JP5138185B2 - Printed wiring board - Google Patents

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Description

本発明は、プリント配線基板を構成するための配線部材およびプリント配線基板に関する。   The present invention relates to a wiring member and a printed wiring board for constituting a printed wiring board.

近年、ユビキタス社会が訪れ、情報処理機器、通信機器等、特にパソコン、携帯電話、ゲーム機器等においては、MPUの高速化、多機能化、複合化、およびメモリ等の記録装置の高速化が進行している。
しかし、これらの機器から放射されるノイズ、または機器内の導体を伝導するノイズがもたらす、自身または他の電子機器、部品の誤作動、人体に対する影響が問題となっている。これらノイズとしては、MPU、電子部品等が実装されたプリント配線板内の導体のインピーダンス不整合によるノイズ、導体間のクロストークによるノイズ、MPU等の半導体素子の同時スイッチングによる電源層とグランド層との層間の共振よって誘起されるノイズ等がある。
In recent years, a ubiquitous society has been visited, and in information processing equipment, communication equipment, etc., especially in personal computers, mobile phones, game machines, etc., MPU speedup, multi-functionality, compounding, and speedup of recording devices such as memory are progressing. doing.
However, there is a problem in that the noise radiated from these devices or the noise conducted through a conductor in the device causes malfunction of itself or other electronic devices or parts, and influence on the human body. These noises include noise due to impedance mismatch of conductors in printed wiring boards on which MPUs, electronic components, etc. are mounted, noise due to crosstalk between conductors, power supply layer and ground layer due to simultaneous switching of semiconductor elements such as MPU There is noise induced by resonance between layers.

これらノイズが抑えられたプリント配線基板としては、下記プリント配線基板が知られている。
(1)銅箔からなる電源層およびグランド層の両面に、銅箔よりも抵抗率が大きい金属からなる金属膜を形成したプリント配線基板(特許文献1)。
(2)銅箔からなる電源層およびグランド層の両面に、導電性物質を含む、プリント配線基板面に対して垂直方向の異方導電性を有する膜を形成したプリント配線基板(特許文献1)。
The following printed wiring boards are known as printed wiring boards in which these noises are suppressed.
(1) A printed wiring board in which a metal film made of a metal having a higher resistivity than a copper foil is formed on both surfaces of a power supply layer and a ground layer made of copper foil (Patent Document 1).
(2) Printed wiring board in which films having anisotropic conductivity in the direction perpendicular to the printed wiring board surface including a conductive material are formed on both surfaces of a power supply layer and a ground layer made of copper foil (Patent Document 1) .

(1)のプリント配線基板においては、銅箔表面に流れる高周波うず電流を減衰させることができ、半導体素子が同時スイッチングを起こしても、電源電位等を安定化でき、不要なノイズの放射を抑制できるとされている。なお、導体表面(表皮)を流れる高周波電流(表皮電流)を、表皮の深さと同程度の数μmの金属膜で減衰させるためには、対象となる高周波電流の周波数にもよるが、かなりの高抵抗率を有する材料が必要となる。しかし、このような材料は入手できず、(1)のプリント配線基板では、充分なノイズ抑制効果が得られない。   In the printed wiring board of (1), the high-frequency eddy current that flows on the copper foil surface can be attenuated, and even if the semiconductor element causes simultaneous switching, the power supply potential can be stabilized, and unnecessary noise emission is suppressed. It is supposed to be possible. In order to attenuate the high-frequency current (skin current) flowing on the conductor surface (skin) with a metal film of several μm, which is about the same as the depth of the skin, depending on the frequency of the target high-frequency current, A material having a high resistivity is required. However, such a material cannot be obtained, and the printed wiring board of (1) cannot obtain a sufficient noise suppression effect.

(2)のプリント配線基板においても、同様に高周波うず電流を減衰させることができるとされている。しかし、表皮の深さと同等以上の銅箔の表面粗さを有するように異方導電性の膜を形成することは、工程が複雑である。また、(2)のプリント配線基板では、充分なノイズ抑制効果が得られない。
特開平11−97810号公報 特開2006−66810号公報
Similarly, in the printed wiring board (2), the high-frequency eddy current can be attenuated. However, forming an anisotropically conductive film so as to have a copper foil surface roughness equal to or greater than the depth of the skin is a complicated process. Further, in the printed wiring board (2), a sufficient noise suppressing effect cannot be obtained.
JP-A-11-97810 JP 2006-66810 A

よって本発明の目的は、同時スイッチングによる電源層とグランド層との間の共振を抑えることによって、電源電位を安定化でき、不要なノイズの放射を抑制できるプリント配線基板用の配線部材、および該配線部材を具備するプリント配線基板を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to suppress the resonance between the power supply layer and the ground layer due to simultaneous switching, thereby stabilizing the power supply potential and suppressing unnecessary noise emission, and a wiring member for a printed wiring board, It is providing the printed wiring board which comprises a wiring member.

本発明のプリント配線基板は、信号配線層、グランド層および電源層を有するプリント配線基板であって、表面粗さRz が2μm以下である平滑面を有する銅箔と、金属または導電性セラミックスを含む、厚さ5〜200nmのノイズ抑制層と、前記銅箔の平滑面側と前記ノイズ抑制層との間に設けられた絶縁性樹脂層と、前記銅箔の平滑面側と前記絶縁性樹脂層との間に接着促進層とを有し、前記絶縁性樹脂層の厚さが、0.1〜10μmである配線部材を具備し、前記銅箔が、前記電源層または前記グランド層であり、前記信号配線層と前記ノイズ抑制層との間には、前記電源層または前記グランド層が存在することを特徴とする。
前記ノイズ抑制層は、金属または導電性セラミックスが存在しない欠陥を有することが好ましい。
The printed wiring board of the present invention is a printed wiring board having a signal wiring layer, a ground layer, and a power supply layer, and includes a copper foil having a smooth surface with a surface roughness Rz of 2 μm or less, and a metal or conductive ceramics. A noise suppression layer having a thickness of 5 to 200 nm, an insulating resin layer provided between the smooth surface side of the copper foil and the noise suppression layer, and a smooth surface side of the copper foil and the insulating resin layer. A wiring member having a thickness of the insulating resin layer of 0.1 to 10 μm , and the copper foil is the power supply layer or the ground layer, The power supply layer or the ground layer exists between the signal wiring layer and the noise suppression layer .
The noise suppression layer preferably has a defect in which no metal or conductive ceramic exists.

本発明のプリント配線基板は、前記ノイズ抑制層の、前記銅箔側とは反対側の表面に、接着促進層を有することが好ましい。 The printed wiring board of the present invention preferably has an adhesion promoting layer on the surface of the noise suppression layer opposite to the copper foil side.

発明のプリント配線基板においては、前記銅箔が、電源層であり、電源層とグランド層との間に、前記ノイズ抑制層が配置されていることが好ましい。 In the printed wiring board of the present invention, it is preferable that the copper foil is a power supply layer, and the noise suppression layer is disposed between the power supply layer and the ground layer.

本発明の配線部材によれば、プリント配線基板において同時スイッチングによる電源層とグランド層との間の共振を抑えることによって、電源電位を安定化でき、不要なノイズの放射を抑制できる。
本発明のプリント配線基板は、同時スイッチングによる電源層とグランド層との間の共振が抑えられ、電源電位が安定化され、不要なノイズの放射が抑制される。
According to the wiring member of the present invention, by suppressing the resonance between the power supply layer and the ground layer due to simultaneous switching in the printed wiring board, the power supply potential can be stabilized and unnecessary noise emission can be suppressed.
In the printed wiring board of the present invention, resonance between the power supply layer and the ground layer due to simultaneous switching is suppressed, the power supply potential is stabilized, and unnecessary noise emission is suppressed.

<配線部材>
図1は、本発明における配線部材の一例を示す概略断面図である。配線部材10は、銅箔11と、銅箔11上に設けられた絶縁性樹脂層12と、絶縁性樹脂層12の表面に形成されたノイズ抑制層13とを有するものである。
<Wiring member>
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a wiring member in the present invention. The wiring member 10 includes a copper foil 11, an insulating resin layer 12 provided on the copper foil 11, and a noise suppression layer 13 formed on the surface of the insulating resin layer 12.

(銅箔)
銅箔11としては、電解銅箔、圧延銅箔等が挙げられる。
通常、銅箔の表面は、絶縁性樹脂層12との接着性をよくするために、表面に微細な銅粒を付着させる等により粗面化処理されている。一方、本発明においては、ノイズ抑制層13側の銅箔11の表面は、表面粗さRz が2μm以下である平滑面とされている。平滑面の表面粗さRz が2μm以下であれば、絶縁性樹脂層12を薄く形成しても、絶縁性樹脂層12に銅箔11の表面の凹凸によるピンホール等の欠陥が発生しにくくなり、銅箔11とノイズ抑制層13との短絡が抑えられ、充分なノイズ抑制効果が得られる。表面粗さRz は、JIS B 0601−1994に規定される十点平均粗さRz である。
(Copper foil)
Examples of the copper foil 11 include electrolytic copper foil and rolled copper foil.
Usually, the surface of the copper foil is roughened by, for example, attaching fine copper particles to the surface in order to improve the adhesion to the insulating resin layer 12. On the other hand, in the present invention, the surface of the copper foil 11 on the noise suppression layer 13 side is a smooth surface having a surface roughness Rz of 2 μm or less. If the surface roughness Rz of the smooth surface is 2 μm or less, even if the insulating resin layer 12 is formed thin, defects such as pinholes due to irregularities on the surface of the copper foil 11 are less likely to occur in the insulating resin layer 12. Moreover, the short circuit with the copper foil 11 and the noise suppression layer 13 is suppressed, and sufficient noise suppression effect is acquired. The surface roughness Rz is a ten-point average roughness Rz defined in JIS B 0601-1994.

銅箔11としては、電解銅箔が特に好ましい。電解銅箔は、電解反応を利用して銅を陰極の回転ドラム表面に析出させ、回転ドラムから引き剥がして得られるものであり、ドラムと接触していた面は、ドラムの表面状態が転写された平滑面となる。一方、銅が電解析出した面の形状は、析出する銅の結晶成長速度が結晶面ごとに異なるため粗面となり、他の絶縁性樹脂層(図示略)との貼り合わせに都合のよい面となっている。
銅箔11の厚さは、3〜50μmが好ましい。
As the copper foil 11, an electrolytic copper foil is particularly preferable. The electrolytic copper foil is obtained by depositing copper on the surface of the rotating drum of the cathode using an electrolytic reaction and peeling it from the rotating drum. The surface in contact with the drum is transferred with the surface state of the drum. It becomes a smooth surface. On the other hand, the shape of the surface on which copper is electrolytically deposited is a rough surface because the crystal growth rate of the deposited copper differs for each crystal surface, and is convenient for bonding to other insulating resin layers (not shown). It has become.
The thickness of the copper foil 11 is preferably 3 to 50 μm.

(絶縁性樹脂層)
絶縁性樹脂層12は、樹脂組成物からなる層、または樹脂組成物をガラス繊維等の補強繊維に含浸させた繊維強化樹脂からなる層である。繊維強化樹脂の状態は、B−ステージ(半硬化状態)であってもよく、C−ステージ(硬化状態)であってもよい。
(Insulating resin layer)
The insulating resin layer 12 is a layer made of a resin composition or a layer made of a fiber reinforced resin obtained by impregnating a reinforcing fiber such as a glass fiber with the resin composition. The state of the fiber reinforced resin may be B-stage (semi-cured state) or C-stage (cured state).

樹脂組成物は、樹脂を主成分とする組成物である。該樹脂としては、プリント配線基板の製造の際の加熱に耐え、かつプリント配線基板に要求される耐熱性を有するものが好ましく、また、誘電率、誘電正接等、プリント配線基板の設計に必要とされる特性値が既知であるのものが好ましい。該樹脂としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ポリ四フッ化エチレン、ポリフェニレンエーテル等が挙げられる。   A resin composition is a composition which has resin as a main component. The resin preferably has heat resistance required for the printed wiring board and can withstand the heating during the production of the printed wiring board, and is necessary for the design of the printed wiring board such as dielectric constant and dielectric loss tangent. Those having known characteristic values are preferred. Examples of the resin include polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide triazine resin, polytetrafluoroethylene, polyphenylene ether and the like.

樹脂組成物としては、エポキシ樹脂、必要に応じて硬化剤、硬化促進剤、可とう性付与剤等を含有するものが好ましい。
エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、臭素化エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂等が挙げられる。エポキシ樹脂の量は、樹脂組成物100質量%のうち、20〜80質量%が好ましい。
As a resin composition, what contains an epoxy resin and a hardening | curing agent, a hardening accelerator, a flexibility imparting agent, etc. as needed is preferable.
Epoxy resins include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, brominated epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin. Etc. As for the quantity of an epoxy resin, 20-80 mass% is preferable among 100 mass% of resin compositions.

硬化剤としては、ジシアンジアミド、イミダゾール類、芳香族アミン等のアミン類;ビスフェノールA、臭素化ビスフェノールA等のフェノール類;フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂等のノボラック類;無水フタル酸等の酸無水物等が挙げられる。
硬化促進剤としては、3級アミン、イミダゾール系硬化促進剤、尿素系硬化促進剤等が挙げられる。
Curing agents include amines such as dicyandiamide, imidazoles and aromatic amines; phenols such as bisphenol A and brominated bisphenol A; novolacs such as phenol novolac resin and cresol novolac resin; acid anhydrides such as phthalic anhydride Etc.
Examples of the curing accelerator include tertiary amines, imidazole curing accelerators, urea curing accelerators, and the like.

可とう性付与剤としては、ポリエーテルサルホン樹脂、芳香族ポリアミド樹脂、弾性樹脂等が挙げられる。
芳香族ポリアミド樹脂としては、芳香族ジアミンとジカルボン酸との縮重合により合成されるものが挙げられる。芳香族ジアミンとしては、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、m−キシレンジアミン、3,3’−オキシジアニリン等が挙げられる。ジカルボン酸としては、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、フマル酸等のジカルボン酸が挙げられる。
弾性樹脂としては、天然ゴム、スチレン−ブタジエンゴム、ブタジエンゴム、ブチルゴム、エチレン−プロピレンゴム等が挙げられる。絶縁性樹脂層12の耐熱性を確保するために、ニトリルゴム、クロロプレンゴム、シリコーンゴム、ウレタンゴムを併用してもよい。ニトリルゴムとしては、CTBN(カルボキシ基末端ブタジエンニトリルゴム)が好ましい。
Examples of the flexibility imparting agent include polyether sulfone resin, aromatic polyamide resin, and elastic resin.
Aromatic polyamide resins include those synthesized by condensation polymerization of aromatic diamines and dicarboxylic acids. Examples of the aromatic diamine include 4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3′-diaminodiphenylsulfone, m-xylenediamine, 3,3′-oxydianiline and the like. Examples of the dicarboxylic acid include dicarboxylic acids such as phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and fumaric acid.
Examples of the elastic resin include natural rubber, styrene-butadiene rubber, butadiene rubber, butyl rubber, and ethylene-propylene rubber. In order to ensure the heat resistance of the insulating resin layer 12, nitrile rubber, chloroprene rubber, silicone rubber, or urethane rubber may be used in combination. As the nitrile rubber, CTBN (carboxy group-terminated butadiene nitrile rubber) is preferable.

絶縁性樹脂層12は、例えば、樹脂組成物を溶剤に溶解または分散させたワニスを銅箔11上(または後述の接着促進層15上)に塗布し、乾燥させることにより形成される。また、該ワニスの塗布および乾燥を2回以上に分けて行い、2層以上の絶縁性樹脂層を形成してもよい。ワニスは、各層が同じ種類のワニスであってもよく、各層ごとに違う種類であってもよい。   The insulating resin layer 12 is formed, for example, by applying a varnish obtained by dissolving or dispersing a resin composition in a solvent on the copper foil 11 (or on an adhesion promoting layer 15 described later) and drying it. Moreover, the application and drying of the varnish may be performed twice or more to form two or more insulating resin layers. The varnish may be the same type of varnish in each layer, or may be a different type for each layer.

絶縁性樹脂層12の厚さは、0.1〜10μmが好ましい。絶縁性樹脂層12の厚さが0.1μm以上であれば、銅箔11とノイズ抑制層13との絶縁が充分に維持され、銅箔11とノイズ抑制層13との短絡が抑えられ、充分なノイズ抑制効果が得られる。また、銅箔11をエッチングによってパターン加工する際に、エッチングによってノイズ抑制層13が侵されることがない。一方、絶縁性樹脂層12の厚さが10μm以下であれば、配線部材を具備するプリント配線基板を薄肉化できる。また、ノイズ抑制層13と銅箔11とが接近することにより、ノイズ抑制層13と銅箔11との電磁結合が強くなり、充分なノイズ抑制効果が得られる。また、ノイズ抑制層13にパターン加工を銅箔11側から施す際に、絶縁性樹脂層12を除去しやすく、加工時間が短くなる。   The thickness of the insulating resin layer 12 is preferably 0.1 to 10 μm. If the thickness of the insulating resin layer 12 is 0.1 μm or more, the insulation between the copper foil 11 and the noise suppression layer 13 is sufficiently maintained, and a short circuit between the copper foil 11 and the noise suppression layer 13 is suppressed, which is sufficient. Noise suppression effect can be obtained. Further, when patterning the copper foil 11 by etching, the noise suppression layer 13 is not affected by the etching. On the other hand, if the thickness of the insulating resin layer 12 is 10 μm or less, the printed wiring board including the wiring member can be thinned. Moreover, when the noise suppression layer 13 and the copper foil 11 approach, the electromagnetic coupling of the noise suppression layer 13 and the copper foil 11 becomes strong, and a sufficient noise suppression effect is obtained. In addition, when pattern processing is performed on the noise suppression layer 13 from the copper foil 11 side, the insulating resin layer 12 can be easily removed, and the processing time is shortened.

(ノイズ抑制層)
ノイズ抑制層13は、金属材料または導電性セラミックスを含む、厚さ5〜200nmの薄膜である。
ノイズ抑制層13の厚さが5nm以上であれば、充分なノイズ抑制効果が得られる。一方、ノイズ抑制層13の厚さが200nmを超えると、後述のマイクロクラスターが成長し、金属材料等からなる均質な薄膜が形成され、表面抵抗が小さくなって、金属反射が強まり、ノイズ抑制効果も小さくなる。
ノイズ抑制層13の厚さは、ノイズ抑制層の膜厚方向断面の高分解能透過型電子顕微鏡像(例えば、図4)をもとにして、5箇所のノイズ抑制層(色の濃い部分)の厚さを電子顕微鏡像上で測定し、平均することにより求める。
(Noise suppression layer)
The noise suppression layer 13 is a thin film having a thickness of 5 to 200 nm containing a metal material or conductive ceramics.
If the thickness of the noise suppression layer 13 is 5 nm or more, a sufficient noise suppression effect can be obtained. On the other hand, when the thickness of the noise suppression layer 13 exceeds 200 nm, microclusters to be described later grow, a homogeneous thin film made of a metal material or the like is formed, the surface resistance is reduced, the metal reflection is increased, and the noise suppression effect. Becomes smaller.
The thickness of the noise suppression layer 13 is determined based on the high-resolution transmission electron microscope image (for example, FIG. 4) of the cross section in the film thickness direction of the noise suppression layer. Thickness is determined by measuring on an electron microscope image and averaging.

ノイズ抑制層13の表面抵抗は、100 〜104 Ωが好ましい。ノイズ抑制層13が均質な薄膜の場合、体積抵抗率の高い限られた材料が必要となるが、材料の体積抵抗率がそれほど高くない場合は、ノイズ抑制層13に金属材料または導電性セラミックスが存在しない物理的な欠陥を設け、不均質な薄膜とすることによって、表面抵抗を上昇させることができる。ノイズ抑制層13の表面抵抗は、以下のように測定する。
2本の単位長さを有した金の蒸着電極のような薄膜金属電極を、単位長さ隔置された測定電極に、被測定物を50g/cm2 のような定荷重で押し付け、このときの1mA以下の測定電流で電極間の抵抗を測定する。この値を持って表面抵抗とする。
The surface resistance of the noise suppression layer 13 is preferably 10 0 to 10 4 Ω. In the case where the noise suppression layer 13 is a homogeneous thin film, a limited material having a high volume resistivity is required. However, when the volume resistivity of the material is not so high, a metal material or conductive ceramic is formed on the noise suppression layer 13. The surface resistance can be increased by providing a non-existing physical defect to form an inhomogeneous thin film. The surface resistance of the noise suppression layer 13 is measured as follows.
A thin film metal electrode such as a gold vapor deposition electrode having two unit lengths is pressed against a measurement electrode separated by a unit length with a constant load of 50 g / cm 2 , The resistance between the electrodes is measured with a measurement current of 1 mA or less. This value is used as the surface resistance.

金属材料としては、強磁性金属、常磁性金属が挙げられる。強磁性金属としては、鉄、カルボニル鉄;Fe−Ni、Fe−Co、Fe−Cr、Fe−Si、Fe−Al、Fe−Cr−Si、Fe−Cr−Al、Fe−Al−Si、Fe−Pt等の鉄合金;コバルト、ニッケル;これらの合金等が挙げられる。常磁性金属としては、金、銀、銅、錫、鉛、タングステン、ケイ素、アルミニウム、チタン、クロム、モリブデン、それらの合金、アモルファス合金、強磁性金属との合金等が挙げられる。これらのうち、酸化に対して抵抗力のある点から、ニッケル、鉄クロム合金、タングステン、貴金属が好ましい。なお、貴金属は高価であるため、実用的にはニッケル、ニッケルクロム合金、鉄クロム合金、タングステンが好ましく、ニッケルまたはニッケル合金が特に好ましい。   Examples of the metal material include ferromagnetic metals and paramagnetic metals. Ferromagnetic metals include iron, carbonyl iron; Fe-Ni, Fe-Co, Fe-Cr, Fe-Si, Fe-Al, Fe-Cr-Si, Fe-Cr-Al, Fe-Al-Si, Fe -Pt and other iron alloys; cobalt and nickel; and alloys thereof. Examples of the paramagnetic metal include gold, silver, copper, tin, lead, tungsten, silicon, aluminum, titanium, chromium, molybdenum, alloys thereof, amorphous alloys, and alloys with ferromagnetic metals. Of these, nickel, iron-chromium alloy, tungsten, and noble metals are preferred because of their resistance to oxidation. In addition, since noble metals are expensive, practically, nickel, nickel chromium alloy, iron chromium alloy, and tungsten are preferable, and nickel or nickel alloy is particularly preferable.

