JP5832751B2 - Electronic circuit and magnetic field detection device capable of self-diagnosis - Google Patents
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Description
本発明は、電子回路が正常に機能しているか否かを判断できる自己診断可能な電子回路に関する。 The present invention relates to an electronic circuit capable of self-diagnosis capable of determining whether or not the electronic circuit is functioning normally.
従来、例えば磁界検出のための検出回路を有する電子回路において、磁界検出信号のみを取得可能な構成では、電子回路内にて故障が生じていても、マイクロプロセッサは、その磁界検出信号を正しいものとして演算処理を行ってしまい、信頼性に劣る構成となっていた。 Conventionally, in an electronic circuit having a detection circuit for detecting a magnetic field, for example, in a configuration in which only a magnetic field detection signal can be acquired, even if a failure occurs in the electronic circuit, the microprocessor correctly outputs the magnetic field detection signal. As a result, the calculation process is performed and the reliability is low.
例えば特許文献1には、マルチプレクサ方式電圧測定素子の測定チャネルに、0ボルトの基準電圧を測定するチャネルを設けておき、この基準電圧を測定し、測定結果と基準電圧値とを比較することにより、電圧測定デバイスが正常に通信することが出来ているかどうか判断する構成が開示されている(特許文献1の[0029]欄参照)。
For example, in
しかしながら特許文献1に記載された構成のように、一つの基準電圧のみでは、例えばマルチプレクサが故障していて切換がうまくいかずにロック状態となり、たまたま一つの基準電圧に合った測定結果が出続けると、正常と判断されてしまい、信頼性を十分に向上させることができない。
However, as in the configuration described in
また特許文献1では、例えば電子回路内にオペアンプが接続された構成で、前記オペアンプが故障していても、基準電圧を0Vにしているため、オペアンプの故障を適切に判断することができない。
Further, in
また特許文献2に記載された発明は、外部負荷の種類に応じて複数の駆動電圧を切り替えるように構成された電子回路構成であり、駆動電圧の切換が正常に行われたか否かを一対の分圧抵抗により分圧することで得られる分圧値に基づいて判断している(特許文献2の[0068]欄参照)。
The invention described in
しかしながら特許文献2においても、特許文献1と同様に、ひとつの基準電圧(分圧値)でのみ判断しており、信頼性を十分に向上させることができない。
However, in
本発明は上記従来の問題点を解決するためのものであり、従来に比べて、信頼性の高い自己診断可能な電子回路及び磁界検出装置を提供することを目的としている。 An object of the present invention is to solve the above-described conventional problems, and an object thereof is to provide an electronic circuit and a magnetic field detection device that can perform self-diagnosis with higher reliability than those of the conventional art.
本発明は、検出回路と、前記検出回路からの検出信号を増幅させるオペアンプと、前記検出回路と前記オペアンプとの間に接続されたマルチプレクサと、前記オペアンプからの検出信号を演算処理するマイクロプロセッサと、を有する電子回路において、
高電圧の第1の診断信号と低電圧の第2の診断信号を夫々生成するための診断回路を有し、
前記診断回路は前記マルチプレクサに接続され、前記マルチプレクサにより選択された各診断信号が前記オペアンプを介して前記マイクロプロセッサに入力可能とされており、
前記マイクロプロセッサでは、前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号に基づいて、前記オペアンプおよび前記マルチプレクサが正常に機能しているか否かを診断可能とされており、前記マイクロプロセッサに入力された前記第1の診断信号と比較するための第1の基準電圧と、前記マイクロプロセッサに入力された前記第2の診断信号と比較するための第2の基準電圧とが前記マイクロプロセッサ内に記憶されており、前記マイクロプロセッサに設けられた基準電圧調整部が、前記診断回路の入力電圧の変動に応じて、前記第1の基準電圧と、前記第2の基準電圧とを夫々、入力電圧に対し所定の割合に調整することを特徴とするものである。
The present invention relates to a detection circuit, an operational amplifier for amplifying a detection signal from the detection circuit, a multiplexer connected between the detection circuit and the operational amplifier, and a microprocessor for processing the detection signal from the operational amplifier. In an electronic circuit having
A diagnostic circuit for generating a high-voltage first diagnostic signal and a low-voltage second diagnostic signal, respectively;
The diagnostic circuit is connected to the multiplexer, and each diagnostic signal selected by the multiplexer can be input to the microprocessor via the operational amplifier.
