JP4514374B2

JP4514374B2 - RF-ID inspection system

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Publication number: JP4514374B2
Application number: JP2001269561A
Authority: JP
Inventors: 貢齋藤; 孝之林
Original assignee: Toppan Forms Co Ltd
Current assignee: Toppan Forms Co Ltd
Priority date: 2001-09-05
Filing date: 2001-09-05
Publication date: 2010-07-28
Anticipated expiration: 2021-09-05
Also published as: JP2003076947A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、製造されるＲＦ−ＩＤの良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、ＲＦ−ＩＤ（ＲａｄｉｏＦｒｅｑｕｅｎｃｙＩｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）と称される非接触型識別媒体（非接触型ＩＣカード等）に関する技術が急速に進歩してきており、その使用も多岐にわたっている。このようなＲＦ−ＩＤは、リーダ・ライタとの間で性能に応じた通信距離が定められており、通信測定の向上、および歩留りの向上が望まれている。
【０００３】
従来、ＲＦ−ＩＤは、フィルムベース上にアンテナコイルが形成され、これにＩＣモジュールが搭載されたものとして、これらが製造段階で所定大のフィルムベース上に所定数形成されるのが一般的となっている。そして、単体とされる前に検査対象の単一のＩＣモジュールおよびアンテナコイル毎に対して通信距離の測定を行い、製品の良否を検査することが行われている。通信距離の測定は、リーダ・ライタとの間でその性能に応じて定められた通信距離が確保されているか否かで良否判定がなされる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような通信距離の検査を行う場合、ＲＦ−ＩＤが単体とされる前の段階で行われることから、ＲＦ−ＩＤリーダ・ライタからの通信に対する応答が、本来の検査対象の検査片からのものと、隣接されたＲＦ−ＩＤからのものとが混在して受信されることとなり、受信データの信頼性がなくなるだけでなく、検査対象の検査片が不良品の場合、隣接されたＲＦ−ＩＤからのデータが受信されて、検査片が本来不良品であるにも拘わらず、良品と判定されることとなり、不良品が流出してしまうという問題がある。
【０００５】
そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたもので、確実に対象検査片を特定することで誤検査を防止して不良品流出の防止を図るＲＦ−ＩＤの検査システムを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項１の発明では、検査対象であるＩＣモジュール、アンテナを備えるＲＦ−ＩＤが同一面上に複数形成され、一のＲＦ−ＩＤを対象とする検査片に対して通信を行い、良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査システムであって、通信を行うためのシステム側アンテナと、前記システム側アンテナと前記検査片との間に介在され、当該システム側アンテナを対象の当該検査片に対向させる開口部が形成されるもので、周縁部分を、端部近傍の検査対象でない検査片からの距離を当該開口部が形成される面より大とさせたシールド部材と、前記システム側アンテナを対象の前記検査片に対して通信させるために、当該システム側アンテナおよび前記シールド部材を移動させる駆動部と、前記検査片に前記システム側アンテナを介して所定の情報を送信し、当該検査片からの応答に応じて当該検査片の良否判定を行う処理部と、を有する構成とする。
【０００７】
請求項２および３の発明では、「前記シールド部材を電気的に接地させる」構成であり、
「前記システム側アンテナの近傍に検査片からの応答時の電界強度を測定するプローブが設けられ、前記処理部において、前記システム側アンテナと検査片との距離に応じた設定電界強度が予め記憶され、前記プローブによる電界強度の測定値と当該設定電界強度とを照合して通信可能距離であるか否かとして検査対象の検査片の良否判定に供される」構成である。
【０００８】
このように、一のＲＦ−ＩＤを対象する検査片と、通信を行うためのシステム側アンテナとの間に、システム側アンテナを対象の当該検査片に対向させる開口部が形成されて、周縁部分を、端部近傍の検査対象でない検査片からの距離を当該開口部が形成される面より大とさせたシールド部材を介在させ、当該シールド部材に形成された開口部から当該システム側アンテナを対象の検査片に対向させてシステム側アンテナより検査片に情報を送信し、その応答に応じて当該検査片の良否を判定する。すなわち、シールド部材によりシステム側アンテナからの送信情報を対象の検査片以外のＲＦ−ＩＤに受信させないことから、対象の検査片のみの応答に対して良否判定を行わせることが可能となり、確実に対象検査片を特定することが可能となって、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることが可能となるものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を図により説明する。ここで、本発明に係るＲＦ−ＩＤは、非接触型ＩＣカードはもちろん、非接触型のラベル、タグ等の非接触で識別情報等のデータ送受が行える媒体である。
【００１０】
図１に、本発明に係るＲＦ−ＩＤの検査システムにおける基本構成の分解構成図を示す。図１において、ＲＦ−ＩＤの検査システム１１は、大別して、シート１２と、シールド部材１３と、システム側アンテナ１４を搭載する駆動部１５とを備えるものであるが、検査処理を行う処理部は省略してある。上記シート１２は、ＩＣモジュール２１Ａおよびアンテナ２１Ｂを備えるＲＦ−ＩＤ２１が例えばフィルムベース上の同一面上で規則的に複数形成されたもので、各ＲＦ−ＩＤ２１が検査対象の検査片２１Ｘとなる。
【００１１】
上記シート１２の製造の方法は種々あるが、例えばポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）上に銅箔をエポキシ系接着剤で接着し、エッチングによりコイル状に巻回された各アンテナ２１Ｂを形成し、各アンテナ２１Ｂに対してそれぞれＩＣモジュール２１Ａをリフローはんだ付けにより接続するもので、その後シート状態またはロール状態とされて駆動装置１５の上方で図示しない搬送手段により長手方向に搬送される。そして、これらＲＦ−ＩＤ２１は、検査後にそれぞれ単体とされて例えばカードに搭載されて非接触型のＩＣカード等とされるものである。
【００１２】
上記シールド部材１３は、金属、導電性樹脂等の導電性物質により板状、または網状に形成されるもので、システム側アンテナ１４と検査片２１Ｘとの間に介在される。また、シールド部材１３は、当該システム側アンテナ１４を対象の当該検査片２１Ｘに対向させる開口部２２が形成されたもので、その周縁部分を、検査片２１Ｘからの距離を前記開口部２２が形成される面より大とさせている。
【００１３】
なお、このシールド部材１３は、図示しないが、当該シート１２に対してシステム側アンテナ１４が搭載される駆動部１５で一体的に上下方向、および当該シート１２の幅方向（水平方向）に駆動される。そして、上記駆動部１５は、シート１２の下方であって、上記シールド部材１３の下方に配置されるもので、システム側アンテナ１４を搭載して当該シート１２の幅方向に移動させるＹ駆動と、上下方向に移動させるＺ駆動とを行う。
【００１４】
ここで、図２に、図１の側部部分断面図を示す。図２（Ａ）は、ＲＦ−ＩＤ２１が所定数形成されたシート１２と、シールド部材１３と、駆動部１５に搭載されたシステム側アンテナ１４との位置関係が示され、シールド部材１３はシート１２のＲＦ−ＩＤ２１が形成された裏面に、その開口部２２を検査対象の検査片２１Ｘに対応するように当接される。
【００１５】
