JPH05259561A - Injection lock tuning control equipment - Google Patents

Injection lock tuning control equipment

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Publication number
JPH05259561A
JPH05259561A JP5083292A JP5083292A JPH05259561A JP H05259561 A JPH05259561 A JP H05259561A JP 5083292 A JP5083292 A JP 5083292A JP 5083292 A JP5083292 A JP 5083292A JP H05259561 A JPH05259561 A JP H05259561A
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JP
Japan
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laser
light
frequency
monitor
master laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP5083292A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Tatsukawa
美紀 達川
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5083292A priority Critical patent/JPH05259561A/en
Publication of JPH05259561A publication Critical patent/JPH05259561A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain an injection lock tuning control equipment of high frequency stability wherein the oscillation frequency of a resonator is stabilized by applying the oscillation frequency of a master laser to the reference. CONSTITUTION:A part of output pluse light from a laser resonator 5 and a part of light from a master laser 1 are led out as the respective monitor lights, and both of the monitor lights are superposed by using a beam splitter 23. The superposed monitor light is measured with a waveform measuring equipment 23. Based on the output thereof, the beat frequency caused by the frequency difference between the output pluse monitor light and the master laser monitor light is detected with a degitizer 25 and an FFT analyzer 26. On the basis of said beat frequency, the tuning states of the output pluse light and the master laser light are judged, and the optical length of the laser resonator 5 is controlled by using feedback mechanism constituted of a computer 27 and a piezocontroller 28.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、インジェクションロッ
ク法を用いたレーザ共振器の同調制御装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tuning control device for a laser resonator using an injection lock method.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、パルス励起レーザ発振装置は、
レーザ共振器の光学的共振器長によって決まる複数の共
振周波数で同時発振する。これを、単一の周波数で発振
させるために、いくつかの方法が行われているが、その
1つにインジェクションロック法がある。
2. Description of the Related Art Generally, a pulsed pump laser oscillator is
Simultaneous oscillation occurs at a plurality of resonance frequencies determined by the optical resonator length of the laser resonator. Several methods have been used to oscillate this at a single frequency, one of which is the injection lock method.

【0003】このインジェクションロック法を用いたレ
ーザ共振器は、親となるレーザ(以下、マスターレーザ
と称す)と子となるレーザ(以下、スレーブレーザと称
す)とを組み合わせ、マスターレーザからの弱い種とな
るレーザ光をスレーブレーザ共振器に送り、スレーブレ
ーザ共振器の強力なレーザ励起領域のゲインを用いて、
マスターレーザ光と同質の強力なレーザ光を得るもので
ある。
A laser resonator using the injection lock method combines a parent laser (hereinafter referred to as a master laser) and a child laser (hereinafter referred to as a slave laser) to obtain a weak seed from the master laser. The laser light to be transmitted to the slave laser resonator, using the gain of the strong laser excitation region of the slave laser resonator,
A powerful laser beam of the same quality as the master laser beam is obtained.

【0004】図8に、従来から用いられているインジェ
クションロック方式のレーザ共振器の一例を示した。即
ち、予め単一周波数発振させたマスターレーザ1の光
は、減衰器2によって必要な強度に調整され、折り返し
ミラー3及びインジェクションミラー4によって、スレ
ーブレーザ共振器内に注入される。この注入されたマス
ターレーザの光を種として、パルスレーザー発振を成長
させ、強力なレーザ光を得るようにしたものである。
FIG. 8 shows an example of a conventionally used injection lock type laser resonator. That is, the light of the master laser 1 oscillated at a single frequency in advance is adjusted to a required intensity by the attenuator 2 and injected into the slave laser resonator by the folding mirror 3 and the injection mirror 4. Using this injected master laser light as a seed, pulsed laser oscillation is grown to obtain a strong laser light.

【0005】上記の様に、インジェクションロック方式
のレーザ共振器は、マスターレーザの周波数で定まる周
波数で発振させることができる。このとき、マスターレ
ーザの発振周波数と、スレーブレーザ共振器の共振器長
によって定まる共振周波数が一致(同調)している必要
がある。このため、レーザ共振器の同調状態を検出する
検出器8と、検出された信号に基づいてレーザ共振器の
光学的長さを制御するためのフィードバック機構9及び
フィードバック信号に従ってレーザ共振器の光学的長さ
を調節する共振器長調節機構10から成るインジェクシ
ョンロック同調制御装置が設けられ、同調を制御するこ
とができるように構成されている。
As described above, the injection-lock type laser resonator can oscillate at a frequency determined by the frequency of the master laser. At this time, the oscillation frequency of the master laser and the resonance frequency determined by the cavity length of the slave laser cavity must match (tune). Therefore, the detector 8 for detecting the tuning state of the laser resonator, the feedback mechanism 9 for controlling the optical length of the laser resonator based on the detected signal, and the optical structure of the laser resonator according to the feedback signal. An injection lock tuning controller comprising a resonator length adjusting mechanism 10 for adjusting the length is provided and is configured to be able to control tuning.

