル1の画素との対応
関係が記憶されたインデックステーブルに基づいてCC
D画像をLCD画像に変換する。
The digital signal input to the pixel conversion board 12 is stored in the CCD image memory 21. The pixel conversion board 12 is a C stored in the CCD image memory 21.
After performing shading correction on the CD image in order to correct variations in the sensitivity of each pixel of the CCD camera 4 and positional variations in the light amount of the backlight 2,
CC based on the index table that stores the correspondence between the pixels of the CCD camera 4 and the pixels of the LCD panel 1.
Convert D image to LCD image.

【0030】生成されたLCD画像は、画像処理ボード
13に送られ、LCD画像メモリ22に格納される。画
像処理ボード13は、LCD画像メモリ22に格納され
たLCD画像に基づいて、2値化処理、ラベリング処
理、特徴量抽出処理等を行なう。特徴量抽出処理では、
欠陥の位置、欠陥の個数、欠陥の面積、欠陥の連続長、
欠陥の輝度等が抽出される。
The generated LCD image is sent to the image processing board 13 and stored in the LCD image memory 22. The image processing board 13 performs binarization processing, labeling processing, feature amount extraction processing, and the like based on the LCD image stored in the LCD image memory 22. In the feature quantity extraction process,
Defect position, number of defects, defect area, defect continuous length,
The defect brightness and the like are extracted.

【0031】CPUボード14は、画像処理装置5の全
体的な制御を行なうとともに、画像処理ボード13によ
って検出された欠陥部について、CCD画像メモリ21
に格納されているCCD画像に基づいてさらに詳細な検
査を行なって、最終的な欠陥判定、欠陥の分類を行な
う。
The CPU board 14 controls the image processing apparatus 5 as a whole, and the CCD image memory 21 for the defective portion detected by the image processing board 13.
Further detailed inspection is performed on the basis of the CCD image stored in, and final defect determination and defect classification are performed.

【0032】なお、画素変換ボード12は、後述する前
処理(図3参照)で行なわれるインデックステーブルの
生成およびシェーディング補正用データの生成も行な
う。さらに、画素変換ボード12は、後述するLCDパ
ネルの欠陥検査において実行されるずれ量算出処理(図
6のステップ12)およびインデックステーブルの補正
処理(図6のステップ13)をも行なう。
The pixel conversion board 12 also generates an index table and shading correction data, which are performed in a pre-process (see FIG. 3) described later. Further, the pixel conversion board 12 also performs a shift amount calculation process (step 12 in FIG. 6) and an index table correction process (step 13 in FIG. 6) which are executed in a defect inspection of the LCD panel described later.

【0033】図3は、基準となるLCDパネルを用いて
行なわれる前処理の手順を示している。
FIG. 3 shows a procedure of preprocessing performed using a reference LCD panel.

【0034】この前処理においては、基準となるLCD
パネルがCCDカメラ4によって撮像されて取り込まれ
る(ステップ1)。そして、画素変換ボード12上のC
CD画像メモリ21に記憶される。CCD画像メモリ2
1に記憶された画像に基づいて、インデックステーブル
が作成されて画素変換ボード12上のメモリに記憶され
る(ステップ2)。また、CCD画像メモリ21に記憶
された画像に基づいて、シェーディング補正用データが
作成されて画素変換ボード12上のメモリに記憶される
(ステップ3)。
In this preprocessing, the reference LCD
The panel is imaged and captured by the CCD camera 4 (step 1). Then, C on the pixel conversion board 12
It is stored in the CD image memory 21. CCD image memory 2
An index table is created based on the image stored in 1 and stored in the memory on the pixel conversion board 12 (step 2). Further, shading correction data is created based on the image stored in the CCD image memory 21 and stored in the memory on the pixel conversion board 12 (step 3).

【0035】インデックステーブルの作成方法について
説明する。ここでは、LCDパネル1の画素配列が、図
4に示すように、奇数列と偶数列とでずれているような
LCDパネルを検査する場合を例にとって説明する。
A method of creating the index table will be described. Here, a case will be described as an example where an LCD panel in which the pixel array of the LCD panel 1 is shifted between an odd-numbered column and an even-numbered column as shown in FIG. 4 is inspected.