そして、システム側アンテナ１４が開口部２２の下方であって、検査片２１Ｘより所定距離に位置されるものである。なお、シールド部材１３は、シート１２の裏面に当接させる場合を示しているが、システム側アンテナ１４と当該シールド部材１３とを一体的に移動（上下動および水平移動）させる場合として、当該システム側アンテナ１４と検査片２１Ｘとの距離が変化することによってシート１２との間に間隙を生じさせてもよい。
【００１６】
そこで、上記の場合の寸法関係の一例を図２（Ｂ）により説明すると、シート１２の基材（例えば厚さ５０μｍ）上に、例えばＴ１（＝２ｍｍ）間隔でアンテナ２１Ｂ（ＩＣモジュール２１Ａ）が例えば長手方向Ｒ（＝６０ｍｍ）、幅方向２０ｍｍで形成されており、例えば厚さ５ｍｍのアルミ製のシールド部材１３の開口部２２は検査片２１Ｘより一回り大きい長さＳ（＝６４ｍｍ）であって奥行き２４ｍｍで形成される。ここでの開口部２２の大きさは、該当の検査片２１Ｘの周辺のＲＦ−ＩＤ２１に跨らない大きさとされ、上記間隔Ｔ１を２ｍｍとしていることで、検査片２１Ｘの大きさより各４ｍｍ大きい値とされる。また、システム側アンテナ１４は、例えば一辺の長さＡ（＝６０ｍｍ）、幅２０ｍｍ程度のサイズで検査片２１Ｘの下方の距離Ｌ（例えば１５ｍｍ）に位置されるものである。
【００１７】
すなわち、ＲＦ−ＩＤ２１は所定の共振周波数を有しており、システム側アンテナ１４からの電波に反応して共振することにより受信を行う。したがって、シールド部材１３が、検査対象の検査片２１Ｘの周囲のＲＦ−ＩＤ２１に対してシールド機能を発揮することで、これらのＲＦ−ＩＤは電気特性（インダクタンスＬ、キャパシタンスＣ）が変化して共振周波数が変化することから、システム側アンテナ１４からの電波に反応しなくなり、通信不可能となる。よって、システム側アンテナ１４からの電波に対して検査片２１Ｘのみが反応することとなることから、確実に対象検査片を特定することができることになるものである。
【００１８】
このように、確実に対象検査片を特定できることから、誤検査が防止されて不良品流出の防止が図られるものである。また、ＲＦ−ＩＤ２１を単体とする以前の生産ライン上におけるシート１２の段階で全ＲＦ−ＩＤ２１を検査することができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００１９】
なお、上記シールド部材１３を積層構造とするとシールド効果を向上させることができる。すなわち、積層構造とすることで、各層間に境界面ができ、各境界面で前の層を透過した電波を次の層で反射、吸収させることを繰り返すこととなり、シールと効果を向上させることができるものである。さらに、これら積層構造の所定層間に電波吸収部材を介在させることでも電波吸収性を向上させることができるものである。
【００２０】
ところで、上記シールド部材１３で吸収された電波は、シールド中を伝播して当該シールド部材１３の端部より放出されることから、その端部近傍のＲＦ−ＩＤ２１が反応する場合があり、正規の検査片２１Ｘ以外のＲＦ−ＩＤとも通信する場合がある。そのため、図示の如くシールド部材１３の周縁部分を、検査片２１Ｘからの距離を開口部２２が形成される面より大とさせる形状として、他のＲＦ−ＩＤ２１に電波が届かないようにしている。一方で、他のＲＦ−ＩＤ２１に電波を届かないようにする場合として、シールド部材１３を電気的に接地させる方法がある。
【００２１】
そこで、図３に、本発明に係るシールド部材を電気的接地した場合の説明図を示す。図３（Ａ）は、シールド部材１３Ａを平面形状として電気的に接地を行った場合を示している。すなわち、電気的接地によって、シールド部材１３で吸収された電波がシールド中を伝播しても端部より放出されることがなく、端部近傍のＲＦ−ＩＤ２１を反応させないものである。また、図３（Ｂ）は、シールド部材１３を図１および図２に示すような周縁部分の形状とし、さらにこれを電気的に接地させたものである。すなわち、システム側アンテナ１４の出力の大きさや、当該シールド部材１３の周縁部分の弧の大きさによっては検査片２１Ｘ以外のＲＦ−ＩＤ２１が反応することを回避させるためのものである。
【００２２】
このように、シールド部材１３をその形状や、電波強度に応じて電気的に接地させることで、より確実に対象検査片を特定でき、誤検査が防止されて不良品流出の防止が図られるものである。
【００２３】
なお、上記実施形態では、シールド部材１３およびシステム側アンテナ１４をシート１２の下方に配置する場合を示したが、シート１２の上方、すなわちＲＦ−ＩＤ２１が形成されている面側に配置することとしてもよい。
【００２４】
次に、図４に本発明に係る検査システムのブロック構成図を示すと共に、図５に図４の検査処理部の一例のブロック構成図を示す。図４において、本発明に係る第１形態のＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ａは、シート１２の各ＲＦ−ＩＤ２１における検査対象の検査片２１Ｘに対し、駆動構造手段３１および検査処理手段３２を含んで構成される。
【００２５】
上記検査片２１Ｘは、処理部４１、メモリ４２および復調部４３で構成されるＩＣモジュール２１Ａと、アンテナ２１Ｂにより構成される。アンテナ２１Ｂは、上述のように平面上でコイル状に巻回されたもので、検査システム１１Ａからの信号を受信し、または当該検査片２１Ｘより検査システム１１Ａ（システム側アンテナ１４）にデータを送信する役割をなす。
【００２６】
上記ＩＣモジュール２１Ａにおいて、メモリ４２は当該カードとしての種々の情報を記憶するためのものである。上記復調部４３は、アンテナ２１Ｂで受信した電波から制御信号、データを復調し、適宜コード変換する。そして、処理部４１は、プログラムにより、受信した制御信号、データをメモリ４２に記憶させ、またメモリに記憶したデータを送信する処理を行う。
【００２７】
上記駆動構造手段３１は、搬送駆動部５１およびアンテナ駆動部５２で構成され、上記検査片２１Ｘとの通信を行うシステム側アンテナ１４を搭載する。上記搬送駆動部５１は、検査片２１Ｘが製造段階でフィルムベース上に所定数形成されたシート１２状態で当該検査を行う際に、該当の検査片２１Ｘを検査位置に搬送移動させるためのものである。上記アンテナ駆動部５２は、上述のようにシステム側アンテナ１４を検査片２１Ｘの方向に上下動させるＺ移動させ、当該シート１２の幅方向の検査片２１Ｘ間でＹ移動させる。なお、このアンテナ駆動部５２は、上記シールド部材１３（１３Ａ）およびシステム側アンテナ１４を移動させるものである。
【００２８】
上記検査処理手段３２は、検査片２１Ｘの良否判定を行う処理部を構成するものとして、制御部６１、検査処理部６２、データメモリ６３を備え、電力増幅部６４、変調部６５、発信部６６、検波部６７、データ変換部６８、搬送駆動制御部６９、アンテナ駆動制御部７０、インターフェース（ＩＦ）部７１および表示手段７２を備える。
【００２９】
上記制御部６１は、この検査処理手段３２の全体を統括制御するもので、これに応じたプログラムがセットされている。上記検査処理部６２は、詳細は図５で説明するが、プログラムによる検査ルーチンで基準片２１Ｘに対する検査処理、判定を行うものある。上記データメモリ６３は、種々のデータを記憶すると共に、適宜検査判定のための一時記憶領域（バッファであって、検査処理部６２に備えさせてもよい）としての役割をもなす。上記種々のデータには、例えば、検査片２１Ｘ毎のメモリ４２に記憶させるための情報（例えば識別情報）や、検査のための種々の設定値等がある。
【００３０】
上記データ変換部６８は、検査片２１Ｘに対して情報を送信する場合の情報を例えば「１」、「０」に変換し、また当該検査片２１Ｘからの送信データを例えば「１」、「０」に変換する。上記変調部６５は、発信部６６からの発信出力に基づいて上記データ変換部６８で変換された情報を例えばＦＳＫ（周波数偏位変調）変調波に変調する。上記電力増幅部６４は、変調部６５で変調された変調波を電力増幅するもので、この増幅された変調波がシステム側アンテナ１４より送信されるものである。そして、検波部６７は、システム側アンテナ１４で受信した検査片２１Ｘからの送信電波を検波して復調する。
【００３１】
一方、上記搬送駆動制御部６９は、検査片２１Ｘを順次検査するために搬送する上述の搬送駆動部５１を駆動させるための制御信号を制御部６１からの指令に基づき生成してＩＦ部７１を介して当該搬送駆動部５１に送出する。また、上記アンテナ駆動制御部７０は、検査片２１Ｘに対してシールド部材１３（１３Ａ）およびシステム側アンテナ１４を上下方向に移動させ、対象のアンテナ２１Ｂとの距離（通信距離）を制御する信号を制御部６１の指令に基づいて生成し、ＩＦ部７１を介してアンテナ駆動部５２に送出するものである。