【0006】ところで、従来では、前記同調状態の検出
方法及びフィードバック制御方法として、以下の様な方
法が用いられていた。 (a)スレーブレーザの出力ミラーから出力されるマス
ターレーザ光の強度が同調時に最大になることを利用し
て、パワーメータで検出されるマスターレーザ光強度が
最大となるようフィードバック制御する方法。 (b)パルス励起を行ってからスレーブレーザの発振が
開始するまでの遅延時間が同調時に最小となることを利
用して、波形計測器で検出されるスレーブレーザの発振
遅延時間が最小となるようフィードバック制御する方
法。 (c)スレーブレーザが単一周波数発振状態から外れた
場合には複数の共振周波数(縦モード)で発振すること
を利用して、波形計測器(ヘテロダイン計測器)で検出
されるスレーブレーザの出力パルスの縦モード間ビート
成分が最小となるようフィードバック制御する方法。
By the way, conventionally, the following methods have been used as the method for detecting the tuning state and the feedback control method. (A) A method of performing feedback control so that the intensity of the master laser light output from the output mirror of the slave laser is maximized at the time of tuning, so that the intensity of the master laser light detected by the power meter is maximized. (B) Utilizing the fact that the delay time from the pulse excitation to the start of slave laser oscillation is minimized during tuning so that the slave laser oscillation delay time detected by the waveform measuring instrument is minimized. Feedback control method. (C) The output of the slave laser detected by the waveform measuring instrument (heterodyne measuring instrument) by utilizing that the slave laser oscillates at a plurality of resonance frequencies (longitudinal modes) when deviating from the single frequency oscillation state. Feedback control method to minimize the beat component between the longitudinal modes of the pulse.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
様なインジェクションロック同調制御装置には、以下に
述べる様な解決すべき課題があった。即ち、前記(a)
のマスターレーザ光の強度を検出する方法は、同調状態
の判断を非発振時に行うため、発振状態での同調状態と
は必ずしも一致しないという欠点がある。また、(b)
の発振遅延時間を検出する方法は、発振遅延時間が最小
となる領域が周波数幅を持っているため、発振周波数安
定性に欠けるという欠点がある。更に、(c)の縦モー
ド間ビートを検出する方法は、縦モードビートの現れな
い単一周波数発振状態を維持するのみであるため、やは
り周波数安定性に欠けるという欠点がある。このように
従来技術のいずの方法にも、発振周波数安定性の向上と
いう課題が残されていた。
However, the injection lock tuning control device as described above has the following problems to be solved. That is, the above (a)
The method of detecting the intensity of the master laser light has a drawback that it does not necessarily match the tuning state in the oscillation state because the tuning state is determined during non-oscillation. Also, (b)
The method of detecting the oscillation delay time has a drawback that the oscillation frequency stability is poor because the region where the oscillation delay time is the minimum has a frequency width. Further, the method (c) for detecting beats between longitudinal modes has a drawback that it lacks frequency stability because it only maintains a single frequency oscillation state in which longitudinal mode beats do not appear. As described above, the problem of improving the oscillation frequency stability remains in any of the conventional methods.

【0008】本発明は、上記の様な従来技術の欠点を解
消するために提案されたものであり、その目的は、単一
周波数発振状態を維持するのみならず、発振周波数をマ
スターレーザの発振周波数を基準として安定化するイン
ジェクションロック同調制御装置を提供することにあ
る。
The present invention has been proposed in order to solve the above-mentioned drawbacks of the prior art, and its purpose is not only to maintain a single frequency oscillation state, but also to change the oscillation frequency of a master laser oscillation. An object of the present invention is to provide an injection lock tuning controller that stabilizes on the basis of frequency.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項1の発明は、レーザ共振器からの出力パルス
光の一部とマスターレーザ光の一部を、それぞれのモニ
ター光として取り出し、両モニター光を重ね合わせる光
学系と、重ね合わせたモニター光の波形を計測するため
の波形計測器と、前記波形計測器の出力に基いて出力パ
ルスモニター光とマスターレーザモニター光の周波数差
によって生ずるビート周波数を検出し、この検出された
ビート周波数に基づいて出力パルス光とマスターレーザ
光の同調状態を判断し、レーザ共振器の光学的長さを制
御する信号を送出するフィードバック機構と、この制御
信号によりレーザ共振器の光学的長さを調節する共振器
長制御機構を備えていることを特徴とする。
To achieve the above object, the invention of claim 1 extracts a part of the output pulse light from the laser resonator and a part of the master laser light as respective monitor lights. , An optical system that superimposes both monitor lights, a waveform measuring instrument for measuring the waveform of the superposed monitor lights, and an output based on the output of the waveform measuring instrument, depending on the frequency difference between the pulse monitor light and the master laser monitor light. A feedback mechanism that detects the beat frequency that occurs, determines the tuning state of the output pulse light and the master laser light based on the detected beat frequency, and sends out a signal that controls the optical length of the laser resonator, A resonator length control mechanism for adjusting the optical length of the laser resonator by a control signal is provided.

【0010】請求項2の発明は、前記請求項1の発明に
加えて、パルス励起を行ってから出力パルス光の発振が
開始されるまでの発振遅延時間を計測する手段と、前記
波形計測器の出力に基いて出力パルスモニター光とマス
ターレーザモニター光の周波数差によって生ずるビート
周波数を検出し、この検出されたビート周波数に基づい
て出力パルス光とマスターレーザ光の同調状態を判断
し、レーザ共振器の光学的長さを制御する信号を送出す
ると共に、ビート周波数の測定限界以下の領域において
は、前記発振遅延時間が極小値となるような制御信号を
送出するフィードバック機構と、この制御信号によりレ
ーザ共振器の光学的長さを調節する共振器長制御機構を
備えていることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in addition to the first aspect of the invention, means for measuring an oscillation delay time from the pulse excitation until the oscillation of the output pulsed light is started, and the waveform measuring instrument. The beat frequency generated by the frequency difference between the output pulse monitor light and the master laser monitor light is detected based on the output of the laser, and the tuning state of the output pulse light and the master laser light is determined based on the detected beat frequency, and the laser resonance In addition to sending a signal to control the optical length of the instrument, in a region below the measurement limit of the beat frequency, a feedback mechanism that sends a control signal that minimizes the oscillation delay time, and this control signal A resonator length control mechanism for adjusting the optical length of the laser resonator is provided.

【0011】請求項3の発明は、マスターレーザ光の一
部をマスターレーザモニター光として取り出すマスター
レーザ周波数測定用光学系と、このマスターレーザ周波
数測定用光学系の出力をマスターレーザにフィードバッ
クして、マスターレーザ光の周波数を安定化するマスタ
ーレーザ周波数安定化フィードバック機構とを備えたイ
ンジェクションロック同調制御装置において、レーザ共
振器からの出力パルス光の一部をモニター光としてマス
ターレーザ周波数測定用光学系に導く光学系と、マスタ
ーレーザ周波数測定用光学系から出力パルスモニター光
を取り出して検出する出力パルスモニター光検出器と、
前記出力パルスモニター光検出器の出力に基いて、出力
パルスモニター光周波数を検出し、この検出された周波
数に基づいて出力パルス光とマスターレーザ光の同調状
態を判断し、レーザ共振器の光学的長さを制御する信号
を送出するフィードバック機構と、この制御信号により
レーザ共振器の光学的長さを調節する共振器長制御機構
を備えていることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, a master laser frequency measuring optical system for extracting a part of the master laser light as master laser monitor light, and an output of the master laser frequency measuring optical system are fed back to the master laser, In an injection lock tuning controller equipped with a master laser frequency stabilizing feedback mechanism for stabilizing the frequency of the master laser light, a part of the output pulse light from the laser resonator is used as a monitor light in an optical system for measuring the master laser frequency. An optical system for guiding and an output pulse monitor photodetector for extracting and detecting output pulse monitor light from the master laser frequency measurement optical system,
Based on the output of the output pulse monitor photodetector, the output pulse monitor optical frequency is detected, the tuning state of the output pulse light and the master laser light is determined based on the detected frequency, and the optical frequency of the laser resonator is determined. It is characterized in that a feedback mechanism for sending a signal for controlling the length and a resonator length control mechanism for adjusting the optical length of the laser resonator by the control signal are provided.

