JPH07321178A - Carrier device and multichamber device with the carrier device - Google Patents

Carrier device and multichamber device with the carrier device

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Publication number
JPH07321178A
JPH07321178A JP10945894A JP10945894A JPH07321178A JP H07321178 A JPH07321178 A JP H07321178A JP 10945894 A JP10945894 A JP 10945894A JP 10945894 A JP10945894 A JP 10945894A JP H07321178 A JPH07321178 A JP H07321178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
chamber
processed
transfer
objects
Prior art date
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Pending
Application number
JP10945894A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akio Shimizu
昭男 清水
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Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Priority to JP10945894A priority Critical patent/JPH07321178A/en
Publication of JPH07321178A publication Critical patent/JPH07321178A/en
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  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve throughput of processing by improving processing ability of a multichamber device. CONSTITUTION:The title device has a carrier chamber 10 and a plurality of processing chambers 11 to 13 arranged around it. Two processing objects carried into a load lock chamber 14 from a loader 20 are mounted on carrying hands 37a, 37b of a carrier device 30, respectively. Each of the processing objects carried into three processing chambers 11 to 13 one by one by the carrier device 30 and processed in each processing chambers 11 to 13 are carried into a processing chamber at the side of a postprocess by the carrier device 30 one by one and are returned to the loader 20 through the load lock chamber 14. Each of the processing chambers 11 to 13 has two processing stages corresponding to the number of carrying hands 37a, 37b.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体ウエハに対してス
パッタリング処理等の処理を行う処理室を複数有するマ
ルチチャンバ装置の技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique of a multi-chamber apparatus having a plurality of processing chambers for performing processing such as sputtering processing on a semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ(以下、ウエハと言う)に
スパッタリングにより配線用の薄膜を形成する場合に
は、スループットの向上と積層膜一貫成形のために、例
えば、株式会社プレスジャーナル発行「月刊Semiconduc
tor World 」1993年2 月号平成5年1月20日発行、P
30〜P34に記載されているように、中央に配置され
た搬送室の回りに複数のスパッタ処理室を設けるように
したマルチチャンバ装置が使用されている。
2. Description of the Related Art When a thin film for wiring is formed on a semiconductor wafer (hereinafter referred to as a wafer) by sputtering, in order to improve the throughput and the integrated molding of a laminated film, for example, "Journal of Semiconduc" issued by Press Journal Co., Ltd.
tor World "February 1993 issue January 20, 1993, P
As described in 30 to P34, a multi-chamber apparatus is used in which a plurality of sputtering processing chambers are provided around a transfer chamber arranged in the center.

【0003】マルチチャンバ装置では、同一の処理室内
で異なる処理を行う時におけるクロスコンタミネーショ
ンを解決すべく、1つの処理室内では1種類の処理を行
うとともに、それぞれの処理室を独立させて排気するよ
うにしているので、処理室の数が多くなり、ポンプ数も
増加して排気系が複雑となることから、装置価格が高
く、しかも広いクリーンルームスペースを使用すること
が必要である。
In the multi-chamber apparatus, in order to solve cross-contamination when different treatments are performed in the same treatment chamber, one treatment chamber is used to perform one type of treatment and each treatment chamber is evacuated independently. As a result, the number of processing chambers increases, the number of pumps increases, and the exhaust system becomes complicated. Therefore, the apparatus price is high and it is necessary to use a wide clean room space.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このようなマルチチャ
ンバ装置においては、トランスファチャンバあるいはバ
ッファチャンバと言われる搬送室の回りに相互に異なっ
た条件で処理を行う処理室が配置されており、ウエハを
順次それぞれの処理室内に搬送して複数のプロセスが実
行されるようになっている。それぞれの処理室内にウエ
ハを搬送する際には、最後の処理を行う処理室から処理
後のウエハを取り出し、前工程側の処理室からウエハを
後工程側の処理室内にウエハを搬送し、ロードロック室
から新たなウエハを最初の処理室内に搬入するようにし
ている。
In such a multi-chamber apparatus, processing chambers for carrying out processing under mutually different conditions are arranged around a transfer chamber called a transfer chamber or a buffer chamber, and wafers are processed. A plurality of processes are carried out by sequentially transporting them into the respective processing chambers. When transferring a wafer into each processing chamber, the processed wafer is taken out of the processing chamber in which the last processing is performed, the wafer is transferred from the processing chamber of the front end process side to the processing chamber of the rear end process side, and the wafer is loaded. A new wafer is loaded into the first processing chamber from the lock chamber.

