JP3588087B2

JP3588087B2 - Ｓｉｒ測定装置および方法

Info

Publication number: JP3588087B2
Application number: JP2002117081A
Authority: JP
Inventors: 義隆瀬戸; 昭彦西尾
Original assignee: Panasonic Corp; Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Corp; Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2002-04-19
Filing date: 2002-04-19
Publication date: 2004-11-10
Anticipated expiration: 2022-04-19
Also published as: EP1499032A1; WO2003090372A1; CN100444530C; JP2003318779A; KR100633901B1; US20040247059A1; KR20040037090A; CN1572064A; AU2003235296A1

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＳＩＲ測定装置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
高精度な送信電力制御（ＴＣＰ：ＴｒａｎｓｍｉｔＰｏｗｅｒＣｏｎｔｒｏｌ）を実現するためには、ＳＩＲ（ＳｉｇｎａｌｔｏＩｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅＲａｔｉｏ：信号電力対干渉電力の比）を高い精度で測定する必要がある。
【０００３】
たとえば、ＴＤ−ＳＣＤＭＡ（ＴｉｍｅＤｉｖｉｓｉｏｎ−ＳｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓＣｏｄｅＤｉｖｉｓｉｏｎＭｕｌｔｉｐｌｅＡｃｃｅｓｓ）システムでは、下りタイムスロットの干渉除去（たとえば、ＪＤ復調）後のＳＩＲを高い精度で測定し、その結果を用いて送信電力制御（ＴＰＣ）ビットを計算するようにしている。ジョイントディテクション（ＪＤ：ＪｏｉｎｔＤｅｔｅｃｔｉｏｎ）は、干渉除去技術の一つであり、遅延プロファイルと拡散コードから得られる行列（システムマトリクス）を用いた演算により高精度な干渉除去を行う受信方式である。
【０００４】
この場合、従来のＳＩＲ測定法では、ＪＤ復調後のデータ部からＳＩＲを測定していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のＳＩＲ測定法においては、ＪＤ復調後のＳＩＲを測定するため、この結果を用いたＴＰＣビットの計算が次の上りタイムスロットの送信に間に合わないおそれがある。すなわち、ＪＤ復調は計算量が多く、時間がかかるため、送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロットに間に合わせるためには、上記ＳＩＲ測定処理、または、ＪＤ復調処理を高速に行う必要がある。しかし、上記ＳＩＲ測定処理またはＪＤ復調処理の高速化には、一定の限界がある。なお、ＴＰＣビットの計算が次の上りタイムスロットの送信に間に合わない場合、伝搬環境の変動に高速に追従することができず、送信電力制御の精度向上に一定の限界が生じることになる。
【０００６】
そのため、ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムでは、下りタイムスロットの干渉除去後のＳＩＲを高い精度で測定し、その結果を用いたＴＰＣビットの計算を次の上りタイムスロットに間に合わせることが強く求められている。
【０００７】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができるＳＩＲ測定装置および方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
（１）本発明のＳＩＲ測定装置は、受信信号に含まれる既知信号を用いて遅延プロファイルを作成する作成手段と、作成された遅延プロファイルを用いて実在するパスを選択する選択手段と、受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成手段と、作成された遅延プロファイル、選択されたパスの位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩＲを測定する測定手段と、を有する構成を採る。
【０００９】
この構成によれば、遅延プロファイル、選択パス位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩＲを測定するため、たとえば、ＪＤ復調処理の終了を待たずにＳＩＲを測定することができ、つまり、下りタイムスロットを受信した後すぐにＳＩＲを測定することができ、送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロットに間に合わせることができる。しかも、その際、選択パス位置によって信号成分と干渉成分を分けることができるため、干渉除去後のＳＩＲを測定することができる。すなわち、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で測定することができる。
【００１０】
（２）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記既知信号は、各スロットのミッドアンブル部である構成を採る。
【００１１】
この構成によれば、ミッドアンブル部を用いて遅延プロファイルを作成するため、データ部を利用する従来のＳＩＲ測定法に比べて処理利得が大きく、高い精度でＳＩＲを測定することができる。
【００１２】
（３）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記測定手段は、作成された遅延プロファイルおよび選択されたパスの位置を用いて信号電力を測定する信号電力測定手段と、作成された遅延プロファイルおよび選択されたパスの位置を用いて干渉電力を測定する干渉電力測定手段と、測定された信号電力および干渉電力ならびにＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて、所定の演算式により、ＳＩＲを演算する演算手段と、を有する構成を採る。
【００１３】
この構成によれば、遅延プロファイルと選択パス位置から信号電力と干渉電力をそれぞれ測定し、各測定結果とＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩＲを測定するため、上記のように、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で測定することができる。
【００１４】
（４）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記測定手段は、選択されたパス同士の干渉による影響を除去するように、測定された信号電力を補正する信号電力補正手段、をさらに有し、前記演算手段は、測定された信号電力に代えて前記信号電力補正手段によって補正された信号電力を用いてＳＩＲの演算を行う、構成を採る。
【００１５】
この構成によれば、選択パス同士の干渉（各パスの信号電力に含まれている）による影響を除去するように信号電力を補正するため、信号電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度を高めることができる。
【００１６】
（５）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記測定手段は、自己相関成分による影響を除去するように、測定された干渉電力を補正する第１干渉電力補正手段、をさらに有し、前記演算手段は、測定された干渉電力に代えて前記第１干渉電力補正手段によって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行う、構成を採る。
【００１７】
この構成によれば、自己相関成分による影響（干渉電力には信号成分の自己相関により生じた電力が含まれている）を除去するように干渉電力を補正するため、干渉電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【００１８】
（６）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記測定手段は、受信フィルタによる影響を除去するように、測定された干渉電力を補正する第２干渉電力補正手段、をさらに有し、前記演算手段は、測定された干渉電力に代えて前記第２干渉電力補正手段によって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行う、構成を採る。
【００１９】
この構成によれば、受信フィルタ（たとえば、ロールオフフィルタ）による影響（各パスはロールオフフィルタにより信号がひずんでいるため干渉電力に信号電力が含まれている）を除去するように干渉電力を補正するため、干渉電力の測定精度がさらに向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【００２０】
（７）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記既知信号が各スロットのミッドアンブル部である場合、前記作成手段は、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルおよび自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを作成し、前記第２測定手段は、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルおよび自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを用いて干渉電力の測定を行う、構成を採る。
【００２１】
この構成によれば、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルに加えて自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを用いて干渉電力を測定するため、干渉電力の測定範囲が拡大され、動特性の伝搬路の場合においても、干渉電力の測定精度が改善され、ＳＩＲの測定精度を改善することができる。
【００２２】
（８）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記既知信号が各スロットのミッドアンブル部である場合、前記演算手段で用いられる演算式は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示す各アロケーションモードに応じて異なる構成を採る。
【００２３】
この構成によれば、演算式が各アロケーションモード（Allocation Mode）、具体的には、共通ミッドアンブル（Common Midamble）、デフォルトミッドアンブル（Default Midamble）、およびＵＥ個別ミッドアンブル（UE Specific Midamble）に応じて異なるため、各アロケーションモードにおいて、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【００２４】
（９）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記既知信号が各スロットのミッドアンブル部である場合、前記演算手段は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示す各アロケーションモードに対応する演算式を記憶する手段と、指定されたアロケーションモードに対応する演算式を選択する手段と、を含み、選択された演算式によりＳＩＲの演算を行う、構成を採る。
【００２５】
この構成によれば、あらかじめ各アロケーションモードに対応する演算式を記憶しておき、指定されたアロケーションモードに対応する演算式によりＳＩＲを演算する、つまり、アロケーションモードごとにＳＩＲの測定方法を切り替えるため、アロケーションモードが異なる場合でも１つの装置でＳＩＲを測定することができる。
【００２６】
（１０）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記測定手段は、前記信号電力測定手段によって測定された信号電力を用いて受信信号コード電力を測定するＲＳＣＰ測定手段、をさらに有する構成を採る。
【００２７】
この構成によれば、測定された信号電力を用いて受信信号コード電力（ＲＳＣＰ：ＲｅｃｅｉｖｅｄＳｉｇｎａｌＣｏｄｅＰｏｗｅｒ）を測定するため、たとえば、３ＧＰＰＴＤＤの測定項目であるＰ−ＣＣＰＣＨ（Ｐｒｉｍａｒｙ−ＣｏｍｍｏｎＣｏｎｔｒｏｌＰｈｙｓｉｃａｌＣｈａｎｎｅｌ）のＲＳＣＰの測定を、遅延プロファイルと選択パス位置から、ＳＩＲの測定と並行して同時に行うことができる。
【００２８】
（１１）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構成において、前記測定手段は、前記干渉電力測定手段によって測定された干渉電力を用いて干渉信号コード電力を測定するＩＳＣＰ測定手段、をさらに有する構成を採る。
【００２９】
この構成によれば、測定された干渉電力を用いて干渉信号コード電力（ＩＳＣＰ：ＩｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅＳｉｇｎａｌＣｏｄｅＰｏｗｅｒ）（３ＧＰＰＴＤＤではタイムスロットＩＳＣＰと呼ばれる）を測定するため、たとえば、３ＧＰＰＴＤＤの測定項目であるタイムスロットＩＳＣＰの測定を、遅延プロファイルと選択パス位置から、ＳＩＲの測定と並行して同時に行うことができる。
【００３０】
（１２）本発明の移動局装置は、上記構成のいずれかに記載のＳＩＲ測定装置を有する構成を採る。
【００３１】
この構成によれば、上記と同様の作用効果を有する移動局装置を提供することができる。
【００３２】
（１３）本発明の基地局装置は、上記構成のいずれかに記載のＳＩＲ測定装置を有する構成を採る。
【００３３】
この構成によれば、上記と同様の作用効果を有する基地局装置を提供することができる。
【００３４】
（１４）本発明のＳＩＲ測定方法は、受信信号に含まれる既知信号を用いて遅延プロファイルを作成する作成ステップと、作成した遅延プロファイルを用いて実在するパスを選択する選択ステップと、受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成ステップと、作成した遅延プロファイル、選択したパスの位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩＲを測定する測定ステップと、を有するようにした。
【００３５】
この方法によれば、遅延プロファイル、選択パス位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩＲを測定するため、たとえば、ＪＤ復調処理を待たずにＳＩＲを測定することができ、つまり、下りタイムスロットを受信した後すぐにＳＩＲを測定することができ、送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロットに間に合わせることができる。しかも、その際、選択パス位置によって信号成分と干渉成分を分けることができるため、干渉除去後のＳＩＲを測定することができる。すなわち、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で測定することができる。
【００３６】
（１５）本発明のＳＩＲ測定方法は、上記方法において、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードに応じて、干渉除去後のＳＩＲを測定するための演算式を切り替えるようにした。
【００３７】
この方法によれば、アロケーションモードごとに測定方法を切り替えるため、アロケーションモードが異なる場合でも１つの装置でＳＩＲを測定することができる。
【００３８】
（１６）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにした。
【数１０】