【0012】[0012]

【作用】以上の構成を有する請求項1の発明によれば、
出力パルス光の一部とマスターレーザ光の一部を重ね合
わせた波形を計測することによって、出力パルス光とマ
スターレーザ光の周波数差を計測波形に生じたビートの
周波数として検出することができ、このビート周波数を
一定に保つようフィードバック制御することにより、マ
スターレーザの発振周波数を基準として、出力パルス光
の発振周波数を安定化した状態に保つことができる。
According to the invention of claim 1 having the above construction,
By measuring a waveform obtained by superimposing a part of the output pulsed light and a part of the master laser light, the frequency difference between the output pulsed light and the master laser light can be detected as the frequency of the beat generated in the measured waveform, By performing feedback control so that the beat frequency is kept constant, the oscillation frequency of the output pulsed light can be kept stable with the oscillation frequency of the master laser as a reference.

【0013】請求項2の発明では、波形計測器で検出さ
れたビート周波数からマスターレーザとの周波数差を検
知することによって、発振遅延時間のみの制御による誤
動作とジッタの増大を抑え、更にビート周波数測定限界
下では発振遅延時間が最小になるよう制御することによ
って、出力パルス光の発振周波数を安定化した状態に保
つことができる。
According to the second aspect of the present invention, by detecting the frequency difference from the master laser from the beat frequency detected by the waveform measuring instrument, it is possible to suppress malfunction and increase in jitter due to the control of only the oscillation delay time, and further to further improve the beat frequency. By controlling so that the oscillation delay time is minimized under the measurement limit, the oscillation frequency of the output pulsed light can be maintained in a stable state.

【0014】請求項3の発明では、マスターレーザ周波
数測定用光学系によりマスターレーザの周波数安定化を
行うと共に、マスターレーザ周波数測定用光学系を用い
て出力パルス光の周波数を測定し、マスターレーザの発
振周波数と一定の周波数差に保つようにフィードバック
制御することにより、出力パルス光の発振周波数を安定
化した状態に保つことができる。
According to the third aspect of the present invention, the master laser frequency measurement optical system stabilizes the frequency of the master laser, and the master laser frequency measurement optical system is used to measure the frequency of the output pulsed light. By performing feedback control so as to maintain a constant frequency difference from the oscillation frequency, the oscillation frequency of the output pulsed light can be maintained in a stable state.

【0015】[0015]

【実施例】進んで、本発明の実施例を図1以下の図面を
参照して説明する。 (1)第1実施例…図1、図2 第1実施例は、請求項1の発明に対応する実施例であ
る。第1実施例において、マスターレーザ1の出力側に
は、減衰器2を介してマスターレーザモニター光取り出
し用ビームスプリッター21が設けられ、マスターレー
ザ光の一部は、このモニター光取り出し用ビームスプリ
ッター21によって反射され、インジェクションミラー
4を介してスレーブレーザ放電部5内に注入される。ま
た、マスターレーザ光の他の一部は、マスターレーザモ
ニター光として、光取り出し用ビームスプリッター21
から同調光学系に取り出される。一方、スレーブレーザ
の出力ミラー6の出力側には、スレーブレーザモニター
光取り出し用ビームスプリッター22が設けられ、スレ
ーブレーザ放電部5からの出力パルス光の一部はスレー
ブレーザ出力光となってレーザ発振器外部に取り出さ
れ、他の一部はスレーブレーザ出力パルスのモニター光
として、このモニター光取り出し用ビームスプリッター
22から同調制御光学系に取出される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings starting from FIG. (1) First Embodiment ... FIGS. 1 and 2 The first embodiment is an embodiment corresponding to the invention of claim 1. In the first embodiment, a master laser monitor light extraction beam splitter 21 is provided on the output side of the master laser 1 via an attenuator 2, and a part of the master laser light is emitted from this monitor light extraction beam splitter 21. Is reflected by and injected into the slave laser discharge unit 5 via the injection mirror 4. The other part of the master laser light is used as the master laser monitor light, and the light extraction beam splitter 21 is used.
To the tuning optics. On the other hand, a slave laser monitor light extraction beam splitter 22 is provided on the output side of the output mirror 6 of the slave laser, and a part of the output pulse light from the slave laser discharge unit 5 becomes slave laser output light. The light is extracted to the outside, and the other part is taken out from the monitor light extraction beam splitter 22 to the tuning control optical system as the monitor light of the slave laser output pulse.

【0016】同調制御光学系においては、前記マスター
レーザモニター光取り出し用ビームスプリッター21と
スレーブレーザモニター光取り出し用ビームスプリッタ
ー22の後段には、両ビームスプリッター21,22か
らのモニター光の重ね合わせ用ビームスプリッター23
が設けられている。この重ね合わせ用ビームスプリッタ
ー23の後段には波形計測器24が接続され、この波形
計測器24の出力側に、出力信号をデジタル信号化する
ためのデジタイザー25、周波数分析用のFFT(高速
フーリエ変換)アナライザー26、得られたビート周波
数が一定となるように共振器長を変化させるための信号
を演算し出力する計算機27、計算機27からの信号に
従ってピエゾ素子29を制御するピエゾコントローラー
28、及び前記ピエゾコントローラー28の出力信号に
従って共振器長を変化させるためのピエゾ素子29が順
次設けられている。
In the tuning control optical system, the master laser monitor light extraction beam splitter 21 and the slave laser monitor light extraction beam splitter 22 are followed by a superimposing beam of monitor light from both beam splitters 21 and 22. Splitter 23
Is provided. A waveform measuring instrument 24 is connected to the latter stage of the beam splitter 23 for superposition, and a digitizer 25 for converting the output signal into a digital signal and an FFT (fast Fourier transform) for frequency analysis are provided on the output side of the waveform measuring instrument 24. ) An analyzer 26, a calculator 27 that calculates and outputs a signal for changing the resonator length so that the obtained beat frequency is constant, a piezo controller 28 that controls a piezo element 29 according to a signal from the calculator 27, and Piezo elements 29 for sequentially changing the resonator length according to the output signal of the piezo controller 28 are sequentially provided.

