JP2004288719A - Substrate carrying system and substrate processing system - Google Patents

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JP2004288719A JP2003076104A JP2003076104A JP2004288719A JP 2004288719 A JP2004288719 A JP 2004288719A JP 2003076104 A JP2003076104 A JP 2003076104A JP 2003076104 A JP2003076104 A JP 2003076104A JP 2004288719 A JP2004288719 A JP 2004288719A
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Hiroshi Koizumi
浩 小泉
Norihiko Amikura
紀彦 網倉
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate carrying system capable of carrying substrates with high carrying efficiency without using a complex mechanism, and to provide a substrate processing system capable of processing the substrates with high throughput using it. <P>SOLUTION: When a substrate W is delivered to/from first and second load lock chambers 14 and 15 using first and second articulated arms 2A and 2B each comprising three arms, i.e. a rotating arm 51, 61, a middle stage arm and a substrate holding arm, and rotating about a common center of rotation, an extension/contraction driving section is driven to extend/contract the first and second substrate holding arms 2A and 2B while drawing curves symmetric laterally and separating forward. When a substrate W is delivered to/from first and second substrate carrying containers 11 and 12, a rotation driving section is driven furthermore in a part of extending/contracting operation so that the substrate holding arms perform a linear motion through a combination of the extending/contracting operation and the rotating operation. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体ウエハ(以下ウエハという)等の基板を搬送するための基板搬送装置、及び基板搬送装置を備えた基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造装置の中に、基板搬送装置を備えた搬送室(トランスファチャンバ)に複数の処理室(プロセスチャンバ)を接続したクラスターツールあるいはマルチチャンバシステムなどと呼ばれているシステムがある。このシステムは基板に対して例えば複数の真空処理を行う場合に、真空を破らずに連続処理を行うことができ、また処理室を大気雰囲気から遠ざけることができ、更に高いスループットが得られるなどの利点がある。
【0003】
図10は特許文献1に記載されたクラスターツールを示す図であり、91、92は、ウエハの搬送容器であるカセットCがゲートドアGTを介して大気側から搬入されるカセット(キャリア)室、93は第1の搬送室、94,95は予備真空室(ロードロック室)、96は第2の搬送室であり、これらは気密構造とされて大気側とは区画されている。第2の搬送室96及び予備真空室94、95は真空雰囲気とされるが、カセット室91、92及び第1の搬送室93は不活性ガス雰囲気とされることもある。なおGはゲートバルブ(仕切り弁)である。第1の搬送室93には、第1の搬送手段97が設けられ、カセット室91、92内のカセットに配列されているウエハWは、第1の搬送手段97により取り出されて第1または第2の予備真空室94、95内に搬入される。
【0004】
一方第2の搬送室96内には、第2の搬送手段98が設けられ、予備真空室94(95)内のウエハWは第2の搬送手段98により、第2の搬送室96に複数(図の例では3個)接続されている真空処理室90のうちの所定の真空処理室90に搬送され、そこで例えばエッチング、あるいは成膜などの真空処理が行われる。真空処理後のウエWは、第2の搬送手段90により搬出されて第1または第2の予備真空室94(95)を介して第1の搬送手段97に搬送され、例えばカセット室91、92内のもとのカセットC内に戻される。第1及び第2の搬送手段97、98は、3本のアームを組み合わせた、旋回自在でかつ直線上を伸縮動作する多関節アームにより構成される。
【0005】
クラスターツールを有効に運用するためには、ウエハの搬送効率を高くすることが重要であり、その点からすれば例えば第1の搬送室93内に2枚のウエハを同時に搬送できる搬送手段を設置すること、また第2の搬送室93を多角形状とし、この第2の搬送室96内においても2枚のウエハを同時に搬送できる搬送手段を設置することが望ましい。ここで放射状に2枚のウエハを同時に搬送できる搬送装置として、特許文献2には、各々先端アームが直線上に伸縮する2つの多関節アームを共通の旋回中心の回りに旋回できるように構成した搬送装置が記載されている。
【0006】
【特許文献1】
特開平6−314729号公報の図1
【特許文献2】
特開平5−109866号公報の図1
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
特許文献2に記載された2つの多関節アームからなる搬送装置によれば、カセット室の間口が図10に示したように搬送装置の旋回中心を向いていればウエハの搬送を行うことができるが、カセット室の間口が旋回中心の方向に向いていない場合には受け渡しを行うことができない。ところで工場内では自動搬送ロボットによりカセットが搬送され、また装置本体をクリーンルーム内のメンテナンス領域に配置して装置正面にカセットの搬入搬出ポートを設けることが有利であることを考慮すると、図10のクラスターツールでは、第1の搬送室93の正面側(図では下側のライン)に2つのカセットが並ぶように設計することが得策である。
【0008】
しかしながらこのようなレイアウトにすると特許文献2に記載された2つの多関節アームでは対応ができないので、例えば多関節アーム自体を横方向にスライドさせるといった機構の追加が必要なり、装置が複雑化する。
【0009】
本発明は、このような背景の下になされたものであり、その目的は、複雑な機構を避けながら高い搬送効率で基板を搬送することのできる基板搬送装置を提供することにある。また本発明の更なる目的は基板搬送容器が基板搬送装置の旋回中心に向いていなくても基板の受け渡しができるようにすることにある。本発明の他の目的は、この基板搬送装置を用いることにより、第1及び第2の基板搬送容器が左右に一直線上に配置されても基板の受け渡しができ、またスループットの高い処理を行うことのできる基板処理装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明の基板搬送装置は、旋回自在な第1の旋回アーム及び基板を保持するための第1の基板保持アームを含む少なくとも3本のアームと、第1の旋回アームを駆動するための第1の旋回駆動部と、アームを伸縮駆動するための第1の伸縮駆動部と、を有する第1の多関節アームと、
前記第1の旋回アームと旋回中心が共通である旋回自在な第2の旋回アーム及び基板を保持するための第2の基板保持アームを含む少なくとも3本のアームと、第2の旋回アームを駆動するための第2の旋回駆動部と、アームを伸縮駆動するための第2の伸縮駆動部と、を有する第2の多関節アームと、を備え
第1及び第2の多関節アームの動作モードは、
第1及び第2の伸縮駆動部を動作させて第1及び第2の基板保持アームの移動軌跡が、前記旋回中心を通る水平な直線に対して左右に対称でかつ前進するにつれて前記直線から離れる方向にカーブを描くようにし、この伸縮動作の一部において第1及び第2の旋回駆動部も駆動して所定の軌跡となるようにするモードと、
第1及び第2の旋回駆動部を駆動して第1及び第2の多関節アームを旋回動作するモードと、を含むことを特徴とする。
【0011】
本発明の基板搬送装置によれば、動作モードの一部にて旋回駆動部の駆動と伸縮駆動部の駆動とを同時に行うようにしているので、搬送経路の設計の自由度が大きい。なお第1及び第2の伸縮駆動部を動作させるとは、同時に動作させる場合、及び順番に動作させる場合のいずれをも含む。
【0012】
そして第1及び第2の多関節アームの動作モードは、第1及び第2の伸縮駆動部を動作させて第1及び第2の基板保持アームの移動軌跡が、前記旋回中心を通る水平な直線に対して左右に対称でかつ前進するにつれて前記直線から離れる方向にカーブを描くようにし、この伸縮動作時の間は第1及び第2の旋回駆動部を駆動しないモードを更に含むようにしてもよい。このようにすれば、第1及び第2の基板保持アームが旋回中心を通る水平な直線に対して左右に開きながらカーブを描いて移動するので、2つのチャンバの各々の間口(搬送口)が一直線状になく旋回中心側に向いていても、これらチャンバに対して基板の受け渡しができ、効率よく搬送することができる。更にまた伸縮駆動部の動作時に旋回駆動部を駆動することにより得られる第1及び第2の基板保持アームの移動軌跡は例えば直線とすることにより、第1及び第2の基板搬送容器が旋回中心側に向かずに例えば横一列に並んでいる場合においても基板の受け渡しを行うことができる。
【0013】
前記第1の基板保持アーム及び第2の基板保持アームは、例えば互いに同一平面上に設けられている。また第1の多関節アーム及び第2の多関節アームは、いずれも旋回アーム、基板保持アーム及び両アームの間に介在しかつ旋回アームよりも短い中段アームからなる3本のアームを備えた構成とすることができる。
【0014】
具体的には、第1及び第2の多関節アームは、
旋回アームの旋回中心を回転中心とし、旋回アームとは独立して回転自在な基端プーリと、
前記旋回アームの先端部に回転自在に設けられると共に、前記基端プーリとタイミングベルトにより連結され、前記中段アームと一体になって回転する支持プーリと、
前記中段アームに前記支持プーリと同軸に設けられ、旋回アームに固定された中間プーリと、
前記中段アームの先端部に回転自在に設けられると共に、前記中間プーリとタイミングベルトにより連結され、基板保持アームと一体になって回転する先端プーリと、を備え、
旋回アームを駆動せずに基端プーリを回転させたときに基板保持アームの移動軌跡がカーブを描くように各プーリの歯数比が調整されている構成とすることができる。この場合、例えば基端プーリと支持プーリとの歯数比がA(Aは2よりも大きい値):1であり、中間プーリと先端プーリとの歯数比が1:2である。
【0015】
本発明の基板処理装置は、上記の基板搬送装置を備え、基板処理室に通じている気密構造の搬送室と、
複数の基板を棚状に保持する第1の基板搬送容器及び第2の基板搬送容器が左右に一直線上に並ぶように夫々配置される第1の載置領域及び第2の載置領域と、を備え、
第1及び第2の載置領域に夫々置かれた第1及び第2の基板搬送容器に対して夫々第1の基板保持アーム及び第2の基板保持アームにより基板の受け渡しが行われ、この受け渡し時において基板が第1の基板搬送容器または第2の基板搬送容器内を移動するときには第1の旋回アーム及び第2の旋回アームを駆動することにより、第1及び第2の基板保持アームが各々直線に沿って移動することを特徴とする。
【0016】
