JPH05232512A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH05232512A
JPH05232512A JP3775592A JP3775592A JPH05232512A JP H05232512 A JPH05232512 A JP H05232512A JP 3775592 A JP3775592 A JP 3775592A JP 3775592 A JP3775592 A JP 3775592A JP H05232512 A JPH05232512 A JP H05232512A
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JP
Japan
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liquid crystal
gate
display device
crystal display
pixel electrode
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Application number
JP3775592A
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Japanese (ja)
Inventor
Ryuji Nishikawa
龍司 西川
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make electric charging characteristics uniform between an input side and a far end by making the channel size W/L of a switching element larger at the far end than on the gate signal input side. CONSTITUTION:Switching elements 1 are formed of TFTs, which have their drains connected to drain lines DL4, their gates connected to gate lines GL2, and their sources connected to picture element electrodes 20. The W/L of the switching elements 1 is small on the gate signal input side of the gate lines GL2 and large at the far ends. The switching elements 1 are therefore large in drain current at the far ends and reduced in ON resistance, so that the time constant that the switching elements 1 have becomes small. A delay time due to the line resistance of the gate lines GL2 is corrected with the time constant to make the electric charging characteristics uniform. Further, even when only the W or L is varied, the same operation is obtained eventually by varying the W/L.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置、特にゲー
ト信号の充電特性によるフリッカ−を抑制した液晶表示
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device in which flicker due to charge characteristics of gate signals is suppressed.

【0002】[0002]

【従来の技術】薄膜トランジスタ(TFT)を用いたア
クティブマトリックス方式の液晶表示装置は、ディスプ
レイとして携帯テレビ、ビデオモニター、液晶プロジェ
クタとして利用化されている。この技術動向を詳細に説
明したものとして、日経BP社が発行している「フラッ
トパネル・ディスプレイ 1991」がある。この中に
は、種々の構造の液晶表示装置が記載されているが、こ
こではTFTを用いたアクティブマトリックス液晶表示
装置を説明する。
2. Description of the Related Art An active matrix type liquid crystal display device using a thin film transistor (TFT) is used as a display for a portable television, a video monitor and a liquid crystal projector. As a detailed explanation of this technical trend, there is "Flat Panel Display 1991" issued by Nikkei BP. Although liquid crystal display devices having various structures are described therein, an active matrix liquid crystal display device using a TFT will be described here.

【0003】このアクティブ・マトリックス液晶表示装
置は、例えば図4の如き構成を有する。先ず透明な絶縁
性基板、例えばガラス基板(11)がある。このガラス
基板(11)上には、TFTの一構成要素となるゲート
(12)および補助容量電極(13)が、例えばMo−
Ta合金等より形成されている。更に全面にはSiNx
から成る膜(14)が積層されている。続いて前記ゲー
ト(12)に対応するSiNx膜(14)上には、ノン
ドープのアモルファス・シリコン膜(15)およびN+
型のアモルファス・シリコン膜(16)が積層され、こ
の2層のアモルファス・シリコン膜(15)(16)の
間には、半導体保護膜(17)が設けられている。続い
てN+型のアモルファス・シリコン膜(16)上には、
それぞれソース電極 (18)およびドレイン電極(1
9)が、例えばMoとAlの積層体で設けられている。
更には前記補助容量電極(13)に対応する前記SiN
x膜(14)上に、例えばITOより成る画素電極(2
0)が設けられ、前記ソース電極(18)と電気的に接
続されている。さらに全面に保護のため、SiNX
(21)をパッシベーションし、その上に配向膜(2
2)を付着している。
This active matrix liquid crystal display device has a structure as shown in FIG. 4, for example. First there is a transparent insulating substrate, for example a glass substrate (11). On the glass substrate (11), a gate (12) and an auxiliary capacitance electrode (13), which are constituent elements of the TFT, are formed on, for example, Mo-.
It is made of Ta alloy or the like. Furthermore, SiNx is formed on the entire surface.
A film (14) made of is laminated. Then, on the SiNx film (14) corresponding to the gate (12), a non-doped amorphous silicon film (15) and N +.
Type amorphous silicon films (16) are laminated, and a semiconductor protective film (17) is provided between the two layers of amorphous silicon films (15) and (16). Then, on the N + type amorphous silicon film (16),
Source electrode (18) and drain electrode (1
9) is provided as a laminated body of Mo and Al, for example.
Furthermore, the SiN corresponding to the auxiliary capacitance electrode (13)
On the x film (14), the pixel electrode (2
0) is provided and is electrically connected to the source electrode (18). Further, for protection of the entire surface, a SiN x film (21) is passivated and an alignment film (2
2) is attached.