ただし、
Ｎ_ｐ：パス数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｏｗｎ}：自ユーザの拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電力
Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｔｏｔａｌ}：各拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電力の全拡散コード分の合計電力
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
【００３９】
この方法によれば、アロケーションモードが共通ミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【００４０】
（１７）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行い、信号電力に対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定するようにした。
【数１１】

【００４１】
この方法によれば、上記（１６）の方法に加えて、さらに、選択パス同士の干渉による影響を除去するように信号電力を補正するため、信号電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度を高めることができる。
【００４２】
（１８）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行うとともに、干渉電力に対して自己相関成分による影響を除去するための補正を行い、信号電力および干渉電力に対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定するようにした。
【数１２】

【００４３】
この方法によれば、上記（１７）の方法に加えて、さらに、自己相関成分による影響を除去するように干渉電力を補正するため、干渉電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【００４４】
（１９）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行うとともに、干渉電力に対して自己相関成分による影響を除去するための補正および受信フィルタによる影響を除去するための補正を行い、信号電力および干渉電力に対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定するようにした。
【数１３】

ただし、
Ｎ_ｐ'：同一パスとみなされる範囲のパス数
【００４５】
この方法によれば、上記（１８）の方法に加えて、さらに、受信フィルタ（たとえば、ロールオフフィルタ）による影響を除去するように干渉電力を補正するため、干渉電力の測定精度がさらに向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【００４６】
（２０）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行うとともに、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトおよび自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトを用いて干渉電力を測定し、測定した干渉電力に対して自己相関成分による影響を除去するための補正および受信フィルタによる影響を除去するための補正を行い、信号電力および干渉電力に対する当該補正後の、干渉除去後のＳＩＲを、次の式により測定するようにした。
【数１４】

ただし、
Ｎ_Ｋ _all：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ：ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_ｐｋ'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数
ＤＰ_ｋ(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力
【００４７】
この方法によれば、上記（１９）の方法に加えて、さらに、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルに加えて自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを用いて干渉電力を測定するため、干渉電力の測定範囲が拡大され、動特性の伝搬路の場合においても、干渉電力の測定精度が改善され、ＳＩＲの測定精度をさらに改善することができる。
【００４８】
（２１）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに複数のユーザに使用可能な複数のミッドアンブル部を割り当てるデフォルトミッドアンブルの場合、ミッドアンブル部ごとにＳＩＲを計算し、得られた計算結果を平均することにより、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにした。
【数１５】