この発明において、例えば搬送室の周囲に、第1の載置領域を含む第1の基板搬送容器室及び第2の載置領域を含む第2の基板搬送容器室が接続される。あるいは第1及び第2の載置領域には、夫々密閉型の第1及び第2の基板搬送容器が載置され、これら密閉型の基板搬送容器の蓋を開くことで基板搬送容器内と搬送室とが連通する。搬送室は例えば真空雰囲気または不活性ガス雰囲気とされる。
【0017】
また前記搬送室を第1の搬送室とすると、第1の搬送室の周囲に気密に接続され、第1の基板保持アーム及び第2の基板保持アームにより夫々基板の搬出入が行われる第1及び第2のロードロック室と、
これら第1及び第2のロードロック室に接続され、基板を搬送するための搬送手段が配置された第2の搬送室と、
第2の搬送室の周囲に気密に接続された複数の基板処理室と、を備え、
第1及び第2の基板保持アームが夫々第1及び第2のロードロック室に対して基板の搬出入を行うときには、第1及び第2の多関節アームが伸縮モードで動作する構成とすることができる。この場合第1及び第2のロードロック室の各搬送口は、例えば前記旋回中心側を向いている。
【0018】
【発明の実施の形態】
図1及び図2は、本発明の基板処理装置の実施の形態を示す図である。この基板処理装置は、基板である複数枚のウエハを収納するカセット(基板搬送容器)Cが搬入される2個の気密構造のカセット室11、12を備えている。これらカセット室11、12は横一列に並べて配置され、従ってこれらの中に載置されるカセットCは互いに左右に一直線上に並ぶことになる。カセット室11、12は夫々第1の載置領域を形成する第1の基板搬送容器室及び第2の載置領域を形成する第2の基板搬送容器室に相当する。
【0019】
カセット室11、12は各々大気側にゲートドアGDが設けられ、このゲートドアGDによって大気との間が気密に仕切られることとなる。カセット室11、12内には図2に示すようにカセット載置台11aを昇降させ、カセットC内のウエハ保持溝を順次後述の第1の搬送装置のアクセスレベルに位置させるための昇降部11bが設けられている。
【0020】
カセット室11、12の内側には、気密構造の第1の搬送室13が気密に接続され、この第1の搬送室13には、左右に並ぶ2個のロードロック室(待機室)である第1及び第2の予備真空室14、15を介して真空雰囲気とされる第2の搬送室16が気密に接続されている。なおこの例ではいわゆるオープン型カセットの場合について説明しているが、密閉型カセットを用いる場合には密閉型カセットが搬送室13の側壁に着脱されることになり、この点については後述する。
【0021】
第1の搬送室13内には、ウエハWを回転させてその向きを合わせるための位置合わせステージ17、18と、カセット室11、12及び予備真空室14、15並びに位置合わせステージ17、18の間でウエハWを搬送するための第1の基板搬送装置2と、が設けられている。第1及び第2の予備真空室14、15における第1の搬送室13側の間口(搬送口)は、第1の基板搬送装置2の旋回中心100側を向いている。ここで旋回中心100側を向いているという意味は、第1及び第2の予備真空室14、15の各間口が直線上に並んでいるのではなく、上から見たレイアウトが山形になっているということであり、言い換えれば多角形の互いに隣り合う辺に沿って配置されているということである。なおカセット室11、12及び第1の搬送室13は、例えば不活性ガス雰囲気あるいは真空雰囲気とされる。
【0022】
第2の搬送室16は、多角形状例えば八角形状に形成され、その中に第2の基板搬送装置3が設けられている。この第2の搬送室16の八角形の各辺のうちの6個の辺には、基板処理室である真空チャンバ4(4A〜4F)が気密に接続され、残りの2辺に予備真空室14、15が接続されている。第2の基板搬送装置3は、真空チャンバ4(4A〜4F)及び予備真空室14、15の間で例えば2枚のウエハWを同時に受け渡しすることができるように構成されている。図1において真空チャンバ4は図示の便宜上、単純な円形として記載してあるが、実際に円形のチャンバを用いる場合には、チャンバと第2の搬送室16を繋ぐ搬送口を形成する部材が介在する。
【0023】
また真空チャンバ4は例えば四角形状のチャンバであってもよい。真空チャンバ4にて行われる真空処理としては、例えばエッチングガスによるエッチング、成膜ガスによる成膜処理、アッシングガスによるアッシングなどを挙げることができる。真空チャンバ4内には、図2に示すようにウエハWを載置するための載置台41及び処理ガスを供給するためのガス供給部42などが設けられ、各真空チャンバ4における載置台41上に載置されるウエハWの中心部は、第2の搬送室16の中心を中心とする円の上にある。
【0024】
次に本発明の基板搬送装置の実施の形態である第1の基板搬送装置2について詳述する。図3及び図4は夫々第1の基板搬送装置2の概観及び伝達系を示す図である。この基板搬送装置2はこの例では第1の搬送部をなす第1の多関節アーム2Aと、第2の搬送部をなす第2の多関節アーム2Bと、を備え、第1の多関節アーム2Aは、第1の搬送室13の中央部を旋回中心100(図1参照)とする第1の旋回アーム51と、この第1の旋回アーム51の先端部に水平方向に回動自在に設けられ、旋回アーム51よりも短く構成された中段アーム52と、この中段アーム52の先端部に水平方向に回動自在に設けられ、例えばフォーク状に形成された第1の基板保持アーム(先端アーム)53と、を備えている。
【0025】
第2の多関節アーム2Bは、その旋回中心が前記旋回アーム51の旋回中心100と共通し、旋回アーム51の下方側に設けられた第2の旋回部を構成する旋回アーム61と、この旋回アーム61に設けられ、旋回アーム61よりも短く構成された中段アーム62と、この中段アーム62に設けられた第2の基板保持アーム(先端アーム)63と、を備えている。第2の多関節アーム2Bの構造は第1の多関節アーム2Aの構造と実質同じであるが、基板保持アーム63の高さ位置を第1の多関節アーム2Aの基板保持アーム53と同じにするために即ち先端アーム53、63が同一平面上で搬送するように構成するために先端アーム63の回動軸の長さなどにおいて異なっている。
【0026】
第1の多関節アーム2A及び第2の多関節アーム2Bは、基準位置においては旋回アーム51、61が互いに1直線上になる位置よりも後方側に回転した位置に置かれて山形状になって待機している。またこのとき中段アーム52、62は旋回アーム51、61と平行になる位置よりも後方側に回転した位置に置かれ、基板保持アーム53、63は中段アーム52、62と平行な位置よりも少し内側(旋回中心側)に回転した位置に置かれ、基板保持アーム53、63が互いに干渉しないように位置設定されている。
【0027】
第1及び第2の多関節アーム2A、2Bの伝達系について図4を参照しながら説明すると、第1の多関節アーム2Aの旋回アーム51は旋回中心100を回転中心とする筒状の旋回軸70により旋回するように構成されている。旋回アーム51の基端側には、旋回中心100を回転中心とし、筒状の旋回軸70の中に設けられた回転軸71により旋回アーム51とは独立して回転自在な基端プーリ72が設けられている。旋回アーム51の先端部には、中段アーム52を支持して中段アーム52と一体になって回転する支持プーリ73が回転自在に設けられており、この支持プーリ73は、基端プーリ72とタイミングベルト74により連結されている。
【0028】
支持プーリ73の上側に設けられた中空の回転軸75の上端部には中段アーム52が固定されている。中段アーム52の基端部には、前記支持プーリ73と同軸に例えば歯数が同じである同径の中間プーリ76が設けられる一方、中段アーム52の先端部には、先端プーリ77が回転自在に設けられ、この先端プーリ77は中間プーリ76とタイミングベルト78により連結されている。中間プーリ76は、既述の中空の回転軸75内を通って旋回アーム51に固定された軸部76aに固定されている。先端プーリ77の上側に設けられた回転軸79の上端部には基板保持アーム53が固定されている。
【0029】
基端プーリ72と支持プーリ73との歯数比は2よりも大きい値である例えば2.67:1に設定し、中間プーリ76と先端プーリ77との歯数比を1:2に設定している。このため基板保持アーム53は、後述するようにカーブを描く軌跡をとることになる。
【0030】
第2の多関節アーム2Bにおいて、80は筒状の旋回軸、81は筒状の回転軸、82は基端プーリ、83は支持プーリ、84はタイミングベルト、85は回転軸、86は中間プーリ、86aは軸部、87は先端プーリ、88はタイミングベルト、89は回転軸である。基端プーリ82の回転軸81が第1の多関節アーム2Aの旋回軸70を囲むように設けられている点、基板保持アーム63の回転軸89が第1の多関節アーム2Aの基板保持アーム53の回転軸79よりも長い点などにおいて、第2の多関節アーム2Bは第1の多関節アーム2Aと異なるが、搬送の機能を決定する構成については第1の多関節アーム2Aと全く同様である。従って、旋回軸80及び回転軸81の回転中心は前記旋回中心100であり、また中段アーム62と旋回アーム61の長さの比、及び基端プーリ82と支持プーリ83との歯数比、並びに中間プーリ86と先端プーリ87との歯数比は同様に設定されている。
【0031】
図4において54及び55は夫々第1の多関節アーム2Aにおける旋回軸70を駆動する第1の旋回駆動部及び回転軸71を駆動する第1の伸縮駆動部であり、64及び65は夫々第2の多関節アーム2Bにおける旋回軸80を駆動する第2の旋回駆動部及び回転軸81を駆動する第2の伸縮駆動部である。これら駆動部54、55、64、65はモータ、プーリ及びベルトなどからなる機構に相当し、制御部200により制御されるようになっている。
【0032】
制御部200内には第1及び第2の多関節アーム2A、2Bの動作モードに対応するプログラムが記憶され、この動作モードには、第1及び第2の伸縮駆動部55、65を駆動して伸縮動作させる伸縮モードと、第1及び第2の多関節アーム2A、2Bを図1の実線で示す基準位置に置いた状態で第1及び第2の旋回駆動部54、64を駆動して旋回動作する旋回モードと、第1及び第2の伸縮駆動部55、65を駆動して伸縮動作させその一部においてこの例ではウエハWがカセットC内を移動するときにおいて、第1及び第2の伸縮駆動部55、65及び第1及び第2の旋回駆動部54、64を同時に駆動する伸縮/旋回モードと、が含まれている。
【0033】
なお、第1及び第2の多関節アーム2A、3Bにおける旋回軸70、80及び回転軸71、81並びにこれらに関連する部位の具体的構造の一例について図5に示しておく。図5中、54a、55aは夫々旋回軸70及び回転軸71を回転させるためのプーリであり、夫々モータM1及びこのモータM1の裏に隠れて見えないモータM2により駆動される。64aは旋回軸80を回転させるプーリであり、モータM3により駆動プーリ64c及びベルト64bを介して駆動される。65aは回転軸81を回転させるプーリであり、モータM4により駆動プーリ65c及びベルト65bを介して駆動される。モータM1〜M4は搬送室3の底面をなすベースBEに固定されている。
【0034】
ここで図1に戻って第2の搬送室16に配置されている第2の基板搬送装置3について簡単に述べておくと、第2の基板搬送装置3は、各々旋回、伸縮可能な3本のアームからなる第1の多関節アーム3A及び第2の多関節アーム3Bからなり、最上段に位置する先端アーム31A、31Bは両側にウエハWを保持できる構成となっている。また第1の多関節アーム3A及び第2の多関節アーム3Bは、先端アーム31A、31Bが実線に示す基準位置から前進(後退)するときに互いに離れる方向にカーブを描いて移動し、互いに隣接する真空チャンバ4、4あるいは予備真空室14、15に対して同時にウエハWの受け渡しができるように構成されている。
【0035】
次いで上述の実施の形態の作用について説明する。先ず基板搬送装置2における動作モードのうち既述の伸縮モードについて述べる。第1の多関節アーム2Aにおいては、旋回軸70の駆動部である第1の旋回駆動部54(図4参照)については停止し、回転軸71の駆動部である第1の伸縮駆動部55については動作させて(駆動させて)基端プーリ72を回転させると、中段アーム52を支持している回転軸75が回転しようとする。このとき旋回軸70は駆動部54から回転力は与えられていないが、フリーな状態(回転可能な状態)にあるため、図6に示す実線位置にて基端プーリ72が時計方向に回転すると中段アーム52が旋回アーム51に対して開こうとするため、鎖線で示すように時計方向に回転すると共に旋回アーム51も反時計方向に回転する。
【0036】
ここで基端プーリ72と支持プーリ73との歯数比が2.67:1であることから、旋回アーム51が基準位置からα度だけ回転すると中段アーム52は−2.67α度回転する。また中段アーム52が時計方向に回転すると、中間プーリ76が中段アーム52に対して相対的に反時計方向に回転するので、基板保持アーム53は反時計方向に回転し、中間プーリ76と先端プーリ77との歯数比が1:2であるから、基板保持アーム53は1.335α度回転する。従って図6に示すように第1の多関節アーム2Aを基準位置から伸長させて基板保持アーム53を前進させると、基板保持アーム53、詳しくは基板保持アーム53に保持されるウエハWの中心位置の軌跡は、水平な直線L0に対して離れる方向にカーブを描くことになる。直線L0は、基準位置にある第1及び第2の基板保持アーム53、63から等距離にある点を結んだ、旋回中心100通る水平な直線である。また第2の多関節アーム2Bにおいても第2の旋回駆動部64(図4参照)については停止し、回転軸81の駆動部である第2の伸縮駆動部65については動作させると同様の動きをし、基板保持アーム63の移動軌跡は、直線L0に対して前記基板保持アーム53の移動軌跡と対称になる。
【0037】
続いて基板搬送装置2の動作モードのうち旋回モードについて説明する。この旋回モードにおいては、第1の多関節アーム2Aについて、基準位置にある状態で第1の旋回駆動部54及び第1の伸縮駆動部55を同時に動作させて基端プーリ72及び旋回軸70を反時計方向に回転させ、かつ第2の多関節アーム2Bについて、基準位置にある状態で第2の旋回駆動部64及び第2の伸縮駆動部65を同時に動作させて基端プーリ82及び旋回軸80を反時計方向に回転させる。これにより第1及び第2の多関節アーム2A及び3Bは図1の実線で示してある基準位置にある状態のまま反時計方向に旋回中心100を中心として回転する。更に基板搬送装置2の動作モードのうち伸縮/旋回モードについて説明する。このモードでは、基準位置にある第1及び第2の多関節アーム3A、3Bに対して、既述の伸縮モードと同様に第1及び第2の旋回駆動部54、64を駆動せず、第1及び第2の伸縮駆動部55、65を駆動し、これにより第1及び第2の基板保持アーム53、63が直線L0に対して対象に左右に開くようなカーブを描いて前進する。
【0038】
そして第1の基板保持アーム53について説明すると、所定の位置、この例ではカセットCに臨む位置までくると、より詳しくは図7の実線に示すようにカセットCの水平な中心線L1の延長線上に基板保持アーム53に保持されるウエハWの中心W0が位置する箇所までくると、旋回軸70が反時計方向に回動するように第1の旋回駆動部54を駆動する。その結果、図7に示すように第1の基板保持アーム53は、前進しながら右に曲がろうとする動作と内側(直線L0側)に回転しようとする動作とが組合わさって図7の実線位置から鎖線位置まで直線的に移動する。即ちウエハWの中心W0の移動軌跡が直線になる。
【0039】
第2の基板保持アーム63についても全く同様にして対称な動作を行う。第2の基板保持アーム63がカセットCに臨む位置までくると、即ちカセットCの水平な中心線L1の延長線上に基板保持アーム63に保持されるウエハWの中心W0が位置する箇所までくると、旋回軸80が時計方向に回動するように第2の旋回駆動部64を駆動する。その結果、第2の基板保持アーム63は、前進しながら左に曲がろうとする動作と内側(直線L0側)に回転しようとする動作とが組合わさって直線的に移動する。
【0040】
第1の基板搬送装置2は以上のような動作をするので、基板処理装置を運転する上で例えば次のような搬送を行う。図1を参照すると、処理前のウエハWはカセットCに保持されて外部からカセット室11あるいは12内に搬入され、ゲートドアGDが閉じられて気密空間とされた後、例えば不活性ガス雰囲気とされる。そしてカセット室11、12の内側のゲートバルブGが開かれ、不活性ガス雰囲気とされている第1の搬送室13内の第1及び第2の多関節アーム2A、2Bが既述の伸縮/旋回モードの動作を行う。このモードでは、第1及び第2の基板保持アーム53、63が互いに開きながらカーブを描いて前進し、カセット室11、12内のカセットCに臨む位置までくると、直線移動してカセットC内に進入し、図2に示した昇降機構11bによりカセットCが下降してウエハWが第1及び第2の基板保持アーム53、63に受け渡される。
【0041】
次いで第1及び第2の基板保持アーム53、63は進入時の軌跡に沿って図8の実線で示される基準位置まで後退する。その後ウエハWの位置合わせを行うため、第1及び第2の基板保持アーム53、63上のウエハWを順次位置合わせステージ17、18に受け渡す。即ち第1及び第2の旋回駆動部54、64を駆動させることにより第1及び第2の旋回アーム51、61を同時に所定角度旋回し、第1の伸縮駆動部55を駆動することにより第1の基板保持アーム53を伸長させてウエハWを位置合わせステージ17上に受け渡し、ここで位置合わせが行われた後、第1の基板保持アーム53を後退させ、次いで第1及び第2の旋回アーム51、61を同時に所定角度旋回し、第2の基板保持アーム63上のウエハWについても同様にして位置合わせステージ18により位置合わせを行う。続いて旋回モードにより第1及び第2の旋回アーム51、61を同時に旋回して、第1及び第2の多関節アーム2A、2Bは図1の実線で示される姿勢になる。しかる後、第1及び第2の多関節アーム2A、2Bは伸縮モードの動作を行い、第1の基板保持アーム53、63が互いに開きながらカーブを描いて前進し、夫々予備真空室14、15内に進入してウエハWを受け渡す。
【0042】
そして予備真空室14、15を所定の真空雰囲気とした後、予備真空室14、15内のウエハWは、第2の基板搬送装置3により、互いに隣接する所定の真空チャンバ4、例えば真空チャンバ4C、4Dに同時に搬入されて所定の真空処理がなされる。一方既に真空処理が終了したウエハWは第2の基板搬送装置3により真空チャンバ4から搬出されており、夫々予備真空室14、15に搬入される。これらウエハWは、第1及び第2の多関節アーム2A、2Bに受け渡され、元のカセットC内に戻される。
【0043】
上述の実施の形態によれば、伸縮モードにおいて第1及び第2の基板保持アーム53、63が互いに開くようにカーブを描いて前進するので、各々の間口(搬送口)が旋回中心側に向いている第1及び第2の予備真空室14、15に対してウエハWの受け渡しができる。また伸縮/旋回モードにおいて第1及び第2の基板保持アーム53、63が互いに開きながらカーブを描いて前進し、途中から伸縮動作及び旋回動作を組み合わせて直線上を進退できるようにしているので、2個のカセットCが直線上に横並びに配置されていてその間口が旋回中心に向いていなくてもウエハWの受け渡しを行うことができる。
【0044】
また中段アーム52、62の長さを旋回アーム51、61よりも短くし、中段アーム52、62を後方側に回転させて山形に折れた格好で基板保持アーム51、61を互いに寄せてこの姿勢で旋回するので、旋回半径が小さく、こうしたことから、搬送室13のスペースを狭くすることができると共に高い効率でウエハWの搬送を行うことができ、装置の搬入搬出ポートにおいて例えば2個のカセットCを直線に沿って横並びに配置することができる。
【0045】
上述の実施の形態では、第1の搬送室13にカセット室11、12を接続しているが、搬送容器が密閉型カセットである場合には、図9に示すように第1の搬送室13の一辺側に仕切り壁301を設け、この仕切り壁301の外側に図では見えない載置領域を形成する進退自在な2個の載置台を設け、これら載置台の上に密閉型のカセット302、303を載置して前進させ、カセット302、303のフランジ部を仕切り壁301の外面に密着させる構成が採用される。この場合においてもカセット302、303は横並びに一直線上に配列される。仕切り壁301には夫々扉304、305により開閉される搬送口306、307が横並びに形成され、夫々扉304、305とカセット302、303側の蓋とを同時に開いてカセット302、303の内部空間を搬送室13に連通させ、その後カセット302、303内のウエハWに対して第2の搬送手段2により受け渡しが行われる。なおこの場合には、第2の搬送手段2は図示しない昇降部により昇降できる構成とされる。
【0046】
上述の実施の形態では、第1の多関節アーム2Aと第2の多関節アーム2Bとの旋回軸70、80は互いに独立して駆動させる構造としているが、両者の旋回軸を共通化つまり共通の旋回駆動部で駆動するようにしてもよい。この場合には、例えば第1の多関節アーム2Aを伸縮して基板の受け渡しを行い、次いで第2の多関節アーム2Bを伸縮して基板の受け渡しを行うことになる。また本発明の基板搬送装置は、第1の伸縮駆動部54及び第2の伸縮駆動部64を共通化して、第1の多関節アーム2Aと第2の多関節アーム2Bを1軸で駆動するようにしてもよい。なお本発明で用いられる第1、第2の多関節アームは3本のアームを用いる代わりに4本以上のアームを用いるようにしてもよい。
【0047】
本発明は、第1及び第2の多関節アーム2A、2Bが配置される第1の搬送室13に予備真空室(ロードロック室)を接続せずに例えば真空処理を行う基板処理室を接続する場合にも適用できる。また基板処理室は枚葉式の真空処理室に限らず、バッチ式で熱処理を行うための例えば縦型のバッチ炉と、このバッチ炉内に基板を搬入するための例えば不活性ガス雰囲気のローディングエリアと、を含む区画空間であってもよい。
【0048】
【発明の効果】
本発明の基板搬送装置によれば、動作モードの一部にて旋回駆動部の駆動と伸縮駆動部の駆動とを同時に行うようにしているので、搬送経路の設計の自由度が大きい。そして伸縮駆動部のみを駆動して第1及び第2の基板保持アームが、旋回中心を通る水平な直線に対して左右に開きながらカーブを描いて移動するモードを加えることにより、互いに隣接する2つのチャンバの各々の間口(搬送口)が旋回中心側に向いていても、これらチャンバに対して基板の受け渡しができ、効率よく搬送することができる。更にまた伸縮駆動部に加えて旋回駆動部も駆動することにより基板保持アームが直線運動するようにしているため、第1及び第2の基板搬送容器が例えば左右に一直線上に(横一列に)並んでいる場合においても基板の受け渡しを行うことができる。また本発明の基板処理装置によれば、上記の基板搬送装置を用いることにより、第1及び第2の基板搬送容器を左右に一直線上に配置することができ、またスループットの高い処理を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の実施の形態を示す全体平面図である。
【図2】上記の基板処理装置の概略を示す概略縦断面図である。
【図3】本発明に係る基板搬送装置の実施の形態を示す概観図である。
【図4】上記の基板搬送装置の伝達系を示す説明図である。
【図5】上記の基板搬送装置の一部について具体的な構成例を示す断面図である。
【図6】上記の基板搬送装置の動作を示す説明図である。
【図7】上記の基板搬送装置の動作を示す説明図である。
【図8】上記の基板処理装置におけるウエハの搬送の様子を示す説明図である。
【図9】本発明に係る基板処理装置の他の実施の形態の一部を示す平面図である。
【図10】従来の基板処理装置を示す平面図である。
【符号の説明】
W 半導体ウエハ
C ウエハカセット
11、12 カセット室
13 第1の搬送室
14、15 予備真空室
16 第2の搬送室
2 第1の基板搬送装置
3 第2の基板搬送装置
4(4A〜4F) 真空チャンバ
2A 第1の多関節アーム
2B 第2の多関節アーム
51、61 旋回アーム
52、62 中段アーム
53、63 基板保持アーム
54、64 旋回駆動部
55、65 伸縮駆動部
70、80 旋回軸
72、82 基端プーリ
73、83 支持プーリ
76、86 中間プーリ
77、87 先端プーリ
100 旋回中心
302、303 密閉型カセット
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate transfer device for transferring a substrate such as a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as a wafer) and a substrate processing apparatus provided with the substrate transfer device.
[0002]
[Prior art]
Among semiconductor manufacturing apparatuses, there is a system called a cluster tool or a multi-chamber system in which a plurality of processing chambers (process chambers) are connected to a transfer chamber (transfer chamber) provided with a substrate transfer apparatus. This system can perform continuous processing without breaking vacuum, for example, when performing a plurality of vacuum processes on a substrate, and can keep the processing chamber away from the atmosphere to achieve higher throughput. There are advantages.
