DE102012200245B4 - Self-diagnostic circuit and magnetic field detection device - Google Patents

Self-diagnostic circuit and magnetic field detection device Download PDF

Info

Publication number
DE102012200245B4
DE102012200245B4 DE102012200245.6A DE102012200245A DE102012200245B4 DE 102012200245 B4 DE102012200245 B4 DE 102012200245B4 DE 102012200245 A DE102012200245 A DE 102012200245A DE 102012200245 B4 DE102012200245 B4 DE 102012200245B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit
signal
diagnostic
microprocessor
diagnosis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102012200245.6A
Other languages
German (de)
Other versions
DE102012200245A1 (en
Inventor
Hirofumi Okumura
Kazuhiro Shigeta
Tsukasa Mizusawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Alpine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alps Alpine Co Ltd filed Critical Alps Alpine Co Ltd
Publication of DE102012200245A1 publication Critical patent/DE102012200245A1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE102012200245B4 publication Critical patent/DE102012200245B4/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0017—Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0023—Electronic aspects, e.g. circuits for stimulation, evaluation, control; Treating the measured signals; calibration
    • G01R33/0035—Calibration of single magnetic sensors, e.g. integrated calibration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

Elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20), aufweisend eine Detektionsschaltung (21), einen Operationsverstärker (23), der eine Verstärkung eines Detektionssignals von der Detektionsschaltung (21) bewirkt, einen zwischen die Detektionsschaltung (21) und den Operationsverstärker (23) geschalteten Multiplexer (22) und einen Mikroprozessor (23), der das von dem Operationsverstärker (23) verstärkte Detektionssignal einer arithmetischen Verarbeitung unterzieht, wobei die elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) aufweist:eine Diagnoseschaltung (25), die an einem ersten Ausgang ein erstes Diagnosesignal (32) mit einer hohen Spannung und an einem zweiten Ausgang ein zweites Diagnosesignal mit einer niedrigen Spannung (33) bereitstellt, wobeidie Diagnoseschaltung (25) derart mit dem Multiplexer (22) verbunden ist, dass es möglich ist, durch den Multiplexer (22) eines der Diagnosesignale (32, 33) auszuwählen und über den Operationsverstärker (23) dem Mikroprozessor (23) zuzuführen, undder Mikroprozessor (23) ausgebildet ist, auf der Grundlage eines Vergleichs des ersten Diagnosesignals (32) mit einer ersten Bezugsspannung und eines Vergleichs des zweiten Diagnosesignals (33) mit einer zweiten Bezugsspannung zu diagnostizieren, ob die elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) normal funktioniert, wobeidie erste und die zweite Bezugsspannung in dem Mikroprozessor (23) gespeichert sind und der Mikroprozessor (23) ausgebildet ist, als Antwort auf die Eingangsspannung der Diagnoseschaltung (25) die erste Bezugsspannung, die mit dem ersten dem Mikroprozessor (23) zugeführten Diagnosesignal (32) zu vergleichen ist, und die zweite Bezugsspannung, die mit dem zweiten dem Mikroprozessor (23) zugeführten Diagnosesignal (33) zu vergleichen ist, individuell zu korrigieren.Electronic self-diagnosis circuit (20), comprising a detection circuit (21), an operational amplifier (23) which effects an amplification of a detection signal from the detection circuit (21), a multiplexer (22) connected between the detection circuit (21) and the operational amplifier (23) and a microprocessor (23) which subjects the detection signal amplified by the operational amplifier (23) to arithmetic processing, the electronic self-diagnosis circuit (20) having: a diagnosis circuit (25) which has a first diagnosis signal (32) having a high voltage and provides a second diagnostic signal with a low voltage (33) at a second output, the diagnostic circuit (25) being connected to the multiplexer (22) in such a way that it is possible through the multiplexer (22) to use one of the diagnostic signals (32 , 33) and feed it to the microprocessor (23) via the operational amplifier (23), and the micr oprocessor (23) is designed to diagnose, on the basis of a comparison of the first diagnostic signal (32) with a first reference voltage and a comparison of the second diagnostic signal (33) with a second reference voltage, whether the electronic self-diagnostic circuit (20) is functioning normally, the first and the second reference voltage are stored in the microprocessor (23) and the microprocessor (23) is designed, in response to the input voltage of the diagnostic circuit (25), to the first reference voltage, which is supplied with the first diagnostic signal (32) fed to the microprocessor (23) is to be compared, and to correct the second reference voltage, which is to be compared with the second diagnostic signal (33) fed to the microprocessor (23), individually.

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine elektronische Selbstdiagnoseschaltung, die dazu in der Lage ist, zu bestimmen, ob eine elektronische Schaltung normal funktioniert oder nicht.The present invention relates to a self-diagnostic electronic circuit capable of determining whether or not an electronic circuit is operating normally.

In der Vergangenheit hat zum Beispiel in einer elektronischen Schaltung, die eine für Magnetfelddetektion verwendete Detektionsschaltung umfasst, ein Mikroprozessor in einer Konfiguration, die zum Erlangen nur eines Magnetfelddetektionssignals in der Lage ist, selbst dann, wenn in einer elektronischen Schaltung eine Störung aufgetreten ist, auf der Grundlage eines korrekten Magnetfelddetektionssignals eine arithmetische Verarbeitung durchgeführt, so dass die Konfiguration letztendlich eine geringere Zuverlässigkeit besaß.In the past, for example, in an electronic circuit including a detection circuit used for magnetic field detection, a microprocessor has a configuration capable of acquiring only a magnetic field detection signal even when a failure has occurred in an electronic circuit arithmetic processing was performed based on a correct magnetic field detection signal, so that the configuration was ultimately less reliable.

In der JP 2006113699 A ist zum Beispiel eine Konfiguration offenbart, in der in dem Messkanal eines Spannungsmesselements vom Multiplextyp ein Kanal vorgesehen ist, der zum Messen einer Bezugsspannung von null Volt verwendet wird, die Bezugsspannung gemessen wird und ein Messergebnis mit einem Bezugsspannungswert verglichen wird, wodurch bestimmt wird, ob eine Spannungsmessvorrichtung Kommunikation normal ausführen kann.In the JP 2006113699 A For example, a configuration is disclosed in which in the measuring channel of a voltage measuring element of the multiplex type, a channel is provided which is used for measuring a reference voltage of zero volts, the reference voltage is measured, and a measurement result is compared with a reference voltage value, thereby determining whether a voltage measuring device can communicate normally.

In einem Fall, in dem eine Bezugsspannung nur auf eine derartige Weise verwendet wird wie in der Konfiguration, die in der JP 2006113699 A beschrieben ist, kann jedoch zum Beispiel dann, wenn in einem Multiplexer eine Störung auftritt und eine Schaltung nicht erfolgreich ausgeführt wird, ein „Lock“-Zustand auftreten. Zudem wird, wenn zufällig weiterhin ein zur Bezugsspannung passendes Messergebnis ausgegeben wird, letztendlich bestimmt, dass die Spannungsmessvorrichtung normal funktioniert, so dass es schwierig ist, die Zuverlässigkeit vollständig zu verbessern.In a case where a reference voltage is used only in such a manner as in the configuration shown in FIG JP 2006113699 A However, if a fault occurs in a multiplexer and a circuit is not executed successfully, a “lock” state can occur, for example. In addition, if a measurement result matching the reference voltage continues to be output by chance, it is ultimately determined that the voltage measuring device is functioning normally, so that it is difficult to fully improve the reliability.

Außerdem ist es in der JP 2006113699 A selbst dann, wenn in einem Operationsverstärker, zum Beispiel in einer Konfiguration, in der der Operationsverstärker in einer elektronischen Schaltung verbunden ist, eine Störung auftritt, schwierig, die Störung des Operationsverstärkers korrekt zu bestimmen, da die Bezugsspannung auf 0 V eingestellt wurde.Plus it's in the JP 2006113699 A even if a malfunction occurs in an operational amplifier, for example, in a configuration in which the operational amplifier is connected in an electronic circuit, it is difficult to correctly determine the malfunction of the operational amplifier since the reference voltage has been set to 0V.

Außerdem ist die in der JP 200859517 A offenbarte Erfindung eine Konfiguration einer elektronischen Schaltung, die so konfiguriert ist, dass sie als Antwort auf den Typ einer externen Last zwischen einer Mehrzahl von Treibspannungen umschaltet, und auf der Grundlage eines Spannungsteilungswerts, der durch das Ausführen von Spannungsteilung unter Verwendung eines Paars von Spannungsteilungswiderständen erlangt wird, bestimmt, ob das Umschalten einer Treibspannung normal durchgeführt wurde.Also, the one in the JP 200859517 A The invention disclosed a configuration of an electronic circuit configured to switch between a plurality of drive voltages in response to the type of external load and based on a voltage dividing value obtained by performing voltage dividing using a pair of voltage dividing resistors is determined whether the switching of a drive voltage has been performed normally.

Jedoch wird auch in der JP 200859517 A auf die gleiche Weise wie in der JP 2006113699 A die Bestimmung unter Verwendung nur einer Bezugsspannung (Spannungsteilungswert) ausgeführt, so dass es schwierig ist, die Zuverlässigkeit vollständig zu verbessern.However, the JP 200859517 A in the same way as in the JP 2006113699 A the determination is carried out using only one reference voltage (voltage division value), so that it is difficult to fully improve the reliability.

