JP7414729B2 - 駆動装置および発光装置 - Google Patents
駆動装置および発光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7414729B2 JP7414729B2 JP2020558168A JP2020558168A JP7414729B2 JP 7414729 B2 JP7414729 B2 JP 7414729B2 JP 2020558168 A JP2020558168 A JP 2020558168A JP 2020558168 A JP2020558168 A JP 2020558168A JP 7414729 B2 JP7414729 B2 JP 7414729B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- circuit
- channels
- emitting element
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 87
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 37
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229920005994 diacetyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/022—Mountings; Housings
- H01S5/023—Mount members, e.g. sub-mount members
- H01S5/02325—Mechanically integrated components on mount members or optical micro-benches
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B45/00—Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
- H05B45/50—Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED] responsive to malfunctions or undesirable behaviour of LEDs; responsive to LED life; Protective circuits
- H05B45/52—Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED] responsive to malfunctions or undesirable behaviour of LEDs; responsive to LED life; Protective circuits in a parallel array of LEDs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/022—Mountings; Housings
- H01S5/0239—Combinations of electrical or optical elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06808—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the electrical laser parameters, e.g. voltage or current
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/42—Arrays of surface emitting lasers
- H01S5/423—Arrays of surface emitting lasers having a vertical cavity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
図1は、本開示の実施形態に係る発光装置1の構成例を示す斜視図である。図1に示すように、発光装置1は、VCSELチップ2と、ドライバーチップ3とを備える。なお、本開示の実施形態において、VCSELチップ2は発光素子アレイの一例であり、ドライバーチップ3は駆動装置の一例である。
つづいて、ドライバーチップ3の具体的な構成について、図3を参照しながら説明する。図3は、本開示の実施形態に係るドライバーチップ3の構成例を示す回路図である。図3に示すように、ドライバーチップ3は、駆動回路10と、検出回路20とを備える。
つづいては、VCSELチップ2が搭載されている場合の異常検出処理について、図4を参照しながら説明する。図4は、本開示の実施形態においてVCSELチップ2が搭載されている場合のドライバーチップ3の動作例を示す回路図である。すなわち、図4は、ドライバーチップ3にVCSELチップ2が搭載された発光装置1における動作例を示している。
(1)
複数の発光素子で構成される複数のチャンネルを個別に駆動する駆動回路と、
全ての前記チャンネルの異常を一括で検出する検出回路と、
を備え、
前記複数の発光素子が設けられる発光素子アレイと、複数のマイクロバンプで電気的および機械的に接続される
駆動装置。
(2)
前記検出回路は、
それぞれの前記チャンネルの前記発光素子の内部抵抗を擬似的に形成する複数の疑似抵抗と、
それぞれの前記疑似抵抗に直列に接続される複数のシャントスイッチと、
を有し、
前記発光素子アレイが接続されていない場合、前記複数のシャントスイッチを全て導通させて、前記全てのチャンネルの前記発光素子の動作電圧を擬似的に生成する
前記(1)に記載の駆動装置。
(3)
前記検出回路は、
前記発光素子アレイが接続されている場合、発光が選択されていない前記チャンネルに対応する前記シャントスイッチを導通させる
前記(2)に記載の駆動装置。
(4)
前記駆動回路は、
前記チャンネルの発光の有無を選択する選択信号を生成する制御部を有し、
前記検出回路は、
前記制御部から送信される前記選択信号と、前記発光素子の動作電圧に基づいて生成される前記チャンネルの出力信号とを比較する排他的論理和回路を有する
前記(2)または(3)に記載の駆動装置。
(5)
前記検出回路は、
各チャンネルごとの前記選択信号と前記出力信号とを比較する複数の前記排他的論理和回路と、
全ての前記排他的論理和回路からの信号に基づいて、前記全てのチャンネルが正常であるか否かを一括で判定する一括判定部と、を有する
前記(4)に記載の駆動装置。
(6)
前記検出回路は、
前記動作電圧と所定のしきい値電圧とを比較して、前記出力信号を生成する比較部を有する
前記(4)または(5)に記載の駆動装置。
(7)
前記検出回路は、
前記比較部と前記排他的論理和回路との間に、前記排他的論理和回路の動作を確認するテスト信号が入力されるテスト用論理積回路を有する
前記(6)に記載の駆動装置。
(8)
複数の発光素子が設けられる発光素子アレイと、
前記複数の発光素子で構成される複数のチャンネルを個別に駆動する駆動回路と、全ての前記チャンネルの異常を一括で検出する検出回路と、を備える駆動装置と、
を備え、
前記発光素子アレイと前記駆動装置とは、複数のマイクロバンプで電気的および機械的に接続される
発光装置。
(9)
前記発光素子アレイは、垂直共振器面発光レーザ(Vertical Cavity Surface Emitting Laser:VCSEL)で構成される
前記(8)に記載の発光装置。
2 VCSELチップ(発光素子アレイの一例)
3 ドライバーチップ(駆動装置の一例)
4 マイクロバンプ
5 発光素子
10 駆動回路
20 検出回路
30 検出部
31 N型トランジスタ(シャントスイッチの一例)
34 論理回路
36 論理積回路(テスト用論理積回路の一例)
38 排他的論理和回路
50 共通配線
Ra 疑似抵抗
B テスト信号
Claims (8)
- 複数の発光素子で構成される複数のチャンネルを個別に駆動する駆動回路と、
全ての前記チャンネルの異常を一括で検出する検出回路と、
を備え、
前記複数の発光素子が設けられる発光素子アレイと、複数のマイクロバンプで電気的および機械的に接続され、
前記検出回路は、
それぞれの前記チャンネルの前記発光素子の内部抵抗を擬似的に形成する複数の疑似抵抗と、
それぞれの前記疑似抵抗に直列に接続される複数のシャントスイッチと、
を有し、
前記発光素子アレイが接続されていない場合、前記複数のシャントスイッチを全て導通させて、全ての前記チャンネルの前記発光素子の動作電圧を擬似的に生成する
駆動装置。 - 前記検出回路は、
前記発光素子アレイが接続されている場合、発光が選択されていない前記チャンネルに対応する前記シャントスイッチを導通させる
請求項1に記載の駆動装置。 - 前記駆動回路は、
前記チャンネルの発光の有無を選択する選択信号を生成する制御部を有し、
前記検出回路は、
前記制御部から送信される前記選択信号と、前記発光素子の動作電圧に基づいて生成される前記チャンネルの出力信号とを比較する排他的論理和回路を有する
請求項1または2に記載の駆動装置。 - 前記検出回路は、
各チャンネルごとの前記選択信号と前記出力信号とを比較する複数の前記排他的論理和回路と、
全ての前記排他的論理和回路からの信号に基づいて、全ての前記チャンネルが正常であるか否かを一括で判定する一括判定部と、を有する
請求項3に記載の駆動装置。 - 前記検出回路は、
前記動作電圧と所定のしきい値電圧とを比較して、前記出力信号を生成する比較部を有する
請求項3または4に記載の駆動装置。 - 前記検出回路は、
前記比較部と前記排他的論理和回路との間に、前記排他的論理和回路の動作を確認するテスト信号が入力されるテスト用論理積回路を有する
請求項5に記載の駆動装置。 - 複数の発光素子が設けられる発光素子アレイと、
前記複数の発光素子で構成される複数のチャンネルを個別に駆動する駆動回路と、全ての前記チャンネルの異常を一括で検出する検出回路と、を備える駆動装置と、
を備え、
前記発光素子アレイと前記駆動装置とは、複数のマイクロバンプで電気的および機械的に接続され、
前記検出回路は、
それぞれの前記チャンネルの前記発光素子の内部抵抗を擬似的に形成する複数の疑似抵抗と、
それぞれの前記疑似抵抗に直列に接続される複数のシャントスイッチと、
を有し、
前記発光素子アレイが接続されていない場合、前記複数のシャントスイッチを全て導通させて、全ての前記チャンネルの前記発光素子の動作電圧を擬似的に生成する
発光装置。 - 前記発光素子アレイは、垂直共振器面発光レーザ(Vertical Cavity Surface Emitting Laser:VCSEL)で構成される
請求項7に記載の発光装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018221582 | 2018-11-27 | ||
JP2018221582 | 2018-11-27 | ||
PCT/JP2019/041007 WO2020110504A1 (ja) | 2018-11-27 | 2019-10-18 | 駆動装置および発光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2020110504A1 JPWO2020110504A1 (ja) | 2021-10-14 |
JP7414729B2 true JP7414729B2 (ja) | 2024-01-16 |
Family
ID=70852075
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020558168A Active JP7414729B2 (ja) | 2018-11-27 | 2019-10-18 | 駆動装置および発光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3890125B1 (ja) |
JP (1) | JP7414729B2 (ja) |
CN (1) | CN113056851B (ja) |
WO (1) | WO2020110504A1 (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001042170A (ja) | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Canon Inc | 光配線装置、その駆動方法およびそれを用いた電子機器 |
JP2006218290A (ja) | 2005-01-11 | 2006-08-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光線治療器 |
JP2011198739A (ja) | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Active-Semi Inc | Ledストリングの別々に短絡可能なセクションを有するフリッカが低減されたacledランプ |
JP2011199079A (ja) | 2010-03-20 | 2011-10-06 | Fujikura Ltd | 励起光源装置 |
JP2013131348A (ja) | 2011-12-21 | 2013-07-04 | Minebea Co Ltd | Led駆動装置及び照明器具 |
JP2017056854A (ja) | 2015-09-17 | 2017-03-23 | 市光工業株式会社 | 表示灯装置 |
US20170219647A1 (en) | 2016-01-28 | 2017-08-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Short circuit detecting device of stacked memory chips and method thereof |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2795627B2 (ja) * | 1994-09-28 | 1998-09-10 | 松下電器産業株式会社 | 垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール及びその製造方法 |
US6388322B1 (en) * | 2001-01-17 | 2002-05-14 | Aralight, Inc. | Article comprising a mechanically compliant bump |
JP4857579B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2012-01-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 発光素子駆動装置及び画像形成装置 |
TW201239845A (en) * | 2011-02-14 | 2012-10-01 | Samsung Electronics Co Ltd | Systems and methods for driving a display device |
JP2012209501A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Sony Corp | 補正回路、駆動回路、発光装置、および電流パルス波形の補正方法 |
JP2014086363A (ja) * | 2012-10-26 | 2014-05-12 | Koizumi Lighting Technology Corp | Led駆動装置、led駆動方法、及び照明器具 |
CN105186289A (zh) * | 2015-09-29 | 2015-12-23 | 北京为世联合科技有限公司 | 集成激光芯片 |
JP6576306B2 (ja) * | 2016-06-28 | 2019-09-18 | 三菱電機株式会社 | 電圧電流変換回路および負荷駆動回路 |
JP2020088020A (ja) * | 2018-11-16 | 2020-06-04 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 検出回路、駆動回路および発光装置 |
-
2019
- 2019-10-18 EP EP19889557.5A patent/EP3890125B1/en active Active
- 2019-10-18 CN CN201980076345.6A patent/CN113056851B/zh active Active
- 2019-10-18 WO PCT/JP2019/041007 patent/WO2020110504A1/ja unknown
- 2019-10-18 JP JP2020558168A patent/JP7414729B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001042170A (ja) | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Canon Inc | 光配線装置、その駆動方法およびそれを用いた電子機器 |
JP2006218290A (ja) | 2005-01-11 | 2006-08-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光線治療器 |
JP2011198739A (ja) | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Active-Semi Inc | Ledストリングの別々に短絡可能なセクションを有するフリッカが低減されたacledランプ |
JP2011199079A (ja) | 2010-03-20 | 2011-10-06 | Fujikura Ltd | 励起光源装置 |
JP2013131348A (ja) | 2011-12-21 | 2013-07-04 | Minebea Co Ltd | Led駆動装置及び照明器具 |
JP2017056854A (ja) | 2015-09-17 | 2017-03-23 | 市光工業株式会社 | 表示灯装置 |
US20170219647A1 (en) | 2016-01-28 | 2017-08-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Short circuit detecting device of stacked memory chips and method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3890125A1 (en) | 2021-10-06 |
EP3890125B1 (en) | 2023-11-29 |
CN113056851B (zh) | 2024-02-13 |
JPWO2020110504A1 (ja) | 2021-10-14 |
EP3890125A4 (en) | 2021-12-15 |
CN113056851A (zh) | 2021-06-29 |
WO2020110504A1 (ja) | 2020-06-04 |
US20220006258A1 (en) | 2022-01-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10321533B2 (en) | Driving several light sources | |
US8482013B2 (en) | Reconfigurable multi-LED light source | |
JP6479320B2 (ja) | 電池監視システムおよび電池監視チップ | |
US8592813B2 (en) | Semiconductor device and stacked semiconductor apparatus | |
US10203365B2 (en) | Device testing | |
US8248325B2 (en) | Drive circuit | |
US9974130B2 (en) | Driving several light sources | |
US11137449B1 (en) | Built-in self-test for light emitting diodes | |
US20210311116A1 (en) | Built-in self-test for light emitting diodes | |
JP7414729B2 (ja) | 駆動装置および発光装置 | |
US6900628B2 (en) | Semiconductor integrated circuit allowing proper detection of pin contact failure | |
US9177946B2 (en) | Semiconductor circuit with electrical connections having multiple signal or potential assignments | |
US11996673B2 (en) | Drive device and light emitting device | |
US20060170433A1 (en) | Semiconductor test circuit | |
US9913355B2 (en) | Method of forming a sequencing system and structure therefor | |
KR102006023B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 장비 | |
US11962124B2 (en) | Detection circuit, driving circuit, and light emitting device | |
US9544971B2 (en) | Single LED short detection in multichannel LED | |
US8854779B2 (en) | Integrated circuit | |
EP2161761A2 (en) | Relay circuit | |
US20110050272A1 (en) | Method and circuit for testing integrated circuit | |
WO2024043129A1 (ja) | 光源装置及び測距装置 | |
JP2012163466A (ja) | 半導体装置 | |
US20240178080A1 (en) | Test circuit of semiconductor apparatus and test system including the same | |
CN114937679A (zh) | 发光二极管元件以及发光二极管电路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231114 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231205 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231228 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7414729 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |