JP3012875B2 - Manufacturing method of chip resistor - Google Patents

Manufacturing method of chip resistor

Info

Publication number
JP3012875B2
JP3012875B2 JP8004988A JP498896A JP3012875B2 JP 3012875 B2 JP3012875 B2 JP 3012875B2 JP 8004988 A JP8004988 A JP 8004988A JP 498896 A JP498896 A JP 498896A JP 3012875 B2 JP3012875 B2 JP 3012875B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
resistor
resin
coat
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8004988A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH08236325A (en
Inventor
直 大郷
紘二 東
充 横山
陽三 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hokuriku Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Hokuriku Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=11598999&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3012875(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Hokuriku Electric Industry Co Ltd filed Critical Hokuriku Electric Industry Co Ltd
Priority to JP8004988A priority Critical patent/JP3012875B2/en
Publication of JPH08236325A publication Critical patent/JPH08236325A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3012875B2 publication Critical patent/JP3012875B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】この発明は、チップ状の絶縁
体基板の表面に抵抗体が設けられ、この基板の両端部に
電極が形成されたチップ抵抗器の製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】従来、チップ抵抗器の電極の構造は、ガ
ラスをバインダに用いてAg−Pt等を成分とするいわ
ゆるメタルグレーズペーストを塗布し焼成して形成した
ものである。 【0003】また、特公昭58−46161号公報に開
示されているように、メタルグレーズによる電極を、熱
硬化性樹脂中にAgを混入したAg−レジン系の導電性
ペーストによって内包し加熱硬化させて電極を形成した
ものがある。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術の前者
の場合、ハンダ付けの際にメタルグレーズ中のAg粒子
がハンダと合金し、いわゆるハンダくわれが生じ、ハン
ダ強度が低下するとともに、ハンダの付け直しもできな
いという問題点がある。さらに、この場合電極は抵抗体
が設けられた際にのみ形成されているので、回路基板に
ハンダ付けした際の固着力強度が低いという問題点があ
る。 【0005】また、上記従来の技術の後者の場合、メタ
ルグレーズの電極をAg−レジンペーストで全体的に被
わなければならず、極めて小さいチップ抵抗器の電極部
を正確に内包するように塗布するのは比較的難しい上、
樹脂で電極全体を被うため電極をハンダ付けした後のハ
ンダ強度が弱いという問題点がある。 【0006】また抵抗体にトリミングを施すとトリミン
グ溝が形成されることになり、この場合にトリミング後
に電極にメッキを施すとメッキ液によって抵抗体の特性
が変化してしまう問題が生じる。 【0007】更に、トリミング溝をガラスや樹脂等の絶
縁材料により部分的に埋めると、ガラスコートの上に凹
凸が形成されるため、後の表示印刷で印刷不良が生じる
おそれがあるだけでなく、回路基板上に表面実装する際
に吸着ノズルを用いて吸着するときの吸着面に凹凸を形
成することになって実装ミスを生じさせるおそれがあ
る。またガラスコートの上を更にガラスコートで覆うこ
とも考えられるが、更なるガラスコートを形成する際に
加わる熱で抵抗体の抵抗値が変化する問題がある。また
ガラスコートを形成する際の高い熱でガラスペースト中
のバインダが消失するため、1回の焼成で得られるガラ
スコートの厚みは薄く、トリミング溝を完全に埋めるこ
とができないため、実際にトリミング溝を埋めるために
は複数層のガラスコートを施す必要があり、製造工程が
著しく多くなる問題がある。更にガラスコートは、衝撃
に弱く、クラックが入り易いため、抵抗体の上のガラス
コートの保護層としては不充分である。またガラスコー
トは柔軟性がないため、チッ プ抵抗基板を多数個取りす