DE 195 39 458 A1 offenbart eine Einrichtung zum Erfassen des Lenkradwinkels eines Kraftfahrzeuges mit einer Anzahl von Sensorelementen, die im Zusammenwirken mit codierten Geberscheiben, die sich in Abhängigkeit vom Lenkradwinkel drehen, Ausgangssignale liefern, die wenigstens einen bestimmten Code bilden, der einen eindeutigen Lenkradwinkel charakterisiert. Die Sensorelemente weisen einen ersten Anschluss zur Spannungsversorgung, einen zweiten Anschluss zur Verbindung mit Masse und einen dritten Anschluss, über den ein binäres Ausgangssignal entnehmbar ist, auf. Zusätzlich ist ein weiterer Anschluss vorhanden, über den zu wählbaren Zeiten ein Testsignal zugeführt werden kann, das zu diesen Zeiten das in einem ersten binären Zustand befindliche Ausgangssignal veranlasst, in den zweiten binären Zustand überzugehen. Dabei wird ein Fehler erkannt, wenn der Zustandsübergang nicht auftritt, wenn der registrierte Code eine unmögliche Bitkombination aufweist und/oder wenn unzulässige Änderungen des Codes erkannt werden. DE 195 39 458 A1 discloses a device for detecting the steering wheel angle of a motor vehicle with a number of sensor elements which, in cooperation with coded encoder disks which rotate as a function of the steering wheel angle, provide output signals which form at least one specific code which characterizes a unique steering wheel angle. The sensor elements have a first connection for voltage supply, a second connection for connection to ground and a third connection via which a binary output signal can be taken. In addition, there is a further connection via which a test signal can be fed at selectable times, which at these times causes the output signal, which is in a first binary state, to change to the second binary state. An error is recognized if the state transition does not occur, if the registered code has an impossible bit combination and / or if impermissible changes to the code are recognized.

Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine elektronische Selbstdiagnoseschaltung und eine Magnetfelddetektionsvorrichtung bereit zu stellen, die eine höhere Zuverlässigkeit besitzen als die bisher verwandte Technik.It is an object of the present invention to provide an electronic self-diagnosis circuit and a magnetic field detection device which are more reliable than the heretofore related art.

Die vorliegende Erfindung stellt eine elektronische Schaltung bereit, die eine Detektionsschaltung, einen Operationsverstärker, der die Verstärkung eines Detektionssignals von der Detektionsschaltung bewirkt, einen zwischen die Detektionsschaltung und den Operationsverstärker geschalteten Multiplexer und einen Mikroprozessor, der ein Detektionssignal von dem Operationsverstärker einer arithmetischen Verarbeitung unterzieht, aufweist, wobei die elektronische Schaltung auch eine Diagnoseschaltung aufweist, die zum individuellen Erzeugen eines ersten Diagnosesignals mit einer hohen Spannung und eines zweiten Diagnosesignals mit einer niedrigen Spannung verwendet wird, wobei die Diagnoseschaltung mit dem Multiplexer verbunden ist und es möglich ist, jedes von dem Multiplexer ausgewählte Diagnosesignal durch den Operationsverstärker dem Mikroprozessor zuzuführen, und es möglich ist, in dem Mikroprozessor auf der
Grundlage des ersten Diagnosesignals und des zweiten Diagnosesignals zu diagnostizieren, ob die elektronische Schaltung normal funktioniert.The present invention provides an electronic circuit comprising a detection circuit, an operational amplifier that effects amplification of a detection signal from the detection circuit, a multiplexer connected between the detection circuit and the operational amplifier, and a microprocessor that subjects a detection signal from the operational amplifier to arithmetic processing, wherein the electronic circuit also comprises a diagnostic circuit which is used for individually generating a first diagnostic signal with a high voltage and a second diagnostic signal with a low voltage, the diagnostic circuit being connected to the multiplexer and it being possible to each of the multiplexer selected diagnostic signal through the operational amplifier to the microprocessor, and it is possible in the microprocessor on the
Based on the first diagnostic signal and the second diagnostic signal to diagnose whether the electronic circuit is functioning normally.

Auf eine solche wie oben beschriebene Weise kann in der vorliegenden Ausführungsform, da der Mikroprozessor auf der Grundlage der zwei Diagnosesignale mit einer hohen Spannung bzw. einer niedrigen Spannung bestimmt, ob die elektronische Schaltung normal funktioniert, eine elektronische Selbstdiagnoseschaltung konfiguriert werden, die im Vergleich zu einer technischen Ausführung der verwandten Technik eine hohe Zuverlässigkeit aufweist. Zudem kann, da eine Konfiguration verwendet wird, bei der die Detektionsschaltung und die Diagnoseschaltung mit dem Multiplexer verbunden sind und der eine Operationsverstärker und der Mikroprozessor vorgesehen sind, eine Erhöhung der Kosten verhindert werden, ohne dass die Schaltungskonfiguration kompliziert ist.In such a manner as described above, in the present embodiment, since the microprocessor determines whether the electronic circuit is operating normally based on the two diagnostic signals having a high voltage and a low voltage, respectively, a self-diagnostic electronic circuit can be configured which, compared to FIG a technical implementation of the related art has high reliability. In addition, since a configuration is used in which the detection circuit and the diagnosis circuit are connected to the multiplexer and the one operational amplifier and the microprocessor are provided, an increase in cost can be prevented without complicating the circuit configuration.

In der vorliegenden Erfindung ist es wünschenswert, dass es möglich ist, in dem Mikroprozessor eine erste Bezugsspannung, die mit dem ersten dem Mikroprozessor zugeführten Diagnosesignal zu vergleichen ist, und eine zweite Bezugsspannung, die mit dem zweiten dem Mikroprozessor zugeführten Diagnosesignal zu vergleichen ist, als Antwort auf die Eingangsspannung der Diagnoseschaltung individuell zu korrigieren. Dementsprechend kann eine elektronische Selbstdiagnoseschaltung mit einer höheren Zuverlässigkeit konfiguriert werden.In the present invention, it is desirable that it is possible to use in the microprocessor a first reference voltage to be compared with the first diagnostic signal supplied to the microprocessor and a second reference voltage to be compared with the second diagnostic signal supplied to the microprocessor as Correct response to the input voltage of the diagnostic circuit individually. Accordingly, a self-diagnostic electronic circuit can be configured with higher reliability.

Außerdem ist es in der vorliegenden Erfindung wünschenswert, dass der Mikroprozessor eine Selbstdiagnoseeinheit aufweist, die dafür verwendet wird, auf der Grundlage des ersten Diagnosesignals und des zweiten Diagnosesignals, die dem Mikroprozessor zugeführt werden, zu diagnostizieren, ob die elektronische Schaltung normal funktioniert, und dass die Selbstdiagnoseeinheit eine Auswertungseinheit, die verwendet wird, um auszuwerten, ob das erste Diagnosesignal und das zweite Diagnosesignal, die dem Mikroprozessor zugeführt werden, innerhalb eines normalen Bereichs liegen, und eine Zählereinheit, die zum Erhöhen eines vorbestimmten Zählerwerts verwendet wird, wenn das erste Diagnosesignal und das zweite Diagnosesignal entsprechend der Auswertung der Auswertungseinheit von einem normalen Bereich abweichen, aufweist, wobei, wenn der Zählerwert größer oder gleich einem vorbestimmten Wert geworden ist, eine Anomalie bestimmt und ein Fehlersignal ausgegeben wird. Dementsprechend wird, selbst wenn in der Auswertungseinheit bestimmt wird, dass das erste Diagnosesignal oder das zweite Diagnosesignal außerhalb des normalen Bereichs liegen, nicht umgehend ein Fehlersignal ausgegeben, sondern wird das Fehlersignal erstmals ausgegeben, wenn der Zählerwert größer oder gleich dem vorbestimmten Wert geworden ist. Dementsprechend kann die Treiberstabilität der elektronischen Schaltung verbessert werden.In addition, in the present invention, it is desirable that the microprocessor has a self-diagnosis unit which is used to diagnose whether the electronic circuit is functioning normally and that based on the first diagnosis signal and the second diagnosis signal supplied to the microprocessor the self-diagnosis unit, an evaluation unit which is used to evaluate whether the first diagnosis signal and the second diagnosis signal supplied to the microprocessor are within a normal range, and a counter unit which is used to increase a predetermined counter value when the first diagnosis signal and the second diagnostic signal deviate from a normal range in accordance with the evaluation of the evaluation unit, wherein if the counter value has become greater than or equal to a predetermined value, an anomaly is determined and an error signal is output. Accordingly, even if it is determined in the evaluation unit that the first diagnostic signal or the second diagnostic signal are outside the normal range, an error signal is not immediately output, but the error signal is output for the first time when the counter value has become greater than or equal to the predetermined value. Accordingly, the driving stability of the electronic circuit can be improved.