【数１６】

ただし、
ＳＩＲ_ｋ：ミッドアンブルｋのＳＩＲ
Ｎ_Ｋ：多重されている総ミッドアンブルシフト数
Ｋ：多重されている総ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_ｐｋ：ミッドアンブルｋのパス数
Ｎ_ｐｋ'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数
Ｎ_{ｃｏｄｅ，ｋ}：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散コード数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ_ｋ(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ _ｋ (j) ：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
Ｎ_Ｋ _all：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_Ｋ _own：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト数
Ｋ_ｏｗｎ：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの集合
【００４９】
この方法によれば、アロケーションモードがデフォルトミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【００５０】
（２２）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに複数のユーザで使用可能な複数のミッドアンブル部を割り当てるデフォルトミッドアンブルの場合、ミッドアンブル部ごとに信号電力および干渉電力を計算し、それぞれの計算結果を平均することにより、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにした。
【数１７】

ただし、
Ｎ_Ｋ _own：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト数
Ｋ_ｏｗｎ：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_Ｋ _all：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_ｐｋ：ミッドアンブルｋのパス数
Ｎ_ｐｋ'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数
Ｎ_{ｃｏｄｅ，ｋ}：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散コード数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ_ｋ(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ_ｋ(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
【００５１】
この方法によれば、アロケーションモードがデフォルトミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【００５２】
（２３）本発明のＳＩＲ測定方法は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットにおのおの１ユーザのみで使用可能な複数のミッドアンブル部を割り当てるＵＥ個別ミッドアンブルの場合、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにした。
【数１８】

ただし、
Ｎ_ｐ：パス数
Ｎ_ｐ'：同一パスとみなされる範囲のパス数
Ｎ_ｃｏｄｅ：割り付けられている拡散コード数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
Ｎ_Ｋ _all：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合
【００５３】
この方法によれば、アロケーションモードがＵＥ個別ミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【００５４】
【発明の実施の形態】
本発明の骨子は、ミッドアンブル部を用いて遅延プロファイルを作成し、この遅延プロファイルと推定したパス位置とを用いてＳＩＲを測定することにより、ＪＤ復調を行わずに干渉除去後のＳＩＲを求めることである。これにより、下りスロット受信後すぐに送信電力制御（ＴＰＣ）ビットの計算を行うことができ、ＴＰＣビットの計算を次の上りタイムスロットの送信に間に合わせることができる。
【００５５】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、ここでは、本発明をＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムに適用した場合を例にとって説明する。
【００５６】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係るＳＩＲ測定装置の構成を示すブロック図である。
【００５７】
図１に示すＳＩＲ測定装置１００は、大別して、アンテナ１１０、無線受信部１２０、ＪＤ復調部１３０、およびＳＩＲ測定部１４０を有する。ＪＤ復調部１３０は、相関処理部１３１、遅延プロファイル作成部１３２、パス選択部１３３、ＲＡＫＥ合成部１３４、およびＪＤ演算部１３５で構成されている。
【００５８】
アンテナ１１０で受信された無線信号は、無線受信部１２０で、ダウンコンバートなどの所定の受信処理が施されてベースバンド信号に変換される。無線受信部１２０には、図示しない受信フィルタ（たとえば、ロールオフフィルタ）が設けられている。無線受信部１２０で得られたベースバンド信号は、ＪＤ復調部１３０へ出力される。
【００５９】
ＪＤ復調部１３０は、受信信号のＪＤ復調を行う。具体的には、まず、相関処理部１３１で、受信信号に含まれる既知信号（ここでは、下りタイムスロットのミッドアンブル部）を用いて相関処理を行った後、この相関処理結果を用いて遅延プロファイル作成部１３２で遅延プロファイルを作成し、この遅延プロファイルを用いてパス選択部１３３で所定のしきい値処理により実在するパスを選択（推定）する。このパス選択結果は、ＲＡＫＥ合成部１３４およびＪＤ演算部１３５へ出力される。ＲＡＫＥ合成部１３４では、パス選択結果を用いて受信信号のＲＡＫＥ合成を行う。ＪＤ演算部１３５では、ＲＡＫＥ合成結果とパス選択結果を用いてＪＤ演算を行い、干渉が除去された復調信号を得る。ＪＤ演算部１３５で得られた干渉除去後の復調信号は、図示しない復号部へ送られる。
【００６０】
ＳＩＲ測定部１４０は、ＪＤ復調部１３０でそれぞれ得られる遅延プロファイル、選択パス位置、ＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて、ＪＤ復調処理の終了を待たずに、干渉除去後のＳＩＲを測定する。ＳＩＲ測定部１４０には、遅延プロファイル作成部１３２から遅延プロファイルが、パス選択部１３３から選択パス位置が、ＲＡＫＥ合成部１３４からＲＡＫＥ合成後の受信電力がそれぞれ入力さえる。また、ＳＩＲ測定部１４０には、拡散率およびアロケーションモードに加えて、ＪＤ演算部１３５からコード情報が入力される。コード情報は、ＪＤ演算の途中段階で得られる。ＳＩＲ測定部１４０の測定結果は、図示しない送信電力制御（ＴＰＣ）ビット計算部へ送られる。
【００６１】
図２は、ＳＩＲ測定部１４０の構成の一例を示すブロック図である。
【００６２】
ＳＩＲ測定部１４０は、図２に示すように、信号電力測定部１４２、干渉電力測定部１４４、信号電力補正部１４６、干渉電力補正部１４８、およびＳＩＲ演算部１５０を有する。信号電力測定部１４２は、遅延プロファイルと選択パス位置を用いて信号電力を測定し、干渉電力測定部１４４は、遅延プロファイルと選択パス位置を用いて干渉電力を測定する。信号電力補正部１４６と干渉電力補正部１４８は、測定精度を上げるための補正を行う。そのため、たとえば、信号電力補正部１４６にはコード情報が入力され、干渉電力補正部１４８には自己相関値が入力される。ＳＩＲ演算部１５０は、信号電力と干渉電力の比を計算し、データ部のＳＩＲに変換する。具体的には、たとえば、信号電力、干渉電力、ＲＡＫＥ合成後の受信電力、アロケーションモード、および拡散率を用いて、所定の演算式により、ＳＩＲを算出する。
【００６３】
次いで、上記構成を有するＳＩＲ測定部１４０によって実現されるＳＩＲ測定方法について、詳細に説明する。
【００６４】
まず、ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムで用いられるミッドアンブルアロケーションモード（ＭｉｄａｍｂｌｅＡｌｌｏｃａｔｉｏｎＭｏｄｅ）（以下単に「アロケーションモード」という）について説明する。ＳＩＲ測定方法（演算式）は、後で詳述するように、アロケーションモードごとに異なる。
【００６５】
ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムのアロケーションモードには、共通ミッドアンブル（ＣｏｍｍｏｎＭｉｄａｍｂｌｅ）、デフォルトミッドアンブル（ＤｅｆａｕｌｔＭｉｄａｍｂｌｅ）、ＵＥ個別ミッドアンブル（ＵＥＳｐｅｃｉｆｉｃＭｉｄａｍｂｌｅ）の３つがある。
【００６６】
図３は、共通ミッドアンブルのタイムスロットの一例を示す図である。共通ミッドアンブルの場合、図３に示すように、１つのタイムスロットに１つのミッドアンブルしかなく、データ部には複数のユーザのデータが１または複数のコードで多重されている。このとき、多重されたデータ部の電力とミッドアンブル部の電力とは等しい。
【００６７】
図４は、デフォルトミッドアンブルのタイムスロットの一例を示す図である。デフォルトミッドアンブルの場合、図４に示すように、１つのタイムスロットに複数のミッドアンブルが存在し、複数のユーザが複数のミッドアンブルを使用する。また、各ミッドアンブルに対して、データが１つまたは複数のコードで多重されており、そのデータ部の電力と当該ミッドアンブルの電力とは等しい。
【００６８】
図５は、ＵＥ個別ミッドアンブルのタイムスロットの一例を示す図である。ＵＥ個別ミッドアンブルの場合、図５に示すように、１つのタイムスロットに複数のミッドアンブルが存在し、複数のユーザがそれぞれ１つのミッドアンブルを使用する。また、各ミッドアンブルに対して、データが１つまたは複数のコードで多重されており、そのデータ部の電力と当該ミッドアンブルの電力とは等しい。
【００６９】
以下、各アロケーションモードに対して、具体的に、ミッドアンブル部を用いたＳＩＲ測定方法について説明する。ここでは、まず、タイムスロットの構造が比較的簡単な共通ミッドアンブルの場合について説明し、その後、他のアロケーションモードについて順次説明する。
【００７０】
ここで、仮定する条件は次のとおりである。
１）ミッドアンブル相関演算時に干渉成分は平均で１／ｐｇに抑圧される。ｐｇは、相関をとるミッドアンブル長（ミッドアンブル部のチップ数）であり、ＴＤ−ＳＣＤＭＡの場合、１２８となる。
２）ミッドアンブル相関のパス位置以外のところには干渉成分が現れている。
３）自セル内の干渉は、ＪＤで完全に除去可能である。ＪＤの干渉除去が不完全であることを考慮する場合は、干渉除去率（たとえば、０．８など）を導入すればよい。
【００７１】
なお、本実施の形態では、ミッドアンブル部を用いてＳＩＲを測定するが、本発明はこれに限定されるわけではない。ミッドアンブル部に代えて他のパイロット信号（既知信号）を用いることも可能である。
【００７２】
共通ミッドアンブルを用いたＳＩＲ測定
まず、基本的なＳＩＲ算出方法について説明する。
【００７３】
図６は、遅延プロファイルの一例を示す図である。この遅延プロファイルは、遅延プロファイル作成部１３２で、ミッドアンブル部を用いて作成される。図６において、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３は信号成分と、Ｎ１〜Ｎ６は干渉成分とそれぞれみなすことができる。
【００７４】
ここで、Ｎ_ｐをパス数、Ｗを遅延プロファイル長、ＤＰ（ｉ）を遅延プロファイルのｉチップ目の電力、ＤＰ（ｊ）を遅延プロファイルのｊチップ目の電力、Ｐを実在パスの集合とすると、ミッドアンブル部のＳＩＲは、次の（式１）、
【数１９】