【0005】このため、ウエハの搬送を行うには、新た
なウエハを最初の処理室内に搬入するとともに、後処理
側の処理室内にウエハをシフトすることが必要となる。
したがって、それぞれの処理室における処理時間に比較
して、ウエハの搬送に要する時間の方が長くなってい
る。つまり、マルチチャンバ装置の全体のスループット
を決定するのは、各処理室における処理時間ではなく、
各処理室内へのウエハの搬送時間である場合が多くなっ
ている。
Therefore, in order to carry the wafer, it is necessary to carry a new wafer into the first processing chamber and shift the wafer into the post-processing processing chamber.
Therefore, the time required to transfer the wafer is longer than the processing time in each processing chamber. In other words, it is not the processing time in each processing chamber that determines the overall throughput of the multi-chamber system,
In many cases, it is time to transfer the wafer into each processing chamber.

【0006】本発明の目的は、マルチチャンバ装置の処
理能力を向上して処理のスループットを向上することで
ある。
[0006] It is an object of the present invention to improve the throughput of a multi-chamber system to improve the throughput of processing.

【0007】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
Among the inventions disclosed in the present application, a brief description will be given to the outline of typical ones.
It is as follows.

【0009】すなわち、本発明の搬送装置は、複数の被
処理物をそれぞれ別々に支持する複数の支持部を有し、
複数の被処理物を同時にそれぞれの処理室に搬送するよ
うにしたことを特徴とする。
That is, the carrying apparatus of the present invention has a plurality of supporting portions for respectively supporting a plurality of objects to be processed,
It is characterized in that a plurality of objects to be processed are simultaneously conveyed to respective processing chambers.

【0010】そして、本発明のマルチチャンバ装置は、
複数の被処理物をそれぞれ支持して同時にそれぞれの処
理室に被処理物を搬送する搬送手段を搬送室に設け、そ
れぞれの処理室に、複数の被処理物を支持する複数の処
理ステージを設けたことを特徴とする。
And, the multi-chamber apparatus of the present invention is
A transfer means is provided in the transfer chamber for supporting the plurality of objects to be processed and simultaneously transferring the objects to the respective processing chambers, and a plurality of processing stages for supporting the plurality of objects to be processed are provided in the processing chambers It is characterized by that.

【0011】それぞれの処理室は複数の被処理物に対し
て同一の処理を行うようになっており、また、被処理物
は水平に配置された状態あるいは上下に配置された状態
となって搬送されて処理室内の処理ステージに支持され
る。さらに、それぞれの処理室内には複数の被処理物に
対応してそれぞれの処理室を複数に区画する仕切り部材
を有している。搬送手段は2つの被処理物を支持して同
時にそれぞれの処理室に2つの被処理物を搬送するよう
になっている。
Each processing chamber is designed to perform the same processing on a plurality of objects to be processed, and the objects to be processed are conveyed in a state of being horizontally arranged or in a state of being vertically arranged. Then, it is supported by the processing stage in the processing chamber. Furthermore, each processing chamber has a partition member that divides each processing chamber into a plurality of parts corresponding to a plurality of objects to be processed. The transfer means supports the two objects to be processed and simultaneously transfers the two objects to be processed into the respective processing chambers.

【0012】[0012]

【作用】上記構成の搬送装置にあっては、複数の処理物
を処理室内に搬送することができるので、搬送効率が向
上する。
In the transport apparatus having the above construction, a plurality of processed products can be transported into the processing chamber, so that the transportation efficiency is improved.