[0003]
FIG. 10 is a diagram showing a cluster tool described in Patent Document 1. Reference numerals 91 and 92 denote a cassette (carrier) chamber into which a cassette C, which is a wafer transfer container, is loaded from the atmosphere through a gate door GT; Is a first transfer chamber, 94 and 95 are preliminary vacuum chambers (load lock chambers), and 96 is a second transfer chamber. These are airtight and are separated from the atmosphere. Although the second transfer chamber 96 and the preliminary vacuum chambers 94 and 95 are set to a vacuum atmosphere, the cassette chambers 91 and 92 and the first transfer chamber 93 may be set to an inert gas atmosphere. G is a gate valve (gate valve). The first transfer chamber 93 is provided with a first transfer means 97, and the wafers W arranged in the cassettes in the cassette chambers 91 and 92 are taken out by the first transfer means 97 and are taken out by the first or the first transfer means. The second pre-vacuum chambers 94 and 95 are carried.
[0004]
On the other hand, a second transfer means 98 is provided in the second transfer chamber 96, and a plurality of wafers W in the preliminary vacuum chamber 94 (95) are stored in the second transfer chamber 96 by the second transfer means 98. In the illustrated example, three (3) vacuum processing chambers 90 are conveyed to a predetermined vacuum processing chamber 90 where vacuum processing such as etching or film formation is performed. The wafer W after the vacuum processing is carried out by the second carrying means 90 and carried to the first carrying means 97 via the first or second preliminary vacuum chamber 94 (95), for example, the cassette chambers 91 and 92. Is returned to the original cassette C. The first and second transfer means 97 and 98 are constituted by a multi-joint arm that combines three arms and is rotatable and extends and contracts on a straight line.
[0005]
In order to operate the cluster tool effectively, it is important to increase the transfer efficiency of the wafer. In this regard, for example, a transfer unit capable of transferring two wafers simultaneously in the first transfer chamber 93 is installed. It is desirable that the second transfer chamber 93 be formed in a polygonal shape, and a transfer means capable of transferring two wafers simultaneously in the second transfer chamber 96 be provided. Here, as a transfer device capable of simultaneously transferring two wafers radially, Patent Document 2 discloses a configuration in which two multi-joint arms, each of which has a distal end arm that can expand and contract linearly, can turn around a common turning center. A transport device is described.
[0006]
[Patent Document 1]
FIG. 1 of JP-A-6-314729.
[Patent Document 2]
FIG. 1 of JP-A-5-109866
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
According to the transfer device having two articulated arms described in Patent Literature 2, the wafer can be transferred if the frontage of the cassette chamber faces the turning center of the transfer device as shown in FIG. However, if the frontage of the cassette chamber is not directed toward the center of rotation, the delivery cannot be performed. Considering that it is advantageous that the cassette is transported by an automatic transport robot in a factory and that the main body of the apparatus is arranged in a maintenance area in a clean room and a port for loading and unloading the cassette is provided in front of the apparatus, the cluster shown in FIG. It is advisable to design the tool so that two cassettes are arranged in front of the first transfer chamber 93 (the lower line in the figure).
[0008]
However, with such a layout, the two articulated arms described in Patent Literature 2 cannot cope with the layout, and therefore, it is necessary to add a mechanism such as sliding the articulated arm itself in the lateral direction, and the device becomes complicated.
[0009]
The present invention has been made under such a background, and an object of the present invention is to provide a substrate transfer apparatus that can transfer a substrate with high transfer efficiency while avoiding a complicated mechanism. A further object of the present invention is to enable the transfer of a substrate even if the substrate transport container is not oriented to the center of rotation of the substrate transport device. Another object of the present invention is to use the substrate transfer apparatus to transfer a substrate even when the first and second substrate transfer containers are arranged in a straight line on the left and right, and to perform a process with high throughput. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus capable of performing the above.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
The substrate transport apparatus of the present invention includes at least three arms including a first swivelable arm and a first substrate holding arm for holding a substrate, and a first arm for driving the first swivel arm. A first articulated arm having a turning drive unit and a first telescopic drive unit for driving the arm to expand and contract;
At least three arms including a second swivel arm having a common swivel center with the first swivel arm and a second substrate holding arm for holding a substrate, and driving the second swivel arm And a second articulated arm having a second swiveling drive unit for driving the arm and a second telescopic drive unit for driving the arm to expand and contract.