【００３２】
ここで、図５において、検査処理部６２は、プログラム処理の機能として、処理手段８１、受信データ取得手段８２、送信データ取得手段８３、判定手段８４を備える。上記処理手段８１は、当該検査処理部６２全体の処理を統括する。上記受信データ取得手段８２は、検査片２１Ｘから送信されてくるデータが受信されたときに取得するもので、適宜データメモリ６３に記憶させる（当該受信データ取得手段８２がバッファを備える場合にはバッファに一時格納してもよい）。
【００３３】
上記送信データ取得手段８３は、検査片２１Ｘに通信によりメモリ４２に書き込ませる識別情報等をデータメモリ６３より読み出して取得する。そして、判定手段８４は、上記取得されて送信された送信データと、検査片２１Ｘより送信されてきた受信データとを比較し、一致していれば良品と判定し、不一致のときには不良品と判定するもので、送信データが検査片２１Ｘのメモリ４２に実際に書き込まれたか否かをデータ比較による通信状態の良否としてとらえたものである。
【００３４】
次に、図６に、図４および図５の検査システムにおける検査処理のフローチャートを示す。図６において、まず、シート１２における検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部６１の指令により搬送駆動制御部６９がＩＦ部７１を介して搬送駆動部５１に出力する（ステップ（Ｓ）１）。また、アンテナ駆動制御部７０では、制御部６１の指令により検査位置の行のうち対象の検査片２１Ｘに対してシールド部材１３（１３Ａ）およびシステム側アンテナ１４を下方に位置させる駆動量（Ｙ）をアンテナ駆動部５２のＹ方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ１４を検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）に対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離（Ｌ）とする駆動量（Ｚ）をＺ方向駆動量として出力する（Ｓ２）。
【００３５】
そこで、検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ３）、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信して、上記のように判定手段８４が送信データと受信データとのマッチングを行う（Ｓ４）。マッチングの結果において（Ｓ５）、一致したときには良品と判定し（Ｓ６）、不一致のときには不良品と判定し（Ｓ７）、これらの判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ８）。
【００３６】
続いて、同じ行において次の検査片２１Ｘの測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査片２１Ｘに対してＳ２〜Ｓ８を繰り返して判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ９）。そして、次の行の検査片２１Ｘがある場合には、Ｓ１〜Ｓ９を繰り返して総ての行の総ての検査片２１Ｘに対して良否を判定してデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ１０）。そして、シート１２における総ての検査片２１Ｘの良否がデータメモリ６３に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部７２に表示させるものである（Ｓ１１）。なお、検査結果の表示を、検査片２１Ｘ毎、または所定数の検査片２１Ｘの検査結果毎に行ってもよい。
【００３７】
このように、シート１２段階で、各ＲＦ−ＩＤ（検査片２１Ｘ）に対してデータの送受で検査を行うに際して、シールド部材１３（１３Ａ）によりシステム側アンテナ１４からの送信情報を対象の検査片２１Ｘ以外のＲＦ−ＩＤに受信させないことから、対象の検査片２１Ｘのみの応答に対して良否判定を行わせることができることで、確実に対象検査片２１Ｘを特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができるものである。また、上述のように、ＲＦ−ＩＤ（検査片２１）を単体とする以前の生産ライン上におけるシート１２の段階で全ＲＦ−ＩＤ（検査片２１）を検査することができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００３８】
次に、図７に本発明に係る他の検査システムのブロック構成図を示すと共に、図８に図７の検査処理部の一例のブロック構成図を示す。図７に示す第２形態としてのＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ｂは、図４に示す検査システム１１Ａにおける駆動構造手段３１のアンテナ１４の近傍に電波強度としての電界強度を計測するプローブ９１を設けたもので、他の構成は図４と同様であり、説明を省略する。なお、検査処理部６２の構成は図８で説明する。
【００３９】
上記プローブ９１は、検査片２１Ｘからの送信データ出力時の電界強度を検出するもので、検出値はデータ変換部６８により「１」、「０」のデータに変換され、データメモリ６３に記憶される。なお、プローブ９１は、システム側アンテナ１４と同様に、検査片２１Ｘに対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離で駆動移動されるもので、電界強度の測定値が、あらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された設定電界強度を基準に照合されて通信可能距離であるか否かとして当該検査片２１Ｘの良否の判定に供されるものである。
【００４０】
また、図８に示す検査処理部４２は、図５に示す検査処理部４２において電界強度データ取得手段９２を備える。この電界強度データ取得手段９２はデータメモリ６３より基準とする設定された電界強度データを取得するものである。また、判定手段８４は、プローブ９１を介して測定された電界強度に基づき、図９で説明するデータメモリ６３に記憶されている基準の電界強度、または図１０で説明する段階的な電界強度に対応する通信距離との比較で検査片２１Ｘの良否を判定する。
【００４１】
そこで、図９に、図７および図８の検査システムにおける検査処理のフローチャートを示す。図９において、まず、シート１２における検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部６８の指令により搬送駆動制御部６９がＩＦ部７１を介して搬送駆動部５１に出力する（Ｓ２１）。また、アンテナ駆動制御部７０では、制御部６１の指令により検査位置の行のうち対象の検査片２１Ｘに対してシールド部材１３（１３Ａ）およびシステム側アンテナ１４を下方に位置させる駆動量（Ｙ）をアンテナ駆動部５２のＹ方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ１４を検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）に対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離（Ｌ）とする駆動量（Ｚ）をＺ方向駆動量として出力する（Ｓ２２）。
【００４２】
そこで、検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ２３）し、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信するときにプローブ９１を介して電界強度を測定する（Ｓ２４）。そして、電界強度データ取得手段９２がデータメモリ６３より基準の電界強度設定値を取得すると共に、判定手段８４が基準の電界強度データの設定値と測定した電界強度を照合し、測定値が当該設定値以上か否かを判定する（Ｓ２５）。判定の結果において、電界強度の測定値が設定値以上のときには良品と判定し（Ｓ２６）、設定値未満のときには不良品と判定し（Ｓ２７）、これらの判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ２８）。