Außerdem ist es in der vorliegenden Erfindung wünschenswert, dass die Diagnoseschaltung aufgrund einer Widerstandsspannungsteilungsschaltung in der Lage ist, das erste Diagnosesignal mit einer hohen Spannung und das zweite Diagnosesignal mit einer niedrigen Spannung individuell auszugeben. Dementsprechend kann eine einfachere Diagnoseschaltung konfiguriert und eine Erhöhung der Kosten verhindert werden, ohne dass die Schaltungskonfiguration kompliziert ist.In addition, in the present invention, it is desirable that the diagnosis circuit be able to output the first diagnosis signal with a high voltage and the second diagnosis signal with a low voltage individually by virtue of a resistance voltage dividing circuit. Accordingly, a simpler diagnosis circuit can be configured and an increase in cost can be prevented without complicating the circuit configuration.

Zudem kann in der vorliegenden Erfindung die Detektionsschaltung aufgrund einer Mehrzahl von Magnetfelddetektionselementen unter Verwendung einer Brückenschaltung konfiguriert werden.In addition, in the present invention, the detection circuit can be configured based on a plurality of magnetic field detection elements using a bridge circuit.

Außerdem sind in einer Magnetfelddetektionsvorrichtung in der vorliegenden Erfindung ein Magnetsensor und ein Magnet einander gegenüber und voneinander beabstandet positioniert und wird der Magnetsensor dazu verwendet, die Veränderung eines von dem Magneten ausgehenden Magnetfelds zu detektieren, wobei die das Magnetfelddetektionselement umfassende elektronische Schaltung in dem Magnetsensor konfiguriert ist. Dementsprechend kann das Risiko der Ausführung fehlerhafter Magnetfelddetektion effektiv vermieden und die Magnetfelddetektionsgenauigkeit verbessert werden.Also, in a magnetic field detection device in the present invention, a magnetic sensor and a magnet are positioned opposite and spaced from each other, and the magnetic sensor is used to detect the change in a magnetic field emanating from the magnet, the electronic circuit including the magnetic field detection element being configured in the magnetic sensor . Accordingly, the risk of erroneous magnetic field detection being carried out can be effectively avoided and the magnetic field detection accuracy can be improved.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Figuren näher erläutert. Es zeigt:

  • 1 eine perspektivische Ansicht einer Magnetfelddetektionsvorrichtung;
  • 2 ein elektronisches Schaltungsdiagramm in der vorliegenden Ausführungsform;
  • 3 ein Konfigurationsdiagramm eines Mikroprozessors in der vorliegenden Ausführungsform;
  • 4A eine Bildansicht eines SIN-Signals, das von einer in 2 dargestellten Detektionsschaltung durch einen Operationsverstärker auf der Grundlage der Veränderung eines Magnetfelds, die mit der Drehung eines Magneten zusammenhängt, erzeugt wird;
  • 4B eine Bildansicht eines COS-Signals, das von einer in 2 dargestellten Detektionsschaltung durch den Operationsverstärker auf der Grundlage der Veränderung eines Magnetfelds, die mit der Drehung des Magneten zusammenhängt, erzeugt wird; und
  • 5 ein Ablaufdiagramm, das zur Selbstdiagnose verwendet wird, ob eine elektronische Schaltung in der vorliegenden Ausführungsform normal funktioniert.
The invention is explained in more detail below on the basis of exemplary embodiments with reference to the figures. It shows:
  • 1 a perspective view of a magnetic field detection device;
  • 2 an electronic circuit diagram in the present embodiment;
  • 3 a configuration diagram of a microprocessor in the present embodiment;
  • 4A a pictorial view of a SIN signal transmitted by an in 2 the detection circuit shown is generated by an operational amplifier on the basis of the change in a magnetic field associated with the rotation of a magnet;
  • 4B a pictorial view of a COS signal transmitted by an in 2 the detection circuit shown is generated by the operational amplifier on the basis of the change in a magnetic field associated with the rotation of the magnet; and
  • 5 Fig. 13 is a flowchart used for self-diagnosis as to whether an electronic circuit is operating normally in the present embodiment.

1 ist die perspektivische Ansicht einer Magnetfelddetektionsvorrichtung in der vorliegenden Ausführungsform. 1 Fig. 13 is the perspective view of a magnetic field detection device in the present embodiment.

Eine in 1 dargestellte Magnetfelddetektionsvorrichtung 9 ist so konfiguriert, dass sie einen Magnetsensor 10 und einen Magneten 14 umfasst. Wie in 1 dargestellt, ist der Magnetsensor 10 so konfiguriert, dass er eine Leiterplatte 11 und ein Sensorelement 12 umfasst, das elektrisch mit der Leiterplatte 11 verbunden ist. Der Magnetsensor 10 und der Magnet 14 sind voneinander beabstandet (ohne Kontakt) angeordnet.One in 1 illustrated magnetic field detection device 9 is configured to have a magnetic sensor 10 and a magnet 14th includes. As in 1 shown is the magnetic sensor 10 configured to be a circuit board 11 and a sensor element 12th includes that is electrically connected to the circuit board 11 connected is. The magnetic sensor 10 and the magnet 14th are spaced apart (without contact).

2 ist das Schaltungsdiagramm einer in den Magnetsensor 10 eingebetteten elektronischen Schaltung 20. 2 Fig. 3 is the circuit diagram of one in the magnetic sensor 10 embedded electronic circuit 20th .

Wie in 2 dargestellt, ist die elektronische Schaltung 20 so konfiguriert, dass sie eine Detektionsschaltung 21, die als Magnetfelddetektionseinheit dient, einen Multiplexer 22, einen Operationsverstärker (Differenzverstärker) 23, einen Mikroprozessor 24 und eine Diagnoseschaltung 25 umfasst.As in 2 shown is the electronic circuit 20th configured to have a detection circuit 21 serving as a magnetic field detection unit, a multiplexer 22nd , an operational amplifier (differential amplifier) 23 , a microprocessor 24 and a diagnostic circuit 25th includes.

Wie in 2 dargestellt, umfasst die Detektionsschaltung 21 auf einer Mehrzahl von Magnetfelddetektionselementen S1, S2, S3, S4, S5, S6, S7 und S8 basierende Brückenschaltungen 26 und 27.As in 2 shown comprises the detection circuit 21 on a plurality of magnetic field detection elements S1 , S2 , S3 , S4 , S5 , S6 , S7 and S8 based bridge circuits 26th and 27 .

Wie in 2 dargestellt, ändern sich, wenn sich der (in 2 mit einer gestrichelten Linie schematisch dargestellte) Magnet 14 dreht, die elektrische Charakteristik jedes der Magnetfelddetektionselemente S1 bis S8 und werden von der ersten Brückenschaltung 26 ein SIN+- und ein SIN--Signal als ein Magnetfelddetektionssignal ausgegeben und von der zweiten Brückenschaltung 27 ein COS+- und ein COS--Signal als ein Magnetfelddetektionssignal ausgegeben. Das SIN+- und das COS+-Signal sind zu dem SIN-- bzw. dem COS--Signal um 180 Grad gegenphasig. Das SIN+- und das SIN--Signal sind zu dem COS+- bzw. dem COS--Signal um 90 Grad gegenphasig.As in 2 shown, change when the (in 2 with a dashed line shown schematically) magnet 14th rotates, the electrical characteristic of each of the magnetic field detection elements S1 until S8 and are from the first bridge circuit 26th a SIN + and a SIN - signal are output as a magnetic field detection signal and from the second bridge circuit 27 a COS + and a COS - signal are output as a magnetic field detection signal. The SIN + - and the COS + signal are to the SIN - - or the - COS signal in anti-phase by 180 degrees. The SIN + and SIN - signals are 90 degrees out of phase with the COS + and COS - signals, respectively.

Wenn das SIN+- und das SIN--Signal von dem in 2 dargestellten Multiplexer 22 ausgewählt und dem Operationsverstärker 23 zugeführt werden, kann ein SIN-Signal 34 erhalten werden, das in dem Operationsverstärker 23 wie in 4A dargestellt verstärkt wird.When the SIN + and SIN - signals from the in 2 shown multiplexer 22nd selected and the op amp 23 can be supplied, a SIN signal 34 obtained in the operational amplifier 23 as in 4A shown is reinforced.

Zusätzlich kann, wenn das COS+- und das COS--Signal von dem in 2 dargestellten Multiplexer 22 ausgewählt und dem Operationsverstärker 23 zugeführt werden, ein COS-Signal 35 erhalten werden, das in dem Operationsverstärker 23 wie in 4B dargestellt verstärkt wird.In addition, when the COS + and COS - signals from the in 2 shown multiplexer 22nd selected and the op amp 23 are supplied, a COS signal 35 obtained in the operational amplifier 23 as in 4B shown is reinforced.

Zudem ist, wie in 2 dargestellt, zum Beispiel die Eingangsspannung (Energieversorgungsspannung) jeder der Brückenschaltungen 26 und 27 5 V und sind die Mittelpunktpotentiale der Brückenschaltungen 26 und 27 somit 2,5 V, wie in 4A und 4B dargestellt.In addition, as in 2 shown, for example, the input voltage (power supply voltage) of each of the bridge circuits 26th and 27 5 V and are the midpoint potentials of the bridge circuits 26th and 27 thus 2.5 V, as in 4A and 4B shown.