The operation modes of the first and second articulated arms are:
By operating the first and second telescopic drive units, the movement trajectories of the first and second substrate holding arms are symmetrical to the left and right with respect to a horizontal straight line passing through the center of rotation and move away from the straight line as they advance. A mode in which a curve is drawn in the direction, and the first and second turning drive units are also driven to form a predetermined trajectory in a part of the expansion and contraction operation;
A mode in which the first and second turning drive units are driven to turn the first and second articulated arms.
[0011]
According to the substrate transfer apparatus of the present invention, since the driving of the turning drive unit and the drive of the expansion / contraction drive unit are performed simultaneously in a part of the operation mode, the degree of freedom in designing the transfer path is large. The actuation of the first and second telescopic drive units includes both simultaneous actuation and sequential actuation.
[0012]
The operation mode of the first and second articulated arms is such that the first and second telescopic drive units are operated so that the movement trajectories of the first and second substrate holding arms are horizontal straight lines passing through the center of rotation. In this case, a curve may be drawn in a direction symmetrical to the left and right and away from the straight line as the vehicle moves forward, and a mode in which the first and second turning drive units are not driven during the expansion / contraction operation may be further included. With this configuration, the first and second substrate holding arms move in a curved manner while opening left and right with respect to a horizontal straight line passing through the center of rotation, so that the frontage (transport opening) of each of the two chambers is reduced. Even if the substrate is not linear and faces the center of rotation, the substrate can be transferred to these chambers, and the substrate can be efficiently transported. Further, the movement trajectories of the first and second substrate holding arms obtained by driving the turning drive unit during the operation of the expansion / contraction drive unit are, for example, linear, so that the first and second substrate transfer containers are at the center of rotation. For example, even when the substrates are arranged in a horizontal line without being directed to the side, the substrates can be transferred.
[0013]
The first substrate holding arm and the second substrate holding arm are provided on the same plane, for example. Each of the first multi-joint arm and the second multi-joint arm includes three arms including a swivel arm, a substrate holding arm, and a middle arm shorter than the swivel arm and interposed between the two arms. It can be.
[0014]
Specifically, the first and second articulated arms are:
A base pulley that is rotatable about the center of rotation of the swing arm and that is rotatable independently of the swing arm;
A support pulley that is rotatably provided at the distal end of the swing arm, is connected to the base pulley by a timing belt, and rotates integrally with the middle arm;
An intermediate pulley provided coaxially with the support pulley on the middle arm and fixed to a swing arm;
A tip pulley that is rotatably provided at the tip end of the middle arm, is connected to the intermediate pulley by a timing belt, and rotates integrally with the substrate holding arm,
The configuration may be such that the tooth ratio of each pulley is adjusted so that the movement locus of the substrate holding arm draws a curve when the base pulley is rotated without driving the turning arm. In this case, for example, the ratio of the number of teeth between the proximal pulley and the supporting pulley is A (A is a value larger than 2): 1, and the ratio of the number of teeth between the intermediate pulley and the distal pulley is 1: 2.
[0015]
The substrate processing apparatus of the present invention includes the above-described substrate transfer apparatus, and a transfer chamber having an airtight structure communicating with the substrate processing chamber.
A first mounting area and a second mounting area in which a first substrate transport container and a second substrate transport container holding a plurality of substrates in a shelf shape are respectively arranged so as to be aligned in a straight line on the left and right; With
The first and second substrate holding arms respectively transfer the substrates to the first and second substrate transfer containers placed in the first and second mounting areas, respectively. When the substrate moves in the first substrate transport container or the second substrate transport container, the first and second substrate holding arms are driven by driving the first and second pivot arms. It is characterized by moving along a straight line.
[0016]
In the present invention, for example, a first substrate transfer container chamber including a first mounting area and a second substrate transfer container chamber including a second mounting area are connected around the transfer chamber. Alternatively, sealed first and second substrate transfer containers are placed in the first and second mounting regions, respectively, and the lids of these sealed substrate transfer containers are opened to transfer the inside of the substrate transfer container. It communicates with the room. The transfer chamber is, for example, a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere.
[0017]
When the transfer chamber is a first transfer chamber, the first transfer chamber is airtightly connected to the periphery of the first transfer chamber, and the first and second substrate holding arms carry out and out of the first and second substrate holding arms, respectively. And a second load lock chamber;
A second transfer chamber connected to the first and second load lock chambers and provided with transfer means for transferring the substrate;
A plurality of substrate processing chambers airtightly connected around the second transfer chamber,
When the first and second substrate holding arms load and unload a substrate with respect to the first and second load lock chambers, respectively, the first and second articulated arms operate in a telescopic mode. Can be. In this case, each transfer port of the first and second load lock chambers faces, for example, the turning center side.
[0018]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
1 and 2 are views showing an embodiment of the substrate processing apparatus of the present invention. The substrate processing apparatus includes two airtight cassette chambers 11 and 12 into which a cassette (substrate transfer container) C that stores a plurality of wafers as substrates is loaded. These cassette chambers 11 and 12 are arranged side by side in a row, so that the cassettes C placed in them are aligned in a straight line to the left and right. The cassette chambers 11 and 12 correspond to a first substrate transfer container chamber forming a first mounting area and a second substrate transfer container chamber forming a second mounting area, respectively.
[0019]
Each of the cassette chambers 11 and 12 is provided with a gate door GD on the atmosphere side, and the gate door GD provides an airtight partition from the atmosphere. In the cassette chambers 11 and 12, as shown in FIG. 2, a cassette mounting table 11a is raised and lowered, and an elevating unit 11b for sequentially positioning wafer holding grooves in the cassette C at an access level of a first transfer device described later is provided. Is provided.
[0020]
A first transfer chamber 13 having an airtight structure is airtightly connected to the inside of the cassette chambers 11 and 12, and the first transfer chamber 13 is two load lock chambers (standby chambers) arranged side by side. A second transfer chamber 16, which is made into a vacuum atmosphere, is airtightly connected via first and second preliminary vacuum chambers 14, 15. In this example, the case of a so-called open type cassette is described. However, when a closed type cassette is used, the closed type cassette is attached to and detached from the side wall of the transfer chamber 13, and this point will be described later.
[0021]
In the first transfer chamber 13, there are positioning stages 17, 18 for rotating the wafer W to adjust the orientation thereof, cassettes 11, 12, preliminary vacuum chambers 14, 15, and positioning stages 17, 18. And a first substrate transfer device 2 for transferring the wafer W therebetween. The frontage (transport opening) of the first and second preliminary vacuum chambers 14 and 15 on the side of the first transfer chamber 13 faces the turning center 100 of the first substrate transfer device 2. Here, the meaning of facing the turning center 100 side means that the frontage of the first and second preliminary vacuum chambers 14 and 15 is not aligned in a straight line, but the layout viewed from the top is a mountain shape. In other words, the polygons are arranged along adjacent sides of the polygon. The cassette chambers 11 and 12 and the first transfer chamber 13 are, for example, in an inert gas atmosphere or a vacuum atmosphere.
[0022]
The second transfer chamber 16 is formed in a polygonal shape, for example, an octagonal shape, in which the second substrate transfer device 3 is provided. Vacuum chambers 4 (4A to 4F), which are substrate processing chambers, are air-tightly connected to six sides of the octagonal sides of the second transfer chamber 16, and auxiliary vacuum chambers are connected to the remaining two sides. 14 and 15 are connected. The second substrate transfer device 3 is configured to be able to simultaneously transfer, for example, two wafers W between the vacuum chamber 4 (4A to 4F) and the preliminary vacuum chambers 14 and 15. In FIG. 1, the vacuum chamber 4 is shown as a simple circle for convenience of illustration, but when an actually circular chamber is used, a member forming a transfer port connecting the chamber and the second transfer chamber 16 is interposed. I do.
[0023]
The vacuum chamber 4 may be, for example, a rectangular chamber. Examples of the vacuum processing performed in the vacuum chamber 4 include etching using an etching gas, film forming processing using a film forming gas, and ashing using an ashing gas. As shown in FIG. 2, a mounting table 41 for mounting a wafer W and a gas supply unit 42 for supplying a processing gas are provided in the vacuum chamber 4. Is located on a circle centered on the center of the second transfer chamber 16.
[0024]
Next, the first substrate transfer device 2 which is an embodiment of the substrate transfer device of the present invention will be described in detail. FIGS. 3 and 4 are views showing an overview and a transmission system of the first substrate transfer device 2, respectively. In this example, the substrate transfer device 2 includes a first multi-joint arm 2A forming a first transfer section and a second multi-joint arm 2B forming a second transfer section. 2A, a first turning arm 51 having a center portion of the first transfer chamber 13 as a turning center 100 (see FIG. 1), and a first turning arm 51 provided at a tip end thereof so as to be rotatable in a horizontal direction. A middle arm 52 configured to be shorter than the pivot arm 51, and a first substrate holding arm (for example, a fork-shaped arm) provided at the distal end of the middle arm 52 so as to be rotatable in the horizontal direction. ) 53.