【0004】前記ガラス基板(11)と対向して、別の
ガラス基板(23)が設けられ、このガラス基板(2
3)上に対向電極(25)が設けられている。TFTに
対向する部分に遮光膜(24)を設け、全面に共通の対
向電極(25)を形成し、その上に配向膜(26)を付
着する。そしてこの一対のガラス基板(11)(23)
間に液晶(27)が注入され、液晶表示装置と成る。
Another glass substrate (23) is provided so as to face the glass substrate (11).
3) A counter electrode (25) is provided on it. A light-shielding film (24) is provided in a portion facing the TFT, a common counter electrode (25) is formed on the entire surface, and an alignment film (26) is attached thereon. And this pair of glass substrates (11) (23)
Liquid crystal (27) is injected between them to form a liquid crystal display device.

【0005】かかる液晶表示装置の各画素は図5に示す
ように、行列状に配列されたドレインラインDLとゲー
トラインGLにTFTのドレインとゲートを接続してマ
トリックス状に配列されている。斜線を付した液晶容量
LCは画素電極(20)と対向電極(25)間で形成さ
れ、斜線のない補助容量CSCは画素電極(20)と補助
容量電極(13)間で形成され、寄生容量CGSはゲ−ト
(12)とソ−ス電極(18)間で形成されている。
As shown in FIG. 5, each pixel of the liquid crystal display device is arranged in a matrix by connecting the drain and gate of the TFT to the drain line DL and the gate line GL arranged in a matrix. The shaded liquid crystal capacitance C LC is formed between the pixel electrode (20) and the counter electrode (25), and the non-hatched auxiliary capacitance C SC is formed between the pixel electrode (20) and the auxiliary capacitance electrode (13). The parasitic capacitance C GS is formed between the gate (12) and the source electrode (18).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】かかる液晶表示装置で
は、1本のゲートラインGLに多数の画素が接続されて
表示を行うので、ゲートラインGLから供給されるゲー
ト信号が入力側と遠端では、充電特性により輝度傾斜や
部分的フリッカ−を生じる問題点があった。具体的に
は、液晶パネルの大型化が進むと、ゲ−トラインGLが
長くなり、そのライン抵抗が遠端では大きくなる。この
ために図6に示すように、実線で示すパルス形状のゲ−
ト信号はその入力側ではシャ−プな形となっています
が、ゲ−トラインGLの遠端ではその抵抗と容量成分に
よりその波形が減衰されてしまう。即ち、点線で示すよ
うに遠端の画素電極では十分な充電を行えない。この結
果、例えばノーマリホワイトのとき、ゲートラインGL
の入力側では画素が黒であったものが、端部では同じ黒
の信号でも灰色がかってしまう。
In such a liquid crystal display device, since a large number of pixels are connected to one gate line GL for display, the gate signal supplied from the gate line GL is at the input side and the far end. However, there is a problem that a brightness gradient and a partial flicker occur depending on the charging characteristics. Specifically, as the liquid crystal panel becomes larger, the gate line GL becomes longer and the line resistance becomes larger at the far end. Therefore, as shown in FIG. 6, the pulse-shaped gate shown by the solid line is used.
The input signal has a sharp shape on its input side, but its waveform is attenuated by its resistance and capacitance components at the far end of the gate line GL. That is, as shown by the dotted line, the far end pixel electrode cannot be sufficiently charged. As a result, for example, in the case of normally white, the gate line GL
Although the pixel is black on the input side of, the same black signal is grayed at the end.