【0013】また、マルチチャンバ装置にあっては、搬
送室に隣接して配置された複数の処理室内にはそれぞれ
複数の処理ステージが設けられ、それぞれの処理ステー
ジには搬送手段により複数の被処理物が同時に搬送され
ることから、処理効率を大幅に向上することができる。
Further, in the multi-chamber apparatus, a plurality of processing stages are respectively provided in a plurality of processing chambers arranged adjacent to the transfer chamber, and each processing stage has a plurality of objects to be processed by the transfer means. Since the objects are conveyed at the same time, the processing efficiency can be significantly improved.

【0014】さらに、複数の被処理物を水平に配置した
状態で搬送するようにしても良く、上下に配置した状態
で搬送するようにしても良く、これらはマルチチャンバ
装置の設置部位に応じて任意に選択される。
Further, a plurality of objects to be processed may be conveyed in a state of being horizontally arranged, or may be conveyed in a state of being arranged vertically, and these may be conveyed according to the installation site of the multi-chamber apparatus. It is arbitrarily selected.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0016】図1は本発明の一実施例であるマルチチャ
ンバ装置を示す平面図であり、搬送室10の回りには、
第1処理室11、第2処理室12および第3処理室13
の3つの処理室とロードロック室14とが配置されてい
る。さらに、それぞれの処理室11〜13およびロード
ロック室14と搬送室10との間には、ゲートバルブ1
5〜18が設けられ、相互間が開閉自在となっている。
FIG. 1 is a plan view showing a multi-chamber apparatus which is an embodiment of the present invention.
First processing chamber 11, second processing chamber 12 and third processing chamber 13
The three processing chambers and the load lock chamber 14 are arranged. Further, the gate valve 1 is provided between the processing chambers 11 to 13 and the load lock chamber 14 and the transfer chamber 10.
5 to 18 are provided and can be freely opened and closed.

【0017】ロードロック室14にはゲートバルブ19
を介してローダ20が配置されており、このローダ20
には2つのキャリア治具21a,21bが設けられてい
る。キャリア治具21a,21bにそれぞれ収納されて
いるウエハを、ロードロック室14内に設けられた予備
加熱ステージ22a,22bに搬送するために、ローダ
20には搬送アーム23a,23bが設けられている。
A gate valve 19 is provided in the load lock chamber 14.
The loader 20 is arranged via the
Is provided with two carrier jigs 21a and 21b. In order to transfer the wafers stored in the carrier jigs 21a and 21b to the preheating stages 22a and 22b provided in the load lock chamber 14, the loader 20 is provided with transfer arms 23a and 23b. .

【0018】搬送室10内には、ロードロック室14内
の予備加熱ステージ22a,22bからのウエハを搬送
室10内に搬入した後に、順次、3つの処理室11〜1
3に搬送するために、搬送装置30が配置されている。
After the wafers from the preheating stages 22a and 22b in the load lock chamber 14 are loaded into the transfer chamber 10, the three processing chambers 11 to 1 are sequentially loaded.
A transport device 30 is arranged for transporting to 3.

【0019】この搬送装置30はほぼ鉛直方向に伸びた
公転軸31を中心に回転する旋回台32を有し、この旋
回台32に設けられた2つの搬送軸33にはそれぞれ駆
動アーム34が取り付けられている。それぞれの駆動ア
ーム34には搬送アーム35がピン結合され、さらにそ
れぞれの搬送アーム35は支持台36にピン結合されて
いる。この支持台36には、それぞれウエハを支持する
ための搬送用ハンド37a,37bが支持部として取り
付けられている。
The transfer device 30 has a swivel base 32 which rotates about an orbital shaft 31 extending in a substantially vertical direction, and a drive arm 34 is attached to each of two transfer shafts 33 provided on the swivel base 32. Has been. A transfer arm 35 is pin-connected to each drive arm 34, and each transfer arm 35 is pin-connected to a support base 36. Transfer hands 37a and 37b for supporting the wafer are attached to the support base 36 as support portions.