る際の大型基板の分割溝にガラスコートが入り込むと、
基板を分割する際にガラスコートが大きく欠損するおそ
れがあり、製品の歩留まりが悪くなるという問題が生じ
る。この発明は上記従来の技術の問題点に鑑みて成され
たもので、ハンダくわれに強く、回路基板にハンダ付け
した際の固着力が大きく、しかも抵抗体の特性を維持で
きるチップ抵抗器の製造方法を提供することを目的とす
る。 【0008】 【課題を解決するための手段】この発明では、絶縁性セ
ラミック基板の表面にメタルグレーズ系の第1電極を印
刷形成する工程と、基板裏面の前記基板を挟んで前記第
1電極と対向する位置にもメタルグレーズ系の第2電極
を印刷形成する工程と、前記第1電極が直接接続される
抵抗体を印刷形成する工程と、前記抵抗体をガラスコー
トによりコートする工程と前記抵抗体にトリミングを
する工程と、前記ガラスコートの上にレジンコートを施
す工程と、前記第1、第2電極及び前記抵抗体が形成さ
た基板の側端部にレジン含有銀塗料を略コの字状に表
裏面の前記第1、第2電極上に一部重畳する状態に厚く
直接に塗布し低温で加熱処理して第3電極を形成する工
程と、前記第1、第2及び第3電極の外面上にNiメッ
キ処理を施してNiメッキ層を形成する工程と、前記N
iメッキ層の上にさらにハンダメッキ処理を施してハン
ダメッキ層を形成する工程とを順番に実施してチップ抵
抗器を製造する。 【0009】この発明の方法により製造するチップ抵抗
器は、絶縁体基板の両端部の表裏面及び端面に設けた第
1、第2、第3電極をNiメッキで覆ってハンダくわれ
を防ぎ、さらにハンダメッキ処理してNiメッキ層のハ
ンダ濡れ性を改善している。また基板の下面側では第3
電極を第2電極に一部重畳して設けてあるため、電極が
段状に形成され、本発明チップ抵抗器をプリント回路基
板に取り付けた際、電極の下面側と回路基板との間に生
じた隙間にハンダが回り込み、本発明の方法で製造する
チップ抵抗器が小さくても充分な固着力が得られるよう
になっている。 【0010】さらに本発明のチップ抵抗器の製造方法で
は、基板の粗い両側面を含む側端部にレジン含有銀塗料
を表裏面の第1、第2電極に一部重畳して塗布し、低温
で加熱処理してAg−レジン系の第3電極を形成するも
のであるから、基板に対する固着力が強く、また第3電
極が適度の柔軟性を有するので、大きな機械的強度が得
られる。 【0011】特に、トリミング後にガラスコートの上に
レジンコートを施すので、メッキ工程において第3電極
及びレジンコートがメッキ液の浸透を効果的に防ぐこと
ができ、電極や抵抗体に剥離等の欠陥を生じ難く、また
抵抗体の特性も維持できる。またレジンペーストの焼成
温度は低いためにバインダが消失するということがな
く、焼成後の厚みもガラスコートと比べて厚いために、
1層のレジンコートでトリミング溝を完全に埋めること
ができる。そのため抵抗体の上のガラスコートを保護す
る保護コートとしてレジンコートを形成する場合には、
保護コートの形成が簡単になり、製造コストを下げるこ
とができる。またレジンはガラスと比べて柔軟性がある
ため、ガラスコートに対する十分な保護コートになり、
製造工程においても、また実装工程においてもガラスコ
ートを十分に保護することができるだけでなく、大型基
板からチップ抵抗基板を分割する際に用いる分割溝にレ
ジンコートが一部入り込んでも、分割の際にレジンコー
トが大きく欠損することはなく、レジンコートの大きな
欠損が原因となって歩留まりが大幅に悪くなるというこ
とがない。更に前述の通り、レジンコートの焼成温度は
ガラスコートの焼成温度と比べてかなり低いため、レジ
ンコートの一部がトリミング溝に入った状態でレジンコ
ートを焼成しても、焼成の際の熱で抵抗体の特性が変化
することはない。 【0012】 【発明の実施の形態】以下この発明の一実施例について
図面に基づいて説明する。 【0013】この実施例で製造するチップ抵抗器1は、
図1に示すように、セラミックの基板2の表面に凸型の
抵抗体3が印刷形成され、この両端に電極4が設けられ
ている。抵抗体3は、酸化ルテニウム約10μの厚みに
設け、レーザー又はサンドブラストにより凸型の底辺か
ら上方に向ってトリミング溝5を形成し、抵抗値のトリ
ミングが成されている。 【0014】このチップ抵抗器1の電極4は、抵抗体3
が直接接続している第1電極6と、この第1電極6と基
板2をはさんで対向して形成された第2電極7を有し、
この第1、第2電極6,7は、Ag−Pd、Ag−Pt
等のメタルグレーズペーストを印刷形成したものであ
る。さらに、第1、第2電極6,7をはさんで基板の端
面に、キシレン又はエポキシフェノール樹脂にAgを混
入したAg−レジン系の導電性ペーストによる第3電極
8が設けられ、この第3電極8は、第1、第2電極6,
7を一部被覆するように設けられ、両者の導通を図って
いる。そして、この第1、第2、第3電極全体を覆って
Niメッキ9及びハンダメッキ10が施されている。 【0015】また、抵抗体3の表面には、ガラスコート
11及びレジンコート12を施して保護している。 【0016】このチップ抵抗器の製造方法は、図3Aな
いしFに示すように、先ず、基板となるセラミック板1
3のスリット14を挟んで所定間隔で第1電極6となる
メタルグレーズペーストを複数列印刷して、900℃近
い温度で焼成する。さらに同様にして第2電極7も第1
電極6と対向する位置に形成する。次に、図3Bに示す
ように、第1電極6の間のセラミック板13上にマトリ
ックス状に抵抗体3を印刷形成し、平均850℃の温度
で焼成する。そして、図3Cに示すように、抵抗体3の
