JP7217446B2 - 光干渉断層画像撮像装置 - Google Patents
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Description
当初は撮像の対象は眼底であり、眼底の診断の目的で光干渉断層画像撮像装置は多く使用されてきた。最近では、皮膚、血管内壁(血管内カテーテル)、胃壁(胃内視鏡)、口腔内など、さまざまな部位が撮像の対象となっている。
図12に示す光干渉断層画像撮像装置は、光源11と、光源11からの光を測定光と参照光とに分割して測定光を被観察部位に照射するとともに被観察部位からの反射光を参照光と干渉させる光学系2と、干渉光の強度を検出する検出器30と、検出器30からの出力により断層画像を取得する演算処理部4とを備えている。
特に、断層観察の場合、被観察部位の奥深くまで光を到達させて界面を探す必要があったり、粘膜のような表皮組織の手前側にあってそこを透過させて光を到達させる必要があったりする場合がある。このため、被観察部位に応じて最適な帯域の光を出射する光源を使用する必要がある。
従来、異なる被観察部位について断層画像を観察しようとすると、複数の装置が必要になり、コストの問題が避けられない。光源を変更することで異なる波長帯域の光で観察できるようにすることも考えられるが、コストの問題に加え、光源の交換に要する手間の問題も生じる。仮に、光源の交換により異なる波長帯域での撮像を可能にしたとしても、異なる波長帯域での撮像は、別々に行う必要があるから、必要な波長帯域の数だけ光照射を繰り返す必要がある。
しかしながら、従来の光干渉断層画像撮像装置では、一つの特定の波長帯域の光を出射する光源を備えるのみであったため、異なる深さに存在する界面を同時に観察することができなかった。
この出願の発明は、上記課題を解決するために為されたものであり、観察の自由度の高い光干渉断層画像撮像装置を提供することを目的とする。
光源部から出射される光を、測定光と参照光とに分割するとともに、測定光を被観察部位に照射し、当該被観察部位からの反射光と参照光との干渉光を発生させる光学系と、
反射光と参照光との干渉光の強度を検出する検出部と、
検出部で検出された干渉光の強度に基づいて、被観察部位の断層画像を取得する演算処理部と、
被観察部位からの反射光の波長帯域から、前記一つの光源部が出射する連続スペクトルである光の波長帯域よりも狭い少なくとも二つの異なる波長帯域を同時に選択可能な帯域選択部と
を備えており、
検出部は、帯域選択部が選択した少なくとも二つの異なる波長帯域において干渉光の強度を検出することが可能なものであり、
演算処理部は、帯域選択部が選択した少なくとも二つの異なる波長帯域において検出された干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得することが可能となっており、帯域選択部が選択しなかった波長帯域については被観察部位の断層画像を取得しないものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項2記載の発明は、前記請求項1の構成において、前記光源部は、時間に対して波長が連続的に変化する広帯域光を出射するものであり、
前記演算処理部は、干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得する画像取得プログラムを備えており、
前記帯域選択部は、画像取得プログラムの一部であって、前記検出部からの出力について時間に対応させて前記少なくとも二つの異なる波長帯域における干渉光の強度を取得可能なものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項3記載の発明は、前記請求項2の構成において、前記光源部は、光源と、チャープ化素子とを備えており、チャープ化素子は、光源からの光に対して正の群速度分散を生じさせる速度分散素子であるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項4記載の発明は、前記請求項1乃至3いずれかの構成において、前記帯域選択部は、中心波長が短い帯域ほど短い帯域幅で各波長帯域を同時に選択可能なものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項5記載の発明は、前記請求項4の構成において、前記帯域選択部は、各波長帯域の光によって断層画像を取得する際の深さ方向解像度が各波長帯域で互いに同じになる中心波長及び帯域幅で各波長帯域を同時に選択可能なものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項6記載の発明は、前記請求項1乃至5いずれかの構成において、前記帯域選択部は、前記少なくとも二つの異なる波長帯域を互いに分離した帯域として同時に選択可能なものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項7記載の発明は、前記請求項1乃至6いずれかの構成において、前記演算処理部は、前記同時に選択された少なくとも二つの波長帯域の光により取得した少なくとも二つの断層画像をディスプレイ上に重ねて表示することが可能なものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項8記載の発明は、前記請求項1乃至7いずれかの構成において、前記光源部は、パルス光を出射するものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項9記載の発明は、前記請求項1乃至8いずれかの構成において、前記帯域選択部により選択される少なくとも二つの異なる波長帯域は、50nm以上1500nm以下の幅であるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項10記載の発明は、前記請求項1乃至9いずれかの構成において、前記検出部で検出された干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得する撮像モードと、前記光源部からの光を患部に照射することで治療を行う治療モードとの二つのモードで動作可能な装置であり、
撮像モードと治療モードとを切り替える切替部と、
切替部を制御するコントローラと
を備えているという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項11記載の発明は、前記請求項10の構成において、前記光源部は、前記治療モードの際には前記撮像モードの際よりも狭帯域の光を出射するものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項12記載の発明は、前記請求項11の構成において、前記光源部は、
レーザー源と、
前記撮像モードの際にレーザー源からの光を広帯域化させる非線形光学素子としての第一のファイバと、
前記治療モードの際にレーザー源からの光を導く第二のファイバと
を備えており、
第二のファイバは、第一のファイバよりも低非線形の素子であり、
前記切替部は、前記撮像モードの際にはレーザー源からの光を第一のファイバに入射させ、前記治療モードの際にはレーザー源からの光を第二のファイバに入射させるものであるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項13記載の発明は、前記請求項10乃至12構成において、前記治療モードの際に前記光源部からの光が前記検出部に入射しないように当該光を遮断する遮断部を備えているという構成を有する。
また、複数の波長帯域を同時に選択して観察を行うことができるので、複数の波長帯域での断層画像を同時に取得することもでき、この点で観察の自由度がさらに高くなる。
また、請求項2記載の発明によれば、上記効果に加え、データ処理において任意の帯域を選択するので、帯域選択部は波長選択素子のような光学素子を備えている必要はなく、この点で、構造的に簡略化され、コストも安くなる。また、波長帯域の変更の際にはデータ取得の時間帯の設定を変更するだけで良いので、観察の自由度がさらに高くなる。
また、請求項3記載の発明によれば、上記効果に加え、光源からの光に対して正の群速度分散を生じさせる速度分散素子によりチャープな光を得るので、より広い波長帯域で容易にチャープな光を得ることができる。
また、請求項4記載の発明によれば、上記効果に加え、中心波長が短い帯域ほど短い帯域幅で各波長帯域を選択するものであるので、各波長帯域における観察の深さ方向解像度のずれが小さくなる。
また、請求項5記載の発明によれば、上記効果に加え、各波長帯域の光によって断層画像を取得する際の深さ方向解像度が各波長帯域で互いに同じになるので、深さ方向解像度のずれがない状態で多波長帯域での観察が行える。
また、請求項6記載の発明によれば、上記効果に加え、前記少なくとも二つの異なる波長帯域を互いに分離した帯域として選択可能なものであるので、より精度の高い断層画像観察が行える。
また、請求項7記載の発明によれば、上記効果に加え、複数の波長帯域の光により取得した断層画像をディスプレイ上に重ねて表示することができるので、複数帯域観察のメリットをより活かすことができる。