[0025]
The second multi-joint arm 2B has a turning center common to the turning center 100 of the turning arm 51, a turning arm 61 constituting a second turning portion provided below the turning arm 51, and this turning arm 61B. An intermediate arm 62 provided on the arm 61 and shorter than the revolving arm 61, and a second substrate holding arm (tip arm) 63 provided on the intermediate arm 62 are provided. The structure of the second articulated arm 2B is substantially the same as the structure of the first articulated arm 2A, but the height of the substrate holding arm 63 is the same as the substrate holding arm 53 of the first articulated arm 2A. Therefore, the length of the rotation axis of the distal arm 63 is different, for example, in order that the distal arms 53 and 63 are configured to be conveyed on the same plane.
[0026]
At the reference position, the first articulated arm 2A and the second articulated arm 2B are placed at positions rotated backward from positions where the turning arms 51 and 61 are aligned with each other, and have a mountain shape. Waiting. At this time, the middle arms 52 and 62 are located at positions rotated backward from positions parallel to the swing arms 51 and 61, and the substrate holding arms 53 and 63 are slightly smaller than the positions parallel to the middle arms 52 and 62. The substrate holding arms 53 and 63 are positioned so as to rotate inward (toward the center of rotation) and do not interfere with each other.
[0027]
The transmission system of the first and second articulated arms 2A and 2B will be described with reference to FIG. 4. The turning arm 51 of the first articulated arm 2A has a cylindrical turning axis with the turning center 100 as the center of rotation. It is configured to turn by 70. On the base end side of the turning arm 51, a base pulley 72 that is rotatable independently of the turning arm 51 by a turning shaft 71 provided in a cylindrical turning shaft 70 around a turning center 100 as a rotation center. Is provided. A support pulley 73 that supports the middle arm 52 and rotates integrally with the middle arm 52 is rotatably provided at the distal end of the turning arm 51, and the support pulley 73 is in timing with the base pulley 72. They are connected by a belt 74.
[0028]
The middle arm 52 is fixed to the upper end of a hollow rotary shaft 75 provided above the support pulley 73. At the base end of the middle arm 52, an intermediate pulley 76 of the same diameter, for example, having the same number of teeth is provided coaxially with the support pulley 73, while a tip pulley 77 is rotatable at the tip of the middle arm 52. The tip pulley 77 is connected to the intermediate pulley 76 by a timing belt 78. The intermediate pulley 76 passes through the hollow rotary shaft 75 described above and is fixed to a shaft portion 76a fixed to the turning arm 51. The substrate holding arm 53 is fixed to the upper end of a rotating shaft 79 provided above the tip pulley 77.
[0029]
The ratio of the number of teeth between the base pulley 72 and the support pulley 73 is set to a value larger than 2, for example, 2.67: 1, and the ratio of the number of teeth between the intermediate pulley 76 and the distal pulley 77 is set to 1: 2. ing. Therefore, the substrate holding arm 53 takes a locus that draws a curve as described later.
[0030]
In the second articulated arm 2B, 80 is a cylindrical turning shaft, 81 is a cylindrical rotating shaft, 82 is a base pulley, 83 is a supporting pulley, 84 is a timing belt, 85 is a rotating shaft, 86 is an intermediate pulley. 86a, a shaft portion, 87, a tip pulley, 88, a timing belt, and 89, a rotating shaft. The point that the rotation shaft 81 of the proximal pulley 82 is provided so as to surround the turning shaft 70 of the first articulated arm 2A, and the rotation axis 89 of the substrate holding arm 63 is the substrate holding arm of the first articulated arm 2A The second articulated arm 2B is different from the first articulated arm 2A in that it is longer than the rotation shaft 79 of 53, but the configuration for determining the transfer function is exactly the same as that of the first articulated arm 2A. It is. Accordingly, the center of rotation of the turning shaft 80 and the rotating shaft 81 is the turning center 100, the ratio of the length of the middle arm 62 to the turning arm 61, the ratio of the number of teeth of the base pulley 82 and the number of teeth of the support pulley 83, and The ratio of the number of teeth between the intermediate pulley 86 and the tip pulley 87 is set similarly.
[0031]
In FIG. 4, reference numerals 54 and 55 denote a first turning drive unit for driving the turning shaft 70 and a first telescopic driving unit for driving the rotating shaft 71 in the first articulated arm 2A, respectively. The second articulated arm 2 </ b> B includes a second turning drive unit that drives the turning shaft 80 and a second telescopic driving unit that drives the rotating shaft 81. The driving units 54, 55, 64, and 65 correspond to a mechanism including a motor, a pulley, a belt, and the like, and are controlled by the control unit 200.
[0032]
A program corresponding to the operation mode of the first and second articulated arms 2A and 2B is stored in the control unit 200. In this operation mode, the first and second telescopic drive units 55 and 65 are driven. The first and second turning drive units 54 and 64 are driven in a telescopic mode in which the first and second articulated arms 2A and 2B are placed at reference positions shown by solid lines in FIG. In the revolving mode in which the revolving operation is performed, and when the first and second telescopic drive units 55 and 65 are driven to perform the telescopic operation, in this example, when the wafer W moves in the cassette C, the first and the second And the expansion / contraction / rotation mode for simultaneously driving the expansion / contraction driving units 55 and 65 and the first and second rotation driving units 54 and 64.
[0033]
FIG. 5 shows an example of a specific structure of the turning shafts 70 and 80, the rotating shafts 71 and 81 in the first and second articulated arms 2A and 3B, and parts related thereto. In FIG. 5, reference numerals 54a and 55a denote pulleys for rotating the turning shaft 70 and the rotating shaft 71, respectively, which are driven by a motor M1 and a motor M2 hidden behind the motor M1 and invisible. A pulley 64a rotates the turning shaft 80, and is driven by a motor M3 via a driving pulley 64c and a belt 64b. Reference numeral 65a denotes a pulley for rotating the rotating shaft 81, which is driven by a motor M4 via a driving pulley 65c and a belt 65b. The motors M1 to M4 are fixed to a base BE that forms a bottom surface of the transfer chamber 3.
[0034]
Here, returning to FIG. 1, the second substrate transfer device 3 arranged in the second transfer chamber 16 will be briefly described. The first arm 31A and the second articulated arm 3B are composed of the first arm 3A and the second arm 3B, and the tip arms 31A and 31B located at the uppermost stage can hold the wafer W on both sides. Further, the first articulated arm 3A and the second articulated arm 3B move in a curved direction in a direction away from each other when the tip arms 31A and 31B advance (retreat) from the reference position shown by the solid line, and move adjacent to each other. The wafers W can be transferred to the vacuum chambers 4 and 4 or the preliminary vacuum chambers 14 and 15 at the same time.
[0035]
Next, the operation of the above embodiment will be described. First, the above-described expansion / contraction mode among the operation modes in the substrate transfer device 2 will be described. In the first multi-joint arm 2A, the first turning drive unit 54 (see FIG. 4), which is the drive unit of the turning shaft 70, is stopped, and the first telescopic drive unit 55, which is the drive unit of the rotary shaft 71, is stopped. Is operated (driven) to rotate the base pulley 72, the rotation shaft 75 supporting the middle arm 52 tends to rotate. At this time, the rotating shaft 70 is not given a rotational force from the driving unit 54, but is in a free state (a rotatable state). Therefore, when the proximal pulley 72 rotates clockwise at the solid line position shown in FIG. Since the middle arm 52 is about to open with respect to the swing arm 51, the swing arm 51 rotates clockwise and also rotates counterclockwise as indicated by a chain line.
[0036]
Since the ratio of the number of teeth between the base pulley 72 and the support pulley 73 is 2.67: 1, when the turning arm 51 rotates by α degrees from the reference position, the middle arm 52 rotates by -2.67 α degrees. When the middle arm 52 rotates clockwise, the intermediate pulley 76 rotates counterclockwise relative to the middle arm 52, so that the substrate holding arm 53 rotates counterclockwise, and the intermediate pulley 76 and the tip pulley rotate. Since the ratio of the number of teeth to the number 77 is 1: 2, the substrate holding arm 53 rotates 1.335α degrees. Accordingly, as shown in FIG. 6, when the first articulated arm 2A is extended from the reference position and the substrate holding arm 53 is advanced, the substrate holding arm 53, more specifically, the center position of the wafer W held by the substrate holding arm 53 Traces a curve in a direction away from the horizontal straight line L0. The straight line L0 is a horizontal straight line passing through the center of rotation 100 connecting points equidistant from the first and second substrate holding arms 53 and 63 at the reference position. Also in the second articulated arm 2B, the second turning drive unit 64 (see FIG. 4) is stopped, and the second telescopic drive unit 65, which is the drive unit of the rotating shaft 81, is operated. The movement locus of the substrate holding arm 63 is symmetrical to the movement locus of the substrate holding arm 53 with respect to the straight line L0.
[0037]
Subsequently, the turning mode among the operation modes of the substrate transfer device 2 will be described. In this turning mode, the first turning drive unit 54 and the first telescopic drive unit 55 are simultaneously operated with the first articulated arm 2A at the reference position to move the base pulley 72 and the turning shaft 70 together. By rotating counterclockwise and simultaneously operating the second turning drive 64 and the second telescopic drive 65 with respect to the second articulated arm 2B in the reference position, the base pulley 82 and the turning shaft Rotate 80 counterclockwise. As a result, the first and second articulated arms 2A and 3B rotate about the turning center 100 in the counterclockwise direction while being at the reference position indicated by the solid line in FIG. Further, the expansion / contraction / rotation mode among the operation modes of the substrate transfer device 2 will be described. In this mode, the first and second turning driving units 54 and 64 are not driven with respect to the first and second articulated arms 3A and 3B at the reference position, as in the above-described telescopic mode. The first and second telescopic drive units 55 and 65 are driven, whereby the first and second substrate holding arms 53 and 63 advance in a curved line that opens rightward and leftward with respect to the straight line L0.