導電性セラミックスとしては、金属と、ホウ素、炭素、窒素、ケイ素、リンおよび硫黄からなる群から選ばれる1種以上の元素とからなる合金、金属間化合物、固溶体等が挙げられる。具体的には、窒化ニッケル、窒化チタン、窒化タンタル、窒化クロム、炭化チタン、炭化ジルコニウム、炭化クロム、炭化モリブデン、炭化タングステン、炭化ケイ素、ホウ化クロム、ホウ化モリブデン等が挙げられる。   Examples of the conductive ceramic include an alloy, an intermetallic compound, a solid solution, and the like including a metal and one or more elements selected from the group consisting of boron, carbon, nitrogen, silicon, phosphorus, and sulfur. Specific examples include nickel nitride, titanium nitride, tantalum nitride, chromium nitride, titanium carbide, zirconium carbide, chromium carbide, molybdenum carbide, tungsten carbide, silicon carbide, chromium boride, and molybdenum boride.

導電性セラミックスは、金属よりも体積抵抗率が高いため、導電性セラミックスを含むノイズ抑制層は、特定の共鳴周波数を有さない、ノイズ抑制効果を発揮する周波数が広帯域化する、保存安定性が高い等の利点を有する。導電性セラミックスとしては、後述の物理的蒸着法における反応性ガスとして窒素ガスを用いることによって容易に得られることから、金属と窒素とからなるものが特に好ましい。   Since conductive ceramics have a higher volume resistivity than metals, the noise suppression layer containing conductive ceramics does not have a specific resonance frequency, the frequency that exhibits the noise suppression effect is widened, and the storage stability is high. Advantages such as high. As the conductive ceramics, those made of metal and nitrogen are particularly preferable because they can be easily obtained by using nitrogen gas as a reactive gas in the physical vapor deposition method described later.

ノイズ抑制層13の形成方法としては、通常の湿式メッキ法、物理的蒸着法、化学的蒸着法等が挙げられる。該方法においては、条件や用いる材料によっても異なるが、薄膜の成長を初期の段階で終了することにより、均質な薄膜とはならず、微細な物理的な欠陥を有する不均質な薄膜を形成できる。または、均質な薄膜を酸等によりエッチングして欠陥を形成する方法、レーザーアブレーションにより均質な薄膜に欠陥を形成する方法によっても、不均質な薄膜を形成できる。   Examples of a method for forming the noise suppression layer 13 include a normal wet plating method, a physical vapor deposition method, and a chemical vapor deposition method. In this method, although it depends on the conditions and materials used, by terminating the growth of the thin film at an early stage, it is not possible to form a homogeneous thin film but to form a heterogeneous thin film having fine physical defects. . Alternatively, an inhomogeneous thin film can also be formed by a method of forming a defect by etching a homogeneous thin film with an acid or the like, or a method of forming a defect by a laser ablation.

図2は、絶縁性樹脂層の表面に物理的蒸着法によって形成された金属材料からなるノイズ抑制層の表面を観察したフィールドエミッション走査電子顕微鏡像であり、図3は、その模式図である。ノイズ抑制層13は、複数のマイクロクラスター14の集合体として観察される。マイクロクラスター14は、絶縁性樹脂層12上に金属材料が非常に薄く物理的に蒸着されて形成されたものであり、マイクロクラスター14の間には物理的な欠陥があって均質な薄膜になっていない。マイクロクラスター14が互いに接触して集団化しているものの、集団化したマイクロクラスター14の間には、金属材料の存在しない欠陥が多く存在している。   FIG. 2 is a field emission scanning electron microscope image obtained by observing the surface of the noise suppression layer made of a metal material formed on the surface of the insulating resin layer by physical vapor deposition, and FIG. 3 is a schematic diagram thereof. The noise suppression layer 13 is observed as an aggregate of a plurality of microclusters 14. The microclusters 14 are formed by physically depositing a metal material on the insulating resin layer 12 so as to be physically thin, and there are physical defects between the microclusters 14 to form a homogeneous thin film. Not. Although the microclusters 14 are in contact with each other and are clustered, there are many defects in which no metal material exists between the clustered microclusters 14.

図4は、ノイズ抑制層13の膜厚方向断面の高分解能透過型電子顕微鏡像である。図2、図4から、非常に小さな結晶として数Å間隔の金属原子が配列された結晶格子(マイクロクラスター)、および非常に小さい範囲で金属材料が存在しない欠陥が認められる。すなわち、マイクロクラスター同士の間隔が空いた状態であり、金属材料からなる均質な薄膜には成長していない。このような物理的な欠陥を有する状態は、ノイズ抑制層13の表面抵抗の実測値から換算した体積抵抗率R1 (Ω・cm)と金属材料(または導電性セラミックス)の体積抵抗率R0 (Ω・cm)(文献値)との関係から確認できる。すなわち、体積抵抗率R1 と体積抵抗率R0 とが、0.5≦logR1 −logR0 ≦3を満足する場合に、優れたノイズ抑制効果が発揮される。 FIG. 4 is a high-resolution transmission electron microscope image of a cross section in the film thickness direction of the noise suppression layer 13. 2 and 4, a crystal lattice (microcluster) in which metal atoms arranged at intervals of several kilometers are arranged as very small crystals, and defects in which a metal material does not exist in a very small range are recognized. That is, the microclusters are spaced apart from each other and have not grown into a homogeneous thin film made of a metal material. The state having such a physical defect is that the volume resistivity R 1 (Ω · cm) converted from the measured value of the surface resistance of the noise suppression layer 13 and the volume resistivity R 0 of the metal material (or conductive ceramic). It can be confirmed from the relationship with (Ω · cm) (document value). That is, when the volume resistivity R 1 and the volume resistivity R 0 satisfy 0.5 ≦ logR 1 −logR 0 ≦ 3, an excellent noise suppression effect is exhibited.

ノイズ抑制層13は、所望の形状にパターン加工されていてもよく、スルーホール等のアンチビアが形成されていてもよい。ノイズ抑制層13は、通常のエッチング法、レーザーアブレーション法等により所望の形状に加工できる。   The noise suppression layer 13 may be patterned into a desired shape, and an anti-via such as a through hole may be formed. The noise suppression layer 13 can be processed into a desired shape by a normal etching method, a laser ablation method, or the like.

(接着促進層)
銅箔11と絶縁性樹脂層12との密着性を向上させるために、銅箔11の平滑面に接着促進層15が設けられていることが好ましい。
接着促進層15は、銅箔11の平滑面を接着促進剤で処理することにより形成される。接着促進剤としては、シラン系カップリング剤、またはチタネート系カップリング剤が挙げられる。
(Adhesion promoting layer)
In order to improve the adhesion between the copper foil 11 and the insulating resin layer 12, the adhesion promoting layer 15 is preferably provided on the smooth surface of the copper foil 11.
The adhesion promoting layer 15 is formed by treating the smooth surface of the copper foil 11 with an adhesion promoter. Examples of the adhesion promoter include a silane coupling agent or a titanate coupling agent.

