JP7188747B2 - 眼科装置 - Google Patents
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Description
以下、実施例に係る眼科装置1について説明する。図1に示すように、眼科装置1は、被検眼100を検査するための測定部10を備えている。測定部10は、被検眼100から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系14と、被検眼100の前眼部を観察する観察光学系50と、被検眼100に対して測定部10を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系(図示省略)と、K-clock信号を生成するK-clock発生装置80(図2に図示)を有している。アライメント光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。
上記の実施例1では、較正光を生成するためのミラー70は、眼科装置1の内部の測定光学系の光路上ではない位置に設置されていたが、このような構成に限定されない。例えば、較正光を生成するためのミラー170は、眼科装置2の外部の測定光学系の光路上の位置に配置してもよい。なお、本実施例の眼科装置2は、較正光学系の光路が実施例1の眼科装置1と相違しており、その他の構成については略同一となっている。そこで、実施例1と同様の構成については、その説明を省略する。
10:測定部
12:光源装置
14、114:干渉光学系
16:位置調整機構
22:参照ミラー
26:受光素子
40:焦点調整機構
46:ガルバノスキャナ
50:観察光学系
64:演算装置
66:サンプリング回路
70、170:ミラー
100:被検眼
Claims (7)
- 光干渉を用いて被検眼を測定する眼科装置であって、
波長掃引型の光源と、
前記光源からの光を導いて参照光とする参照光学系と、
前記光源からの光を導いて較正光とする較正光学系と、
前記較正光学系により導かれた前記較正光と前記参照光学系により導かれた前記参照光とを合波した較正用干渉光を受光する受光素子と、
前記較正用干渉光を受光したときに前記受光素子から出力される較正用干渉信号をサンプリングする信号処理部と、
演算部と、を備えており、
前記光源からの光は、周期的に周波数が変化し、
前記信号処理部は、少なくとも前記光源からの光の周波数が1周期変化するときの全周波数帯域のうち第1の周波数帯域において前記較正用干渉信号をサンプリングすると共に、前記光源からの光の周波数が1周期変化するときの全周波数帯域のうち前記第1の周波数帯域と異なる第2の周波数帯域において前記較正用干渉信号をサンプリングし、
前記演算部は、前記第1の周波数帯域においてサンプリングされフーリエ変換された前記較正用干渉信号の第1の波形と、前記第2の周波数帯域においてサンプリングされフーリエ変換された前記較正用干渉信号の第2の波形との間のずれ量を演算する、眼科装置。 - 前記演算部は、前記第1の波形と前記第2の波形との間の深さ方向の位置のずれ量を算出する、請求項1に記載の眼科装置。
- 前記演算部は、前記第1の波形の形状と前記第2の波形の形状との間のずれ量を算出する、請求項1又は2に記載の眼科装置。
- 前記光源からの光を被検眼に照射すると共に、前記被検眼からの反射光を導く測定光学系をさらに備えており、
前記較正光学系は、前記光源からの光を反射する反射面を備える較正部材を備えており、
前記較正部材は、前記測定光学系の光路上に着脱可能に配置され、
前記較正部材が前記測定光学系の光路上に配置されていないときに、前記測定光学系の光路上に被検眼が配置可能となる、請求項1~3のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記光源からの光を被検眼に照射すると共に、前記被検眼からの反射光を導く測定光学系をさらに備えており、
前記較正光学系は、前記光源からの光を反射する反射面を備える較正部材を備えており、
前記測定光学系の光路と前記較正光学系の光路との少なくとも一部が異なるように構成されており、
前記較正部材は、前記測定光学系の光路上に配置されておらず、前記較正光学系の光路上に配置されている、請求項1~3のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記光源からの光を被検眼に照射すると共に、前記被検眼からの反射光を導く測定光学系をさらに備えており、
前記較正光学系の光路は、前記測定光学系の光路の一部と重複しており、
前記較正光は、前記測定光学系が備える光学部材の反射面からの反射光によって生成される、請求項1~3のいずれか一項に記載の眼科装置。 - 前記光源からの光を被検眼に照射すると共に、前記被検眼からの反射光を導く測定光学系をさらに備えており、
前記受光素子は、前記測定光学系により導かれた前記反射光と前記参照光学系により導かれた前記参照光とを合波した測定用干渉光をさらに受光し、
前記信号処理部は、前記測定用干渉光を受光したときに前記受光素子から出力される測定用干渉信号をさらにサンプリングし、
前記演算部は、演算された前記ずれ量に基づいて、サンプリングされた前記測定用干渉信号及びサンプリングされフーリエ変換された前記測定用干渉信号の少なくともいずれかを補正する、請求項1~6のいずれか一項に記載の眼科装置。
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