JPH0644656B2 - Frequency stabilized semiconductor laser device - Google Patents

Frequency stabilized semiconductor laser device

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JPH0644656B2
JPH0644656B2 JP2236156A JP23615690A JPH0644656B2 JP H0644656 B2 JPH0644656 B2 JP H0644656B2 JP 2236156 A JP2236156 A JP 2236156A JP 23615690 A JP23615690 A JP 23615690A JP H0644656 B2 JPH0644656 B2 JP H0644656B2
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frequency
semiconductor laser
laser
laser light
reflecting mirror
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新一 大嶋
保喜 古賀
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Anritsu Corp
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Agency of Industrial Science and Technology
Anritsu Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はレーザ光を出力する半導体レーザ装置に係わ
り、特に高度に安定化した周波数を有するレーザ光を出
力する周波数安定化半導体レーザ装置に関する。
The present invention relates to a semiconductor laser device that outputs laser light, and more particularly to a frequency-stabilized semiconductor laser device that outputs laser light having a highly stabilized frequency.

[従来の技術] 一般に半導体レーザの発振周波数はこの半導体レーザに
注入(印加)する電流値や周囲温度によって大きく変化
する。したがって、この半導体レーザから出力される発
振周波数で示されるレーザ光の周波数も大きく変化す
る。さらに、この半導体レーザから出力されるレーザ光
は完全な単一周波数を有するコヒーレントな光ではな
く、前記発振周波数の近傍に多くの側波帯周波数や周波
数雑音が含まれるので、実際のレーザ光の周波数は数+
MHzの広がりを有する。このように線幅が広いと、この
レーザ光を用いて光通信機器の性能試験を行う場合に、
測定器の分解能が基準測定光の線幅によって制限されて
しまう。
[Prior Art] Generally, the oscillation frequency of a semiconductor laser greatly changes depending on the current value injected (applied) to the semiconductor laser and the ambient temperature. Therefore, the frequency of the laser light indicated by the oscillation frequency output from this semiconductor laser also changes greatly. Furthermore, the laser light output from this semiconductor laser is not a coherent light having a perfect single frequency, and since many sideband frequencies and frequency noise are included in the vicinity of the oscillation frequency, the actual laser light Frequency + number
Has a spread of MHZ. With such a wide line width, when performing a performance test of optical communication equipment using this laser light,
The resolution of the measuring device is limited by the line width of the reference measuring light.

すなわち、このようなレーザ光を測定器の基準光として
採用するためには、レーザ光における「周波数安定性
が悪い」「線幅が広い」等の課題を解決する必要があ
る。
That is, in order to adopt such laser light as the reference light of the measuring instrument, it is necessary to solve the problems such as "poor frequency stability" and "wide line width" of the laser light.

そして、第1の周波数を安定化させる手法としてファブ
リペロ共振器を用いて、このファブリペロ共振器の共振
周波数を基準にしてレーザ光の周波数を制御することが
提唱されている。また、さらに高度に周波数を安定化さ
せる手法として原子や分子が持つ固有のスペクトル線を
基準として前記周波数を制御することが提唱されてい
る。
As a method for stabilizing the first frequency, it has been proposed to use a Fabry-Perot resonator and control the frequency of laser light with reference to the resonance frequency of the Fabry-Perot resonator. Further, as a method of stabilizing the frequency to a higher degree, it has been proposed to control the frequency with reference to the characteristic spectral line of atoms or molecules.

また、第2の線幅を狭窄化する手法は電気的手法と光学
的手法とがある。電気的手法においては、半導体レーザ
から出力されるレーザ光を前述したファブリペロ共振器
に通し、その透過特性の急峻なスロープを周波数弁別に
使用して、広帯域の電気的帰還を半導体レーザの注入電
流へ加えることにより狭窄化を行う。
Further, there are an electric method and an optical method for narrowing the second line width. In the electrical method, the laser light output from the semiconductor laser is passed through the Fabry-Perot resonator described above, and the steep slope of its transmission characteristics is used for frequency discrimination to provide broadband electrical feedback to the injection current of the semiconductor laser. Narrowing is performed by adding.

また、光学的手法においては、半導体レーザから出力さ
れたレーザ光を前記ファブリペロ共振器等の狭帯域光学
フィルタに通し、その透過光または反射光を半導体レー
ザへ帰還させる、いわゆるオプティカルロックによって
狭窄化を行う。
Further, in the optical method, the laser light output from the semiconductor laser is passed through a narrow band optical filter such as the Fabry-Perot resonator, and the transmitted light or reflected light is returned to the semiconductor laser, so-called optical locking is performed to narrow the light. To do.

これらの手法を採用することによって、半導体レーザか
ら出力されるレーザ光の周波数を高度に安定化でき、さ
らに線幅を、帯域制御を実行していない場合に比較し
て、数百分の1から数万分の1まで狭窄化することが可
能である。
By adopting these methods, the frequency of the laser light output from the semiconductor laser can be highly stabilized, and the line width can be reduced to several hundredths as compared with the case where band control is not executed. It is possible to narrow the area to tens of thousands.

このような周波数安定化および線幅の狭窄化を図った周
波数安定化半導体レーザ装置は例えば第5図に示すよう
に構成されている。
A frequency-stabilized semiconductor laser device for frequency stabilization and line width narrowing is configured, for example, as shown in FIG.

半導体レーザ1から出力されたレーザ光2はビームスプ
リッター3で分岐され、分岐されたレーザ光2の一部が
レンズ4を通過し、さらに反射鏡5で反射されて対向配
置された一対の反射鏡6a,6bからなるファブリペロ
共振器6へ入射される。ファブリペロ共振器6で反射さ
れたレーザ光2は入射光と同じ経路、すなわち反射鏡
5,レンズ4,ビームスプリッター3を介して半導体レ
ーザ1へ帰還され、いわゆるオプティカルロックが行わ
れる。
A laser beam 2 output from the semiconductor laser 1 is branched by a beam splitter 3, and a part of the branched laser beam 2 passes through a lens 4 and is further reflected by a reflecting mirror 5 so as to be opposed to each other. The light is incident on the Fabry-Perot resonator 6 composed of 6a and 6b. The laser light 2 reflected by the Fabry-Perot resonator 6 is returned to the semiconductor laser 1 via the same path as the incident light, that is, the reflecting mirror 5, the lens 4 and the beam splitter 3, and so-called optical locking is performed.