Zum Beispiel werden das SIN-Signal 34 und das COS-Signal 35, die von dem Operationsverstärker 23 erzeugt werden, nachdem sie in Digitalsignale umgewandelt wurden, einer Einheit 19 zur arithmetischen Verarbeitung in dem Mikroprozessor 24, dargestellt in 3, zugeführt, wird der Winkel des Magneten in der Einheit 19 zur arithmetischen Verarbeitung unter Verwendung einer „arctan‟(Arkustangens)-Funktion berechnet und wird eine Ausgabe, die einen Winkelwert anzeigt, ausgegeben. Zum Beispiel wird der Winkelwert in einer nicht dargestellten Digital-Analog-Umwandlungseinheit in einen analogen Wert umgewandelt und als ein Spannungswert ausgegeben. Zu diesem Zeitpunkt wird, während der Magnet 14 eine Umdrehung ausführt, die Ausgangsspannung eine Spannung, die sich im Verhältnis zu der Winkelveränderung ändert, nämlich eine Spannung, die sich bezüglich der Winkelveränderung auf die Weise einer linearen Funktion ändert, oder eine Spannung, die sich auf eine einer linearen Funktion annähernd ähnliche Weise ändert, und wird als ein Signal 43 des Drehwinkels oder der Winkelgeschwindigkeit des Magneten 14 an eine Steuereinheit (zum Beispiel eine ECU (elektronische Steuereinheit)) 44 auf der Hauptkörperseite einer Vorrichtung übertragen.For example the SIN signal 34 and the COS signal 35 by the op amp 23 after being converted into digital signals, one unit 19th for arithmetic processing in the microprocessor 24 , shown in 3 , supplied, is the angle of the magnet in the unit 19th for arithmetic processing using an "arctan" function and an output indicating an angle value is given. For example, the angle value is converted into an analog value in a digital-to-analog conversion unit (not shown) and output as a voltage value. At this point, while the magnet 14th makes one revolution, the output voltage is a voltage which changes in proportion to the angular change, namely a voltage which changes in the manner of a linear function with respect to the angular change, or a voltage which changes in a manner approximately similar to a linear function , and is used as a signal 43 the angle of rotation or the angular speed of the magnet 14th to a control unit (for example, an ECU (Electronic Control Unit)) 44 on the main body side of an apparatus.

Wenn die Elementkonfigurationen der Mehrzahl von Magnetfelddetektionselementen S1 bis S8, dargestellt in 2, Elementkonfigurationen sind, deren elektrische Charakteristika sich bedingt durch den Empfang einer Änderung in dem Magnetfeld, die mit der Drehung des Magneten 14 zusammenhängt, ändern, sind die Elementkonfigurationen nicht auf spezielle Beispiele beschränkt. Die Magnetfelddetektionselemente S1 bis S8 sind zum Beispiel GMR-Elemente und weisen eine Laminatstruktur mit einer fixierten Magnetschicht, einer nicht magnetischen Schicht und einer freien Magnetschicht auf. Das GMR-Element ist ein Element, dessen elektrischer Widerstand sich auf der Grundlage einer Magnetisierungsbeziehung zwischen der fixierten Magnetisierungsrichtung (Pinn-Richtung) der fixierten Magnetschicht und der Magnetisierungsrichtung der freien Magnetschicht, deren Magnetisierungsrichtung sich auf der Grundlage der Richtung eines externen Magnetfelds ändert, ändert. Außerdem ändert sich eine Ausgabe, die von jeder der Brückenschaltungen 26 und 27 auf der Grundlage der Widerstandsänderung jeder der Magnetfelddetektionselemente S1 bis S8 erhalten wird, gegenüber dem Mittelpunktpotential und werden im Zusammenhang mit der Drehung des Magneten 14 das SIN+- und das SIN--Signal und das COS+- und das COS--Signal von der ersten Brückenschaltung 26 bzw. der zweiten Brückenschaltung 27 ausgegeben. Zu diesem Zeitpunkt wird bewirkt, dass sich die fixierten Magnetisierungsrichtungen (Pinn-Richtungen) der fixierten Magnetschichten der Magnetfelddetektionselemente zwischen reihengeschalteten Magnetfelddetektionselementen in jeder der Brückenschaltungen 26 und 27 und zwischen der ersten Brückenschaltung 26 und der zweiten Brückenschaltung 27 unterscheiden, und wird eine Anpassung ausgeführt, so dass das SIN+- und das SIN--Signal und das COS+- und das COS--Signal von der ersten Brückenschaltung 26 bzw. der zweiten Brückenschaltung 27 ausgegeben werden.When the element configurations of the plurality of magnetic field detection elements S1 until S8 , shown in 2 , Element configurations are the electrical characteristics of which are due to the reception of a change in the magnetic field that occurs with the rotation of the magnet 14th related, change, the element configurations are not limited to specific examples. The magnetic field detection elements S1 until S8 are, for example, GMR elements and have a laminate structure with a fixed magnetic layer, a non-magnetic layer and a free magnetic layer. The GMR element is an element whose electrical resistance changes based on a magnetization relationship between the pinned direction of magnetization (pinned direction) of the pinned magnetic layer and the direction of magnetization of the free magnetic layer whose direction of magnetization changes based on the direction of an external magnetic field . In addition, an output from each of the bridge circuits changes 26th and 27 based on the change in resistance of each of the magnetic field detection elements S1 until S8 is obtained versus the midpoint potential and are related to the rotation of the magnet 14th the SIN + and SIN - signals and the COS + and COS - signals from the first bridge circuit 26th or the second bridge circuit 27 issued. At this point in time, the fixed directions of magnetization (pinned directions) of the fixed magnetic layers of the magnetic field detection elements are caused to overlap between series-connected magnetic field detection elements in each of the bridge circuits 26th and 27 and between the first bridge circuit 26th and the second bridge circuit 27 differ, and adjustment is carried out so that the SIN + and SIN - signals and the COS + and COS - signals from the first bridge circuit 26th or the second bridge circuit 27 are issued.

Wie in 2 dargestellt, umfasst die elektronische Schaltung 20 der vorliegenden Ausführungsform eine Diagnoseschaltung 25. In der Diagnoseschaltung 25 sind drei Festwiderstände 28a bis 28c in Reihe geschaltet, wodurch eine Spannungsteilungswiderstandsschaltung konfiguriert wird, die zum Erlangen verschiedener Spannungsteilungswiderstände zwischen dem Festwiderstand 28a und dem Festwiderstand 28b und zwischen dem Festwiderstand 28b und dem Festwiderstand 28c verwendet wird.As in 2 shown includes the electronic circuit 20th of the present embodiment, a diagnosis circuit 25th . In the diagnostic circuit 25th are three fixed resistors 28a until 28c connected in series, thereby configuring a voltage dividing resistor circuit capable of obtaining various voltage dividing resistances between the fixed resistor 28a and the fixed resistor 28b and between the fixed resistor 28b and the fixed resistor 28c is used.

Wie in 2 dargestellt, ist ein Eingangsanschluss 30 mit einer Seite eines Festwiderstands 28a verbunden und ist ein Masseanschluss 31 mit einer Seite eines Festwiderstands 28c verbunden. Der Eingangsanschluss 30 kann von der ersten Brückenschaltung 26 und der zweiten Brückenschaltung 27 gemeinsam genutzt werden. Dementsprechend ist, wenn die Eingangsspannungen der ersten Brückenschaltung 26 und der zweiten Brückenschaltung 27 5 V sind, die Eingangsspannung der Diagnoseschaltung 25 auch 5 V.As in 2 shown is an input port 30th with one side of a fixed resistor 28a connected and is a ground connection 31 with one side of a fixed resistor 28c connected. The input connector 30th can from the first bridge circuit 26th and the second bridge circuit 27 shared. Accordingly, if the input voltages of the first bridge circuit 26th and the second bridge circuit 27 5 V is the input voltage of the diagnostic circuit 25th also 5 V.

Bedingt durch die in 2 dargestellte Diagnoseschaltung 25 erhält ein erstes Diagnosesignal 32, das von einem Verbindungsteil zwischen dem Festwiderstand 28a und dem Festwiderstand 28b erhalten wird, eine hohe Spannung und ein zweites Diagnosesignal 33, das von einem Verbindungsteil zwischen dem Festwiderstand 28b und dem Festwiderstand 28c erhalten wird, eine niedrige Spannung. Es ist wünschenswert, dass das erste Diagnosesignal 32 nach Durchlaufen des Operationsverstärkers 23 höher ist als das Mittelpunktpotential (2,5 V) und das zweite Diagnosesignal 33 niedriger ist als das Mittelpunktpotential (2,5 V).Due to the in 2 Diagnostic circuit shown 25th receives a first diagnostic signal 32 that is from a connecting part between the fixed resistor 28a and the fixed resistor 28b is obtained, a high voltage and a second diagnostic signal 33 that is from a connecting part between the fixed resistor 28b and the fixed resistor 28c is obtained, a low voltage. It is desirable that the first diagnostic signal 32 after going through the operational amplifier 23 is higher than the midpoint potential (2.5 V) and the second diagnostic signal 33 is lower than the midpoint potential (2.5 V).