【0020】この搬送装置30は、公転軸31を中心に
旋回台32を回転させることにより搬送用ハンド37
a,37bを3つの処理室11〜13およびロードロッ
ク室14のそれぞれに対向させることができる。また、
2つの搬送軸33の少なくともいずれか一方を駆動する
ことにより、搬送用ハンド37a,37bは、駆動アー
ム34およひ搬送アーム35を介して前進後退移動する
ことになる。
In the carrying device 30, a hand 37 for carrying is provided by rotating a swivel base 32 around a revolution shaft 31.
The a and 37b can be opposed to the three processing chambers 11 to 13 and the load lock chamber 14, respectively. Also,
By driving at least one of the two transport shafts 33, the transport hands 37a and 37b move forward and backward via the drive arm 34 and the transport arm 35.

【0021】それぞれの処理室11〜13内には、それ
ぞれ2つの処理ステージ41a〜43bが配置されてお
り、それぞれの処理ステージには図示省略した処理電極
が設けられている。そして、それぞれの処理室11〜1
3内には、2つの処理ステージ相互間に仕切板44〜4
6が設置され、それぞれの処理室11〜13内において
同時に2枚のウエハを処理した場合におけるクロスコン
タミネーションの防止がなされている。
In each of the processing chambers 11 to 13, two processing stages 41a to 43b are arranged, and each processing stage is provided with a processing electrode (not shown). And each processing chamber 11-1
Partition plates 44 to 4 between the two processing stages
6 is installed to prevent cross contamination in the case where two wafers are simultaneously processed in each of the processing chambers 11 to 13.

【0022】上述のような搬送装置30を有するマルチ
チャンバ装置によってウエハに対してスパッタリング処
理を行う手順について説明すると、2つのキャリア治具
21a,21bに収納されたウエハは、搬送アーム23
a,23bによって大気圧状態のロードロック室14に
搬送され、予備加熱ステージ22a,22bに載置され
る。次いで、ゲートバルブ19を閉じ、ロードロック室
14を図示しない真空ポンプで排気した後に、ゲートバ
ルブ18を開放する。
Explaining the procedure for performing the sputtering process on the wafer by the multi-chamber apparatus having the above-described transfer device 30, the wafers stored in the two carrier jigs 21a and 21b are transferred to the transfer arm 23.
It is conveyed to the load lock chamber 14 under atmospheric pressure by a and 23b and placed on the preheating stages 22a and 22b. Next, the gate valve 19 is closed, the load lock chamber 14 is evacuated by a vacuum pump (not shown), and then the gate valve 18 is opened.

【0023】この状態で、搬送装置30を駆動して、そ
の旋回台32を図1に示す回転位置で駆動軸33を駆動
して、2つの搬送用ハンド37a,37bを前進移動す
る。これにより、ロードロック室14内の予備加熱ステ
ージ22a,22b上のウエハは搬送用ハンド37a,
37bに持ち換えられ、ウエハは搬送室10内に搬入さ
れる。その後、ゲートバルブ18は閉じられる。
In this state, the transport device 30 is driven to drive the swivel base 32 at the rotational position shown in FIG. 1 to drive the drive shaft 33 to move the two transport hands 37a and 37b forward. As a result, the wafers on the preheating stages 22a and 22b in the load lock chamber 14 are transferred to the transfer hands 37a,
The wafer is transferred to 37b, and the wafer is loaded into the transfer chamber 10. After that, the gate valve 18 is closed.

【0024】次に、旋回台32が図1において時計方向
に90°回転すると、3つの搬送用ハンド37a,37
bが処理室11に対向する位置となる。この状態でゲー
トバルブ15が開き、搬送用ハンド37a,37bを前
進させることにより、処理ステージ41a,41bにそ
れぞれのウエハが搬送される。搬送終了後、ゲートバル
ブ15が閉じられ、それぞれの処理ステージ41a,4
1bにおいてスパッタリング処理が行われる。このとき
には、2つの処理ステージ41a,41b相互間には仕
切板44が設置されているので、クロスコンタミネーシ
ョンが防止される。
Next, when the swivel base 32 is rotated 90 ° clockwise in FIG. 1, the three transfer hands 37a, 37 are transferred.
b is a position facing the processing chamber 11. In this state, the gate valve 15 is opened and the transfer hands 37a and 37b are moved forward to transfer the respective wafers to the processing stages 41a and 41b. After the transfer is completed, the gate valve 15 is closed and the respective processing stages 41a, 4a
The sputtering process is performed in 1b. At this time, since the partition plate 44 is installed between the two processing stages 41a and 41b, cross contamination is prevented.

【0025】第1番目の処理室11で処理が終了した後
のウエハは、順次、他の処理室12,13に搬送され
て、合計3種類の相互に異なる条件で処理が施され、さ
らにロードロック室14を介してキャリア治具21a,
21bに搬出されて、一連の処理が完了する。
After the processing is completed in the first processing chamber 11, the wafers are sequentially transferred to the other processing chambers 12 and 13 and processed under a total of three different conditions, and then loaded. Through the lock chamber 14, the carrier jig 21a,
21b, and a series of processing is completed.

【0026】このように、図示する場合は、それぞれの
処理室11〜13で2つのウエハを同時に処理するよう
にしたので、装置の占有面積をあまり拡大させることな
く、処理能力つまりスループットを2倍にすることが可
能となる。
In this way, in the illustrated case, since two wafers are simultaneously processed in the respective processing chambers 11 to 13, the processing capacity, that is, the throughput is doubled without greatly expanding the area occupied by the apparatus. It becomes possible to

【0027】前述したように、搬送装置30の支持台3
6に2つの搬送用ハンド37a,37bを設けるように
した場合には、マルチチャンバ装置を組み立てる際に、
搬送装置30の組立誤差に対応させてそれぞれの処理室
11〜13内の処理ステージにおける試料台の位置を微
調整することができるようにすることが望ましい。
As described above, the support base 3 of the transfer device 30
When two transport hands 37a and 37b are provided in 6, when assembling the multi-chamber device,
It is desirable that the position of the sample stage in the processing stage in each of the processing chambers 11 to 13 can be finely adjusted according to the assembly error of the transfer device 30.

【0028】図2は処理室11の一部を示す断面図であ
り、この中の処理ステージ41a,41bを構成する試
料台51a,51bを微調整する機構を示す。他の処理
室12,13内もほぼ同様の構造となっている。
FIG. 2 is a sectional view showing a part of the processing chamber 11, showing a mechanism for finely adjusting the sample stands 51a, 51b constituting the processing stages 41a, 41b. The other processing chambers 12 and 13 have substantially the same structure.

【0029】ウエハWを支持する試料台51a,51b
は、それぞれ中空の支持軸52a,52bにより水平方
向に移動自在に取り付けられている。つまり、図2にお
いて符号Xで示す方向と、これに対して直角となったY
軸方向とに移動自在となっている。それぞれの試料台5
1a,51bには変形自在のベローズ53a,53bが
設けられ、これにより処理室11は外部と隔離されてい
る。
Sample stands 51a, 51b for supporting the wafer W
Are movably attached in the horizontal direction by hollow support shafts 52a and 52b, respectively. That is, the direction indicated by the symbol X in FIG.
It is movable in the axial direction. Each sample stand 5
Deformable bellows 53a and 53b are provided at 1a and 51b, whereby the processing chamber 11 is isolated from the outside.

【0030】中空の支持軸52a,52b内には昇降軸
54a,54bが嵌合され、それぞれの昇降軸54a,
54bの先端には、ウエハを試料台51a,51bの上
に載置する際および試料台51a,51bから取り外す
際にウエハを上下動させるためのリフトピン55a,5
5bが設けられている。
Lifting shafts 54a and 54b are fitted in the hollow support shafts 52a and 52b, respectively.
Lift pins 55a, 5 for moving the wafer up and down when mounting the wafer on the sample stands 51a, 51b and removing it from the sample stands 51a, 51b are provided at the tip of 54b.
5b is provided.

【0031】それぞれの処理室11〜13においてスパ
ッタリング処理を行うのであれば、ターゲット材、カソ
ードおよびアノード電極等が処理室内に組み込まれる。
一方、ドライエッチング処理を行うのであれば、反応性
ガスプラズマを発生させるための電極等が組み込まれ
る。
If the sputtering process is performed in each of the processing chambers 11 to 13, the target material, the cathode, the anode electrode and the like are incorporated in the processing chamber.
On the other hand, if dry etching is to be performed, an electrode or the like for generating reactive gas plasma is incorporated.