【００４３】
続いて、同じ行において次の検査片２１Ｘの測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査片２１Ｘに対してＳ２〜Ｓ８を繰り返して判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ９）。そして、次の行の検査片２１Ｘがある場合には、Ｓ１〜Ｓ９を繰り返して総ての行の総ての検査片２１Ｘに対して良否を判定してデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ１０）。そして、シート１２における総ての検査片２１Ｘの良否がデータメモリ６３に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部７２に表示させるものである（Ｓ１１）。なお、検査結果の表示を、検査片２１Ｘ毎、または所定数の検査片２１Ｘの検査結果毎に行ってもよい。
【００４４】
このようなＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ｂの構成とすることによっても、シールド部材１３（１３Ａ）により、上記同様に確実に対象検査片２１Ｘを特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００４５】
続いて、図１０に、図７および図８の検査システムにおける他の検査処理のフローチャートを示す。ここでは、検査片２１Ｘからの電界強度を距離に応じて段階的に測定して設定電界強度のときの距離により良否の判定を行うもので、段階的な距離および設定電界強度のデータがあらかじめデータメモリ６３に記憶させておくものである。
【００４６】
図１０において、まず、シート１２における検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部６８の指令により搬送駆動制御部６９がＩＦ部７１を介して搬送駆動部５１に出力する（Ｓ４１）。また、アンテナ駆動制御部７０では、制御部６１の指令により検査位置の行のうち対象の検査片２１Ｘに対してシールド部材１３（１３Ａ）およびシステム側アンテナ１４を下方に位置させる駆動量（Ｙ）をアンテナ駆動部５２のＹ方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ１４を検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）に対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離のうち、最初の距離（Ｌ（１））とする駆動量（Ｚ（１））をＺ方向駆動量として出力する（Ｓ４２）。
【００４７】
そこで、検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ４３）し、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信するときにプローブ９１を介して電界強度を測定する（Ｓ４４）。そして、電界強度データ取得手段９２がデータメモリ６３より基準の電界強度設定値を取得すると共に、判定手段８４が基準の電界強度データの設定値と測定した電界強度を照合し、測定値が当該設定値以上か否かを判定する（Ｓ４５）。判定の結果において、電界強度の測定値が設定された電界強度より小であれば当該システム側アンテナ１４（プローブ９１）の検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）との次の距離（Ｌ（ｘ））をデータメモリ６３より読み出し、これに応じた駆動量（Ｚ（ｘ））をＺ方向駆動機構８５に出力する（Ｓ４６）。
【００４８】
続いて、上記同様に個別の検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ４７）、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信する際に、プローブ９１により電界強度を測定する（Ｓ４８）。そして、判定手段８４がデータメモリ６３に記憶されている電界強度と、上記測定した電界強度を比較し（Ｓ４９）、設定値の基準となる電界強度より小であれば、総ての設定距離でＳ４６〜Ｓ４９を繰り返し、総ての設定距離で測定した電界強度が基準より小であれば後述の如く当該検査片２１Ｘは不良品と判定される（Ｓ５０）。
【００４９】
一方、Ｓ４５およびＳ４９において、測定した電界強度が基準より大であれば、そのときの通信距離（Ｌ（ｘ））がデータメモリ６３に設定されて基準の距離より大か否かが判断される（Ｓ５１）。そして、通信距離（Ｌ（ｘ））が基準より大であれば当該検査片２１Ｘは良品であると判定され（Ｓ５２）、小であれば不良品と判定されて（Ｓ５３）、これらの判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ５４）。
【００５０】
続いて、同じ行において次の検査片２１Ｘの測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査片２１Ｘに対してＳ４２〜Ｓ５３を繰り返して判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ５４）。そして、次の行の検査片２１Ｘがある場合には、Ｓ４１〜Ｓ５５を繰り返して総ての行の総ての検査片２１Ｘに対して良否を判定してデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ５６）。そして、シート１２における総ての検査片２１Ｘの良否がデータメモリ６３に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部７２に表示させるものである（Ｓ５７）。なお、上記同様に、検査結果の表示を、検査片２１Ｘ毎、または所定数の検査片２１Ｘの検査結果毎に行ってもよい。
【００５１】
このようなＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ｂの構成で、電界強度を距離に応じて段階的に測定することによっても、シールド部材１３（１３Ａ）により、上記同様に確実に対象検査片２１Ｘを特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００５２】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、一のＲＦ−ＩＤを対象する検査片と、通信を行うためのシステム側アンテナとの間に、システム側アンテナを対象の当該検査片に対向させる開口部が形成されて、周縁部分を、端部近傍の検査対象でない検査片からの距離を当該開口部が形成される面より大とさせたシールド部材を介在させ、当該シールド部材に形成された開口部から当該システム側アンテナを対象の検査片に対向させてシステム側アンテナより検査片に情報を送信し、その応答に応じて当該検査片の良否を判定することにより、確実に対象検査片を特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＲＦ−ＩＤの検査システムにおける基本構成の分解構成図である。
【図２】図１の側部部分断面図である。
【図３】本発明に係るシールド部材を電気的接地した場合の説明図である。
【図４】本発明に係る検査システムのブロック構成図である。
【図５】図４の検査処理部の一例のブロック構成図である。
【図６】図４および図５の検査システムにおける検査処理のフローチャートである。
【図７】本発明に係る他の検査システムのブロック構成図である。
【図８】図７の検査処理部の一例のブロック構成図である。
【図９】図７および図８の検査システムにおける検査処理のフローチャートである。
【図１０】図７および図８の検査システムにおける他の検査処理のフローチャートである。
【符号の説明】
１１ＲＦ−ＩＤの検査システム
１２シート
１３シールド部材
１４システム側アンテナ
１５駆動部
２１ＲＦ−ＩＤ
２１ＡＩＣモジュール
２１Ｂアンテナ
２２開口部
３１駆動構造手段
３２検査処理手段
６１制御部
６２検査処理部
８４判定手段[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an RF-ID inspection system for inspecting the quality of manufactured RF-IDs.