表面にガラスコート11を施し平均650℃の温度で焼
成する。この後、セラミック板13を各チップ抵抗器毎
に縦横に設けられたスリット14に沿って切断(スクラ
イブ)し、図3Dに示すように、基板2の端面にAg−
レジン系の導電性ペーストの第3電極8を20μ程度の
厚みに塗布し、200℃程度の温度で硬化させる。そし
て、図3E,Fに示すように、Niメッキ9、ハンダメ
ッキ10を各々順次施し、第1、第2、第3電極6,
7,8を被覆する。 【0017】この場合、スリット14は基板の両側より
設けられているため、セラミック基板端面に、樹脂を一
部重畳する状態で塗布すると、電気的にも機械的にも良
好な状態が得られる。 【0018】この方法によるとセラミック基板端面にお
いて、端子電極が剥がれやスラック等の欠陥が生じなく
なる。なお図1のように端子電極は側端部5面に形成す
ることもできる。 【0019】各チップ抵抗器の抵抗体3をトリミングし
て抵抗値を調整し、エポキシ樹脂等のレジンコート12
を施し200℃付近の温度で硬化させる。 【0020】なお図3においては、メッキ処理を施した
後に、トリミングを行っているように図示してあるが、
本発明の方法では、トリミングは、メッキ処理を行う前
の図3Cの状態で行っている。そしてその後ガラスコー
ト11の上にレジンコート12を施して図3D以下の工
程を行う。これによって、セラミック板13をチップ毎
に分離しない状態で抵抗値のトリミングを行うので効率
良くトリミング作業を行うことができる。しかもレジン
コート12によってトリミング溝を覆っているので、後
のメッキ作業時にも抵抗体に悪影響を与えることもな
い。 【0021】この実施例のチップ抵抗器によれば、ハン
ダくわれに対して電極4の耐性が向上し、しかも、回路
基板の曲げに対しても、メタルグレーズ系のみででき電
極とを比べ柔軟性が高いので強い。また、ハンダ付けの
際の回路基板に対する固着力も第1、第2電極6,7が
回路基板に強固にハンダ付けされるので、極めて強く、
第3電極をAg−レジン系にしたことによる固着力の低
下は生じない。 【0022】尚、この発明のチップの抵抗器の抵抗体
は、金属皮膜抵抗体、炭素皮膜抵抗体等その用途に合わ
せて適宜選択し得るものである。またメタルグレーズペ
ースト、Ag−レジン系導電性ペーストの成分は、適宜
他の添加物が入っていても良い。本願のものは抵抗体上
にガラスコートを施しトリミングしているが、適宜公知
の方法で変更しうるものであり、他の抵抗体を用いたチ
ップ部品にも同様に応用でき、この実施例のものに限定
されるものではない。 【0023】このチップ抵抗器は、基板の両面に設けた
メタルグレーズ系の第1、第2電極にまたがって基板の
端面にAg−レジン系の第3電極を設け、この第1、第
2、第3電極を覆うNiメッキ層及び該Niメッキ層を
覆うハンダメッキ層を形成したので、ハンダくわれに強
く、回路基板への付け直しが可能である。また基板の下
面側の第2電極に一部重畳して第3電極を設けたので、
基板の下面側の電極で段差が形成され、回路基板へハン
ダ付けした際、下面側電極と回路基板の間に生じる隙間
にハンダが回り込んで強い固着力が得られる。しかも基
板の端面に設けたAg−レジン系の第3電極が適度の柔
軟性を有するので、回路基板の曲げに対しても十分に耐
え得るものである。 【0024】本発明によるチップ抵抗器の製造方法で
は、基板側端部面にレジン含有銀塗料を表裏面の第1、
第2電極上に一部重畳する状態で直接に塗布し低温で加
熱処理して第3電極を形成するので、切断されたままの
粗い基板断面に対し直接に接合し第3電極の接着力が強
い。またハンダ付け用電極にメッキ処理する際、第3電
極がメッキ液の浸透を効果的に防止し、電極に剥れやク
ラック等の欠陥を生ずることのない高品質の製品を製造
し得る。従って、今日の実装密度の高度化の要求により
チップ抵抗器も小型化しているが、電極が小さくても十
分な固着力が得られ、電気製品の小型軽量化、信頼性、
耐久性及び生産性の向上に大きく寄与するものである。 【0025】 【発明の効果】本発明によれば、トリミング後にガラス
コートの上にレジンコートを施すので、メッキ工程にお
いてレジンコートがメッキ液の浸透を効果的に防ぐこと
ができ、電極や抵抗体に剥離等の欠陥を生じ難く、また
抵抗体の特性も維持できる。またレジンペーストの焼成
温度は低いためにバインダが消失するということがな
く、焼成後の厚みもガラスコートと比べて厚いために、
1層のレジンコートでトリ ミング溝を完全に埋めること
ができる。そのため抵抗体の上のガラスコートを保護す
る保護コートとしてレジンコートを形成する場合には、
保護コートの形成が簡単になり、製造コストを下げるこ
とができる。またレジンはガラスと比べて柔軟性がある
ため、ガラスコートに対する十分な保護コートになり、
製造工程においても、また実装工程においてもガラスコ
ートを十分に保護することができるだけでなく、大型基
板からチップ抵抗基板を分割する際に用いる分割溝にレ
ジンコートが一部入り込んでも、分割の際にレジンコー
トが大きく欠損することはなく、レジンコートの大きな
欠損が原因となって歩留まりが大幅に悪くなるというこ
とがない。更に前述の通り、レジンコートの焼成温度は
ガラスコートの焼成温度と比べてかなり低いため、レジ
ンコートの一部がトリミング溝に入った状態でレジンコ
ートを焼成しても、焼成の際の熱で抵抗体の特性が変化
することがないと言う利点がある。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip resistor in which a resistor is provided on a surface of a chip-shaped insulating substrate, and electrodes are formed on both ends of the substrate. And a method for producing the same. 2. Description of the Related Art Conventionally, the structure of the electrode of a chip resistor is formed by applying and firing a so-called metal glaze paste containing Ag-Pt or the like using glass as a binder. Further, as disclosed in Japanese Patent Publication No. 58-46161, an electrode made of metal glaze is encapsulated in an Ag-resin-based conductive paste in which Ag is mixed in a thermosetting resin, and is cured by heating. Some of them have electrodes formed. [0004] In the former case of the above-mentioned prior art, the Ag particles in the metal glaze alloy with the solder during soldering, so-called solder cracking occurs, and the solder strength decreases. In addition, there is a problem that the solder cannot be reattached. Further, in this case, since the electrodes are formed only when the resistor is provided, there is a problem that the strength of the fixing force when soldered to the circuit board is low. In the latter case of the above-mentioned prior art, the metal glaze electrode must be entirely covered with an Ag-resin paste, and coated so as to accurately include the electrode portion of an extremely small chip resistor. It's relatively difficult to do,
Since the entire electrode is covered with resin, there is a problem that the solder strength after soldering the electrode is weak. Further, when the resistor is trimmed, a trimming groove is formed. In this case, if the electrode is plated after the trimming, there arises a problem that the characteristics of the resistor are changed by the plating solution. Further, the trimming grooves are made of glass or resin.
When partially filled with rim material, a concave
Due to the formation of protrusions, printing failure occurs in later display printing
When mounting on a circuit board
Unevenness is formed on the suction surface when suction is performed using a suction nozzle
May cause mounting errors.
You. Also, cover the glass coat with a glass coat.
Although it is considered that when forming a further glass coat
There is a problem that the resistance value of the resistor changes due to the applied heat. Also
In glass paste due to high heat when forming glass coat
Of binder obtained by one firing because the binder of
The squat is thin enough to completely fill the trimming grooves.
