JPH04291084A - Memory control system - Google Patents

Memory control system

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JPH04291084A
JPH04291084A JP3056459A JP5645991A JPH04291084A JP H04291084 A JPH04291084 A JP H04291084A JP 3056459 A JP3056459 A JP 3056459A JP 5645991 A JP5645991 A JP 5645991A JP H04291084 A JPH04291084 A JP H04291084A
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burst
memory control
circuit
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Hitoshi Kawaguchi
仁 川口
Tetsuya Mochida
哲也 持田
Ichiji Kobayashi
一司 小林
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Abstract

PURPOSE:To simplify an error correction processing by interrupting the transmission of a processing end signal and conducting the correction processing after the completion of reading when the error is detected at the time of burst reading out of a memory. CONSTITUTION:When a burst reading actuation signal is given to a memory control circuit, the burst reading state is brought about and at the same time, a page mode sequencer circuit 4 is actuated. The following operation is directed by an internal actuation/end signal generation circuit based on any of three error discrimination result signals...NOERR (no error), ERR123 (the occurrence of an error which can be corrected with a first to third long words), and ERR4 (the occurrence of an error which can be corrected with a fourth long word)...given by an external error detection circuit corresponding to the operation of the memory control circuit. In the case of NOERR, the burst reading state is completed and an idling state shall be brought about; in the case of, ERR123 or ERR4, a writing access sequence circuit 5 is actuated and the error correction is made.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、エラー検出、訂正機能
を有するメモリシステムに関し、パーソナルコンピュー
タ、ワークステーション等の小型コンピュータシステム
において、特に高速性を要求されるメインメモリシステ
ムに採用して有効なメモリ制御方式に関する。
[Field of Industrial Application] The present invention relates to a memory system having error detection and correction functions, and is particularly applicable to main memory systems that require high speed in small computer systems such as personal computers and workstations. Regarding memory control methods.

【0002】0002

【従来の技術】メモリ内容のエラー検出、訂正機能を有
するメモリシステムにおいて、読みだしサイクル時間を
短縮する従来のメモリ制御技術に関する公知例としては
、特公昭57−46158号公報に記載の発明等が挙げ
られる。また従来、バースト読みだしの実現手段として
メモリの高速アクセスモードを利用しない、または高速
アクセスモードをエラー発生時点で打ち切る、あるいは
高速アクセスモードを利用していても各データ毎にエラ
ー検出、訂正を行えるようタイミングに余裕を持たせる
等のエラー訂正の便を図る方法をとっている。
2. Description of the Related Art In a memory system having memory content error detection and correction functions, the invention described in Japanese Patent Publication No. 57-46158 is a known example of a conventional memory control technique for shortening read cycle time. Can be mentioned. Conventionally, as a means of realizing burst reading, the high-speed access mode of the memory is not used, or the high-speed access mode is terminated at the point of error occurrence, or even when the high-speed access mode is used, errors can be detected and corrected for each data item. We take measures to facilitate error correction, such as allowing some margin in the timing.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】従来の方式では、バー
スト読みだしに適用すると、エラーの検出、訂正を各デ
ータ毎に処理するため、現データのエラー判定結果が分
かるまで次のデータに対する読みだし処理を開始するこ
とができず、メモリ素子のもつ高速アクセスモードを有
効に利用できない。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional method, when applied to burst reading, error detection and correction are processed for each data item, so reading of the next data is continued until the error determination result of the current data is known. Processing cannot be started, and the high-speed access mode of the memory element cannot be effectively utilized.

