JP6465551B2 - 光干渉眼寸法測定装置 - Google Patents

Description

本願は、被検眼を検査する眼科装置に関し、特に被検眼内部の測定対象部位（例えば、水晶体、網膜等）の位置を特定する眼寸法測定装置に関する。

被検眼の内部（例えば、水晶体、網膜等）を検査するための眼科装置が開発されている。この種の眼科装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。そして、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合成した干渉光から、被検眼内部の測定対象部位（例えば、水晶体、網膜等）の位置を特定する。特許文献１，２には、この種の眼科装置の従来例が開示されている。

特開２００７−３７９８４号公報 特開２００７−３１３２０８号公報

特許文献１及び２に開示されているような従来の眼科装置では、被検眼を検査する際は、被検眼に照射される光の光軸が被検眼の視軸と一致するように調整し、その１つの光軸から得られる干渉信号から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定し、特定した位置から前房深度（ＡＣＤ）や眼軸長などの値を算出し、それらの値をモニタなどに表示すると共に、特許文献２の図４や図５に記載されているような、被検眼の深さ距離に対して干渉信号の強度を表す、１次元画像（Ａスキャン画像とも言う）が表示されるようになっている。そして、検者はＡスキャン画像を確認して、得られた眼軸長などの値を評価する。

しかし、モニタに表示されたＡスキャン画像や眼軸長などの値は、１つの光軸から得られたものであるため、水晶体に濁りがあるなどの理由で網膜信号が微弱であったり、網膜に疾患があった場合、従来の１つの光軸から得られたＡスキャン画像では、得られた眼軸長などの値の評価が困難であり、正しい値が得られない恐れがあった。

さらに、水晶体の濁りや網膜疾患などで眼軸長などの値が得られなかったり、測定毎のばらつきが大きく信頼性の低い値しか得られない場合もあった。

本願は、上述した実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、被検眼の異なる位置における複数の光軸における複数の干渉信号を得る手段を備えて、得られた複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得し、取得した２次元断層画像により、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定することにより、より正確な眼軸長などの値が取得可能な眼寸法測定装置を提供することにある。

本明細書に開示する光干渉眼寸法測定装置は、光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の眼寸法の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して１つ以上の位置を任意に指定する指定手段と、該指定手段により指定された位置に基づいて測定値を補正することを特徴としている。

この光干渉眼寸法測定装置では、被検眼の異なる位置における複数の光軸から得られる干渉信号に基づいた被検眼内部の２次元断層画像をモニタに表示するため、水晶体の濁りの状態や網膜の状態が視覚的に確認できるため、得られた眼軸長など値の評価がより正確にできる。

また、上記光干渉眼寸法測定装置では、２次元断層画像に基づいて被検眼内部の測定対象部位（角膜、水晶体、網膜等）の位置を特定するため、平均化処理や平滑化処理などの画像処理を実施して、水晶体の濁り、網膜の状態などが起因する測定誤差を低減し、測定対象部位の位置の特定精度が向上し、眼軸長などの値が精度よく算出できる。

また、上記光干渉眼寸法測定装置では、２次元断層画像を確認しながら、装置が特定した被検眼内部の測定対象部位の各位置の補正が可能となり、より正しい値を得ることができる。

また、上記光干渉眼寸法測定装置における補正手段は、被検眼内部の測定対象の各部位の補正が容易に、かつ、精密に行うことができる。

また、上記光干渉眼寸法測定装置では、入射手段により取得される複数の干渉信号を平均化処置して、被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を表示することを特徴とする。従来の光干渉眼寸法測定装置で表示されたＡスキャン画像も表示することにより、測定値の評価がより正確にできる。また、表示するＡスキャン画像は複数の干渉信号を平均化処置したものであるため、従来の光干渉眼寸法測定装置に表示されたＡスキャン画像より、より正確なＡスキャン画像が表示できる。

また、上記光干渉眼寸法測定装置では、表示手段に表示された被検眼内部の２次元断層画像に対して、被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向（画面では上下方向）の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示することを特徴とする。これにより、２次元断層画像で指定した位置（光軸）における１次元画像（Ａスキャン画像）が適宜表示されるため、干渉信号の波形や強度が視覚的に把握でき、ノイズの有無や各部位が詳細に確認でき、より正確な補正が可能になる。

また、上記光干渉眼寸法測定装置では、被検眼内部の１次元画像（Ａスキャン画像）と２次元断層画像を並列して表示することを特徴とする。これにより、２次元断層画像を見ながら、Ａスキャン画像も同時に確認できるため、より正確な眼寸法測定が容易になると共に、得られる測定値の信頼性の向上にもなり得る。