で求められる。
【００７５】
図６の例では、（式１）の分子の信号電力は、実在パス位置であるＰ１、Ｐ２、Ｐ３の合計になり、分母の干渉電力は実在パス位置でないＮ１〜Ｎ６の平均になる。また、Ｎ_ｐ＝３、Ｗ＝９である。なお、干渉電力について平均をとるのは、同相でないためである。
【００７６】
そして、ミッドアンブル部で測定したＳＩＲをデータ部のＳＩＲに換算するために、ミッドアンブル部の信号電力をデータ部の１コード、１シンボル当たりの信号電力にする必要がある。共通ミッドアンブルのタイムスロットは、たとえば、上記図３に示すとおりである。
【００７７】
まず、ミッドアンブル部の信号電力をデータ部の１コード当たりの信号電力に変換する。上記のように、データ部は、複数の拡散コードで多重されており、多重された信号の電力の総和は、ミッドアンブル部の電力と等しい。そのため、ＪＤ演算部１３５でのコード判定時に作成された使用コードのＲＡＫＥ合成結果の比を用いて、ミッドアンブル部の電力から自ユーザの受信コード電力を算出することができる。すなわち、ミッドアンブル部の信号電力をＰ_{ＲＡＫＥ＿ｏｗｎ}／Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｔｏｔａｌ}倍する。ここで、Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｏｗｎ}は、自ユーザの拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電力、Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｔｏｔａｌ}は、各拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電力の全拡散コード分の合計電力である。なお、自ユーザが複数の拡散コードを使用していた場合は、自ユーザが使用していた全コードの受信コード電力の平均値をＰ_{ＲＡＫＥ＿ｏｗｎ}とする。
【００７８】
次に、１シンボル当たりの信号電力に換算する。ミッドアンブル部ではｐｇの処理利得があるが、データ部では拡散率ＳＦ（ＳｐｒｅａｄｉｎｇＦａｃｔｏｒ）の処理利得しかない。よって、ＳＦ／ｐｇ倍する。
【００７９】
以上から、データ部のＳＩＲは、次の（式２）、
【数２０】

で表される。これが、ＳＩＲ測定の基本式となる。
【００８０】
ここで、（式２）を用いて、図７に示すシミュレーション条件の下でＳＩＲ測定シミュレーションを行ったところ、図８に示すシミュレーション結果（基本ＳＩＲ測定特性）が得られた。
【００８１】
次に、測定精度を上げるための各種補正を行う。補正には、信号電力の補正（選択パス同士の干渉による影響の除去）、干渉電力の補正（自己相関成分による影響の除去）、干渉電力の補正（ロールオフフィルタによる影響の除去）、干渉電力測定範囲の拡大（動特性の伝搬路に対する改善策）がある。以下、順に説明する。
【００８２】
まず、信号電力の補正（選択パス同士の干渉による影響の除去）について、図９を用いて説明する。図９は、パス同士の干渉を説明するための図である。
【００８３】
図９に示すように、各パスの測定された信号電力には他のパスからの干渉成分も含まれている。たとえば、その電力は、
パス１に含まれるパス２からの干渉成分：Ｐ２×１／ｐｇ
パス１に含まれるパス３からの干渉成分：Ｐ３×１／ｐｇ
となる。
【００８４】
これらの干渉成分の位相はランダムであるため、他のパスからの干渉成分の合計は、これらの電力の次元での加算でよい。よって、パス１の本当の電力は、
Ｐ１−（Ｐ２×１／ｐｇ＋Ｐ３×１／ｐｇ）
となる。同様に、パス２の本当の電力、パス３の本当の電力は、それぞれ、
Ｐ２−（Ｐ３×１／ｐｇ＋Ｐ１×１／ｐｇ）
Ｐ３−（Ｐ１×１／ｐｇ＋Ｐ２×１／ｐｇ）
となる。
【００８５】
したがって、補正後の信号電力は、
Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３−（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）×１／ｐｇ×（Ｎ_ｐ−１）＝（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）×（１−（Ｎ_ｐ−１）／ｐｇ）
となる。
【００８６】
以上から、信号電力補正後のＳＩＲの一般式は、次の（式３）、
【数２１】