【0017】このような構成を有する第1実施例におい
て、マスターレーザ1からは図2(a)に示すような単
一周波数のレーザ光が発振される。このマスターレーザ
光の一部は、マスターレーザモニター光取り出し用ビー
ムスプリッター21で反射され、インジェクションミラ
ー4を介してスレーブレーザ共振器の放電部5に注入さ
れる。このマスターレーザ光の周波数とスレーブレーザ
共振器の共振周波数が近い場合、スレーブレーザはマス
ターレーザ周波数に最も近い共振周波数で単一周波数発
振する。すなわち、図2(b)に示すように、マスター
レーザ光に対して周波数差Δfを有するスレーブレーザ
光が発振される。
In the first embodiment having such a structure, the master laser 1 oscillates laser light of a single frequency as shown in FIG. A part of this master laser light is reflected by the master laser monitor light extraction beam splitter 21 and injected into the discharge portion 5 of the slave laser resonator through the injection mirror 4. When the frequency of this master laser light is close to the resonance frequency of the slave laser resonator, the slave laser oscillates at a single frequency at the resonance frequency closest to the master laser frequency. That is, as shown in FIG. 2B, slave laser light having a frequency difference Δf with respect to the master laser light is oscillated.

【0018】このスレーブレーザ光は、出力ミラー6か
らスレーブレーザ共振器外部に取り出され、その光の一
部が、取り出し用ビームスプリッター22からスレーブ
レーザモニター光として取り出され、更に、重ね合わせ
用ビームスプリッター23に送られる。一方、マスター
レーザ光の一部は、マスターレーザモニター光取り出し
用ビームスプリッター21からマスターレーザモニター
光として取り出され、更に、重ね合わせ用ビームスプリ
ッター23に送られる。この重ね合わせ用ビームスプリ
ッター23で重ね合わされたマスターレーザとスレーブ
レーザのモニター光の波形を波形計測器24で計測する
と、図2(c)に示すような検出波形が得られる。
The slave laser light is extracted from the output mirror 6 to the outside of the slave laser resonator, a part of the light is extracted from the extraction beam splitter 22 as slave laser monitor light, and the superposition beam splitter is further used. Sent to 23. On the other hand, a part of the master laser light is extracted as the master laser monitor light from the master laser monitor light extraction beam splitter 21, and is further sent to the superposition beam splitter 23. When the waveforms of the monitor lights of the master laser and the slave laser, which are superposed by the superposing beam splitter 23, are measured by the waveform measuring device 24, a detection waveform as shown in FIG. 2C is obtained.

【0019】このようにして得られた検出波形信号を、
デジタイザー25でデジタル信号化し、更にFFTアナ
ライザー26で周波数分析すると、マスターレーザ光と
スレーブレーザ光の周波数差分のビート周波数成分が、
図2(d)のように検出される。そこで、このようにし
て得られたビート周波数を一定に保つような信号を、計
算機27からピエゾコントローラー28に送り、ピエゾ
素子29を用いてスレーブレーザ共振器長を変化させ
る。このようにすると、スレーブレーザ光の発振周波数
を、常にマスターレーザの発振周波数を基準とした一定
の発振周波数に保つことができる。特に、ビート周波数
が0Hzになるように共振器長を制御した場合には、ス
レーブレーザの発振周波数が常にマスターレーザの発振
周波数と一致した同調状態を保つことができる。
The detected waveform signal thus obtained is
When digitized by the digitizer 25 and frequency-analyzed by the FFT analyzer 26, the beat frequency component of the frequency difference between the master laser light and the slave laser light is
It is detected as shown in FIG. Therefore, a signal that keeps the beat frequency thus obtained constant is sent from the computer 27 to the piezo controller 28, and the slave laser resonator length is changed using the piezo element 29. By doing so, the oscillation frequency of the slave laser light can be always maintained at a constant oscillation frequency with the oscillation frequency of the master laser as a reference. In particular, when the resonator length is controlled so that the beat frequency becomes 0 Hz, it is possible to maintain the tuning state in which the oscillation frequency of the slave laser always matches the oscillation frequency of the master laser.

【0020】なお、図3は、前記第1実施例の変形例で
あって、マスターレーザのモニター光とスレーブレーザ
のモニター光とをインジェクションミラー4の部分から
取り出すように構成したものである。この変形例によれ
ば、マスターレーザのモニター光はインジェクションミ
ラー4の透過光として取り出され、スレーブレーザの出
力パルスモニター光はインジェクションミラー4の反射
光として取り出され、インジェクションミラー4上で重
ね合わされた後、波形計測器24に入射する。以下は前
記第1実施例と同様の作用により、スレーブレーザ光の
発振周波数を、常にマスターレーザの発振周波数を基準
とした一定の発振周波数に保つことができる。
FIG. 3 shows a modification of the first embodiment in which the monitor light of the master laser and the monitor light of the slave laser are taken out from the injection mirror 4. According to this modification, the monitor light of the master laser is taken out as the transmitted light of the injection mirror 4, the output pulse monitor light of the slave laser is taken out as the reflected light of the injection mirror 4, and after being superposed on the injection mirror 4. , And enters the waveform measuring device 24. In the following, the oscillation frequency of the slave laser light can always be kept at a constant oscillation frequency with the oscillation frequency of the master laser as a reference by the same operation as that of the first embodiment.