上記のように、本発明にかかる眼寸法測定装置は、得られた複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得し、取得した２次元断層画像から被検眼内部の測定対象部位の位置を特定すると共に、取得した２次元断層画像を表示し、視覚的に測定結果をより精密に評価できるため、より正確な眼軸長などの眼寸法測定が可能になるのである。

本実施例に係る眼科装置の光学系の概略構成図である。 本実施例に係る眼科装置の制御系のブロック図である。 ０点調整機構の機能を説明するための図である。 焦点調整機構の機能を説明するための図である。 ガルバノミラーの機能を説明するための図である。 測定光学系の光路長を所定の光路長範囲で走査したときに得られる干渉信号波形を処理する手順を説明するための図である。 被検眼への光の入射角を所定の角度範囲で走査し、各走査角度について得られる情報（図６に示される手順で得られる情報）から被検眼の各部位の位置を特定する手順を説明するための図である。 本実施例に係る眼科装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。 モニタに表示される画面表示の１例（２次元断層画像表示） モニタに表示される画面表示の１例（補正モード表示） モニタに表示される画面表示の１例（Ａスキャン画像表示） モニタに表示される画面表示の１例（２次元断層画像とＡスキャン画像を並列表示した例） モニタに表示される画面表示の１例（２次元断層画像とＡスキャン画像を並列表示した例での補正モード） モニタに表示される画面表示の１例（２次元断層画像と選択された１つのＡスキャン画像を表示した例）

図１に示すように、本実施例の眼科装置は、被検眼１００を検査するための測定部１０を有している。測定部１０は、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、被検眼１００の前眼部を観察する観察光学系５０と、被検眼１００に対して測定部１０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系（図示省略）を有している。アライメント光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。

干渉光学系１４は、光源１２と、光源１２からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源１２からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子２６によって構成されている。

光源１２は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源１２から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼の深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。

測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ミラー２８と、０点調整機構３０と、ミラー３４と、焦点調整機構４０と、入射角調整機構４６と、ホットミラー４８によって構成されている。光源１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４、ミラー２８、０点調整機構３０、ミラー３４、焦点調整機構４０、ガルバノミラー４６、及びホットミラー４８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、ホットミラー４８、ガルバノミラー４６、焦点調整機構４０、ミラー３４、０点調整機構３０、ミラー２８、及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。０点調整機構３０と焦点調整機構４０と入射角調整機構４６については、後で詳述する。

参照光学系は、ビームスプリッタ２４と参照ミラー２２によって構成されている。光源１２から出射された光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２に照射され、参照ミラー２２によって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の眼科装置では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。

受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した干渉光を検出する。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。

観察光学系５０は、被検眼１００にホットミラー４８を介して観察光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（すなわち、照射された観察光の反射光）を撮影する。ここで、ホットミラー４８は、干渉光学系の光源１２からの光を反射する一方で、観察光学系の光源からの光を透過する。このため、本実施例の眼科装置では、干渉光学系による測定と、観察光学系５０による前眼部の観察を同時に行うことができる。なお、観察光学系５０には、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な構成については説明を省略する。

ここで、測定光学系に設けられる０点調整機構３０と焦点調整機構４０と入射角調整機構４６について説明する。０点調整機構３０は、コーナキューブ３２と、コーナキューブ３２をミラー２８，３４に対して進退動させる第２駆動装置５６（図２に図示）を備えている。第２駆動装置５６がコーナキューブ３２を図１の矢印Ａの方向に駆動することで、光源１２から被検眼１００までの光路長（すなわち、測定光学系の物体光路長）が変化する。図３に示すように、光源１２から被検眼１００の検出面（図３では角膜表面）までの物体光路長（詳細には、光源１２〜検出面＋検出面〜受光素子２６）と、光源１２から参照ミラー２２までの参照光路長（詳細には、光源１２〜参照ミラー２２＋参照ミラー２２〜受光素子２６）とに光路差Δｚが存在する場合、光路差Δｚが大きくなるほど、検出面から反射される反射光と参照光とを合成した干渉光の強度は弱くなる。逆に、光路差Δｚが小さいほど、干渉光の強度は強くなる。このため、本実施例では、０点調整機構３０により物体光路長を変化させることで、参照光路長と物体光路長とが一致する位置（いわゆる、０点）を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面まで変化させることができる。