[0002]
[Prior art]
In recent years, a technology related to a non-contact type identification medium (non-contact type IC card or the like) called RF-ID (Radio Frequency Identification) has been rapidly advanced, and its use is also various. Such an RF-ID has a communication distance that is determined according to performance between the reader / writer and an improvement in communication measurement and a yield are desired.
[0003]
Conventionally, in RF-ID, an antenna coil is formed on a film base, and an IC module is mounted on the film. As a general rule, a predetermined number of these are formed on a film base having a predetermined size at the manufacturing stage. It has become. And before making it a single unit, the communication distance is measured for each single IC module and antenna coil to be inspected, and the quality of the product is inspected. In the measurement of the communication distance, whether or not the communication distance determined according to the performance between the reader / writer and the reader / writer is secured is determined.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the communication distance inspection as described above is performed at a stage before the RF-ID is a single unit, the response to communication from the RF-ID reader / writer is the original inspection target inspection. The data from the one and the one from the adjacent RF-ID are received in a mixed manner, and not only the reliability of the received data is lost, but also when the inspection piece to be inspected is a defective product, it is adjacent. However, there is a problem in that the data from the RF-ID is received and the test piece is originally a defective product, but it is determined to be a non-defective product and the defective product flows out.
[0005]
Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an RF-ID inspection system that prevents erroneous inspection by reliably specifying a target inspection piece to prevent outflow of defective products. To do.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problem, in the invention of claim 1, a plurality of RF-IDs including an IC module and an antenna to be inspected are formed on the same surface, and a test piece for one RF-ID is used. RF-ID inspection system that performs communication and inspects pass / fail, and is interposed between a system-side antenna for performing communication, the system-side antenna, and the test piece, and is intended for the system-side antenna An opening is formed to face the test piece. In the peripheral portion, the distance from the test piece not to be inspected in the vicinity of the end portion is made larger than the surface on which the opening is formed. In order to communicate the shield member, the system-side antenna with the target test piece, a drive unit that moves the system-side antenna and the shield member, and a predetermined part of the test piece via the system-side antenna. A processing unit that transmits information and performs pass / fail determination of the test piece according to a response from the test piece.
[0007]
In the inventions of claims 2 and 3, " Electrically ground the shield member ”Configuration,
" A probe for measuring the electric field strength at the time of response from the test piece is provided in the vicinity of the system side antenna, and in the processing unit, a set electric field strength corresponding to the distance between the system side antenna and the test piece is stored in advance. The measured value of the electric field strength obtained by the probe is compared with the set electric field strength to determine whether or not the communicable distance is acceptable for determining whether or not the test piece to be inspected is acceptable. It is a configuration.
[0008]
In this way, between the test piece for one RF-ID and the system-side antenna for communication. An opening that allows the system-side antenna to face the target test piece is formed, and the distance from the test piece near the end that is not the test target is made larger than the surface on which the opening is formed. A shield member is interposed, the system side antenna is opposed to the target test piece from the opening formed in the shield member, and information is transmitted from the system side antenna to the test piece. Judge the quality. In other words, since the transmission information from the antenna on the system side is not received by the shield member by the RF-ID other than the target test piece, it is possible to make a pass / fail judgment for the response of only the target test piece. It becomes possible to specify the target test piece, prevent erroneous inspection, and prevent the outflow of defective products.
[0009]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Here, the RF-ID according to the present invention is a medium capable of transmitting and receiving data such as identification information in a non-contact manner, such as a non-contact type IC card as well as a non-contact type label and tag.
[0010]
FIG. 1 shows an exploded configuration diagram of a basic configuration in an RF-ID inspection system according to the present invention. In FIG. 1, the RF-ID inspection system 11 is roughly divided into a sheet 12, a shield member 13, and a drive unit 15 on which the system-side antenna 14 is mounted. It is omitted. In the sheet 12, a plurality of RF-IDs 21 including an IC module 21A and an antenna 21B are regularly formed on the same surface on a film base, for example, and each RF-ID 21 becomes an inspection piece 21X to be inspected.
[0011]
There are various methods for manufacturing the sheet 12. For example, a copper foil is bonded to polyethylene terephthalate (PET) with an epoxy adhesive, and each antenna 21B wound in a coil shape is formed by etching. The IC modules 21A are connected to each other by reflow soldering, and then are brought into a sheet state or a roll state, and are conveyed in the longitudinal direction above the driving device 15 by a conveying means (not shown). These RF-IDs 21 are each formed as a single unit after the inspection and are mounted on a card, for example, as a non-contact type IC card or the like.
[0012]
The shield member 13 is formed in a plate shape or a net shape from a conductive material such as metal or conductive resin, and is interposed between the system antenna 14 and the test piece 21X. The shield member 13 is formed with an opening 22 that causes the system-side antenna 14 to face the target test piece 21X, and the opening 22 forms a distance from the test piece 21X at a peripheral portion thereof. It is made larger than the surface to be done.
[0013]
Although not shown, the shield member 13 is integrally driven in the vertical direction and the width direction (horizontal direction) of the sheet 12 by a driving unit 15 on which the system-side antenna 14 is mounted. The And the said drive part 15 is arrange | positioned under the sheet | seat 12 and the said shield member 13, Y drive which mounts the system side antenna 14 and moves to the width direction of the said sheet | seat 12, Z drive to move up and down is performed.
[0014]
Here, FIG. 2 shows a side partial sectional view of FIG. FIG. 2A shows the positional relationship between the sheet 12 on which a predetermined number of RF-IDs 21 are formed, the shield member 13, and the system-side antenna 14 mounted on the driving unit 15. The shield member 13 is the sheet 12. The opening 22 is brought into contact with the back surface on which the RF-ID 21 is formed so as to correspond to the inspection piece 21X to be inspected.
[0015]
The system-side antenna 14 is located below the opening 22 and at a predetermined distance from the test piece 21X. Although the shield member 13 is shown in contact with the back surface of the sheet 12, the system side antenna 14 and the shield member 13 are moved together (up and down movement and horizontal movement). A gap may be generated between the sheet 12 and the sheet 12 by changing the distance between the side antenna 14 and the test piece 21X.
[0016]
Therefore, an example of the dimensional relationship in the above case will be described with reference to FIG. 2B. On the base material of the sheet 12 (for example, thickness 50 μm), for example, the antenna 21B (IC module 21A) is spaced at T1 (= 2 mm) intervals. For example, it is formed in the longitudinal direction R (= 60 mm) and the width direction 20 mm. For example, the opening 22 of the aluminum shield member 13 having a thickness of 5 mm has a length S (= 64 mm) that is slightly larger than the test piece 21X. And a depth of 24 mm. Here, the size of the opening 22 is set so as not to straddle the RF-ID 21 around the corresponding test piece 21X, and the interval T1 is set to 2 mm, so that each of the values is 4 mm larger than the size of the test piece 21X. It is said. The system-side antenna 14 is, for example, a size having a side A (= 60 mm) and a width of about 20 mm, and is positioned at a distance L (for example, 15 mm) below the test piece 21X.