【0021】(2)第2実施例…図4 第2実施例は、請求項2の発明に対応する実施例であ
る。ところで、前記第1実施例に示した請求項1の発明
では、パルス幅によって測定限界周波数が決まるため、
発振パルス幅が短くなりビート周波数が測定限界以下に
入った後は制御が不可能になり、周波数安定度が低下す
る。そこで、請求項2の発明においては、前記ビート周
波数の測定限界以下の領域では、パルス励起を行ってか
らスレーブレーザの発振が開始するまでの遅延時間が同
調時に最小になることを利用して、更に精密な制御を行
う。
(2) Second Embodiment ... FIG. 4 The second embodiment is an embodiment corresponding to the invention of claim 2. By the way, in the invention of claim 1 shown in the first embodiment, since the measurement limit frequency is determined by the pulse width,
After the oscillation pulse width becomes shorter and the beat frequency falls below the measurement limit, control becomes impossible and frequency stability deteriorates. Therefore, in the invention of claim 2, in the region below the measurement limit of the beat frequency, the fact that the delay time from the pulse excitation until the oscillation of the slave laser starts is minimized at the time of tuning, Perform more precise control.

【0022】この第2実施例は、前記第1実施例と同様
な同調制御光学系を有するもので、図4に示すように、
マスターレーザ1の出力側には、減衰器2を介してマス
ターレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター2
1が設けられ、マスターレーザ光の一部は、このモニタ
ー光取り出し用ビームスプリッター21によって反射さ
れ、インジェクションミラー4を介してスレーブレーザ
放電部5内に注入される。また、マスターレーザ光の他
の一部は、マスターレーザモニター光として、光取り出
し用ビームスプリッター21から同調光学系に取り出さ
れる。一方、スレーブレーザの出力ミラー6の出力側に
は、スレーブレーザモニター光取り出し用ビームスプリ
ッター22が設けられ、スレーブレーザの出力パルス光
の一部はスレーブレーザ出力光となってレーザ発振器外
部に取り出され、他の一部はスレーブレーザモニター光
として、このモニター光取り出し用ビームスプリッター
22から同調制御光学系に取出される。
This second embodiment has a tuning control optical system similar to that of the first embodiment, and as shown in FIG.
On the output side of the master laser 1, a beam splitter 2 for extracting the master laser monitor light is provided via an attenuator 2.
1 is provided, and a part of the master laser light is reflected by the monitor light extraction beam splitter 21 and injected into the slave laser discharge unit 5 via the injection mirror 4. The other part of the master laser light is extracted from the light extraction beam splitter 21 to the tuning optical system as master laser monitor light. On the other hand, a beam splitter 22 for extracting the slave laser monitor light is provided on the output side of the output mirror 6 of the slave laser, and a part of the output pulse light of the slave laser becomes the slave laser output light and is extracted to the outside of the laser oscillator. The other part is taken out as slave laser monitor light from the monitor light extraction beam splitter 22 to the tuning control optical system.

【0023】同調制御光学系においては、前記マスター
レーザモニター光取り出し用ビームスプリッター21と
スレーブレーザモニター光取り出し用ビームスプリッタ
ー22の後段は、両ビームスプリッター21,22から
のモニター光の重ね合わせ用ビームスプリッター23が
設けられている。この重ね合わせ用ビームスプリッター
23の後段には波形計測器24が接続されている。この
波形計測器24の出力側に、出力信号をデジタル信号化
すると共に、発振遅延時間を測定するのデジタイザー2
5が設けられている。このデジタイザー25の出力側に
は、周波数分析用のFFT(高速フーリエ変換)アナラ
イザー26、計算機27が順次接続されている。この計
算機27は、アナライザー26で得られたビート周波数
が一定となるように、またビート周波数の測定限界以下
の領域ではデジタイザー25で測定された発振遅延時間
が最小になるように共振器長を変化させるための信号を
演算し出力するものである。この計算機27の出力側に
は、計算機27からの信号に従ってピエゾ素子29を制
御するピエゾコントローラー28、及び前記ピエゾコン
トローラー28の出力信号に従って共振器長を変化させ
るためのピエゾ素子29が順次設けられている。
In the tuning control optical system, the beam splitter 21 for extracting the master laser monitor light and the beam splitter 22 for extracting the slave laser monitor light are arranged at the subsequent stage of the beam splitter for superimposing the monitor lights from both beam splitters 21 and 22. 23 are provided. A waveform measuring instrument 24 is connected to the subsequent stage of the beam splitter 23 for superposition. The digitizer 2 for converting the output signal into a digital signal and measuring the oscillation delay time on the output side of the waveform measuring device 24
5 are provided. An FFT (Fast Fourier Transform) analyzer 26 for frequency analysis and a calculator 27 are sequentially connected to the output side of the digitizer 25. This calculator 27 changes the resonator length so that the beat frequency obtained by the analyzer 26 becomes constant and that the oscillation delay time measured by the digitizer 25 becomes the minimum in the region below the measurement limit of the beat frequency. This is to calculate and output a signal for making the signal. On the output side of the calculator 27, a piezo controller 28 for controlling the piezo element 29 according to the signal from the calculator 27 and a piezo element 29 for changing the resonator length according to the output signal of the piezo controller 28 are sequentially provided. There is.

【0024】このような構成を有する第2実施例では、
前記第1実施例と同様に、重ね合わせ用ビームスプリッ
ター23で重ね合わされたマスターレーザとスレーブレ
ーザのモニター光の波形を波形計測器24で計測する
と、図2(c)に示すような検出波形が得られる。この
検出波形信号を、デジタイザー25でデジタル信号化
し、更にFFTアナライザーで周波数分析すると、マス
ターレーザ光とスレーブレーザ光の周波数差分のビート
周波数成分が、図2(d)のように検出される。同時
に、デジタイザー25では、パルス励起を行ってからス
レーブレーザの発振が開始するまでの発振遅延時間が測
定され、測定結果が計算機27に送られる。計算機27
においては、図5に示すように、ヘテロダイン計測によ
るビート周波数測定限界よりも発振周波数差が大きい領
域では、得られたビート周波数を一定に保つような信号
を、計算機27からピエゾコントローラー28に送り、
ピエゾ素子29を用いてスレーブレーザ共振器長を変化
させる。一方、ビート周波数の検出限界以下の領域で
は、発振遅延時間が最小となるように計算機27から指
令を出して、共振器長を制御する。
In the second embodiment having such a structure,
Similar to the first embodiment, when the waveforms of the monitor light of the master laser and the slave laser superposed by the superposing beam splitter 23 are measured by the waveform measuring device 24, a detection waveform as shown in FIG. 2C is obtained. can get. When this detected waveform signal is converted into a digital signal by the digitizer 25 and frequency-analyzed by the FFT analyzer, the beat frequency component of the frequency difference between the master laser light and the slave laser light is detected as shown in FIG. 2 (d). At the same time, the digitizer 25 measures the oscillation delay time from the pulse excitation until the oscillation of the slave laser starts, and the measurement result is sent to the computer 27. Calculator 27
In Fig. 5, in the region where the oscillation frequency difference is larger than the beat frequency measurement limit by heterodyne measurement, a signal that keeps the obtained beat frequency constant is sent from the computer 27 to the piezo controller 28,
The slave laser resonator length is changed using the piezo element 29. On the other hand, in the region below the detection limit of the beat frequency, the computer 27 issues a command to minimize the oscillation delay time and controls the resonator length.