【0004】本発明の目的は、エラー訂正機能を有する
メモリシステムにおいて、メモリ素子のもつ高速アクセ
スモードを有効に利用し、高速なバースト読みだしを行
えるメモリ制御方式を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a memory control method that can effectively utilize the high-speed access mode of a memory element and perform high-speed burst reading in a memory system having an error correction function.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は高速アクセスモードを利用したメモリのバ
ースト読みだし時に訂正可能なエラーが検出された場合
、処理終了信号の送出を中断し、規定データ分のバース
ト読みだし処理の終了後にその訂正処理を行ない処理終
了信号の送出を再開する様にすることで、各データ毎に
エラーの検出、訂正を行う従来の方式に比べて実現回路
が簡易で、かつ高速なバースト読みだしを行えるように
するものである。本発明によれば、現データに対するエ
ラー検出の結果を待つことなく次データの読みだしを開
始することが可能なため、メモリ素子の高速アクセスモ
ードに最適化した高速なバースト読みだしシーケンスを
一つの構成単位として起動するメモリ制御回路を設計す
ることが可能となる。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention interrupts sending of a processing end signal when a correctable error is detected during burst reading of a memory using a high-speed access mode. By performing correction processing after completing burst read processing for a specified amount of data and restarting transmission of the processing end signal, the circuit realized is more efficient than the conventional method that detects and corrects errors for each data item. This makes it possible to perform simple and high-speed burst reading. According to the present invention, it is possible to start reading the next data without waiting for the result of error detection for the current data, so a high-speed burst read sequence optimized for the high-speed access mode of the memory element can be performed in one. It becomes possible to design memory control circuits that operate as building blocks.

【0006】[0006]

【作用】本発明の着眼点は、発生確率の低いエラーの訂
正を規定データ分のバースト読みだし終了後の処理とし
、正常動作、即ちエラーが発生しない場合の処理を最適
化し、メモリシステムの性能向上を実現することにある
。メモリシステムとしてのエラ−検出/訂正機能を損な
うことなく、エラ−検出/訂正と、次デ−タ読みだしの
並行動作を実現する手段を提供することにより、メモリ
素子の高速アクセスモードを活かすことを可能にしてい
る。本発明を適用したメモリシステムでは、実現手段や
エラーの発生確率にも依存するが、訂正可能なエラーが
発生した場合のバースト読みだしに要する時間は必ずし
も従来方式よりも短縮されるとは限らない。しかし、実
際には訂正可能なエラーが定常的に発生する確率は極め
て低く、メモリシステム全体の性能は向上する。特に、
メモリ素子の高速アクセスモードを利用する場合、エラ
−検出/訂正と、次デ−タの読みだしを並行動作させる
ことにより大きな効果を得ることが可能である。
[Operation] The focus of the present invention is to correct errors with a low probability of occurrence by processing them after burst reading of a specified amount of data is completed, optimizing the processing for normal operation, that is, when no errors occur, and improving the performance of the memory system. The aim is to achieve improvement. By providing a means for realizing parallel operations of error detection/correction and next data read without impairing the error detection/correction functions of the memory system, the high-speed access mode of memory elements can be utilized. is possible. In a memory system to which the present invention is applied, the time required for burst reading when a correctable error occurs is not necessarily shorter than in the conventional method, although it depends on the implementation method and the probability of error occurrence. . However, in reality, the probability that correctable errors will regularly occur is extremely low, and the performance of the entire memory system is improved. especially,
When using the high-speed access mode of the memory element, great effects can be obtained by performing error detection/correction and reading next data in parallel.

【0007】[0007]

【実施例】図1に本発明が適用されるメモリ制御回路の
、コンピュータシステムにおける位置付けを示す。この
メモリ制御回路はプロセッサバスの信号に基づくメモリ
アクセス要求信号により動作を開始しメモリ素子へアド
レス、制御信号、及びプロセッサバスへのアクセス完了
信号を生成する。プロセッサバスとメモリ素子間のデー
タパスにはエラー検出/訂正回路が設けられ、メモリ読
みだしでエラーが発生した場合にはその情報がメモリ制
御回路へ送られる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows the positioning of a memory control circuit to which the present invention is applied in a computer system. This memory control circuit starts operating in response to a memory access request signal based on a signal on the processor bus, and generates an address for the memory element, a control signal, and an access completion signal to the processor bus. An error detection/correction circuit is provided in the data path between the processor bus and the memory element, and when an error occurs during memory reading, the information is sent to the memory control circuit.