[0038]
When the first substrate holding arm 53 reaches a predetermined position, in this example, a position facing the cassette C, more specifically, as shown by a solid line in FIG. When the center W0 of the wafer W held by the substrate holding arm 53 is reached, the first turning drive unit 54 is driven so that the turning shaft 70 turns counterclockwise. As a result, as shown in FIG. 7, the first substrate holding arm 53 combines the operation of turning right while moving forward and the operation of rotating inward (toward the straight line L0) with the solid line in FIG. It moves linearly from the position to the chain line position. That is, the movement trajectory of the center W0 of the wafer W becomes a straight line.
[0039]
The second substrate holding arm 63 performs a symmetric operation in exactly the same manner. When the second substrate holding arm 63 reaches the position facing the cassette C, that is, when the center W0 of the wafer W held by the substrate holding arm 63 is located on an extension of the horizontal center line L1 of the cassette C. Then, the second turning drive unit 64 is driven so that the turning shaft 80 turns clockwise. As a result, the second substrate holding arm 63 moves linearly in combination with the operation of turning left while moving forward and the operation of rotating inward (toward the straight line L0).
[0040]
Since the first substrate transfer device 2 operates as described above, for example, the following transfer is performed in operating the substrate processing apparatus. Referring to FIG. 1, a wafer W before processing is held in a cassette C and carried into the cassette chamber 11 or 12 from the outside. After the gate door GD is closed to form an airtight space, for example, an inert gas atmosphere is set. You. Then, the gate valves G inside the cassette chambers 11 and 12 are opened, and the first and second articulated arms 2A and 2B in the first transfer chamber 13 which is in an inert gas atmosphere are moved in the same manner as described above. Perform the operation in the turning mode. In this mode, when the first and second substrate holding arms 53 and 63 open and move forward in a curved manner and reach a position facing the cassette C in the cassette chambers 11 and 12, the first and second substrate holding arms 53 and 63 linearly move and move inside the cassette C. , The cassette C is lowered by the elevating mechanism 11b shown in FIG. 2, and the wafer W is transferred to the first and second substrate holding arms 53 and 63.
[0041]
Next, the first and second substrate holding arms 53, 63 are retracted along the trajectory at the time of entry to the reference position shown by the solid line in FIG. Thereafter, the wafers W on the first and second substrate holding arms 53 and 63 are sequentially transferred to the positioning stages 17 and 18 in order to perform the positioning of the wafer W. That is, by driving the first and second turning drive units 54 and 64, the first and second turning arms 51 and 61 are simultaneously turned by a predetermined angle, and by driving the first telescopic drive unit 55, the first The wafer W is transferred to the positioning stage 17 by extending the substrate holding arm 53 of the first embodiment. After the alignment is performed, the first substrate holding arm 53 is retracted, and then the first and second pivot arms are moved. The wafers 51 and 61 are simultaneously turned by a predetermined angle, and the wafer W on the second substrate holding arm 63 is similarly positioned by the positioning stage 18. Subsequently, the first and second turning arms 51 and 61 are simultaneously turned in the turning mode, and the first and second articulated arms 2A and 2B assume the postures shown by solid lines in FIG. Thereafter, the first and second articulated arms 2A and 2B perform the operation in the telescopic mode, and the first substrate holding arms 53 and 63 move forward while drawing a curve while opening each other. And the wafer W is delivered.
[0042]
Then, after setting the preliminary vacuum chambers 14 and 15 to a predetermined vacuum atmosphere, the wafers W in the preliminary vacuum chambers 14 and 15 are separated by the second substrate transfer device 3 into predetermined vacuum chambers 4 adjacent to each other, for example, a vacuum chamber 4C. , And are simultaneously carried into 4D and subjected to a predetermined vacuum processing. On the other hand, the wafer W, for which the vacuum processing has already been completed, is carried out of the vacuum chamber 4 by the second substrate transfer device 3, and is carried into the preliminary vacuum chambers 14, 15, respectively. These wafers W are transferred to the first and second articulated arms 2A and 2B and returned to the original cassette C.
[0043]
According to the above-described embodiment, in the telescopic mode, the first and second substrate holding arms 53 and 63 advance in a curved manner so as to open each other, so that each frontage (transport opening) faces the turning center side. The wafer W can be transferred to the first and second preliminary vacuum chambers 14 and 15. Also, in the expansion / contraction mode, the first and second substrate holding arms 53 and 63 move forward while drawing a curve while opening each other, and can extend and retract on a straight line by combining extension / contraction operation and rotation operation from the middle. Even if the two cassettes C are arranged side by side on a straight line and the frontage is not directed to the center of rotation, the wafer W can be transferred.
[0044]
In addition, the length of the middle arms 52, 62 is made shorter than that of the revolving arms 51, 61, and the middle arms 52, 62 are rotated rearward so that the substrate holding arms 51, 61 are brought close to each other in the shape of a chevron. In this case, the turning radius is small, and therefore, the space of the transfer chamber 13 can be narrowed, and the wafer W can be transferred with high efficiency. C can be arranged side by side along a straight line.
[0045]
In the above-described embodiment, the cassette chambers 11 and 12 are connected to the first transfer chamber 13. However, when the transfer container is a sealed cassette, the first transfer chamber 13 is connected as shown in FIG. A partition wall 301 is provided on one side, and two retractable mounting tables that form a mounting area that cannot be seen in the drawing are provided outside the partition wall 301. On the mounting tables, a sealed cassette 302, A configuration is adopted in which the cassette 303 is placed and advanced, and the flange portions of the cassettes 302 and 303 are brought into close contact with the outer surface of the partition wall 301. Also in this case, the cassettes 302 and 303 are arranged side by side and on a straight line. Conveyance ports 306 and 307 opened and closed by doors 304 and 305, respectively, are formed in the partition wall 301 side by side. Is communicated with the transfer chamber 13, and then the wafer W in the cassettes 302 and 303 is transferred by the second transfer means 2. In this case, the second transporting means 2 is configured to be able to move up and down by a lifting unit (not shown).
[0046]
In the above-described embodiment, the turning axes 70 and 80 of the first articulated arm 2A and the second articulated arm 2B are configured to be driven independently of each other. May be driven by the turning drive unit. In this case, for example, the first multi-joint arm 2A is expanded and contracted to transfer the substrate, and then the second multi-joint arm 2B is expanded and contracted to transfer the substrate. Further, in the substrate transfer device of the present invention, the first telescopic drive unit 54 and the second telescopic drive unit 64 are shared, and the first multi-joint arm 2A and the second multi-joint arm 2B are driven by one axis. You may do so. The first and second articulated arms used in the present invention may use four or more arms instead of using three arms.
[0047]
In the present invention, for example, a substrate processing chamber for performing a vacuum process is connected to the first transfer chamber 13 in which the first and second articulated arms 2A and 2B are arranged without connecting a preliminary vacuum chamber (load lock chamber). It can also be applied to The substrate processing chamber is not limited to a single-wafer-type vacuum processing chamber. For example, a vertical batch furnace for performing a heat treatment in a batch system, and an inert gas atmosphere loading for loading a substrate into the batch furnace, for example. And a division space including an area.
[0048]
【The invention's effect】
According to the substrate transfer apparatus of the present invention, since the driving of the turning drive unit and the drive of the expansion / contraction drive unit are performed simultaneously in a part of the operation mode, the degree of freedom in designing the transfer path is large. Then, only the telescopic drive unit is driven to add a mode in which the first and second substrate holding arms move in a curved manner while opening left and right with respect to a horizontal straight line passing through the center of rotation. Even when the frontage (transport opening) of each of the two chambers faces the center of rotation, the substrate can be transferred to these chambers, and the substrate can be efficiently transported. Further, since the substrate holding arm is made to linearly move by driving the turning drive unit in addition to the telescopic drive unit, the first and second substrate transfer containers are arranged, for example, in a straight line to the left and right (in a horizontal line). Even in the case where the substrates are arranged, the transfer of the substrates can be performed. Further, according to the substrate processing apparatus of the present invention, by using the above-described substrate transfer device, the first and second substrate transfer containers can be arranged in a straight line on the left and right, and processing with high throughput can be performed. Can be.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an overall plan view showing an embodiment of a substrate processing apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a schematic vertical sectional view schematically showing the substrate processing apparatus.
FIG. 3 is a schematic view showing an embodiment of a substrate transfer device according to the present invention.
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating a transmission system of the substrate transfer device.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a specific configuration example of a part of the substrate transfer device.
FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an operation of the substrate transfer device.
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating an operation of the substrate transfer device.
FIG. 8 is an explanatory view showing a state of wafer transfer in the substrate processing apparatus.
FIG. 9 is a plan view showing a part of another embodiment of the substrate processing apparatus according to the present invention.
FIG. 10 is a plan view showing a conventional substrate processing apparatus.