【0032】図3は本発明の他の実施例であるマルチチ
ャンバ装置の一部を示す正面断面図であり、前記実施例
では2枚のウエハを相互に同一面内で搬送し、かつ処理
するようにしているのに対して、図3に示す場合には、
2枚のウエハを相互に上下方向にずらして搬送するとと
もに、処理するようにしている。
FIG. 3 is a front sectional view showing a part of a multi-chamber apparatus according to another embodiment of the present invention. In the embodiment, two wafers are transferred and processed in the same plane. On the other hand, in the case shown in FIG.
Two wafers are vertically shifted from each other to be transported and processed.

【0033】図示するように、搬送装置30は上下方向
にずれた2つの搬送用ハンド37a,37bを有し、こ
れらは図1に示した場合と同様な駆動アーム34および
搬送アーム35を有する搬送装置30によって駆動され
る。
As shown in the figure, the transfer device 30 has two transfer hands 37a and 37b vertically displaced from each other, and these have a drive arm 34 and a transfer arm 35 similar to those shown in FIG. Driven by device 30.

【0034】一方、処理室11内には搬送用ハンド37
a,37bに対応させて、試料台41a,41bが上下
に二段となって配置されている。この場合には、それぞ
れの処理室11〜13の水平方向のスペースつまり設置
面積を小さくすることができるという利点がある。
On the other hand, a transfer hand 37 is provided in the processing chamber 11.
Corresponding to a and 37b, sample stands 41a and 41b are arranged vertically in two stages. In this case, there is an advantage that the horizontal space of each of the processing chambers 11 to 13, that is, the installation area can be reduced.

【0035】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the embodiments and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

【0036】たとえば、処理室の数は図示する場合には
3つ設けられているが、この数はこれに限定されること
なく、任意とすることが可能である。また、図示する場
合には、被処理物としてのウエハを同時に2枚搬送しか
つ処理するようにしているが、3枚あるいはそれ以上の
被処理物を搬送し処理するようにしても良い。
For example, although the number of processing chambers is three in the illustrated case, the number is not limited to this and can be arbitrary. Further, in the illustrated case, two wafers as the objects to be processed are simultaneously transferred and processed, but three or more objects to be processed may be transferred and processed.

【0037】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその利用分野であるスパッタリング処理
を行うために適用した場合について説明したが、これに
限定されるものではなく、たとえば、CVD処理を行う
場合やエッチング処理を行う場合等のように、処理室を
有する半導体製造装置であれば、どのような場合にも適
用できる。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to perform the sputtering process, which is the field of use thereof, has been described, but the present invention is not limited to this and, for example, the CVD process is performed. The present invention can be applied to any case as long as it is a semiconductor manufacturing apparatus having a processing chamber, such as a case and an etching process.

【0038】[0038]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0039】(1).複数の被処理物を搬送装置により支持
するようにし、複数の処理室内に搬送するようにしたの
で、被処理物の搬送効率が大幅に向上する。
(1) Since the plurality of objects to be processed are supported by the transfer device and are transferred into the plurality of processing chambers, the efficiency of transferring the objects to be processed is significantly improved.

【0040】(2).搬送装置により搬送される複数の被処
理物を同時に処理室で処理するようにしたことから、処
理能力が大幅に向上する。
(2) Since a plurality of objects to be processed conveyed by the transfer device are processed in the processing chamber at the same time, the processing capacity is greatly improved.

【0041】(3).これにより、被処理物のスループット
を装置の占有面積をあまり拡大させることなく、大幅に
向上することが可能となる。
(3) As a result, it becomes possible to greatly improve the throughput of the object to be processed without increasing the area occupied by the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるマルチチャンバ装置を
示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a multi-chamber apparatus that is an embodiment of the present invention.

【図2】図1の要部を示す正面側断面図である。FIG. 2 is a front side sectional view showing a main part of FIG.