一方、ファブリペロ共振器6を透過したレーザ光は光電
検出器7でもって光強度に対応した信号レベルを有する
光強度信号に変換される。さらに、反射鏡5の裏面には
電歪素子8が装着されている。そして、位相制御器9、
光電検出器7から出力された光強度信号を処理して電歪
素子8に制御信号として印加して、ファブリペロ共振器
6から半導体レーザ1へ戻るレーザ光の位相を自動調整
して常に最適位相条件で前述したオプティカルロックが
実行されるように制御される。
On the other hand, the laser light transmitted through the Fabry-Perot resonator 6 is converted by the photoelectric detector 7 into a light intensity signal having a signal level corresponding to the light intensity. Further, an electrostrictive element 8 is attached to the back surface of the reflecting mirror 5. And the phase controller 9,
The light intensity signal output from the photoelectric detector 7 is processed and applied as a control signal to the electrostrictive element 8 to automatically adjust the phase of the laser light returning from the Fabry-Perot resonator 6 to the semiconductor laser 1 to always obtain the optimum phase condition. The above-mentioned optical lock is controlled so as to be executed.

さらに、ビームスプリッター3を通過したレーザ光2は
別のビームスプリッター10でさらに分岐される。分岐
されたレーザ光は基準周波数となる飽和吸収線を有する
原子または分子を封入した吸収セル11に入射される。
この吸収セル11を透過したレーザ光は反射鏡12で反
射され、再度吸収セル11内を通過することによって、
原子または分子の飽和吸収線を生じさせる。
Further, the laser beam 2 that has passed through the beam splitter 3 is further branched by another beam splitter 10. The branched laser light is incident on the absorption cell 11 in which atoms or molecules having a saturated absorption line serving as a reference frequency are enclosed.
The laser light that has passed through the absorption cell 11 is reflected by the reflecting mirror 12 and passes through the absorption cell 11 again,
Creates a saturated absorption line for an atom or molecule.

再度吸収セル11を透過したレーザ光はビームスプリッ
ター10をそのまま透過して、光電検出器13でもって
光強度信号に変換される。光電検出器13から出力され
る光強度信号はファブリペロ制御器14へ入力される。
また、前記ファブリペロ共振器6の光電検出器7側の反
射鏡6aの裏面には電歪素子15が装着されている。そ
して、ファブリペロ制御器14は、光電検出器13から
出力された光強度信号を処理して電歪素子15に制御信
号として印加して、ファブリペロ共振器6から半導体レ
ーザ1へ戻るレーザ光2の周波数を吸収セル11の原子
または分子の飽和吸収線の中心周波数fに一致するよ
うに反射鏡6aの位置を移動させてファブリペロ共振器
6の共振周波数を制御する。
The laser light that has passed through the absorption cell 11 again passes through the beam splitter 10 as it is, and is converted into a light intensity signal by the photoelectric detector 13. The light intensity signal output from the photoelectric detector 13 is input to the Fabry-Perot controller 14.
An electrostrictive element 15 is attached to the back surface of the reflecting mirror 6a on the photoelectric detector 7 side of the Fabry-Perot resonator 6. Then, the Fabry-Perot controller 14 processes the light intensity signal output from the photoelectric detector 13 and applies it as a control signal to the electrostrictive element 15, and the frequency of the laser beam 2 returning from the Fabry-Perot resonator 6 to the semiconductor laser 1. The resonance frequency of the Fabry-Perot resonator 6 is controlled by moving the position of the reflecting mirror 6a so as to match the center frequency f 0 of the saturated absorption line of the atom or molecule of the absorption cell 11.

こような構成の周波数安定化半導体レーザ装置におい
て、周知のように、ファブリペロ共振器6の共振周波数
は、互いに対向する一対の反射鏡6a,6b相互間の距
離に依存する。そして、第6図に示すように、入力され
るレーザ光の周波数を連続的に変化させるとこのファブ
リペロ共振器6から出力されるレーザ光は第6図に示す
複数のピーク波形16を含む周波数特性を有する。そし
て、ピーク波形16相互間の周波数幅を示すフリースペ
クトルレンジfSRとピーク波形16の半値幅Δfとの比
で示されるフィネスF(=fSR/Δf)が極めて高い。
その結果、オプティカルロックされた半導体レーザ1か
ら出力されたレーザ光2の線幅は狭窄化される。同時に
その周波数はファブリペロ共振器6の共振周波数で安定
化される。
In the frequency-stabilized semiconductor laser device having such a configuration, as is well known, the resonance frequency of the Fabry-Perot resonator 6 depends on the distance between the pair of reflecting mirrors 6a and 6b facing each other. Then, as shown in FIG. 6, when the frequency of the input laser light is continuously changed, the laser light output from the Fabry-Perot resonator 6 has a frequency characteristic including a plurality of peak waveforms 16 shown in FIG. Have. The finesse F (= f SR / Δf) indicated by the ratio of the free spectral range f SR indicating the frequency width between the peak waveforms 16 and the half width Δf of the peak waveform 16 is extremely high.
As a result, the line width of the laser light 2 output from the optically locked semiconductor laser 1 is narrowed. At the same time, its frequency is stabilized at the resonance frequency of the Fabry-Perot resonator 6.

また、レーザ光2の位相は位相制御器9にて前記オプテ
ィカルロックが最適状態になるように制御される。な
お、最適位相条件を検出するために反射鏡5に装着され
た電歪素子8を10kHz程度の周波数で周波数変調し
て、反射鏡5を振動させている。その結果、半導体レー
ザ1から各ビームスプリッター3,10を透過して出力
されるレーザ光が周波数変調されるが、この変調幅は位
相を制御するのみであるので非常に小さく、ほとんど無
視できる。
Further, the phase of the laser light 2 is controlled by the phase controller 9 so that the optical lock is in the optimum state. In order to detect the optimum phase condition, the electrostrictive element 8 mounted on the reflecting mirror 5 is frequency-modulated at a frequency of about 10 kHz to vibrate the reflecting mirror 5. As a result, the laser light transmitted from the semiconductor laser 1 and transmitted through the beam splitters 3 and 10 is frequency-modulated, but this modulation width is very small because it only controls the phase and can be almost ignored.

