JP4134416B2 - Calculator and storage medium capable of calculating functions - Google Patents
Calculator and storage medium capable of calculating functions Download PDFInfo
- Publication number
- JP4134416B2 JP4134416B2 JP37229198A JP37229198A JP4134416B2 JP 4134416 B2 JP4134416 B2 JP 4134416B2 JP 37229198 A JP37229198 A JP 37229198A JP 37229198 A JP37229198 A JP 37229198A JP 4134416 B2 JP4134416 B2 JP 4134416B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- function
- test mode
- key
- input
- prohibited
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電卓に係り、詳細には、機能制限モード設定機能を有する関数演算可能な電卓及び記憶媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の関数演算計算機には、複数の機能が設定されており、各国別に個別に機能の変更を行っていた。
【0003】
複数の機能が設定されている関数演算計算機の一例として、関数演算モードを複数有するグラフ関数計算機が挙げられる。近年、グラフ関数計算機は、各国の数学、物理等の理工系の試験で使用されるようになった。その試験で用いてはいけない機能、制限されている機能等は各国によって異なっており、各国の試験に合わせて機能を制限することが必要になった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のグラフ関数計算機は、所定の機能を制限することができないため、各国の試験に合わせて個別にグラフ関数計算機を設計する必要があった。さらに、各国の試験で制限される機能は、度々更新されるため、それに合わせて随時グラフ関数計算機を設計し直す必要があった。
一方、各国の試験における審査官は、試験において受験者が使用しているグラフ関数計算機が試験に対応して設計し直された製品であるかどうかを、いちいち確認する必要があった。すなわち、試験対応製品の製品名一覧表を見ながら、試験会場で受験者が使用している製品の製品名が、この一覧表に記載されているか否かを確認する必要があった。通常製品名は、製品の端の方に小さく印刷されていることが多いため、厳正な試験を行うには試験官の負担も大きかった。
【0005】
本発明の課題は、機能制限モード設定機能を設けることによって、試験に対応した機能制限を行えるようにした関数演算可能な電卓、及び記憶媒体を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような課題を達成するために、次のような特徴を備えている。請求項1記載の電卓は、使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段と、ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段と、この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段と、この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段と、を備えたことを特徴としている。
【0008】
また、請求項5記載の記憶媒体は、電卓に用いられるコンピュータを、使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段、ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段、この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段、この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段、として機能させるためのプログラムを格納したことを特徴としている。
【0011】
また、請求項2記載の発明は、請求項1記載の電卓において、前記機能制限情報記憶手段は、使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を複数記憶し、前記機能禁止手段は、前記試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された複数の情報の内の任意の情報をユーザ操作により選択する選択手段を有し、この選択手段によって選択された情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴としている。
【0014】
また、請求項3記載の発明は、請求項1または2に記載の電卓において、前記機能禁止手段による演算機能の使用禁止が開始された後、所定時間経過後に演算機能の使用禁止を解除する機能禁止解除手段を備えたことを特徴としている。
【0017】
また、請求項4記載の発明は、請求項1から3のいずれかに記載の電卓において、外部からの信号を受信する受信手段を備え、前記機能禁止手段は、前記受信手段によって、前記機能制限情報記憶手段に記憶された任意の情報を指定する信号を受信した際に、この情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴としている。
【0020】
【発明の実施の形態】
(第1の実施の形態)
以下、図1〜図4を参照して本発明の第1の実施の形態における電子機器1について詳細に説明する。
【0021】
まず構成を説明する。
図1は、本発明の実施の形態としての電子機器の内部構成を示すブロック図である。
この図1に示すように、電子機器1は、CPU2、表示駆動回路3、表示部4、位置検出回路5、タブレット6、入力部7、RAM8、ROM9、記憶装置10、及び記憶媒体11によって構成されている。
【0022】
CPU(Central Processing Unit)2は、入力部7を介して入力される指示に基づいて、ROM9または記憶媒体10から所定のプログラムを読み出してRAM8に一時格納し、当該プログラムに基づく各種処理を実行して電子機器1の各部を集中制御する。すなわち、CPU2は、前記読み出した所定プログラムに基づいて各種処理を実行し、その処理結果をRAM8内のワークエリアに格納するとともに、表示部4に表示させる。
【0023】
また、CPU2は、試験モード設定処理(図3参照)において、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す複数の国名を表示部4に一覧表示させる。次いで、CPU2は、一覧表示されている複数の国名の内から専用ペンによっていずれかの国名が指示選択された後、試験モード実行キーが入力されると、選択された試験モードに対応する関数キー情報をROM9に格納されている試験モードテーブル91から抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってoptionキーが入力されると、各関数キーの名称を表示部4に表示する。ここで、各関数キーの内、通常使用可能な関数キーの名称を通常表示し、使用禁止されている関数キーの名称を反転表示させて表示する。その後、選択された試験モードが設定されている状態において、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザの関数キー入力に従って処理を実行する。そして、ユーザによって関数キーが入力されると、CPU2は、試験モードテーブル91に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、通常使用可能な関数キーである場合は、関数キーを通常入力し、使用禁止されている関数キーである場合は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にする。
【0024】
表示駆動回路3は、CPU2により実行される各種処理に係るデータや処理結果の他、入力装置7から入力される入力データ等を表示信号として表示部4に出力して、表示部4の所定の表示位置に表示する。表示部4は、LCD等から成り、表示駆動回路3から入力される表示信号に応じて、各種データを表示する。
【0025】
タブレット5は、入力ペンなどの座標を指示する装置と指示した座標を感知する板状の装置を組み合わせた入力機器であり、位置検出回路6によって、電磁誘導方式、磁気歪式、感圧式等の座標読み取り原理で専用ペンによって指示された位置座標が検出される。このタブレット5は、表示部4と一体となっており、表示部4によって表示される試験モード等を専用ペンによって直接指示選択して入力操作を行うことができる。
【0026】
入力部7は、上下左右移動キー、数字入力キー、関数キー、試験モード設定キー、試験モード実行キー、optionキー及び各種機能キー等を備えたキーボードで押下されたキーの押下信号をCPU2に出力する。
【0027】
RAM(Random Access Memory)8は、CPU2により実行されるプログラムや各種アプリケーションプログラムを格納するプログラム格納エリアと、入力指示、入力データ及び処理結果等を一時格納するワークエリアを有する。
【0028】
ROM(Read Only Memory)9は、電子機器1に対応する基本プログラムを格納している。すなわち、電子機器1の電源がON状態にされた際に実行する初期表示メニュープログラム、各種関数演算プログラム、後述する試験モードテーブル91、及び後述する試験モード設定処理プログラム等の書き換え不要な基本プログラムを格納している。
【0029】
図2は、試験モードテーブル91の構成を詳細に説明する図である。この図2において、試験モードテーブル91は、「NORMAL」,「JAPAN」,「U.S.A」,…等の試験モードの項目と、「LIST」(統計データのリスト表示機能),「MAT」(行列機能),「CPLX」(複素数機能),…等の各関数キー項目とが対応づけられている。つまり、試験モード毎に使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーの設定状況を示す関数キー情報が対応づけられている。使用禁止されている関数キーには「1」が、使用できる関数キーには「0」が格納される。
【0030】
例えば、EXAM MODE「NORMAL」に対応する全ての関数演算機能の項目には「0」が格納されているため、ユーザによってEXAM MODE「NORMAL」が選択されて実行された場合は、全ての関数キーが使用可能となる。また、EXAM MODE「JAPAN」に対応する各関数キーの項目をみると、「CPLX」の項目に「1」が格納され、その他の関数キーの項目には、「0」が格納されているため、ユーザによってEXAM MODE「JAPAN」が選択されて実行された場合は、関数キー「CPLX」のみが使用禁止される。
【0031】
このように、EXAM MODEの項目に示される国名を選択することで、電子機器1の機能をその国の試験に合わせて制限することができる。
【0032】
記憶媒体10は、プログラムやデータ等を記憶する記憶媒体11を有しており、この記憶媒体11は磁気的、光学的記憶媒体、若しくは半導体メモリで構成されている。この記憶媒体11は記憶媒体10に固定的に設けたもの、若しくは着脱自在に装着するものであり、この記憶媒体11には当該電子機器1に対応する各種処理プログラムを記憶する。
【0033】
次に動作を説明する。
図3は、本実施の形態における電子機器1の試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【0034】
図3において、まず、CPU2は、試験モード設定処理を開始し、ユーザによって入力部7の試験モード設定キーが入力されると(ステップS1)、試験モードを示す複数の国名を表示部4に一覧表示させる(図4(a)参照)(ステップS2)。ここで、各国名は試験モードテーブル91のEXAM MODEの項目に格納されているものである(図2)。次いで、CPU2は、表示部4に一覧表示されている複数の試験モード(国名)の内から専用ペンによっていずれかの試験モードが指示選択され(ステップS3)、更に、試験モード実行キーが入力されると(ステップS4)、選択された試験モードがセットされたことを示すセット表示「EXAM MODE SET!]を表示部4に表示する。数秒経過後に表示の最上段に「U.S.A. EXAM MODE」と、定常的にセットされた試験モードを表示する(ステップS5)。
そして、CPU2は、ROM9に格納されている試験モードテーブル91から、選択された試験モードに対応する関数キー情報を検索して抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う(ステップS6)。すなわち、試験モードテーブル91に各試験モード毎に設定された関数キー情報に基づいて、当該試験モードにおいて使用可能な関数キー、使用禁止されている関数キーをそれぞれ設定する。ここで、指示選択された試験モードの設定が完了し、キー入力待ち状態となる。この後、当該試験モードにおいて、CPU2は、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行するが、本フローチャートにおいては、optionキー入力に対応する処理、及び各種関数キー入力に対応する関数演算処理に関する内容について説明することとする。
【0035】
ステップS6において選択された試験モードが設定された後、CPU2は、ユーザによって入力されたキーがoptionキーであるか否かを判別し(ステップS7)、optionキーでない場合は(ステップS7;NO)、他の処理に移行し、optionキーである場合は(ステップS7;YES)、ステップS6において抽出した関数キー情報に含まれる各関数キーの名称を表示部4に表示する(ステップS8)。ここで、各関数キーの内、「0」が格納されている関数キーの名称を機能表示領域4aに通常表示し、「1」が格納されている関数キーの名称を反転表示させてキー入力待ち状態になる。
【0036】
以後は、ユーザのキー入力に従った動作を行う。
以下のフローでは、関数キー入力が行われた場合の処理を示す。
一般に、グラフ関数電卓等では、キートップに関数が印刷されている固定の関数キーと、F1〜F6に対応して、キー機能が表示部に表示される関数キーがある。以下では、後者の関数キーが押された場合の処理である。
【0037】
選択された試験モードが設定されている状態において、CPU2は、ユーザによって入力部7の関数キーが入力されたか否かを判別し(ステップS9)、入力されなかった場合は(ステップS9;NO)、他の処理に移行し、入力された場合は(ステップS9;YES)、試験モードテーブル91に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別する(ステップS10)。使用禁止されていない関数キーである場合は(ステップS10;NO)、CPU2は、関数キーを通常入力し(ステップS11)、該関数キーに対応する表示画面を表示部4に通常表示する(ステップS12)。使用禁止されている関数キーである場合は(ステップS10;YES)、CPU2は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にして(ステップS13)、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する(ステップS14)。
【0038】
その後、CPU2は、ユーザによって再び関数キーが入力されたか否かを判別する(ステップS15)。再び関数キーが入力された場合は(ステップS15;YES)、CPU2は、ステップS9に戻り、関数キーが入力されなかった場合は(ステップS15;NO)、一連の試験モード設定処理を終了する。
【0039】
図4は、上述の試験モード設定処理における表示部4の表示画面の一例を示す図である。
(a)は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、(b)は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、(c)は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示する表示を示し、(d)は選択された試験モードにおいて使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを表示した様子を示している。
【0040】
同図(a)に示すように、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す国名が複数一覧表示される。ここで、ユーザによって専用ペンにより指示選択された国名が反転表示される。同図(a)においては国名「U.S.A EXAM」が指示選択されて反転表示されている。
【0041】
その後、ユーザによって試験モード実行キーが入力されると、同図(b)に示すように、選択された試験モードがセットされたことを示すセット表示、例えば、「EXAM MODE SET」が表示部4に表示される。数秒経過後、表示の最上段に選択された試験モードを示す表示「U.S.A. EXAM MODE」が定常的に表示される(同図(c))。
【0042】
さらに、ユーザによってoptionキーが入力されると、同図(d)に示すように、機能表示領域4aに、使用可能な関数キーの名称「LIST」,「MAT」,及び「TABL」が通常表示され、使用禁止されている関数キーの名称「CPLX」,「RECR」,及び「EQUA」が反転表示されて表示される。なお、機能表示領域4aに表示された各関数キーの名称は、同図(d)に示すように、入力部7のF1〜F6に対応している。また、機能制限中は、同図(c)及び(d)に示すように、表示部4の最上部に選択された試験モードを示す表示、ここでは、「U.S.A EXAM MODE」が常に表示される。
【0043】
以上説明したように、本実施の形態における電子機器1によれば、試験モード設定処理において、CPU2は、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す国名を複数表示部4に一覧表示させる。次いで、CPU2は、一覧表示されている複数の試験モード(国名)の内から専用ペンによっていずれかの試験モードが指示選択された後、試験モード実行キーが入力されると、選択された試験モードに対応する関数キー情報をROM9に格納されている試験モードテーブル91から抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行って指示選択された試験モードが表示の上段に常に表示する処理を行う。その後、ユーザによって関数キーが入力されると、CPU2は、試験モードテーブル91に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、通常使用可能な関数キーである場合は、関数キーを通常入力し、使用禁止されている関数キーである場合は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にする。
【0044】
したがって、選択手段により、複数の機能制限モードの内の任意の機能制限モードを選択することによって、選択された機能制限モードに対応する機能の使用を禁止することができ、1台で機能の使用禁止状態を複数実現できるため、例えば、1台で各国の試験に対応することができ、各国の試験に合わせて関数演算機能を受験者全員で統一することができる。また、機能制限状態表示手段により、どの国の試験に使用可能であるかを容易に表示できるので、試験官が試験中に受験者が指定の試験に対応した電子機器を使用しているかどうかを容易に確認できる。
【0045】
なお、本発明は上記第1の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において細部については適宜変更可能であり、例えば、上記第1の実施の形態においては、図2に示すように、EXAM MODEとして各国の名称と、各種演算機能とを対応づけて記憶しているが、数学、化学、及び物理等の科目名と、各種演算機能とを対応づけて記憶し、EXAM MODEとして科目名を表示部4に一覧表示する形態としてもよい。
【0046】
(第2の実施の形態)
次に、図5〜図6を参照して本発明の第2の実施の形態における電子機器1について詳細に説明する。
【0047】
第2の実施の形態における電子機器1の構成は上記第1の実施の形態における電子機器1と同様の構成であるので同一符号を付してその図示及び説明を省略するものとし、以下、上記第1の実施の形態における電子機器1との相異点について説明する。
【0048】
第2の実施の形態において、CPU2は、後述する表示形式変更処理(図5参照)において、まず、上述した試験モード設定処理(図3参照)のステップS1〜ステップS6の処理を行い、ユーザによって選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってCatalogキーが入力されると、抽出した関数キー情報の内からいずれか1つの関数キーを順次呼び出し、使用禁止されていない関数キーである場合は、関数キーの名称を表示部4の表示画面に通常表示するとともに、使用禁止された関数キーである場合は、関数キーの名称を表示形式を変更して表示させて、全ての関数キーの名称を一覧表示させる。
【0049】
入力部7は、上下左右移動キー、数字入力キー、関数キー、試験モード設定キー、試験モード実行キー、optionキー、Catalagキー、及び各種機能キー等を備えたキーボードで押下されたキーの押下信号をCPU2に出力する。
【0050】
次に動作を説明する。
図5は、本発明の第2の実施の形態における電子機器1の表示形式変更処理について説明するフローチャートである。
【0051】
図5において、CPU2は、まず、上述した試験モード設定処理(図3参照)のステップS1〜ステップS6と同様の処理を行い、ユーザによって選択された試験モードの設定を行う。すなわち、試験モードテーブル91に各試験モード毎に設定された関数キー情報に基づいて、当該試験モードにおいて使用可能な関数キー、使用禁止されている関数キーをそれぞれ設定する。ここで、選択された試験モードの設定が完了し、キー入力待ち状態となる。この後、当該試験モードにおいて、CPU2は、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行するが、本フローチャートにおいては、Catalogキー入力に対応する処理に関する内容について説明することとする。
ユーザによって選択された試験モードが設定された後、CPU2は、ユーザによって入力されたキーがCatalogキーであるか否かを判別し(ステップS16)、Catalogキーでない場合は(ステップS16;NO)、他の処理に移行し、Catalogキーである場合は(ステップS16;YES)、抽出した関数キー情報の内からいずれか1つの関数キーを順次呼び出し(ステップS17)、使用禁止された関数キーか否かを判別する(ステップS18)。使用禁止されていない関数キーである場合は(ステップS18;NO)、CPU2は、関数キーの名称を表示部4の表示画面に通常表示する(ステップS19)。使用禁止された関数キーである場合は(ステップS18;YES)、CPU2は、関数キーの名称を表示形式を変更して(ステップS20)、表示させて(ステップS21)、全ての関数キーを一覧表示させる。
【0052】
ステップS19の処理の終了後、またはステップS21の処理の終了後、CPU2は、全ての関数キーの名称を一覧表示させ終えたか否かを判別する(ステップS22)。一覧表示させ終えていない場合は(ステップS22;NO)、CPU2は、ステップS17に戻り、一覧表示させ終えた場合は(ステップS22;YES)、一連の表示形式変更処理を終了する。
【0053】
なお、ステップS20,S21において、使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して、表示部4の表示画面に一覧表示させているが、表示形式の変形例としては、例えば、表示色の変更、反転表示、及び網掛け表示等が挙げられる。
【0054】