In the microprocessor, based on the first diagnostic signal and the second diagnostic signal, whether or not the operational amplifier and the multiplexer are functioning normally can be diagnosed and input to the microprocessor. A first reference voltage for comparison with the first diagnostic signal and a second reference voltage for comparison with the second diagnostic signal input to the microprocessor are stored in the microprocessor. And a reference voltage adjusting unit provided in the microprocessor converts the first reference voltage and the second reference voltage to the input voltages in accordance with fluctuations in the input voltage of the diagnostic circuit. On the other hand, it is adjusted to a predetermined ratio.
このように、本発明では、高電圧と低電圧の2つの診断信号に基づいてマイクロプロセッサにより電子回路が正常に機能しているか否かを判断しているので、従来に比べて信頼性の高い自己診断可能な電子回路を構成できる。また検出回路と診断回路とをマルチプレクサに接続して、一つのオペアンプ及びマイクロプロセッサを設けた構成であるため、回路構成が複雑にならずコストアップを抑制することができる。 As described above, in the present invention, since the microprocessor determines whether or not the electronic circuit is functioning normally based on the two diagnostic signals of the high voltage and the low voltage, the reliability is higher than the conventional one. An electronic circuit capable of self-diagnosis can be configured. In addition, since the detection circuit and the diagnosis circuit are connected to the multiplexer and the single operational amplifier and the microprocessor are provided, the circuit configuration is not complicated and the cost increase can be suppressed.
また第1の基準電圧と第2の基準電圧を夫々、補正可能であることで、より信頼性の高い自己診断可能な電子回路を構成できる。 In addition, since the first reference voltage and the second reference voltage can be corrected, an electronic circuit that can perform self-diagnosis with higher reliability can be configured.
また本発明では、前記マイクロプロセッサは、前記マイクロプロセッサに入力された前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号に基づいて、前記電子回路が正常に機能しているか否かを診断するための自己診断部を有し、
前記自己診断部には、前記マイクロプロセッサに入力された前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号が正常範囲内か否かを評価するための評価部と、
前記評価部により前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号が正常範囲から逸脱したときに所定のカウンター値を蓄積していくためのカウンター部とを有し、
前記カウンター値が所定以上となったときに異常と判断してエラー信号を出力することが好ましい。これにより、評価部にて、第1の診断信号や第2の診断信号が正常範囲から外れていると判断しても、直ぐにエラー信号を出さずにカウンター値が所定以上になったときに初めてエラー信号を出すことで、電子回路の駆動安定性を向上させることができる。
In the present invention, the microprocessor diagnoses whether or not the electronic circuit is functioning normally based on the first diagnosis signal and the second diagnosis signal input to the microprocessor. Have a self-diagnosis department
The self-diagnosis unit includes an evaluation unit for evaluating whether or not the first diagnosis signal and the second diagnosis signal input to the microprocessor are within a normal range;
A counter unit for accumulating a predetermined counter value when the first diagnostic signal and the second diagnostic signal deviate from a normal range by the evaluation unit;
It is preferable that an error signal is output when it is determined that there is an abnormality when the counter value exceeds a predetermined value. Thus, even when the evaluation unit determines that the first diagnostic signal and the second diagnostic signal are out of the normal range, the first time when the counter value becomes equal to or greater than a predetermined value without immediately issuing an error signal. By issuing an error signal, the driving stability of the electronic circuit can be improved.
また本発明では、前記診断回路は、抵抗分圧回路により、高電圧の前記第1の診断信号及び低電圧の前記第2の診断信号を夫々、出力可能とされていることが好ましい。これにより簡単な診断回路を構成でき、回路構成が複雑にならずコストアップを抑制することができる。 In the present invention, it is preferable that the diagnostic circuit can output the first diagnostic signal having a high voltage and the second diagnostic signal having a low voltage, respectively, by a resistance voltage dividing circuit. As a result, a simple diagnostic circuit can be configured, and the circuit configuration is not complicated, thereby suppressing an increase in cost.