[0017]
That is, the RF-ID 21 has a predetermined resonance frequency, and performs reception by resonating in response to radio waves from the system-side antenna 14. Therefore, when the shield member 13 exhibits a shielding function with respect to the RF-ID 21 around the inspection piece 21X to be inspected, these RF-IDs resonate due to changes in electrical characteristics (inductance L, capacitance C). Since the frequency changes, it does not react to the radio wave from the system antenna 14 and communication is impossible. Therefore, since only the test piece 21X reacts to the radio wave from the system-side antenna 14, the target test piece can be reliably identified.
[0018]
In this way, since the target test piece can be identified reliably, erroneous inspection is prevented and the outflow of defective products is prevented. In addition, all RF-IDs 21 can be inspected at the stage of the sheet 12 on the production line before the RF-ID 21 alone, enabling the early detection and correction of the occurrence of defects, and high-accuracy quality control by 100% inspection. Is something that can be done.
[0019]
If the shield member 13 has a laminated structure, the shielding effect can be improved. In other words, the layered structure creates a boundary surface between each layer, and the radio waves transmitted through the previous layer at each boundary surface are repeatedly reflected and absorbed by the next layer, thereby improving the seal and effect. It is something that can be done. Furthermore, the radio wave absorptivity can be improved by interposing a radio wave absorbing member between the predetermined layers of the laminated structure.
[0020]
By the way, since the radio wave absorbed by the shield member 13 propagates through the shield and is emitted from the end portion of the shield member 13, the RF-ID 21 in the vicinity of the end portion may react. In some cases, communication is also performed with an RF-ID other than the test piece 21X. Therefore, as shown in the figure, the peripheral portion of the shield member 13 is shaped so that the distance from the test piece 21X is larger than the surface on which the opening 22 is formed, so that radio waves do not reach other RF-IDs 21. On the other hand, as a method for preventing radio waves from reaching other RF-IDs 21, there is a method in which the shield member 13 is electrically grounded.
[0021]
FIG. 3 shows an explanatory diagram when the shield member according to the present invention is electrically grounded. FIG. 3 (A) shows a case where the shield member 13A has a planar shape and is electrically grounded. That is, even if the radio wave absorbed by the shield member 13 propagates through the shield due to electrical grounding, it is not emitted from the end portion, and the RF-ID 21 in the vicinity of the end portion does not react. FIG. 3B shows the shield member 13 having a peripheral portion shape as shown in FIGS. 1 and 2, and further electrically grounded. That is, this is to prevent the RF-ID 21 other than the test piece 21 X from reacting depending on the output level of the system-side antenna 14 and the arc size of the peripheral portion of the shield member 13.
[0022]
In this way, by electrically grounding the shield member 13 according to its shape and radio wave intensity, the target test piece can be specified more reliably, and erroneous inspection is prevented, thereby preventing the outflow of defective products. It is.
[0023]
In the above embodiment, the case where the shield member 13 and the system-side antenna 14 are disposed below the sheet 12 has been described. However, the shield member 13 and the system-side antenna 14 are disposed above the sheet 12, that is, on the surface side where the RF-ID 21 is formed. Also good.
[0024]
Next, FIG. 4 shows a block configuration diagram of the inspection system according to the present invention, and FIG. 5 shows a block configuration diagram of an example of the inspection processing unit of FIG. In FIG. 4, the RF-ID inspection system 11 A according to the first embodiment of the present invention includes a drive structure unit 31 and an inspection processing unit 32 for the inspection piece 21 X to be inspected in each RF-ID 21 of the sheet 12. Composed.
[0025]
The test piece 21X includes an IC module 21A including a processing unit 41, a memory 42, and a demodulation unit 43, and an antenna 21B. The antenna 21B is wound in a coil shape on a plane as described above, receives a signal from the inspection system 11A, or transmits data from the inspection piece 21X to the inspection system 11A (system-side antenna 14). To play a role.
[0026]
In the IC module 21A, the memory 42 is for storing various information as the card. The demodulator 43 demodulates the control signal and data from the radio wave received by the antenna 21B, and appropriately converts the code. And the process part 41 performs the process which memorize | stores the received control signal and data in the memory 42 with a program, and transmits the data memorize | stored in the memory.
[0027]
The drive structure means 31 includes a conveyance drive unit 51 and an antenna drive unit 52, and is equipped with a system-side antenna 14 that communicates with the test piece 21X. The conveyance drive unit 51 is used to convey and move the inspection piece 21X to the inspection position when the inspection piece 21X is in the sheet 12 state in which a predetermined number of inspection pieces 21X are formed on the film base in the manufacturing stage. is there. The antenna drive unit 52 moves the system side antenna 14 up and down in the direction of the test piece 21X as described above, and moves the Y between the test pieces 21X in the width direction of the sheet 12. The antenna driving unit 52 moves the shield member 13 (13A) and the system-side antenna 14.
[0028]
The inspection processing unit 32 includes a control unit 61, an inspection processing unit 62, and a data memory 63 as a processing unit that performs pass / fail determination of the test piece 21X, and includes a power amplification unit 64, a modulation unit 65, and a transmission unit 66. , A detection unit 67, a data conversion unit 68, a transport drive control unit 69, an antenna drive control unit 70, an interface (IF) unit 71, and a display means 72.
[0029]
The control unit 61 performs overall control of the entire inspection processing means 32, and a program corresponding to this is set. Although the details will be described with reference to FIG. 5, the inspection processing unit 62 performs inspection processing and determination on the reference piece 21 X by an inspection routine by a program. The data memory 63 stores various data and also serves as a temporary storage area (a buffer that may be provided in the inspection processing unit 62) for appropriate inspection determination. Examples of the various data include information (for example, identification information) to be stored in the memory 42 for each inspection piece 21X, various setting values for inspection, and the like.
[0030]
The data conversion unit 68 converts information when information is transmitted to the test piece 21X into, for example, “1” and “0”, and transmission data from the test piece 21X includes, for example, “1” and “0”. To "". The modulation unit 65 modulates the information converted by the data conversion unit 68 based on the transmission output from the transmission unit 66 into, for example, an FSK (frequency shift keying) modulated wave. The power amplifying unit 64 amplifies the power of the modulated wave modulated by the modulating unit 65, and the amplified modulated wave is transmitted from the system-side antenna 14. And the detection part 67 detects and demodulates the transmission radio wave from the test piece 21X received with the system side antenna 14. FIG.
[0031]
On the other hand, the transport drive control unit 69 generates a control signal for driving the transport drive unit 51 that transports the test pieces 21X in order to sequentially inspect the test pieces 21X based on a command from the control unit 61 to generate the IF unit 71. To the conveyance drive unit 51. Further, the antenna drive control unit 70 moves the shield member 13 (13A) and the system-side antenna 14 in the vertical direction with respect to the test piece 21X, and outputs a signal for controlling the distance (communication distance) with the target antenna 21B. It is generated based on a command from the control unit 61 and sent to the antenna drive unit 52 via the IF unit 71.