図6は、上述の表示形式変更処理における表示部4の表示画面の一例を示す図である。
(a)は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、(b)は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、(c)は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示される表示を示し、(d)は使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して表示した様子を示している。
【0055】
同図(a)に示すように、ユーザによって試験モード設定キーが入力されると、試験モードを示す国名が複数一覧表示される。ここで、ユーザによって専用ペンにより指示選択された国名が反転表示される。同図(a)においては国名「U.S.A EXAM」が指示選択されて反転表示されている。
【0056】
その後、ユーザによって試験モード実行キーが入力されると、同図(b)に示すように、選択された試験モードがセットされたことを示す表示、例えば、「EXAM MODE SET」が表示部4に表示される。数秒経過後、表示の最上段に選択された試験モードを示す表示「U.S.A. EXAM MODE」が定常的に表示される(同図(c))。
【0057】
さらに、ユーザによってCatalogキーが入力されると、同図(d)に示すように、使用禁止関数キー領域4bに使用禁止されている関数キーの名称「Arg」,「Algebra」,「Binary」が点線表示され、通常使用可能な関数キーの名称「Abs」,「Cls」,「Clear」は通常表示される。なお、機能制限中は、同図(c)及び(d)に示すように、表示部4の最上部に選択された試験モードを示す表示、ここでは、「U.S.A EXAM MODE」が常に表示される。
【0058】
以上説明したように、本実施の形態における電子機器1によれば、表示形式変更処理において、CPU2は、まず、上述した試験モード設定処理(図3参照)のステップS1〜ステップS6の処理を行い、ユーザによって選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってCatalogキーが入力されると、抽出した関数キー情報の内からいずれか1つの関数キーを順次呼び出し、使用禁止されていない関数キーである場合は、関数キーの名称を表示部4の表示画面に通常表示するとともに、使用禁止された関数キーである場合は、関数キーの名称を表示形式を変更して表示させて、全ての関数キーの名称を一覧表示させる。
【0059】
したがって、ユーザによって指示選択された各国別の試験対応の機能制限モードにおいて、通常使用可能な関数キーの名称を表示部4の表示画面に通常表示するとともに、使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して表示させて、全ての関数キーの名称を一覧表示させることができる。このため、試験において所定の試験対応の機能制限モードが設定されたとき、各受験者は使用が禁止されている関数キーを視覚的に確認することができ、使えない機能を使おうとするミスを無くすことができる。
【0060】
なお、本発明は上記第2の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において細部については適宜変更可能であり、例えば、上記第2の実施の形態においては、図6(d)に示すように、使用禁止されている関数キーの名称を点線表示させて使用禁止関数キー領域4bに表示して、通常使用可能な関数キーの名称を通常表示して全ての関数キーの名称を一覧表示させているが、使用禁止されている関数キーの名称のみを表示部4に一覧表示する形態としてもよい。
【0061】
(第3の実施の形態)
次に、図7〜図9を参照して本発明の第3の実施の形態における電子機器100について詳細に説明する。
【0062】
第3の実施の形態における電子機器100の構成は、図7に示すように、計時部12を更に備える他、上記第1の実施の形態における電子機器1と同様の構成であるので同一符号を付して説明を省略するものとし、以下、上記第1の実施の形態における電子機器1との相異点について説明する。
【0063】
第3の実施の形態において、CPU2は、後述する時間制限試験モード設定処理(図8参照)において、まず、上述した試験モード設定処理(図3参照)のステップS1〜ステップS4と同様の処理を行い、試験モード実行キーが入力されると、試験モード設定用コンデンサのスイッチをONするとともに、試験モードテーブル91から選択された試験モードに対応する関数キー情報を抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってCatalogキーが入力されると、当該関数キー情報に含まれる関数キーの名称を表示部4に表示する。その際、使用禁止されている関数キーを反転表示させて表示する(図9(a)参照)。その後、選択された試験モードが設定されている状態において、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザの関数キー入力に従って処理を実行する。ユーザによって関数キーが入力されると、CPU2は、試験モードテーブル91に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、使用禁止されている関数キーである場合は、入力された関数キーの入力を無効にして、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。
【0064】
その後、CPU2は、再び、試験モード設定キーが再び入力されたか否かを判別し、試験モード設定キーが入力された場合は、試験モード設定用コンデンサの電荷を検出し、検出した電荷量が所定のしきい値を超えている場合は、ユーザによって再び入力された試験モード設定キーの入力を無効にして、試験モード設定キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。
【0065】
計時部12は、試験モード設定用コンデンサを備え、この試験モード設定用コンデンサは、絶縁物を介して2枚の金属板を対応させたもので、2枚の金属板に電圧を加えることにより電荷を蓄える。また、蓄えられた電荷は、試験モード設定用コンデンサのスイッチがONされると同時に、所定の時間をかけて放電されて、所定のしきい値以下の電荷量となるように設定されている。なお、電荷を放電し終えた後、ユーザによって試験モード設定用コンデンサのスイッチがOFFされると充電が開始されて再び電荷が蓄えられる。
【0066】
次に動作を説明する。
図8は、本発明の第3の実施の形態における電子機器100の時間制限試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【0067】
図8において、CPU2は、まず、上述した試験モード設定処理(図3参照)のステップS1〜ステップS4と同様の処理を行う。
試験モード実行キーが入力されると、CPU2は、試験モード設定用コンデンサ(図示省略)のスイッチをONするとともに(ステップS61)、ROM9に格納されている試験モードテーブル91から選択された試験モードに対応する関数キー情報を抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う(ステップS62)。すなわち、試験モードテーブル91に各試験モード毎に設定された関数キー情報に基づいて、当該試験モードにおいて使用可能な関数キー、使用禁止されている関数キーをそれぞれ設定する。ここで、選択された試験モードの設定が完了し、キー入力待ち状態となる。この後、当該試験モードにおいて、CPU2は、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行するが、本フローチャートにおいては、optionキー入力に対応する処理、及び各種関数キー入力に対応する関数演算処理に関する内容について説明することとする。
【0068】
ステップS62において選択された試験モードが設定された後、CPU2は、ユーザによって入力されたキーがoptionキーであるか否かを判別し(ステップS63)、optionキーでない場合は(ステップS63;NO)、他の処理に移行し、optionキーである場合は(ステップS63;YES)、ステップS62において抽出した関数キー情報に含まれる各関数キーの名称を表示部4に表示する(ステップS64)。ここで、各関数キーの内、「0」が格納されている関数キーの名称を機能表示領域4aに通常表示し、「1」が格納されている関数キーの名称を反転表示させてキー入力待ち状態になる。
【0069】
以後は、ユーザのキー入力に従った動作を行う。
以下のフローでは、関数キー入力が行われた場合の処理を示す。
一般に、グラフ関数電卓等では、キートップに関数が印刷されている固定の関数キーと、F1〜F6に対応して、キー機能が表示部に表示される関数キーがある。以下では、後者の関数キーが押された場合の処理である。
【0070】
選択された試験モードが設定されている状態において、CPU2は、ユーザによって入力部7の関数キーが入力されたか否かを判別し(ステップS65)、入力されなかった場合は(ステップS65;NO)、他の処理に移行し、入力された場合は(ステップS65;YES)、試験モードテーブル91に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別する(ステップS66)。使用禁止されていない関数キーである場合は(ステップS66;NO)、CPU2は、関数キーを通常入力し(ステップS67)、該関数キーに対応する表示画面を表示部4に通常表示する(ステップS68)。使用禁止されている関数キーである場合は(ステップS66;YES)、CPU2は、ユーザによって入力された関数キー入力を無効にして(ステップS69)、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する(ステップS70)。
【0071】
その後、CPU2は、ユーザによって再び関数キーが入力されたか否かを判別する(ステップS71)。再び関数キーが入力された場合は(ステップS71;YES)、CPU2は、ステップS65に戻り、関数キーが入力されなかった場合は(ステップS71;NO)、再び、試験モード設定キーが入力されたか否かを判別する(ステップS72)。試験モード設定キーが入力されなかった場合は、CPU2は、入力された関数キーに対応する関数演算機能等の処理を実行し、試験モード設定キーが入力された場合は、試験モード設定用コンデンサの電荷を検出し(ステップS73)、検出した電荷量が所定のしきい値を超えているか否かを判別する(ステップS74)。超えている場合は、CPU2は、ユーザによって入力された試験モード設定キー入力を無効にして(ステップS76)、試験モード設定キーが入力される前の表示画面を保持して表示した後(ステップS77)、ステップS65に戻る。
【0072】
ステップS74において、検出した電荷量が所定のしきい値を超えていない場合は(ステップS74;NO)、CPU2は、RAM8のワークエリアに格納されている処理結果等をクリアし(ステップS75)、一連の時間制限試験モード設定処理を終了する。
【0073】
図9は、上述の時間制限試験モード設定処理における表示部4の表示画面の一例を示す図である。
(a)は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過していない場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示し、(b)は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過した場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示している。
【0074】
初めの試験モード実行キー入力後、電子機器100の表示部4の表示画面には、同図(a)に示すように、各関数演算機能に対応する関数キーが表示され、使用禁止されている関数キー「CPLX」,「RECR」,「EQUA」が反転表示されている。ここで、一定時間経過する前にユーザによって再び試験モード実行キーが入力されても、試験モード設定処理は実行されず、表示画面は同図(a)のまま保持される。