さらに、ファブリペロ制御器14でもって、第7図に示
す原子または分子の飽和吸収線17の中心周波数f
一致するようにファブリペロ共振器6の共振周波数を制
御している。飽和吸収線17は吸収セル11内に収納さ
れた原子または分子の種類によって定まる固有の周波数
値を有し、この周波数値は機械的振動や周囲温度には影
響されない。よって、半導体レーザ1から出力されるレ
ーザ光2の周波数がより一層安定化し、さらに再現性も
向上する。
Further, the Fabry-Perot controller 14 controls the resonance frequency of the Fabry-Perot resonator 6 so as to match the center frequency f 0 of the saturated absorption line 17 of the atom or molecule shown in FIG. The saturated absorption line 17 has a specific frequency value determined by the type of atom or molecule contained in the absorption cell 11, and this frequency value is not affected by mechanical vibration or ambient temperature. Therefore, the frequency of the laser beam 2 output from the semiconductor laser 1 is further stabilized and the reproducibility is further improved.

なお、前記吸収セル11の飽和吸収線17の中心周波数
を検出するために、ファブリペロ共振器6の反射鏡
6aに装着された電歪素子15を1kHz程度の周波数で
周波数変調して、反射鏡6aを振動させている。
In order to detect the center frequency f 0 of the saturated absorption line 17 of the absorption cell 11, the electrostrictive element 15 mounted on the reflecting mirror 6a of the Fabry-Perot resonator 6 is frequency-modulated at a frequency of about 1 kHz and reflected. The mirror 6a is vibrating.

このように、ファブリペロ共振器6,吸収セル11,位
相制御器9,ファブリペロ制御器14を用いることによ
って、半導体レーザ1から出力されるレーザ光2の周波
数を高度に安定化でき、さらに線幅を大幅に狭窄化でき
る。
As described above, by using the Fabry-Perot resonator 6, the absorption cell 11, the phase controller 9, and the Fabry-Perot controller 14, the frequency of the laser light 2 output from the semiconductor laser 1 can be highly stabilized and the line width can be further increased. Can be significantly narrowed.

なお、上述した技術の詳細内容は例えば下記の文献に記
載されている。
The details of the above-mentioned technique are described in the following documents, for example.

B.Dahmani et al 「オプティカルロックによる半導体レーザの周波数安定
化」 Optic Lett.,Vol.12.No.11(1987) [発明が解決しようとする課題] しかしながら、第5図に示した周波数安定化半導体レー
ザ装置においてもまだ解消すべき次のような問題があっ
た。
B. Dahmani et al "Optical Lock Frequency Stabilization of Semiconductor Lasers" Optic Lett., Vol.12.No.11 (1987) [Problems to be solved by the invention] However, the frequency stabilization shown in FIG. The semiconductor laser device also has the following problems to be solved.

すなわち、ファブリペロ共振器6は互いに対向する凹レ
ンズ状断面を有する2枚の反射鏡6a,6bで構成され
ている。そして、その共振周波数は2枚の反射鏡6a,
6b相互間距離に依存するので、周囲温度や機械的振動
によって大きく変動する。前述したようにファブリペロ
制御器14でもって、共振周波数を吸収セル11の原子
や分子の飽和吸収線17の中心周波数fに制御するた
めには、反射鏡6aを振動させる必要がある。しかし、
凹レンズ状断面を有した反射鏡6aは他の平面の反射鏡
5に比較してかなり大きい形状および重い重量を有して
おり、この反射鏡6aを大振幅でかつ高速で振動制御す
ることは困難であった。例えば振動可能周波数は高々1
kHzである。したがって、周波数制御における応答速度
が低下する問題がある。
That is, the Fabry-Perot resonator 6 is composed of two reflecting mirrors 6a and 6b having concave lens-shaped cross sections facing each other. The resonance frequency of the two reflecting mirrors 6a,
Since it depends on the mutual distance between 6b, it greatly fluctuates due to ambient temperature and mechanical vibration. As described above, in order for the Fabry-Perot controller 14 to control the resonance frequency to the center frequency f 0 of the saturated absorption line 17 of atoms or molecules of the absorption cell 11, it is necessary to vibrate the reflecting mirror 6a. But,
The reflecting mirror 6a having a concave lens-shaped cross section has a considerably larger shape and a heavier weight than the reflecting mirror 5 having another plane, and it is difficult to control the vibration of the reflecting mirror 6a with a large amplitude and at a high speed. Met. For example, the vibration frequency is 1 at most
It is kHz. Therefore, there is a problem that the response speed in frequency control is reduced.

また、上述したファブリペロ共振器6の反射鏡6aに加
える周波数変調の周波数幅は少なくとも第6図に示した
ピーク波形16の線幅(約2Δf)程度は必要であるの
で、出力されるレーザ光2に含まれる周波数変調成分が
大きくなる問題がある。
Further, the frequency width of the frequency modulation applied to the reflecting mirror 6a of the Fabry-Perot resonator 6 described above requires at least the line width (about 2Δf) of the peak waveform 16 shown in FIG. There is a problem that the frequency modulation component included in is large.

さらに、第5図の周波数安定化半導体レーザ装置におい
ては、先ず、位相制御器9を用いて、半導体レーザ1か
ら出力されるレーザ光2の周波数をファブリペロ共振器
6の共振周波数にオプティカルロックさせ、次に、原子
または分子の飽和吸収線17の中心周波数fに一致す
るようにファブリペロ共振器6の共振周波数を制御す
る。すなわち、出力されるレーザ光2の周波数の安定化
と線幅の狭窄化とを得るために2段階制御が必要であ
り、装置全体が複雑かつ大型化するのみならず、調整が
非常に煩雑となる。さらに、製造費が大幅に増大する。
Furthermore, in the frequency-stabilized semiconductor laser device of FIG. 5, first, the phase controller 9 is used to optically lock the frequency of the laser light 2 output from the semiconductor laser 1 to the resonance frequency of the Fabry-Perot resonator 6. Next, the resonance frequency of the Fabry-Perot resonator 6 is controlled so as to match the center frequency f 0 of the saturated absorption line 17 of the atom or molecule. That is, two-step control is required to obtain the stabilization of the frequency of the output laser light 2 and the constriction of the line width, which not only makes the entire device complicated and large, but also makes the adjustment very complicated. Become. Further, the manufacturing cost is significantly increased.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
光学フィルタのサブドップラー分光による吸収線や、さ
らには原子や分子の飽和吸収線の中心周波数を用いてレ
ーザ光の周波数をオプティカルロックすることにより、
簡単な構成で、出力されるレーザ光の周波数安定化と、
線幅の狭窄化とを同時に図ることができる周波数安定化
半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances,
By optically locking the frequency of the laser light using the absorption line by sub-Doppler spectroscopy of the optical filter and further the center frequency of the saturated absorption line of atoms and molecules,
With a simple configuration, frequency stabilization of the output laser light,
It is an object of the present invention to provide a frequency-stabilized semiconductor laser device capable of simultaneously narrowing the line width.