【0007】また、カップリングダウン電位 ΔVは、The coupling down potential ΔV is

【0008】[0008]

【数1】 [Equation 1]

【0009】で与えられる。前述したように、ゲ−ト信
号の減衰が遠端ほど大きくなるため、ゲ−ト信号の電圧
振幅値 ΔVGがゲ−トラインGLの入力側より遠端で
は小さくなるので、ΔVは数1より明らかなように入力
側と遠端でその値が変化する。その結果、図5に示す最
適な対向電極電位が入力側と遠端とで一致せず、部分的
フリッカ−が生じる。
Is given by As described above, since the attenuation of the gate signal becomes larger at the far end, the voltage amplitude value ΔV G of the gate signal becomes smaller at the far end than the input side of the gate line GL, therefore ΔV is given by Obviously, the value changes at the input side and the far end. As a result, the optimum counter electrode potentials shown in FIG. 5 do not match on the input side and the far end, resulting in partial flicker.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は斯る諸々の問題
点に鑑みてなされ、スイッチング素子のW/L、Wある
いはLの大きさをゲ−ト信号の入力側と遠端で変えるこ
とにより、充電特性を大幅に改善した液晶表示装置を実
現するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of these problems, and changes the size of W / L, W or L of a switching element between the gate signal input side and the far end. Thus, a liquid crystal display device having significantly improved charging characteristics is realized.

【0011】[0011]

【作用】本発明によれば、スイッチング素子のW/Lの
大きさをゲ−トラインGLの入力側で小さくし、遠端で
大きくする。これによりスイッチング素子は遠端でドレ
イン電流が大きくなり、オン抵抗が減少し、スイッチン
グ素子の持つ時定数が小さくなる。この時定数でゲ−ト
ラインGLのライン抵抗に起因する遅延時間を補正する
ことにより、充電特性を揃えることができる。
According to the present invention, the size of W / L of the switching element is reduced on the input side of the gate line GL and increased at the far end. As a result, the drain current of the switching element increases at the far end, the on-resistance decreases, and the time constant of the switching element decreases. By correcting the delay time due to the line resistance of the gate line GL with this time constant, the charging characteristics can be made uniform.

【0012】WまたはLのみを変える場合も結果的にW
/Lを変えることになり、同じ動作をする。
Even if only W or L is changed, the result is W
/ L is changed, and the same operation is performed.

【0013】[0013]

【実施例】以下に本発明の実施例を図1〜図3を参照し
て説明する。図1は、本発明の液晶表示装置の等価回路
図である。ゲートラインGLは横軸方向に多数本配列さ
れ、ドレインラインDLはゲ−トラインGLに直交する
ように多数本配列されている。従って、ゲートラインG
LとドレインラインDLとは絶縁されて行列状、あるい
は格子状に配列され、その間に形成された正方形状の空
間に1画素が形成されている。1画素には、スイッチン
グ素子(1)および画素電極(20)が形成されてい
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is an equivalent circuit diagram of the liquid crystal display device of the present invention. A large number of gate lines GL are arranged in the horizontal axis direction, and a large number of drain lines DL are arranged so as to be orthogonal to the gate lines GL. Therefore, the gate line G
The L and the drain line DL are insulated and arranged in a matrix or a lattice, and one pixel is formed in a square space formed therebetween. A switching element (1) and a pixel electrode (20) are formed in one pixel.

【0014】スイッチング素子(1)はTFTで形成さ
れ、ドレインをドレインラインDLに接続され、ゲート
をゲートラインGLに接続され、ソースを画素電極(2
0)に接続されている。斜線を付した液晶容量CLCは画
素電極(20)と対向電極(25)間で形成され、斜線
のない補助容量CSCは画素電極(20)と補助容量電極
(13)間で形成されている。また寄生容量CGSはスイ
ッチング素子(1)のゲ−トとソ−ス間で形成されてい
る。
The switching element (1) is formed of a TFT, the drain is connected to the drain line DL, the gate is connected to the gate line GL, and the source is connected to the pixel electrode (2).
0). The shaded liquid crystal capacitor C LC is formed between the pixel electrode (20) and the counter electrode (25), and the non-hatched auxiliary capacitor C SC is formed between the pixel electrode (20) and the auxiliary capacitor electrode (13). There is. The parasitic capacitance C GS is formed between the gate and the source of the switching element (1).

