JP3281063B2 - Optical disk certification method - Google Patents

Optical disk certification method

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JP3281063B2
JP3281063B2 JP28098092A JP28098092A JP3281063B2 JP 3281063 B2 JP3281063 B2 JP 3281063B2 JP 28098092 A JP28098092 A JP 28098092A JP 28098092 A JP28098092 A JP 28098092A JP 3281063 B2 JP3281063 B2 JP 3281063B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【技術分野】本発明は、光ディスクのサーティファイ方
法に関し、より詳細には、光ディスクドライブ装置ある
いはメディア検査装置におけるサーティファイ方法に関
する。
The present invention relates to a method for certifying an optical disk, and more particularly, to a method for certifying an optical disk drive or a media inspection device.

【0002】[0002]

【従来技術】本発明に係る従来技術を記載した文献とし
ては、例えば、「90mm書換形/再生専用形のフォー
マットとデータ入出力実際」(瀬川秀樹、情報処理、J
an.1992,P48〜54)がある。この文献のも
のは、90mmMO(Magneto-Optics;光磁気)光ディ
スクの内容をレイアウトや欠陥セクタの扱い方を中心に
記載されている。以下、前記文献に基づき、従来の交代
処理方法について説明する。MO光ディスクは、フロッ
ピィディスクやハードディスクと同様に、コンピュータ
の外部メモリとして用いられ、ユーザのデータはディジ
タル信号として記録される。MO光ディスクのデータ領
域は「セクタ」という単位で分割されている。図4に示
すように、データ領域には半径24mmから40mmに
ある10,000本のトラックがあり、1トラックに2
5セクタ含まれるので、250,000セクタがデータ
領域である。しかし、データ領域には、図5のような種
類のセクタがあるので、この250,000セクタの全
てでユーザが自由にデータを記録・再生できるというわ
けではない。
2. Description of the Related Art As a document describing the prior art according to the present invention, for example, "90 mm rewritable / reproduction-only format and data input / output actuality" (Hideki Segawa, Information Processing, J.
an. 1992, pp. 48-54). This document describes the contents of a 90 mm MO (Magneto-Optics; magneto-optical) optical disk, mainly focusing on the layout and how to handle defective sectors. Hereinafter, a conventional replacement processing method will be described based on the above-mentioned document. An MO optical disk is used as an external memory of a computer like a floppy disk or a hard disk, and user data is recorded as a digital signal. The data area of the MO optical disk is divided into units called "sectors". As shown in FIG. 4, there are 10,000 tracks in the data area with a radius of 24 mm to 40 mm, and 2 tracks per track.
Since 5 sectors are included, 250,000 sectors are the data area. However, since the data area has the types of sectors as shown in FIG. 5, the user cannot freely record and reproduce data in all of the 250,000 sectors.

【0003】ROM(Read Only Memory)領域は再生専
用領域である。ROM領域のデータは音楽用CDと同様
に,凹凸のピットで形成されている(Rewritable 領域
のデータは磁性体上の磁化マークで形成されている)。
ROM領域のデータは交代処理ができないので、そのか
わりに「Parity Sector」と呼ばれる特殊なセクタが配
置されている。1セクタのParity Sectorは25セクタ
分のデータから生成される。もし、この25セクタの中
で欠陥などによって、セクタ内にあるECC(Error Co
rrection Code)でも訂正できないデータがある場合で
も、Parity Sectorを用いると訂正することができる。
上述のようなROM領域のレイアウトに関する情報は、 コントロールトラック DDS(Disk Definition Sector) に記録されている。
[0003] A ROM (Read Only Memory) area is a read-only area. The data in the ROM area is formed of uneven pits as in the music CD (the data in the rewritable area is formed by magnetization marks on a magnetic material).
Since data in the ROM area cannot be replaced, a special sector called "Parity Sector" is arranged instead. The parity sector of one sector is generated from data for 25 sectors. If any of the 25 sectors has a defect or the like, an ECC (Error Co
Even if there is data that cannot be corrected even by rrection code, it can be corrected by using Parity Sector.
Information on the layout of the ROM area as described above is recorded in a control track DDS (Disk Definition Sector).