焦点調整機構４０は、光源１２側に配置される凸レンズ４２と、被検眼１００側に配置される凸レンズ４４と、凸レンズ４２に対して凸レンズ４４を光軸方向に進退動させる第３駆動装置５８（図２に図示）を備えている。凸レンズ４２と凸レンズ４４は、光軸上に配置され、入射する平行光の焦点の位置を変化させる。すなわち、第３駆動装置５８が凸レンズ４４を図１の矢印Ｂの方向に駆動することで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。具体的には、凸レンズ４４から照射される光が平行光となるように凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整した状態から、凸レンズ４４を凸レンズ４２から離れる方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は収束光となり、凸レンズ４４を凸レンズ４２に近づく方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は発散光となる。このため、凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整することで、図４（ａ），（ｂ）に示すように、正常視の被検眼１００に対して、照射される光の焦点の位置を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面まで変化させることができる。また、図４（ｃ）、（ｄ）に示す近視眼に対しても、照射される光の焦点の位置が網膜１０６の位置となるように調整することができる。このように、被検眼１００に照射される光の焦点の位置を被検眼１００の角膜１０２の表面や網膜１０６の表面に一致させることで、これらの面から反射される光の強度を強くでき、これらの面の位置を精度よく検出することができる。

入射角調整機構４６は、ガルバノミラー４６ａと、ガルバノミラー４６ａを駆動する第４駆動装置６０を備えている。ガルバノミラー４６ａは、光軸上に配置されており、光軸に対して所定の角度範囲（例えば、±１°）で傾動可能となっている。第４駆動装置６０がガルバノミラー４６ａを所定の角度範囲に振ることで、被検眼１００に照射される光の入射位置と入射角が変化する。すなわち、図５に示すように、ガルバノミラー４６ａの振り角θに応じて、角膜１０２への光の入射位置と入射角が変化し、それによって、水晶体１０４への光の入射位置と入射角が変化し、さらに、網膜への光の入射位置も変化する。
このため、水晶体１０４の法線方向が視軸からずれていても、水晶体１０４に略垂直に光を照射することができる。これにより、水晶体１０４からの反射光の強度が強くなり、水晶体１０４の位置を精度よく検出することができる。また、白内障等によって水晶体１０４に白濁部位があっても、その白濁部位を避けて光を照射することができる。これにより、水晶体１０４を透過する光の強度が強くなり、網膜１０６の位置を精度よく検出することができる。

なお、本実施例の眼科装置では、被検眼１００に照射される光の入射位置が横方向（左右の目を繋ぐ方向）に変化するように、ガルバノミラー４６ａの傾動方向が設定されている。このため、光源１２からの光が瞼やまつ毛等によって被検眼１００に照射されないといった事態が発生することが防止される。

また、本実施例の眼科装置では、被検眼１００に対して測定部１０（詳細には、測定部１０のうち干渉計２０を除いた部分の光学系）の位置を調整するための位置調整機構１６（図２に図示）と、その位置調整機構１６を駆動する第１駆動装置５４（図２に図示）を備えている。図５より明らかなように、被検眼１００に対する測定部１０の位置を調整し、被検眼１００からガルバノミラー４６ａまでの距離Ｌが変化すると、それに応じて被検眼１００に照射される光の入射位置も変化する。したがって、被検眼１００からガルバノミラー４６ａまでの距離Ｌを調整することで、水晶体１０４の所望の範囲に光を入射させることができる。これによって、水晶体１０４の混濁部位等を適切に避けることができる。なお、被検眼１００に照射される光が瞳孔の範囲内で変化するように、被検眼１００からガルバノミラー４６ａまでの距離Ｌを調整することが好ましい。

次に、本実施例の眼科装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置は演算装置６４によって制御される。演算装置６４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置６４には、光源１２と、第１〜第４駆動装置５４〜６０と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。演算装置６４は、光源１２のオン／オフを制御し、第１〜第４駆動装置５４〜６０を制御することで各機構１６，３０，４０，４６を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。また、演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力する。演算装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）の位置を特定し、被検眼１００の眼軸長を算出する。なお、演算装置６４による被検眼１００の各部位の位置を特定する処理の詳細については後述する。