To actually fill the trimming groove
Requires multiple layers of glass coating,
There are significant problems. Furthermore, glass coat
Glass on the resistor because it is weak and easily cracked
It is not sufficient as a protective layer of the coat. In addition, glass
Because TMG inflexible, to a multi-piece a chip resistor substrate
When the glass coat enters the dividing groove of the large substrate when
When the substrate is divided, the glass coat may
The problem is that the product yield is reduced.
You. The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and is a chip resistor which is resistant to solder cracking, has a large fixing force when soldered to a circuit board, and can maintain the characteristics of the resistor. It is intended to provide a manufacturing method. According to the present invention, a metal glaze-based first electrode is formed on a surface of an insulating ceramic substrate by printing, and the first electrode is sandwiched between the first electrode and the back surface of the substrate. A step of printing and forming a metal glaze-based second electrode also at an opposing position; a step of printing and forming a resistor to which the first electrode is directly connected ;
And trimming the resistor.
And applying a resin coat on the glass coat.
And a step of applying a resin-containing silver paint on the side edge of the substrate on which the first and second electrodes and the resistor are formed in a substantially U-shape on the first and second electrodes on the front and back surfaces. forming a step of forming a third electrode subjected to heat treatment at a low temperature is applied to thickly directly to the state to be superimposed, the first, the Ni plating layer is subjected to Ni plating treatment on the outer surface of the second and third electrodes and the process you, the N
Apply solder plating on the i-plated layer
And a step of forming a plating layer in order.
Manufacture anti-arms . In the chip resistor manufactured by the method of the present invention, the first, second, and third electrodes provided on the front, back, and end surfaces of both ends of the insulating substrate are covered with Ni plating to prevent solder breakage. have improved solder wettability of the Ni plating layer was further solder plating process. On the lower surface side of the substrate,
Since the electrode is provided so as to partially overlap the second electrode, the electrode is formed in a stepped shape. When the chip resistor of the present invention is mounted on a printed circuit board, the electrode is formed between the lower surface of the electrode and the circuit board. Solder wraps around the gap, so that a sufficient fixing force can be obtained even if the chip resistor manufactured by the method of the present invention is small. Further, according to the method for manufacturing a chip resistor of the present invention,
The first front and back surfaces of the resin-containing silver paint on the side end portion including a rough sides of board, partially superimposed and applied to the second electrode, the third Ag- resin-based subjected to heat treatment at a low temperature Since the electrode is formed, the fixing force to the substrate is strong, and the third electrode has appropriate flexibility, so that a large mechanical strength can be obtained. In particular, since the resin coat is applied on the glass coat after trimming, the third electrode and the resin coat can effectively prevent the plating solution from penetrating in the plating step, and the electrodes and the resistor have defects such as peeling. And the characteristics of the resistor can be maintained. Also firing of resin paste
The binder is not lost due to the low temperature.
Because the thickness after firing is thicker than the glass coat,
Completely fill the trimming groove with one layer of resin coat
Can be. This protects the glass coat on the resistor
When forming a resin coat as a protective coat,
Protective coats are easier to form and lower manufacturing costs.
Can be. Resin is more flexible than glass
Therefore, it becomes a sufficient protective coat against the glass coat,
Glass cores are used both in the manufacturing process and in the mounting process.
Not only provides adequate protection for the
The groove is used to divide the chip resistor substrate from the board.
Even if part of the gin coat enters, resin
No large loss of resin, large resin coat
Yield is significantly reduced due to defects
And not. Further, as described above , since the firing temperature of the resin coat is considerably lower than the firing temperature of the glass coat, even if the resin coat is fired in a state where a part of the resin coat is in the trimming groove, the heat at the time of firing does not occur. The characteristics of the resistor do not change. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The chip resistor 1 manufactured in this embodiment is:
As shown in FIG. 1, a convex resistor 3 is formed by printing on the surface of a ceramic substrate 2, and electrodes 4 are provided at both ends. The resistor 3 is provided with a thickness of about 10 μm of ruthenium oxide, and a trimming groove 5 is formed upward from the bottom of the convex shape by laser or sand blast to trim the resistance value. The electrode 4 of the chip resistor 1 is connected to the resistor 3
Has a first electrode 6 directly connected thereto, and a second electrode 7 formed to face the first electrode 6 with the substrate 2 interposed therebetween,
The first and second electrodes 6 and 7 are made of Ag-Pd, Ag-Pt
Etc. are formed by printing a metal glaze paste. Further, a third electrode 8 made of an Ag-resin-based conductive paste in which Ag is mixed into xylene or epoxy phenol resin is provided on the end face of the substrate with the first and second electrodes 6 and 7 interposed therebetween. The electrode 8 includes first and second electrodes 6,
7 is provided so as to partially cover them, thereby achieving conduction between the two. Then, Ni plating 9 and solder plating 10 are applied to cover the entire first, second, and third electrodes. The surface of the resistor 3 is protected by a glass coat 11 and a resin coat 12. As shown in FIGS. 3A to 3F, the method of manufacturing the chip resistor is as follows.
A plurality of rows of metal glaze paste to be the first electrode 6 are printed at predetermined intervals with the third slit 14 interposed therebetween and fired at a temperature close to 900 ° C. Further, in the same manner, the second electrode 7
It is formed at a position facing the electrode 6. Next, as shown in FIG. 3B, the resistors 3 are printed and formed in a matrix on the ceramic plate 13 between the first electrodes 6 and fired at a temperature of 850 ° C. on average. Then, as shown in FIG. 3C, a glass coat 11 is applied to the surface of the resistor 3 and fired at an average temperature of 650 ° C. Thereafter, the ceramic plate 13 is cut (scribed) along slits 14 provided vertically and horizontally for each chip resistor, and as shown in FIG.
A third electrode 8 of a resin-based conductive paste is applied to a thickness of about 20 μ and cured at a temperature of about 200 ° C. Then, as shown in FIGS. 3E and 3F, Ni plating 9 and solder plating 10 are sequentially applied to the first, second, and third electrodes 6 and 6, respectively.
7 and 8 are coated. In this case, since the slits 14 are provided from both sides of the substrate, when the resin is applied to the end face of the ceramic substrate in a state of being partially overlapped, a good electrical and mechanical state can be obtained. According to this method, defects such as peeling of the terminal electrode and slack do not occur on the end face of the ceramic substrate. In addition, as shown in FIG. 1, the terminal electrode can be formed on the side end surface 5. The resistor 3 of each chip resistor is trimmed to adjust the resistance, and a resin coat 12 such as an epoxy resin is used.
And cured at a temperature around 200 ° C. Although FIG. 3 shows that trimming is performed after plating,
In the method of the present invention, the trimming is performed in the state of FIG. 3C before performing the plating process. Thereafter, a resin coat 12 is applied on the glass coat 11, and the steps shown in FIG. 3D and thereafter are performed. Thus, the resistance value is trimmed without separating the ceramic plate 13 for each chip, so that the trimming operation can be performed efficiently. In addition, since the trimming groove is covered with the resin coat 12, there is no adverse effect on the resistor during the subsequent plating operation. According to the chip resistor of this embodiment, the resistance of the electrode 4 to solder cracking is improved, and the metal substrate is made of only a metal glaze and is more flexible than the electrode with respect to bending of the circuit board. Strong because it is high. Also, since the first and second electrodes 6 and 7 are firmly soldered to the circuit board at the time of soldering, the first and second electrodes 6 and 7 are extremely strong.
The use of the Ag-resin as the third electrode does not cause a decrease in the fixing force. The resistor of the chip resistor of the present invention can be appropriately selected according to its use, such as a metal film resistor and a carbon film resistor. The components of the metal glaze paste and the Ag-resin-based conductive paste may contain other additives as appropriate. In the present application, the resistor is coated with a glass coat and trimmed, but can be appropriately changed by a known method, and can be similarly applied to a chip component using another resistor. It is not limited to one. In this chip resistor, an Ag-resin-based third electrode is provided on the end face of the substrate over the metal glaze-based first and second electrodes provided on both surfaces of the substrate, and the first, second, and third electrodes are provided. Since the Ni plating layer that covers the third electrode and the solder plating layer that covers the Ni plating layer are formed, they are resistant to solder cracking and can be reattached to the circuit board. Also, since the third electrode is provided so as to partially overlap the second electrode on the lower surface side of the substrate,
A step is formed by the electrode on the lower surface side of the substrate, and when soldered to the circuit board, the solder goes into the gap generated between the lower electrode and the circuit board, and a strong fixing force is obtained. In addition, since the Ag-resin-based third electrode provided on the end face of the substrate has appropriate flexibility, it can sufficiently withstand the bending of the circuit board. In the method for manufacturing a chip resistor according to the present invention,
The first front and back surfaces of the resin-containing silver paint base plate side end face,
Since the third electrode is formed by directly applying in a state of being partially superimposed on the second electrode and heat-treating at a low temperature to form the third electrode, the third electrode is directly bonded to the rough cross section of the substrate as it is cut, and the adhesive force of the third electrode is reduced strong. Further, when plating the electrode for soldering, the third electrode can effectively prevent the penetration of the plating solution, and a high quality product can be manufactured without causing defects such as peeling or cracking of the electrode. Therefore, chip resistors have been reduced in size due to today's demand for higher packaging density, but sufficient adhesion can be obtained even with small electrodes, making electrical products smaller and lighter and more reliable.
It greatly contributes to improvement of durability and productivity. According to the present invention, after trimming, the glass
Since a resin coat is applied on the coat,
Resin coating effectively prevents plating solution penetration
To prevent defects such as peeling from the electrodes and resistors.
The characteristics of the resistor can be maintained. Also firing of resin paste
The binder is not lost due to the low temperature.
Because the thickness after firing is thicker than the glass coat,
Completely filling that the trimming grooves in the resin coating of the first layer
Can be. This protects the glass coat on the resistor
When forming a resin coat as a protective coat,
Protective coats are easier to form and lower manufacturing costs.
Can be. Resin is more flexible than glass
Therefore, it becomes a sufficient protective coat against the glass coat,
Glass cores are used both in the manufacturing process and in the mounting process.
Not only provides adequate protection for the
The groove is used to divide the chip resistor substrate from the board.
Even if part of the gin coat enters, resin
No large loss of resin, large resin coat
Yield is significantly reduced due to defects
And not. Furthermore, as mentioned above, the firing temperature of the resin coat is
Because it is considerably lower than the firing temperature of the glass coat,
Resinco with part of the coating in the trimming groove
Even when firing the sheet, the heat of firing changes the characteristics of the resistor
There is the advantage of not having to.

【図面の簡単な説明】 【図1】 図1はこの発明の方法で製造するチップ抵抗
器の一実施例の平面図である。 【図2】 図2は図1のA−A断面図である。 【図3】 (A),(B),(C),(D),(E),
(F)は本発明のチップ抵抗器の製造工程を示す縦断面
図である。 【符号の説明】 1 チップ抵抗器 2 基板 3 抵抗体 4 電極 5 トリミング溝 6 第1電極 7 第2電極 8 第3電極 9 Niメッキ 10 ハンダメッキ 11 ガラスコート 12 レジンコート 13 セラミック板 14 スリット
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a plan view of one embodiment of a chip resistor manufactured by the method of the present invention. FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG. FIG. 3 (A), (B), (C), (D), (E),
(F) is a longitudinal sectional view showing the manufacturing process of the chip resistor of the present invention. [Description of Signs] 1 Chip resistor 2 Substrate 3 Resistor 4 Electrode 5 Trimming groove 6 First electrode 7 Second electrode 8 Third electrode 9 Ni plating 10 Solder plating 11 Glass coat 12 Resin coat 13 Ceramic plate 14 Slit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小原 陽三 富山県上新川郡大沢野町下大久保3158番 地 北陸電気工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−48002(JP,A) 特開 昭61−268001(JP,A) 特開 昭57−184202(JP,A) 特開 昭55−99701(JP,A) 特開 昭55−120101(JP,A) 実開 昭62−78705(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01C 7/00 H01C 17/00 - 17/28 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Yozo Ohara 3158 Shimo-Okubo, Osawano-cho, Kamishinkawa-gun, Toyama Pref. Hokuriku Electric Industry Co., Ltd. 61-268001 (JP, A) JP-A-57-184202 (JP, A) JP-A-55-99701 (JP, A) JP-A-55-120101 (JP, A) U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01C 7/00 H01C 17/00-17/28

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.絶縁性セラミック基板の表面にメタルグレーズ系の
第1電極を印刷形成する工程と、基板裏面の前記基板を
挟んで前記第1電極と対向する位置にもメタルグレーズ
系の第2電極を印刷形成する工程と、前記第1電極が直
接接続される抵抗体を印刷形成する工程と、前記抵抗体
をガラスコートによりコートする工程と前記抵抗体に
トリミングをする工程と、前記ガラスコートの上にレジ
ンコートを施す工程と、前記第1、第2電極及び前記抵
抗体が形成された基板の側端部にレジン含有銀塗料を略
コの字状に表裏面の前記第1、第2電極上に一部重畳す
る状態に厚く直接に塗布し低温で加熱処理して第3電極
を形成する工程と、前記第1、第2及び第3電極の外
上にNiメッキ処理を施してNiメッキ層を形成する工
程と、前記Niメッキ層の上にさらにハンダメッキ処理
を施してハンダメッキ層を形成する工程とを順番に実施
してチップ抵抗器を製造することを特徴とするチップ抵
抗器の製造方法。
(57) [Claims] A step of printing and forming a metal glaze-based first electrode on the surface of the insulating ceramic substrate; and a step of printing and forming a metal glaze-based second electrode also at a position on the back surface of the substrate facing the first electrode with the substrate interposed therebetween. A step of printing and forming a resistor to which the first electrode is directly connected ;
Coating with a glass coat ; and
Trimming and registering on the glass coat
And applying a resin-containing silver paint on the side edges of the substrate on which the first and second electrodes and the resistor are formed in a substantially U-shape on the first and second electrodes on the front and back surfaces. outer surface of forming a third electrode by applying a thick directly in a state of partially superimposed heat treatment at a low temperature, the first, second and third electrodes
A step that form a Ni plating layer is subjected to Ni plating above, further solder plating on the Ni plating layer
And forming a solder plating layer in order
Method of manufacturing a chip resistor you characterized by producing the chip resistor to.
JP8004988A 1996-01-16 1996-01-16 Manufacturing method of chip resistor Expired - Lifetime JP3012875B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8004988A JP3012875B2 (en) 1996-01-16 1996-01-16 Manufacturing method of chip resistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8004988A JP3012875B2 (en) 1996-01-16 1996-01-16 Manufacturing method of chip resistor

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62267839A Division JPH01109702A (en) 1987-10-22 1987-10-22 Chip resistor

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31188698A Division JP3323140B2 (en) 1987-10-22 1998-11-02 Chip resistor
JP20465499A Division JP3323156B2 (en) 1999-07-19 1999-07-19 Chip resistor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08236325A JPH08236325A (en) 1996-09-13
JP3012875B2 true JP3012875B2 (en) 2000-02-28

Family

ID=11598999

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8004988A Expired - Lifetime JP3012875B2 (en) 1996-01-16 1996-01-16 Manufacturing method of chip resistor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3012875B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0810614B1 (en) * 1996-05-29 2002-09-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. A surface mountable resistor
US5907274A (en) * 1996-09-11 1999-05-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Chip resistor
DE19646441A1 (en) * 1996-11-11 1998-05-14 Heusler Isabellenhuette Electrical resistance and process for its manufacture
JP4504577B2 (en) * 2001-02-06 2010-07-14 釜屋電機株式会社 Manufacturing method of chip resistor
DE102013219571B4 (en) * 2013-09-27 2019-05-23 Infineon Technologies Ag Power semiconductor module with vertical shunt resistor

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08236325A (en) 1996-09-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7382451B2 (en) chip resistor
US7352273B2 (en) Chip resistor
JP3012875B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JP3118509B2 (en) Chip resistor
JPH0553281B2 (en)
JP3825576B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JP2806802B2 (en) Chip resistor
JP3167968B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
US4694568A (en) Method of manufacturing chip resistors with edge around terminations
JP3447728B2 (en) Chip resistor
JP3735917B2 (en) Vibrator
JP3110677B2 (en) Chip resistor
JP3297642B2 (en) Chip resistor
JP3323140B2 (en) Chip resistor
JP3323156B2 (en) Chip resistor
JP3435419B2 (en) Chip resistor
JP3159963B2 (en) Chip resistor
JP2939425B2 (en) Surface mount type resistor and its manufacturing method
CA1316231C (en) Chip resistor
JPH07283004A (en) Chip resistor and fabrication thereof
JP3172673B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
JP2775718B2 (en) Chip resistor and manufacturing method thereof
JP2006186064A (en) Chip resistor
JP2866808B2 (en) Manufacturing method of chip resistor
TW202416302A (en) Method for manufacturing thick film resistor element

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19990518

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19991005

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term