【0025】このようにすると、スレーブレーザ光の発
振周波数を、常にマスターレーザの発振周波数を基準と
した一定の発振周波数に、精度良く保つことができる。
特に、発振遅延時間の検出のみによって同調制御を行う
従来の装置では、制御時に一定周期ごとに発振遅延時間
の大きいところに入り、発振遅延時間のばらつき(ジッ
タ)が大きくなるため、これが誤動作を招きやすいとい
う欠点があった。しかし、本実施例によれば、ビート周
波数が小さくなるように予め共振器長を制御しておき、
そのビート周波数の測定限界以下で発振遅延時間を測定
するので、発振遅延時間のみの制御による誤動作とジッ
タの増大を抑えて、より精密な制御が可能となる。特
に、図5に示すように、発振周波数差が0となる位置で
発振遅延時間は極小値をとるので、発振遅延時間を測定
して、それが極小値をとるようにフィードバック機構9
により共振器長制御機構10を制御すれば、マスターレ
ーザ光とスレーブレーザ発振光との精密な同調をとるこ
とが可能になる。
With this configuration, the oscillation frequency of the slave laser light can be kept at a constant oscillation frequency with reference to the oscillation frequency of the master laser with high precision.
In particular, in a conventional device that performs tuning control only by detecting the oscillation delay time, a large oscillation delay time is entered at regular intervals during control, and the variation (jitter) in the oscillation delay time increases, which causes malfunction. It had the drawback of being easy. However, according to this embodiment, the resonator length is controlled in advance so that the beat frequency becomes small,
Since the oscillation delay time is measured below the measurement limit of the beat frequency, malfunctions and increase in jitter due to control of only the oscillation delay time are suppressed, and more precise control is possible. In particular, as shown in FIG. 5, the oscillation delay time has a minimum value at the position where the difference in oscillation frequency is 0. Therefore, the oscillation delay time is measured and the feedback mechanism 9 is set so as to have the minimum value.
By controlling the resonator length control mechanism 10 by means of this, it becomes possible to perform precise synchronization between the master laser light and the slave laser oscillation light.

【0026】なお、この請求項2の発明は、図示の実施
例に限定されるものではなく、各レーザ光からモニター
光を取り出す光学系や同調制御光学系として、前記図2
のようなものなどを適宜採用することができる。
The invention according to claim 2 is not limited to the embodiment shown in the drawings, but as an optical system or a tuning control optical system for extracting the monitor light from each laser light, as shown in FIG.
It is possible to appropriately employ such as.

【0027】(4)第3実施例…図6 第3実施例は、請求項3の発明に対応する実施例であ
る。ところで、前記請求項1及び請求項2の発明では、
マスターレーザの発振周波数が安定化していることを前
提として、マスターレーザの発振周波数を基準としてス
レーブレーザの発振周波数を安定化している。しかし、
マスターレーザの発振周波数自体が安定化していない
と、前記請求項1及び請求項2の発明も十分な効果が得
られないことになる。そこで、請求項3の発明は、マス
ターレーザの発振周波数を安定化することにより、スレ
ーブレーザの発振周波数をマスターレーザの発振周波数
を基準として安定化した場合に、優れた効果が発揮され
るようにしたものである。
(4) Third Embodiment FIG. 6 The third embodiment is an embodiment corresponding to the invention of claim 3. By the way, in the inventions of claim 1 and claim 2,
On the assumption that the oscillation frequency of the master laser is stable, the oscillation frequency of the slave laser is stabilized with reference to the oscillation frequency of the master laser. But,
If the oscillation frequency of the master laser itself is not stabilized, the inventions of the first and second aspects will not be able to obtain sufficient effects. Therefore, the invention of claim 3 stabilizes the oscillation frequency of the master laser so that an excellent effect is exhibited when the oscillation frequency of the slave laser is stabilized with the oscillation frequency of the master laser as a reference. It was done.

【0028】この第3実施例では、図6に示すように、
マスターレーザ1の出力側に、マスターレーザ光の一部
をマスターレーザモニター光として取り出すためのビー
ムスプリッター31が設けられ、このビームスプリッタ
ー31で分離されたマスターレーザのモニター光が周波
数測定用光学系32へ導入されている。周波数測定用光
学系32には検出器33が接続され、この検出器33に
おいてマスターレーザモニター光の周波数が測定され
る。測定されたマスターレーザモニター光の周波数は、
周波数安定化フィードバック機構34によりマスターレ
ーザ1にフィードバックされ、このフィードバック情報
に基づいてマスターレーザ光の周波数が安定化される。
In the third embodiment, as shown in FIG.
A beam splitter 31 for extracting a part of the master laser light as a master laser monitor light is provided on the output side of the master laser 1, and the monitor light of the master laser separated by the beam splitter 31 is used as a frequency measurement optical system 32. Have been introduced to. A detector 33 is connected to the frequency measuring optical system 32, and the frequency of the master laser monitor light is measured by the detector 33. The frequency of the measured master laser monitor light is
It is fed back to the master laser 1 by the frequency stabilizing feedback mechanism 34, and the frequency of the master laser light is stabilized based on this feedback information.