【0015】本発明の特徴とする点はスイッチング素子
(1)のチャンネル寸法W/Lにあります。すなわち、
ゲ−トラインGLのゲ−ト信号の入力側のスイッチング
素子(1)のW/Lは小さく形成し、遠端のスイッチン
グ素子(1)のW/Lは大きく形成している。図1で
は、この関係をスイッチング素子(1)の大きさで表現
している。なお寄生容量CGSもスイッチング素子(1)
のW/Lの寸法により変わり、W/Lが大きくなると寄
生容量CGSも大きくなり、CGSA<CGSB<CGSCと遠端
に行くに従って大きくなる。
The feature of the present invention lies in the channel dimension W / L of the switching element (1). That is,
The W / L of the switching element (1) on the gate signal input side of the gate line GL is made small, and the W / L of the far end switching element (1) is made large. In FIG. 1, this relationship is represented by the size of the switching element (1). The parasitic capacitance C GS is also a switching element (1)
The parasitic capacitance C GS also increases with an increase in W / L, which increases with increasing distance from the distant end to C GSA <C GSB <C GSC .

【0016】次に図2を参照して、具体的に液晶表示装
置の構造について説明する。断面構造は図4に示す従来
のものと同一であるので、ここでは図4の符号を用いて
平面構造を説明する。ガラス基板上には斜線を付したゲ
ートラインGL(2)を多数本、横軸方向に平行に設
け、ゲートラインGL(2)に沿って補助容量ライン
(3)とそれに接続された補助容量電極(13)を平行
に設けている。ゲートラインGL(3)および補助容量
電極(13)は、Mo−Ta合金等の蒸着で形成され、
その表面を陽極酸化膜(28)で被覆している。
Next, the structure of the liquid crystal display device will be specifically described with reference to FIG. Since the cross-sectional structure is the same as the conventional one shown in FIG. 4, the planar structure will be described here using the reference numerals of FIG. A large number of hatched gate lines GL (2) are provided on the glass substrate in parallel with the horizontal axis direction, and the auxiliary capacitance line (3) and the auxiliary capacitance electrode connected thereto are provided along the gate line GL (2). (13) are provided in parallel. The gate line GL (3) and the auxiliary capacitance electrode (13) are formed by vapor deposition of Mo-Ta alloy or the like,
The surface is covered with an anodic oxide film (28).

【0017】この上を全面にSiNXからなる絶縁膜
(14)で覆う。この絶縁膜(14)上にアモルファス
・シリコン膜(15)およびN+型のアモルファス・シ
リコン膜(16)を積層する。その後、両アモルファス
・シリコン膜(15)(16)をエッチングして、チャ
ンネル領域を形成するアモルファス・シリコン膜(1
5)を残し、そのチャンネル領域上には半導体保護膜
(17)を設け、N+型のアモルファス・シリコン膜
(16)を半導体保護膜(17)上で離間して、ソース
領域(5)およびドレイン領域(6)を形成する。ソー
ス領域(5)およびドレイン領域(6)上には、MO
Alの積層構造のソース電極(18 )とドレイン電極
(19)が形成されている。絶縁膜(14)の残余部分
にはITOよりなる画素電極(20)が設けられ、ソー
ス電極(18)によりソース領域(5)と接続されてい
る。なおドレインラインDL(4)はドレイン電極(1
9)を形成するときに同時に形成され、ゲートラインG
L(2)と直交するように配列されている。またゲート
ラインGL(2)はスイッチング素子(1)のゲートを
構成するように突出してそれぞれのチャンネル領域下に
延在されている。
The entire surface is covered with an insulating film (14) made of SiN x . An amorphous silicon film (15) and an N + type amorphous silicon film (16) are laminated on the insulating film (14). Then, both amorphous silicon films (15) and (16) are etched to form the amorphous silicon film (1
5) is left, a semiconductor protective film (17) is provided on the channel region, and the N + -type amorphous silicon film (16) is separated on the semiconductor protective film (17) to form the source region (5) and A drain region (6) is formed. On the source region (5) and the drain region (6), a source electrode (18) and a drain electrode (19) having a laminated structure of M O and Al are formed. A pixel electrode (20) made of ITO is provided on the remaining portion of the insulating film (14) and is connected to the source region (5) by a source electrode (18). The drain line DL (4) is connected to the drain electrode (1
9) is formed at the same time when the gate line G is formed.
It is arranged so as to be orthogonal to L (2). Further, the gate line GL (2) projects so as to form the gate of the switching element (1) and extends under each channel region.

【0018】さらに補助容量電極(13)は補助容量ラ
イン(3)から画素電極(20)の下に延在され、その
大きさはゲ−ト信号の入力側と遠端とで同じ大きさに形
成している。スイッチング素子(1)は図2の上段に示
すように、ゲ−ト信号の入力側からチャンネル幅Wは漸
増し、チャンネル長Lは漸減している。この結果、W/
Lは遠端に行くほど漸増している。具体的には、ゲ−ト
ラインGLのディレイを入力側で1μsec、遠端で5
μsecとすれば、入力側ではW/Lを4.2とし、遠
端では7.2に設計している。
Further, the auxiliary capacitance electrode (13) extends from the auxiliary capacitance line (3) to below the pixel electrode (20), and its size is the same on the gate signal input side and the far end. Is forming. As shown in the upper part of FIG. 2, the switching element (1) has the channel width W gradually increasing and the channel length L gradually decreasing from the gate signal input side. As a result, W /
L gradually increases toward the far end. Specifically, the delay of the gate line GL is 1 μsec at the input side and 5 at the far end.
If it is μsec, W / L is designed to be 4.2 on the input side and 7.2 at the far end.

【0019】また図2の下段に示すように、チャンネル
長Lを一定にしてチャンネル幅Wを漸増する方法もあ
る。さらに図示しないが、チャンネル幅Wを一定にして
チャンネル長Lを遠端に行くに従って漸減する方法もあ
る。いずれの方法も結果的にはW/Lを遠端に行くに従
って増加させることになる。
There is also a method of gradually increasing the channel width W while keeping the channel length L constant, as shown in the lower part of FIG. Although not shown, there is also a method in which the channel width W is kept constant and the channel length L is gradually reduced toward the far end. Both methods result in W / L increasing toward the far end.

【0020】続いて本発明の動作原理について図3を参
照して説明する。液晶容量CLCと補助容量CSCは各画素
とも同一として、両容量の和を1.2PFとすると、ゲ
−トラインGLのデレイ時間は、ゲ−トラインGLの入
力側では1μsecであり、遠端では5μsecとなり
ます。一方、スイッチング素子(1)であるTFT型M
OSFETにおいて、ドレイン電流 IDは以下の式で
表される。
Next, the operating principle of the present invention will be described with reference to FIG. If the liquid crystal capacitance C LC and the auxiliary capacitance C SC are the same for each pixel and the sum of both capacitances is 1.2 PF, the delay time of the gate line GL is 1 μsec on the input side of the gate line GL, and the far end Then it will be 5 μsec. On the other hand, a TFT type M that is a switching element (1)
In the OSFET, the drain current ID is represented by the following formula.

【0021】[0021]

【数2】 [Equation 2]

【0022】これからドレイン電流IDは、W/Lによ
り変化し、W/Lを選ぶことによりスイッチング素子
(1)のオン抵抗を制御できる。従って、このオン抵抗
と液晶容量CLCと補助容量CSCの和で決まる時定数に相
当するCLC+CSC/βがW/Lで選択でき、W/Lに対
応したゲ−トディレイタイムを選択できる。図3は上述
した条件下で入力側と遠端で同一の充電特性を示す場合
の関係を示した特性図であり、ゲ−ト信号の入力側でW
/Lを4.2に設計し、遠端でW/Lを7.2に設計す
れば、ゲ−トラインGLの遅延時間を補正できる。
From this, the drain current I D changes depending on W / L, and the ON resistance of the switching element (1) can be controlled by selecting W / L. Therefore, C LC + C SC / β corresponding to the time constant determined by the sum of the ON resistance, the liquid crystal capacitance C LC and the auxiliary capacitance C SC can be selected by W / L, and the gate delay time corresponding to W / L can be selected. You can choose. FIG. 3 is a characteristic diagram showing the relationship in the case where the same charging characteristics are shown on the input side and the far end under the above-mentioned conditions.
If / L is designed to be 4.2 and W / L is designed to be 7.2 at the far end, the delay time of the gate line GL can be corrected.

