JP3049710B2 - Nonvolatile semiconductor memory device - Google Patents

Nonvolatile semiconductor memory device

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JP3049710B2
JP3049710B2 JP32418688A JP32418688A JP3049710B2 JP 3049710 B2 JP3049710 B2 JP 3049710B2 JP 32418688 A JP32418688 A JP 32418688A JP 32418688 A JP32418688 A JP 32418688A JP 3049710 B2 JP3049710 B2 JP 3049710B2
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ユカ 鈴木
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は不揮発性半導体記憶装置に関し、特に一部が
共通な異なる複数のデータを格納する不揮発性半導体記
憶装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a nonvolatile semiconductor memory device, and more particularly, to a nonvolatile semiconductor memory device that stores a plurality of partially different data.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の不揮発性半導体記憶装置は、その装置
の記憶容量以下のデータが格納されている。
Conventionally, this type of non-volatile semiconductor storage device stores data that is smaller than the storage capacity of the device.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

上述した従来の不揮発性半導体記憶装置は、記憶容量
以下のデータが格納されているので、それ以上の記憶容
量を必要とする場合には、記憶容量を増加させるか、あ
るいは複数個の不揮発性半導体記憶装置を用いることに
なる。特に、一部が共通な複数個のデータを記憶すると
き、共通するデータにもかかわらず、必要以上の記憶容
量を必要とするという欠点がある。
Since the conventional nonvolatile semiconductor memory device described above stores data of a storage capacity or less, if the storage capacity is required to be larger, the storage capacity may be increased or a plurality of nonvolatile semiconductor memories may be used. A storage device will be used. In particular, when a plurality of pieces of data that are partially common are stored, there is a disadvantage in that a storage capacity more than necessary is required despite the common data.

本発明の目的は、かかる一部に共通データを有する複
数個のデータを記憶容量を大幅に増大させることなく格
納することのできる不揮発性半導体記憶装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of storing a plurality of data having common data in a part thereof without greatly increasing the storage capacity.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明の不揮発性半導体記憶装置は、一部が共通な第
1および第2のデータに対し、共通部を記憶するための
データエリアと,前記データエリア以外の空エリアに形
成され且つ相違部を記憶するためのサブデータエリアと
を備えたROM部と、アドレス信号を入力し、そのアドレ
スが前記ROM部の前記データエリア内であるか否かを判
定するアドレス判定回路と、アドレス変換データ信号に
より活性/非活性を制御されるとともに、前記アドレス
判定回路の出力を入力し、前記第1および第2のデータ
の相違部のアドレスが入力されたとき、前記データエリ
アを指定するアドレスと前記サブデータエリアを指定す
るアドレスを差し換える第一および第二のアドレス変換
回路とを有し、前記第一および第二のアドレス変換回路
の出力により前記ROM部の前記データエリアと前記サブ
データエリアへのアクセスを実現するように構成してい
る。
According to the nonvolatile semiconductor memory device of the present invention, for the first and second data partially common, a data area for storing a common part and a different area formed in an empty area other than the data area are provided. A ROM section having a sub data area for storing, an address determination circuit for receiving an address signal and determining whether or not the address is in the data area of the ROM section; and an address conversion data signal. Activation / deactivation is controlled, and an output of the address determination circuit is input. When an address of a different portion between the first and second data is input, an address designating the data area and the sub data A first and a second address conversion circuit for replacing an address designating an area; and It is configured to provide access of the serial data area into the sub data area.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第一の実施例を示す不揮発性半導体
記憶装置のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a nonvolatile semiconductor memory device showing a first embodiment of the present invention.

第1図に示すように、本実施例は入力アドレス信号8
を判定するアドレス判定回路1と、この判定回路1の出
力を変換する二つのアドレス変換回路2および3と、こ
れら変換回路2および3よりアクセスされるとともに、
データエリアおよび空エリアを有し且つこの空エリアに
サブデータエリアを有するROM部4と、アドレス判定回
路1のデータ信号6より制御されてROM部4から読出し
たデータを判定し、その結果を出力信号12として出力す
るデータ判定回路5とを備えている。また、上述したア
ドレス変換回路2および3はアドレス変換データ信号7
により直接およびインバータ13を介して制御される。さ
らに、9,10は内部アドレス信号、11は内部データ信号で
ある。
As shown in FIG. 1, this embodiment employs an input address signal 8
, Two address conversion circuits 2 and 3 for converting the output of the determination circuit 1, and accessed by the conversion circuits 2 and 3,
A ROM section 4 having a data area and a vacant area and having a sub data area in the vacant area, and data read from the ROM section 4 controlled by the data signal 6 of the address determination circuit 1 are determined, and the result is output. And a data determination circuit 5 that outputs the signal 12. Further, the above-described address conversion circuits 2 and 3 provide an address conversion data signal 7
And directly via the inverter 13. Further, 9 and 10 are internal address signals, and 11 is an internal data signal.

第2図は第1図におけるROM部に格納されているデー
タの概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram of data stored in a ROM unit in FIG.

第2図に示すように、ROM部内には共通部のデータエ
リア14と、空エリア15と、空エリア15に格納したデータ
1とデータ2の相違部を格納するサブデータエリア16と
を有している。
As shown in FIG. 2, the ROM section has a data area 14 of a common section, an empty area 15, and a sub data area 16 for storing a different part between data 1 and data 2 stored in the empty area 15. ing.

次に、第1図および第2図を用いて記憶装置の回路動
作を説明する。
Next, the circuit operation of the storage device will be described with reference to FIGS.

まず、入力アドレス信号を入力すると、アドレス判定
回路1でそのアドレスがデータエリア14内であるか否か
判定する。もし、データエリア14内である場合には、デ
ータ信号6には“0"を転送し、且つ内部アドレス信号9
には入力アドレスをそのまま転送する。それと同時にア
ドレス変換データ信号7にはアクセスするデータがデー
タ1ならば“1"を、またデータ2ならば“0"を送出す
る。また、第一および第二のアドレス変換回路2および
3はアドレス変換データ信号7から“1"が送られたとき
に動作する。このアドレス変換回路3はデータ1とデー
タ2の相違部のアドレスが入力された場合、データエリ
ア14とサブデータエリア16とのアドレスを差し換える機
能を有している。
First, when an input address signal is input, the address determination circuit 1 determines whether or not the address is in the data area 14. If it is in the data area 14, “0” is transferred to the data signal 6 and the internal address signal 9 is transferred.
, The input address is transferred as it is. At the same time, "1" is sent to the address conversion data signal 7 if the data to be accessed is data 1, and "0" is sent to the address conversion data signal 7 if the data 2 is data 2. The first and second address conversion circuits 2 and 3 operate when "1" is sent from the address conversion data signal 7. The address conversion circuit 3 has a function of exchanging the addresses of the data area 14 and the sub-data area 16 when the address of the difference between the data 1 and the data 2 is input.

次に、かかる変換処理の後、アドレス信号は内部アド
レス信号10として送出されるので、ROM部4にアクセス
される。このROM部4内のデータは内部データ信号11と
して読出され、データ判定回路5に転送される。このデ
ータ判定回路5はアドレス判定回路1からデータ信号6
として送られる信号が“0"である場合は、それを無視し
て出力信号12として内部データ信号11から送られたデー
タを伝える。
Next, after the conversion process, the address signal is sent out as the internal address signal 10, so that the ROM unit 4 is accessed. The data in the ROM section 4 is read as an internal data signal 11 and transferred to the data determination circuit 5. The data determination circuit 5 receives the data signal 6 from the address determination circuit 1.
If the signal sent as “0” is “0”, the data sent from the internal data signal 11 is transmitted as the output signal 12 ignoring it.

一方、入力されたアドレスがデータエリア14内ではな
い場合、アドレス判定回路1によってデータ信号6には
“1"が伝えられ、また内部アドレス信号9にはアドレス
“0000"が送出される。従って、データ判定回路5は、
データ信号6から送られる信号が“1"である場合、内部
データ信号11から送られるデータを無視して出力信号12
にデータ“0"を送出する。
On the other hand, if the input address is not in the data area 14, “1” is transmitted to the data signal 6 by the address determination circuit 1 and the address “0000” is transmitted to the internal address signal 9. Therefore, the data determination circuit 5
When the signal sent from the data signal 6 is “1”, the data sent from the internal data signal 11 is ignored and the output signal 12 is ignored.
Data "0" is sent.

以上のように、ROM4を形成した2種類のデータエリア
へのアクセスが可能になる。
As described above, it is possible to access the two types of data areas forming the ROM 4.

第3図は本発明の第二の実施例を示す不揮発性半導体
記憶装置のブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of a nonvolatile semiconductor memory device showing a second embodiment of the present invention.

第3図に示すように、本実施例はアドレス判定回路を
第一および第二のアドレス変換回路2および3内に設
け、データ判定回路を削除した例である。この場合はRO
M部4内に特定エリアを設けて解決している。すなわ
ち、本実施例は第一のアドレス変換回路2と第二のアド
レス変換回路3とで入力アドレス信号8を変換し、内部
アドレス信号10を作成してROM部4にアクセスし且つ読
み出すことにより出力信号12を得るものである。尚、ア
ドレス変換データ信号7やインバータ13については、前
述した第一の実施例と同様である。
As shown in FIG. 3, this embodiment is an example in which the address determination circuit is provided in the first and second address conversion circuits 2 and 3, and the data determination circuit is omitted. In this case RO
The problem is solved by providing a specific area in the M section 4. That is, in this embodiment, the input address signal 8 is converted by the first address conversion circuit 2 and the second address conversion circuit 3, the internal address signal 10 is created, and the ROM section 4 is accessed and read out. The signal 12 is obtained. The address conversion data signal 7 and the inverter 13 are the same as in the first embodiment.

第4図は第3図におけるROM部に格納されているデー
タの概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram of data stored in the ROM unit in FIG.

第4図に示すように、ROM部4はデータ1を格納する
データエリア14と、空エリア15とからなり、その空エリ
ア15にはデータ1とデータ2の相違部を格納したサブデ
ータエリア16が設けられている。また、空エリア15内に
は、特定のアドレス、例えば7F7Fにデータ“0"を格納し
たデータ“0"部17が設けられる。
As shown in FIG. 4, the ROM section 4 comprises a data area 14 for storing data 1 and a vacant area 15, and the vacant area 15 has a sub-data area 16 for storing a different part between data 1 and data 2. Is provided. Further, in the empty area 15, a data “0” section 17 in which data “0” is stored at a specific address, for example, 7F7F, is provided.

かかる第二の実施例においては、第一のアドレス変換
回路2および第二のアドレス変換回路3にアドレスを判
定する機能を有しているので、入力された入力アドレス
信号8が、データエリア14内でない場合は、内部アドレ
ス信号10には特定のアドレス(例えば、7F7F)を出力す
る。しかるに、ROM部4内では、特定のアドレス(例え
ば7F7F)のデータはデータ“0"部17になっているので、
出力信号12にデータ“0"を送出する。
In the second embodiment, the first address conversion circuit 2 and the second address conversion circuit 3 have a function of determining an address. Otherwise, a specific address (for example, 7F7F) is output as the internal address signal 10. However, in the ROM section 4, since the data at a specific address (for example, 7F7F) is the data "0" section 17,
Data "0" is sent to the output signal 12.

このように、本実施例では、ROM4の空エリア15にサブ
データエリア16とは別の特定領域17を設けることによ
り、前述した第一の実施例と同様の機能を簡単な構成で
実現することができるという利点がある。
As described above, in the present embodiment, by providing the specific area 17 different from the sub data area 16 in the empty area 15 of the ROM 4, it is possible to realize the same function as the above-described first embodiment with a simple configuration. There is an advantage that can be.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明の不揮発性半導体記憶装
置はアドレス判定回路とアドレス変換回路のデータエリ
アおよび空エリアを有するROM部を有し且つ前記空エリ
アにサブデータエリアを設けることにより、記憶容量を
増大させることなく一部が共通な複数種類のデータを格
納できるので、記憶容量以上に使用することができると
いう効果がある。
As described above, the nonvolatile semiconductor memory device of the present invention has the ROM portion having the data area and the empty area of the address determination circuit and the address conversion circuit, and has the storage area by providing the sub data area in the empty area. Since a plurality of types of data, some of which are common, can be stored without increasing the storage capacity, the storage capacity can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の第一の実施例を示す不揮発性半導体記
憶装置のブロック図、第2図は第1図におけるROM部デ
ータの概念図、第3図は本発明の第二の実施例を示す不
揮発性半導体記憶装置のブロック図、第4図は第3図に
おけるROMデータの概念図である。 1……アドレス判定回路、2,3……アドレス変換回路、
4……ROM部、5……データ判定回路、6……データ信
号、7……アドレス変換データ信号、8……入力アドレ
ス信号、9,10……内部アドレス信号、11……内部データ
信号、12……出力信号、13……インバータ、14……デー
タエリア、15……空エリア、16……サブデータエリア、
17……特定領域(データ“0"部)。
FIG. 1 is a block diagram of a nonvolatile semiconductor memory device showing a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a conceptual diagram of ROM section data in FIG. 1, and FIG. 3 is a second embodiment of the present invention. FIG. 4 is a conceptual diagram of the ROM data in FIG. 3, and FIG. 1 ... address determination circuit, 2,3 ... address conversion circuit,
4 ROM part, 5 data determination circuit, 6 data signal, 7 address conversion data signal, 8 input address signal, 9, 10 internal address signal, 11 internal data signal 12 ... output signal, 13 ... inverter, 14 ... data area, 15 ... empty area, 16 ... sub data area,
17 ... Specific area (data "0" part).

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】一部が共通な第1および第2のデータに対
し、共通部を記憶するためのデータエリアと,前記デー
タエリア以外の空エリアに形成され且つ相違部を記憶す
るためのサブデータエリアとを備えたROM部と、アドレ
ス信号を入力し、そのアドレスが前記ROM部の前記デー
タエリア内であるか否かを判定するアドレス判定回路
と、アドレス変換データ信号により活性/非活性を制御
されるとともに、前記アドレス判定回路の出力を入力
し、前記第1および第2のデータの相違部のアドレスが
入力されたとき、前記データエリアを指定するアドレス
と前記サブデータエリアを指定するアドレスを差し換え
る第一および第二のアドレス変換回路とを有し、前記第
一および第二のアドレス変換回路の出力により前記ROM
部の前記データエリアと前記サブデータエリアへのアク
セスを実現することを特徴とする不揮発性半導体記憶装
置。
1. A data area for storing a common part and a sub-area for storing a different part formed in an empty area other than the data area for first and second data partially common. A ROM section having a data area, an address determination circuit for receiving an address signal and determining whether or not the address is in the data area of the ROM section; And an address for specifying the data area and an address for specifying the sub-data area when an output of the address determination circuit is input and an address of a different portion between the first and second data is input. And the first and second address conversion circuits, and the output of the first and second address conversion circuits, the ROM
An access to the data area and the sub data area of a section.
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