また、請求項9記載の発明によれば、上記効果に加え、波長帯域が50nm以上1500nm以下の幅であるので、調整が難しくなったり限度以上に低解像度となったりする問題がない。
また、請求項10記載の発明によれば、上記効果に加え、上記効果に加え、1台の装置で診断(断層画像観察)と治療が行えるため、設備に要する全体のコストを小さくでき、また省スペース化も達成できる。
また、請求項11又は12記載の発明によれば、上記効果に加え、治療モードでは狭帯域の光が照射されるので、よりエネルギーの高い光を照射して効果的な治療を行うことが
容易となる。
また、請求項13記載の発明によれば、上記効果に加え、治療モードに際に光源部からの光が検出部に入射しないように当該光を遮断する遮断部を備えているので、高強度の光によって検出部が損傷してしまう事故が防止される。
図1に示す光干渉断層画像撮像装置は、広帯域光を出射する光源部1と、光学系2と、干渉光の強度を検出する検出部3と、演算処理部4とを備えている。
図2は、光源部1から出射される光のスペクトルについて説明した概略図である。この実施形態では、光源部1は、400nm以上3000nm以下の波長範囲において200nm以上の波長帯域に亘って連続スペクトルである広帯域光を出射するものとなっている。
図2に示すように、スペクトルは、400nm以上3000nm以下の波長範囲において連続スペクトルであれば良く、200nm以上の帯域に亘って連続であれば良い。図2に示すように、スペクトルは、ある中心波長λを持ち、その前後の100nm以上に亘って連続しているということである。
光学系2は、測定光と参照光とに分割するとともに、測定光を被観察部位に照射し、当該被観察部位からの反射光と参照光との干渉光を発生させるものである。具体的に説明すると、光学系2は、光源部1からの光を測定光と参照光に分割するビームスプリッタ21を含んでいる。
対物レンズ24は、被観察部位に適切な大きさのスポットで測定光を照射するとともに、被観察部位からの反射光を集めてビームスプリッタ21に戻すためのレンズである。
この実施形態では、特に、帯域選択部は、同時に複数の波長帯域を選択できるようになっている。そして、演算処理部4は、選択された複数の異なる波長帯域における干渉光の強度に基づいてそれぞれ被観察部位の断層画像を取得することが可能となっている。以下、これらの点について説明する。
一方、実施形態の装置は、図3(2-1)に示すように、任意の波長帯域を選択でき、且つ複数の波長帯域を選択できる。そして、選択された波長帯域の光を低コヒーレンス光として利用して干渉光の強度を検出し(図3(2-2))、各々断層画像I1~I3を取得する(図3(2-3))。この例は、λ3~λ4の帯域は選択せず、他の帯域は全て選択して断層観察をした例である。
帯域分離ユニット5は、複数の異なる波長選択素子を組み合わせて構成されたものとなっている。この実施形態では、波長選択素子としてダイクロイックミラーが使用されている。この例では、帯域分離ユニット5は、八個のダイクロイックミラー51~58を備えており、これらにより四つの異なる帯域に分割するものとなっている。以下、説明の都合上、四つの異なる帯域を、波長の短い順に、第一帯域、第二帯域、第三帯域、第四帯域と呼ぶ。
尚、帯域分離ユニット5が備える上記各ダイクロイックミラー51~58は、誘電体多層膜により波長に応じて光の透過、反射を制御するミラーである。
第一の検出器31は、第一帯域(450~500nm)における干渉光強度を検出するものであり、第二の検出器32は、第二帯域(600~690nm)における干渉光強度を検出するものである。第三の検出器33は、第三帯域(800~970m)における干渉光強度を検出するものであり、第四の検出器34は、第四帯域(1050~1370nm)における干渉光強度を検出するものである。
この実施形態では、検出用第一ミラー35は、波長500nm以下の光を反射し、500nm以上の光を透過するミラーであり、検出用第二ミラー36は、波長690nm以下の光を反射し、690nm以上の光を透過するミラーである。検出用第三ミラー37は、波長970nm以下の光を反射し、970nm以上の光を透過するミラーであり、検出用第四ミラー38は、波長1370nm以下の光を反射し、1370nm以上の光を透過するミラーである。
尚、検出用第四ミラー38を透過する光は実質的にないが、検出用第四ミラー38を透過した光が到達する位置には、ビームダンパー6が設けられている。
上記説明から解るように、帯域分離ユニット5で分離させた各帯域について第一から第四の帯域遮断シャッタ391~394で使用、不使用を選択するので、帯域分離ユニット5、各検出用ミラー35~38及び第一から第四の帯域遮断シャッタ391~394が、この実施形態における帯域選択部を構成している。
図5は、第一の実施形態において演算処理で行われる演算処理について説明する図である。図5において、理解のため、第一から第四の各帯域における干渉光の振動パターンが例示的、概略的に示されている。
尚、各ファイル441~444から各断層画像I1~I4を得るデータ処理は、一回の測定で一個のみの断層画像を取得していた従来のタイムドメインタイムの装置と同様に行える。したがって、詳細な説明は、割愛する。
周知のように、光干渉断層観察において、光源からの光のスペクトルがガウス分布の場合、深さ方向分解能は、以下の式1で与えられる。
式1において、λは光源からの光の中心波長、Δλは波長帯域の幅、nは被観察部位の屈折率、lnは常用対数である。Δzが小さいほど分解能が高いことを意味する。
また、複数の波長帯域を選択して観察を行うこともでき、複数の波長帯域での断層画像を同時に取得することもできる。この点でも、実施形態の装置は観察の自由度が高くなっている。
そして、一つの光源41からの光を帯域分離ユニット5で複数の帯域に分離して使用するので、装置が複数の光源を備えている必要がなく、また光源の交換の手間もない。
図6は、第二の実施形態の光干渉断層画像撮像装置の概略図である。図6に示す第二の実施形態の装置は、第一の実施形態とは異なり、フーリエドメインタイプの装置となっている。即ち、フーリエドメインタイプの装置で任意帯域測定光の構成や複数帯域測定光の構成を実現したことが、第二の実施形態の装置の特徴点となっている。
図7は、第三の実施形態の光干渉断層画像取得装置の概略図である。図7に示す第三の実施形態の装置は、まず、光源部1の構成が第一第二の実施形態と異なっている。第三の実施形態の装置では、光源部1は、チャープしたスーパーコンティニウム光を出射するもの、特に線形にチャープしたスーパーコンティニウム光を出射するものとなっている。
周知のように、正常分散ファイバのような正常分散特性を示す群速度分散素子に多波長の光を通すと、長波長ほど光は速く進む。実施形態の光源部1は、これを利用している。
より具体的に説明すると、非線形光学素子12により広帯域化とされたスーパーコンティニウム光が、波長λ1~λ7を含んでいるとし、λ1<λ2<λ3<λ4<λ5<λ6<λ7であるとする。この場合、スーパーコンティニウム光は、時間的にはパルス光であるが、波長λ1~λ7の光は、一つのパルス内の時間でみると、図8(1)に示すように時間的にも長波長側から順に波長がシフトしている場合もあり、図8(2)に示すように、各波長の光は時間的にはランダムに並んでいる場合もある。
このようないずれのタイプのスーパーコンティニウム光であっても、図8(3)に示すように、正常分散ファイバ中を伝搬することによって、パルス光の時間幅が伸張される際に、1パルス内の光の波長成分は時間的に連続したものとなり、チャープした光が得られる。例えば、スーパーコンティニウム光のパルス幅はフェムト秒~ピコ秒オーダーであるとすると、正常分散ファイバによりパルス幅は1μ秒程度まで伸張され、この際、図8(3)に示すようにチャープした光となる。正常分散ファイバの特性や伝搬距離を適宜選定することで、図8(3)に示すように線形にチャープした光が得られる。
参照ミラー22は、第二の実施形態と同様に位置固定のミラーである。また、検出部3の構成は、ビームスプリッタ21からの干渉光の光軸上に1個の検出器30が配置されたシンプルな構成となっている。
第三の実施形態では、上述したように、光源部1からの光は広帯域のパルス光であって且つ一つのパルス内で波長が時間的に変化する線形にチャープした光となっている。このため、この光がビームスプリッタ21で測定光と参照光とに分割され、被観察部位で反射した反射光と参照光とが重ね合わされた際、特定の波長帯域において干渉が生じて干渉光の強度が検出器30で検出されたとすれば、そのタイミングは、その波長帯域に応じたパルス内の時間帯ということになる。
したがって、第三の実施形態において、時刻t4からt5の範囲内の出力データに対して同様にフーリエ変換を含むデータ処理を適用すれば、第二の実施形態の場合と同様に、波長450nm~500nmで観察した断層画像I1が得られることになる。
また、第二の実施形態の場合、分離する帯域を変更しようとすると、波長選択素子を変更する必要があり、コストの問題や手間の問題が生じるが、第三の実施形態では、データ取得の時間帯の設定を変更するだけで良いので、観察の自由度がさらに高くなる。
図10は、第四の実施形態の光干渉断層画像撮像装置の概略図である。図10に示す第四の実施形態は、タイムドメインタイプであり、第一の実施形態を変形したものとなっている。
第四の実施形態では、帯域分離ユニット5は、ビームスプリッタ21と検出部3との間に配置されており、また構成が簡略化されている。図10に示すように、ビームスプリッタ21と検出部3との間の光軸上には、四つのダイクロイックミラー591~494が設けられている。以下、ビームスプリッタ21に近い順に、第一分離ミラー591、第二分離ミラー592、第三分離ミラー593、第四分離ミラー594という。
尚、第四分離ミラー594を反射した光の光軸上にはビームダンパー6が設けられている。また、第五分離ミラー595を反射した光の光軸上にもビームダンパー6が設けられている。第六分離ミラー596、第七分離ミラー597、第七分離ミラー598についても同様で、各々反射した光の光軸上には、ビームダンパー6が設けられている。
尚、第四の実施形態は第一の実施形態を変形した例であったが、第二の実施形態(フーリエドメインタイプ)について適用しても良い。この場合は、各分離光軸501~504上に回折格子が設けられ、各検出器31~34はアレイセンサとされる。
図11は、第五の実施形態の光干渉断層画像撮像装置の概略図である。第五の実施形態の層は、断層画像の撮像に加え、被観察部位の治療も行うことができる装置となっている。即ち、第五の実施形態の装置は、被観察部位の断層画像を取得する撮像モードと、被観察部位の治療を行う治療モードとで動作することが可能となっている。具体的には、第五の実施形態の装置は、撮像モードと治療モードとを切り替える切替部と、切替部を制御する不図示のコントローラとを備えている。
例えば、初期の口腔がん等の治療には、可視から近赤外域のレーザー光を照射して行うレーザー治療が有効であることが知られている。この場合、上記第一から第三の実施形態における光源部1に設けられたレーザー源11の波長が治療に有効な場合があり、第五の実施形態はこのようなケースを想定している。
治療モードの際、不図示の導光用ファイバの先端を患部の付近に位置させてレーザー光を照射するが、走査機構23を動作して必要な範囲にレーザー光が照射されるようにする場合もあるし、先端の向きを変えられるタイプの導光用ファイバを使用してマニュアル操作で照射ポイントを変更する場合もある。
また、シャッタ71,72は、治療モードの際に高エネルギーの光が各部に不必要に照射されないようにして各部の損傷を防止するものである。シャッタ71,72は、遮断部の一例であるが、この他、進退可能なミラーで光を治療モードの際には光軸に配置し、光を光軸から取り出してビームダンパーで受ける構成も採用できる。
尚、各波長帯域の帯域幅は、式1に従って同じ解像度になるように中心波長に応じて選定されることが望ましいが、厳密に同じ解像度にならなくても、ある程度近い解像度であれば、問題がないことも多い。この意味で、中心波長が短いほど帯域幅も狭くするという選定だけであっても実用的には足りる場合もある。
また、各実施形態の説明において、干渉光の強度を検出するとして説明したが、検出器30~34には参照光も入射しており、干渉光が干渉光に重畳した形となっている。したがって、実際の検出では、各検出器30~34の出力から参照光の分を差し引いて干渉光の強度とする。
11 レーザー源
12 非線形光学素子
13 チャープ化素子
15 光スイッチ
16 治療モード用ファイバ(PBF)
2 光学系
21 ビームスプリッタ
22 参照ミラー
23 走査機構
3 検出部
30 検出器
31~34 検出器
35~38 検出用ミラー
391~394 帯域遮断シャッタ
4 演算処理部
40 画像取得プログラム
5 帯域分離ユニット
51~58 ダイクロイックミラー
6 ビームダンパー
R 被観察部位
Claims (13)
- 400nm以上3000nm以下の波長範囲において200nm以上の波長帯域に亘って連続スペクトルである光を出射する一つの光源部と、
光源部から出射される光を、測定光と参照光とに分割するとともに、測定光を被観察部位に照射し、当該被観察部位からの反射光と参照光との干渉光を発生させる光学系と、
反射光と参照光との干渉光の強度を検出する検出部と、
検出部で検出された干渉光の強度に基づいて、被観察部位の断層画像を取得する演算処理部と、
被観察部位からの反射光の波長帯域から、前記一つの光源部が出射する連続スペクトルである光の波長帯域よりも狭い少なくとも二つの異なる波長帯域を同時に選択可能な帯域選択部と
を備えており、
検出部は、帯域選択部が選択した少なくとも二つの異なる波長帯域において干渉光の強度を検出することが可能なものであり、
演算処理部は、帯域選択部が選択した少なくとも二つの異なる波長帯域において検出された干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得することが可能となっており、帯域選択部が選択しなかった波長帯域については被観察部位の断層画像を取得しないものであることを特徴とする光干渉断層画像撮像装置。 - 前記光源部は、時間に対して波長が連続的に変化する広帯域光を出射するものであり、 前記演算処理部は、干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得する画像取得プログラムを備えており、
前記帯域選択部は、画像取得プログラムの一部であって、前記検出部からの出力について時間に対応させて前記少なくとも二つの異なる波長帯域における干渉光の強度を取得可能なものであることを特徴とする請求項1記載の光干渉断層画像撮像装置。 - 前記光源部は、光源と、チャープ化素子とを備えており、チャープ化素子は、光源からの光に対して正の群速度分散を生じさせる速度分散素子であることを特徴とする請求項2記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記帯域選択部は、中心波長が短い帯域ほど短い帯域幅で各波長帯域を同時に選択可能なものであることを特徴とする請求項1乃至3いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記帯域選択部は、各波長帯域の光によって断層画像を取得する際の深さ方向解像度が各波長帯域で互いに同じになる中心波長及び帯域幅で各波長帯域を同時に選択可能なものであることを特徴とする請求項4記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記帯域選択部は、前記少なくとも二つの異なる波長帯域を互いに分離した帯域として同時に選択可能なものであることを特徴とする請求項1乃至5いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記演算処理部は、前記同時に選択された少なくとも二つの波長帯域の光により取得した少なくとも二つの断層画像をディスプレイ上に重ねて表示することが可能なものであることを特徴とする請求項1乃至6いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記光源部は、パルス光を出射するものであることを特徴とする請求項1乃至7いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記帯域選択部により選択される少なくとも二つの異なる波長帯域は、50nm以上1500nm以下の幅であることを特徴とする請求項1乃至8いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記検出部で検出された干渉光の強度に基づいて被観察部位の断層画像を取得する撮像モードと、前記光源部からの光を患部に照射することで治療を行う治療モードとの二つのモードで動作可能な装置であり、
撮像モードと治療モードとを切り替える切替部と、
切替部を制御するコントローラと
を備えていることを特徴とする請求項1乃至9いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。 - 前記光源部は、前記治療モードの際には前記撮像モードの際よりも狭帯域の光を出射するものであることを特徴とする請求項10記載の光干渉断層画像撮像装置。
- 前記光源部は、
レーザー源と、
前記撮像モードの際にレーザー源からの光を広帯域化させる非線形光学素子としての第一のファイバと、
前記治療モードの際にレーザー源からの光を導く第二のファイバと
を備えており、
第二のファイバは、第一のファイバよりも低非線形の素子であり、
前記切替部は、前記撮像モードの際にはレーザー源からの光を第一のファイバに入射させ、前記治療モードの際にはレーザー源からの光を第二のファイバに入射させるものであることを特徴とする請求項11記載の光干渉断層画像撮像装置。 - 前記治療モードの際に前記光源部からの光が前記検出部に入射しないように当該光を遮断する遮断部を備えていることを特徴とする請求項10乃至12いずれかに記載の光干渉断層画像撮像装置。
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