[課題を解決するための手段] 上記課題を解消するために第1の本発明の周波数安定化
半導体レーザ装置においては、レーザ光を出力する半導
体レーザと、この半導体レーザから出力されたレーザ光
の出力路に介挿され、レーザ光の一部を分岐する光分岐
器と、この光分岐器にて分岐されたレーザ光を透過させ
る原子または分子の飽和吸収線を利用した光学フィルタ
と、この光学フィルタを透過したレーザ光を反射する反
射鏡とを備え、この反射鏡で反射されたレーザ光を光分
岐器を介して半導体レーザへ帰還させて半導体レーザか
ら出力されるレーザ光の周波数を光学フィルタの特性で
定まる一定周波数および線幅にオプティカルロックさせ
るようにしている。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, in the frequency-stabilized semiconductor laser device of the first aspect of the present invention, a semiconductor laser that outputs laser light and a laser light output from the semiconductor laser are provided. An optical branching device that is inserted in the output path and branches a part of the laser light, an optical filter that uses a saturated absorption line of an atom or a molecule that transmits the laser light branched by this optical branching device, and this optical A reflection mirror that reflects the laser light that has passed through the filter; the laser light reflected by the reflection mirror is returned to the semiconductor laser through an optical branching device, and the frequency of the laser light output from the semiconductor laser is an optical filter. Optical locking is performed at a constant frequency and line width determined by the characteristics of.

また、第2の発明においては、上述した第1の発明にお
ける各手段に加えて、半導体レーザへ帰還するレーザ光
の光強度を検出する光電検出器と、反射鏡に装着され、
この反射鏡の光路方向位置を可変させる電歪素子と、光
電検出器にて検出された光強度信号が最大値になるよう
に電歪素子によって反射鏡の位置を制御する位相制御器
とを備えている。
In addition, in the second invention, in addition to the respective means in the above-mentioned first invention, a photoelectric detector for detecting the light intensity of the laser beam returning to the semiconductor laser, and a reflector are mounted,
An electrostrictive element for changing the position of the reflecting mirror in the optical path direction and a phase controller for controlling the position of the reflecting mirror by the electrostrictive element so that the light intensity signal detected by the photoelectric detector has a maximum value are provided. ing.

さらに、第3の発明の周波数安定化半導体レーザ装置に
おいては、レーザ光を出力する半導体レーザと、この半
導体レーザから出力されたレーザ光の出力路に介挿さ
れ、レーザ光の一部を分岐する光分岐器と、この光分岐
器にて分岐されたレーザ光を透過させるサブドップラー
分光による吸収線を利用した光学フィルタと、この光学
フィルタを透過したレーザ光を反射する反射鏡とを備
え、この反射鏡で反射されたレーザ光を半導体レーザへ
帰還させて半導体レーザから出力されるレーザ光の周波
数を光学フィルタの特性で定まる一定周波数および線幅
にオプティカルロックさせるている。
Furthermore, in the frequency-stabilized semiconductor laser device of the third invention, a semiconductor laser that outputs laser light and an output path of the laser light output from this semiconductor laser are inserted to branch a part of the laser light. An optical branching device, an optical filter using an absorption line by sub-Doppler spectroscopy for transmitting the laser light branched by the optical branching device, and a reflecting mirror for reflecting the laser light passing through the optical filter, The laser light reflected by the reflecting mirror is returned to the semiconductor laser, and the frequency of the laser light output from the semiconductor laser is optically locked at a constant frequency and line width determined by the characteristics of the optical filter.

また、第4の発明においては、上記第3の発明におい
て、半導体レーザへ帰還するレーザ光の光強度を検出す
る光電検出器と、反射鏡に装着され、この反射鏡の光路
方向位置を可変させる電歪素子と、光電検出器にて検出
された光強度信号が最大値になるように前記電歪素子に
よって反射鏡の位置を制御する位相制御器とを備えてい
る。
Further, in a fourth aspect based on the third aspect, the photoelectric detector for detecting the light intensity of the laser beam returning to the semiconductor laser and the reflecting mirror are mounted, and the position of the reflecting mirror in the optical path direction is varied. An electrostrictive element and a phase controller that controls the position of the reflecting mirror by the electrostrictive element so that the light intensity signal detected by the photoelectric detector has a maximum value are provided.

[作用] このように構成された第1の発明における周波数安定化
半導体レーザ装置によれば、第1図に示すように、半導
体レーザaから出力されたレーザ光bは光分岐器cでそ
の一部が分岐され、分岐されたレーザ光が原子または分
子の飽和吸収線を利用した光学フィルタdへ入射され
る。光学フィルタdを透過したレーザ光は反射鏡eで反
射され再度光学フィルタdを透過して、光分岐器cを介
して半導体レーザaへ帰還される。すなわち、半導体レ
ーザaから出力されるレーザ光bは反射鏡e,光学フィ
ルタdおよび光分岐器cで形成されるレーザ光の往復経
路によってオプティカルロックされ、レーザ光bの周波
数は光学フィルタdの飽和吸収線の中心周波数に制御さ
れる。
[Operation] According to the frequency-stabilized semiconductor laser device according to the first aspect of the invention thus configured, as shown in FIG. 1, the laser beam b output from the semiconductor laser a is reflected by the optical branching device c. The part is branched, and the branched laser light is incident on the optical filter d using the saturated absorption line of atoms or molecules. The laser beam that has passed through the optical filter d is reflected by the reflecting mirror e, passes through the optical filter d again, and is returned to the semiconductor laser a through the optical branching device c. That is, the laser beam b output from the semiconductor laser a is optically locked by the reciprocating path of the laser beam formed by the reflecting mirror e, the optical filter d and the optical branching device c, and the frequency of the laser beam b is saturated by the optical filter d. Controlled to the center frequency of the absorption line.

