JPH09265393A - Program quality evaluation method - Google Patents

Program quality evaluation method

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JPH09265393A
JPH09265393A JP8074545A JP7454596A JPH09265393A JP H09265393 A JPH09265393 A JP H09265393A JP 8074545 A JP8074545 A JP 8074545A JP 7454596 A JP7454596 A JP 7454596A JP H09265393 A JPH09265393 A JP H09265393A
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JP
Japan
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program
quality
defect
quality evaluation
processing
Prior art date
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Application number
JP8074545A
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Japanese (ja)
Inventor
Ritsuo Miyahara
律夫 宮原
Jun Ota
純 太田
Hideo Yashiro
日出夫 八城
Yukitoshi Chiba
幸俊 千葉
Takanao Yagi
隆尚 八木
Hitoshi Tashiro
仁志 田代
Shizuko Matsuo
静子 松尾
Toshihiro Muto
利広 武藤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic program quality evaluation system capable of standardizing a program quality evaluation method, substantially shortening operation time required for evaluating the quality of a program and the operation time required for testing the program and efficiently automatically managing the quality of the program by setting quality elements and a quality evaluation procedure to be the decision index of quality evaluation. SOLUTION: The quality elements 15 are defined so as to normally analyze and evaluate the quality of the program, a reference value 16 is set for the quality elements, the quality of the program is evaluated 14 by automatically summing up and judging whether or not it matches with prescribed conditions and the quality element 15 (residual defective internal point) to be a problem in terms of program quality is presented. Thus, by the residual defective internal point, a defective element present inside the program and not extracted yet is specified, and by narrowing points where defects are latent, the efficiency of the test of the program is improved and the quality is improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータに用
いるプログラムの品質評価技術に係わり、特に、品質要
素を定義してプログラムの品質評価方法を標準化して、
プログラムの品質評価に係わる作業を高効率化するのに
好敵なプログラム品質評価・向上技法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a quality evaluation technique for a program used in a computer, and in particular, defines quality factors to standardize the quality evaluation method of the program.
The present invention relates to a program quality evaluation / improvement technique which is favorable for improving the efficiency of work related to program quality evaluation.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の技術としてはソフトウェアの品質
管理方式(特開昭62−28845)従来の技術では、
プログラム開発のテスト工程で実際に摘出された不良件
数と、予測不良件数から残存不良件数を予測するもので
あり、プログラムに内在する不良内容を分析、予測して
プログラムの品質を評価するものはなかった。
2. Description of the Related Art As a conventional technique, a software quality control method (Japanese Patent Laid-Open No. 62-28845) is used.
It predicts the number of remaining defects from the number of defects actually extracted in the test process of program development and the predicted number of defects, and there is no one that analyzes and predicts the contents of defects inherent in the program to evaluate the quality of the program. It was

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来の技術では、プロ
グラム開発のテスト工程で実際に摘出された不良件数
と、予測不良件数から残存不良件数を予想するものであ
り、プログラムに内在する不良内容を分析、予測してプ
ログラムの品質を自動的に評価するものはなかった。
In the prior art, the number of defects actually extracted in the test process of program development and the number of remaining defects are predicted from the predicted number of defects. There is no one that analyzes and predicts and automatically evaluates the quality of programs.

【0004】本発明の目的は、品質評価の決定指標とな
る、品質要素、品質評価手順を設定することにより、プ
ログラム品質評価方法を標準化することにある。また、
品質自動評価方法を適用することにより、プログラムの
品質評価に要する作業時間、プログラムのテストに要す
る作業時間を大幅に短縮することにある。
An object of the present invention is to standardize a program quality evaluation method by setting a quality element and a quality evaluation procedure, which are determination indexes for quality evaluation. Also,
By applying the automatic quality evaluation method, it is possible to significantly reduce the work time required for the program quality evaluation and the work time required for the program test.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】プログラムの品質を分
析、評価するために、不良重要度、不良コード、不良作
り込み工程要因、不良処理形態、不良要因、不良見逃し
工程、等の品質要素を定義し、品質要素に対して基準値
を設定し所定の条件に合致するか否かを自動的に判定し
プログラムの品質評価を行い、プログラム品質上問題と
なる品質要素(残存不良内在ポイント)を提示すること
により、プログラム品質評価を標準的に行える。
[Means for Solving the Problems] To analyze and evaluate the quality of a program, quality factors such as defect importance, defect code, defect creation process factor, defect processing form, defect factor, defect oversight process, etc. are defined. Then, a standard value is set for the quality element, and it is automatically judged whether or not it meets a predetermined condition, and the quality of the program is evaluated. By doing so, the program quality can be evaluated as standard.