で表される。
【００８７】
このように、選択パス同士の干渉による影響を除去するように信号電力を補正することにより、信号電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度を高めることができる。
【００８８】
次に、干渉電力の補正（自己相関成分による影響の除去）について説明する。
【００８９】
図９に示すように、測定された干渉電力には自己相関により生じた電力が含まれている。よって、自セル内干渉除去後の干渉電力を求めるためには、測定された干渉電力から信号電力成分（好ましくは、補正後の信号電力成分）を差し引く必要がある。たとえば、信号電力成分は、
干渉信号電力に含まれるパス１の成分：Ｐ１×１／ｐｇ
干渉信号電力に含まれるパス２の成分：Ｐ２×１／ｐｇ
干渉信号電力に含まれるパス３の成分：Ｐ３×１／ｐｇ
となる。
【００９０】
したがって、本当の干渉信号電力は、
（Ｎ１〜Ｎ６の平均）−（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）×１／ｐｇ
となる。さらに、上述した信号電力の補正を考慮すると、（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）を（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）×（１−（Ｎ_ｐ−１）／ｐｇ）に置き換えて、
（Ｎ１〜Ｎ６の平均）−（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）×（１−（Ｎ_ｐ−１）／ｐｇ）
となる。
【００９１】
以上から、信号電力の補正に加えて干渉電力補正（自己相関成分による影響除去）後のＳＩＲの一般式は、次の（式４）、
【数２２】

で表される。
【００９２】
このように、自己相関成分による影響を除去するように干渉電力を補正することにより、干渉電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【００９３】
なお、実際には、信号電力成分の干渉信号電力に対する影響は１／ｐｇではなく、ミッドアンブルに依存する傾向があるため、基本ミッドアンブル（ＢａｓｉｃＭｉｄａｍｂｌｅ）から自己相関値を算出している。
【００９４】
ここで、補正後の（式４）を用いてＳＩＲ測定シミュレーションを行ったところ、図１０に示すシミュレーション結果（補正後のＳＩＲ測定特性）が得られた。図１０に示すように、高いＳＩＲ付近でずれが生じている。これは、ロールオフフィルタにより信号電力がひずみ、干渉電力に影響を与えているためであると考えられる。
【００９５】
そこで、次に、さらなる干渉電力の補正（ロールオフフィルタによる影響の除去）について、図１１を用いて説明する。図１１は、ロールオフフィルタの影響を説明するための図である。
【００９６】
図１１に示すように、オーバサンプリングされた遅延プロファイルでは、ロールオフフィルタの影響により、ピーク（パス位置）以外にも信号成分が現れる。この信号成分が干渉成分に含まれてしまうため、これを補正する必要がある。
【００９７】
具体的な補正方法としては、ロールオフフィルタの影響は選択パス位置付近の数チップ分の範囲に大きく現れるため（たとえば、図１１のＰ１’、Ｐ２’、Ｐ３’）、選択パス位置付近での干渉電力を干渉電力の計算に含めないようにする方法をとる。ここで、Ｎｐ’を同一パスとみなされる範囲のパス数とすると、干渉電力補正（ロールオフフィルタによる影響除去）後のＳＩＲの一般式は、次の（式５）、
【数２３】

で表される。
【００９８】
ここで、同一パスとみなす範囲を決めるに当たって、フィルタのインパルス応答の電力の広がりを調べた。図１２は、フィルタのインパルス応答の波形を示す図であり、図１３は、同一パスとみなした範囲のチップ数に対する同一パス内電力と総電力の比（同一パス範囲内電力比）を示す図である。図１３に示すように、同一パスとみなす範囲を広くするほどフィルタの影響は少なくなっていくが、他方で、同一パスとみなす範囲を広くするほど干渉電力を測定する範囲が狭くなるため、除外範囲をできるだけ小さくしてフィルタの影響を取り除く必要がある。そこで、たとえば、図１３の例の場合、３チップを同一パス範囲とするのが好ましい。
【００９９】
３チップを同一パス範囲として補正後の（式５）を用いてＳＩＲ測定シミュレーションを行ったところ、図１４に示すシミュレーション結果（ロールオフフィルタの補正を行った後のＳＩＲ測定特性）が得られた。このシミュレーション結果によれば、先のシミュレーション結果（図８、図９参照）と比較して、高いＳＩＲ付近でのずれが補正され全体的に理論値に近いＳＩＲ測定特性になっていることがわかる。
【０１００】
このように、ロールオフフィルタによる影響を除去するように干渉電力を補正することにより、干渉電力の測定精度がさらに向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【０１０１】
さらに、伝搬路によるＳＩＲ測定特性の違いを調べた。図１５、図１６、図１７は、それぞれ、伝搬路が動特性である場合の、（式５）を用いたＳＩＲ測定シミュレーションの結果を示している。図１５は、伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース１）の一例を示し、図１６は、伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース２）の一例を示し、図１７は、伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース３）の一例を示している。図１８は、各ケース１〜３の伝搬路特性を示す図である。これを見ると、図１６に示すケース２の場合に、測定精度の劣化が生じている。これは、遅延波の間隔が広がったマルチパス状態では、干渉電力の測定範囲（Ｗ−Ｎｐ’）が少ないため、干渉電力の測定精度が劣化したためであると考えられる。
【０１０２】
そこで、次に、干渉電力測定範囲の拡大（動特性の伝搬路に対する改善策）について説明する。
【０１０３】
上記のように、遅延波の間隔が広がったマルチパス状態では、干渉電力を平均化する範囲（Ｗ−Ｎｐ’）が少ないため、干渉電力の測定精度が劣化したと考えられる。そこで、干渉電力を平均化する範囲を増やすために、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト（ＭｉｄａｍｂｌｅＳｈｉｆｔ）により作成された遅延プロファイルに加えて、自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトにより作成された遅延プロファイルを利用する。
【０１０４】
アロケーションモードが共通ミッドアンブルの場合、遅延プロファイルには１つのミッドアンブルシフトの相関値が現れる。１スロット内にあるミッドアンブルシフト（ミッドアンブル）は、１つの基本ミッドアンブルから生成される。このため、遅延プロファイルを作成する際に、すべてのミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを一度に作成することができる。
【０１０５】
図１９は、共通ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例を示す図である。図１９に示すように、使用されているミッドアンブルシフトがミッドアンブル（２）の場合、作成された遅延プロファイルのミッドアンブル（２）の部分のみに相関値が現れている。使用されていないミッドアンブルシフト（ミッドアンブル（１）、ミッドアンブル（３）〜ミッドアンブル（８））には、信号電力は現れず、干渉電力のみが現れている。そこで、他のミッドアンブルシフトにより作成された遅延プロファイルの干渉電力を平均化することで、干渉電力の測定範囲を拡大する。
【０１０６】
これにより、補正（干渉電力測定範囲拡大）後のＳＩＲの一般式は、次の（式６）、
【数２４】

で表される。ただし、Ｎ_Ｋａｌｌは、ミッドアンブルシフト数、Ｋ_ａｌｌは、ミッドアンブルシフトの集合、Ｎ_ｐｋ’は、ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数、ＤＰ_ｋ（ｊ）は、ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力である。
【０１０７】
ここで、伝搬路特性が動特性ケース２の場合において、補正後の（式６）を用いてＳＩＲ測定シミュレーションを行ったところ、図２０に示すシミュレーション結果（遅延プロファイル長の違いによるＳＩＲ測定特性）が得られた。図２０によれば、干渉電力の測定範囲を拡大するにつれてＳＩＲの測定精度が改善されていることがわかる。
【０１０８】
このように、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルに加えて自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを用いて干渉電力を測定することにより、干渉電力の測定範囲が拡大され、動特性の伝搬路の場合においても、干渉電力の測定精度が改善され、ＳＩＲの測定精度を改善することができる。
【０１０９】
なお、この方法は、共通ミッドアンブルの場合だけでなく、他のアロケーションモードでも使用可能である。図２１は、デフォルト（ＵＥ個別）ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例を示す図である。この場合、図２１に示すように、１タイムスロットに複数のミッドアンブルが使用されており、各ミッドアンブルで作成された遅延プロファイルにおいて、選択パス範囲以外に干渉電力が現れている。よって、他のミッドアンブルで作成された遅延プロファイルの選択パス範囲以外では、干渉電力を測定することができる。これにより、干渉電力の測定範囲が拡大され、干渉電力の測定精度が改善される（後述する（式７）〜（式１０）参照）。
【０１１０】
デフォルトミッドアンブルを用いたＳＩＲ測定
デフォルトミッドアンブルの場合、１ユーザが複数のミッドアンブルを使用する可能性がある（図４参照）。そこで、この場合、ＳＩＲ算出方法として、大きく分けて次の２つの方法、つまり、
ａ）ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算し、それを平均する方法、
ｂ）ミッドアンブルごとに信号電力を計算して平均したものをＳとし、ミッドアンブルごとに干渉電力を計算して平均したものをＩとし、両者（ＳとＩ）の比をとる方法、
が考えられる。ＳＩＲの計算は、他ユーザも含めた全遅延プロファイルのパスを用いて、共通ミッドアンブルの場合と同様に行うことができる。以下、それぞれの方法について順に説明する。
【０１１１】
ａ）ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算し、それを平均する方法
この方法では、まず、各ミッドアンブルに対して共通ミッドアンブルの場合と同様にＳＩＲを計算する。このとき、分子の干渉電力の補正項のパスには他のミッドアンブルのパス（他ユーザの信号成分）も含めるようにする。
【０１１２】
ここで、ＳＩＲ_ｋをミッドアンブルｋのＳＩＲ、Ｎ_Ｋを多重されている総ミッドアンブルシフト数、Ｋを多重されている総ミッドアンブルシフトの集合、Ｎ_ｐｋをミッドアンブルｋのパス数、Ｎ_ｐｋ’をミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数、Ｎ_{ｃｏｄｅ，ｋ}をミッドアンブルｋに割り付けられている拡散コード数、Ｗを遅延プロファイル長、ＤＰ_ｋ（ｉ）をミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電力、Ｐを実在パスの集合、ＳＦを拡散率、ｐｇをミッドアンブル部のチップ数、Ｎ_Ｋａｌｌをミッドアンブルシフト数、Ｋ_ａｌｌをミッドアンブルシフトの集合とすると、ミッドアンブルｋから求められるＳＩＲは、次の（式７）、
【数２５】

で表される。
【０１１３】
このＳＩＲを自ユーザが使用している全ミッドアンブルコードについて計算し、それを平均すること、つまり、次の（式８）、
【数２６】

により、デフォルトミッドアンブルのＳＩＲが算出される。ここで、Ｎ_Ｋｏｗｎは、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト数、Ｋ_ｏｗｎは、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの集合である。（式７）と（式８）が、本方法によるＳＩＲ測定の一般式（共通ミッドアンブルの場合と同様の上記各種補正後の式）となる。
【０１１４】
たとえば、図４に示すデフォルトミッドアンブルのタイムスロットの例において、本方法における具体的な遅延プロファイルの一例を図２２に示す。ここでは、自ユーザがミッドアンブル（２）とミッドアンブル（４）を使用していると仮定する。この場合、ミッドアンブル（２）とミッドアンブル（４）でそれぞれＳＩＲを算出する。その際、１つのミッドアンブルで複数のコードが多重されている場合、１コード当たりの信号電力の平均を出すためにコード数で割る必要がある。各ＳＩＲ_ｋを算出した後、それらの平均をとる。
【０１１５】
ｂ）ミッドアンブルごとに信号電力と干渉電力を計算し、それぞれを平均する方法
この方法では、分子の信号成分は、自ユーザが使用するミッドアンブルコードごとの信号電力の平均となる。また、分母の干渉電力は、自ユーザが使用するミッドアンブルコードごとの干渉電力の平均から全ユーザ分の信号電力補正分を差し引いたものとなる。
【０１１６】
すなわち、本方法によるＳＩＲ測定の一般式（共通ミッドアンブルの場合と同様の上記各種補正後の式）は、次の（式９）、
【数２７】

で表される。ただし、Ｎ_Ｋｏｗｎは、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト数、Ｋ_ｏｗｎは、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの集合、Ｎ_Ｋａｌｌは、ミッドアンブルシフト数、Ｋ_ａｌｌは、ミッドアンブルシフトの集合、Ｎ_ｐｋは、ミッドアンブルｋのパス数、Ｎ_ｐｋ’は、ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数、Ｎ_{ｃｏｄｅ，ｋ}は、ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散コード数、Ｗは、遅延プロファイル長、ＤＰ_ｋ（ｉ）は、ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電力、ＤＰ_ｋ（ｊ）は、ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力、Ｐは、実在パスの集合、ＳＦは、拡散率、ｐｇは、ミッドアンブル部のチップ数である。
【０１１７】
図２３は、本方法における具体的な遅延プロファイルの一例を示す図である。ここでは、信号電力をミッドアンブル（２）とミッドアンブル（４）の信号電力の和とする。干渉電力は、全ミッドアンブルの干渉電力の和とする。ミッドアンブル（２）、ミッドアンブル（４）、ミッドアンブル（６）、ミッドアンブル（７）の信号電力からパス間での干渉成分を算出し、上記干渉電力の和から差し引くことにより、補正を行う。そして、こうして求めた信号電力と干渉電力の比をとって、ＳＩＲを算出する。
【０１１８】
ＵＥ個別ミッドアンブルを用いたＳＩＲ測定
ＵＥ個別ミッドアンブルの場合、１ユーザが１つのミッドアンブルを使用する。また、自ユーザのコードのみでＪＤを行うため、他ユーザの干渉除去が行われず、他ユーザの信号電力による干渉電力の補正は不要である。したがって、ＳＩＲ測定の一般式（共通ミッドアンブルの場合と同様の上記各種補正後の式）は、次の（式１０）、
【数２８】

で表される。ただし、Ｎ_ｐは、パス数、Ｎ_ｐ’は、同一パスとみなされる範囲のパス数、Ｎ_ｃｏｄｅは、割り付けられている拡散コード数、Ｗは、遅延プロファイル長、ＤＰ（ｉ）は、遅延プロファイルのｉチップ目の電力、ＤＰ（ｊ）は、遅延プロファイルのｊチップ目の電力、Ｐは、実在パスの集合、ＳＦは、拡散率、ｐｇは、ミッドアンブル部のチップ数、Ｎ_Ｋａｌｌは、ミッドアンブルシフト数、Ｋ_ａｌｌは、ミッドアンブルシフトの集合である。
【０１１９】
たとえば、図５のＵＥ個別ミッドアンブルのタイムスロットの例に示すように、この場合、複数のミッドアンブルが多重されており、各ユーザは１つのミッドアンブルを用いており、その際、複数のコードでデータ部を多重している。
【０１２０】
以上のように、本実施の形態によれば、遅延プロファイル、選択パス位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩＲを測定するため、たとえば、ＪＤ復調処理の終了を待たずにＳＩＲを測定することができ、つまり、下りタイムスロットを受信した後すぐにＳＩＲを測定することができ、送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロットに間に合わせることができる。しかも、その際、ミッドアンブル部を用いて遅延プロファイルを作成するため、データ部を利用する従来のＳＩＲ測定法に比べて処理利得が大きく、高い精度でＳＩＲを測定することができるとともに、選択パス位置によって信号成分と干渉成分を分けることができるため、干渉除去後のＳＩＲを測定することができる。すなわち、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【０１２１】
なお、本実施の形態の変更例として、アロケーションモードごとにＳＩＲの測定方法を切り替えることが考えられる。具体的には、あらかじめ各アロケーションモード（共通ミッドアンブル、デフォルトミッドアンブル、ＵＥ個別ミッドアンブル）に対応する演算式（たとえば、上記の（式６）〜（式１０））を記憶しておき、スロットごとに、指定されたアロケーションモードに対応する演算式を選択し、選択された演算式によりＳＩＲの演算を行うようにする。これにより、アロケーションモードが異なる場合でも１つの装置でＳＩＲを測定することができる。
【０１２２】
（実施の形態２）
図２４は、本発明の実施の形態２に係るＳＩＲ測定装置のＳＩＲ測定部の構成を示すブロック図である。なお、このＳＩＲ測定装置（およびＳＩＲ測定部）は、図１および図２に示す実施の形態１に対応するＳＩＲ測定装置（およびＳＩＲ測定部）と同様の基本的構成を有しており、同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１２３】
本実施の形態の特徴は、ＳＩＲを測定する際に得られるパラメータを利用して同時に受信信号コード電力（ＲＳＣＰ）および干渉信号コード電力（ＩＳＣＰ）をも算出することである。そのため、ＳＩＲ測定部１４０ａは、さらに、ＲＳＣＰ演算部２１０とＩＳＣＰ演算部２２０を有する。なお、上記のように、Ｐ−ＣＣＰＣＨのＲＳＣＰは、３ＧＰＰＴＤＤの測定項目であり、タイムスロットＩＳＣＰも、３ＧＰＰＴＤＤの測定項目である。
【０１２４】
ＲＳＣＰ演算部２１０は、測定されたＳＩＲの信号電力成分からＲＳＣＰを測定する。具体的には、ＲＳＣＰは、アロケーションモードに応じて、つまり、共通ミッドアンブル、デフォルトミッドアンブル、ＵＥ個別ミッドアンブルに対して、それぞれ、次の（式１１）、（式１２）、（式１３）、
【数２９】

【数３０】

【数３１】

で求められる。
【０１２５】
ＩＳＣＰ演算部２２０は、測定されたＳＩＲの干渉電力成分からＩＳＣＰを測定する。具体的には、ＩＳＣＰは、アロケーションモードに応じて、つまり、共通ミッドアンブル、デフォルトミッドアンブル、ＵＥ個別ミッドアンブルに対して、それぞれ、次の（式１４）、（式１５）、（式１６）、
【数３２】

【数３３】

【数３４】

で求められる。
【０１２６】
このように、本実施の形態によれば、ＲＳＣＰおよびＩＳＣＰの測定を、遅延プロファイルと選択パス位置から、ＳＩＲの測定と並行して同時に行うことができる。
【０１２７】
なお、本実施の形態では、ＲＳＣＰとＩＳＣＰの測定をＳＩＲの測定と並行して同時に行うようにしているが、これに限定されるわけではない。たとえば、ＲＳＣＰとＩＳＣＰのいずれか一方のみを測定することも可能である。また、ＳＩＲの測定と並行して同時に行うことなく、ＲＳＣＰとＩＳＣＰのいずれか一方または両方をＳＩＲの測定と切り離して独立の構成で測定することも可能である。
【０１２８】
上記各実施の形態に係るＳＩＲ測定装置は、移動局装置および／または基地局装置に搭載可能である。
【０１２９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係るＳＩＲ測定装置の構成を示すブロック図
【図２】図１のＳＩＲ測定部の構成の一例を示すブロック図
【図３】共通ミッドアンブルのタイムスロットの一例を示す図
【図４】デフォルトミッドアンブルのタイムスロットの一例を示す図
【図５】ＵＥ個別ミッドアンブルのタイムスロットの一例を示す図
【図６】共通ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例を示す図
【図７】シミュレーション条件の一例を示す図
【図８】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である基本ＳＩＲ測定特性の一例を示す図
【図９】パス同士の干渉を説明するための図
【図１０】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である補正後のＳＩＲ測定特性の一例を示す図
【図１１】ロールオフフィルタの影響を説明するための図
【図１２】フィルタのインパルス応答の波形を示す図
【図１３】同一パスとみなした範囲のチップ数に対する同一パス内電力と総電力の比（同一パス範囲内電力比）を示す図
【図１４】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果であるロールオフフィルタの補正を行った後のＳＩＲ測定特性の一例を示す図
【図１５】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース１）の一例を示す図
【図１６】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース２）の一例を示す図
【図１７】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース３）の一例を示す図
【図１８】図１５〜図１７の各ケース１〜３の伝搬路特性を示す図
【図１９】干渉電力測定範囲を拡大した場合における共通ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例を示す図
【図２０】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である遅延プロファイル長の違いによるＳＩＲ測定特性の一例を示す図
【図２１】干渉電力測定範囲を拡大した場合におけるデフォルト（ＵＥ個別）ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例を示す図
【図２２】ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算し、それを平均する方法における具体的な遅延プロファイルの一例を示す図
【図２３】ミッドアンブルごとに信号電力と干渉電力を計算し、それぞれを平均する方法における具体的な遅延プロファイルの一例を示す図
【図２４】本発明の実施の形態２に係るＳＩＲ測定装置のＳＩＲ測定部の構成を示すブロック図
【符号の説明】
１１０アンテナ
１２０無線受信部
１３０ＪＤ復調部
１３１相関処理部
１３２遅延プロファイル作成部
１３３パス選択部
１３４ＲＡＫＥ合成部
１３５ＪＤ演算部
１４０、１４０ａＳＩＲ測定部
１４２信号電力測定部
１４４干渉電力測定部
１４６信号電力補正部
１４８干渉電力補正部
１５０ＳＩＲ演算部
２１０ＲＳＣＰ演算部
２２０ＩＳＣＰ演算部

Claims

受信信号に含まれる既知信号を用いて遅延プロファイルを作成する作成手段と、
作成された遅延プロファイルを用いて実在するパスを選択する選択手段と、
受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成手段と、
作成された遅延プロファイル、選択されたパスの位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩＲを測定する測定手段と、
を有することを特徴とするＳＩＲ測定装置。
前記既知信号は、各スロットのミッドアンブル部であることを特徴とする請求項１記載のＳＩＲ測定装置。
前記測定手段は、
作成された遅延プロファイルおよび選択されたパスの位置を用いて信号電力を測定する信号電力測定手段と、
作成された遅延プロファイルおよび選択されたパスの位置を用いて干渉電力を測定する干渉電力測定手段と、
測定された信号電力および干渉電力ならびにＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて、所定の演算式により、ＳＩＲを演算する演算手段と、
を有することを特徴とする請求項１記載のＳＩＲ測定装置。
前記測定手段は、
選択されたパス同士の干渉による影響を除去するように、測定された信号電力を補正する信号電力補正手段、をさらに有し、
前記演算手段は、
測定された信号電力に代えて前記信号電力補正手段によって補正された信号電力を用いてＳＩＲの演算を行う、
ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記測定手段は、
自己相関成分による影響を除去するように、測定された干渉電力を補正する第１干渉電力補正手段、をさらに有し、
前記演算手段は、
測定された干渉電力に代えて前記第１干渉電力補正手段によって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行う、
ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記測定手段は、
受信フィルタによる影響を除去するように、測定された干渉電力を補正する第２干渉電力補正手段、をさらに有し、
前記演算手段は、
測定された干渉電力に代えて前記第２干渉電力補正手段によって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行う、
ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記既知信号が各スロットのミッドアンブル部である場合、
前記作成手段は、
自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルおよび自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを作成し、
前記第２測定手段は、
自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイルおよび自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファイルを用いて干渉電力の測定を行う、
ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記既知信号が各スロットのミッドアンブル部である場合、前記演算手段で用いられる演算式は、各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示す各アロケーションモードに応じて異なることを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記既知信号が各スロットのミッドアンブル部である場合、
前記演算手段は、
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示す各アロケーションモードに対応する演算式を記憶する手段と、
指定されたアロケーションモードに対応する演算式を選択する手段と、を含み、
選択された演算式によりＳＩＲの演算を行う、
ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記測定手段は、
前記信号電力測定手段によって測定された信号電力を用いて受信信号コード電力を測定するＲＳＣＰ測定手段、
をさらに有することを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
前記測定手段は、
前記干渉電力測定手段によって測定された干渉電力を用いて干渉信号コード電力を測定するＩＳＣＰ測定手段、
をさらに有することを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
請求項１から請求項１１のいずれかに記載のＳＩＲ測定装置を有することを特徴とする移動局装置。
請求項１から請求項１１のいずれかに記載のＳＩＲ測定装置を有することを特徴とする基地局装置。
受信信号に含まれる既知信号を用いて遅延プロファイルを作成する作成ステップと、
作成した遅延プロファイルを用いて実在するパスを選択する選択ステップと、
受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成ステップと、
作成した遅延プロファイル、選択したパスの位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩＲを測定する測定ステップと、
を有することを特徴とするＳＩＲ測定方法。
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードに応じて、干渉除去後のＳＩＲを測定するための演算式を切り替えることを特徴とする請求項１４記載のＳＩＲ測定方法。
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。

ただし、
Ｎ_ｐ：パス数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｏｗｎ}：自ユーザの拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電力
Ｐ_{ＲＡＫＥ＿ｔｏｔａｌ}：各拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電力の全拡散コード分の合計電力
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行い、信号電力に対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行うとともに、干渉電力に対して自己相関成分による影響を除去するための補正を行い、信号電力および干渉電力に対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行うとともに、干渉電力に対して自己相関成分による影響を除去するための補正および受信フィルタによる影響を除去するための補正を行い、信号電力および干渉電力に対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。

ただし、
Ｎ_ｐ'：同一パスとみなされる範囲のパス数
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに１つのミッドアンブル部のみを割り当てる共通ミッドアンブルの場合、信号電力に対してパス同士の干渉による影響を除去するための補正を行うとともに、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトおよび自ユーザが使用していないミッドアンブルシフトを用いて干渉電力を測定し、測定した干渉電力に対して自己相関成分による影響を除去するための補正および受信フィルタによる影響を除去するための補正を行い、信号電力および干渉電力に対する当該補正後の、干渉除去後のＳＩＲを、次の式により測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。

ただし、
Ｎ_Ｋａｌｌ：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_ｐｋ'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数
ＤＰ_ｋ(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに複数のユーザに使用可能な複数のミッドアンブル部を割り当てるデフォルトミッドアンブルの場合、ミッドアンブル部ごとにＳＩＲを計算し、得られた計算結果を平均することにより、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。

ただし、
ＳＩＲ_ｋ：ミッドアンブルｋのＳＩＲ
Ｎ_Ｋ：多重されている総ミッドアンブルシフト数
Ｋ：多重されている総ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_ｐｋ：ミッドアンブルｋのパス数
Ｎ_ｐｋ'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数
Ｎ_{ｃｏｄｅ，ｋ}：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散コード数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ_ｋ(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ_ｋ(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
Ｎ_Ｋａｌｌ：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_Ｋｏｗｎ：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト数
Ｋ _ｏｗｎ：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの集合
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットに複数のユーザで使用可能な複数のミッドアンブル部を割り当てるデフォルトミッドアンブルの場合、ミッドアンブル部ごとに信号電力および干渉電力を計算し、それぞれの計算結果を平均することにより、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。

ただし、
Ｎ_Ｋｏｗｎ：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト数
Ｋ_ｏｗｎ：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_Ｋａｌｌ：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合
Ｎ_ｐｋ：ミッドアンブルｋのパス数
Ｎ_ｐｋ'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス数
Ｎ_{ｃｏｄｅ，ｋ}：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散コード数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ_ｋ(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ_ｋ(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
各スロットに対するミッドアンブル部の割り当て方法を示すアロケーションモードが、１つのスロットにおのおの１ユーザのみで使用可能な複数のミッドアンブル部を割り当てるＵＥ個別ミッドアンブルの場合、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。

ただし、
Ｎ_ｐ：パス数
Ｎ_ｐ'：同一パスとみなされる範囲のパス数
Ｎ_ｃｏｄｅ：割り付けられている拡散コード数
Ｗ：遅延プロファイル長
ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力
ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力
Ｐ：実在パスの集合
ＳＦ：拡散率
ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
Ｎ_Ｋａｌｌ：ミッドアンブルシフト数
Ｋ_ａｌｌ:ミッドアンブルシフトの集合