[0032]
Here, in FIG. 5, the inspection processing unit 62 includes a processing unit 81, a reception data acquisition unit 82, a transmission data acquisition unit 83, and a determination unit 84 as functions of program processing. The processing means 81 controls the entire processing of the inspection processing unit 62. The reception data acquisition means 82 is acquired when data transmitted from the test piece 21X is received, and is appropriately stored in the data memory 63 (if the reception data acquisition means 82 includes a buffer, the May be temporarily stored).
[0033]
The transmission data acquisition means 83 reads and acquires identification information or the like to be written in the memory 42 by communication with the test piece 21X from the data memory 63. Then, the determination unit 84 compares the acquired and transmitted transmission data with the reception data transmitted from the test piece 21X, and determines that it is a non-defective product if they match, and determines that it is a defective product if they do not match. Therefore, whether the transmission data is actually written in the memory 42 of the test piece 21X is regarded as the quality of the communication state by the data comparison.
[0034]
Next, FIG. 6 shows a flowchart of the inspection process in the inspection system of FIGS. In FIG. 6, first, the conveyance drive control unit 69 sends the conveyance amount for conveying a predetermined row in the width direction of the inspection target on the sheet 12 to the inspection position by the conveyance drive control unit 69 via the IF unit 71 according to a command from the control unit 61. Output (step (S) 1). Further, in the antenna drive control unit 70, a drive amount (Y) for positioning the shield member 13 (13 A) and the system-side antenna 14 downward with respect to the target test piece 21 X in the row of the test position according to a command from the control unit 61. Is the Y direction drive amount of the antenna drive unit 52, and the system side antenna 14 is a drive amount (Z) that is predetermined with respect to the test piece 21X (antenna 21B) and stored in the data memory 63 (L). ) As a Z-direction drive amount (S2).
[0035]
Therefore, the transmission data (identification information) for the test piece is acquired from the data memory 63 and transmitted to the test piece 21X (S3), the reply data from the test piece 21X is received, and the determination means 84 as described above. Performs matching between the transmission data and the reception data (S4). In the matching result (S5), when they match, it is determined as a non-defective product (S6), and when they do not match, it is determined as a defective product (S7), and these determination results are stored in the data memory 63 (S8).
[0036]
Subsequently, when the next test piece 21X is measured in the same row, the determination results are stored in the data memory 63 by repeating S2 to S8 for all the test pieces 21X in the same row (S9). . If there is an inspection piece 21X in the next row, S1 to S9 are repeated to determine whether or not all the inspection pieces 21X in all rows are good and stored in the data memory 63 (S10). Then, when the quality of all the test pieces 21X in the sheet 12 is stored in the data memory 63, the test result is appropriately displayed on the display unit 72 (S11). The display of the inspection result may be performed for each inspection piece 21X or for each inspection result of a predetermined number of inspection pieces 21X.
[0037]
In this way, when performing inspection by sending and receiving data to each RF-ID (inspection piece 21X) in the sheet 12 stage, the transmission information from the system-side antenna 14 is obtained by the shield member 13 (13A). Since the RF-ID other than 21X is not received, it is possible to make a pass / fail judgment on the response of only the target test piece 21X, so that the target test piece 21X can be reliably identified, and erroneous inspection is prevented. Thus, it is possible to prevent the outflow of defective products. Further, as described above, it is possible to inspect all the RF-IDs (inspection pieces 21) at the stage of the sheet 12 on the production line before the RF-ID (inspection piece 21) is a single unit, and early occurrence of defects. Discovery and correction are possible, and high-precision quality control can be performed by 100% inspection.
[0038]
Next, FIG. 7 shows a block configuration diagram of another inspection system according to the present invention, and FIG. 8 shows a block configuration diagram of an example of the inspection processing unit of FIG. The RF-ID inspection system 11B as the second form shown in FIG. 7 is provided with a probe 91 for measuring electric field strength as radio wave strength in the vicinity of the antenna 14 of the drive structure means 31 in the inspection system 11A shown in FIG. However, the other configuration is the same as that of FIG. The configuration of the inspection processing unit 62 will be described with reference to FIG.
[0039]
The probe 91 detects the electric field intensity at the time of transmission data output from the test piece 21X, and the detected value is converted into data “1” and “0” by the data converter 68 and stored in the data memory 63. The Note that the probe 91 is driven and moved by a distance determined in advance with respect to the test piece 21X and stored in the data memory 63 in the same manner as the system-side antenna 14, and a measured value of the electric field strength is determined in advance. Whether the test piece 21X is good or bad is determined based on the set electric field strength stored in the data memory 63 as a reference to determine whether the distance is a communicable distance.
[0040]
Further, the inspection processing unit 42 shown in FIG. 8 includes electric field strength data acquisition means 92 in the inspection processing unit 42 shown in FIG. The electric field strength data acquisition unit 92 acquires electric field strength data set as a reference from the data memory 63. Further, the determination means 84 generates a reference electric field strength stored in the data memory 63 described in FIG. 9 or a stepwise electric field strength described in FIG. 10 based on the electric field strength measured through the probe 91. The quality of the test piece 21X is determined by comparison with the corresponding communication distance.
[0041]
FIG. 9 shows a flowchart of the inspection process in the inspection system of FIGS. In FIG. 9, first, the conveyance drive control unit 69 sends the conveyance amount for conveying a predetermined row in the width direction of the inspection target in the sheet 12 to the inspection position by the conveyance drive control unit 69 via the IF unit 71 according to a command from the control unit 68. Output (S21). Further, in the antenna drive control unit 70, a drive amount (Y) for positioning the shield member 13 (13 A) and the system-side antenna 14 downward with respect to the target test piece 21 X in the row of the test position according to a command from the control unit 61. Is the Y direction drive amount of the antenna drive unit 52, and the system side antenna 14 is a drive amount (Z) that is predetermined with respect to the test piece 21X (antenna 21B) and stored in the data memory 63 (L). ) As a Z-direction drive amount (S22).
[0042]
Therefore, the transmission data (identification information) for the test piece is acquired from the data memory 63 and transmitted to the test piece 21X (S23), and when the reply data from the test piece 21X is received, the electric field is transmitted via the probe 91. The intensity is measured (S24). Then, the electric field strength data acquisition unit 92 acquires the reference electric field strength setting value from the data memory 63, and the determination unit 84 collates the setting value of the reference electric field strength data with the measured electric field strength. It is determined whether or not the value is greater than or equal to (S25). As a result of the determination, when the measured value of the electric field strength is equal to or greater than the set value, it is determined as a non-defective product (S26), and when it is less than the set value, it is determined as a defective product (S27), and these determination results are stored in the data memory 63 ( S28).
[0043]
Subsequently, when there is a measurement of the next test piece 21X in the same row, S2 to S8 are repeated for all the test pieces 21X in the same row and the determination result is stored in the data memory 63 (S9). . If there is an inspection piece 21X in the next row, S1 to S9 are repeated to determine pass / fail for all the inspection pieces 21X in all rows and store them in the data memory 63 (S10). Then, when the quality of all the test pieces 21X in the sheet 12 is stored in the data memory 63, the test result is appropriately displayed on the display unit 72 (S11). The display of the inspection result may be performed for each inspection piece 21X or for each inspection result of a predetermined number of inspection pieces 21X.