【0029】一方、スレーブレーザの出力側には、スレ
ーブレーザ光の一部をモニター光として取り出すビーム
スプリッター41が設けられ、このビームスプリッター
41からのモニター光が反射ミラー42を介して前記周
波数測定用光学系32に導入されている。周波数測定用
光学系32には、スレーブレーザモニター光検出器43
が接続され、この検出器43においてスレーブレーザモ
ニター光の周波数が検出され、ここで検出されたスレー
ブレーザモニター光の周波数とスレーブレーザの発振周
波数とが一定の周波数差を保つように、フィードバック
機構9によってスレーブレーザの共振器長制御機構10
が制御される。
On the other hand, on the output side of the slave laser, a beam splitter 41 for extracting a part of the slave laser light as monitor light is provided, and the monitor light from this beam splitter 41 is passed through a reflection mirror 42 to measure the frequency. It is introduced into the optical system 32. The frequency measurement optical system 32 includes a slave laser monitor photodetector 43.
The frequency of the slave laser monitor light is detected by the detector 43, and the feedback mechanism 9 is arranged so that the frequency of the slave laser monitor light detected here and the oscillation frequency of the slave laser maintain a constant frequency difference. By the slave laser cavity length control mechanism 10
Is controlled.

【0030】図7は、前記図6の実施例を更に具体的に
示したもので、周波数測定用光学系32として、安定化
エタロン44を用いたものである。この実施例では、マ
スターレーザ1は、その発振光の一部が、モニター光と
してマスターレーザモニター光取り出し用ビームスプリ
ッター31及びビームスプリッター45を介して安定化
エタロン44へ導入され、この導入されたモニター光が
ビームスプリッター46によって検出器33に取り出さ
れて、その周波数が検出されている。ここで、安定化エ
タロンの光学長をL、光速をcとすると、マスターレー
ザの周波数fmが、 fm =n・c/2L (n;正の整数) であるとき、安定化エタロンの透過特性は鋭いピークを
示すので、モニター光の検出強度が極大となるように周
波数安定化フィードバック機構34によりマスターレー
ザ発振周波数が安定化される。
FIG. 7 shows the embodiment of FIG. 6 more specifically, in which a stabilizing etalon 44 is used as the optical system 32 for frequency measurement. In this embodiment, a part of the oscillation light of the master laser 1 is introduced as a monitor light into the stabilizing etalon 44 via the master laser monitor light extraction beam splitter 31 and the beam splitter 45, and the introduced monitor is introduced. The light is extracted by the beam splitter 46 to the detector 33, and its frequency is detected. Here, when the optical length of the stabilized etalon is L and the speed of light is c, when the frequency f m of the master laser is f m = n · c / 2L (n; positive integer), the transmission of the stabilized etalon Since the characteristic shows a sharp peak, the master laser oscillation frequency is stabilized by the frequency stabilizing feedback mechanism 34 so that the detection intensity of the monitor light becomes maximum.

【0031】一方、スレーブレーザ光の出力パルスの一
部は、スレーブレーザモニター光取り出し用ビームスプ
リッター41によってモニター光として取り出される。
このスレーブレーザモニター光は、反射ミラー42及び
ビームスプリッター45を介して安定化エタロン44に
導入され、その後ビームスプリッター46を介してスレ
ーブレーザモニター光検出器43に出力される。このモ
ニター光検出器43からのモニター光出力強度が最大と
なるように、フィードバック機構9によって前記共振器
長制御機構10が制御される。すなわち、安定化エタロ
ンの特性から、スレーブレーザの発振周波数fs は、 fs =fm +m・c/2L (m;正の整数) に安定化されることになる。このように、図7の実施例
によれば、常にマスターレーザの発振周波数を基準とし
て、スレーブレーザの発振周波数を安定化した状態に保
つことができる。
On the other hand, a part of the output pulse of the slave laser light is extracted by the slave laser monitor light extraction beam splitter 41 as monitor light.
This slave laser monitor light is introduced into the stabilizing etalon 44 via the reflection mirror 42 and the beam splitter 45, and then output to the slave laser monitor photodetector 43 via the beam splitter 46. The feedback mechanism 9 controls the resonator length control mechanism 10 so that the monitor light output intensity from the monitor light detector 43 is maximized. That is, from the characteristics of the stabilized etalon, the oscillation frequency f s of the slave laser is stabilized at f s = f m + m · c / 2L (m; positive integer). As described above, according to the embodiment of FIG. 7, the oscillation frequency of the slave laser can always be kept stable with the oscillation frequency of the master laser as a reference.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上述べた通り、請求項1乃至請求項3
のいずれの発明においても、スレーブレーザの発振周波
数がマスターレーザの発振周波数を基準として安定化さ
れるため、発振周波数安定性の高いインジェクションロ
ック同調制御装置を得ることが可能になる。特に、請求
項2の発明においては、ビート周波数の測定限界値以下
の領域でも発振周波数の安定化が可能となり、より精度
の高い周波数安定化が可能となる。また、請求項3の発
明においては、マスターレーザの発振周波数そのものの
安定化によるスレーブレーザ発振周波数の安定化と同時
に、マスターレーザ発振周波数測定用光学系をそのまま
スレーブレーザ発振周波数測定用としても使用できるの
で、光学系の単純化も可能となる。
As described above, the first to third aspects are provided.
In any of the above aspects, since the oscillation frequency of the slave laser is stabilized with the oscillation frequency of the master laser as a reference, it is possible to obtain an injection lock tuning controller with high oscillation frequency stability. In particular, according to the second aspect of the invention, the oscillation frequency can be stabilized even in the region below the measurement limit value of the beat frequency, and the frequency can be stabilized with higher accuracy. Further, in the invention of claim 3, the slave laser oscillation frequency can be stabilized by stabilizing the oscillation frequency of the master laser, and at the same time, the master laser oscillation frequency measuring optical system can be used as it is for the slave laser oscillation frequency measurement. Therefore, it is possible to simplify the optical system.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施例における各部の出力波形を
示す波形図。
FIG. 2 is a waveform diagram showing an output waveform of each part in the first embodiment of the present invention.

【図3】図1の実施例の変形例を示すブロック図。FIG. 3 is a block diagram showing a modification of the embodiment of FIG.