Der in 2 dargestellte Multiplexer 22 empfängt ein Kanalauswahlsignal 36 von dem Mikroprozessor 24 und wählt und schickt nacheinander das SIN+- und das SIN--Signal, die von der ersten Brückenschaltung 26 erzeugt werden, das COS+- und das COS--Signal, die von der zweiten Brückenschaltung 27 erzeugt werden, und das erste Diagnosesignal 32 und das zweite Diagnosesignal 33, die von der Diagnoseschaltung 25 erzeugt werden, an den Operationsverstärker 23.The in 2 shown multiplexer 22nd receives a channel selection signal 36 from the microprocessor 24 and selects and sends successively the SIN + and the SIN - signals from the first bridge circuit 26th are generated, the COS + and the COS - signals, which are generated by the second bridge circuit 27 are generated, and the first diagnostic signal 32 and the second diagnostic signal 33 by the diagnostic circuit 25th generated to the operational amplifier 23 .

Wie in 3 dargestellt, werden das SIN-Signal 34, das COS-Signal 35, das erste Diagnosesignal 32 und das zweite Diagnosesignal 33, die von dem Operationsverstärker 23 verstärkt werden, nacheinander dem Mikroprozessor 24 zugeführt und werden das SIN-Signal 34 und das COS-Signal 35, wie oben beschrieben, an die Einheit 19 zur arithmetischen Verarbeitung geschickt.As in 3 are the SIN signal 34 , the COS signal 35 , the first diagnostic signal 32 and the second diagnostic signal 33 by the op amp 23 are amplified, successively the microprocessor 24 and are the SIN signal 34 and the COS signal 35 as described above to the unit 19th sent for arithmetic processing.

Andererseits werden das erste Diagnosesignal 32 und das zweite Diagnosesignal 33 an eine Selbstdiagnoseeinheit 37 in dem Mikroprozessor 24 geschickt. Nachstehend wird mit Bezug auf ein in 5 dargestelltes Ablaufdiagramm ein Selbstdiagnoseverfahren beschrieben, das verwendet wird, um zu diagnostizieren, ob die elektronische Schaltung 20 normal funktioniert.On the other hand, the first diagnostic signal 32 and the second diagnostic signal 33 to a self-diagnosis unit 37 in the microprocessor 24 sent. With reference to an in 5 The illustrated flowchart describes a self-diagnostic method used to diagnose whether the electronic circuit 20th works normally.

Wie in 3 dargestellt, ist die Selbstdiagnoseeinheit 37 so konfiguriert, dass sie eine Auswertungseinheit 38, eine Zählereinheit 39, eine Bezugsspannungseinstellungseinheit 40 und Ähnliches umfasst. In der Auswertungseinheit 38 wird ausgewertet, ob das erste dem Mikroprozessor 24 zugeführte Diagnosesignal 32 bezüglich einer ersten Bezugsspannung innerhalb eines normalen Bereichs liegt und ob das zweite dem Mikroprozessor 24 zugeführte Diagnosesignal 33 bezüglich einer zweiten Bezugsspannung innerhalb eines normalen Bereichs liegt.As in 3 shown is the self-diagnostic unit 37 configured to be an evaluation unit 38 , a counter unit 39 , a reference voltage setting unit 40 and the like. In the evaluation unit 38 it is evaluated whether the first the microprocessor 24 supplied diagnostic signal 32 is within a normal range with respect to a first reference voltage and whether the second is within a normal range to the microprocessor 24 supplied diagnostic signal 33 is within a normal range with respect to a second reference voltage.

Die erste Bezugsspannung und die zweite Bezugsspannung, die mit den Diagnosesignalen 32 bzw. 33 verglichen werden, sind in dem Mikroprozessor 24 gespeichert. Außerdem fällt in einem Zustand, in dem die elektronische Schaltung 20 normal funktioniert, die erste Bezugsspannung mit dem Spannungswert des ersten dem Mikroprozessor 24 zugeführten Diagnosesignals 32 zusammen und fällt in einen Zustand, in dem die elektronische Schaltung 20 normal funktioniert, die zweite Bezugsspannung mit dem Spannungswert des zweiten dem Mikroprozessor 24 zugeführten Diagnosesignals 33 zusammen.The first reference voltage and the second reference voltage associated with the diagnostic signals 32 or. 33 are in the microprocessor 24 saved. It also falls in a state in which the electronic circuit 20th works normally, the first reference voltage with the voltage value of the first the microprocessor 24 supplied diagnostic signal 32 collapses and falls into a state in which the electronic circuit 20th works normally, the second reference voltage with the voltage value of the second the microprocessor 24 supplied diagnostic signal 33 together.

Wenn sich die Eingangsspannung der Diagnoseschaltung 25 verändert hat, korrigiert die in 3 dargestellte Bezugsspannungseinstellungseinheit 40 als Antwort darauf die erste Bezugsspannung und die zweite Bezugsspannung individuell. Jede der Bezugsspannungen wird mittels eines vorbestimmten Prozentsatzes bezüglich der Eingangsspannung geregelt, wodurch die erste Bezugsspannung und die zweite Bezugsspannung als Antwort auf die Veränderung der Eingangsspannung mit einem hohen Genauigkeitsgrad eingestellt werden können.When the input voltage of the diagnostic circuit 25th changed, corrects the in 3 illustrated reference voltage setting unit 40 in response, the first reference voltage and the second reference voltage individually. Each of the reference voltages is regulated by a predetermined percentage with respect to the input voltage, whereby the first reference voltage and the second reference voltage can be set with a high degree of accuracy in response to the change in the input voltage.

Eine in 3 dargestellte Zählereinheit 39 umfasst eine Funktion zum Erhöhen eines vorbestimmten Zählerwerts, wenn in der Auswertungseinheit 38 bestimmt wird, dass das erste Diagnosesignal 32 oder das zweite Diagnosesignal 33 von dem normalen Bereich abweichen, oder zum Verringern eines Zählerwerts, wenn in der Auswertungseinheit 38 bestimmt wird, dass das erste Diagnosesignal 32 oder das zweite Diagnosesignal 33 innerhalb des normalen Bereichs liegen.One in 3 shown counter unit 39 includes a function of increasing a predetermined counter value if in the evaluation unit 38 it is determined that the first diagnostic signal 32 or the second diagnostic signal 33 deviate from the normal range, or to reduce a counter value if in the evaluation unit 38 it is determined that the first diagnostic signal 32 or the second diagnostic signal 33 are within the normal range.

Wie in einem Ablaufdiagramm in 5 dargestellt, ist der Zählerwert anfangs Null. Wenn das erste Diagnosesignal 32 mit einer hohen Spannung und das zweite Diagnosesignal 33 mit einer niedrigen Spannung, die von der in 2 dargestellten Diagnoseschaltung 25 erzeugt werden, individuell von dem Multiplexer 22 ausgewählt werden und nach Durchlaufen des Operationsverstärkers 23 von dem Mikroprozessor 24 gelesen werden, vergleicht die Auswertungseinheit 38 in dem Mikroprozessor 24 das erste Diagnosesignal 32 mit der ersten Bezugsspannung, um auszuwerten, ob das erste Diagnosesignal 32 innerhalb des Normalwerts liegt, und das zweite Diagnosesignal 33 mit der zweiten Bezugsspannung, um auszuwerten, ob das zweite Diagnosesignal 33 innerhalb des normalen Bereichs liegt (Schritte ST1 und ST2 in 5). Der „normale Bereich“ kann zum Beispiel eine bestimmte Spanne von der Bezugsspannung entfernt sein.As in a flowchart in 5 shown, the counter value is initially zero. When the first diagnostic signal 32 with a high voltage and the second diagnostic signal 33 with a low voltage derived from the in 2 diagnostic circuit shown 25th are generated individually by the multiplexer 22nd can be selected and after going through the operational amplifier 23 from the microprocessor 24 are read, the evaluation unit compares 38 in the microprocessor 24 the first diagnostic signal 32 with the first reference voltage in order to evaluate whether the first diagnostic signal 32 is within normal value, and the second diagnostic signal 33 with the second reference voltage in order to evaluate whether the second diagnostic signal 33 is within the normal range (steps ST1 and ST2 in 5 ). The “normal range” can, for example, be a certain margin away from the reference voltage.