[0044]
Even with such a configuration of the RF-ID inspection system 11B, the shield member 13 (13A) can reliably identify the target inspection piece 21X as described above, preventing erroneous inspection and causing defective products. It is possible to prevent outflow, enable early detection and correction of occurrence of defects, and perform high-accuracy quality control by 100% inspection.
[0045]
Next, FIG. 10 shows a flowchart of another inspection process in the inspection system of FIGS. Here, the electric field strength from the test piece 21X is measured stepwise according to the distance, and the quality is determined by the distance at the set electric field strength. The data of the stepwise distance and the set electric field strength are data in advance. This is stored in the memory 63.
[0046]
In FIG. 10, first, the conveyance drive control unit 69 sends the conveyance amount for conveying a predetermined row in the width direction of the inspection target in the sheet 12 to the inspection position by the conveyance drive control unit 69 via the IF unit 71 according to a command from the control unit 68. Output (S41). Further, in the antenna drive control unit 70, a drive amount (Y) for positioning the shield member 13 (13 A) and the system-side antenna 14 downward with respect to the target test piece 21 X in the row of the test position according to a command from the control unit 61. Is the Y-direction drive amount of the antenna drive unit 52, and the first distance (L () of the distances that are determined in advance and stored in the data memory 63 for the system-side antenna 14 with respect to the test piece 21X (antenna 21B). 1)) is output as the Z-direction drive amount (S42).
[0047]
Therefore, the transmission data (identification information) for the test piece is acquired from the data memory 63 and transmitted to the test piece 21X (S43), and when the return data from the test piece 21X is received, the electric field is transmitted via the probe 91. The intensity is measured (S44). Then, the electric field strength data acquisition unit 92 acquires the reference electric field strength setting value from the data memory 63, and the determination unit 84 collates the setting value of the reference electric field strength data with the measured electric field strength. It is determined whether or not the value is greater than or equal to (S45). As a result of the determination, if the measured value of the electric field strength is smaller than the set electric field strength, the next distance (L (x)) between the system antenna 14 (probe 91) and the test piece 21X (antenna 21B) is determined. The data is read from the data memory 63, and the drive amount (Z (x)) corresponding to this is output to the Z-direction drive mechanism 85 (S46).
[0048]
Subsequently, as described above, transmission data (identification information) for individual test pieces is acquired from the data memory 63 and transmitted to the test piece 21X (S47), and when reply data from the test piece 21X is received, The electric field strength is measured by the probe 91 (S48). Then, the determination means 84 compares the electric field intensity stored in the data memory 63 with the measured electric field intensity (S49). If the electric field intensity is smaller than the reference electric field intensity, all the set distances are used. If S46 to S49 are repeated and the electric field strength measured at all the set distances is smaller than the reference, the test piece 21X is determined to be defective as described later (S50).
[0049]
On the other hand, in S45 and S49, if the measured electric field strength is larger than the reference, the communication distance (L (x)) at that time is set in the data memory 63 and it is determined whether or not it is larger than the reference distance. (S51). If the communication distance (L (x)) is greater than the reference, the test piece 21X is determined to be a non-defective product (S52), and if the communication distance (L (x)) is small, it is determined to be a defective product (S53). Is stored in the data memory 63 (S54).
[0050]
Subsequently, when the next test piece 21X is measured in the same row, S42 to S53 are repeated for all the test pieces 21X in the same row, and the determination result is stored in the data memory 63 (S54). . If there is an inspection piece 21X in the next row, S41 to S55 are repeated to determine whether or not all the inspection pieces 21X in all rows are good and stored in the data memory 63 (S56). Then, when the quality of all the test pieces 21X in the sheet 12 is stored in the data memory 63, the test result is appropriately displayed on the display unit 72 (S57). Similarly to the above, the display of the inspection result may be performed for each inspection piece 21X or for each inspection result of a predetermined number of inspection pieces 21X.
[0051]
With such a configuration of the RF-ID inspection system 11B, the target inspection piece 21X can be reliably identified in the same manner as described above by the shield member 13 (13A) by measuring the electric field strength stepwise according to the distance. Therefore, erroneous inspection can be prevented and leakage of defective products can be prevented, occurrence of defects can be detected and corrected at an early stage, and high-precision quality control can be performed by 100% inspection.
[0052]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, between the test piece for one RF-ID and the system-side antenna for communication. An opening that allows the system-side antenna to face the target test piece is formed, and the distance from the test piece near the end that is not the test target is made larger than the surface on which the opening is formed. A shield member is interposed, the system side antenna is opposed to the target test piece from the opening formed in the shield member, and information is transmitted from the system side antenna to the test piece. By determining pass / fail, it is possible to reliably identify the target test piece, prevent erroneous inspection, and prevent the outflow of defective products.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an exploded configuration diagram of a basic configuration in an RF-ID inspection system according to the present invention.
FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the side portion of FIG.
FIG. 3 is an explanatory diagram when the shield member according to the present invention is electrically grounded.
FIG. 4 is a block diagram of an inspection system according to the present invention.
5 is a block configuration diagram of an example of an inspection processing unit in FIG. 4;
6 is a flowchart of an inspection process in the inspection system of FIGS. 4 and 5. FIG.
FIG. 7 is a block diagram of another inspection system according to the present invention.
8 is a block configuration diagram of an example of an inspection processing unit in FIG. 7;
9 is a flowchart of an inspection process in the inspection system of FIGS. 7 and 8. FIG.
10 is a flowchart of another inspection process in the inspection system of FIGS. 7 and 8. FIG.
[Explanation of symbols]
11 RF-ID inspection system
12 sheets
13 Shield member
14 System antenna
15 Drive unit
21 RF-ID
21A IC module
21B antenna
22 opening
31 Drive structure means
32 Inspection processing means
61 Control unit
62 Inspection processing section
84 judgment means

Claims

An RF-ID inspection system in which a plurality of RF-IDs including IC modules and antennas to be inspected are formed on the same surface, communicate with an inspection piece targeted for one RF-ID, and inspect the quality. Because
A system-side antenna for communication;
A test piece that is interposed between the system antenna and the test piece, and that has an opening that opposes the system antenna to the target test piece. A shield member having a distance from the surface larger than the surface on which the opening is formed ,
A drive unit that moves the system-side antenna and the shield member in order to cause the system-side antenna to communicate with the target test piece;
A processing unit that transmits predetermined information to the test piece via the system-side antenna, and performs pass / fail determination of the test piece according to a response from the test piece;
An inspection system for RF-ID, comprising:

An inspection system for RF-ID according to claim 1 Symbol mounting test system of RF-ID for causing electrically grounding the shield member.

The RF-ID inspection system according to claim 1 or 2,
A probe for measuring the electric field strength at the time of response from the test piece is provided in the vicinity of the system-side antenna,
In the processing unit, a set electric field strength corresponding to a distance between the system-side antenna and the test piece is stored in advance, and is a communicable distance by comparing the measured electric field strength value by the probe with the set electric field strength? An RF-ID inspection system, which is used to determine whether a test piece to be inspected is acceptable or not .