シラン系カップリング剤としては、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。   Examples of silane coupling agents include vinyltriethoxysilane, vinyltris (2-methoxyethoxy) silane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and 2- (3,4-epoxycyclohexyl). ) Ethyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) 3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) 3-aminopropylmethyldimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl- Examples include 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, and 3-chloropropyltrimethoxysilane.

チタネート系カップリング剤としては、イソプロピルトリイソステアロイルチタネート、イソプロピルトリス(ジオクチルパイロホスフェート)チタネート、イソプロピルトリ(N−アミノエチル−アミノエチル)チタネート、テトラオクチルビス(ジ−トリデシルホスファイト)チタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)オキシアセテートチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェート)エチレンチタネート、イソプロピルトリオクタノイルチタネート、イソプロピルジメタクリルイソステアロイルチタネート、イソプロピルイソステアロイルジアクリルチタネート、テトライソプロピルビス(ジオクチルホスファイト)チタネート等が挙げられる。   Titanate coupling agents include isopropyl triisostearoyl titanate, isopropyl tris (dioctyl pyrophosphate) titanate, isopropyl tri (N-aminoethyl-aminoethyl) titanate, tetraoctyl bis (di-tridecyl phosphite) titanate, bis (Dioctylpyrophosphate) oxyacetate titanate, bis (dioctylpyrophosphate) ethylene titanate, isopropyltrioctanoyl titanate, isopropyldimethacrylisostearoyl titanate, isopropylisostearoyldiacryl titanate, tetraisopropylbis (dioctylphosphite) titanate It is done.

接着促進剤としては、通常、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランが用いられ、銅箔11と絶縁性樹脂層12との剥離強度を1.0kgf/cm以上に高める場合には、3−メルカプトプロピルトリメトキシシランが好ましい。
接着促進層15の形成方法としては、塗布法、浸漬法、シャワーリング法、噴霧法等が挙げられる。
As the adhesion promoter, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane is usually used. When the peel strength between the copper foil 11 and the insulating resin layer 12 is increased to 1.0 kgf / cm or more, 3-mercapto is used. Propyltrimethoxysilane is preferred.
Examples of the method for forming the adhesion promoting layer 15 include a coating method, a dipping method, a showering method, and a spraying method.

また、ノイズ抑制層13と他の絶縁性樹脂層(図示略)との密着性を向上させるために、ノイズ抑制層13上に接着促進層(図示略)を設けてもよい。
接着促進層は、前記シラン系カップリング剤またはチタネート系カップリング剤を塗布する方法、該カップリング剤がインテグラルブレンドされたエポキシ樹脂等を塗布する方法によって形成できる。接着促進層は、ノイズ抑制層13のパターン加工後に形成してもよい。
Further, an adhesion promoting layer (not shown) may be provided on the noise suppressing layer 13 in order to improve the adhesion between the noise suppressing layer 13 and another insulating resin layer (not shown).
The adhesion promoting layer can be formed by a method of applying the silane coupling agent or titanate coupling agent, a method of applying an epoxy resin in which the coupling agent is integral blended, or the like. The adhesion promoting layer may be formed after pattern processing of the noise suppression layer 13.

<プリント配線基板>
本発明のプリント配線基板は、本発明の配線部材を具備するものである。配線部材における銅箔は、プリント配線基板においては、信号配線層、電源層またはグランド層である。ノイズ抑制効果を充分に発揮させるためには、配線部材における銅箔は、電源層またはグランド層であることが好ましく、電源層であることがより好ましい。また、ノイズ抑制効果を充分に発揮させるためには、電源層とグランド層との間にノイズ抑制層が配置されていることが好ましい。
<Printed wiring board>
The printed wiring board of the present invention comprises the wiring member of the present invention. The copper foil in the wiring member is a signal wiring layer, a power supply layer, or a ground layer in the printed wiring board. In order to sufficiently exhibit the noise suppressing effect, the copper foil in the wiring member is preferably a power supply layer or a ground layer, and more preferably a power supply layer. In order to sufficiently exhibit the noise suppression effect, it is preferable that a noise suppression layer is disposed between the power supply layer and the ground layer.

図5は、本発明のプリント配線基板の一例を示す概略断面図である。プリント配線基板20は、上から順に、パターン加工された信号配線層21、プリント配線基板20のほぼ全面にわたるグランド層22、電源層23、パターン加工された信号配線層21が、絶縁層24を介して積層されたものである。   FIG. 5 is a schematic sectional view showing an example of the printed wiring board of the present invention. In the printed wiring board 20, a patterned signal wiring layer 21, a ground layer 22, a power supply layer 23, and a patterned signal wiring layer 21 over almost the entire surface of the printed wiring board 20 are arranged via an insulating layer 24 in order from the top. Are stacked.

電源層23は、配線部材10の銅箔11であり、電源層23のグランド層22側には、絶縁性樹脂層12を介して、グランド層22とほぼ同じ大きさのノイズ抑制層13が設けられている。また、電源層23は2分割されていて、分割された電源層23同士は絶縁されている。   The power supply layer 23 is the copper foil 11 of the wiring member 10, and the noise suppression layer 13 having the same size as the ground layer 22 is provided on the ground layer 22 side of the power supply layer 23 via the insulating resin layer 12. It has been. The power supply layer 23 is divided into two parts, and the divided power supply layers 23 are insulated from each other.

プリント配線基板20は、例えば以下のようにして製造される。
配線部材10と他の銅箔との間に、エポキシ樹脂等をガラス繊維等に含浸させてなるプリプレグを挟んで硬化させ、配線部材10の銅箔11を電源層23、他方の銅箔をグランド層22とする。
ついで、フォトリソグラフィー法等により、配線部材10の銅箔11に、所望の形状(2分割パターン)となるようにエッチングを施す。この際、絶縁性樹脂層12がエッチング液に対し耐性を有し、また絶縁性樹脂層12にはピンホール等がないことから、ノイズ抑制層13はエッチングにてダメージを受けずに存在する。電源層23とグランド層22をコアに、その両外面に銅箔をプリプレグで張り合わせ信号配線層21とする。
The printed wiring board 20 is manufactured as follows, for example.
A prepreg made by impregnating glass fiber or the like with epoxy resin or the like is sandwiched between the wiring member 10 and another copper foil and cured, and the copper foil 11 of the wiring member 10 is grounded to the power supply layer 23 and the other copper foil is grounded. Layer 22 is assumed.
Next, the copper foil 11 of the wiring member 10 is etched so as to have a desired shape (two-divided pattern) by a photolithography method or the like. At this time, since the insulating resin layer 12 is resistant to the etching solution and the insulating resin layer 12 does not have pinholes, the noise suppression layer 13 exists without being damaged by etching. A power wiring layer 23 and a ground layer 22 are used as a core, and a copper foil is bonded to both outer surfaces with a prepreg to form a signal wiring layer 21.

以上説明した本発明の配線部材にあっては、表面粗さRz が2μm以下である平滑面を有する銅箔と、金属または導電性セラミックスを含む、厚さ5〜200nmのノイズ抑制層と、前記銅箔の平滑面側と前記ノイズ抑制層との間に設けられた絶縁性樹脂層とを有するため、銅箔とノイズ抑制層との間の絶縁を充分に確保できる。   In the wiring member of the present invention described above, a copper foil having a smooth surface with a surface roughness Rz of 2 μm or less, a noise suppression layer having a thickness of 5 to 200 nm, including metal or conductive ceramics, Since the insulating resin layer provided between the smooth surface side of the copper foil and the noise suppression layer is provided, the insulation between the copper foil and the noise suppression layer can be sufficiently ensured.