次に、本実施例の眼科装置を用いて眼軸長を測定する際の手順を説明する。図８に示すように、まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせを行う（Ｓ１０）。すなわち、演算装置６４は、検査者の操作部材の操作に応じて、第１駆動装置５４により位置調整機構１６を駆動する。
これによって、被検眼１００に対する測定部１０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。また、演算装置６４は、第２，第３駆動装置５６，５８を駆動して、０点調整機構３０及び焦点調整機構４０を調整する。これによって、光源１２から被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となり、また、物体光路長と参照光路長が一致する０点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となる。

次に、演算装置６４は、第４駆動装置６０を駆動して、ガルバノミラー４６ａを走査角範囲内の１の走査角に調整する（Ｓ１２）。これによって、光源１２からの光は、調整された走査角に対応した入射位置及び入射角度で被検眼１００に入射することとなる。

ガルバノミラー４６ａの調整が終わると、演算装置６４は、光源１２から照射される光の周波数を変化させながら、受光素子２６で検出される信号を取り込む（Ｓ１４）。既に説明したように、光源１２から照射される光の周波数を変化させると、測定光と参照光とが干渉して干渉波を生じる位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。このため、受光素子２６から出力される干渉信号は、図６に示すように、信号強度が時間によって変化する信号となり、この信号には被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号となる。そこで、演算装置６４は、受光素子２６から入力する信号をフーリエ変換することで、その信号から被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された反射光による干渉信号成分を分離する。これにより、演算装置６４は、被検眼１００の各部の位置を特定することができる。なお、光源１２から照射される光の周波数を変化させることで、干渉波が生じる位置を被検眼１００の深さ方向に変化させることを、本明細書ではＡスキャンという。

次に、演算装置６４は、上述したステップＳ１４の測定を、全ての走査角（すなわち、全ての入射位置及び入射角）について実施したか否かを判断する（Ｓ１６）。全ての走査角についてステップＳ１４の測定を実施していない場合（ステップＳ１６でＮＯ）は、ステップＳ１２に戻って、ステップＳ１２からの処理が繰り返される。これによって、ガルバノミラー４６ａを走査する各走査角について、Ａスキャンにより得られる干渉信号が取得される。なお、ガルバノミラー４６ａの走査角（振り角θ）を変化させることで、光源１２からの光が入射する位置および入射角度を変化させることを、本明細書ではＢスキャンという。

全ての走査角についてステップＳ１４の測定を実施している場合（ステップＳ１６でＹＥＳ）は、演算装置６４は、各走査角について得られた干渉信号から、被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置を特定する（Ｓ１８）。具体的には、各走査角についてステップＳ１４の処理を実行すると、各走査角について干渉信号の情報（Ａスキャン情報）が取得される。
したがって、図７に示すように、各走査角の数（ｎ個）だけ干渉信号情報（Ａスキャン情報）が並んだ２次元情報が得られる。このため、演算装置６４は、各干渉信号情報に含まれる被検眼１００の各部位（すなわち、角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）の位置情報の平均値を算出することで、被検眼１００の各部位の位置を特定する。

被検眼１００の各部位の位置が特定できると、演算装置６４は、被検眼１００の眼軸長を算出する。このように算出された被検眼１００の各部位の位置及び眼軸長や２次元情報から取得された被検眼の深さ方向の２次元断層画像が、例えば図９のようにモニタ６２に表示される。図９は画面表示の１例で、モニタ画面２００に算出された被検眼１００の各部位の位置及び眼軸長の値がデータ表示部２４０に表示され、被検眼の深さ方向の２次元断層画像が画像表示部２１０に表示される。画像表示部２１０のライン２２０及び２３０は、算出された被検眼１００の角膜前面位置（２２０）と網膜位置（２３０）である。データ表示部２４０には、１０回測定した値と平均値は表示されているが、データ表示はこれに限ったものではなく、１回の測定値のみ表示してもよいし、１０回以上の測定値を表示してもよい。また、平均値（Ａｖｇ．）や標準偏差（ＳＤ）も必ずしも表示する必要はない。このように、画像表示部２１０に被検眼の深さ方向の２次元断層画像を表示することで、検者は画像表示部２１０の２次元断層画像を確認しながらデータ表示部２４０の測定結果を評価することができる。

もし、検者が画像表示部２１０の２次元断層画像に表示された被検眼１００の角膜前面位置（２２０）と網膜位置（２３０）が適切ではないと判断した場合は、検者は、再測定をするか、又はキャリパーボタン２４０を押して手動で、被検眼１００の角膜前面位置や網膜位置などを指定して補正することもできる。