【0008】図2に本発明が適用されたメモリ制御回路
のブロック図を、図2に状態遷移図を示す。ここではバ
ーストリードの規定データ数は4ロングワード、1ロン
グワードは4バイト、1ワードは2バイトとする。1ロ
ングワードのリード/ライトはそれぞれ1回のリード/
ライトアクセスで、1ワ−ドおよび1バイトのライトは
共に1回のリードモディファイライトアクセスで、バー
ストリードおよびバーストライトはそれぞれ使用するメ
モリ素子の高速アクセスモードであるページモードリー
ド/ライトアクセスで実現している。
FIG. 2 shows a block diagram of a memory control circuit to which the present invention is applied, and FIG. 2 shows a state transition diagram. Here, the specified number of burst read data is 4 long words, 1 long word is 4 bytes, and 1 word is 2 bytes. One long word read/write is one read/write each.
For write access, 1 word and 1 byte writes are both achieved by one read-modify-write access, and burst reads and burst writes are achieved by page mode read/write access, which is a high-speed access mode of the memory element used. ing.

【0009】このメモリ制御回路はアイドル状態から、
外部からは6種の起動信号に対応して6種の状態に遷移
するものとして扱われるが、内部的にはエラー訂正の有
無に応じて8種の状態に遷移するもので、6個の状態保
持回路1、6個のシーケンサ回路2、及びエラー訂正時
の内部起動/終了信号生成回路3から構成されている。
[0009] This memory control circuit starts from an idle state.
From the outside, it is treated as transitioning to six types of states in response to six types of activation signals, but internally it is treated as transitioning to eight types of states depending on the presence or absence of error correction, and there are six states. It consists of a holding circuit 1, six sequencer circuits 2, and an internal start/end signal generation circuit 3 during error correction.

【0010】このメモリ制御回路にバーストリード起動
信号が与えられると、バーストリード状態に遷移すると
同時にページモードリードシーケンサ回路4が起動され
る。メモリ制御回路の動作に従って外部のエラー検出回
路から与えられる3種類のエラー判定結果信号NOER
R(エラー無し)、ERR123(第1から第3ロング
ワードで訂正可能エラー発生)、及びERR4(第4ロ
ングワードで訂正可能エラー発生)に基づき内部起動/
終了信号生成回路3が次の動作を指示する。NOERR
(エラー無し)の場合はバーストリード状態を終了し、
アイドル状態へ遷移し、ERR123(第1から第3ロ
ングワードで訂正可能エラー発生)、及びERR4(第
4ロングワードで訂正可能エラー発生)の場合はライト
アクセスシーケンサ回路5を起動しエラー訂正を行う。 ERR123(第1から第3ロングワードで訂正可能エ
ラー発生)の場合はライトアクセス終了後ページモード
リードシーケンサ回路4を再起動し、ERR4(第4ロ
ングワードで訂正可能エラー発生)の場合はライトアク
セス終了後バーストリード状態を終了し、アイドル状態
へ遷移する。訂正不可能なエラーが発生した場合は内部
起動信号は発生せず、処理終了信号と同時に訂正不可能
エラーの発生を知らせる信号を送出し、アイドル状態へ
遷移する。このように、エラーに対する処理は、簡単な
組合せ回路で実現された内部起動/終了信号生成回路3
により、メモリ制御回路が自動的に行うため、プロセッ
サは訂正可能エラーの有無を考慮する必要がない。
When a burst read activation signal is applied to this memory control circuit, the page mode read sequencer circuit 4 is activated simultaneously with the transition to the burst read state. Three types of error judgment result signals NOER are given from an external error detection circuit according to the operation of the memory control circuit.
Internal activation based on R (no error), ERR123 (correctable error occurred in the 1st to 3rd long word), and ERR4 (correctable error occurred in the 4th long word)
The end signal generation circuit 3 instructs the next operation. NOERR
(No error), exit the burst read state and
Transition to the idle state, and in the case of ERR123 (a correctable error occurs in the first to third long words) and ERR4 (a correctable error occurs in the fourth long word), the write access sequencer circuit 5 is activated and error correction is performed. . If ERR123 (a correctable error occurs in the first to third long words), the page mode read sequencer circuit 4 is restarted after the write access is completed, and if ERR4 (a correctable error occurs in the fourth long word), the write access is restarted. After completion, the burst read state ends and transitions to the idle state. If an uncorrectable error occurs, no internal activation signal is generated, and a signal indicating the occurrence of an uncorrectable error is sent out simultaneously with the processing end signal, and the system transitions to an idle state. In this way, error processing is performed by the internal start/stop signal generation circuit 3, which is realized by a simple combinational circuit.
Since the memory control circuit automatically performs this, the processor does not need to consider the presence or absence of a correctable error.