【0075】
また、一定時間経過した後にユーザによって再び試験モード実行キーが入力されると、即時に試験モード設定処理が実行されて、同図(b)に示すように、選択された試験モードがセットされたことを示す表示、例えば、「EXAM MODE SET」が表示部4に表示される。その後、新たに選択された試験モードに基づいて、使用禁止されている関数キーの入力が無効となる。
【0076】
以上説明したように、本実施の形態における電子機器100によれば、時間制限試験モード設定処理において、CPU2は、まず、上述した試験モード設定処理(図3参照)のステップS1〜ステップS4と同様の処理を行い、試験モード実行キーが入力されると、試験モード設定用コンデンサのスイッチをONするとともに、試験モードテーブル91から選択された試験モードに対応する関数キー情報を抽出し、この抽出された関数キー情報に基づいて選択された試験モードの設定を行う。当該試験モードが設定された後、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザのキー入力に従って各種処理を実行する。ここで、ユーザによってoptionキーが入力されると、当該関数キー情報に含まれる関数キーの名称を表示部4に表示する。その際、使用禁止されている関数キーを反転表示させて表示する(図9(a)参照)。その後、選択された試験モードが設定されている状態において、CPU2は、キー入力待ち状態となり、ユーザの関数キー入力に従って処理を実行する。ユーザによって関数キーが入力されると、CPU2は、試験モードテーブル91に基づいて使用禁止されている関数キーであるか否かを判別し、使用禁止されている関数キーである場合は、入力された関数キーの入力を無効にして、関数キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。その後、CPU2は、再び、試験モード設定キーが再び入力されたか否かを判別し、試験モード設定キーが入力された場合は、試験モード設定用コンデンサの電荷を検出し、検出した電荷量が所定のしきい値を超えている場合は、ユーザによって再び入力された試験モード設定キーの入力を無効にして、試験モード設定キーが入力される前の表示画面を保持して表示する。
【0077】
したがって、初めの試験モード設定キー入力後、一定時間にわたって2度目の試験モード設定キーの入力を無効にし、一定時間経過後、即時に試験モード設定キーの入力を受け付けることができるため、試験開始直前に使用禁止する関数演算機能を全ての試験受験者で統一した後、試験時間中に試験受験者が再び試験モード設定処理を実行し、使用禁止されている関数演算機能を勝手に復旧してしまうことを防ぐことができる。
【0078】
(第4の実施の形態)
次に、図10〜図13を参照して本発明の第4の実施の形態における通信システム50について詳細に説明する。
【0079】
まず構成を説明する。
図10は、本発明の第4の実施の形態としての通信システム50の全体構成を示す図である。
この図10に示すように、通信システム50は、親機電子機器20及び子機電子機器30,…によって構成され、親機電子機器20と、子機電子機器30,…とはデータ通信用ケーブル15によって接続されている。
【0080】
親機電子機器20と、子機電子機器30,…とを接続するデータ通信用ケーブル15は、親機電子機器20から子機電子機器30,…への使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを示す関数キー情報等の送信等のデータ通信のために使用されている。なお、本実施の形態においては、データ通信用ケーブル15を使用した有線接続によるデータ通信を行っているが、赤外線、及び無線を使用して無線データ通信を行う形態としてもよい。
【0081】
第4の実施の形態における親機電子機器20及び子機電子機器30,…の構成は、図11に示すように、通信駆動部13及び通信部14を更に備える他、上記第1の実施の形態における電子機器1と同様の構成であるので同一符号を付してその説明を省略するものとし、以下、上記第1の実施の形態における電子機器1との相異点について説明する。
【0082】
通信駆動部13は、所定のデータ通信方式に基づきデータ通信プロトコルを制御するデータ通信制御機能を有し、CPU2から入力されるデータ通信コマンドや関数キー情報等を通信信号として通信部14に出力して、データ通信用ケーブル15を介して外部の電子機器に送信するとともに、外部の電子機器からデータ通信用ケーブル15を介して送信される通信信号を通信部14により受信して、通信部14から入力される通信信号としてのデータ通信コマンドや関数キー情報等をCPU2に出力する。通信部14は、通信駆動部13から入力される通信信号をデータ通信用ケーブル15を介して外部の電子機器に送信し、また、外部の電子機器からデータ通信用ケーブル15を介して受信した通信信号を通信駆動部13に出力する。
【0083】
第4の実施の形態において、親機電子機器20のCPU2は、後述する機能制限通信処理(図12参照)において、まず、親機電子機器20と子機電子機器30,…とがデータ通信用ケーブル15によって接続されているか確認した後、接続されている子機電子機器30,…の機種を確認し、さらに、子機電子機器30,…が通信可能な状態であるか確認する。そして、親機電子機器20のCPU2は、確認した受信側の子機電子機器30,…が通信可能な機種と違っているか否かを判別し、機種が違っている場合は、表示部4に機種ERROR表示を表示し、機種が違っていない場合は、関数キー情報をデータ通信用ケーブル15を介して受信側の子機電子機器30,…に送信し、関数キー情報の送信が終了した後、通信終了を示す表示を表示部4に表示する。
【0084】
子機電子機器30のCPU2は、関数キー情報を親機電子機器20から受信し、使用禁止されている関数キーの入力を無効にする。
【0085】
次に動作を説明する。
図12は、本発明の第4の実施の形態における親機電子機器20及び子機電子機器30の機能制限通信処理について説明するフローチャートである。
【0086】
図12において、親機電子機器20は、まず、機能制限通信処理を開始し(ステップS51)、親機電子機器20と子機電子機器30,…とがデータ通信用ケーブル15によって接続されているか確認する(ステップS52)。次いで、親機電子機器20は、子機電子機器30,…の機種を確認し(ステップS53)、子機電子機器30,…が通信可能な状態であるか確認する(ステップS54)。
【0087】
そして、親機電子機器20は、確認した受信側の子機電子機器30,…が機種違いか否かを判別する(ステップS55)。機種が違っている場合は(ステップS55;YES)、親機電子機器20は、表示部4に機種ERROR表示を行い(ステップS56)、ステップS53に戻る。機種が違っていない場合は(ステップS55;NO)、親機電子機器20は、使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを示す関数キー情報をデータ通信用ケーブル15を介して受信側の子機電子機器30,…に送信する(ステップS57)。子機電子機器30,…は、通信駆動部13及び通信部14を介して関数キー情報を受信し、使用禁止されている関数キーの入力を無効にする。親機電子機器20は、関数キー情報の送信が終了した後、通信終了を示す表示を表示部4に表示する(ステップS58)。
【0088】
図13は、上述の機能制限通信処理における親機電子機器20及び子機電子機器30の表示画面の一例を示す図である。
(a)は機能制限通信処理が実行される前の親機電子機器20及び子機電子機器30の表示画面を示し、(b)は機能制限通信処理が実行された後の親機電子機器20及び子機電子機器30の表示画面を示している。
【0089】
同図(a)に示すように、親機電子機器20は、U.S.A試験モードがセットされているため、当該試験モードに対応して使用禁止されている関数キー「CPLX」,「RECR」,「EQUA」は親機電子機器20の表示部4に反転表示される。子機電子機器30の表示部4の表示画面にも同様に各関数キーが表示されているが、使用禁止されている関数キーはなく、いずれの関数キーも反転表示されていない。
【0090】
ここで、ユーザによって機能制限通信処理が実行されると、同図(b)に示すように、子機電子機器30の表示画面に表示されている各関数キーの内、親機電子機器20において使用禁止されている関数キーと同一の関数キーが反転表示され、親機側と子機側の電子機器が同一のU.S.A試験モードがセットされた状態となる。
【0091】
以上説明したように、本実施の形態における通信システム50によれば、機能制限通信処理において、親機電子機器20は、まず、親機電子機器20と子機電子機器30,…とがデータ通信用ケーブル15によって接続されているか確認した後、接続されている子機電子機器30,…の機種を確認し、さらに、子機電子機器30,…が通信可能な状態であるか確認する。そして、親機電子機器20は、確認した受信側の子機電子機器30,…の機種が通信可能な機種である場合に、関数キー情報を受信側の子機電子機器30,…に送信する。子機電子機器30,…は、関数キー情報を受信し、使用禁止されている関数キーの入力を無効にする。
【0092】
したがって、親機電子機器20は、親機側において使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを示す関数キー情報をデータ通信用ケーブル15を介して受信側の子機電子機器30,…に送信し、子機電子機器30,…は、親機電子機器20から関数キー情報を受信し、親機側において使用禁止されている関数キーと同一の関数キーの入力を無効にすることができるため、試験開始前に、全ての試験受験者に同一の試験モードを選択させて試験モード設定処理を実行させて電子機器の機能を統一させる手間を省くことができる。
【0093】
【発明の効果】
請求項1及び5記載の発明によれば、試験モード設定手段によって試験モードが設定されることによって、機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止することができる。また、機能制限状態表示手段により、機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示すことができるため、試験官が試験中に受験者が指定の試験に対応した電卓を使用しているかどうかを容易に確認できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態としての電子機器1の内部構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示すROM9に格納された試験モードテーブル91の構成を詳細に説明する図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態における電子機器1の試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【図4】図3に示す試験モード設定処理における表示部4の表示画面の一例を示す図であり、(a)は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、(b)は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、(c)は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示する表示を示し、(d)は選択された試験モードにおいて使用可能な関数キー及び使用禁止されている関数キーを表示した様子を示している。
【図5】本発明の第2の実施の形態における電子機器1の表示形式変更処理について説明するフローチャートである。
【図6】図5に示す表示形式変更処理における表示部4の表示画面の一例を示す図であり、(a)は試験モードを示す国名を複数一覧表示させた様子を示し、(b)は試験モードがセットされたことを示す表示を示し、(c)は試験モードがセットされた後、セットされた試験モードを定常的に表示される表示を示し、(d)は使用禁止されている関数キーの名称を表示形式を変更して表示した様子を示している。
【図7】本発明の第3の実施の形態としての電子機器100の内部構成を示すブロック図である。