【図4】本発明の第2実施例を示すブロック図。FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図5】発振周波数または発振遅延時間と共振器長との
関係を示すグラフ。
FIG. 5 is a graph showing a relationship between an oscillation frequency or an oscillation delay time and a resonator length.

【図6】本発明の第3実施例を示すブロック図。FIG. 6 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図7】図6の実施例の具体例を示すブロック図。FIG. 7 is a block diagram showing a specific example of the embodiment of FIG.

【図8】従来のインジェクションロック同調制御装置の
一例を示すブロック図。
FIG. 8 is a block diagram showing an example of a conventional injection lock tuning control device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…マスターレーザ 2…減衰器 4…インジェクションミラー 5…スレーブレーザ放電部 6…出力ミラー 7…リアミラー 21…マスターレーザモニター光取り出し用ビームスプ
リッター 22…マスターレーザモニター光取り出し用ビームスプ
リッター 23…モニター光重ね合わせ用ビームスプリッター 24…波形計測器 25…デジタイザー 26…FFTアナライザー 27…計算機 28…ピエゾコントローラー 29…ピエゾ素子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Master laser 2 ... Attenuator 4 ... Injection mirror 5 ... Slave laser discharge part 6 ... Output mirror 7 ... Rear mirror 21 ... Master laser monitor beam extraction beam splitter 22 ... Master laser monitor beam extraction beam splitter 23 ... Monitor beam overlap Beam splitter for alignment 24 ... Waveform measuring instrument 25 ... Digitizer 26 ... FFT analyzer 27 ... Calculator 28 ... Piezo controller 29 ... Piezo element

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レーザ共振器からの出力パルス光の一部と
マスターレーザ光の一部を、それぞれのモニター光とし
て取り出し、両モニター光を重ね合わせる光学系と、 重ね合わせたモニター光の波形を計測するための波形計
測器と、 前記波形計測器の出力に基いて出力パルスモニター光と
マスターレーザモニター光の周波数差によって生ずるビ
ート周波数を検出し、この検出されたビート周波数に基
づいて出力パルス光とマスターレーザ光の同調状態を判
断し、レーザ共振器の光学的長さを制御する信号を送出
するフィードバック機構と、 この制御信号によりレーザ共振器の光学的長さを調節す
る共振器長制御機構を備えていることを特徴とするイン
ジェクションロック同調制御装置。
1. An optical system for extracting a part of output pulse light from a laser resonator and a part of master laser light as respective monitor lights and superposing both monitor lights, and a waveform of the superposed monitor lights. A waveform measuring instrument for measuring, detects the beat frequency generated by the frequency difference between the output pulse monitor light and the master laser monitor light based on the output of the waveform measuring instrument, and outputs the pulse light based on the detected beat frequency. And a feedback mechanism that sends out a signal that controls the optical length of the laser resonator by determining the tuning state of the master laser light, and a resonator length control mechanism that adjusts the optical length of the laser resonator by this control signal. An injection lock tuning control device comprising:
【請求項2】パルス励起を行ってから出力パルス光の発
振が開始されるまでの発振遅延時間を計測する手段と、 前記波形計測器の出力に基いて出力パルスモニター光と
マスターレーザモニター光の周波数差によって生ずるビ
ート周波数を検出し、この検出されたビート周波数に基
づいて出力パルス光とマスターレーザ光の同調状態を判
断し、レーザ共振器の光学的長さを制御する信号を送出
すると共に、ビート周波数の測定限界以下の領域におい
ては、前記発振遅延時間が極小値となるような制御信号
を送出するフィードバック機構と、 この制御信号によりレーザ共振器の光学的長さを調節す
る共振器長制御機構を備えていることを特徴とする請求
項1のインジェクションロック同調制御装置。
2. A means for measuring an oscillation delay time from the pulse excitation until the oscillation of the output pulse light is started, and output pulse monitor light and master laser monitor light based on the output of the waveform measuring instrument. Detects the beat frequency generated by the frequency difference, determines the tuning state of the output pulse light and the master laser light based on the detected beat frequency, and sends a signal for controlling the optical length of the laser resonator, In a region below the measurement limit of the beat frequency, a feedback mechanism that sends a control signal that minimizes the oscillation delay time, and a cavity length control that adjusts the optical length of the laser cavity by this control signal. The injection lock tuning control device according to claim 1, further comprising a mechanism.
【請求項3】マスターレーザ光の一部をマスターレーザ
モニター光として取り出すマスターレーザ周波数測定用
光学系と、 このマスターレーザ周波数測定用光学系の出力をマスタ
ーレーザにフィードバックして、マスターレーザ光の周
波数を安定化するマスターレーザ周波数安定化フィード
バック機構とを備えたインジェクションロック同調制御
装置において、 レーザ共振器からの出力パルス光の一部をモニター光と
してマスターレーザ周波数測定用光学系に導く光学系
と、マスターレーザ周波数測定用光学系から出力パルス
モニター光を取り出して検出する出力パルスモニター光
検出器と、 前記出力パルスモニター光検出器の出力に基いて、出力
パルスモニター光周波数を検出し、この検出された周波
数に基づいて出力パルス光とマスターレーザ光の同調状
態を判断し、レーザ共振器の光学的長さを制御する信号
を送出するフィードバック機構と、 この制御信号によりレーザ共振器の光学的長さを調節す
る共振器長制御機構を備えていることを特徴とするイン
ジェクションロック同調制御装置。
3. A master laser frequency measuring optical system for extracting a part of the master laser light as a master laser monitor light, and an output of the master laser frequency measuring optical system is fed back to the master laser to obtain a master laser light frequency. In an injection lock tuning controller equipped with a master laser frequency stabilizing feedback mechanism that stabilizes, an optical system that guides a part of the output pulse light from the laser resonator to the master laser frequency measurement optical system as monitor light, An output pulse monitor photodetector that takes out and detects the output pulse monitor light from the master laser frequency measurement optical system, and detects the output pulse monitor optical frequency based on the output of the output pulse monitor photodetector. Output pulse light based on the frequency and master It is equipped with a feedback mechanism that determines the tuning state of the laser light and sends out a signal that controls the optical length of the laser cavity, and a cavity length control mechanism that adjusts the optical length of the laser cavity with this control signal. An injection lock tuning control device characterized in that
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