【0011】以上に述べたように、このメモリ制御回路
では簡単な組合せ回路による内部起動/終了信号生成回
路3を付加し、最適化したページモードリードシーケン
サ回路4と、ライトアクセスシーケンサ回路5との組合
せにより、エラー訂正可能なバーストリードを実現して
いる。
As described above, in this memory control circuit, an internal start/end signal generation circuit 3 is added using a simple combinational circuit, and an optimized page mode read sequencer circuit 4 and write access sequencer circuit 5 are integrated. The combination realizes error-correctable burst read.

【0012】図4(a)に、このメモリ制御回路のバー
ストリードタイミングを示す。各ロングワード毎のエラ
ー判定結果を待たずに次の読みだし処理を開始しており
、メモリ素子のページモードリードを有効に利用してい
る。従来の方式では、図4(b)に示すように各ロング
ワード毎にエラー判定結果が分かるまで次の読みだし処
理を開始することができず、ページモードリードを有効
に利用できない。
FIG. 4(a) shows the burst read timing of this memory control circuit. The next read process is started without waiting for the error determination result for each long word, making effective use of the page mode read of the memory element. In the conventional method, as shown in FIG. 4B, the next read process cannot be started until the error determination result is known for each long word, and page mode read cannot be used effectively.

【0013】図4において、第4ロングワ−ドに対する
応答信号が得られるまでに要する時間は、本発明ではT
(a)=4(読みだし時間)+(エラ−検出時間)であ
り、従来の方式では T(b)=4(読みだし時間)+4(エラ−検出時間)
となる。ここで、(読みだし時間)=90ns、4(エ
ラ−検出時間)=60nsとすると、T(a)=420
ns、T(b)=600nsとなり、本発明では約2/
3の時間でバ−スト読みだしが終了している。
In FIG. 4, the time required to obtain a response signal for the fourth long word is T in the present invention.
(a) = 4 (reading time) + (error detection time), and in the conventional method, T(b) = 4 (reading time) + 4 (error detection time)
becomes. Here, if (reading time) = 90ns and 4 (error detection time) = 60ns, T(a) = 420
ns, T(b) = 600ns, and in the present invention, approximately 2/
The burst reading is completed at time 3.