【図3】本発明の他の実施例であるマルチチャンバ装置
の一部を示す正面側断面図である。
FIG. 3 is a front side sectional view showing a part of a multi-chamber apparatus which is another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 搬送室 11〜13 処理室 14 ロードロック室 15〜19 ゲートバルブ 20 ローダ 21a,21b キャリア治具 22a,22b 予備加熱ステージ 23a,23b 搬送アーム 30 搬送装置 31 公転軸 32 旋回台 33 駆動軸 34 駆動アーム 35 搬送アーム 36 支持台 37a,37b 搬送用ハンド 41a〜43b 処理ステージ 44〜46 仕切板 51a,51b 試料台 52a,52b 中空の支持軸 53a,53b ベローズ 54a,54b 昇降軸 55a,55b ソフトピン 10 transfer chamber 11-13 processing chamber 14 load lock chamber 15-19 gate valve 20 loader 21a, 21b carrier jig 22a, 22b preheating stage 23a, 23b transfer arm 30 transfer device 31 revolution shaft 32 swivel base 33 drive shaft 34 drive Arm 35 Transfer arm 36 Support stand 37a, 37b Transfer hand 41a-43b Processing stage 44-46 Partition plate 51a, 51b Sample stand 52a, 52b Hollow support shaft 53a, 53b Bellows 54a, 54b Lifting shaft 55a, 55b Soft pin

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の処理室のそれぞれに対して被処理
物を搬送する搬送装置であって、複数の被処理物をそれ
ぞれ別々に支持する複数の支持部を有し、複数の被処理
物を同時にそれぞれの処理室に搬送するようにしたこと
を特徴とする搬送装置。
1. A transfer device for transferring an object to be processed to each of a plurality of processing chambers, the apparatus having a plurality of support portions for separately supporting the plurality of objects to be processed, the plurality of objects to be processed. A carrier device is characterized in that the carrier is simultaneously carried into each processing chamber.
【請求項2】 搬送室と、この搬送室に隣接して配置さ
れ相互に被処理物に対して異なった処理を行う複数の処
理室とを有するマルチチャンバ装置であって、複数の被
処理物をそれぞれ支持して同時にそれぞれの前記処理室
に被処理物を搬送する搬送手段を前記搬送室に設け、前
記それぞれの処理室に、複数の被処理物を支持する複数
の処理ステージを設けたことを特徴とするマルチチャン
バ装置。
2. A multi-chamber apparatus having a transfer chamber and a plurality of processing chambers which are arranged adjacent to the transfer chamber and perform different processings on the object to be processed. And a plurality of processing stages for supporting a plurality of objects to be processed in the respective processing chambers. A multi-chamber device characterized by:
【請求項3】 前記搬送手段は複数の被処理物を相互に
水平に配置した状態あるいは上下に配置した状態で支持
し、前記それぞれの処理室内の処理ステージは前記搬送
手段により搬送状態に対応して複数の被処理物を支持す
るようにしたことを特徴とする請求項2記載のマルチチ
ャンバ装置。
3. The transfer means supports a plurality of objects to be processed in a state where they are arranged horizontally or vertically, and the processing stage in each of the processing chambers corresponds to the transfer state by the transfer means. The multi-chamber apparatus according to claim 2, wherein a plurality of objects to be processed are supported.
【請求項4】 前記それぞれの処理室は複数の被処理物
に対して同一の処理を行うようにしたことを特徴とする
請求項2または3記載のマルチチャンバ装置。
4. The multi-chamber apparatus according to claim 2, wherein the respective processing chambers perform the same processing on a plurality of objects to be processed.
【請求項5】 前記それぞれの処理室内には複数の被処
理物に対応してそれぞれの処理室を複数に区画する仕切
り部材を有することを特徴とする請求項2,3または4
記載のマルチチャンバ装置。
5. The partition member for partitioning each processing chamber into a plurality corresponding to a plurality of objects to be processed is provided in each of the processing chambers.
The multi-chamber device described.
【請求項6】 前記搬送手段は2つの被処理物を支持し
て同時にそれぞれの処理室に2つの被処理物を搬送する
ようにしたことを特徴とする請求項2,3,4または5
記載のマルチチャンバ装置。
6. The transport means is adapted to support two workpieces and simultaneously transport the two workpieces to respective processing chambers.
The multi-chamber device described.
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