【0006】また、残存不良内在ポイントにより、プロ
グラムに内在する、まだ摘出されていない不良要素を特
定することができ、不良の潜在するポイントを絞り込む
ことにより、プログラムのテストの効率化と品質向上を
図ることができる。
[0006] Further, the residual defect inherent point can identify a defective element that is inherent in the program and has not been extracted yet. By narrowing down potential defective points, the efficiency and quality of the program test can be improved. Can be planned.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】品質要素の定義内容は以下の通り
とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The definition contents of quality elements are as follows.

【0008】1.不良重要度 重要、普通、軽微の3種のファクターから構成される。
それぞれの意味は、重要はファイル、DB破壊、ABE
ND(異常終了)、プログラムループ、金額不正等のシ
ステム運用上問題となるものである。軽微は、画面、帳
票の誤字、脱字、カラムずれ等のシステムの稼働を妨げ
ないものである。普通はそれら以外のものである。
[0008] 1. Defect importance It is composed of three types of factors: important, normal, and minor.
The meaning of each is important, file, DB destruction, ABE
This is a problem in system operation such as ND (abnormal termination), program loop, and fraudulent amount of money. Minor items are those that do not interfere with the operation of the system such as typographical errors on screens and forms, omissions, and column shifts. It is usually something else.

【0009】2.不良コード 新規、デグレード、修正不十分、潜在の4種のファクタ
ーから構成される。それぞれの意味は、新規は、プログ
ラム作成に対し新規に発生した不良である。デグレード
はプログラムを修正した際、誤って修正不必要な箇所を
修正した為に発生した不良である。修正不十分はプログ
ラム修正時に修正が不十分であった為に発生した不良で
ある。潜在は改造によるプログラム作成に際し、改造母
体に内在していた潜在的不良である。
[0009] 2. Bad code It consists of four factors: new, degraded, insufficiently corrected, and latent. The meaning of each is a new defect that has newly occurred for the program creation. Degradation is a defect that occurs when a program is modified and mistakes are made to the unnecessary areas. Insufficient correction is a defect that occurred because the correction was insufficient when the program was modified. Latent is a latent defect inherent in the remodeling mother when the program was created by remodeling.

【0010】3.不良作り込み工程要因 BS(システム計画)、FS(システム設計)、DS
(プログラム機能設計)、C(プログラム記述)の4種
のファクターから構成される。それぞれの意味は、BS
はシステム計画に不良要因があるものである。FSはシ
ステム設計に不良要因があるものである。DSはプログ
ラム機能設計に不良要因があるものである。Cはプログ
ラム記述に不良要因があるものである。
3. Factors of defective manufacturing process BS (system planning), FS (system design), DS
It is composed of four factors: (program function design) and C (program description). The meaning of each is BS
Indicates that there is a bad factor in the system plan. The FS has a defect factor in the system design. The DS has a defect factor in the program function design. C has a defect factor in the program description.

【0011】4.不良処理形態 正常処理、異常処理、境界/限界処理の3種のファクタ
ーから構成される。正常処理はプログラムジックの正常
処理部分に不良が存在したものである。異常処理はプロ
グラムロジックの異常処理部分に不良が存在したもので
ある。境界/限界処理はシステムの仕様上必要なチェッ
ク処理部分に不良が存在したものである。
4. Defective processing form It consists of three types of factors: normal processing, abnormal processing, and boundary / limit processing. The normal processing is a defect in the normal processing portion of the program. The abnormal processing is the existence of a defect in the abnormal processing part of the program logic. The boundary / limit processing is a defect in the check processing portion necessary for the system specifications.