【図8】本発明の第3の実施の形態における電子機器100の時間制限試験モード設定処理について説明するフローチャートである。
【図9】図8に示す時間制限試験モード設定処理における表示部4の表示画面の一例を示す図であり、(a)は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過していない場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示し、(b)は初めの試験モード実行キー入力後、一定時間経過した場合に再び試験モード実行キーが入力された際の表示画面を示している。
【図10】本発明の第4の実施の形態としての通信システム50の全体構成を示す図である。
【図11】本発明の第4の実施の形態における親機電子機器20及び子機電子機器30の内部構成を示すブロック図である。
【図12】本発明の第4の実施の形態における親機電子機器20及び子機電子機器30の機能制限通信処理について説明するフローチャートである。
【図13】図12に示す機能制限通信処理における親機電子機器20及び子機電子機器30の表示画面の一例を示す図であり、(a)は機能制限通信処理が実行される前の親機電子機器20及び子機電子機器30の表示画面を示し、(b)は機能制限通信処理が実行された後の親機電子機器20及び子機電子機器30の表示画面を示している。
【符号の説明】
1 電子機器
2 CPU
3 表示駆動回路
4 表示部
5 タブレット
6 位置検出回路
7 入力部
8 RAM
9 ROM
10 記憶装置
11 記憶媒体
12 計時部
13 通信駆動部
14 通信部
15 データ通信用ケーブル
20 親機電子機器
30 子機電子機器
50 通信システム
100 電子機器[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention calculator In detail, function calculation with a function restriction mode setting function is possible. calculator And a storage medium.
[0002]
[Prior art]
A conventional function computing computer has a plurality of functions, and the functions are individually changed for each country.
[0003]
As an example of a function calculation computer in which a plurality of functions are set, a graph function computer having a plurality of function calculation modes can be cited. In recent years, graph function computers have been used in science and engineering tests such as mathematics and physics in various countries. The functions that should not be used or restricted in the tests differed from country to country, and it was necessary to restrict the functions according to the tests in each country.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the conventional graph function computer cannot restrict a predetermined function, it is necessary to design the graph function computer individually according to the test in each country. In addition, the functions restricted by the tests in each country are updated frequently, so it was necessary to redesign the graph function computer accordingly.
On the other hand, the examiner in each country's examination needed to check whether the graph function computer used by the examinee in the examination was a product redesigned corresponding to the examination. That is, it is necessary to check whether or not the product name of the product used by the examinee at the test site is listed in the list while looking at the product name list of the test-compatible products. Usually, the product name is often printed on the edge of the product, so the burden on the examiner was heavy to perform a rigorous test.
[0005]
An object of the present invention is to provide a function restriction mode setting function so that a function calculation capable of function restriction corresponding to a test can be performed. calculator And providing a storage medium.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention has the following features in order to achieve such a problem.
[0008]
The storage medium according to claim 5 is Used for calculator When the test mode is set by the function restriction information storage means for storing information indicating a combination of arithmetic functions prohibited to use the computer, the test mode setting means for setting the test mode by a user operation, and the test mode setting means The function prohibiting means for prohibiting the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storage means, and the function prohibiting means prohibits the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storage means. It is characterized by storing a program for functioning as function restriction state display means.
[0011]
Further, the invention described in claim 2 is described in
[0014]
The invention according to claim 3 is the invention according to
[0017]
The invention according to claim 4 is the invention according to any one of
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
(First embodiment)
Hereinafter, the
[0021]
First, the configuration will be described.
FIG. 1 is a block diagram showing an internal configuration of an electronic apparatus as an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1, the
[0022]
A CPU (Central Processing Unit) 2 reads a predetermined program from the
[0023]
In the test mode setting process (see FIG. 3), the CPU 2 displays a list of a plurality of country names indicating the test modes on the display unit 4 when a test mode setting key is input by the user. Next, when one of the country names in the list is selected and selected by a dedicated pen and then a test mode execution key is input, the CPU 2 selects a function key corresponding to the selected test mode. Information is extracted from the test mode table 91 stored in the
[0024]
The display drive circuit 3 outputs input data input from the
[0025]
The tablet 5 is an input device that combines a coordinate indicating device such as an input pen and a plate-shaped device that senses the specified coordinate. The position detection circuit 6 can be used for an electromagnetic induction method, a magnetostriction method, a pressure sensitive method, and the like. The position coordinates designated by the dedicated pen are detected by the coordinate reading principle. The tablet 5 is integrated with the display unit 4 and can perform an input operation by directly selecting and selecting a test mode or the like displayed on the display unit 4 with a dedicated pen.