図１０は補正モードにおける画面表示の１例である。検者がキャリパーボタン２４０を押すと、モニタ６２に表示される画面が図１０の画面表示になる。モニタ表示部２００の下方には補正用の操作ボタン２９０〜３４０が配置されている。また、画像表示部２１０の三角マーク付きのライン２７０及び２８０は、被検眼１００の角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）の位置を示す。最初は演算装置６４で算出された角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）が表示される。検者は、モニタ６２のタッチパネル機能や画面下部にある操作ボタン２９０、３００、３１０を用いて、適切な位置にライン２７０及び２８０を配置することができる。角膜前面位置（２７０）及び網膜位置（２８０）の補正が終了したら、確定ボタン３３０を押し、補正された位置が演算装置６４に記憶されて、再演算され、補正された値がデータ表示部３５０に表示される。

補正の１例として、角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）を補正する手順を以下に説明する。まず、検者はモニタ表示部２００の画像表示部２１０の三角マーク付きのライン２７０又は２８０の近くをタッチする。本実施例におけるモニタはタッチパネル機能があり、モニタ表示部２００にタッチするとタッチした位置が演算装置６４で演算され、記憶されるようになっている。

例えば、ライン２７０の近くをタッチするとライン２７０はタッチした位置に移動する。検者はモニタ表示部２００をタッチして、角膜前面位置（２７０）の位置を補正する。さらに、微細に位置を決める場合はボタン３００及び３１０を用いる。切替ボタン３１０を押すと、ライン２７０又は２８０のいずれかが赤色に変化する。ライン２７０が赤色になるように切替ボタン３１０を押す。その状態で、ボタン３００のいずれかを押すと、ライン２７０は少しずつ右方向又は左方向に移動する。検者は、適切な位置にライン２７０が配置されるようにボタン３００を押す。もっと厳密に位置を決定したい場合は、ボタン２９０を押す。ボタン２９０の右側のボタン（拡大ボタン）を押すと、ライン２７０の周辺が拡大表示され、検者は拡大表示された画像を見て、ライン２７０の位置を調整する。この場合の調整は画面に直接タッチして行ってもいいし、ボタン３００を用いてもいい。

次に、網膜位置（２８０）を補正する。補正手順は角膜前面位置（２７０）の場合と同様であるので、省略する。

初期位置ボタン３２０は、補正する前の位置（測定時に算出された位置）に角膜前面位置（２７０）及び網膜位置（２８０）を戻すためのボタンであり、キャンセルボタン３４０は、補正した角膜前面位置（２７０）及び網膜位置（２８０）をキャンセルし、再度補正を行う場合に使用される。

画像表示部２１０に表示されるライン２７０及び２８０やボタン２９０〜３４０は１例であって、図１０に表示され、配置されたラインや操作ボタンに限定されるわけではない。また、上記説明では、補正する位置が角膜前面位置（２７０）と網膜位置（２８０）になっているが、角膜後面位置、水晶体前面位置や水晶体後面位置も選択可能である。補正位置は２箇所になっているが、これも２箇所に限定したものではなく、１箇所以上で選択できるように設定できるようにしてもよい。位置の補正操作も必ずしもタッチパネル操作は必要ではなく、ボタン３００と３１０のみ用いて行ってもよい。つまり、操作ボタン２９０〜３４０は必ずしも全て必要ではなく、適宜配置されればよい。

図９は取得した２次元断層画像をモニタ表示部２００に表示したが、図７に示した２次元情報から演算装置６４により各干渉信号情報を平均化処理して、１つの被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を算出して、モニタ表示部２００に表示してもよい。

図１１は図９の２次元断層画像２１０の代わりに平均化処理して得られたＡスキャン画像４１０を表示した例である。これにより、従来装置で表示されていたＡスキャン画像も確認でき、検者は測定値の評価をする。２次元断層画像とＡスキャン画像の切替えは切替ボタン４４０で行う。すなわち、検者は測定値の評価を２次元断層画像とＡスキャン画像の両方の画像を確認しながらできるので、水晶体の濁りの状態や網膜疾患の状態の把握もＡスキャン画像のみ表示されていた従来の眼科装置に比べ、把握しやすくなり、結果的には測定値の評価がより効率よく、かつ、正確にできるのである。

図１１の例は、切替ボタンで２次元断層画像とＡスキャン画像の表示を切替ていたが、図１２に示すように、２次元断層画像５１０とＡスキャン画像５００を並列表示してもよい。このように、両方の画像を並列表示することにより、図１１の場合に比べて、評価が容易になる。