また本発明では、前記検出回路を、複数の磁界検出素子のブリッジ回路にて構成にできる。 In the present invention, the detection circuit can be constituted by a bridge circuit of a plurality of magnetic field detection elements.
また本発明における磁界検出装置は、
磁気センサと磁石とが間隔を空けて対向配置されており、前記磁気センサは前記磁石から発生する磁界の変化を検知するためのものであり、
前記磁気センサに、上記の前記磁界検出素子を含む前記電子回路が構成されていることを特徴とするものである。これにより、誤った磁界検出を行うリスクを効果的に回避でき、磁界検出精度を向上させることができる。
Moreover, the magnetic field detection apparatus in the present invention is
A magnetic sensor and a magnet are arranged to face each other with an interval, and the magnetic sensor is for detecting a change in a magnetic field generated from the magnet,
The magnetic circuit includes the electronic circuit including the magnetic field detection element. As a result, the risk of erroneous magnetic field detection can be effectively avoided, and magnetic field detection accuracy can be improved.
本発明では、高電圧と低電圧の2つの診断信号に基づいてマイクロプロセッサにより電子回路が正常に機能しているか否かを判断しているので、従来に比べて信頼性の高い自己診断可能な電子回路を構成できる。また検出回路と診断回路とをマルチプレクサに接続して、一つのオペアンプ及びマイクロプロセッサを設けた構成であるため、回路構成が複雑にならずコストアップを抑制することができる。 In the present invention, since the microprocessor determines whether or not the electronic circuit is functioning normally based on the two diagnostic signals of high voltage and low voltage, self-diagnosis can be performed with higher reliability than in the past. An electronic circuit can be constructed. In addition, since the detection circuit and the diagnosis circuit are connected to the multiplexer and the single operational amplifier and the microprocessor are provided, the circuit configuration is not complicated and the cost increase can be suppressed.
図1は、本実施形態における磁界検出装置の斜視図である。
図1に示す磁界検出装置9は、磁気センサ10と、磁石14とを有して構成される。図1に示すように磁気センサ10はプリント配線基板11と、プリント配線基板11に電気接続されたセンサ素子12とを有して構成されている。磁気センサ10と磁石14とは間隔を空けて配置されている(非接触)。
FIG. 1 is a perspective view of a magnetic field detection apparatus according to this embodiment.
A magnetic
図2は、磁気センサ10内に組み込まれる電子回路20の回路図である。
図2に示すように電子回路20は、磁界検知部としての検出回路21と、マルチプレクサ22と、オペアンプ(差動増幅器)23と、マイクロプロセッサ24と、診断回路25とを有して構成されている。
FIG. 2 is a circuit diagram of the
As shown in FIG. 2, the
図2に示すように検出回路21は、複数の磁界検出素子S1,S2,S3,S4,S5,S6,S7,S8のブリッジ回路26,27により構成されている。
As shown in FIG. 2, the
図2に示すように磁石14(図2では模式的に点線で示す)が回転すると、各磁界検出素子S1〜S8の電気特性が変化し、第1のブリッジ回路26からは磁界検出信号としてSIN+信号とSIN-信号が出力され、第2のブリッジ回路27からは磁界検出信号としてCOS+信号とCOS-信号が出力される。SIN+信号とSIN-信号、及び、COS+信号とCOS-信号は夫々、位相が180度ずれている。またSIN+信号とCOS+信号、及びSIN-信号とCOS-信号は夫々、位相が90度ずれている。