【0036】まず、CCDカメラ4によって撮像された
画像に基づいて、基準LCDパネルの偶数列画素群の4
隅の画素位置P1、Q1、R1、S1および奇数列画素
群の4隅の画素位置P2、Q2、R2、S2の座標が求
められる。
First, based on the image picked up by the CCD camera 4, 4 of the even-numbered pixel groups of the reference LCD panel are displayed.
The coordinates of the pixel positions P1, Q1, R1, S1 at the corners and the pixel positions P2, Q2, R2, S2 at the four corners of the odd-numbered pixel group are obtained.

【0037】次に、偶数列画素群の4隅の画素位置P
1、Q1、R1、S1と、画素位置P1、Q1、R1、
S1および偶数列画素群の画素数から得られるX方向の
ピッチXPITCH、Y方向のピッチYPITCHとに基づいて、偶
数列画素群の各画素の位置が計算によって求められる。
同様にして、奇数列画素群の各画素の位置が計算によっ
て求められる。このようにして求められた基準LCDパ
ネルの各画素位置を仮画素位置ということにする。
Next, the pixel positions P at the four corners of the pixel group of even-numbered columns
1, Q1, R1, S1 and pixel positions P1, Q1, R1,
The position of each pixel of the even-numbered pixel group is calculated based on the pitch XPITCH in the X-direction and the pitch YPITCH in the Y-direction obtained from S1 and the number of pixels in the even-numbered pixel group.
Similarly, the position of each pixel of the odd-numbered column pixel group is obtained by calculation. Each pixel position of the reference LCD panel thus obtained will be referred to as a temporary pixel position.

【0038】次に、ピークサーチ法に基づいて、LCD
パネルの各画素の仮画素位置を補正する。つまり、輝度
の高い方向にLCDパネルの各画素の仮画素位置を修正
する。なお、この際、CCDカメラ4のレンズによる撮
像画像の歪みが比較的大きく、それが無視できない場合
には、ピークサーチの範囲や方向を歪みに応じて変える
ことが好ましい。具体的には、場所ごとにレンズによる
撮像画像の歪みの量と方向を予めテーブル化しておき、
そのテーブルを参照してピークサーチ法を適用する。
Next, based on the peak search method, the LCD
The provisional pixel position of each pixel on the panel is corrected. That is, the provisional pixel position of each pixel of the LCD panel is corrected in the direction of higher brightness. At this time, if the distortion of the captured image due to the lens of the CCD camera 4 is relatively large and cannot be ignored, it is preferable to change the peak search range and direction according to the distortion. Specifically, the amount and direction of the distortion of the image captured by the lens for each location is made into a table in advance,
The peak search method is applied by referring to the table.

【0039】このようにして、得られた基準LCDパネ
ルの各画素位置と、各画素位置の中心に対応するCCD
カメラ4の画素位置とをテーブル化することにより、図
5に示すようなインデックステーブルが作成される。図
5の各ます目は、基準LCDパネルの画素を示してお
り、各ます目内の座標は当該基準LCDパネル画素の中
心に対応するCCDカメラ4の画素位置を示している。
したがって、このインデックステーブルは、基準LCD
パネルの画素数に応じた数の情報からなる。
Each pixel position of the thus obtained reference LCD panel and the CCD corresponding to the center of each pixel position
By forming a table of the pixel positions of the camera 4, an index table as shown in FIG. 5 is created. Each cell in FIG. 5 shows a pixel of the reference LCD panel, and the coordinates in each cell show the pixel position of the CCD camera 4 corresponding to the center of the reference LCD panel pixel.
Therefore, this index table is
The number of pieces of information corresponds to the number of pixels of the panel.

【0040】図6は、前処理によって得られたデータを
元に、LCDパネルの欠陥検査を行なう際の処理手順を
示している。
FIG. 6 shows a processing procedure when the LCD panel is inspected for defects based on the data obtained by the preprocessing.

【0041】まず、検査対象であるLCDパネル1がC
CDカメラ4によって撮像される(ステップ11)。C
CDカメラ4の映像信号はディジタル信号に変換された
後、CCD画像メモリ21に格納される。
First, the LCD panel 1 to be inspected is C
An image is taken by the CD camera 4 (step 11). C
The video signal of the CD camera 4 is converted into a digital signal and then stored in the CCD image memory 21.