前記原子または分子の飽和吸収線の中心周波数は光学フ
ィルタ内に収納された原子または分子の種類によって定
まる固有の周波数値を有し、またその周波数帯域幅は非
常に狭いので、半導体レーザaから出力されるレーザ光
bの周波数が安定化し、かつ線幅も大幅に狭窄化され
る。
The center frequency of the saturated absorption line of the atom or molecule has a specific frequency value determined by the type of atom or molecule contained in the optical filter, and its frequency bandwidth is very narrow. The frequency of the laser light b to be generated is stabilized, and the line width is significantly narrowed.

また、第2の発明においては、上述した各作用に加え
て、半導体レーザへ帰還するレーザ光の光強度が最大に
なるように電歪素子によって反射鏡の位置を制御して、
前記オプティカルロックを最適位相条件で実行させてい
る。
In addition, in the second invention, in addition to the above-described actions, the position of the reflecting mirror is controlled by the electrostrictive element so that the light intensity of the laser beam returned to the semiconductor laser is maximized,
The optical lock is executed under the optimum phase condition.

さらに、第3の発明における周波数安定化半導体レーザ
装置によれば、第2図に示すように、第1図の半導体レ
ーザ装置における原子または分子の飽和吸収線を利用し
た光学フィルタdの代りに、この原子または分子の飽和
吸収線を利用した光学フィルタdもその一実施形態に含
むサブドップラー分光による吸収線を利用した光学フィ
ルタfを用いている。
Further, according to the frequency-stabilized semiconductor laser device of the third invention, as shown in FIG. 2, instead of the optical filter d using the saturated absorption line of atoms or molecules in the semiconductor laser device of FIG. 1, The optical filter d using the saturated absorption line of atoms or molecules also uses the optical filter f using the absorption line by sub-Doppler spectroscopy included in the embodiment.

そして、半導体レーザaから出力されたレーザ光bは光
分岐器cで分岐されてサブドップラー分光による吸収線
を利用した光学フィルタfへ入射される。光学フィルタ
fを透過したレーザ光は図示するように2枚の反射鏡g
,gで反射され別の光分岐器hを介して半導体レー
ザaへ帰還される。すなわち、第1図の場合と同様にレ
ーザ光はオプティカルロックされる。
Then, the laser light b output from the semiconductor laser a is branched by the optical branching device c and is incident on the optical filter f using the absorption line by sub-Doppler spectroscopy. The laser beam that has passed through the optical filter f has two reflecting mirrors g as shown in the drawing.
It is reflected by 1 and g 1 and returned to the semiconductor laser a through another optical branching device h. That is, the laser light is optically locked as in the case of FIG.

なお、1枚の反射鏡gを光路に対して直角に配設して、
第1図と同様に光学フィルタfを透過したレーザ光を再
度光学フィルタf,光分岐器cを経由して半導体レーザ
aへ帰還させることも可能である。
In addition, one reflecting mirror g is arranged at a right angle to the optical path,
As in the case of FIG. 1, it is possible to return the laser light transmitted through the optical filter f to the semiconductor laser a again via the optical filter f and the optical branching device c.

前記サブドップラー分光による吸収線を利用した光学フ
ィルタfは、その周波数帯域幅が非常に狭いので、第1
図と同様に、半導体レーザaから出力されるレーザ光b
の周波数が安定化し、かつ線幅も大幅に狭窄化される。
Since the optical filter f using the absorption line by the sub-Doppler spectroscopy has a very narrow frequency bandwidth,
Similar to the figure, the laser light b output from the semiconductor laser a
The frequency is stabilized and the line width is significantly narrowed.

さらに、第4の発明においては、第2の発明と同様に、
半導体レーザaへ帰還するレーザ光の光強度が最大にな
るように電歪素子によって反射鏡gの位置を制御して、
前記オプティカルロックを最適位相条件で実行させてい
る。
Further, in the fourth invention, like the second invention,
The position of the reflecting mirror g is controlled by an electrostrictive element so that the light intensity of the laser beam returning to the semiconductor laser a is maximized.
The optical lock is executed under the optimum phase condition.

[実施例] 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第3図は実施例の周波数安定化半導体レーザ装置の概略
構成図である。半導体レーザ21から出力されたレーザ
光22は光分岐器としてのビームスプリッター23で分
岐される。分岐されたレーザ光22の一部は光学フィル
タとしての吸収セル24へ入射される。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of the frequency-stabilized semiconductor laser device of the embodiment. The laser light 22 output from the semiconductor laser 21 is split by a beam splitter 23 as an optical splitter. A part of the branched laser light 22 is incident on the absorption cell 24 as an optical filter.

この吸収セル24内には基準周波数となる第7図に示す
飽和吸収線17を有する原子または分子が封入されてい
る。具体的には、例えば吸収線の中心波長が780nmであ
るRbや同じく中心波長が852nmのCs等のアルカリ金
属や、中心波長がいずれも1.5μm帯であるC
HCN等の気体分子が封入されている。そして、この吸
収セル24へ入射するレーザ光の光強度が十分強けれ
ば、前述した原子または分子の吸収に飽和が生じ、前記
飽和吸収線17が得られる。
In this absorption cell 24, atoms or molecules having a saturated absorption line 17 shown in FIG. Specifically, for example, Rb having a center wavelength of 780 nm of absorption line, alkali metal such as Cs having a center wavelength of 852 nm, C 2 H 2 having a center wavelength of 1.5 μm band,
Gas molecules such as HCN are enclosed. If the light intensity of the laser light incident on the absorption cell 24 is sufficiently high, the above-mentioned absorption of atoms or molecules is saturated and the saturated absorption line 17 is obtained.

吸収セル24を透過したレーザ光22はレンズ25を透
過して反射鏡26で反射され、再度吸収セル24内を通
過することによって、原子または分子の鋭い飽和吸収線
を生じる。そして、この飽和吸収線17は光学フィルタ
として作用する。
The laser beam 22 that has passed through the absorption cell 24 passes through the lens 25, is reflected by the reflecting mirror 26, and passes through the absorption cell 24 again to generate a sharp saturated absorption line of atoms or molecules. The saturated absorption line 17 acts as an optical filter.