【0023】さらに具体的に説明すると、W/Lが4.
2の場合図3からゲ−トディレイタイムは1μsecで
あり、ゲート信号が立ち下がってから1μsec後にス
イッチング素子(1)がOFFすることが分かる。一
方、W/Lが7.2に設計されれば、図3からゲ−トデ
ィレイタイムは5μsecであり、ゲ−ト信号が立ち下
がっても5μsecの間はスイッチング素子(1)はO
Nの状態を保持し、十分な充電を行えるのである。これ
によりゲ−トラインGLの遅延時間を補正できる。
More specifically, the W / L is 4.
In the case of No. 2, it can be seen from FIG. 3 that the gate delay time is 1 μsec and the switching element (1) is turned off 1 μsec after the gate signal falls. On the other hand, if the W / L is designed to be 7.2, the gate delay time is 5 μsec as shown in FIG. 3, and even if the gate signal falls, the switching element (1) is turned off for 5 μsec.
The N state can be maintained and sufficient charging can be performed. Thereby, the delay time of the gate line GL can be corrected.

【0024】またカップリングダウン電位ΔVについて
も本発明で改善できる。入力側のスイッチング素子
(1)のW/Lを小さくすることにより、ΔVGはゲ−
トディレイタイムにより減衰される。この結果、ゲ−ト
ラインGLのライン抵抗で減衰される遠端のΔVGとの
差が小さくなる。さらに寄生容量CGSもW/Lを小さく
することにより小さくなり、カップリングダウン電位Δ
Vは小さくなるように働く。一方、遠端側ではΔVG
ゲ−トラインGLのライン抵抗により小さくなるが、W
/Lを大きく形成することにより寄生容量CGSは大きく
なり、カップリングダウン電位ΔVは大きくなるように
働く。この結果カップリングダウン電位ΔVはゲ−ト信
号の入力側と遠端とで均等化できる。
The coupling down potential ΔV can also be improved by the present invention. By reducing the W / L of the switching element (1) on the input side, ΔV G becomes
It is attenuated by the delay time. As a result, the difference from ΔV G at the far end, which is attenuated by the line resistance of the gate line GL, becomes small. Further, the parasitic capacitance C GS is also reduced by reducing W / L, and the coupling down potential Δ
V works so as to become small. On the other hand, on the far end side, ΔV G becomes smaller due to the line resistance of the gate line GL, but
By making / L large, the parasitic capacitance C GS becomes large and the coupling down potential ΔV becomes large. As a result, the coupling-down potential ΔV can be equalized between the gate signal input side and the far end.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明によれば、スイッチング素子
(1)のW/Lをゲ−ト信号の入力側より遠端を大きく
形成することにより、ゲ−トディレイタイムを利用して
ゲ−トラインGLのディレイを補償できるので、入力側
と遠端での充電特性を揃えることができる。
According to the present invention, the gate line is formed by utilizing the gate delay time by forming the W / L of the switching element (1) at the far end larger than the gate signal input side. Since the GL delay can be compensated, the charging characteristics on the input side and the far end can be made uniform.

【0026】また本発明によれば、スイッチング素子
(1)のW/Lを遠端で大きくすることにより、遠端で
の寄生容量CGSを大きくでき、カップリングダウン電位
ΔVを均一にできる。この結果、大型液晶表示装置でも
輝度傾斜、部分的フリッカ−を抑制でき、均一な表示を
得られる。
Further, according to the present invention, by increasing the W / L of the switching element (1) at the far end, the parasitic capacitance C GS at the far end can be increased and the coupling down potential ΔV can be made uniform. As a result, even a large-sized liquid crystal display device can suppress the brightness inclination and partial flicker, and can obtain a uniform display.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に依る液晶表示装置の等価回路図を説明
する回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram illustrating an equivalent circuit diagram of a liquid crystal display device according to the present invention.

【図2】本発明に依る液晶表示装置の画素の構造を説明
する平面図である。
FIG. 2 is a plan view illustrating a pixel structure of a liquid crystal display device according to the present invention.

【図3】本発明に依る液晶表示装置の動作原理を説明す
る特性図である。
FIG. 3 is a characteristic diagram illustrating an operation principle of the liquid crystal display device according to the present invention.

【図4】従来の液晶表示装置を説明する断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a conventional liquid crystal display device.

【図5】従来の液晶表示装置の等価回路図を説明する回
路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram illustrating an equivalent circuit diagram of a conventional liquid crystal display device.