【0014】図5に、このメモリ制御回路のエラー発生
時のバーストリードタイミングを示す。従来の方式では
、図6に示すように、ページモードリ−ドを中断せずに
エラーが発生したロングワードに対する訂正書き込み処
理を挿入する事が可能であるのに対し、本実施例では、
訂正ライトアクセス後にページモードリードを再起動す
るため時間がかかっている。最悪の場合、4ロングワー
ドの全てでエラーが発生し、ページモードリードを4回
再起動するためかなり時間がかかる事になるが、このよ
うに訂正可能なエラーが定常的に発生する状態でコンピ
ュータシステムが稼働し続ける確率は低く、実際には問
題とならないと考えられる。また、回路規模に余裕があ
る場合は、ページモードリード時にエラー発生ロングワ
ード番号と訂正ライトデータを記憶しておき、エラー訂
正をページモードライトで実現する制御や、エラー発生
が複数ロングワードの場合のみ、エラー訂正をページモ
ードライトで実現する制御も可能である。
FIG. 5 shows the burst read timing when an error occurs in this memory control circuit. In the conventional method, as shown in FIG. 6, it is possible to insert a correction write process for a long word in which an error has occurred without interrupting the page mode read, but in this embodiment,
It takes time to restart page mode read after correction write access. In the worst case, an error will occur in all 4 longwords, and it will take a considerable amount of time to restart the page mode read four times, but if a computer is in a state where correctable errors occur regularly, The probability that the system will continue to operate is low and is not considered to be a problem in practice. In addition, if there is enough circuit scale, it is possible to store the error longword number and correction write data during page mode read, and perform control to realize error correction by page mode write, or when multiple longword errors occur. However, it is also possible to perform error correction using page mode write.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上に述べたように本発明は、メモリ素
子の高速アクセスモードに最適化した高速なバースト読
みだしシーケンスと、訂正可能なエラーが検出された場
合起動されるメモリ書き込みシーケンスとの組合せによ
り、正常動作、即ちエラーが発生しない場合の処理を最
適化し、また実際に必要となる確率の極めて低いエラー
訂正処理を簡素化することにより、メモリシステム全体
の性能向上を可能とするものである。
As described above, the present invention provides a high-speed burst read sequence optimized for the high-speed access mode of a memory element, and a memory write sequence that is activated when a correctable error is detected. In combination, it is possible to improve the performance of the entire memory system by optimizing processing for normal operation, that is, when no errors occur, and by simplifying error correction processing, which has a very low probability of actually being necessary. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の一実施例であるメモリシステムの構成
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a memory system that is an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例であるメモリ制御回路のブロ
ック図である。
FIG. 2 is a block diagram of a memory control circuit that is an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例であるメモリ制御回路の状態
遷移図である。
FIG. 3 is a state transition diagram of a memory control circuit that is an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例であるメモリ制御回路のバー
ストリードタイミング図である。
FIG. 4 is a burst read timing diagram of a memory control circuit according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例であるメモリ制御回路のエラ
ー訂正時のバーストリードタイミング図である。
FIG. 5 is a burst read timing diagram during error correction in a memory control circuit according to an embodiment of the present invention.

【図6】従来のメモリ制御回路のエラー訂正時のバース
トリードタイミング図である。
FIG. 6 is a burst read timing diagram during error correction in a conventional memory control circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…状態保持回路、 2…シーケンサ回路、 3…エラー訂正時の内部起動/終了信号生成回路、4…
ページモードリードシーケンサ回路、5…ライトアクセ
スシーケンサ回路。
1... State holding circuit, 2... Sequencer circuit, 3... Internal start/end signal generation circuit during error correction, 4...
Page mode read sequencer circuit, 5... write access sequencer circuit.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プロセッサからのメモリアクセス要求によ
り動作を開始し、処理終了信号の送出によりアクセスの
完了を指示するメモリシステムであって、エラー検出、
訂正機能を有するメモリシステムにおいて、バースト読
みだし時に訂正可能なエラーが検出された場合、処理終
了信号の送出を中断し、規定データ分のバースト読みだ
し処理の終了後にその訂正処理を行ない処理終了信号の
送出を再開する様にすることで、メモリ素子の持つ高速
アクセスモードを利用した高速なバーストデータ読みだ
しを可能とするメモリ制御方式。
1. A memory system that starts operation in response to a memory access request from a processor and instructs completion of the access by sending a processing end signal, the system comprising: error detection;
In a memory system with a correction function, if a correctable error is detected during burst read, the transmission of the processing end signal is interrupted, and after the burst read processing for the specified data is completed, the correction processing is performed and the processing end signal is sent. A memory control method that enables high-speed burst data reading using the high-speed access mode of memory elements by restarting the transmission of data.
【請求項2】メモリ素子の高速アクセスモードに最適化
した高速なバースト読みだしシーケンスを一つの構成単
位として起動し、訂正可能なエラーが検出された場合に
引き続き起動されるメモリ書き込みシーケンスとの組合
せにより、バースト読みだし時のエラー訂正処理を行う
ことを特徴とするメモリ制御方式。
[Claim 2] A combination of a high-speed burst read sequence optimized for a high-speed access mode of a memory element that is activated as a unit, and a memory write sequence that is subsequently activated when a correctable error is detected. A memory control method characterized by performing error correction processing during burst reading.
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