再度吸収セル24を透過したレーザ光の一部はビームス
プリッター23で反射され半導体レーザ21へ帰還す
る。すなわち、反射器26で反射されたレーザ光は入射
光と同じ経路である反射鏡26,レンズ25,吸収セル
24,ビームスプリッター23を介して半導体レーザ2
1へ入射され、オプティカルロックが行われる。
Part of the laser light that has passed through the absorption cell 24 again is reflected by the beam splitter 23 and returned to the semiconductor laser 21. That is, the laser light reflected by the reflector 26 passes through the same path as the incident light, that is, the reflecting mirror 26, the lens 25, the absorption cell 24, and the beam splitter 23, and the semiconductor laser 2
1, and the optical lock is performed.

一方、再度吸収セル24を透過したレーザ光の一部はビ
ームスプリッター23をそのまま透過して、光電検出器
27でもって光強度信号に変換される。光電検出器27
から出力された光強度信号は位相制御器28へ入力され
る。また、前記反射鏡26の裏面には電歪素子29が装
着されている。そして、位相制御器28は、光電検出器
27から出力された光強度信号を処理して電歪素子29
に制御信号として印加して、反射鏡26,吸収セル24
およびビームスプリッター23を経由して半導体レーザ
21へ戻るレーザ光の光強度が最大値になるように、す
なわち最適位相条件で前述したオプティカルロックが実
行されるように、反射鏡29の位置を移動させて前記半
導体レーザ21へ戻るレーザ光の位相を制御する。
On the other hand, part of the laser light that has passed through the absorption cell 24 again passes through the beam splitter 23 as it is, and is converted into a light intensity signal by the photoelectric detector 27. Photoelectric detector 27
The light intensity signal output from is input to the phase controller 28. An electrostrictive element 29 is attached to the back surface of the reflecting mirror 26. Then, the phase controller 28 processes the light intensity signal output from the photoelectric detector 27 to generate the electrostrictive element 29.
Applied as a control signal to the reflection mirror 26 and the absorption cell 24.
The position of the reflecting mirror 29 is moved so that the light intensity of the laser beam returning to the semiconductor laser 21 via the beam splitter 23 becomes the maximum value, that is, the optical lock described above is executed under the optimum phase condition. The phase of the laser light returning to the semiconductor laser 21 is controlled.

なお、最適位相条件を検出するために反射鏡26に装着
された電歪素子29を周波数変調して、反射鏡26を振
動させている。
In order to detect the optimum phase condition, the electrostrictive element 29 mounted on the reflecting mirror 26 is frequency-modulated to vibrate the reflecting mirror 26.

このように構成された周波数安定化半導体レーザ装置に
よれば、半導体レーザ21から出力されたレーザ光22
の吸収セル24を含む光経路でもって、吸収セル24の
特性で定まる周波数にオプティカルロックされる。そし
て、吸収セル24の原子や分子の種類で定まる飽和吸収
線17の中心周波数fの値は周囲温度や機械的振動に
影響されない。すなわち、この吸収セル24のみでレー
ザ光22の周波数を一定値に安定させることができる。
According to the frequency-stabilized semiconductor laser device configured as described above, the laser light 22 output from the semiconductor laser 21
The optical path including the absorption cell 24 is optically locked to the frequency determined by the characteristics of the absorption cell 24. The value of the center frequency f 0 of the saturated absorption line 17 determined by the type of atom or molecule in the absorption cell 24 is not affected by the ambient temperature or mechanical vibration. That is, the frequency of the laser beam 22 can be stabilized at a constant value only by the absorption cell 24.

さらに、吸収セル24の原子または分子の種類で定まる
第7図に示す飽和吸収線17の周波数帯域幅は、従来装
置のファブリペロ共振器6における第6図に示すビーク
波形16の周波数帯域幅に比較して格段に狭い。したが
って、レーザ光22の線幅を大幅に狭窄化できる。
Further, the frequency bandwidth of the saturated absorption line 17 shown in FIG. 7 determined by the type of atom or molecule of the absorption cell 24 is compared with the frequency bandwidth of the beak waveform 16 shown in FIG. 6 in the Fabry-Perot resonator 6 of the conventional device. And it is very narrow. Therefore, the line width of the laser beam 22 can be significantly narrowed.

このように、半導体レーザ21から出力されたレーザ光
22を吸収セル24からなる光学フィルタでもって、周
波数の安定化と線幅の狭窄化とを同時に実行させてい
る。したがって、第5図に示す2段階制御を経て所望の
周波数安定化と線幅の狭窄化とを得ていた従来の半導体
レーザ装置に比較して、ファブリペロ共振器6の制御ル
ープを省略できるので、構成を大幅に簡素化できる。よ
って、調整作業も大幅に簡素化でき、さらに、製造費も
大幅に低減できる。
In this way, the laser light 22 output from the semiconductor laser 21 is simultaneously stabilized by the optical filter including the absorption cell 24 to stabilize the frequency and narrow the line width. Therefore, the control loop of the Fabry-Perot resonator 6 can be omitted, as compared with the conventional semiconductor laser device in which desired frequency stabilization and line width narrowing are achieved through the two-step control shown in FIG. The configuration can be greatly simplified. Therefore, the adjustment work can be greatly simplified, and the manufacturing cost can be significantly reduced.

さらに、第5図に示す従来装置にように、出力されたレ
ーザ光の周波数を制御するためにファブリペロ共振器6
の凹レンズ状断面の大重量を有した反射鏡6aを大振幅
で振動させる必要がないので、出力されるレーザ光22
の周波数が広い周波数レンジで周波数変調されることは
ない。
Further, as in the conventional device shown in FIG. 5, the Fabry-Perot resonator 6 is used to control the frequency of the output laser light.
Since it is not necessary to vibrate the reflecting mirror 6a having a large concave concave lens cross section with a large amplitude, the output laser light 22
The frequency is not frequency-modulated in a wide frequency range.