Wenn das erste Diagnosesignal 32 und das zweite Diagnosesignal 33 innerhalb des normalen Bereichs liegen, wird bestimmt, ob der vorliegende Zählerwert der Zählereinheit 39 größer als Null ist (Schritt ST3 in 5), und liest der Mikroprozessor 24, wenn der Zählerwert Null ist, das SIN-Signal 34 und das COS-Signal 35, die Magnetfelddetektionssignale sind (Schritt ST4 in 5). Zudem wird, wenn nach der Berechnung des Drehwinkels oder der Winkelgeschwindigkeit des Magneten 14 (Schritt ST5 in 5) die CAN-Übertragungszeit gekommen ist (Schritt ST6 in 5), der Drehwinkel oder die Winkelgeschwindigkeit des Magneten 14 an eine elektronische Vorrichtung oder eine in einem Fahrzeug montierte Vorrichtung übertragen, in der die Magnetfelddetektionsvorrichtung 9 in 1 eingebettet ist (Schritt ST7 in 5). Wenn die CAN-Übertragungszeit nicht gekommen ist (Schritt ST6 in 5), kehrt die Ablaufsteuerung zu Schritt ST1 zurück. Zudem wird, wenn in Schritt ST3 der Zählerwert größer als Null ist, der Zählerwert um Eins (Schritt ST11) verringert und geht die Ablaufsteuerung zu Schritt ST4 über.When the first diagnostic signal 32 and the second diagnostic signal 33 are within the normal range, it is determined whether the present counter value of the counter unit 39 is greater than zero (step ST3 in 5 ), and the microprocessor reads 24 when the counter value is zero, the SIN signal 34 and the COS signal 35 , which are magnetic field detection signals (step ST4 in 5 ). In addition, if after calculating the rotation angle or the angular velocity of the magnet 14th (Step ST5 in 5 ) the CAN transmission time has come (step ST6 in 5 ), the angle of rotation or the angular speed of the magnet 14th transmitted to an electronic device or a vehicle-mounted device in which the magnetic field detection device 9 in 1 is embedded (step ST7 in 5 ). If the CAN transmission time has not come (step ST6 in 5 ), control returns to step ST1. In addition, if the counter value is greater than zero in step ST3, the counter value is decremented by one (step ST11), and the process control proceeds to step ST4.

Wie in 5 dargestellt, wird, wenn in Schritt ST2 bestimmt wird, dass das erste Diagnosesignal 32 oder das zweite Diagnosesignal 33 vom normalen Bereich abweichen, der Zählerwert in der Zählereinheit 39 um zum Beispiel Drei erhöht (Schritt ST8 in 5).As in 5 is shown, when it is determined in step ST2 that the first diagnostic signal 32 or the second diagnostic signal 33 deviate from the normal range, the counter value in the counter unit 39 increased by, for example, three (step ST8 in 5 ).

Anschließend wird bestimmt, ob der Zählerwert größer oder gleich einem vorbestimmten Fehlerschwellenwert ist (Schritt ST9 in 5), und wird, wenn der Zählerwert den Fehlerschwellenwert überschreitet, ein Fehler bestätigt (Schritt ST10 in 5). Ein Fehlersignal 45 wird (mit Bezugnahme auf 3) an eine Steuereinheit in der elektronischen Vorrichtung oder der im Fahrzeug montierten Vorrichtung übertragen, in der die Magnetfelddetektionsvorrichtung 9 in 1 eingebettet ist. Wie in der Steuereinheit mit dem Fehlersignal 45 umgegangen wird, kann beliebig bestimmt werden. Zum Beispiel kann als Folge des Empfangs des Fehlersignals 45 eine völlige Unterbrechung des Treibens der elektronischen Vorrichtung oder der im Fahrzeug montierten Vorrichtung veranlasst werden.It is then determined whether the counter value is greater than or equal to a predetermined error threshold value (step ST9 in FIG 5 ), and if the counter value exceeds the error threshold, an error is confirmed (step ST10 in FIG 5 ). An error signal 45 becomes (with reference to 3 ) is transmitted to a control unit in the electronic device or the vehicle-mounted device in which the magnetic field detection device 9 in 1 is embedded. As in the control unit with the error signal 45 is circumvented can be determined arbitrarily. For example, as a result of receiving the error signal 45 causing the electronic device or the vehicle-mounted device to stop driving altogether.

Zudem geht die Ablaufsteuerung, wie in 5 dargestellt, wenn in Schritt ST9 der Zählerwert unterhalb des Fehlerschwellenwerts liegt, zu Schritt ST4 über.In addition, the flow control, as in 5 when the counter value is below the error threshold value in step ST9, via to step ST4.

Auf eine solche Weise wird, selbst dann, wenn in der Auswertungseinheit 38 bestimmt wird, dass das erste Diagnosesignal 32 oder das zweite Diagnosesignal 33 außerhalb des normalen Bereichs liegen, nicht umgehend ein Fehlersignal ausgegeben, sondern wird das Fehlersignal erstmals ausgegeben, wenn der Zählerwert größer oder gleich einem vorbestimmten Wert geworden ist (Schritte ST9 und ST10 in 5). Dementsprechend wird, selbst dann, wenn aufgrund von Rauschen oder Ähnlichem ein anormales Diagnosesignal ausgegeben werden sollte, obwohl keine Störung in der elektronischen Schaltung 20 vorliegt, nicht umgehend ein Fehler bestätigt. Somit kann die Treiberstabilität der elektronischen Schaltung 20 verbessert werden.In such a way, even if in the evaluation unit 38 it is determined that the first diagnostic signal 32 or the second diagnostic signal 33 are outside the normal range, an error signal is not output immediately, but the error signal is output for the first time when the counter value has become greater than or equal to a predetermined value (steps ST9 and ST10 in FIG 5 ). Accordingly, even if an abnormal diagnosis signal should be outputted due to noise or the like, although there is no malfunction in the electronic circuit 20th is present, an error is not immediately confirmed. Thus, the driver stability of the electronic circuit 20th be improved.

Die charakteristische Konfiguration der vorliegenden Ausführungsform besteht darin, dass der Mikroprozessor 24 auf der Grundlage der zwei Diagnosesignale 32 und 33 mit einer hohen Spannung bzw. einer niedrigen Spannung bestimmt, ob die elektronische Schaltung 20 normal funktioniert.The characteristic configuration of the present embodiment is that the microprocessor 24 based on the two diagnostic signals 32 and 33 with a high voltage or a low voltage determines whether the electronic circuit 20th works normally.

In einer technischen Ausführung der verwandten Technik führt, da die Diagnoseschaltung 25 nicht vorgesehen ist und nur ein Detektionssignal von der Detektionsschaltung 21 verarbeitet wird, der Mikroprozessor 24, selbst dann, wenn eine Störung in dem Multiplexer 22 oder dem Operationsverstärker 23 auftritt, letztendlich eine Berechnung aus und verarbeitet eine vorbestimmte Ausgabe in der Annahme, dass das Detektionssignal der Detektionsschaltung 21 korrekt ist. Deshalb weist die technischen Ausführung der verwandten Technik eine geringere Zuverlässigkeit auf.In a technical implementation of the related technology, the diagnostic circuit leads 25th is not provided and only a detection signal from the detection circuit 21 is processed by the microprocessor 24 , even if there is a fault in the multiplexer 22nd or the operational amplifier 23 occurs, ultimately performs a calculation and processes a predetermined output on the assumption that the detection signal of the detection circuit 21 correct is. Therefore, the engineering of the related art is inferior in reliability.

Alternativ gibt es in einer technischen Ausführung der verwandten Technik auch eine Schaltungskonfiguration, in der einem Mikroprozessor eine Diagnosespannung zugeführt wird, um mit einer in dem Mikroprozessor eingestellten Bezugsspannung verglichen zu werden, und eine Selbstdiagnose, ob eine Störung in einer elektronischen Schaltung vorliegt, durchgeführt wird. Jedoch bestimmt der Mikroprozessor 24 in einem Fall, in dem nur eine Diagnosespannung verwendet wird, dann, wenn im Fall einer Störung, bei der der Multiplexer 22 in einem „Lock“-Zustand ist, zum Beispiel weiterhin eine Spannung zugeführt wird, die zufällig mit der in dem Mikroprozessor 24 eingestellten Bezugsspannung zusammenfällt, letztendlich fälschlicherweise, dass die elektronische Schaltung 20 normal funktioniert.Alternatively, in a technical implementation of the related art, there is also a circuit configuration in which a diagnostic voltage is supplied to a microprocessor to be compared with a reference voltage set in the microprocessor, and self-diagnosis is carried out as to whether there is a malfunction in an electronic circuit . However, the microprocessor determines 24 in a case in which only a diagnostic voltage is used, then if in the case of a fault in which the multiplexer 22nd is in a "lock" state, for example, a voltage continues to be supplied that coincides with that in the microprocessor 24 set reference voltage coincides, ultimately wrongly that the electronic circuit 20th works normally.

Dahingegen tritt in der vorliegenden Ausführungsform ein solches wie oben beschriebenes Problem nicht auf, da der Mikroprozessor 24 auf der Grundlage der zwei Diagnosesignale 32 und 33 mit einer hohen Spannung bzw. einer niedrigen Spannung bestimmt, ob die elektronische Schaltung 20 normal funktioniert, und kann die elektronische Selbstdiagnoseschaltung 20 verglichen mit in einer technischen Ausführung der verwandten Technik mit einer hohen Zuverlässigkeit konfiguriert werden. Aufgrund der Verwendung der zwei Diagnosesignale 32 und 33 mit einer hohen Spannung bzw. einer niedrigen Spannung weicht nämlich mindestens eines des ersten Diagnosesignals 32 und des zweiten Diagnosesignals 33, die dem Mikroprozessor 24 zugeführt werden, konstant von dem mit der Bezugsspannung verglichenen normalen Bereich ab, wenn in der elektronischen Schaltung 20 eine Störung vorliegt und sie nicht normal funktioniert. Deshalb kann der Zustand der elektronischen Schaltung 20 mit einem hohen Genauigkeitsgrad überprüft werden.On the other hand, in the present embodiment, such a problem as described above does not arise because of the microprocessor 24 based on the two diagnostic signals 32 and 33 with a high voltage or a low voltage determines whether the electronic circuit 20th works normally, and can use the electronic self-diagnostic circuit 20th can be configured with high reliability compared to a technical implementation of the related art. Due to the use of the two diagnostic signals 32 and 33 namely, with a high voltage or a low voltage, at least one of the first diagnostic signal deviates 32 and the second diagnostic signal 33 that the microprocessor 24 are constantly decreased from the normal range compared with the reference voltage when in the electronic circuit 20th there is a malfunction and it does not work normally. Therefore, the state of the electronic circuit 20th can be checked with a high degree of accuracy.