[Explanation of symbols]
W semiconductor wafer
C Wafer cassette
11, 12 Cassette room
13 First transfer chamber
14, 15 Preparatory vacuum chamber
16 Second transfer chamber
2 First substrate transfer device
3 Second substrate transfer device
4 (4A-4F) vacuum chamber
2A first articulated arm
2B Second articulated arm
51, 61 swing arm
52, 62 Middle arm
53, 63 Substrate holding arm
54, 64 swing drive
55, 65 telescopic drive
70, 80 pivot axis
72, 82 Base pulley
73, 83 Support pulley
76, 86 Intermediate pulley
77, 87 Tip pulley
100 center of rotation
302, 303 Sealed cassette

Claims (12)

旋回自在な第1の旋回アーム及び基板を保持するための第1の基板保持アームを含む少なくとも3本のアームと、第1の旋回アームを駆動するための第1の旋回駆動部と、アームを伸縮駆動するための第1の伸縮駆動部と、を有する第1の多関節アームと、
前記第1の旋回アームと旋回中心が共通である旋回自在な第2の旋回アーム及び基板を保持するための第2の基板保持アームを含む少なくとも3本のアームと、第2の旋回アームを駆動するための第2の旋回駆動部と、アームを伸縮駆動するための第2の伸縮駆動部と、を有する第2の多関節アームと、を備え
第1及び第2の多関節アームの動作モードは、
第1及び第2の伸縮駆動部を動作させて第1及び第2の基板保持アームの移動軌跡が、前記旋回中心を通る水平な直線に対して左右に対称でかつ前進するにつれて前記直線から離れる方向にカーブを描くようにし、この伸縮動作の一部において第1及び第2の旋回駆動部も駆動して所定の軌跡となるようにするモードと、
第1及び第2の旋回駆動部を駆動して第1及び第2の多関節アームを旋回動作するモードと、を含むことを特徴とする基板搬送装置。
At least three arms including a pivotable first pivot arm and a first substrate holding arm for holding a substrate, a first pivot drive unit for driving the first pivot arm, and an arm. A first articulated arm having a first telescopic drive for telescopic drive;
At least three arms including a second swivel arm having a common swivel center with the first swivel arm and a second substrate holding arm for holding a substrate, and driving the second swivel arm Operating mode of the first and second articulated arms, comprising: a second articulated arm having a second turning drive unit for driving the arm and a second telescopic drive unit for extending and retracting the arm. Is
By operating the first and second telescopic drive units, the movement trajectories of the first and second substrate holding arms are symmetrical to the left and right with respect to a horizontal straight line passing through the center of rotation and move away from the straight line as they advance. A mode in which a curve is drawn in the direction, and the first and second turning drive units are also driven to form a predetermined trajectory in a part of the expansion and contraction operation;
A mode in which the first and second pivoting drive units are driven to pivot the first and second articulated arms.
第1及び第2の多関節アームの動作モードは、第1及び第2の伸縮駆動部を動作させて第1及び第2の基板保持アームの移動軌跡が、前記旋回中心を通る水平な直線に対して左右に対称でかつ前進するにつれて前記直線から離れる方向にカーブを描くようにし、この伸縮動作時の間は第1及び第2の旋回駆動部を駆動しないモードを更に含むことを特徴とする請求項1記載の基板搬送装置。The operation mode of the first and second articulated arms is such that the first and second telescopic drive units are operated to move the movement trajectories of the first and second substrate holding arms into a horizontal straight line passing through the turning center. A mode in which a curve is drawn in a direction symmetrical to the left and right and away from the straight line as the vehicle advances, and the first and second turning drive units are not driven during the expansion / contraction operation is further included. 2. The substrate transfer device according to 1. 伸縮駆動部の動作時に旋回駆動部を駆動することにより得られる第1及び第2の基板保持アームの移動軌跡は直線であることを特徴とする請求項1または2記載の基板搬送装置。The substrate transfer device according to claim 1, wherein a movement trajectory of the first and second substrate holding arms obtained by driving the turning drive unit when the extension drive unit operates is a straight line. 前記第1の基板保持アーム及び第2の基板保持アームは、互いに同一平面上に設けられていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の基板搬送装置。4. The substrate transfer device according to claim 1, wherein the first substrate holding arm and the second substrate holding arm are provided on the same plane. 第1の多関節アーム及び第2の多関節アームは、いずれも旋回アーム、基板保持アーム及び両アームの間に介在しかつ旋回アームよりも短い中段アームからなる3本のアームを備えたことを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の基板搬送装置。Each of the first multi-joint arm and the second multi-joint arm includes three arms including a turning arm, a substrate holding arm, and a middle arm that is interposed between the two arms and shorter than the turning arm. The substrate transfer device according to any one of claims 1 to 4, wherein: 第1及び第2の多関節アームは、
旋回アームの旋回中心を回転中心とし、旋回アームとは独立して回転自在な基端プーリと、
前記旋回アームの先端部に回転自在に設けられると共に、前記基端プーリとタイミングベルトにより連結され、前記中段アームと一体になって回転する支持プーリと、
前記中段アームに前記支持プーリと同軸に設けられ、旋回アームに固定された中間プーリと、
前記中段アームの先端部に回転自在に設けられると共に、前記中間プーリとタイミングベルトにより連結され、基板保持アームと一体になって回転する先端プーリと、を備え、
旋回アームを駆動せずに基端プーリを回転させたときに基板保持アームの移動軌跡がカーブを描くように各プーリの歯数比が調整されていることを特徴とする請求項5記載の基板搬送装置。
The first and second articulated arms are:
A base pulley that is rotatable about the center of rotation of the swing arm and that is rotatable independently of the swing arm;
A support pulley that is rotatably provided at the distal end of the swing arm, is connected to the base pulley by a timing belt, and rotates integrally with the middle arm;
An intermediate pulley provided coaxially with the support pulley on the middle arm and fixed to a swing arm;
A tip pulley that is rotatably provided at the tip end of the middle arm, is connected to the intermediate pulley by a timing belt, and rotates integrally with the substrate holding arm,
6. The substrate according to claim 5, wherein the ratio of the number of teeth of each pulley is adjusted such that the movement trajectory of the substrate holding arm draws a curve when the base pulley is rotated without driving the turning arm. Transport device.
基端プーリと支持プーリとの歯数比がA(Aは2よりも大きい値):1であり、中間プーリと先端プーリとの歯数比が1:2であることを特徴とする請求項6記載の基板搬送装置。The ratio of the number of teeth between the base pulley and the support pulley is A (A is a value larger than 2): 1, and the ratio of the number of teeth between the intermediate pulley and the distal pulley is 1: 2. 7. The substrate transfer device according to 6. 請求項1に記載の基板搬送装置を備え、基板処理室に通じている気密構造の搬送室と、
複数の基板を棚状に保持する第1の基板搬送容器及び第2の基板搬送容器が左右に一直線上に並ぶように夫々配置される第1の載置領域及び第2の載置領域と、を備え、
第1及び第2の載置領域に夫々置かれた第1及び第2の基板搬送容器に対して夫々第1の基板保持アーム及び第2の基板保持アームにより基板の受け渡しが行われ、この受け渡し時において、基板が第1の基板搬送容器内を移動するときには第1の伸縮駆動部及び第1の旋回駆動部を同時に駆動し、また基板が第2の基板搬送容器内を移動するときには第2の伸縮駆動部及び第2の旋回駆動部を同時に駆動し、これにより第1及び第2の基板保持アームが各々直線に沿って移動することを特徴とする基板処理装置。
An airtight transfer chamber, comprising the substrate transfer apparatus according to claim 1 and communicating with the substrate processing chamber,
A first mounting area and a second mounting area in which a first substrate transport container and a second substrate transport container holding a plurality of substrates in a shelf shape are respectively arranged so as to be aligned in a straight line on the left and right; With
The first and second substrate holding arms respectively transfer the substrates to the first and second substrate transfer containers placed in the first and second mounting areas, respectively. When the substrate moves in the first substrate transport container, the first telescopic drive unit and the first turning drive unit are simultaneously driven, and when the substrate moves in the second substrate transport container, the second telescopic drive unit moves in the second substrate transport container. Wherein the first and second substrate holding arms move in a straight line, respectively.
搬送室の周囲に、第1の載置領域を含む第1の基板搬送容器室及び第2の載置領域を含む第2の基板搬送容器室が接続されていることを特徴とする請求項8記載の基板処理装置。9. A first substrate transfer container chamber including a first mounting area and a second substrate transfer container chamber including a second mounting area are connected around the transfer chamber. The substrate processing apparatus according to any one of the preceding claims. 第1及び第2の載置領域には、夫々密閉型の第1及び第2の基板搬送容器が載置され、これら密閉型の基板搬送容器の蓋を開くことにより基板搬送容器内と搬送室とが連通することを特徴とする請求項8記載の基板処理装置。Sealed first and second substrate transfer containers are mounted on the first and second mounting areas, respectively. The lids of these sealed substrate transfer containers are opened to open the inside of the substrate transfer container and the transfer chamber. 9. The substrate processing apparatus according to claim 8, wherein the communication with the substrate is performed. 前記搬送室を第1の搬送室とすると、第1の搬送室の周囲に気密に接続され、第1の基板保持アーム及び第2の基板保持アームにより夫々基板の搬出入が行われる第1及び第2のロードロック室と、
これら第1及び第2のロードロック室に接続され、基板を搬送するための搬送手段が配置された第2の搬送室と、
第2の搬送室の周囲に気密に接続された複数の基板処理室と、を備え、
第1及び第2の基板保持アームが夫々第1及び第2のロードロック室に対して基板の搬出入を行うときには、第1及び第2の旋回駆動部を駆動せずに第1及び第2の伸縮駆動部を駆動することを特徴とする請求項8ないし10のいずれかに記載の基板処理装置。
Assuming that the transfer chamber is a first transfer chamber, the first transfer chamber is airtightly connected to the periphery of the first transfer chamber, and the first and second substrate holding arms carry out and carry out the substrates, respectively. A second load lock chamber;
A second transfer chamber connected to the first and second load lock chambers and provided with transfer means for transferring the substrate;
A plurality of substrate processing chambers airtightly connected around the second transfer chamber,
When the first and second substrate holding arms carry the substrate in and out of the first and second load lock chambers, respectively, the first and second rotation driving units are not driven and the first and second rotation driving units are not driven. The substrate processing apparatus according to claim 8, wherein the expansion / contraction drive section is driven.
第1及び第2のロードロック室の各搬送口は、前記旋回中心側を向いていることを特徴とする請求項11記載の基板処理装置。12. The substrate processing apparatus according to claim 11, wherein each transfer port of the first and second load lock chambers faces the turning center side.
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