なお、前述したように、最適位相条件を検出するために
反射鏡26に装着された電歪素子29を周波数変調し
て、反射鏡26を振動させている。その結果、半導体レ
ーザ21からビームスプリッター23を透過して外部へ
出力されるレーザ光の周波数が僅かに周波数変調される
が、この変調幅は最適位相を検出するためのものであ
り、その変調幅は前記周波数を制御するための周波数変
調幅に比較して拡段に小さい。したがって、出力される
レーザ光22に含まれる周波数変調成分は極く僅かであ
り、ほとんど無視できる。
As described above, the electrostrictive element 29 mounted on the reflecting mirror 26 is frequency-modulated to detect the optimum phase condition, and the reflecting mirror 26 is vibrated. As a result, the frequency of the laser light transmitted from the semiconductor laser 21 through the beam splitter 23 and output to the outside is slightly frequency-modulated, but this modulation width is for detecting the optimum phase. Is much smaller than the frequency modulation width for controlling the frequency. Therefore, the frequency modulation component contained in the output laser light 22 is extremely small and can be almost ignored.

また、平面鏡で形成された反射鏡26の重量は前記ファ
ブリペロ共振器6の反射鏡6aに比較して格段に小さい
ので、たとえ高い周波数で振動させたとしても充分制御
でき、周波数制御における応答速度が低下することはな
い。ちなみに、この反射鏡26は約10kHzで振動させ
ることが可能であり、ファブリペロ共振器6の反射鏡6
aにおける1kHzに比較して、10倍以上の応答速度を
確保できる。
Further, since the weight of the reflecting mirror 26 formed of the plane mirror is significantly smaller than that of the reflecting mirror 6a of the Fabry-Perot resonator 6, it can be sufficiently controlled even if it is vibrated at a high frequency, and the response speed in frequency control is high. It never drops. Incidentally, this reflecting mirror 26 can vibrate at about 10 kHz, and the reflecting mirror 6 of the Fabry-Perot resonator 6 can be oscillated.
A response speed 10 times or more can be secured as compared with 1 kHz in a.

このように優れた周波数特性を得ることが可能であるの
で、この半導体レーザ装置を、例えば、高精度光周波数
基準,高分解能分光測定用光源,測長・測距用光学機器
の基準光源,高精度光応用測定機器用基準光源,コヒー
レント光通信用光源等に応用できる。
Since it is possible to obtain such excellent frequency characteristics, this semiconductor laser device can be used as, for example, a high-accuracy optical frequency reference, a high-resolution spectroscopic measurement light source, a reference light source for length measurement / ranging optical equipment, It can be applied as a reference light source for precision optical application measuring instruments and a light source for coherent optical communication.

第4図は本発明の他の実施例に係わる周波数安定化半導
体レーザ装置の概略構成図である。第3図と同一部分に
は同一符号が付してある。したがって重複する部分の詳
細説明を省略する。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a frequency-stabilized semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention. The same parts as those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals. Therefore, detailed description of the overlapping portions will be omitted.

この実施例においては、半導体レーザ21から出力され
たレーザ光22は一方のビームスプリッター30を透過
して、他方のビームスプリッター23で分岐される。分
岐されたレーザ光22はサブドップラー分光による吸収
線を利用した光学フィルタ31へ入射される。光学フィ
ルタ31を透過したレーザ光22は、一対の反射鏡26
a,26bでそれぞれ反射され、前記一方のビームスプ
リッター30を介して半導体レーザ21へ帰還される。
すなわち、半導体レーザ21から出力されたレーザ光2
2は、上述した経路でもってオプティカルロックされ、
光学フィルタ31のサブドップラー分光による吸収線の
周波数で定まる一定周波数および線幅に制御される。
In this embodiment, the laser beam 22 output from the semiconductor laser 21 passes through one beam splitter 30 and is split by the other beam splitter 23. The branched laser light 22 is incident on the optical filter 31 using the absorption line by sub-Doppler spectroscopy. The laser beam 22 that has passed through the optical filter 31 receives the pair of reflecting mirrors 26.
They are reflected by a and 26b, respectively, and are returned to the semiconductor laser 21 via the one beam splitter 30.
That is, the laser light 2 output from the semiconductor laser 21
2 is optically locked by the above-mentioned route,
The optical filter 31 is controlled to have a constant frequency and a line width determined by the frequency of the absorption line by sub-Doppler spectroscopy.

また、一方のピームスプリッター30を透過した反射鏡
26bからのレーザ光の光強度は光電検出器27にて電
気信号に変換されて、位相制御器28へ入力される。位
相制御器28は、光電検出器27から出力された光強度
信号を処理して一方の反射鏡26aに装着された電歪素
子29に制御信号として印加して半導体レーザ21へ戻
るレーザ光が最適位相条件でオプティカルロックされる
ように制御する。
Further, the light intensity of the laser beam from the reflecting mirror 26b that has passed through one beam splitter 30 is converted into an electric signal by the photoelectric detector 27 and input to the phase controller 28. The phase controller 28 processes the light intensity signal output from the photoelectric detector 27, applies it as a control signal to the electrostrictive element 29 mounted on one of the reflecting mirrors 26a, and returns the optimum laser light to the semiconductor laser 21. It is controlled so that it is optically locked under the phase condition.