Außerdem kann, da, wie in 2 dargestellt, eine Konfiguration verwendet wird, bei der die Detektionsschaltung 21 und die Diagnoseschaltung 25 mit dem Multiplexer 22 verbunden sind und der eine Operationsverstärker 23 und der Mikroprozessor 24 vorgesehen sind, eine Erhöhung der Kosten verhindert werden, ohne dass die Schaltungskonfiguration kompliziert ist.In addition, as in 2 illustrated, a configuration is used in which the detection circuit 21 and the diagnostic circuit 25th with the multiplexer 22nd are connected and the one operational amplifier 23 and the microprocessor 24 are provided, an increase in cost can be prevented without complicating the circuit configuration.

Außerdem ist in der vorliegenden Ausführungsform, wie in 3 dargestellt, die Bezugsspannungseinstellungseinheit 40 in der Selbstdiagnoseeinheit 37 in dem Mikroprozessor 24 vorgesehen und können in der Bezugsspannungseinstellungseinheit 40 als Antwort auf die Eingangsspannung der Diagnoseschaltung 25 die erste Bezugsspannung, die mit dem ersten dem Mikroprozessor 24 zugeführten Diagnosesignal zu vergleichen ist, und die zweite Bezugsspannung, die mit dem zweiten dem Mikroprozessor 24 zugeführten Diagnosesignal zu vergleichen ist, individuell korrigiert werden. Dementsprechend kann die elektronische Selbstdiagnoseschaltung 20 mit einer höheren Zuverlässigkeit konfiguriert werden.In addition, in the present embodiment, as shown in FIG 3 shown, the reference voltage setting unit 40 in the self-diagnosis unit 37 in the microprocessor 24 provided and can in the reference voltage setting unit 40 in response to the input voltage of the diagnostic circuit 25th the first reference voltage that is linked to the first by the microprocessor 24 supplied diagnostic signal is to be compared, and the second reference voltage, which is with the second to the microprocessor 24 supplied diagnostic signal is to be compared, corrected individually. Accordingly, the electronic self-diagnostic circuit 20th can be configured with higher reliability.

Außerdem kann die Diagnoseschaltung 25 in der vorliegenden Ausführungsform aufgrund der Widerstandsspannungsteilungsschaltung das erste Diagnosesignal 32 mit einer hohen Spannung und das zweite Diagnosesignal 33 mit einer niedrigen Spannung individuell ausgeben. Dementsprechend kann die einfachere Diagnoseschaltung 25 konfiguriert und eine Erhöhung der Kosten verhindert werden, ohne dass die Schaltungskonfiguration kompliziert ist.In addition, the diagnostic circuit 25th in the present embodiment, the first diagnosis signal due to the resistance voltage dividing circuit 32 with a high voltage and the second diagnostic signal 33 output individually with a low voltage. Accordingly, the simpler diagnosis circuit 25th configured and an increase in cost can be prevented without complicating the circuit configuration.

Außerdem ist die elektronische Schaltung 20 in der vorliegenden Ausführungsform in den dem Magneten 14 gegenüber liegenden Magnetsensor 10 eingebettet und kann das Risiko der Ausführung einer fehlerhaften Magnetfelddetektion vermieden und die Magnetfelddetektionsgenauigkeit somit verbessert werden.Also is the electronic circuit 20th in the present embodiment in the magnet 14th opposite magnetic sensor 10 embedded and the risk of erroneous magnetic field detection being carried out can be avoided and the magnetic field detection accuracy can be improved.

Die elektronische Schaltung 20 in der vorliegenden Ausführungsform kann auch auf andere Objekte als den Magnetsensor 10 angewendet werden.The electronic circuit 20th in the present embodiment, objects other than the magnetic sensor can also be used 10 be applied.

Claims (5)

Elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20), aufweisend eine Detektionsschaltung (21), einen Operationsverstärker (23), der eine Verstärkung eines Detektionssignals von der Detektionsschaltung (21) bewirkt, einen zwischen die Detektionsschaltung (21) und den Operationsverstärker (23) geschalteten Multiplexer (22) und einen Mikroprozessor (23), der das von dem Operationsverstärker (23) verstärkte Detektionssignal einer arithmetischen Verarbeitung unterzieht, wobei die elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) aufweist: eine Diagnoseschaltung (25), die an einem ersten Ausgang ein erstes Diagnosesignal (32) mit einer hohen Spannung und an einem zweiten Ausgang ein zweites Diagnosesignal mit einer niedrigen Spannung (33) bereitstellt, wobei die Diagnoseschaltung (25) derart mit dem Multiplexer (22) verbunden ist, dass es möglich ist, durch den Multiplexer (22) eines der Diagnosesignale (32, 33) auszuwählen und über den Operationsverstärker (23) dem Mikroprozessor (23) zuzuführen, und der Mikroprozessor (23) ausgebildet ist, auf der Grundlage eines Vergleichs des ersten Diagnosesignals (32) mit einer ersten Bezugsspannung und eines Vergleichs des zweiten Diagnosesignals (33) mit einer zweiten Bezugsspannung zu diagnostizieren, ob die elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) normal funktioniert, wobei die erste und die zweite Bezugsspannung in dem Mikroprozessor (23) gespeichert sind und der Mikroprozessor (23) ausgebildet ist, als Antwort auf die Eingangsspannung der Diagnoseschaltung (25) die erste Bezugsspannung, die mit dem ersten dem Mikroprozessor (23) zugeführten Diagnosesignal (32) zu vergleichen ist, und die zweite Bezugsspannung, die mit dem zweiten dem Mikroprozessor (23) zugeführten Diagnosesignal (33) zu vergleichen ist, individuell zu korrigieren. Electronic self-diagnosis circuit (20), comprising a detection circuit (21), an operational amplifier (23) which effects an amplification of a detection signal from the detection circuit (21), a multiplexer (22) connected between the detection circuit (21) and the operational amplifier (23) and a microprocessor (23) which subjects the detection signal amplified by the operational amplifier (23) to arithmetic processing, the electronic self-diagnosis circuit (20) having: a diagnosis circuit (25) which has a first diagnosis signal (32) having a high voltage and provides a second diagnostic signal with a low voltage (33) at a second output, the diagnostic circuit (25) being connected to the multiplexer (22) in such a way that it is possible through the multiplexer (22) to use one of the diagnostic signals ( 32, 33) to be selected and fed to the microprocessor (23) via the operational amplifier (23), and the M Microprocessor (23) is designed to diagnose, on the basis of a comparison of the first diagnostic signal (32) with a first reference voltage and a comparison of the second diagnostic signal (33) with a second reference voltage, whether the electronic self-diagnostic circuit (20) is functioning normally, the the first and the second reference voltage are stored in the microprocessor (23) and the microprocessor (23) is designed in response to the input voltage of the diagnostic circuit (25) first reference voltage, which is to be compared with the first diagnostic signal (32) fed to the microprocessor (23), and the second reference voltage, which is to be compared with the second diagnostic signal (33) fed to the microprocessor (23), to be individually corrected. Elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) nach Anspruch 1, wobei der Mikroprozessor (23) eine Selbstdiagnoseeinheit (37) aufweist, die dafür verwendet wird, auf der Grundlage des ersten Diagnosesignals (32) und des zweiten Diagnosesignals (33), die dem Mikroprozessor (23) zugeführt werden, zu diagnostizieren, ob die elektronische Schaltung normal funktioniert, und die Selbstdiagnoseeinheit (37) eine Auswertungseinheit (38), die verwendet wird, um auszuwerten, ob das erste Diagnosesignal (32) und das zweite Diagnosesignal (33), die dem Mikroprozessor (23) zugeführt werden, innerhalb eines normalen Bereichs liegen, und eine Zählereinheit (39), die zum Erhöhen eines vorbestimmten Zählerwerts verwendet wird, wenn das erste Diagnosesignal (32) und das zweite Diagnosesignal (33) entsprechend der Auswertung der Auswertungseinheit von einem normalen Bereich abweichen, aufweist, wobei, wenn der Zählerwert größer oder gleich einem vorbestimmten Wert geworden ist, eine Anomalie bestimmt wird und ein Fehlersignal ausgegeben wird.Electronic self-diagnosis circuit (20) according to Claim 1 wherein the microprocessor (23) has a self-diagnosis unit (37) which is used to diagnose, on the basis of the first diagnosis signal (32) and the second diagnosis signal (33) supplied to the microprocessor (23), whether the electronic circuit is functioning normally, and the self-diagnosis unit (37) has an evaluation unit (38) which is used to evaluate whether the first diagnostic signal (32) and the second diagnostic signal (33), which are fed to the microprocessor (23), are within a normal range, and a counter unit (39) which is used to increase a predetermined counter value if the first diagnostic signal (32) and the second diagnostic signal (33) deviate from a normal range according to the evaluation of the evaluation unit, wherein, if the counter value has become greater than or equal to a predetermined value, an abnormality is determined, and an error signal is output. Elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) nach einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei die Diagnoseschaltung (25) aufgrund einer Widerstandsspannungsteilungsschaltung in der Lage ist, das erste Diagnosesignal (32) mit einer hohen Spannung und das zweite Diagnosesignal (33) mit einer niedrigen Spannung individuell auszugeben.Electronic self-diagnostic circuit (20) according to one of the Claims 1 or 2 wherein the diagnosis circuit (25) is capable of outputting the first diagnosis signal (32) with a high voltage and the second diagnosis signal (33) with a low voltage individually by virtue of a resistance voltage dividing circuit. Elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Detektionsschaltung (21) aufgrund einer Mehrzahl von Magnetfelddetektionselementen (S1, S2, S3, S4, S5, S6, S7, S8) unter Verwendung einer Brückenschaltung (26, 27) konfiguriert ist.Electronic self-diagnostic circuit (20) according to one of the Claims 1 until 3 wherein the detection circuit (21) is configured based on a plurality of magnetic field detection elements (S1, S2, S3, S4, S5, S6, S7, S8) using a bridge circuit (26, 27). Magnetfelddetektionsvorrichtung (9), in der ein Magnetsensor (10) und ein Magnet (14) einander gegenüber und voneinander beabstandet positioniert sind und der Magnetsensor (10) dazu verwendet wird, die Änderung eines von dem Magneten (14) ausgehenden Magnetfelds zu detektieren, wobei die elektronische Selbstdiagnoseschaltung (20) nach Anspruch 4 in dem Magnetsensor (10) konfiguriert ist.Magnetic field detection device (9) in which a magnetic sensor (10) and a magnet (14) are positioned opposite one another and at a distance from one another and the magnetic sensor (10) is used to detect the change in a magnetic field emanating from the magnet (14), wherein the electronic self-diagnosis circuit (20) according to Claim 4 configured in the magnetic sensor (10).
DE102012200245.6A 2011-01-19 2012-01-10 Self-diagnostic circuit and magnetic field detection device Active DE102012200245B4 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011008803A JP5832751B2 (en) 2011-01-19 2011-01-19 Electronic circuit and magnetic field detection device capable of self-diagnosis
JP2011-008803 2011-01-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102012200245A1 DE102012200245A1 (en) 2012-07-19
DE102012200245B4 true DE102012200245B4 (en) 2021-07-29