【0042】CCD画像メモリ21に格納されたCCD
画像に基づいて、LCDパネル1の基準位置からのずれ
量が算出される(ステップ12)。このずれ量の算出方
法について説明する。
CCD stored in CCD image memory 21
The amount of deviation of the LCD panel 1 from the reference position is calculated based on the image (step 12). A method of calculating this shift amount will be described.

【0043】図7に示すように、基準LCDパネルP1
の2つの角の位置をA1(a1,b1)、B1(c1、
d1)とする。この2点に対応する検査LCDパネルP
2の位置A2(a2,b2)、B2(c2、d2)が求
められる。
As shown in FIG. 7, the reference LCD panel P1
The positions of the two corners of A1 (a1, b1), B1 (c1,
d1). Inspection LCD panel P corresponding to these two points
The positions A2 (a2, b2) and B2 (c2, d2) of 2 are obtained.

【0044】そして、検査LCDパネルP2の基準LC
DパネルP1に対する回転角θ、移動量Δx、Δyが次
のようにして求められる。
Then, the reference LC of the inspection LCD panel P2
The rotation angle θ and the movement amounts Δx and Δy with respect to the D panel P1 are obtained as follows.

【0045】まず、次の数式1、2に基づいて、cos
θ、sin θが求められる。
First, based on the following equations 1 and 2, cos
θ and sin θ can be obtained.

【0046】[0046]

【数1】 [Equation 1]

【0047】[0047]

【数2】 [Equation 2]

【0048】また、次の数式3または数式4のいずれか
の式に基づいて、Δx、Δyが求められる。
Further, Δx and Δy are obtained based on either of the following formulas 3 and 4.

【0049】[0049]

【数3】 (Equation 3)

【0050】[0050]

【数4】 (Equation 4)

【0051】次に、求められたΔx、Δyおよびθに基
づいて、インデックステーブルが補正される(ステップ
13)。補正前のインデックステーブルを基準テーブル
といい、補正後のインデックステーブルを検査用テーブ
ルということにすると、基準テーブル、求められたΔ
x、Δyおよびθに基づいて、検査用テーブル上の各要
素(座標値)が計算される。つまり、数式3のΔx、Δ
yおよびθの値を、求められたΔx、Δyおよびθと
し、数式3のa1,b1に、基準テーブルの各要素を順
次代入していくことにより、検査用テーブルの各要素が
数式3のa2、b2として計算される。このようにして
得られた検査用テーブルは、画素変換ボード12のメモ
リに、格納される。
Next, the index table is corrected based on the calculated Δx, Δy and θ (step 13). The index table before correction is called the reference table, and the index table after correction is called the inspection table.
Each element (coordinate value) on the inspection table is calculated based on x, Δy, and θ. That is, Δx and Δ in Equation 3
Let the values of y and θ be the obtained Δx, Δy, and θ, and by sequentially substituting each element of the reference table into a1 and b1 of Expression 3, each element of the inspection table is converted to a2 of Expression 3. , B2. The inspection table thus obtained is stored in the memory of the pixel conversion board 12.

【0052】一方、CCD画像メモリ21に格納された
CCD画像に対して、シェーディング補正用データを用
いてシェーディング補正が行なわれた後(ステップ1
4)、補正後のインデックステーブル(検査用テーブ
ル)を用いて、CCD画像がLCD画像に変換される
(ステップ15)。
On the other hand, after the shading correction is performed on the CCD image stored in the CCD image memory 21 using the shading correction data (step 1).
4) The CCD image is converted into an LCD image using the corrected index table (inspection table) (step 15).

【0053】CCD画像のLCD画像への変換方法に
は、次のような方法がある。
There are the following methods for converting a CCD image into an LCD image.

【0054】(1)LCDパネルの注目画素の中心に対
応するCCDカメラの画素(補正後のインデックステー
ブルに当該注目画素に対応するCCDカメラの画素とし
て記憶されている画素であり、以下、注目画素に対応す
るCCD画素ということにする)の輝度値を、当該注目
画素の輝度値とする。図8は、CCD画像と、このCC
D画像から、このような方法で得られたLCD画像とを
示している。
(1) A pixel of the CCD camera corresponding to the center of the pixel of interest of the LCD panel (a pixel stored as a pixel of the CCD camera corresponding to the pixel of interest in the corrected index table. The brightness value of the CCD pixel (corresponding to the CCD pixel) is set as the brightness value of the pixel of interest. Figure 8 shows a CCD image and this CC
The LCD image obtained by such a method from the D image is shown.

【0055】(2)注目画素に対応するCCD画素を中
心とする所定領域(たとえば、当該CCD画素を中心と
する3×3の9画素)内の各画素の輝度値のうち、最も
高い輝度値を、当該注目画素の輝度値とする。
(2) The highest brightness value among the brightness values of each pixel in a predetermined area centered on the CCD pixel corresponding to the pixel of interest (for example, 3 × 3 9 pixels centered on the CCD pixel) Is the luminance value of the pixel of interest.

【0056】(3)注目画素に対応するCCD画素を中
心とする所定領域(たとえば、当該CCD画素を中心と
する3×3の9画素)内の各画素の輝度値の加算値また
は平均値を、当該注目画素の輝度値とする。
(3) The addition value or the average value of the brightness values of the respective pixels in a predetermined area centered on the CCD pixel corresponding to the target pixel (for example, 3 × 3 9 pixels centered on the CCD pixel) is calculated. , And the luminance value of the pixel of interest.

【0057】(4)注目画素に対応するCCD画素を中
心とする所定領域(たとえば、当該CCD画素を中心と
する3×3の9画素)内の各画素の輝度値に、位置に応
じた重みを付けた後の加算値または平均値を、当該注目
画素の輝度値とする。
(4) The brightness value of each pixel in a predetermined area centered on the CCD pixel corresponding to the target pixel (for example, 9 pixels of 3 × 3 centered on the CCD pixel) is weighted according to the position. The added value or the average value after adding is taken as the brightness value of the pixel of interest.

【0058】(5)注目画素に対応するCCD画素を中
心とする第1所定領域(たとえば、当該CCD画素を中
心とする3×3の9画素)を設定し、設定した第1所定
領域内の各画素を中心とする第2所定領域(たとえば、
各画素を中心とする3×3の9画素)内の輝度値の加算
値をそれぞれ算出する。算出された輝度値の加算値のう
ち、最も大きな加算値を当該注目画素の輝度値とする。
(5) A first predetermined area centered on the CCD pixel corresponding to the pixel of interest (for example, 3 × 3 9 pixels centered on the CCD pixel) is set, and within the set first predetermined area. A second predetermined region centered on each pixel (for example,
The added value of the brightness values within 3 × 3 (9 pixels centering on each pixel) is calculated. The largest addition value among the calculated addition values of the brightness values is set as the brightness value of the pixel of interest.

【0059】(6)注目画素に対応するCCD画素を中
心とする第1所定領域(たとえば、当該CCD画素を中
心とする3×3の9画素)を設定し、設定した第1所定
領域内の各画素を中心とする第2所定領域(たとえば、
各画素を中心とする3×3の9画素)内の輝度値の平均
値をそれぞれ算出する。算出された輝度値の平均値のう
ち、最も大きな平均値を当該注目画素の輝度値とする。
(6) A first predetermined area centered on the CCD pixel corresponding to the pixel of interest (for example, 3 × 3 9 pixels centered on the CCD pixel) is set, and within the set first predetermined area. A second predetermined region centered on each pixel (for example,
The average value of the brightness values within 3 × 3 (9 pixels centering on each pixel) is calculated. The largest average value among the calculated average values of the brightness values is set as the brightness value of the pixel of interest.

【0060】このようにして、補正後のインデックステ
ーブルと、CCD画像とに基づいて、LCDパネル1の
各画素の輝度値が決定されることによって、CCD画像
がLCD画像に変換される。得られたLCD画像はLC
D画像メモリ22に格納される。
In this way, the brightness value of each pixel of the LCD panel 1 is determined based on the corrected index table and the CCD image, whereby the CCD image is converted into the LCD image. The obtained LCD image is LC
It is stored in the D image memory 22.