[0026]
The
[0027]
A RAM (Random Access Memory) 8 has a program storage area for storing programs executed by the CPU 2 and various application programs, and a work area for temporarily storing input instructions, input data, processing results, and the like.
[0028]
A ROM (Read Only Memory) 9 stores a basic program corresponding to the
[0029]
FIG. 2 is a diagram for explaining the configuration of the test mode table 91 in detail. 2, the test mode table 91 includes test mode items such as “NORMAL”, “JAPAN”, “USA”,..., “LIST” (statistic data list display function), “MAT”. ”(Matrix function),“ CPLX ”(complex number function),... That is, the function key information indicating the setting state of the function key that can be used for each test mode and the function key that is prohibited from being used is associated. “1” is stored in the function key that is prohibited from use, and “0” is stored in the function key that can be used.
[0030]
For example, since “0” is stored in all function operation function items corresponding to EXAM MODE “NORMAL”, when the EXAM MODE “NORMAL” is selected and executed by the user, all function keys are stored. Can be used. Also, looking at each function key item corresponding to EXAM MODE “JAPAN”, “1” is stored in the item “CPLX”, and “0” is stored in the other function key items. When the EXAM MODE “JAPAN” is selected and executed by the user, only the function key “CPLX” is prohibited.
[0031]
Thus, by selecting the country name shown in the item of EXAM MODE, the function of the
[0032]
The
[0033]
Next, the operation will be described.
FIG. 3 is a flowchart illustrating the test mode setting process of
[0034]
In FIG. 3, first, the CPU 2 starts a test mode setting process. When the user inputs a test mode setting key of the input unit 7 (step S1), a list of a plurality of country names indicating the test modes is displayed on the display unit 4. It is displayed (see FIG. 4A) (step S2). Here, the name of each country is stored in the EXAM MODE item of the test mode table 91 (FIG. 2). Next, the CPU 2 designates and selects one of the test modes (country names) displayed in a list on the display unit 4 with a dedicated pen (step S3), and further inputs a test mode execution key. Then (step S4), a set display “EXAM MODE SET!” Indicating that the selected test mode is set is displayed on the display unit 4. After several seconds, “U.S.A. “EXAM MODE” and the test mode set constantly are displayed (step S5).
Then, the CPU 2 searches and extracts function key information corresponding to the selected test mode from the test mode table 91 stored in the
[0035]
After the test mode selected in step S6 is set, the CPU 2 determines whether or not the key input by the user is the option key (step S7). If it is not the option key (step S7; NO) If the key is an option key (step S7; YES), the name of each function key included in the function key information extracted in step S6 is displayed on the display unit 4 (step S8). Here, among the function keys, the name of the function key storing “0” is normally displayed in the function display area 4a, and the name of the function key storing “1” is displayed in reverse video. Waiting.
[0036]
Thereafter, an operation according to the user's key input is performed.
The following flow shows processing when function key input is performed.
In general, in a graph scientific calculator or the like, there are a fixed function key whose function is printed on a key top and a function key whose key function is displayed on a display unit corresponding to F1 to F6. The following is the processing when the latter function key is pressed.
[0037]
In the state in which the selected test mode is set, the CPU 2 determines whether or not the function key of the
[0038]
Thereafter, the CPU 2 determines whether or not the function key is input again by the user (step S15). When the function key is input again (step S15; YES), the CPU 2 returns to step S9, and when the function key is not input (step S15; NO), the series of test mode setting processes ends.
[0039]
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a display screen of the display unit 4 in the above-described test mode setting process.
(A) shows a state where a plurality of country names indicating test modes are displayed, (b) shows a display indicating that the test mode is set, and (c) is set after the test mode is set. (D) shows a state in which function keys that can be used and function keys that are prohibited from being used are displayed in the selected test mode.
[0040]
As shown in FIG. 5A, when the test mode setting key is input by the user, a plurality of country names indicating the test modes are displayed in a list. Here, the country name designated and selected by the user with the dedicated pen is highlighted. In FIG. 5A, the country name “US A EXAM” is selected and highlighted.
[0041]
Thereafter, when the test mode execution key is input by the user, as shown in FIG. 4B, a set display indicating that the selected test mode is set, for example, “EXAM MODE SET” is displayed on the display unit 4. Is displayed. After several seconds, the display “USA EXAM MODE” indicating the selected test mode is constantly displayed at the top of the display ((c) in the figure).
[0042]
Further, when the option key is input by the user, the names of the usable function keys “LIST”, “MAT”, and “TABL” are normally displayed in the function display area 4a as shown in FIG. The names of function keys “CPLX”, “RECR”, and “EQUA” that are prohibited from being used are displayed in reverse video. Note that the names of the function keys displayed in the function display area 4a correspond to F1 to F6 of the
[0043]
As described above, according to the
[0044]
Therefore, by selecting an arbitrary function restriction mode from among the plurality of function restriction modes by the selection means, the use of the function corresponding to the selected function restriction mode can be prohibited, and the use of the function by one unit is possible. Since a plurality of prohibited states can be realized, for example, a single unit can cope with a test in each country, and a function calculation function can be unified for all examinees according to the test in each country. In addition, the function restriction status display means can easily display which country's test is available, so that the examiner can check whether the candidate is using an electronic device that supports the specified test during the test. Easy to confirm.
[0045]
The present invention is not limited to the first embodiment, and details can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention. For example, in the first embodiment, As shown in FIG. 2, the names of each country and various calculation functions are stored in correspondence with each other as EXAM MODE, but subject names such as mathematics, chemistry, and physics are stored in association with various calculation functions. The course names may be displayed as a list on the display unit 4 as EXAM MODE.
[0046]
(Second Embodiment)
Next, the
[0047]
Since the configuration of the
[0048]
In the second embodiment, the CPU 2 first performs steps S1 to S6 of the above-described test mode setting process (see FIG. 3) in the display format changing process (see FIG. 5) described later. Set the selected test mode. After the test mode is set, the CPU 2 enters a key input waiting state and executes various processes according to the user's key input. Here, when the catalog key is input by the user, any one of the function keys is sequentially called out from the extracted function key information. If the function key is not prohibited from being used, the name of the function key is displayed. In the case of function keys that are normally displayed on the display screen 4 and are prohibited from being used, the names of the function keys are displayed by changing the display format, and the names of all the function keys are displayed in a list.
[0049]
The
[0050]
Next, the operation will be described.
FIG. 5 is a flowchart for explaining the display format changing process of the
[0051]
In FIG. 5, the CPU 2 first performs the same process as the above-described test mode setting process (see FIG. 3), step S <b> 1 to step S <b> 6, and sets the test mode selected by the user. That is, based on the function key information set for each test mode in the test mode table 91, function keys that can be used in the test mode and function keys that are prohibited from being used are set. Here, the setting of the selected test mode is completed, and a key input waiting state is entered. Thereafter, in the test mode, the CPU 2 executes various processes according to the user's key input. In this flowchart, the contents related to the process corresponding to the Catalog key input will be described.
After the test mode selected by the user is set, the CPU 2 determines whether or not the key input by the user is the Catalog key (step S16), and if it is not the Catalog key (step S16; NO), When the process proceeds to another process and is a Catalog key (step S16; YES), any one function key is sequentially called out from the extracted function key information (step S17), and whether or not the function key is prohibited from being used. Is determined (step S18). If the function key is not prohibited (step S18; NO), the CPU 2 normally displays the name of the function key on the display screen of the display unit 4 (step S19). If the function key is disabled (step S18; YES), the CPU 2 changes the display format of the function key name (step S20) and displays it (step S21), and lists all the function keys. Display.
[0052]
After the end of the process in step S19 or after the end of the process in step S21, the CPU 2 determines whether or not all function key names have been displayed in a list (step S22). If the list display has not been completed (step S22; NO), the CPU 2 returns to step S17, and if the list display has been completed (step S22; YES), the series of display format change processing ends.
[0053]
In steps S20 and S21, the names of function keys that are prohibited to be used are displayed in a list on the display screen of the display unit 4 by changing the display format. Examples include color change, reverse display, and shaded display.
[0054]
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a display screen of the display unit 4 in the display format change process described above.
(A) shows a state where a plurality of country names indicating test modes are displayed, (b) shows a display indicating that the test mode is set, and (c) is set after the test mode is set. (D) shows a state in which the names of function keys that are prohibited to be used are displayed by changing the display format.