As shown in FIG. 2, when the magnet 14 (shown schematically by a dotted line in FIG. 2) rotates, the electrical characteristics of the magnetic field detection elements S <b> 1 to S <b> 8 change, and the
図2に示すマルチプレクサ22により、SIN+信号とSIN-信号とが選択されて、オペアンプ23に入力されると、オペアンプ23にて図4(a)に示すように増幅されたSIN信号34を得ることができる。
When the SIN + signal and the SIN − signal are selected by the
また図2に示すマルチプレクサ22により、COS+信号とCOS-信号とが選択されて、オペアンプ23に入力されると、オペアンプ23にて図4(b)に示すように増幅されたCOS信号35を得ることができる。
When the COS + signal and the COS − signal are selected by the
なお図2に示すように例えば、各ブリッジ回路26,27の入力電圧(電源電圧)は5Vであり、よって図4(a)(b)に示すように中点電位は2.5Vである。
As shown in FIG. 2, for example, the input voltage (power supply voltage) of each of the
オペアンプ23により生成されたSIN信号34及びCOS信号35が、例えば、マイクロプロセッサ24の図3に示す演算処理部19にディジタル信号に変換された状態で入力され、演算処理部19にて、「arc tan」関数にて磁石の角度が演算され、角度値を示す出力がおこなわれる。例えば、図示しないD/A変換部においてアナログ値に変換され、電圧値として出力される。このとき、出力電圧は、磁石14が1回転する間に、その角度変化に対して比例的に変化する電圧、すなわち角度変化に対して一次関数で変化する電圧、または一次関数に近似して変化する電圧となり、磁石14の回転角や角速度の信号43として機器本体側の制御部(例えばECU)44に送信される。
For example, the
図2に示す複数の磁界検出素子S1〜S8の素子構成は、磁石14の回転に伴う磁場変化を受けて電気特性が変化するものであれば特に限定されない。例えば、磁界検出素子S1〜S8はGMR素子であり、固定磁性層/非磁性層/フリー磁性層の積層構造を有する。GMR素子は、固定磁性層の固定磁化方向(PIN方向)と、外部磁界の方向により磁化方向が変動するフリー磁性層の磁化方向との磁化関係で電気抵抗が変動する素子である。そして、各磁界検出素子S1〜S8の抵抗変化に基づいて各ブリッジ回路26,27から得られる出力が中点電位から変動し、磁石14の回転に伴って第1ブリッジ回路26からSIN+信号とSIN-信号、及び、第2ブリッジ回路27からCOS+信号とCOS-信号が夫々出力される。このとき、各ブリッジ回路26,27における直列接続された磁界検出素子の間、及び第1ブリッジ回路26と第2ブリッジ回路27との間で、磁界検出素子の固定磁性層の固定磁化方向(PIN方向)を異ならせて、第1ブリッジ回路26からSIN+信号とSIN-信号、及び、第2ブリッジ回路27からCOS+信号とCOS-信号が夫々出力されるように調整されている。
The element configuration of the plurality of magnetic field detection elements S <b> 1 to S <b> 8 shown in FIG. 2 is not particularly limited as long as the electrical characteristics change in response to a magnetic field change accompanying the rotation of the
図2に示すように本実施形態の電子回路20は、診断回路25を有する。診断回路25は、3つの固定抵抗28a〜28cが直列に接続され、固定抵抗28aと固定抵抗28bとの間、及び固定抵抗28bと固定抵抗28cとの間から夫々、異なる分圧抵抗を得るための分圧抵抗回路を構成している。
As shown in FIG. 2, the
図2に示すように、固定抵抗28a側に入力端子30が接続され、固定抵抗28c側にグランド端子31が接続されている。入力端子30は、第1ブリッジ回路26及び第2ブリッジ回路27と共通化することができる。よって、第1ブリッジ回路26及び第2ブリッジ回路27の入力電圧が5Vであれば、診断回路25の入力電圧も5Vである。
As shown in FIG. 2, the
図2に示す診断回路25により、固定抵抗28aと固定抵抗28bとの間の接続部から得られる第1の診断信号32は高電圧となり、固定抵抗28bと固定抵抗28cとの間の接続部から得られる第2の診断信号33は低電圧となる。オペアンプ23を介した後の、第1の診断信号32は中点電位(2.5V)より高く、第2の診断信号33は中点電位(2.5V)より低い方が望ましい。
The first
図2に示すマルチプレクサ22では、マイクロプロセッサ24からチャンネルセレクト信号36を受けて、第1のブリッジ回路26により生成されたSIN+信号とSIN-信号、第2ブリッジ回路27により生成されたCOS+信号とCOS-信号、診断回路25により生成された第1の診断信号32及び第2の診断信号33を順次、選択してオペアンプ23に送る。
In the
図3に示すように、マイクロプロセッサ24には、オペアンプ23により増幅されたSIN信号34、COS信号35、第1の診断信号32、第2の診断信号33が順次、入力され、SIN信号34とCOS信号35は、上記したように、演算処理部19に送られる。
As shown in FIG. 3, the
一方、第1の診断信号32と第2の診断信号33は、マイクロプロセッサ24の自己診断部37に送られる。図5に示すフローチャートも交えながら以下、電子回路20が正常に機能しているか否かを診断する自己診断方法について説明する。
On the other hand, the
図3に示すように、自己診断部37は評価部38、カウンター部39及び基準電圧調整部40等を有して構成される。評価部38では、マイクロプロセッサ24に入力された第1の診断信号32が第1の基準電圧に対して正常範囲内にあるか否か、及び、マイクロプロセッサ24に入力された第2の診断信号33が第2の基準電圧に対して正常範囲内にあるか否かが評価される。
As shown in FIG. 3, the self-
各診断信号32,33と比較するための第1の基準電圧及び第2の基準電圧はマイクロプロセッサ24内に記憶されており、第1の基準電圧は、電子回路20が正常に機能した状態で、マイクロプロセッサ24に入力される第1の診断信号32の電圧値に一致し、第2の基準電圧は、電子回路20が正常に機能した状態で、マイクロプロセッサ24に入力される第2の診断信号33の電圧値に一致している。
The first reference voltage and the second reference voltage to be compared with each
図3に示す基準電圧調整部40では、診断回路25の入力電圧が変動したときに、それに応じて、第1の基準電圧と第2の基準電圧とを夫々補正する。各基準電圧を入力電圧に対する所定の割合(パーセント)で規制することで、入力電圧の変動に応じて、第1の基準電圧及び第2の基準電圧を高精度に調整することができる。
In the reference
図3に示すカウンター部39は、評価部38にて第1の診断信号32や第2の診断信号33が正常範囲から逸脱していると判断された場合に、ある所定のカウンター値を蓄積し、あるいは、正常範囲内であるとカウンター値を減少させる機能を備える。
The
図5のフローチャートに示すようにカウンター値は、最初、ゼロである。図2に示す診断回路25により生成された高電圧の第1の診断信号32と、低電圧の第2の診断信号33が、マルチプレクサ22により夫々、選択され、オペアンプ23を介してマイクロプロセッサ24にて読み取られると、マイクロプロセッサ24の評価部38では、第1の診断信号32を第1の基準電圧と比較して正常範囲内にあるか否か評価し、第2の診断信号33を第2の基準電圧と比較して正常範囲内にあるか否か評価する(図5のステップST1,ST2)。例えば「正常範囲」は基準電圧からある程度の幅を有している。
As shown in the flowchart of FIG. 5, the counter value is initially zero. A high-voltage first
第1の診断信号32及び第2の診断信号33が正常範囲内であると、現時点でのカウンター部39のカウンター値がゼロよりも大きいか否かを判断し(図5のステップST3)、カウンター値がゼロであれば、マイクロプロセッサ24により磁界検出信号であるSIN信号34、COS信号35が読み取られる(図5のステップST4)。そして、磁石14の回転角度や角速度の計算(図5のステップST5)を経て、CAN送信タイミングであれば(図5のステップST6)、磁石14の回転角度や角速度の信号が、図1の磁界検出装置9を組み込んだ電子機器や車載機器等に送信される(図5のステップST7)。CAN送信タイミングでなければ(図5のステップST6)、再び、ステップST1に戻る。また、図5のステップST3で、カウンター値が0よりも大きければ、カウンター値を1つ減らして(ステップST11)、ステップST4へ移行する。
If the first
図5に示すように、ステップST2で、第1の診断信号32あるいは、第2の診断信号33が正常範囲から逸脱していると判断されると、カウンター部39でのカウンター値が例えば3増える(図5のステップST8)。
As shown in FIG. 5, when it is determined in step ST2 that the first
続いてカウンター値が所定のエラー閾値以上であるか否か判断され(図5のステップST9)、カウンター値がエラー閾値を越えていればエラー確定となる(図5のステップST10)。エラー信号45は、図1の磁界検出装置9を組み込んだ電子機器や車載機器等の制御部に送信される(図3参照)。エラー信号45を制御部にてどのように取り扱うかは任意に決定される。例えばエラー信号45を受けて、電子機器や車載機器の駆動を完全に停止させることができる。
Subsequently, it is determined whether or not the counter value is equal to or greater than a predetermined error threshold (step ST9 in FIG. 5). If the counter value exceeds the error threshold, an error is determined (step ST10 in FIG. 5). The
また図5に示すように、ステップST9で、カウンター値がエラー閾値を下回っていれば、ステップST4に移行される。 As shown in FIG. 5, if the counter value is below the error threshold value in step ST9, the process proceeds to step ST4.
このように、評価部38にて、第1の診断信号32や第2の診断信号33が正常範囲から外れていると判断されても、直ぐにエラー信号を出さずにカウンター値が所定以上になったときに初めてエラー信号(図5のステップST9,ST10)を出すことで、電子回路20内に故障は無く、ノイズ等により、たまたま異常な診断信号を出力しても即座にエラーにしないため、電子回路20の駆動安定性を向上させることができる。
Thus, even if the
本実施形態では、高電圧と低電圧の2つの診断信号32,33に基づいてマイクロプロセッサ24により電子回路20が正常に機能しているか否かを判断している点に特徴的構成がある。
The present embodiment is characterized in that the
従来では、診断回路25を設けず、検出回路21からの検出信号のみを処理していたため、マルチプレクサ22やオペアンプ23などに故障があってもマイクロプロセッサ24は、検出回路21からの検出信号が正しいものとして演算及び所定の出力処理を行ってしまうため、信頼性に劣っていた。
Conventionally, since the
あるいは従来では、1つの診断電圧をマイクロプロセッサに入力して、前記マイクロプロセッサ内で設定された基準電圧と比較して、電子回路内に故障があるか否か自己診断する回路構成もある。しかし診断電圧を一つだけにすると、例えば、マルチプレクサ22がロックする故障を起こしたときに、たまたま、マイクロプロセッサ24に設定された基準電圧と一致した電圧が入力され続けると、マイクロプロセッサ24は電子回路20が正常に動作していると誤った判断をしてしまう。
Alternatively, conventionally, there is a circuit configuration in which one diagnostic voltage is input to a microprocessor and compared with a reference voltage set in the microprocessor to self-diagnose whether there is a failure in the electronic circuit. However, if only one diagnostic voltage is used, for example, when a failure occurs in which the
これに対して本実施形態では、高電圧と低電圧の2つの診断信号32,33に基づいてマイクロプロセッサ24により電子回路20が正常に機能しているか否かを判断するので、上記のような問題は生じず、従来に比べて信頼性の高い自己診断可能な電子回路20を構成できる。すなわち、高電圧と低電圧の二つの診断信号32,33を用いることで、電子回路20が故障して正常に機能しなくなったとき、マイクロプロセッサ24に入力される第1の診断信号32あるいは第2の診断信号33の少なくとも一方が、必ず基準電圧と比較して正常範囲から逸脱するため、高精度に電子回路20の状態を調べることが可能にある。
On the other hand, in the present embodiment, the
また図2にように、検出回路21と診断回路25とをマルチプレクサ22に接続して、一つのオペアンプ23及びマイクロプロセッサ24を設けた構成であるため回路構成が複雑化せず、コストアップを抑制することができる。
Further, as shown in FIG. 2, the
また本実施形態では図3に示すように、マイクロプロセッサ24の自己診断部37には基準電圧調整部40が設けられており、基準電圧調整部40では診断回路25の入力電圧に応じて、マイクロプロセッサ24に入力された第1の診断信号と比較するための第1の基準電圧と、マイクロプロセッサ24に入力された第2の診断信号と比較するための第2の基準電圧とをそれぞれ、補正可能としている。これにより、より信頼性の高い自己診断可能な電子回路20を構成できる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 3, the self-
また本実施形態では、診断回路25は、抵抗分圧回路により、高電圧の第1の診断信号32と、低電圧の第2の診断信号を夫々、出力可能とされている。これにより簡単な診断回路25を構成でき、回路構成が複雑にならずコストアップを抑制することができる。
In the present embodiment, the
そして本実施形態における電子回路20を、磁石14と対向配置される磁気センサ10内に組み込むことで、誤った磁界検出を行うリスクを回避でき、磁界検出精度を向上させることが可能である。
本実施形態における電子回路20は、磁気センサ10以外にも適用可能である。
And by incorporating the
The
9 磁界検出装置
10 磁気センサ
11 プリント配線基板
14 磁石
20 電子回路
21 検出回路
22 マルチプレクサ
23 オペアンプ
24 マイクロプロセッサ
25 診断回路
26、27 ブリッジ回路
28a〜28c 固定抵抗
32 第1の診断信号
33 第2の診断信号
34 SIN信号
35 COS信号
37 自己診断部
38 評価部
39 カウンター部
40 基準電圧調整部
DESCRIPTION OF
Claims (5)
高電圧の第1の診断信号と低電圧の第2の診断信号を夫々生成するための診断回路を有し、
前記診断回路は前記マルチプレクサに接続され、前記マルチプレクサにより選択された各診断信号が前記オペアンプを介して前記マイクロプロセッサに入力可能とされており、
前記マイクロプロセッサでは、前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号に基づいて、前記オペアンプおよび前記マルチプレクサが正常に機能しているか否かを診断可能とされており、前記マイクロプロセッサに入力された前記第1の診断信号と比較するための第1の基準電圧と、前記マイクロプロセッサに入力された前記第2の診断信号と比較するための第2の基準電圧とが前記マイクロプロセッサ内に記憶されており、前記マイクロプロセッサに設けられた基準電圧調整部が、前記診断回路の入力電圧の変動に応じて、前記第1の基準電圧と、前記第2の基準電圧とを夫々、入力電圧に対し所定の割合に調整することを特徴とする自己診断可能な電子回路。 An electronic circuit comprising: a detection circuit; an operational amplifier that amplifies a detection signal from the detection circuit; a multiplexer connected between the detection circuit and the operational amplifier; and a microprocessor that performs an arithmetic process on the detection signal from the operational amplifier. In the circuit
A diagnostic circuit for generating a high-voltage first diagnostic signal and a low-voltage second diagnostic signal, respectively;
The diagnostic circuit is connected to the multiplexer, and each diagnostic signal selected by the multiplexer can be input to the microprocessor via the operational amplifier.
In the microprocessor, based on the first diagnostic signal and the second diagnostic signal, whether or not the operational amplifier and the multiplexer are functioning normally can be diagnosed and input to the microprocessor. A first reference voltage for comparison with the first diagnostic signal and a second reference voltage for comparison with the second diagnostic signal input to the microprocessor are stored in the microprocessor. And a reference voltage adjusting unit provided in the microprocessor converts the first reference voltage and the second reference voltage to the input voltages in accordance with fluctuations in the input voltage of the diagnostic circuit. An electronic circuit capable of self-diagnosis characterized by being adjusted to a predetermined ratio.
前記自己診断部には、前記マイクロプロセッサに入力された前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号が正常範囲内か否かを評価するための評価部と、
前記評価部により前記第1の診断信号及び前記第2の診断信号が正常範囲から逸脱したときに所定のカウンター値を蓄積していくためのカウンター部とを有し、
前記カウンター値が所定以上となったときに異常と判断してエラー信号を出力する請求項1記載の自己診断可能な電子回路。 The microprocessor includes a self-diagnosis unit for diagnosing whether or not the electronic circuit is functioning normally based on the first diagnosis signal and the second diagnosis signal input to the microprocessor. Have
The self-diagnosis unit includes an evaluation unit for evaluating whether or not the first diagnosis signal and the second diagnosis signal input to the microprocessor are within a normal range;
A counter unit for accumulating a predetermined counter value when the first diagnostic signal and the second diagnostic signal deviate from a normal range by the evaluation unit;
2. The electronic circuit capable of self-diagnosis according to claim 1, wherein when the counter value exceeds a predetermined value, it is determined that there is an abnormality and an error signal is output.
子回路。 3. The self-diagnosis is possible according to claim 1, wherein the diagnostic circuit can output the first diagnostic signal at a high voltage and the second diagnostic signal at a low voltage by a resistance voltage dividing circuit, respectively. Electronic circuit.
前記磁気センサに、請求項4に記載された前記磁界検出素子を含む前記電子回路が構成されていることを特徴とする磁界検出装置。 A magnetic sensor and a magnet are arranged to face each other with an interval, and the magnetic sensor is for detecting a change in a magnetic field generated from the magnet,
5. The magnetic field detection apparatus, wherein the magnetic circuit includes the electronic circuit including the magnetic field detection element according to claim 4.
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