このように構成された周波数安定化半導体レーザ装置に
おいても、サブドップラー分光による吸収線を利用した
光学フィルタ31は、その周波数帯域幅が非常に狭いの
で、第3図の実施例と同様の効果を得ることができる。
Also in the frequency-stabilized semiconductor laser device configured as described above, the optical filter 31 using the absorption line by sub-Doppler spectroscopy has a very narrow frequency band width, and therefore, the same effect as the embodiment of FIG. 3 is obtained. Obtainable.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明の周波数安定化半導体レー
ザ装置によれば、半導体レーザから出力されるレーザ光
の一部をサブドップラー分光による吸収線、さらには、
原子または分子の飽和吸収線を利用した光学フィルタを
通過させ、その透過したレーザ光の一部を半導体レーザ
へ帰還させることにより、レーザ光における周波数の高
安定化と線幅の狭窄化を同時に行うことが可能である。
その結果、上述した高い性能を維持したまま、装置全体
の構成を簡素化でき、調整作業を簡略化でき、さらに製
造費を大幅に低減できる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the frequency-stabilized semiconductor laser device of the present invention, a part of the laser light output from the semiconductor laser is absorbed by sub-Doppler spectroscopy, and further,
Passing through an optical filter that uses saturated absorption lines of atoms or molecules and returning a part of the transmitted laser light to a semiconductor laser to simultaneously stabilize the frequency of the laser light and narrow the line width. It is possible.
As a result, while maintaining the above-mentioned high performance, the configuration of the entire apparatus can be simplified, the adjustment work can be simplified, and the manufacturing cost can be significantly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図及び第2図はそれぞれ本発明の構成を示す機能ブ
ロツク図、第3図は本発明の一実施例に係わる周波数安
定化半導体レーザ装置の概略構成図、第4図は本発明の
他の実施例に係わる周波数安定化半導体レーザ装置の概
略構成図、第5図は従来の周波数安定化半導体レーザ装
置の概略構成図、第6図は同従来装置のファブリペロ共
振器の周波数特定図、第7図は吸収セルの原子または分
子の飽和吸収線を示す図である。 17…飽和吸収線、21…半導体レーザ、22…レーザ
光、23…ビームスプリッター(光分岐器)、24…吸
収セル(光学フィルタ)、25…レンズ、26,26
a,26b…反射鏡、27…光電検出器、28…位相制
御器、29…電歪素子、31…光学フィルタ。
1 and 2 are functional block diagrams showing the configuration of the present invention, FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a frequency-stabilized semiconductor laser device according to one embodiment of the present invention, and FIG. 4 is another example of the present invention. 5 is a schematic configuration diagram of a frequency-stabilized semiconductor laser device according to the embodiment of the present invention, FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a conventional frequency-stabilized semiconductor laser device, and FIG. 6 is a frequency identification diagram of a Fabry-Perot resonator of the conventional device. FIG. 7 is a diagram showing saturated absorption lines of atoms or molecules in the absorption cell. 17 ... Saturation absorption line, 21 ... Semiconductor laser, 22 ... Laser light, 23 ... Beam splitter (optical branching device), 24 ... Absorption cell (optical filter), 25 ... Lens, 26, 26
a, 26b ... Reflecting mirror, 27 ... Photoelectric detector, 28 ... Phase controller, 29 ... Electrostrictive element, 31 ... Optical filter.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レーザ光を出力する半導体レーザ(21)と、
この半導体レーザから出力されたレーザ光の出力路に介
挿され、前記レーザ光の一部を分岐する光分岐器(23)
と、この光分岐器にて分岐されたレーザ光を透過させる
原子または分子の飽和吸収線を利用した光学フィルタ(2
4)と、この光学フィルタを透過したレーザ光を反射する
反射鏡(26)とを備え、この反射鏡で反射されたレーザ光
を前記光分岐器を介して前記半導体レーザへ帰還させて
前記半導体レーザから出力されるレーザ光の周波数を前
記光学フィルタの特性で定まる一定周波数および線幅に
オプティカルロックさせることを特徴とする周波数安定
化半導体レーザ装置
1. A semiconductor laser (21) for outputting a laser beam,
An optical branching device (23) which is inserted in the output path of the laser light output from this semiconductor laser and branches a part of the laser light.
And an optical filter (2 that uses saturated absorption lines of atoms or molecules that transmits the laser light split by this optical splitter).
4) and a reflecting mirror (26) for reflecting the laser light transmitted through the optical filter, and the semiconductor laser by reflecting the laser light reflected by the reflecting mirror to the semiconductor laser through the optical branching device. A frequency-stabilized semiconductor laser device in which the frequency of laser light output from a laser is optically locked to a constant frequency and line width determined by the characteristics of the optical filter.
【請求項2】前記半導体レーザへ帰還するレーザ光の光
強度を検出する光電検出器(27)と、前記反射鏡に装着さ
れ、この反射鏡の光路方向位置を可変させる電歪素子(2
9)と、前記光電検出器にて検出された光強度信号が最大
値になるように前記電歪素子によって前記反射鏡の位置
を制御する位相制御器(28)とを備えた請求項1記載の周
波数安定化半導体レーザ装置。
2. A photoelectric detector (27) for detecting the light intensity of laser light returning to the semiconductor laser, and an electrostrictive element (2) mounted on the reflecting mirror for varying the optical path direction position of the reflecting mirror.
9. A phase controller (28) comprising: 9) and a phase controller (28) for controlling the position of the reflecting mirror by the electrostrictive element so that the light intensity signal detected by the photoelectric detector has a maximum value. Frequency stabilized semiconductor laser device.
【請求項3】レーザ光を出力する半導体レーザ(21)と、
この半導体レーザから出力されたレーザ光の出力路に介
挿され、前記レーザ光の一部を分岐する光分岐器(23)
と、この光分岐器にて分岐されたレーザ光を透過させる
サブドップラー分光による吸収線を利用した光学フィル
タ(31)と、この光学フィルタを透過したレーザ光を反射
する反射鏡(26a,26b))とを備え、この反射鏡で反射され
たレーザ光を前記半導体レーザへ帰還させて前記半導体
レーザから出力されるレーザ光の周波数を前記光学フィ
ルタの特性で定まる一定周波数および線幅にオプティカ
ルロックさせることを特徴とする周波数安定化半導体レ
ーザ装置。
3. A semiconductor laser (21) for outputting a laser beam,
An optical branching device (23) which is inserted in the output path of the laser light output from this semiconductor laser and branches a part of the laser light.
And an optical filter (31) that utilizes absorption lines by sub-Doppler spectroscopy that transmits the laser light branched by this optical branching device, and a reflecting mirror that reflects the laser light that has passed through this optical filter (26a, 26b) ) Is provided, the laser light reflected by the reflecting mirror is returned to the semiconductor laser, and the frequency of the laser light output from the semiconductor laser is optically locked to a constant frequency and a line width determined by the characteristics of the optical filter. A frequency-stabilized semiconductor laser device characterized by the above.
【請求項4】前記半導体レーザへ帰還するレーザ光の光
強度を検出する光電検出器と、前記反射鏡に装着され、
この反射鏡の光路方向位置を可変させる電歪素子と、前
記光電検出器にて検出された光強度信号が最大値になる
ように前記電歪素子によって前記反射鏡の位置を制御す
る位相制御器とを備えた請求項3記載の周波数安定化半
導体レーザ装置。
4. A photoelectric detector for detecting the light intensity of laser light returning to the semiconductor laser, and a reflector mounted on the reflecting mirror,
An electrostrictive element for varying the position of the reflecting mirror in the optical path and a phase controller for controlling the position of the reflecting mirror by the electrostrictive element so that the light intensity signal detected by the photoelectric detector has a maximum value. The frequency-stabilized semiconductor laser device according to claim 3, further comprising:
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