[0055]
As shown in FIG. 5A, when the test mode setting key is input by the user, a plurality of country names indicating the test modes are displayed in a list. Here, the country name designated and selected by the user with the dedicated pen is highlighted. In FIG. 5A, the country name “US A EXAM” is selected and highlighted.
[0056]
Thereafter, when the test mode execution key is input by the user, a display indicating that the selected test mode is set, for example, “EXAM MODE SET” is displayed on the display unit 4 as shown in FIG. Is displayed. After several seconds, the display “USA EXAM MODE” indicating the selected test mode is constantly displayed at the top of the display ((c) in the figure).
[0057]
Further, when the Catalog key is input by the user, the function key names “Arg”, “Algebra”, and “Binary” that are prohibited from being used are displayed in the prohibited function key area 4b as shown in FIG. The function key names “Abs”, “Cls”, and “Clear” that are normally used are displayed as dotted lines. While the function is restricted, as shown in FIGS. 4C and 4D, the display indicating the selected test mode is displayed at the top of the display unit 4, and here, “US EXAM MODE” is displayed. Always displayed.
[0058]
As described above, according to the
[0059]
Therefore, in the function restriction mode corresponding to the test for each country selected by the user, the names of function keys that can be normally used are normally displayed on the display screen of the display unit 4, and the names of function keys that are prohibited to be used are displayed. It is possible to display the list of all function key names by changing the display format. For this reason, when a function restriction mode corresponding to a predetermined test is set in the test, each examinee can visually check the function keys that are prohibited from use, and make mistakes that try to use functions that cannot be used. It can be lost.
[0060]
The present invention is not limited to the second embodiment, and details can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention. For example, in the second embodiment, As shown in FIG. 6D, the names of the function keys that are prohibited to use are displayed in dotted lines and displayed in the use-disabled function key area 4b, and the names of function keys that can be normally used are normally displayed to display all the names. Although the names of the function keys are displayed as a list, only the names of the function keys that are prohibited from use may be displayed as a list on the display unit 4.
[0061]
(Third embodiment)
Next, the
[0062]
The configuration of the
[0063]
In the third embodiment, in the time limit test mode setting process (see FIG. 8) to be described later, the CPU 2 first performs the same processes as steps S1 to S4 in the test mode setting process (see FIG. 3) described above. When the test mode execution key is input, the switch of the test mode setting capacitor is turned on, and function key information corresponding to the selected test mode is extracted from the test mode table 91, and the extracted function key The test mode selected based on the information is set. After the test mode is set, the CPU 2 enters a key input waiting state and executes various processes according to the user's key input. Here, when the Catalog key is input by the user, the name of the function key included in the function key information is displayed on the display unit 4. At that time, the function keys that are prohibited to use are displayed in reverse video (see FIG. 9A). Thereafter, in a state where the selected test mode is set, the CPU 2 enters a key input waiting state and executes processing according to the user's function key input. When the function key is input by the user, the CPU 2 determines whether or not the function key is prohibited from use based on the test mode table 91. If the function key is disabled, the CPU 2 inputs the function key. The function key input is invalidated, and the display screen before the function key is input is held and displayed.
[0064]
Thereafter, the CPU 2 again determines whether or not the test mode setting key is input again. When the test mode setting key is input, the CPU 2 detects the charge of the test mode setting capacitor, and the detected charge amount is predetermined. If the threshold is exceeded, the test mode setting key input again by the user is invalidated, and the display screen before the test mode setting key is input is held and displayed.
[0065]
The
[0066]
Next, the operation will be described.
FIG. 8 is a flowchart illustrating time limit test mode setting processing of
[0067]
In FIG. 8, the CPU 2 first performs the same process as step S <b> 1 to step S <b> 4 of the above-described test mode setting process (see FIG. 3).
When the test mode execution key is input, the CPU 2 turns on the switch of the test mode setting capacitor (not shown) (step S61), and enters the test mode selected from the test mode table 91 stored in the
[0068]
After the test mode selected in step S62 is set, the CPU 2 determines whether or not the key input by the user is the option key (step S63). If the key is not the option key (step S63; NO) If the key is the option key (step S63; YES), the name of each function key included in the function key information extracted in step S62 is displayed on the display unit 4 (step S64). Here, among the function keys, the name of the function key storing “0” is normally displayed in the function display area 4a, and the name of the function key storing “1” is displayed in reverse video. Waiting.
[0069]
Thereafter, an operation according to the user's key input is performed.
The following flow shows processing when function key input is performed.
In general, in a graph scientific calculator or the like, there are a fixed function key whose function is printed on a key top and a function key whose key function is displayed on a display unit corresponding to F1 to F6. The following is the processing when the latter function key is pressed.
[0070]
In the state where the selected test mode is set, the CPU 2 determines whether or not the function key of the
[0071]
Thereafter, the CPU 2 determines whether or not the function key is input again by the user (step S71). If the function key is input again (step S71; YES), the CPU 2 returns to step S65, and if the function key is not input (step S71; NO), has the test mode setting key been input again? It is determined whether or not (step S72). When the test mode setting key is not input, the CPU 2 executes processing such as a function calculation function corresponding to the input function key. When the test mode setting key is input, the CPU 2 sets the test mode setting capacitor. The charge is detected (step S73), and it is determined whether or not the detected charge amount exceeds a predetermined threshold value (step S74). If exceeded, the CPU 2 invalidates the test mode setting key input input by the user (step S76), and holds and displays the display screen before the test mode setting key is input (step S77). ), The process returns to step S65.
[0072]
If the detected charge amount does not exceed the predetermined threshold value in step S74 (step S74; NO), the CPU 2 clears the processing result stored in the work area of the RAM 8 (step S75), A series of time limit test mode setting processing ends.
[0073]
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a display screen of the display unit 4 in the above-described time limit test mode setting process.
(A) shows a display screen when the test mode execution key is input again after a certain period of time has not elapsed since the first test mode execution key input, and (b) after the first test mode execution key input, A display screen when the test mode execution key is input again after a predetermined time has elapsed is shown.
[0074]
After the first test mode execution key is input, the function screen corresponding to each function calculation function is displayed on the display screen of the display unit 4 of the
[0075]
Further, when the test mode execution key is input again by the user after a predetermined time has elapsed, the test mode setting process is immediately executed, and the selected test mode is set as shown in FIG. For example, “EXAM MODE SET” is displayed on the display unit 4. After that, based on the newly selected test mode, the input of function keys that are prohibited from use is invalidated.
[0076]
As described above, according to
[0077]
Therefore, it is possible to invalidate the second test mode setting key input for a certain period of time after the first test mode setting key input, and to accept the test mode setting key input immediately after a certain period of time. After unifying the function calculation function that is prohibited for all test takers, the test taker executes the test mode setting process again during the test time, and the function calculation function for which use is prohibited is restored without permission. Can be prevented.
[0078]
(Fourth embodiment)
Next, a
[0079]
First, the configuration will be described.
FIG. 10 is a diagram showing an overall configuration of a
As shown in FIG. 10, the
[0080]
The
[0081]
As shown in FIG. 11, the configuration of the main device
[0082]
The
[0083]
In the fourth embodiment, the CPU 2 of the parent device
[0084]
The CPU 2 of the slave
[0085]
Next, the operation will be described.
FIG. 12 is a flowchart for explaining the function-limited communication process of the parent device
[0086]
12, first, base unit
[0087]
Then, the base device
[0088]
FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a display screen of the parent
(A) shows the display screens of the master
[0089]
As shown in FIG. 5A, the parent
[0090]
Here, when the function-restricted communication process is executed by the user, as shown in FIG. 5B, among the function keys displayed on the display screen of the slave
[0091]
As described above, according to the
[0092]
Therefore, the parent device
[0093]
【The invention's effect】
According to the first and fifth aspects of the present invention, the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storage unit can be prohibited by setting the test mode by the test mode setting unit. In addition, since the function restriction status display means can indicate that the use of the calculation function stored in the function restriction information storage means is prohibited, the examiner responded to the designated test during the examination by the examiner. calculator You can easily check whether you are using.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing an internal configuration of an
2 is a diagram for explaining in detail the configuration of a test mode table 91 stored in a
FIG. 3 is a flowchart illustrating a test mode setting process of
4 is a diagram showing an example of a display screen of the display unit 4 in the test mode setting process shown in FIG. 3, where (a) shows a state where a plurality of country names indicating test modes are displayed in a list, and (b) shows A display showing that the test mode has been set is shown, (c) shows a display that steadily displays the set test mode after the test mode is set, and (d) shows in the selected test mode. It shows a state in which usable function keys and prohibited function keys are displayed.