【0061】この後、LCD画像に対して2値化処理お
よびラベリング処理が行なわれる(ステップ16)。そ
して、LCD画像およびLCD画像の2値化画像に基づ
いて、特徴量が抽出される(ステップ17)。つまり、
欠陥の位置、欠陥の個数、欠陥の面積、欠陥の連続長、
欠陥の輝度等が抽出される。
Thereafter, binarization processing and labeling processing are performed on the LCD image (step 16). Then, the feature amount is extracted based on the LCD image and the binarized image of the LCD image (step 17). That is,
Defect position, number of defects, defect area, defect continuous length,
The defect brightness and the like are extracted.

【0062】次に、ステップ17によって検出された欠
陥部について、CCD画像メモリ21に格納されている
CCD画像に基づいてさらに詳細な検査が行なわれ、最
終的な欠陥判定、欠陥の分類が行なわれる(ステップ1
8)。
Next, the defective portion detected in step 17 is subjected to a more detailed inspection based on the CCD image stored in the CCD image memory 21, and final defect determination and defect classification are performed. (Step 1
8).

【0063】上記実施の形態では、インデックステーブ
ルは、LCDパネルの各画素位置に対して、CCDカメ
ラ4の1つの画素を対応させて記憶しているので、イン
デックステーブルの情報量はLCDパネルの画像数に応
じたものとなるので、インデックステーブルの容量が少
なくて済む。
In the above embodiment, the index table stores one pixel of the CCD camera 4 in correspondence with each pixel position of the LCD panel. Therefore, the information amount of the index table is the image of the LCD panel. Since it depends on the number, the capacity of the index table can be small.

【0064】また、まず、LCDパネルの画素数に対応
した低解像度のLCD画像に基づいて欠陥を検出し、検
出された欠陥部のみについて高解像度のCCD画像に基
づいて詳細な欠陥検査を行なっているので、高精度の検
査を短い時間で行なうことができる。
Further, first, a defect is detected based on a low-resolution LCD image corresponding to the number of pixels of the LCD panel, and only the detected defective portion is subjected to a detailed defect inspection based on a high-resolution CCD image. Therefore, highly accurate inspection can be performed in a short time.

【0065】[0065]

【発明の効果】この発明によれば、高い検査精度を維持
しかつ処理速度を向上させることができ、しかもインデ
ックステーブルの容量が少なくてすむ表示装置の検査装
置が実現する。
According to the present invention, it is possible to realize an inspection device for a display device, which can maintain high inspection accuracy and improve processing speed, and which requires a small index table capacity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】LCD検査装置の全体的な構成を示すブロック
図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of an LCD inspection device.

【図2】画像処理装置の構成を示す示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an image processing apparatus.

【図3】基準LCDパネルを用いた前処理の手順を示す
フローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of preprocessing using a reference LCD panel.

【図4】インデックステーブルの作成方法を説明するた
めの模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a method of creating an index table.

【図5】インデックステーブルの一例を示す模式図であ
る。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of an index table.

【図6】LCDパネルの欠陥検査を行なうときの処理手
順を示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure when a defect inspection of an LCD panel is performed.

【図7】検査LCDパネルの基準LCDパネルに対する
ずれ量を算出する方法を説明するための模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram for explaining a method of calculating a deviation amount of an inspection LCD panel with respect to a reference LCD panel.

【図8】CCD画像をLCD画像に変換する方法を説明
するための模式図である。
FIG. 8 is a schematic diagram for explaining a method of converting a CCD image into an LCD image.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 LCDパネル 2 バックライト 3 LCD駆動部 4 CCDカメラ 5 画像処理装置 6 モニタ 7 パーソナルコンピュータ 1 LCD Panel 2 Backlight 3 LCD Drive Unit 4 CCD Camera 5 Image Processing Device 6 Monitor 7 Personal Computer

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、 被検査表示装置の各画素位置に対して、撮像装置の1つ
の画素を対応させて記憶しているインデックステーブ
ル、 撮像装置によって撮像された被検査表示装置の画像であ
ってかつ撮像装置の画素数に応じた解像度の第1画像
と、インデックステーブルとに基づいて、第1画像を被
検査表示装置の画素数に対応した解像度の第2画像に変
換する変換手段、および第2画像に基づいて、被検査表
示装置の欠陥を検査する検査手段、を備えていることを
特徴とする表示装置の検査装置。
1. An inspection device of a display device for inspecting a defect of the inspected display device based on the picked-up image of the inspected display device by an image pickup device, wherein, for each pixel position of the inspected display device, An index table in which one pixel of the image pickup device is stored correspondingly, a first image which is an image of the display device under inspection picked up by the image pickup device and has a resolution corresponding to the number of pixels of the image pickup device, and an index table A conversion means for converting the first image into a second image having a resolution corresponding to the number of pixels of the inspected display device, and an inspection means for inspecting a defect of the inspected display device based on the second image, An inspection device for a display device, comprising:
【請求項2】 インデックステーブルには、被検査表示
装置の各画素の中心位置に対応する撮像装置の1つの画
素が、被検査表示装置の各画素に関連して記憶されてい
る請求項1に記載の表示装置の検査装置。
2. The index table stores one pixel of the image pickup device corresponding to the center position of each pixel of the display device under test in association with each pixel of the display device under test. Inspection device for the display device described.
【請求項3】 変換手段は、(1)被検査表示装置の注
目画素に対応する撮像装置の1画素の輝度値、(2)被
検査表示装置の注目画素に対応する撮像装置の1画素を
中心とする所定領域内の各画素の輝度値のうちの最も高
い輝度値、(3)被検査表示装置の注目画素に対応する
撮像装置の1画素を中心とする所定領域内の輝度値の加
算値または平均値、(4)被検査表示装置の注目画素に
対応する撮像装置の1画素を中心とする所定領域内の各
画素の輝度値に、位置に応じた重みを付けた後の加算値
または平均値、(5)注目画素に対応する撮像装置の1
画素を中心とする第1所定領域が設定され、第1所定領
域内の各画素を中心とする第2所定領域ごとの輝度値の
加算値のうち、最も大きな加算値、若しくは(6)注目
画素に対応する撮像装置の1画素を中心とする第1所定
領域が設定され、第1所定領域内の各画素を中心とする
第2所定領域ごとの輝度値の平均値のうち、最も大きな
平均値、を当該注目画素の輝度値として決定することに
より、第1画像を第2画像に変換するものである請求項
1および2のいずれかに記載の表示装置の検査装置。
3. The conversion means converts (1) the brightness value of one pixel of the image pickup device corresponding to the target pixel of the display device under test, and (2) the one pixel of the image pickup device corresponding to the target pixel of the display device under test. The highest brightness value among the brightness values of the respective pixels in the center predetermined area, (3) addition of the brightness value in the predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the target pixel of the display device to be inspected Value or average value, (4) added value after weighting according to position to the luminance value of each pixel in a predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the pixel of interest of the display device under test Or the average value, (5) 1 of the image pickup device corresponding to the pixel of interest
A first predetermined area centered on a pixel is set, and the largest added value among the added values of the brightness values for each second predetermined area centered on each pixel in the first predetermined area, or (6) the target pixel The first predetermined area centered on one pixel of the image pickup device corresponding to the above is set, and the largest average value among the average values of the brightness values for each second predetermined area centered on each pixel in the first predetermined area. 3. The inspection device for a display device according to claim 1, wherein the first image is converted into the second image by determining, as the luminance value of the pixel of interest.
【請求項4】 第1画像に基づいて、インデックステー
ブルが適合する基準位置に対する、被検査表示装置のず
れ量を算出するずれ量算出手段、およびずれ量算出手段
によって求められたずれ量に基づいて、インデックステ
ーブルの内容を、被検査表示装置の位置に適合するよう
に補正する手段を備えており、変換手段は、第1画像
と、補正後のインデックステーブルとに基づいて、第1
画像を第2画像に変換するものである請求項1、2およ
び3のいずれかに記載の表示装置の検査装置。
4. A displacement amount calculating means for calculating a displacement amount of the display device to be inspected with respect to a reference position to which the index table conforms based on the first image, and a displacement amount calculated by the displacement amount calculating means. , A means for correcting the contents of the index table so as to match the position of the display device to be inspected, and the converting means includes a first image based on the corrected index table and the first image.
The inspection device for a display device according to claim 1, wherein the image is converted into a second image.
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