【0004】Rewritableの領域の特徴は「交代処理」が
なされることである。「交代処理」は前述のParity Sec
torのように訂正能力をもったセクタを付加するのでは
なく、エラーが多いセクタのデータをそのまま別のセク
タに移し換える動作を指す。「交代処理」の方式には次
の2方式がある。 Linear replacement 方式 Slipping 方式
[0004] A feature of the Rewritable area is that "alternative processing" is performed. "Replacement processing" is the aforementioned Parity Sec
Rather than adding a sector having a correction capability like tor, this refers to an operation of transferring data of a sector with many errors to another sector as it is. There are the following two methods of the "replacement processing". Linear replacement method Slipping method

【0005】Linear replacement 方式 ユーザが実際にデータを記録・再生する場合はこの方式
で処理交代が行われる。エラーが多く、交代処理されて
しまったセクタを「元セクタ」、交代処理先のセクタを
「交代セクタ」と名付けると、まず、「元セクタ」にユ
ーザが所望のデータを記録した直後に、この記録結果が
正しいかどうかを調ベるために、この元セクタを読む。
その結果、エラーが一定値以下ならば、すなわちECC
で十分に訂正が可能ならば「OK」として、記録動作を
終了するが、エラーが一定値を越えている場合、すなわ
ち、あと少しエラーが増えるだけでECCを用いても訂
正できなくなる場合、「元セクタ」は使用せずに「交代
セクタ」に再記録する(エラーが一定値を越え、交代処
理される必要があるセクタを「Bad sector」と呼ぶ)。
もし、この「交代セクタ」も Bad sector の場合は、次
の交代セクタに再々記録する。
[0005] Linear replacement method When a user actually records and reproduces data, the processing is replaced by this method. If the sector that has been subjected to the replacement process is referred to as the “original sector” and the replacement sector is referred to as the “alternate sector”, first, immediately after the user has recorded the desired data in the “original sector”, The original sector is read to check whether the recording result is correct.
As a result, if the error is below a certain value, that is, ECC
If it is possible to correct the error sufficiently, the recording operation is terminated as "OK". However, if the error exceeds a certain value, that is, if the error cannot be corrected even by using the ECC with a slight increase in the error, " The original sector is not used and is re-recorded in the “alternate sector” (the sector whose error exceeds a certain value and needs to be alternately processed is called “Bad sector”).
If this “replacement sector” is also a bad sector, it is recorded again in the next replacement sector.

【0006】「交代セクタ」は、「交代処理領域」と呼
ばれる領域にまとめてレイアウトされている。また「元
セクタ」と「交代セクタ」のPBA(Physical Block A
ddress;物理アドレス)は、SDL(Secondary Defect
List)に記録され、ドライブはSDLを読むことで、
使用されなかった「元セクタ」と実際に正規に記録が行
われた「交代セクタ」を知ることができる。もともと
「元セクタ」に割り当てようとしていたLBA(Logica
l Block Address;論理アドレス)は「交代セクタ」が
代行することになる。
The "alternate sector" is laid out collectively in an area called an "alternate processing area". In addition, the PBA (Physical Block A)
ddress; physical address) is SDL (Secondary Defect)
List), and the drive reads the SDL,
It is possible to know the “original sector” that has not been used and the “alternate sector” on which the recording has been performed properly. Originally, LBA (Logica
l Block Address (logical address) is replaced by an “alternate sector”.

【0007】Slipping方式 この方式は、ディスクをサーティファイするときに同時
に行われる。サーティファイとは、MO光ディスクを使
用する前に、ディスク全面で「試し記録・再生」を行な
い、Bad secterを抽出する作業である。サーティファイ
によって発生されたBad secterのPBA(物理アドレ
ス)は、PDL(Primary Defect List)に登録され
る。前述の Linear replacement 方式では、「元セク
タ」と「交代セクタ」の二つのPBAだけをSDLに登
録されるが、この Slipping 方式では「元セクタ」のP
BAだけをPDLに登録する。該PDLに登録されたセ
クタに割り当てようとしていたLBA(論理アドレス)
は、このセクタの直後のセクタが代行する。つまり、L
BAが1セクタ後にスリップするのである。
[0007] Slipping method This method is, at the same time takes place when you certify the disk. The certification is an operation of performing "test recording / reproduction" on the entire surface of an MO optical disc before using the MO optical disc to extract a bad secter. The PBA (physical address) of the bad secter generated by the certification is registered in a PDL (Primary Defect List). In the above-described Linear replacement method, only two PBAs of the “original sector” and “alternate sector” are registered in the SDL.
Register only BA in PDL. LBA (logical address) to be allocated to a sector registered in the PDL
Is replaced by the sector immediately after this sector. That is, L
BA slips after one sector.

【0008】Rewritable領域は、「グループ」と呼ばれ
るまとまりに分割される。各々のグループには、「ユー
ザデータ領域」と「交代処理領域」がある。グループの
数が少ないと、一つのユーザデータ領域にあるセクタ数
が多いので、交代処理領域を使用することが少ない場
合、つまりBad sectorが少ない場合は、連続してLBA
が得られるので高速の転送レートとなる。逆にグループ
の数が多いと、「ユーザデータ領域」と「交代処理領域」の
距離が近いので、交代処理領域を使用することが多い場
合でも、レーザ光すなわちピックアップの移動距離が少
なくてすむ。そのため、転送レートを大きく劣化させる
ことがない。
[0008] The Rewritable area is divided into units called "groups". Each group has a “user data area” and a “replacement processing area”. When the number of groups is small, the number of sectors in one user data area is large. Therefore, when the use of the replacement processing area is small, that is, when the bad sector is small, the LBA is continuously
, The transfer rate is high. Conversely, when the number of groups is large, the distance between the “user data area” and the “alternate processing area” is short, so that even when the alternate processing area is frequently used, the moving distance of the laser beam, that is, the pickup, can be reduced. Therefore, the transfer rate does not significantly deteriorate.

【0009】上述のような、グループ分け、Bad sector
の位置などの情報は全てDMA(Defect Management Ar
ea)に記録されている。該DMAはディスクの最内周付
近と最外周付近にそれぞれ3トラックずつ設けられてい
る。DMAには、 DDS(Disk Definition Secter) PDL登録用セクタ SDL登録用セクタ がある。グループ分けの情報は、前記DDSに、また、
Bad sectorの位置および交代セクタの位置は、PDL登
録用セクタ,SDL登録用セクタに記録される。ドライ
ブはディスクに記録・再生する前にこれらの情報をDM
Aから読み取る。以上が前記文献に記載されている交代
処理について標準で定められた方法である。このよう
に、グループの区分としてDDS、Slippeng方法として
登録されるPDL、Linear replacementとして登録され
るSDLがある。
As described above, grouping and bad sector
All information such as the position of the DMA (Defect Management Ar
ea). The DMA is provided with three tracks each near the innermost circumference and the outermost circumference of the disk. The DMA includes a DDS (Disk Definition Secter) PDL registration sector and an SDL registration sector. Grouping information is provided in the DDS,
The position of the bad sector and the position of the replacement sector are recorded in the PDL registration sector and the SDL registration sector. The drive sends this information to the DM before recording / reproducing on the disc.
Read from A. The above is the method defined as a standard for the alternation processing described in the above document. As described above, there are DDS, PDL registered as the slippeng method, and SDL registered as the linear replacement as the group division.

【0010】従来技術の第1の問題点は、PDLを作成
するBad sectorの判断基準についてである。従来は、デ
ィスク全面に渡ってサーティファイを同一の判断基準で
行われていた。ところが、DDS,PDL,SDLなど
が書き込まれるいわゆるDMA領域と一般のデータが書
かれる領域の使われ方が違う。DMA領域は、交代処理
が行われない領域である。従ってメーカーとして一般の
データ領域よりもBadsectorを発生をなくして信頼を高
める必要がある。また一般のデータ領域の中でも例え
ば、DOSデータの領域を管理する情報(IPL,FA
T,ルート・ディレクトリ)が書かれる領域は、データ
領域全体を管理する重要な領域で、このディスクを利用
しようとする場合必ず読み出す部分である。ユーザとし
てもこの部分もBad sectorの発生を少なくして信頼を高
めて欲しいところである。これらの領域は、サーティフ
ァイをする時はもちろんその読み出すときもエラーにな
らないもしくは増加しないことが要求される。一般に、
最初にエラーになったところは、その後エラーが少ない
ことはなくむしろ増加する傾向がある。
A first problem of the prior art is a criterion for determining a Bad sector for creating a PDL. Conventionally, certification has been performed over the entire surface of the disc using the same criteria. However, the use of a so-called DMA area in which DDS, PDL, SDL, etc. are written, and an area in which general data is written are different. The DMA area is an area where replacement processing is not performed. Therefore, as a manufacturer, it is necessary to increase the reliability by eliminating the occurrence of Badsectors compared to general data areas. Also, among the general data areas, for example, information (IPL, FA) for managing the area of the DOS data.
The area in which (T, root directory) is written is an important area for managing the entire data area, and is a part that is always read when trying to use this disk. As a user, we also want this part to reduce the occurrence of bad sectors and increase trust. It is required that these areas do not cause an error or increase not only when performing the certification but also when reading them out. In general,
Where an error first occurs, then the error is not small but tends to increase.

【0011】次に、従来技術の第2の問題点は、サーテ
ィファイを行う特定パターンについてである。従来は、
サーティファイはディスク全面に渡って同一パターンで
行われていた。該パターンは、各種パターンが考えられ
る。例えば、8Tと呼ばれるものは比較的長いエラーを
見つけるのに優れるが、小さなエラーの場合に見逃した
り、実際よりも多くなる場合がある。また、逆に、3T
と呼ばれるものは小さなエラーを見つけるのに優れる
が、大きなエラーを見逃したり、実際よりも少なくなる
場合がある。また、一般にディスクの内周、外周と中周
では発生する欠陥の発生具合が違う。例えば、内周、外
周では製造装置の発塵、材料の不純物等により形状が大
小にかかわらず発生する傾向があり、中周では他の部分
より欠陥が少なく形状も安定している。したがって、場
所によってエラーの発生形態が違う場合もある。したが
って、信頼を高めるためには、それぞれの利用方法と場
所に適した特定パターンを選択することが必要である。
Next, the second problem of the prior art relates to a specific pattern for performing certification. conventionally,
The certification was performed in the same pattern all over the disk. Various patterns can be considered as the pattern. For example, what is referred to as 8T is good at finding relatively long errors, but can be missed or even more than small in the case of small errors. Conversely, 3T
What is called is better at finding small errors, but may miss larger errors or be fewer than they actually are. In general, the degree of occurrence of a defect is different between the inner circumference, the outer circumference, and the middle circumference of the disk. For example, the inner and outer circumferences tend to be generated irrespective of their size due to dust of the manufacturing apparatus, material impurities, and the like, and the middle circumference has fewer defects and a more stable shape than other portions. Therefore, the error occurrence mode may differ depending on the location. Therefore, in order to increase the reliability, it is necessary to select a specific pattern suitable for each use method and place.

【0012】一般にユーザが光ディスクを利用するに
は、DOSというソフトウェアでデータ領域を管理す
る。これは、サーティファイ動作を行った後、フォーマ
ット動作を行って初めて利用出来る。フォーマット動作
は、DDSに書かれた情報に基づいた論理アドレスの一
部にデータ領域を管理する情報(IPL,FAT,ルー
ト・ディレクトリ)を書き込むことである。したがっ
て、サーティファイ動作をする時には書き込む領域が予
め判らない場合がある。
Generally, when a user uses an optical disk, a data area is managed by software called DOS. This can be used only after performing the certify operation and then performing the format operation. The format operation is to write information (IPL, FAT, root directory) for managing the data area in a part of the logical address based on the information written in the DDS. Therefore, when performing the certify operation, the write area may not be known in advance.

【0013】[0013]

【目的】本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされた
もので、ディスクの信頼を高めるために、交代処理に廻
る不良セクタを早く除去し、交代処理をする時間を短縮
すること、すなわち、書き込まれる領域の重要さにより
Bad sector 判断基準よりも厳しくして交代処理に廻る
不良セクタになろうとするものを事前に除去すること、
また、書き込まれる領域の重要さにより特定パターンを
選択して交代処理に廻る不良セクタになろうとするもの
を事前に除去するようにした光ディスクのサーティファ
イ方法を提供することを目的としてなされたものであ
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and in order to enhance the reliability of a disk, it is necessary to quickly remove a defective sector which is used for a replacement process and shorten the time for the replacement process. Depending on the importance of the area to be written
To remove in advance any bad sectors that are more severe than the bad sector criteria and are going to be bad sectors
Also, to provide the importance the certification process of the optical disk was Unishi by you removed in advance what you would bad sectors around the replacement process to select a specific pattern area to be written has been made for the purpose is there.

【0014】[0014]

【構成】本発明は、上記目的を達成するために、(1)
光ディスクに特定パターンを書き込み、ベリファイして
不良セクタを検出し、該不良セクタを使用しないことを
登録する光ディスクのサーティファイ方法において、前
記不良セクタの判断基準を、交代処理が行われない領
域、データ領域の管理情報が書かれる領域、交代処理領
域、ユーザデータ領域によって変えること、或いは、
(2)光ディスクに特定パターンを書き込み、ベリファ
イして不良セクタを検出し、該不良セクタを使用しない
ことを登録する光ディスクのサーティファイ方法におい
て、前記書き込まれる特定パターンを、交代処理が行わ
れない領域、データ領域の管理情報が書かれる領域、交
代処理領域、ユーザデータ領域によって変えることを特
徴としたものである。以下、本発明の実施例に基づいて
説明する。
To achieve the above object, the present invention provides (1)
In a method of certifying an optical disk for writing a specific pattern on an optical disk, verifying the defective sector to detect the defective sector, and registering that the defective sector is not used, the criterion of the defective sector is determined based on an area in which replacement processing is not performed, a data area, Change depending on the area where the management information is written, the replacement processing area, the user data area, or
(2) In the optical disk certification method of writing a specific pattern on the optical disk, verifying the defective sector to detect the defective sector, and registering that the defective sector is not used, the specific pattern to be written is replaced by an alternate process.
Area, data area management information is written,
It is characterized by being changed depending on the substitute processing area and the user data area . Hereinafter, a description will be given based on examples of the present invention.

【0015】まず、不良セクタ(bad sector)の定義
は、標準では、IDの読めない数が2,3個、SM
(セクタマーク)が認識されない、データフィールド
に3バイト以上の欠陥がある、のうちに該当するとのガ
イドラインがある。次に、書き込まれる領域について説
明する。光ディスクは一般的にスパイラル状に連なり、
一周分をトラック、さらにそれを分割したセクタと呼ば
れるもので構成される。1セクタに書かれる内容は、9
0mmディスクでは図1のようになる。図中、SMはセ
クタマーク、VFO1,VFO2,VFO3はPLLロック
用の連続データパターン、AMはアドレスマーク、ID
はアドレス、CRC(Cyclic Redundancy Code)はID
部誤り検出用コード、PAはポストアンブル、ODF
(Offset Detection Flag)はプッシュプル法を用いる
トラッキングエラー検出におけるオフセット検出用のマ
ーク、GAPはギャップ、SYNはデータ部の周期信
号、DATA Fieldはユーザデータを書く領域、
BUFはディスク回転変動マージン用の領域である。
First, the definition of a bad sector (bad sector) is as follows.
(Sector mark) is not recognized, and a data field has a defect of 3 bytes or more. Next, an area to be written will be described. Optical discs are generally connected in a spiral,
One round is composed of a track, which is further divided into so-called sectors. The contents written in one sector are 9
As shown in FIG. 1 for a 0 mm disk. Figure, SM is a sector mark, VFO 1, VFO 2, VFO 3 are continuous data pattern for PLL locking, AM is an address mark, ID
Is address, CRC (Cyclic Redundancy Code) is ID
Part error detection code, PA is postamble, ODF
(Offset Detection Flag) is a mark for offset detection in tracking error detection using a push-pull method, GAP is a gap, SYN is a periodic signal of a data part, DATA Field is an area for writing user data,
BUF is an area for a disc rotation fluctuation margin.

【0016】トラック番号やセクタ番号の記録されるI
D領域には高い信頼性が要求される。また、欠陥の発生
状態によっては1セクタ全体の情報が再生できなくなる
事態にもなり、ユーザが使える有効率が減少する。この
ため、ID領域は誤り検出のCRC(Cyclic Redundanc
y Code)を付加した上で3重書きし、各ID領域の前に
PLL引き込み用のVFOをそれぞれ配置し、さらにS
M(セクタマーク)が欠陥などにより検出できないとき
でもAM(アドレスマーク)を変調規則にないイレギュ
ラーパターンとすることで、AMからIDを検出できる
ように工夫されている。ODFは案内溝のない1バイト
分の領域で、トラッキングオフセット量の検出に利用さ
れる。
An I in which a track number and a sector number are recorded
High reliability is required in the D region. Further, depending on the state of occurrence of the defect, it may become impossible to reproduce the information of the entire one sector, and the effective rate usable by the user decreases. For this reason, the ID area has a CRC (Cyclic Redundanc) for error detection.
y Code) is added, triple writing is performed, a VFO for pulling in the PLL is arranged in front of each ID area, and S
Even when the M (sector mark) cannot be detected due to a defect or the like, the ID is detected from the AM by setting the AM (address mark) to an irregular pattern not conforming to the modulation rule. The ODF is a one-byte area without a guide groove, and is used for detecting a tracking offset amount.

【0017】1セクタのうちヘッダ部分はすでにエンボ
スで作られているので、光ディスクドライブで読み書き
するのはレコーディング部分である。また、レコーディ
ング部分で実際のデータの部分は、図2に示すデータフ
ィールドの639バイトのさらに512バイトであり、
エラー訂正をするためのECC,CRCが付与される。
また、半径位置と領域は、図4に示す。このうち交代処
理に関係するのはデータゾーンである。サーティファイ
動作は、90mmディスクでは上記のデータゾーンに特
定なパターンデータで書き込みベリファイし、上記の不
良セクタに該当するものを調べる。もし、不良セクタに
なったらその該当するトラックとセクタ番号をPDLに
登録する。ここに登録された不良セクタを使用しないで
欠番にする方式を Slipping 方式という。
Since the header portion of one sector is already formed by embossing, it is the recording portion that is read / written by the optical disk drive. The actual data portion in the recording portion is an additional 512 bytes of 639 bytes of the data field shown in FIG.
ECC and CRC for error correction are added.
FIG. 4 shows the radial position and the area. Among them, the data zone is related to the replacement process. In the certify operation, in the case of a 90-mm disk, write verification is performed on the above data zone with specific pattern data, and the data corresponding to the above bad sector is checked. If it becomes a bad sector, the corresponding track and sector number are registered in the PDL. The method of skipping the bad sectors registered here without using them is called the Slipping method.

【0018】また、その後、REWRITEBIE ZONE をどのよ
うに使用するかを説明したDDSを書き込む。この後、
REWRITEBIE ZONE にデータを書き込んだり、読み出し
たりする。この時、書き込みベリファイや、読み出した
データに上記の不良セクタに該当するものがある場合、
その不良セクタに書き込もうとしたあるいは読み出した
データを交代処理領域(DDSで指定される)へ書き込
み、不良セクタとなったトラックとセクタ番号と交代処
理領域のトラックとセクタ番号をSDLに登録する。こ
の方式を Linear replacement という。
After that, a DDS is written which describes how to use the REWRITEBIE ZONE. After this,
Write data to and read data from the REWRITEBIE ZONE. At this time, if there is a write verify or read data that corresponds to the above bad sector,
The data that is to be written or read into the defective sector is written to the replacement processing area (designated by DDS), and the track and sector number of the defective sector and the track and sector number of the replacement processing area are registered in the SDL. This method is called Linear replacement.

【0019】このように連続したトラックとセクタ番号
で表現されるアドレスを物理アドレスという。また、 R
EWRITEBIE ZONE をどのように使用するかを説明したD
DSで交代処理領域を除いて表現されるアドレスを論理
アドレスという。ユーザが実際のデータを書き込むのは
この論理アドレスで決められた領域である。ユーザは、
光ディスクを使う場合、一般にDOSに合わせたフォー
マット動作をする。フォーマット動作は、論理アドレス
で決められた領域を図3のように分割し、必要なデータ
を書き込む。予約領域は、DOSのブートセクタでシス
テムのイニシャル・プログラム・ローダが入る。FAT
領域は、データ領域を構成しているクラスタ(書き込ま
れれるある単位数の論理セクタ)の接続、使用、不良等
の状況を示す。ルート・ディレクトリ領域はファイルの
名前、ディレクトリ名、ファイリの属性、FATの登録
番号等のファイルに関連するデータが入る。データ領域
は、ファイルのデータが入る。ユーザのフォーマット動
作は、少なくとも予約領域、FAT領域、ルート・ディ
レクトリ領域にDOSに必要なデータを書き込む。そし
て、データ領域のファイルのデータを読み書きする。そ
の時、FAT領域、ルート・ディレクトリ領域を必ず読
み書きする。
An address expressed by such a continuous track and sector number is called a physical address. Also, R
D explaining how to use EWRITEBIE ZONE
An address expressed in the DS excluding the replacement processing area is called a logical address. It is in the area determined by the logical address that the user writes the actual data. The user
When an optical disk is used, a format operation generally conforms to DOS. The format operation divides the area determined by the logical address as shown in FIG. 3 and writes necessary data. The reserved area is a boot sector of the DOS, in which the initial program loader of the system is inserted. FAT
The area indicates the status of connection, use, failure, and the like of the cluster (the logical sector of a certain number of units to be written) constituting the data area. The root directory area stores data relating to the file such as the file name, directory name, file attribute, and FAT registration number. The data area stores file data. The format operation of the user writes data necessary for the DOS into at least the reserved area, the FAT area, and the root directory area. Then, the data of the file in the data area is read and written. At this time, the FAT area and the root directory area are always read and written.

【0020】以上、書き込まれる領域の説明から、情報
の重大さで4つに大きく分けられる。 Read/Write頻度が高く、交代処理できない
もの。光ディスクをドライブに挿入した直後、またデー
タを読み書きするのに絶対に必要であり、常に読み込ま
れ、他の領域に不良セクタがある場合書き込まれるも
の。エラーになるのが遥かに低いことが要求される。不
良セクタであっては困るもの。DMA領域。 Read/Write頻度が高く、交代処理できるも
の。ユーザがデータ(ファイル単位)を読み書きするの
に絶対に必要であり、常に読み込まれ、ユーザデータ
(ファイル単位)を書き込む時、必ず書き込まれるも
の。エラーになるのが低いことが要求される。FAT領
域、ルート・ディレクトリ領域。 他の領域よりもRead/Write頻度が低いが、
交代処理して欲しくないもの。エラーになるのが低いこ
とが要求される。交代処理領域。 他の領域よりもRead/Write頻度がはるかに
低いもの。ユーザデータ(ファイル単位)領域。
As described above, according to the description of the area to be written, it is roughly divided into four according to the significance of the information. Those that have high Read / Write frequency and cannot be replaced. Immediately after the optical disk is inserted into the drive, it is absolutely necessary to read and write data, and is always read and written if there is a bad sector in another area. It is required that errors are much lower. Bad sectors are bad. DMA area. Read / Write frequency is high and can be replaced. It is absolutely necessary for the user to read and write data (by file), always read and always written when writing user data (by file). Low errors are required. FAT area, root directory area. Read / Write frequency is lower than other areas,
Things you do not want to be replaced. Low errors are required. Alternation processing area. Read / write frequency is much lower than other areas. User data (file unit) area.

【0021】次にエラーの発生について説明する。ドラ
イブ自体による書き込み不足、読み出し不良とユーザの
故意によるものとほこりを除くとエラーの発生は、光デ
ィスク自体にあるもの、もしくは含有しているものにな
る。それは、製造工程上、光ディスクを構成する材料、
化学膜に含まれる不純物や埃や水分が巻き込まれて、基
盤や各膜に付着したり、その形状を変形したり、変質さ
せるのが原因である。また、製造直後にエラーになるこ
ともあり、水分のように長い時間かかるものや消去、書
き込み、読みだしを繰り返すとなるものと色々である。
基本的には、エラーになるところには、原因になるもの
が存在し、増えることはあっても減ることはほとんどな
い。したがって、光ディスクのデータの信頼性を上げる
ためには、不良セクタになっているものあるいは将来な
りそうなものを如何に早く除去するかが必要になってく
る。
Next, the occurrence of an error will be described. Excluding the insufficient writing, poor reading by the drive itself, the intentional intention of the user, and the dust, the occurrence of the error is that which is present in or contained in the optical disk itself. It is a material that constitutes an optical disc in the manufacturing process,
The cause is that impurities, dust, and moisture contained in the chemical film are entrained and adhere to the substrate and each film, or the shape thereof is deformed or deteriorated. In addition, an error may occur immediately after manufacturing, and various types of devices may take a long time, such as moisture, or may be repeatedly erased, written, and read.
Basically, where there is an error, there is something that causes it, and it increases but hardly decreases. Therefore, in order to improve the reliability of the data on the optical disk, it is necessary to remove the defective sector or the future sector as quickly as possible.

【0022】以下、本発明の実施例について説明する。
各請求項に共通する構成要件は、不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを、交代処理のうち
Slipping 方式(使用する最初にサーティファイをして
不良セクタを登録する)で除去し、その後、DDSによ
り Grouping が行われ、Linear replacement 方式を取
ることである。また、書き込まれるまたは使われ方(書
き込まれる情報の重大さで説明)によって、不良セクタ
になっているものあるいは将来なりそうなものを判断す
ることである。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
The common component of each claim is that the defective sector or the future
This is to remove by the slipping method (certify first and use it to register a bad sector), and then perform grouping by DDS to take the linear replacement method. Also, it is to determine the write can written as or used the way (described in severity of written to information), what likely ones or future that is a bad sector.

【0023】請求項1は、上記2つの構成要件に、不良
セクタになっているものあるいは将来なりそうなものを
判断するのに不良セクタの定義を厳しくしたものを付加
したものである。それは、例えば、IDの読めない数を
3個中1個とするとか、データフィールドに2バイト以
上の欠陥があるとかするものである。請求項2は、上記
2つの構成要件に、不良セクタになっているものあるい
は将来なりそうなものを判断するための特定パターンを
工夫したものである。それは、例えば、3Tパターンと
8Tパターンとか特徴のあるものを組合せたものとか、
ランダムなパターン、あるいは領域によって別の特徴あ
るもの複数回行うとかするものである。
The first aspect of the present invention is obtained by adding, to the above-mentioned two components, a strict definition of a bad sector for judging a defective sector or a likely one in the future. For example, the number of unreadable IDs is one out of three, or the data field has a defect of 2 bytes or more. A second aspect of the present invention is a device in which a specific pattern for judging a defective sector or a likely future sector is devised in the above two constituent requirements. It is, for example, a combination of 3T pattern and 8T pattern or a characteristic pattern,
Another characteristic is performed several times depending on a random pattern or a region.

【0024】[0024]

【0025】[0025]

【0026】[0026]

【効果】以上の説明から明らかなように、本発明による
と、以下のような効果がある。 (1)請求項1に対応する効果:不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを書き込まれる情報
の重大さで不良セクタと判断する基準を変えて(選択
し)サーティファイ動作で不良セクタとなるものをPD
Lに登録することにより、Linear replacement 方式に
よる交代処理に廻る回数を減らすことにより読み書き時
間の短縮と信頼性が得られる。 (2)請求項2に対応する効果:不良セクタになってい
るものあるいは将来なりそうなものを書き込まれる情報
の重大さでサーティファイ動作に用いる特定パターンを
選択し、サーティファイ動作で不良セクタとなるものを
PDLに登録することによりLinear replacement 方式
による交代処理に廻る回数を減らすことにより読み書き
時間の短縮と信頼性が得られる
As apparent from the above description, the present invention has the following effects. (1) Effect corresponding to claim 1: A bad sector is determined by a certifying operation by changing (selecting) a criterion for judging a bad sector or a future sector as a bad sector according to the importance of information to be written. What is PD
By registering in L, the number of times of replacement processing by the Linear replacement method is reduced, thereby shortening the read / write time and obtaining reliability. (2) Effect corresponding to claim 2: A specific pattern used for a certify operation is selected based on the importance of information to be written as a defective sector or a likely sector in the future, and becomes a defective sector in the certify operation. Is registered in the PDL, thereby reducing the number of times of replacement processing by the Linear replacement method, thereby shortening the read / write time and obtaining reliability .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明による光ディスクのサーティファイ方
法の一実施例を説明するための構成図で、1セクタに書
かれる内容を示した図である。
FIG. 1 is a configuration diagram for explaining an embodiment of a method for certifying an optical disk according to the present invention, and is a diagram showing contents written in one sector.

【図2】 本発明による光ディスクのデータフィールド
を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a data field of an optical disc according to the present invention.

【図3】 本発明による光ディスクの論理アドレスで決
められた領域を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an area determined by a logical address of the optical disc according to the present invention.

【図4】 従来の光ディスクのレイアウトを示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram showing a layout of a conventional optical disc.

【図5】 従来の光ディスクのデータ領域を示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing a data area of a conventional optical disc.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光ディスクに特定パターンを書き込み、
ベリファイして不良セクタを検出し、該不良セクタを使
用しないことを登録する光ディスクのサーティファイ方
法において、前記不良セクタの判断基準を、交代処理が
行われない領域、データ領域の管理情報が書かれる領
域、交代処理領域、ユーザデータ領域によって変えるこ
とを特徴とする光ディスクのサーティファイ方法。
A specific pattern is written on an optical disc,
In an optical disk certifying method for verifying and detecting a bad sector and registering that the bad sector is not used, a criterion of the bad sector is set to an area where replacement processing is not performed and an area where data area management information is written. Certifying method for an optical disc, wherein the certifying method is changed depending on a replacement processing area and a user data area.
【請求項2】 光ディスクに特定パターンを書き込み、
ベリファイして不良セクタを検出し、該不良セクタを使
用しないことを登録する光ディスクのサーティファイ方
法において、前記書き込まれる特定パターンを、交代処
理が行われない領域、データ領域の管理情報が書かれる
領域、交代処理領域、ユーザデータ領域によって変える
ことを特徴とする光ディスクのサーティファイ方法。
2. A specific pattern is written on an optical disk,
In a certification method for an optical disk for verifying and detecting a bad sector and registering that the bad sector is not used, the specific pattern to be written is replaced
The management information of the unprocessed area and data area is written
A method for certifying an optical disk, wherein the method is changed depending on an area, a replacement area, and a user data area .
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