また、以上説明した本発明のプリント配線板にあっては、本発明の配線部材を具備するため、同時スイッチングによって電源層に流れ込む高周波電流をノイズ抑制層が減衰させ、電源層とグランド層との間の共振を抑えることができる。その結果、基板の周端部からのノイズの放射を抑えることができる。   In the printed wiring board of the present invention described above, since the wiring member of the present invention is provided, the noise suppression layer attenuates the high-frequency current flowing into the power supply layer by simultaneous switching, and the power supply layer and the ground layer are The resonance between them can be suppressed. As a result, noise emission from the peripheral edge of the substrate can be suppressed.

(ノイズ抑制層の厚さ)
(株)日立製作所製、透過型電子顕微鏡H9000NARを用いてノイズ抑制層の断面を観察し、5箇所のノイズ抑制層の厚さを測定し、平均した。
(Noise suppression layer thickness)
The cross section of the noise suppression layer was observed using a transmission electron microscope H9000NAR manufactured by Hitachi, Ltd., and the thicknesses of the five noise suppression layers were measured and averaged.

(接着強度)
配線部材の銅箔と絶縁性樹脂層との間の剥離強度を、JIS C5012に準拠し、テンシロンにより、引張角度90°、引張速度50mm/分にて測定した。
(Adhesive strength)
The peel strength between the copper foil of the wiring member and the insulating resin layer was measured with Tensilon at a tensile angle of 90 ° and a tensile speed of 50 mm / min in accordance with JIS C5012.

(ノイズ抑制効果)
グランド層と電源層とからなる2層基板を作製し、2分割された一方の電源層の両末端に、電源層とグランド層に繋がるSMAコネクタを搭載し、該コネクタに接続されたネットワークアナライザー(アンリツ社製、37247D)を用いてSパラメーター法によるS21(透過減衰量、単位:dB)を測定し、S21パラメータの共振状態を確認した。ノイズ抑制効果がある場合は、共振周波数における減衰量が大きくなり、減衰量と周波数を示すグラフは滑らかになる。
(Noise suppression effect)
A two-layer substrate consisting of a ground layer and a power supply layer is manufactured, and an SMA connector connected to the power supply layer and the ground layer is mounted on both ends of one of the two power supply layers, and a network analyzer ( S21 (transmission attenuation, unit: dB) by the S parameter method was measured using 37247D manufactured by Anritsu Corporation, and the resonance state of the S21 parameter was confirmed. When there is a noise suppression effect, the amount of attenuation at the resonance frequency increases, and the graph showing the amount of attenuation and frequency becomes smooth.

(電源層間抵抗)
分割された2つの電源層のそれぞれにプローブをあて、東亜DKK製超絶縁計SM−8210を用い、50Vの測定電圧を印加した際の電源層間の抵抗を測定した。
(Power supply interlayer resistance)
A probe was applied to each of the two divided power supply layers, and the resistance between the power supply layers when a measurement voltage of 50 V was applied was measured using a superinsulator SM-8210 manufactured by Toa DKK.

〔実施例1〕
一方の表面(平滑面)の表面粗さRz が2μmであり、他方の粗面化された表面の表面粗さRz が5.3μmである、厚さ35μmの電解銅箔の平滑面上に、1質量%の3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン溶液を塗布、乾燥し、接着促進層を形成した。
[Example 1]
On the smooth surface of an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm, the surface roughness Rz of one surface (smooth surface) is 2 μm and the surface roughness Rz of the other roughened surface is 5.3 μm. A 1% by mass 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane solution was applied and dried to form an adhesion promoting layer.

ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製、828)30質量部、臭素化ビスフェノールA型樹脂(東都化成社製、YDB−500)30質量部およびクレゾールノボラック樹脂(東都化成社製、YDCN−704)35質量部を、メチルエチルケトンに溶解し、ついでイミダゾール系硬化促進剤(四国化成社製、キュアゾール2E4MZ)0.2質量部を加え、8質量%の樹脂組成物のワニスを調製した。
該樹脂組成物のワニスを、接着促進層の上に乾燥後の厚さが10μmとなるようにグラビアコーターを用いて塗布し、塗膜を形成した。該塗膜を15分間風乾した後、150℃で15分間加熱して硬化させ、絶縁性樹脂層を形成した。
30 parts by mass of bisphenol A type epoxy resin (made by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., 828), 30 parts by mass of brominated bisphenol A type resin (produced by Toto Kasei Co., Ltd., YDB-500) and cresol novolac resin (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YDCN-704) ) 35 parts by mass was dissolved in methyl ethyl ketone, and then 0.2 part by mass of an imidazole curing accelerator (manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., Curazole 2E4MZ) was added to prepare a varnish of 8% by mass of a resin composition.
The varnish of the resin composition was applied onto the adhesion promoting layer using a gravure coater so that the thickness after drying was 10 μm to form a coating film. The coating film was air-dried for 15 minutes and then cured by heating at 150 ° C. for 15 minutes to form an insulating resin layer.

ついで、該絶縁性樹脂層の全面にニッケル金属をEB蒸着法により物理的に蒸着した。150℃で45分間加熱して絶縁性樹脂層をさらに硬化させ、図2に示す表面を有する、厚さ15nmの不均質なノイズ抑制層を形成し、総厚45μmの配線部材を得た。   Next, nickel metal was physically deposited on the entire surface of the insulating resin layer by EB deposition. The insulating resin layer was further cured by heating at 150 ° C. for 45 minutes to form a 15 nm thick heterogeneous noise suppression layer having the surface shown in FIG. 2, thereby obtaining a wiring member having a total thickness of 45 μm.

該配線部材から幅10mm、長さ100mmの短冊状の試験片を切り出し、該試験片を、幅35mm、長さ50mm、厚さ1mmのプリプレグの幅方向に3枚並べ、試験片とプリプレグをプレスにより接着した後、剥離強度の測定および剥離状態の観察を行った。結果を表1に示す。剥離強度は、3枚の試験片の値の平均値とした。   A strip-shaped test piece having a width of 10 mm and a length of 100 mm is cut out from the wiring member, three test pieces are arranged in the width direction of a prepreg having a width of 35 mm, a length of 50 mm, and a thickness of 1 mm, and the test piece and the prepreg are pressed. After bonding, the peel strength was measured and the peeled state was observed. The results are shown in Table 1. The peel strength was the average value of the three test pieces.

前記配線部材と厚さ35μmの銅箔とを厚さ0.2mmのプリプレグを介して一体化し、2層基板を作製した。該2層基板から74mm×160mmの大きさの試験片を切り出し、該試験片の配線部材側の銅箔をエッチングにより、大きさ36.5mm×160mmの2つの電源層に分割し、1mm離して配置した。ノイズ抑制層とグランド層の大きさは74mm×160mmであった。該試験片について、電源層間抵抗を測定した。結果を表1に示す。また、該試験片について、Sパラメーター法によるS21を測定した。結果を図6に示す。   The wiring member and a copper foil having a thickness of 35 μm were integrated through a prepreg having a thickness of 0.2 mm to produce a two-layer substrate. A test piece having a size of 74 mm × 160 mm is cut out from the two-layer substrate, and the copper foil on the wiring member side of the test piece is divided into two power supply layers having a size of 36.5 mm × 160 mm by etching and separated by 1 mm. Arranged. The size of the noise suppression layer and the ground layer was 74 mm × 160 mm. About this test piece, the power supply interlayer resistance was measured. The results are shown in Table 1. Moreover, about this test piece, S21 by S parameter method was measured. The results are shown in FIG.