【図6】従来の液晶表示装置の動作原理を説明する波形
図である。
FIG. 6 is a waveform diagram illustrating the operation principle of a conventional liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スイッチング素子 2 ゲートラインGL 3 補助容量ライン 4 ドレインラインDL 5 ソース領域 6 ドレイン領域 11 ガラス基板 12 ゲート 13 補助容量電極 14 絶縁膜 15 アモルファス・シリコン膜 16 N+型のアモルファス・シリコン膜 17 半導体保護膜 18、19 ソ−ス電極、ドレイン電極 20 画素電極 27 液晶1 Switching Element 2 Gate Line GL 3 Auxiliary Capacitance Line 4 Drain Line DL 5 Source Region 6 Drain Region 11 Glass Substrate 12 Gate 13 Auxiliary Capacitance Electrode 14 Insulating Film 15 Amorphous Silicon Film 16 N + Type Amorphous Silicon Film 17 Semiconductor Protection Films 18 and 19 Source electrode, drain electrode 20 Pixel electrode 27 Liquid crystal

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 行列状に配列されたドレインラインとゲ
ートラインと、両ライン間にマトリックス状に配列され
た画素電極と、前記画素電極下に延在された補助容量電
極と、前記ドレインラインにドレインを前記ゲートライ
ンにゲートを前記画素電極にソースを接続したスイッチ
ング素子と、前記画素電極と対向電極の間に設けた液晶
材料とを具備した液晶表示装置において、前記スイッチ
ング素子のW/Lをゲ−ト信号の入力側より遠端の大き
さを大きく形成することを特徴とする液晶表示装置。
1. A drain line and a gate line arranged in a matrix, a pixel electrode arranged in a matrix between both lines, an auxiliary capacitance electrode extending under the pixel electrode, and the drain line. In a liquid crystal display device comprising a switching element in which a drain is connected to the gate line and a gate is connected to the pixel electrode in the source, and a liquid crystal material provided between the pixel electrode and a counter electrode, W / L of the switching element is A liquid crystal display device, characterized in that the size at the far end is formed larger than that at the gate signal input side.
【請求項2】 行列状に配列されたドレインラインとゲ
ートラインと、両ライン間にマトリックス状に配列され
た画素電極と、前記画素電極下に延在された補助容量電
極と、前記ドレインラインにドレインを前記ゲートライ
ンにゲートを前記画素電極にソースを接続したスイッチ
ング素子と、前記画素電極と対向電極の間に設けた液晶
材料とを具備した液晶表示装置において、前記スイッチ
ング素子のWをゲ−ト信号の入力側より遠端の大きさを
大きく形成することを特徴とする液晶表示装置。
2. A drain line and a gate line arranged in a matrix, a pixel electrode arranged in a matrix between both lines, an auxiliary capacitance electrode extending under the pixel electrode, and the drain line. In a liquid crystal display device comprising a switching element in which a drain is connected to the gate line and a gate is connected to the pixel electrode in the source, and a liquid crystal material provided between the pixel electrode and a counter electrode, W of the switching element is gated. A liquid crystal display device, characterized in that the size at the far end is formed to be larger than that at the input side of the signal.
【請求項3】 行列状に配列されたドレインラインとゲ
ートラインと、両ライン間にマトリックス状に配列され
た画素電極と、前記画素電極下に延在された補助容量電
極と、前記ドレインラインにドレインを前記ゲートライ
ンにゲートを前記画素電極にソースを接続したスイッチ
ング素子と、前記画素電極と対向電極の間に設けた液晶
材料とを具備した液晶表示装置において、前記スイッチ
ング素子のLをゲ−ト信号の入力側より遠端の大きさを
小さく形成することを特徴とする液晶表示装置。
3. A drain line and a gate line arranged in a matrix, a pixel electrode arranged in a matrix between both lines, an auxiliary capacitance electrode extending under the pixel electrode, and the drain line. In a liquid crystal display device comprising a switching element in which a drain is connected to the gate line and a gate is connected to the pixel electrode in the source, and a liquid crystal material provided between the pixel electrode and a counter electrode, L of the switching element is gated. A liquid crystal display device characterized in that the size of the far end is smaller than that of the input side of the signal.
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