図１３は、２次元断層画像５１０とＡスキャン画像５００を並列表示した状態で、図１０に示した補正処理を行う場合の画面である。図１２でキャリパーボタン２４０を押すと図１３の画面が現れ、角膜前面位置（５５０）や網膜位置（５６０）などの位置を補正する。補正の方法は図１０の説明時と同様であるので、ここでは省略する。このように、両方の画像を並列表示することにより、図１０の場合に比べて、補正が容易になると共に補正の精度も向上できる。

図１４は、上述とは別の用途での画面表示を説明する図である。Ａスキャン画像６００は、下方に表示された２次元断層画像５１０のライン６２０における１つの光軸における干渉信号のＡスキャン画像である。（図１１〜１３における平均処理されたＡスキャン画像ではない。）ライン６２０を上下方向に移動させて、ライン６２０の位置での被検眼の深さ方向のＡスキャン画像が表示され、検者はライン６２０を上下させて、被検眼内部の詳細な情報を得ることができる。最初は（ａ）のように２次元断層画像５１０の縦方向（Ｙ方向）の中心にライン６２０が表示される。上方のＡスキャン画像６００には、この縦方向の中心位置におけるＡスキャン画像が表示される。検者は、２次元断層画像５１０のライン６２０の付近をタッチして、確認したい位置へライン６２０を移動させると、（ｂ）のようにライン６２０が（この場合は上方向）移動し、移動したライン６２０の位置のＡスキャン画像が表示される。ライン６２０は上述のようにタッチパネル操作でも移動できるが、ボタン６３０、６４０でも上下方向に移動できるようになっている。

図１４の２次元断層画像５１０には水晶体と網膜の真ん中辺りに小さな点が表示されている例が示されている。ライン６２０をこの小さな点がある位置に移動させることにより、Ａスキャン画像のデータからこの小さな点の部分の波形状態を確認することができるため、例えばノイズかどうかの判断も可能になる。また、水晶体に濁りがある場合も、ライン６２０を移動させて、水晶体の濁り状態を詳細に確認できる。このような機能を持つことにより、上述のように、被検眼内部の状態が詳細に把握できるのである。

図１４では、１つのライン６２０での例を説明したが、これも１つのラインに限ったものではなく、複数のラインを表示して、複数の位置における複数のＡスキャン画像をモニタ表示部２００に表示させてもよい。一度に複数のＡスキャン画像が確認できることで、被検眼内部の状態がより詳細に把握できる。

本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。

１０・・測定部
１２・・光源
１４・・干渉光学系
２０・・干渉計
２２・・参照ミラー
２４・・ビームスプリッタ
２６・・受光素子
２８，３４・・ミラー
３０・・０点調整機構
３２・・コーナキューブ
４０・・焦点調整機構
４２・・凹レンズ
４４・・凸レンズ
４６・・入射角調整機構
４６ａ・・ガルバノミラー
４８・・ホットミラー
５０・・観察光学系
５４・・第１駆動装置
５６・・第２駆動装置
５８・・第３駆動装置
６０・・第４駆動装置
６２・・モニタ
６４・・演算装置

Claims (5)

1. 光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
   該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
   取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
   取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の眼寸法の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、
   前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して１つ以上の位置を任意に指定する指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された位置に基づいて測定値を補正することを特徴とする光干渉眼寸法測定装置。
2. 前記入射手段により取得される複数の干渉信号を平均化処置して被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を表示することを特徴とする請求項１に記載の光干渉眼寸法測定装置。
3. 前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに有し、指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示する請求項２に記載の光干渉眼寸法測定装置。
4. 光源からの光が、被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
   該入射手段を用いて取得される複数の干渉信号に基づいて被検眼内部の２次元断層画像を取得する２次元断層画像取得手段と、
   取得した該２次元断層画像を表示する表示手段を有し、
   取得した前記２次元断層画像に基づいて被検眼の眼寸法の測定値を算出する光干渉眼寸法測定装置において、
   前記表示手段に表示された被検眼内部の前記２次元断層画像に対して被検眼の深さ方向（Ｚ方向）に対して垂直方向の位置を１つ以上指定する指定手段をさらに備え、該指定手段により指定された１つ以上の位置（光軸）の被検眼の深さ方向の１次元画像（Ａスキャン画像）を１つ以上表示することを特徴とする光干渉眼寸法測定装置。
5. 前記表示手段に被検眼内部の前記１次元画像と前記２次元断層画像を並列して表示することを特徴とする請求項２〜４のいずれかに記載の光干渉眼寸法測定装置。