〔実施例2〕
一方の表面(平滑面)の表面粗さRz が0.4μmであり、他方の粗面化された表面の表面粗さRz が5.3μmである、厚さ18μmの電解銅箔の平滑面上に、1質量%の3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン溶液を塗布、乾燥し、接着促進層を形成した。
[Example 2]
On the smooth surface of an electrolytic copper foil having a thickness of 18 μm, the surface roughness Rz of one surface (smooth surface) is 0.4 μm and the surface roughness Rz of the other roughened surface is 5.3 μm. 1 mass% of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane solution was applied and dried to form an adhesion promoting layer.

ポリエーテルサルホン樹脂(住友化学社製、PES5003P)95質量部、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製、828EL、)5質量部、イミダゾール系硬化促進剤(四国化成社製、キュアゾール2MZ)0.1質量部を、N,N−ジメチルホルムアミド/シクロヘキサン混合溶剤(50/50質量比)に溶解させ、0.5質量%の樹脂組成物のワニスAを調製した。
該樹脂組成物のワニスAを、接着促進層の上に乾燥後の厚さが1μmとなるように塗布し、塗膜を形成した。該塗膜を10分間風乾した後、160℃で10分間加熱して硬化させ、絶縁性樹脂層Aを形成した。
95 parts by mass of polyethersulfone resin (Sumitomo Chemical Co., PES5003P), 5 parts by mass of bisphenol A type epoxy resin (Japan Epoxy Resin Co., Ltd., 828EL), imidazole-based curing accelerator (Shikoku Kasei Co., Ltd., Curesol 2MZ) 0.1 part by mass was dissolved in an N, N-dimethylformamide / cyclohexane mixed solvent (50/50 mass ratio) to prepare a varnish A of 0.5% by mass of a resin composition.
Varnish A of the resin composition was applied on the adhesion promoting layer so that the thickness after drying was 1 μm to form a coating film. The coating film was air-dried for 10 minutes and then cured by heating at 160 ° C. for 10 minutes to form an insulating resin layer A.

ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製、834)26質量部、ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製、1256)20質量部、クレゾールノボラック樹脂(東都化成社製、YDCN−704)35質量部を、メチルエチルケトンに溶解し、ついでイミダゾール系硬化促進剤(四国化成社製、キュアゾール2E4MZ)0.2質量部加え、4質量%の樹脂組成物のワニスBを調製した。
該樹脂組成物のワニスBを、絶縁性樹脂層Aの上に乾燥後の厚さが2μmとなるようにグラビアコーターを用いて塗布し、塗膜を形成した。該塗膜を10分間風乾した後、150℃で15分間加熱して硬化させ、絶縁性樹脂層Bを形成した。
26 parts by mass of bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., 834), 20 parts by mass of bisphenol A type phenoxy resin (manufactured by Japan Epoxy Resin Co., 1256), 35 parts by weight of cresol novolac resin (YDCN-704, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.) A part by mass was dissolved in methyl ethyl ketone, and then 0.2 part by mass of an imidazole curing accelerator (manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., Curazole 2E4MZ) was added to prepare varnish B of 4% by mass of a resin composition.
Varnish B of the resin composition was applied onto insulating resin layer A using a gravure coater so that the thickness after drying was 2 μm to form a coating film. The coating film was air-dried for 10 minutes and then cured by heating at 150 ° C. for 15 minutes to form an insulating resin layer B.

ついで、該絶縁性樹脂層Bの全面にタンタル金属を、窒素を流入しながらマグネトロンスパッタリング法により物理的に蒸着した。150℃で45分間加熱して絶縁性樹脂層をさらに硬化させ、厚さ20nmの不均質なノイズ抑制層を形成し、総厚21μmの配線部材を得た。
該配線部材について、実施例1と同様にして剥離強度の測定および剥離状態の観察を行った。結果を表1に示す。
Next, tantalum metal was physically deposited on the entire surface of the insulating resin layer B by magnetron sputtering while nitrogen was introduced. The insulating resin layer was further cured by heating at 150 ° C. for 45 minutes to form a heterogeneous noise suppression layer having a thickness of 20 nm, and a wiring member having a total thickness of 21 μm was obtained.
About this wiring member, it carried out similarly to Example 1, and measured the peeling strength and observed the peeling state. The results are shown in Table 1.

前記配線部材と厚さ18μmの銅箔とを厚さ0.1mmのプリプレグを介して一体化し、2層基板を作製した。該2層基板について、実施例1と同様にして、電源層を2つに分割し、試験片を作製して、電源層間抵抗を測定した。結果を表1に示す。また、該試験片について、Sパラメーター法によるS21を測定した。結果を図7に示す。   The wiring member and a copper foil having a thickness of 18 μm were integrated through a prepreg having a thickness of 0.1 mm to produce a two-layer substrate. For the two-layer substrate, the power supply layer was divided into two in the same manner as in Example 1, a test piece was prepared, and the power supply interlayer resistance was measured. The results are shown in Table 1. Moreover, about this test piece, S21 by S parameter method was measured. The results are shown in FIG.

〔比較例1〕
両面の表面粗さRzが5.3μmである、厚さ35μmの粗面化した電解銅箔を用い、接着促進層を形成しなかった以外は、実施例1と同様にして総厚45μmの配線部材を得た。該配線部材について、実施例1と同様にして剥離強度の測定および剥離状態の観察を行った。結果を表1に示す。
前記配線部材を用いて、実施例1と同様にして2層基板を作製し、実施例1と同様にして試験片を作製して、電源層間抵抗を測定した。結果を表1に示す。Sパラメーター法によるS21の測定は行わなかった。
[Comparative Example 1]
Wiring with a total thickness of 45 μm was used in the same manner as in Example 1 except that a roughened electrolytic copper foil with a thickness of 35 μm having a surface roughness Rz of both surfaces was 5.3 μm and no adhesion promoting layer was formed. A member was obtained. About this wiring member, it carried out similarly to Example 1, and measured the peeling strength and observed the peeling state. The results are shown in Table 1.
Using the wiring member, a two-layer substrate was produced in the same manner as in Example 1, a test piece was produced in the same manner as in Example 1, and the power supply interlayer resistance was measured. The results are shown in Table 1. S21 was not measured by the S parameter method.

参考
接着促進層を形成せず、絶縁性樹脂層の厚さを25μにした以外は、実施例1と同様にして配線部材を得た。該配線部材について、実施例1と同様にして剥離強度の測定および剥離状態の観察を行った。結果を表1に示す。
前記配線部材を用いて、実施例1と同様にして2層基板を作製し、実施例1と同様にして試験片を作製して、電源層間抵抗を測定した。結果を表1に示す。また、該試験片について、Sパラメーター法によるS21を測定した。結果を図8に示す。
[ Reference Example 1 ]
A wiring member was obtained in the same manner as in Example 1 except that the adhesion promoting layer was not formed and the thickness of the insulating resin layer was 25 μm. About this wiring member, it carried out similarly to Example 1, and measured the peeling strength and observed the peeling state. The results are shown in Table 1.
Using the wiring member, a two-layer substrate was produced in the same manner as in Example 1, a test piece was produced in the same manner as in Example 1, and the power supply interlayer resistance was measured. The results are shown in Table 1. Moreover, about this test piece, S21 by S parameter method was measured. The results are shown in FIG.