【0012】5.不良要因 仕様理解不足、規格/基準理解不足、運用面考慮不足、
インタフェース、単純ミスの5種のファクターから構成
される。仕様理解不足は業務仕様、システム仕様、プロ
グラム仕様の理解不足、誤解の為に発生した不良であ
る。規格/基準理解不足はプロジェクトで設定した規格
/基準理解不足、誤解の為に発生した不良である。運用
面考慮不足はシステムの運用を考慮していなかった為に
発生した不良である。インタフェースはプログラム間の
インタフェース不整合の為に発生した不良である。単純
ミスは単純なミスの為に発生した不良である。
5. Defect factors Lack of understanding of specifications, lack of understanding of standards / standards, lack of consideration of operation,
It consists of five factors: interface and simple mistake. Insufficient understanding of specifications is a defect caused by misunderstanding of business specifications, system specifications, and program specifications. Lack of understanding of standards / standards is a defect caused by a lack of understanding of standards / standards set in the project and misunderstanding. The lack of operational consideration is a defect that occurred because the system operation was not considered. The interface is a defect caused by the interface mismatch between programs. A simple mistake is a defect caused by a simple mistake.

【0013】6.不良見逃し工程 UD(単体テスト工程)、CD(連動テスト工程)、S
D(総合テスト工程)の3種のファクターから構成され
る。それぞれの意味は、UDは単体テスト工程で摘出す
べき不良であるもの。CDは連動テスト工程で摘出すべ
き不良であるもの。SDは総合テスト工程で摘出すべき
不良であるものである。
6. Failure overlook process UD (unit test process), CD (interlocking test process), S
It consists of three factors, D (Comprehensive test process). Each meaning means that UD is a defect that should be extracted in the unit test process. A CD is a defect that should be extracted in the interlocking test process. SD is a defect that should be extracted in the comprehensive test process.

【0014】以下に本発明の実施例を、図面を用いて詳
細に説明する。図1は本発明の実施例を実現させるため
のシステム構成図であり、図2はデータファイル18に
格納するデータのレコードレイアウトであり、図3は集
計ファイル17に格納するデータのレコードレイアウト
であり、図4は基準値テーブル15の一実施例であり、
図5はプリンタ13に出力する総合品質評価一覧であ
り、図6は図1処理部の詳細を示す処理の流れ図であ
る。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a system configuration diagram for realizing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a record layout of data stored in a data file 18, and FIG. 3 is a record layout of data stored in a summary file 17. 4 is an example of the reference value table 15,
FIG. 5 is a comprehensive quality evaluation list output to the printer 13, and FIG. 6 is a flow chart of processing showing details of the processing unit in FIG.

【0015】データ入力者は、表示装置12に表示され
る画面に従って業務名21、プログラム名22、不良重
要度23、不良コード24、不良作り込み工程要因2
5、不良処理形態26、不良要因27、不良見逃し工程
28の品質要素を入力装置11より入力601する。入
力するデータの終了判定602を行いデータ入力が終了
するまで入力されたデータをデータファイル18に格納
603する。
According to the screen displayed on the display device 12, the data input person has a work name 21, a program name 22, a defect importance level 23, a defect code 24, and a defect making process factor 2.
5, the defect processing form 26, the defect factor 27, and the quality factor of the defect oversight process 28 are input 601 from the input device 11. The end determination 602 of the data to be input is performed, and the input data is stored 603 in the data file 18 until the data input is completed.

【0016】データ入力が終了した後、データファイル
18に格納されたデータを読み込み604、データファ
イルの終了判定605を行いデータが存在すれば業務毎
に各品質要素のファクターをカウントアップ606し、
集計ファイルに格納607する。
After the data input is completed, the data stored in the data file 18 is read 604, the end judgment 605 of the data file is performed, and if the data exists, the factor of each quality factor is counted up 606 for each job,
The data is stored in the tabulation file 607.

【0017】業務毎の品質要素のファクターの集計が終
了した後、集計ファイル17を読み込み608、集計フ
ァイルの終了判定609を行いデータが存在すれば、集
計ファイルの内容から各業務毎、品質要素毎に、それぞ
れのファクターの集計値を、基準値テーブルA16内の
判定基準41に照らし合わせ、判定基準41に合致する
か否かのチェック610を行い、合致した場合は、該当
の品質要素のファクターに、残存不良内在ポイントを示
すフラグ(品質要素毎の重み42)を立て611、集計
ファイル17のデータが終了すれば処理を終了609す
る。
After the totalization of the factors of the quality factors for each work is completed, the totalization file 17 is read 608 and the end determination 609 of the totalization file is performed, and if data exists, the contents of the totalization file are used for each business and each quality factor. Then, the aggregated value of each factor is checked against the judgment standard 41 in the standard value table A16, and a check 610 is performed as to whether or not the judgment standard 41 is met. A flag (weight 42 for each quality element) indicating the remaining defective inherent point is set 611, and when the data of the totalization file 17 is completed, the process is terminated 609.

【0018】さらに、残存不良内在ポイントが示された
品質要素のフラグを集計し、基準値テーブルB16内の
品質ポイント43と比較し品質評価判定612(良・普
・悪の判定処理)を行うことにより、熟練者の判断なし
で業務毎のプログラムの品質評価ができる。最後に、総
合品質評価一覧(図5)を、表示装置12、及び、プリ
ンタ13に表示する。
Further, the flags of the quality elements indicating the remaining defective inherent points are aggregated and compared with the quality points 43 in the reference value table B16 to perform the quality evaluation determination 612 (good / common / bad determination processing). As a result, it is possible to evaluate the quality of the program for each job without the judgment of an expert. Finally, the comprehensive quality evaluation list (FIG. 5) is displayed on the display device 12 and the printer 13.

【0019】尚、図4に示す基準値テーブルA、B16
の判定基準41、重み42、品質ポイント43に登録す
る判定式、値は評価対象のプログラムのプロジェクトの
難易度などにより、ファクターの組み合わせ方、判定式
の数、平均値/可変な特定値などで、式の構造、値を変
えるものとする。
The reference value tables A and B16 shown in FIG.
Judgment criteria 41, weights 42, judgment expressions registered in quality points 43, and values are determined by the combination of factors, the number of judgment expressions, the average value / variable specific value, etc. depending on the project difficulty of the program to be evaluated. , The structure of the expression, the value shall be changed.

【0020】図7は、プログラム自動品質評価・向上ツ
ールを適用した場合の残存不良状況の遷移を示したもの
である。
FIG. 7 shows the transition of the residual defect status when the automatic program quality evaluation / improvement tool is applied.

【0021】第1回テストでは残存不良内在ポイント
(不良重要度−重要、及び、不良コード−デグレード、
修正不十分)に対し重点的にテストを実施して不良を摘
出している。同様に、第2回テストでは残存不良内在ポ
イント(不良作り込み工程要因−FS、DS、及び、不
良処理形態−異常処理、境界/限界処理)に対し重点的
にテストを実施して不良を摘出し、さらに、第3回テス
トでは残存不良内在ポイント(不良要因−インタフェー
ス、及び、不良見逃し工程−UD、CD)に対し重点的
にテストを実施して、業務名Cに含まれる全プログラム
の残存不良を0件にしている。
In the first test, the remaining defective intrinsic points (defective importance-important and defective code-degrade,
(Insufficient repair) is focused on and defects are identified. Similarly, in the second test, the residual defect inherent points (defective manufacturing process factor-FS, DS, and defective processing form-abnormal processing, boundary / limit processing) are intensively tested and defects are extracted. In addition, in the third test, the remaining defect inherent points (defect factor-interface and defect oversight process-UD, CD) are intensively tested, and all programs included in the job name C remain. The number of defects is 0.

【0022】これに対して、図8はプログラム自動品質
評価・向上ツールを適用しなかった場合の残存不良内在
ポイント毎の残存不良状況を示しており、プログラム自
動品質評価・向上ツールを適用した場合に比べ、残存不
良内在ポイントに従い重点的にテストを実施できないた
めに効率的な不良の摘出ができず、全プログラムの不良
を摘出するテスト回数は5回を要している。このことよ
り、プログラム自動品質評価・向上ツールを適用した場
合は、効率的なテストが実施できることがわかる。
On the other hand, FIG. 8 shows the residual defect status for each residual defect intrinsic point when the program automatic quality evaluation / improvement tool is not applied. When the program automatic quality evaluation / improvement tool is applied, FIG. In contrast to this, since it is not possible to perform tests intensively according to the remaining defect inherent points, it is not possible to extract defects efficiently, and the number of tests for extracting defects of all programs is 5 times. From this, it can be seen that an efficient test can be performed when the program automatic quality evaluation / improvement tool is applied.

【0023】図9は、一般にソフトウェア製品開発にお
ける不良収束の連続的曲線(ゴンペルツ曲線)である。
プログラム自動品質評価・向上ツールを適用した場合の
不良摘出累積値曲線を実線で示し、プログラム自動品質
評価・向上ツール非適用の不良摘出累積値曲線を破線で
示している。プログラム自動品質評価・向上ツール非適
用の場合に比べ、プログラム自動品質評価・向上ツール
を適用した場合は、残存不良内在ポイントに従い重点的
にテストを実施することにより効果的に不良を摘出でき
る。このため、分析時点からの曲線の傾きに差が現れ、
これがプログラム自動品質評価・向上ツールの効果であ
る。
FIG. 9 is a continuous curve (Gompertz curve) of defect convergence generally in software product development.
A solid line indicates a defect extraction cumulative value curve when the program automatic quality evaluation / improvement tool is applied, and a broken line indicates a defect extraction cumulative value curve to which the program automatic quality evaluation / improvement tool is not applied. Compared to the case where the program automatic quality evaluation / improvement tool is not applied, when the program automatic quality evaluation / improvement tool is applied, the defects can be effectively isolated by conducting the test focusing on the residual defect inherent points. Therefore, a difference appears in the slope of the curve from the time of analysis,
This is the effect of the automatic program quality evaluation / improvement tool.

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明によれば、プログラムの品質を評
価する為の品質要素の設定により、プログラムの品質評
価を標準的に行うことができ、効率良くプログラムの品
質管理ができる。さらに、絞り込まれた残存不良内在ポ
イントに対して、重点的にプログラムのテストを実施す
る事により効率的にプログラムの不良が摘出できる。
According to the present invention, the quality of a program can be evaluated as a standard by setting quality factors for evaluating the quality of the program, and the quality of the program can be efficiently managed. Further, by conducting the program test with emphasis on the narrowed remaining defect inherent points, the program defects can be efficiently extracted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のシステム構成図を示す。FIG. 1 shows a system configuration diagram of the present invention.

【図2】データファイルのファイルレイアウトを示す。FIG. 2 shows a file layout of a data file.

【図3】集計ファイルのファイルレイアウトを示す。FIG. 3 shows a file layout of a summary file.

【図4】基準値テーブルA、Bの一実施例を示す。FIG. 4 shows an example of reference value tables A and B.

【図5】総合品質評価一覧のファイルレイアウトを示
す。
FIG. 5 shows a file layout of a comprehensive quality evaluation list.

【図6】総合品質評価一覧を出力する処理の流れ図を示
する
FIG. 6 shows a flow chart of processing for outputting a comprehensive quality evaluation list.

【図7】プログラム自動品質評価・向上ツール適用時の
残存不良内在ポイント毎の残存不良状況を示す。
FIG. 7 shows the status of residual defects for each of the residual defect intrinsic points when the program automatic quality evaluation / improvement tool is applied.

【図8】プログラム自動品質評価・向上ツール非適用時
の残存不良内在ポイント毎の残存不良状況を示す。
FIG. 8 shows the status of residual defects for each of the inherent points of residual defects when the automatic program quality evaluation / improvement tool is not applied.

【図9】一般的なソフトウェア製品開発における不良収
束曲線(ゴンベルツ曲線)を示す。
FIG. 9 shows a defect convergence curve (Gombertz curve) in general software product development.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…入力装置、 12…表示装置、 1
3…プリンタ、14…評価判定部、 15…品質要
素テーブル、16…基準値テーブルA、B、
17…集計ファイル、18…データファイ
ル、 21…業務名、 22…プログラム名、
23…不良重要度、 24…不良コード、25…不
良作り込み工程要因、 26…不良
処理形態、27…不良要因、 28…不良見逃し
工程、 41…判定基準、42…重み、 4
3…品質ポイント、601…データ入力処理、
602…データ入力終了判定処理、603…データフ
ァイル格納処理、 604…データファイル読み込み処
理、605…データファイル読み込み終了判定処理、6
06…各品質要素のファクターのカウントアップ処理、
607…集計ファイル格納処理、 608…集計ファ
イル読み込み処理、609…集計ファイル読み込み終了
判定処理、610…所定条件合致チェック処理、611
…残存不良内在ポイントセット処理、 612…品質
評価判定処理、613…総合品質評価一覧。
11 ... Input device, 12 ... Display device, 1
3 ... Printer, 14 ... Evaluation determination unit, 15 ... Quality element table, 16 ... Reference value tables A and B,
17 ... Totalization file, 18 ... Data file, 21 ... Business name, 22 ... Program name,
23 ... Defect importance degree, 24 ... Defect code, 25 ... Defect making process factor, 26 ... Defect processing form, 27 ... Defect factor, 28 ... Defect overlooking process, 41 ... Judgment standard, 42 ... Weight, 4
3 ... Quality points, 601 ... Data input processing,
602 ... Data input end determination processing, 603 ... Data file storage processing, 604 ... Data file reading processing, 605 ... Data file reading end determination processing, 6
06 ... Count-up processing of factors of each quality factor,
607 ... Aggregate file storage processing, 608 ... Aggregate file reading processing, 609 ... Aggregate file reading end determination processing, 610 ... Predetermined condition matching check processing, 611
Residual defect inherent point set processing, 612 ... Quality evaluation determination processing, 613 ... Overall quality evaluation list.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 千葉 幸俊 東京都江東区新砂一丁目6番27号株式会社 日立製作所公共情報事業部内 (72)発明者 八木 隆尚 東京都江東区新砂一丁目6番27号株式会社 日立製作所公共情報事業部内 (72)発明者 田代 仁志 東京都江東区新砂一丁目6番27号株式会社 日立製作所公共情報事業部内 (72)発明者 松尾 静子 東京都江東区新砂一丁目6番27号株式会社 日立製作所公共情報事業部内 (72)発明者 武藤 利広 東京都江東区新砂一丁目6番27号日立公共 システムエンジニアリング株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Yukitoshi Chiba 1-6-27 Shinsuna, Koto-ku, Tokyo Hitachi Public Information Division (72) Inventor Takahisa Yagi 1-6-Shinsuna, Koto-ku, Tokyo No. 27 Hitachi, Ltd. Public Information Business Department (72) Inventor Hitoshi Tashiro 1-6-6, Shinsuna, Koto-ku, Tokyo Hitachi Ltd. Public Information Business Department (72) Inventor Shizuko Matsuo 1-chome Shinsago, Koto-ku, Tokyo 6-27 Hitachi Ltd. Public Information Division (72) Inventor Toshihiro Muto 1-627 Shinsuna, Koto-ku, Tokyo Hitachi Public System Engineering Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プログラム開発の各テスト工程(単体、連
動、総合)にて摘出される不良に対して、品質要素を定
義し、この品質要素からプログラムの品質評価を実施す
ることにより品質評価方法を標準化する。さらに、品質
要素と基準値を比較して、所定の条件に合致したものを
残存不良内在ポイントとして自動的に抽出することを特
徴とするプログラム品質評価方法。
1. A quality evaluation method by defining a quality factor for a defect extracted in each test process (single unit, interlocking, and total) of program development, and performing a program quality evaluation from this quality factor. Standardize. Further, the program quality evaluation method is characterized in that a quality factor and a reference value are compared with each other, and a condition that meets a predetermined condition is automatically extracted as a residual defect inherent point.
JP8074545A 1996-03-28 1996-03-28 Program quality evaluation method Pending JPH09265393A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001273129A (en) * 2000-03-27 2001-10-05 Hitachi Information Systems Ltd Method for controlling/evaluating software quality by means of quality control and quality evaluation rule defined by structured document, and recording medium recorded with its program
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