FIG. 5 is a flowchart illustrating a display format change process of
6 is a diagram showing an example of a display screen of the display unit 4 in the display format changing process shown in FIG. 5, where (a) shows a state where a plurality of country names indicating test modes are displayed in a list, and (b) shows A display showing that the test mode has been set is shown. (C) shows a display in which the set test mode is steadily displayed after the test mode is set, and (d) is prohibited from being used. It shows how the function key names are displayed with the display format changed.
FIG. 7 is a block diagram showing an internal configuration of an
FIG. 8 is a flowchart illustrating a time limit test mode setting process of
9 is a diagram showing an example of a display screen of the display unit 4 in the time limit test mode setting process shown in FIG. 8, in which (a) is a case where a fixed time has not elapsed since the first test mode execution key was input. The display screen when the test mode execution key is input again is shown. (B) shows the display screen when the test mode execution key is input again after a certain time has elapsed after the first test mode execution key is input. ing.
FIG. 10 is a diagram showing an overall configuration of a
FIG. 11 is a block diagram illustrating an internal configuration of a parent device
FIG. 12 is a flowchart for describing function-limited communication processing of the parent device
13 is a diagram showing an example of a display screen of the parent
[Explanation of symbols]
1 Electronic equipment
2 CPU
3 Display drive circuit
4 display section
5 tablets
6 Position detection circuit
7 Input section
8 RAM
9 ROM
10 Storage device
11 Storage media
12 Timekeeping
13 Communication driver
14 Communication Department
15 Data communication cable
20 Base unit electronics
30 Handset electronics
50 Communication system
100 electronic equipment
Claims (5)
ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段と、
この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段と、
この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段と、
を備えたことを特徴とする関数演算可能な電卓。Function restriction information storage means for storing information indicating combinations of arithmetic functions prohibited to be used;
Test mode setting means for setting a test mode by a user operation;
When the test mode is set by the test mode setting means, function prohibiting means for prohibiting the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storing means;
A function restriction state display means for indicating that the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storage means is prohibited by the function prohibition means;
A calculator that can perform functional calculations .
前記機能制限情報記憶手段は、
使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を複数記憶し、
前記機能禁止手段は、
前記試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された複数の情報の内の任意の情報をユーザ操作により選択する選択手段を有し、
この選択手段によって選択された情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴とする関数演算可能な電卓。The calculator according to claim 1,
The function restriction information storage means includes
Stores multiple pieces of information indicating combinations of computation functions that are prohibited from being used,
The function prohibition means is
When the test mode is set by the test mode setting means, the selecting means for selecting any information among a plurality of information stored in the function restriction information storage means by a user operation,
A calculator capable of calculating a function, which prohibits the use of a calculation function corresponding to the information selected by the selection means.
前記機能禁止手段による演算機能の使用禁止が開始された後、所定時間経過後に演算機能の使用禁止を解除する機能禁止解除手段を備えたことを特徴とする関数演算可能な電卓。In the calculator according to claim 1 or 2,
A calculator capable of calculating a function, comprising function prohibition canceling means for canceling the prohibition of use of the arithmetic function after a lapse of a predetermined time after the prohibition of use of the arithmetic function by the function prohibiting means is started.
外部からの信号を受信する受信手段を備え、
前記機能禁止手段は、前記受信手段によって、前記機能制限情報記憶手段に記憶された任意の情報を指定する信号を受信した際に、この情報に対応する演算機能の使用を禁止することを特徴とする関数演算可能な電卓。The calculator according to any one of claims 1 to 3,
A receiving means for receiving an external signal;
The function prohibiting means prohibits the use of an arithmetic function corresponding to this information when the receiving means receives a signal designating arbitrary information stored in the function restriction information storage means. A calculator that can perform function calculations .
使用が禁止される演算機能の組み合わせを示す情報を記憶する機能制限情報記憶手段、
ユーザ操作により試験モードを設定する試験モード設定手段、
この試験モード設定手段によって試験モードが設定された場合に、前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用を禁止する機能禁止手段、
この機能禁止手段により前記機能制限情報記憶手段に記憶された演算機能の使用が禁止されていることを示す機能制限状態表示手段、
として機能させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。 The computer used for the calculator
Function restriction information storage means for storing information indicating combinations of arithmetic functions prohibited to be used;
Test mode setting means for setting the test mode by user operation,
Function prohibiting means for prohibiting the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storage means when the test mode is set by the test mode setting means;
A function restriction state display means indicating that the use of the arithmetic function stored in the function restriction information storage means is prohibited by the function prohibition means;
A computer-readable storage medium storing a program for functioning as a computer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP37229198A JP4134416B2 (en) | 1998-12-28 | 1998-12-28 | Calculator and storage medium capable of calculating functions |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP37229198A JP4134416B2 (en) | 1998-12-28 | 1998-12-28 | Calculator and storage medium capable of calculating functions |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000194664A JP2000194664A (en) | 2000-07-14 |
JP4134416B2 true JP4134416B2 (en) | 2008-08-20 |
Family
ID=18500194
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP37229198A Expired - Fee Related JP4134416B2 (en) | 1998-12-28 | 1998-12-28 | Calculator and storage medium capable of calculating functions |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4134416B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3223501A1 (en) | 2016-03-24 | 2017-09-27 | Casio Computer Co., Ltd. | Electronic device, communication device, control method and storage medium |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8499014B2 (en) * | 2005-06-01 | 2013-07-30 | Texas Instruments Incorporated | Functionality disable and re-enable for programmable calculators |
JP4839917B2 (en) * | 2006-03-27 | 2011-12-21 | カシオ計算機株式会社 | Electronic equipment and function control program |
JP6202150B2 (en) * | 2015-08-20 | 2017-09-27 | カシオ計算機株式会社 | Function utilization device, function utilization method, and function utilization program |
EP3133501B1 (en) | 2015-08-20 | 2019-06-12 | Casio Computer Co., Ltd. | Utilizing function apparatus and recording medium |
JP6269737B2 (en) * | 2015-08-20 | 2018-01-31 | カシオ計算機株式会社 | Function utilization device, function utilization method, and function utilization program |
JP7404966B2 (en) | 2020-03-25 | 2023-12-26 | カシオ計算機株式会社 | Electronic equipment, function setting support system, function setting support method and program |
-
1998
- 1998-12-28 JP JP37229198A patent/JP4134416B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3223501A1 (en) | 2016-03-24 | 2017-09-27 | Casio Computer Co., Ltd. | Electronic device, communication device, control method and storage medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000194664A (en) | 2000-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103049432B (en) | Formula entry for limited display devices | |
JP2000010689A (en) | Free key layout setting device | |
JP4134416B2 (en) | Calculator and storage medium capable of calculating functions | |
JP2001100716A (en) | Display controller, network education management system, and storage medium | |
JPH08297622A (en) | Communication system for portable information terminal and terminal to be used | |
JPH11344584A (en) | Schedule alarm processing device | |
JP3346333B2 (en) | Operation device | |
JP4107943B2 (en) | Image processing device | |
JPH0219953B2 (en) | ||
JPH09219756A (en) | Touch pannel operating unit and facsimile equipment using the same by connection | |
JP3671255B2 (en) | Power monitoring device | |
JPH043220A (en) | Printing controller | |
JP3427519B2 (en) | Recording device | |
JPH0442849Y2 (en) | ||
JP2776443B2 (en) | Programmable controller | |
JP3567291B2 (en) | Information processing apparatus and item data management method | |
JPH09245066A (en) | Cad progress state display method and cad device | |
JPH02293764A (en) | Ic card for image processor | |
JP2585048Y2 (en) | Numeric character input device | |
JPH07207506A (en) | Measuring apparatus and measuring system using the same | |
JPS5840423Y2 (en) | data collection device | |
JP2821188B2 (en) | Layout pattern information extraction device | |
JPH06266790A (en) | Test pattern preparing device | |
JPS59197961A (en) | Operation system of selling data processing device | |
JP2019219808A (en) | Controller, control method and program |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051110 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070612 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070809 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080219 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080409 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080507 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080520 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110613 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110613 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120613 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120613 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130613 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |