JP4986296B2 - 光断層画像化システム - Google Patents
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Description
なお、干渉光路長調整手段は、第1干渉光および/または第2干渉光の光路長を調整するものであればその構成を問わず、たとえば光分岐手段から出力された第1干渉光および/または第2干渉光を平行光にするコリメータレンズと、コリメータレンズにより平行光にされた第1干渉光および/または第2干渉光を干渉光検出手段に入射するための光ファイバに集光する集光手段と、集光手段とコリメータレンズとの間の第1干渉光および/または第2干渉光が平行光となる距離を調整する距離調整手段とを有するものであってもよい。
光ファイバFB2には光サーキュレータ21が接続されており、光サーキュレータ21には光ファイバFB4、FB5がそれぞれ接続されている。光ファイバFB4には測定光L1を測定対象Sまで導波する光プローブ10が接続されており、光分割手段3から射出した測定光L1は光ファイバFB2から光プローブ10へ導波され、測定対象Sに照射される。また、測定対象Sを反射した反射光L3は光ファイバFB4を介して光サーキュレータ21に入射され、光サーキュレータ21から光ファイバFB5側に射出されるようになっている。なお、光ファイバFB4と光プローブ10とはAPC(Angled physical contact)コネクタを用いて接続されており、光コネクタ(光ファイバ)の接続端面からの反射戻り光を極限にまで低減し、断層画像Pの画質劣化を防止するようになっている。
Pa(λ)・Ta(λ)=Pb(λ)・Tb(λ)
となるように、各光量調整手段64A、64Bの減衰率(透過率)が設定される。
3 光分割手段
4 合波手段
5 光分岐手段
10 光プローブ
20 干渉計
30 光源ユニット
60A、60B 干渉光路長調整手段
64A、64B 光量調整手段
70 干渉光検出手段
75 信号帯域フィルタ
80 周期クロック生成手段
90 A/D変換ユニット
100 断層画像処理手段
IS 干渉信号
L 光
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
L4a 第1干渉光
L4b 第2干渉光
P 断層画像
r(z) 断層情報
S 測定対象
Claims (3)
- 光を射出する光源ユニットと、
該光源ユニットから射出された光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された前記測定光が測定対象において反射したときの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を第1干渉光と第2干渉光とに分岐する光分岐手段と、
該光分岐手段により分岐された前記第1干渉光と前記第2干渉光との光路長が同一になるように、前記第1干渉光および/または前記第2干渉光の光路長を調整する干渉光路長調整手段と、
該干渉光路長調整手段により光路長が調整された前記第1干渉光と前記第2干渉光との差分を干渉信号として検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉信号から断層画像を生成する断層画像処理手段と
を備えたことを特徴とする光断層画像化システム。 - 前記干渉光路長調整手段が、
前記光分岐手段から出力された前記第1干渉光および/または前記第2干渉光を平行光にするコリメータレンズと、
該コリメータレンズにより平行光にされた前記第1干渉光および/または前記第2干渉光を前記干渉光検出手段に入射するための光ファイバに集光する集光手段と、
該集光手段と前記コリメータレンズとの間の前記第1干渉光および/または前記第2干渉光が平行光となる距離を調整する距離調整手段と
を有するものであることを特徴とする請求項1記載の光断層画像化システム。
- 前記光分岐手段により分岐された前記第1干渉光および第2干渉光をそれぞれ前記波長帯域毎に異なる減衰率であって、前記第1干渉光と前記第2干渉光との光量が略均等になるように調整する光量調整手段をさらに備えたものであることを特徴とする請求項1または2記載の光断層画像化システム。
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