〔比較例2〕
絶縁性樹脂層を設けずに直接ノイズ抑制層を銅箔上に形成した以外は、実施例2と同様にして総厚18μmの配線部材を得た。該配線部材について、実施例1と同様にして剥離強度の測定および剥離状態の観察を行った。結果を表1に示す。
[Comparative Example 2]
A wiring member having a total thickness of 18 μm was obtained in the same manner as in Example 2 except that the noise suppressing layer was directly formed on the copper foil without providing the insulating resin layer. About this wiring member, it carried out similarly to Example 1, and measured the peeling strength and observed the peeling state. The results are shown in Table 1.

前記配線部材を用いて、実施例1と同様に2層基板を作製した。該2層基板について、実施例1と同様にして、電源層を2つに分割し、試験片を作製したが、絶縁性樹脂層がないため、ノイズ抑制層も分割され、電源層と同じ2分割された大きさ(36.5mm×160mm)となった。グランド層の大きさは74mm×160mmであった。該試験片について、電源層間抵抗を測定した。結果を表1に示す。また、該試験片について、Sパラメーター法によるS21を測定した。結果を図9に示す。   A two-layer substrate was produced using the wiring member in the same manner as in Example 1. With respect to the two-layer substrate, the power source layer was divided into two and the test piece was produced in the same manner as in Example 1. However, since there was no insulating resin layer, the noise suppression layer was also divided and the same as the power source layer 2 It became the divided | segmented magnitude | size (36.5 mm x 160 mm). The size of the ground layer was 74 mm × 160 mm. About this test piece, the power supply interlayer resistance was measured. The results are shown in Table 1. Moreover, about this test piece, S21 by S parameter method was measured. The results are shown in FIG.

〔比較例3〕
ノイズ抑制層を形成しない以外は、実施例1と同様にして配線部材を得た。前記配線部材を用いて、実施例1と同様にして2層基板を作製し、実施例1と同様にして試験片を作製して、Sパラメーター法によるS21を測定した。結果を図6〜8に示す。
[Comparative Example 3]
A wiring member was obtained in the same manner as in Example 1 except that no noise suppression layer was formed. Using the wiring member, a two-layer substrate was produced in the same manner as in Example 1, a test piece was produced in the same manner as in Example 1, and S21 by the S parameter method was measured. The results are shown in FIGS.

〔比較例4〕
ノイズ抑制層を形成しない以外は、比較例2と同様にして配線部材を得た。前記配線部材を用いて、実施例1と同様にして2層基板を作製し、実施例1と同様にして試験片を作製して、Sパラメーター法によるS21を測定した。結果を図9に示す。
[Comparative Example 4]
A wiring member was obtained in the same manner as in Comparative Example 2 except that no noise suppression layer was formed. Using the wiring member, a two-layer substrate was produced in the same manner as in Example 1, a test piece was produced in the same manner as in Example 1, and S21 by the S parameter method was measured. The results are shown in FIG.

Figure 0005138185
Figure 0005138185

本発明の配線部材は、IC、LSI等の半導体素子や電子部品に、電源供給や信号伝送を行うプリント配線基板を構成する部材として有用である。   The wiring member of the present invention is useful as a member constituting a printed wiring board that supplies power and transmits signals to semiconductor elements such as IC and LSI and electronic components.

本発明の配線部材の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the wiring member of this invention. ノイズ抑制層の表面を観察したフィールドエミッション走査電子顕微鏡像である。It is the field emission scanning electron microscope image which observed the surface of the noise suppression layer. 図2の模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram of FIG. 2. 図2のノイズ抑制層の断面の高分解能透過型電子顕微鏡像である。3 is a high-resolution transmission electron microscope image of a cross section of the noise suppression layer in FIG. 2. 本発明のプリント配線基板の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the printed wiring board of this invention. 実施例1および比較例3のプリント配線板のS21(透過減衰量)を示すグラフである。It is a graph which shows S21 (transmission attenuation amount) of the printed wiring board of Example 1 and Comparative Example 3. 実施例2および比較例3のプリント配線板のS21(透過減衰量)を示すグラフである。It is a graph which shows S21 (transmission attenuation amount) of the printed wiring board of Example 2 and Comparative Example 3. 実施例3および比較例3のプリント配線板のS21(透過減衰量)を示すグラフである。It is a graph which shows S21 (transmission attenuation amount) of the printed wiring board of Example 3 and Comparative Example 3. 比較例2および比較例4のプリント配線板のS21(透過減衰量)を示すグラフである。It is a graph which shows S21 (transmission attenuation amount) of the printed wiring board of the comparative example 2 and the comparative example 4. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10 配線部材
11 銅箔
12 絶縁性樹脂層
13 ノイズ抑制層
15 接着促進層
20 プリント配線基板
22 グランド層
23 電源層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Wiring member 11 Copper foil 12 Insulating resin layer 13 Noise suppression layer 15 Adhesion promotion layer 20 Printed wiring board 22 Ground layer 23 Power supply layer

Claims (4)

信号配線層、グランド層および電源層を有するプリント配線基板であって、
表面粗さRz が2μm以下である平滑面を有する銅箔と、
金属材料または導電性セラミックスを含む、厚さ5〜200nmのノイズ抑制層と、
前記銅箔の平滑面側と前記ノイズ抑制層との間に設けられた絶縁性樹脂層と、
前記銅箔の平滑面側と前記絶縁性樹脂層との間に設けられた接着促進層とを有し、
前記絶縁性樹脂層の厚さが、0.1〜10μmである、配線部材を具備し、
前記銅箔が、前記電源層または前記グランド層であり、
前記信号配線層と前記ノイズ抑制層との間には、前記電源層または前記グランド層が存在する、プリント配線基板
A printed wiring board having a signal wiring layer, a ground layer and a power supply layer,
A copper foil having a smooth surface with a surface roughness Rz of 2 μm or less;
A noise suppression layer having a thickness of 5 to 200 nm, including a metal material or conductive ceramics;
An insulating resin layer provided between the smooth surface side of the copper foil and the noise suppression layer;
An adhesion promoting layer provided between the smooth surface side of the copper foil and the insulating resin layer;
A wiring member having a thickness of the insulating resin layer of 0.1 to 10 μm ;
The copper foil is the power supply layer or the ground layer,
A printed wiring board in which the power supply layer or the ground layer exists between the signal wiring layer and the noise suppression layer .
前記ノイズ抑制層が、金属材料または導電性セラミックスが存在しない欠陥を有する、請求項1に記載のプリント配線基板The printed wiring board according to claim 1, wherein the noise suppression layer has a defect in which a metal material or conductive ceramic does not exist. 前記ノイズ抑制層の、前記銅箔側とは反対側の表面に、接着促進層を有する、請求項1または2に記載のプリント配線基板The printed wiring board of Claim 1 or 2 which has an adhesion promotion layer in the surface on the opposite side to the said copper foil side of the said noise suppression layer. 前記銅箔が、電源層であり、
電源層とグランド層との間に、前記ノイズ抑制層が配置されている、請求項1〜3のいずれか一項に記載のプリント配線基板。
The copper foil is a power supply layer,
The printed wiring board as described in any one of Claims 1-3 by which the said noise suppression layer is arrange | positioned between the power supply layer and the ground layer.
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