Family

ID=46510373

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102012200245.6A Active DE102012200245B4 (en) 2011-01-19 2012-01-10 Self-diagnostic circuit and magnetic field detection device

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP5832751B2 (en)
CN (1) CN102608376B (en)
DE (1) DE102012200245B4 (en)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014181981A (en) * 2013-03-19 2014-09-29 Denso Corp Current sensor
JPWO2015111163A1 (en) * 2014-01-23 2017-03-23 三菱電機株式会社 Magnetic detector
CN104359477A (en) * 2014-11-07 2015-02-18 西安文理学院 Serial bus-based AGV magnetic sensor circuit
EP3401646B1 (en) 2017-05-09 2020-04-15 Melexis Technologies SA Bridge sensor error check
EP3470862B1 (en) 2017-10-10 2022-03-02 Melexis Bulgaria Ltd. Sensor defect diagnostic circuit
JP2021004788A (en) * 2019-06-26 2021-01-14 株式会社デンソー Sensor device
KR102407332B1 (en) * 2020-12-11 2022-06-10 현대모비스 주식회사 Apparatus and method for diagnosing resolver's output signals
CN114294778B (en) * 2021-12-27 2023-11-14 深圳市兴特能源科技有限公司 Air circulation disinfection and purification method and system for classroom lamp

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19539458A1 (en) 1995-10-24 1997-04-30 Bosch Gmbh Robert Self-testing Hall sensor, e.g for vehicle steering angle monitor
JP2006113699A (en) 2004-10-13 2006-04-27 Hitachi Ltd Apparatus with diagnostic function for voltage measuring circuit
JP2008059517A (en) 2006-09-04 2008-03-13 Fujitsu Ten Ltd External load interface circuit, electronic control device, and method for switching driving voltage in external load interface circuit

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0613290B2 (en) * 1983-07-08 1994-02-23 日産自動車株式会社 Self-diagnosis circuit for vehicle controller
WO1997004373A1 (en) * 1995-07-21 1997-02-06 Philips Electronics N.V. A voltage reference arrangement, a voltameter, a battery voltage detection arrangement, and a wireless communication device
EP1024348B1 (en) * 1999-01-28 2011-07-27 Denso Corporation Low-frequency noise removing method and a related CMOS sensing circuit
JP2001166024A (en) * 1999-12-09 2001-06-22 Toyota Motor Corp Magnetic field detection device
US7200674B2 (en) 2002-07-19 2007-04-03 Open Invention Network, Llc Electronic commerce community networks and intra/inter community secure routing implementation
JP4779793B2 (en) * 2006-05-01 2011-09-28 株式会社デンソー AD converter and electronic control device
JP5128399B2 (en) * 2008-07-18 2013-01-23 株式会社東海理化電機製作所 Magnetic sensor device
JP2010154441A (en) * 2008-12-26 2010-07-08 Calsonic Kansei Corp Apparatus and method for diagnosing fault of a/d input circuit
US8099252B2 (en) * 2009-02-11 2012-01-17 Apple Inc. Self-test power management unit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19539458A1 (en) 1995-10-24 1997-04-30 Bosch Gmbh Robert Self-testing Hall sensor, e.g for vehicle steering angle monitor
JP2006113699A (en) 2004-10-13 2006-04-27 Hitachi Ltd Apparatus with diagnostic function for voltage measuring circuit
JP2008059517A (en) 2006-09-04 2008-03-13 Fujitsu Ten Ltd External load interface circuit, electronic control device, and method for switching driving voltage in external load interface circuit

Also Published As

Publication number Publication date
CN102608376B (en) 2015-02-11
JP5832751B2 (en) 2015-12-16
CN102608376A (en) 2012-07-25
JP2012149999A (en) 2012-08-09
DE102012200245A1 (en) 2012-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102012200245B4 (en) Self-diagnostic circuit and magnetic field detection device
DE112013006990B4 (en) Encoder and servo motor
WO2006122945A1 (en) System for intrinsically safe detection of a wheel rotational speed
DE10112352A1 (en) Arrangement for angle measurement
DE112017001473T5 (en) Rotation detection device
EP2329225A2 (en) Inductive position sensor, measuring sensor fitted therewith and method for operating a position sensor
EP1915631A1 (en) Method and device for monitoring a first voltage value
WO1997045304A1 (en) Arrangement for detecting and evaluating yawing movements
WO2014037465A1 (en) Method and device for checking the plausibility of a current sensor measurement result
DE112017005343T5 (en) Electric power steering system
DE102010053596A1 (en) Device for measuring rotation angle of driving wheel, has rotational angle sensors that detect rotating movements of driving wheel, and trigger sensor that produces trigger signal in defined position of driving wheel
EP1134589A2 (en) Method for detecting a faulty earth connection e.g. in a vehicle
EP2187175A2 (en) Measuring transducer
WO2012152516A2 (en) Sensor assembly
EP3311119B1 (en) Control circuit and method for checking the plausibility of a rotor position angle
DE102010051873B4 (en) Integrated circuit arrangement and method for signal monitoring
DE19527744A1 (en) Input circuit for wheel rpm sensor used in e.g. ABS of motor vehicle
EP3406507B1 (en) Method for calibrating the steering angle sensor system of a motor vehicle
DE10304024B4 (en) Method and circuit arrangement for checking a pressure sensor arrangement
DE102011076367B4 (en) Electronic control system for a safety device of a motor vehicle
DE102014226604A1 (en) Method and device for compensating an arrangement tolerance between two sensor elements of a position sensor arrangement
DE102011003758B4 (en) Method for resolver chip diagnosis, resolver chip diagnosis device and computer program product
DE19722549A1 (en) Electrical measuring device or electrical measuring method for generating an electrical signal
DE102019209293A1 (en) Generation of an output signal value from sensor signal values from at least three redundant sensors
EP4106200B1 (en) Proximity switch with functional safety

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R082 Change of representative

Representative=s name: SCHMITT-NILSON SCHRAUD WAIBEL WOHLFROM PATENTA, DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: ALPS ALPINE CO., LTD., JP

Free format text: FORMER OWNER: ALPS ELECTRIC CO., LTD., TOKYO, JP

R082 Change of representative

Representative=s name: SCHMITT-NILSON SCHRAUD WAIBEL WOHLFROM PATENTA, DE

R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final